JP2011172822A5 - - Google Patents
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(1) 光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き,参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系と、
前記測定光束の光路中に配置され,被検物上で横断方向に前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、
前記測定光束又は前記参照光束の光路中に配置され、測定光束と参照光束の光路差を調整するために駆動部により移動される光路長可変部材と、
前記受光素子からの出力信号に基づいて被検物の断層画像を得る画像形成手段と、
前記駆動部の駆動を制御し,前記光路長可変部材を移動させると共に、表示手段を制御し,前記画像形成手段によって取得された断層画像を所定の表示領域内に表示する制御手段と、
を備える光断層像撮影装置において、
前記受光素子からの出力信号に基づいて、前記画像形成手段によって取得された断層画像の深さ方向における位置ずれ情報を検出する位置ずれ情報検出手段を備え、
前記制御手段は、前記表示手段の表示を制御し、前記画像形成手段によって随時取得された断層画像が前記表示領域内の所定位置に表示されるように、検出された位置ずれ情報に基づいて前記断層画像の表示位置を補正することを特徴とする。
(2) (1)の光断層像撮影装置において、
前記制御手段は、前記位置ずれ情報検出手段によって検出される位置ずれ情報が所定の許容範囲より大きい場合、前記駆動部の駆動を制御し、検出される前記位置ずれ情報が所定の許容範囲内に収まるように前記光路長可変部材の位置を調整することを特徴とする。
(3) (2)の光断層像撮影装置において、
前記制御手段は、前記位置ずれ情報検出手段によって検出される位置ずれ情報が所定の許容範囲より大きい場合、前記表示手段の表示制御による前記断層画像の表示位置の補正と,前記駆動部の駆動制御による前記光路長可変部材の位置調整と,を同期させることを特徴とする。
(4) (3)の光断層像撮影装置において、
前記干渉光学系は、測定光束を被検眼の所定部位に導き,参照光束を参照光学系に導いた後、被検眼の所定部位で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系であって、
前記画像形成手段は、前記受光素子からの出力信号に基づいて被検眼の所定部位の断層像を得ることを特徴とする。
前記測定光束の光路中に配置され,被検物上で横断方向に前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、
前記測定光束又は前記参照光束の光路中に配置され、測定光束と参照光束の光路差を調整するために駆動部により移動される光路長可変部材と、
前記受光素子からの出力信号に基づいて被検物の断層画像を得る画像形成手段と、
前記駆動部の駆動を制御し,前記光路長可変部材を移動させると共に、表示手段を制御し,前記画像形成手段によって取得された断層画像を所定の表示領域内に表示する制御手段と、
を備える光断層像撮影装置において、
前記受光素子からの出力信号に基づいて、前記画像形成手段によって取得された断層画像の深さ方向における位置ずれ情報を検出する位置ずれ情報検出手段を備え、
前記制御手段は、前記表示手段の表示を制御し、前記画像形成手段によって随時取得された断層画像が前記表示領域内の所定位置に表示されるように、検出された位置ずれ情報に基づいて前記断層画像の表示位置を補正することを特徴とする。
(2) (1)の光断層像撮影装置において、
前記制御手段は、前記位置ずれ情報検出手段によって検出される位置ずれ情報が所定の許容範囲より大きい場合、前記駆動部の駆動を制御し、検出される前記位置ずれ情報が所定の許容範囲内に収まるように前記光路長可変部材の位置を調整することを特徴とする。
(3) (2)の光断層像撮影装置において、
前記制御手段は、前記位置ずれ情報検出手段によって検出される位置ずれ情報が所定の許容範囲より大きい場合、前記表示手段の表示制御による前記断層画像の表示位置の補正と,前記駆動部の駆動制御による前記光路長可変部材の位置調整と,を同期させることを特徴とする。
(4) (3)の光断層像撮影装置において、
前記干渉光学系は、測定光束を被検眼の所定部位に導き,参照光束を参照光学系に導いた後、被検眼の所定部位で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系であって、
前記画像形成手段は、前記受光素子からの出力信号に基づいて被検眼の所定部位の断層像を得ることを特徴とする。
Claims (4)
- 光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き,参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系と、
前記測定光束の光路中に配置され,被検物上で横断方向に前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、
前記測定光束又は前記参照光束の光路中に配置され、測定光束と参照光束の光路差を調整するために駆動部により移動される光路長可変部材と、
前記受光素子からの出力信号に基づいて被検物の断層画像を得る画像形成手段と、
前記駆動部の駆動を制御し,前記光路長可変部材を移動させると共に、表示手段を制御し,前記画像形成手段によって取得された断層画像を所定の表示領域内に表示する制御手段と、
を備える光断層像撮影装置において、
前記受光素子からの出力信号に基づいて、前記画像形成手段によって取得された断層画像の深さ方向における位置ずれ情報を検出する位置ずれ情報検出手段を備え、
前記制御手段は、前記表示手段の表示を制御し、前記画像形成手段によって随時取得された断層画像が前記表示領域内の所定位置に表示されるように、検出された位置ずれ情報に基づいて前記断層画像の表示位置を補正することを特徴とする光断層像撮影装置。 - 請求項1の光断層像撮影装置において、
前記制御手段は、前記位置ずれ情報検出手段によって検出される位置ずれ情報が所定の許容範囲より大きい場合、前記駆動部の駆動を制御し、検出される前記位置ずれ情報が所定の許容範囲内に収まるように前記光路長可変部材の位置を調整することを特徴とする光断層像撮影装置。 - 請求項2の光断層像撮影装置において、
前記制御手段は、前記位置ずれ情報検出手段によって検出される位置ずれ情報が所定の許容範囲より大きい場合、前記表示手段の表示制御による前記断層画像の表示位置の補正と,前記駆動部の駆動制御による前記光路長可変部材の位置調整と,を同期させることを特徴とする光断層像撮影装置。 - 請求項3の光断層像撮影装置において、
前記干渉光学系は、測定光束を被検眼の所定部位に導き,参照光束を参照光学系に導いた後、被検眼の所定部位で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系であって、
前記画像形成手段は、前記受光素子からの出力信号に基づいて被検眼の所定部位の断層像を得ることを特徴とする光断層像撮影装置。
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