JP2011172822A5 - - Google Patents

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（１） 光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系と、
前記測定光束の光路中に配置され，被検物上で横断方向に前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、
前記測定光束又は前記参照光束の光路中に配置され、測定光束と参照光束の光路差を調整するために駆動部により移動される光路長可変部材と、
前記受光素子からの出力信号に基づいて被検物の断層画像を得る画像形成手段と、
前記駆動部の駆動を制御し，前記光路長可変部材を移動させると共に、表示手段を制御し，前記画像形成手段によって取得された断層画像を所定の表示領域内に表示する制御手段と、
を備える光断層像撮影装置において、
前記受光素子からの出力信号に基づいて、前記画像形成手段によって取得された断層画像の深さ方向における位置ずれ情報を検出する位置ずれ情報検出手段を備え、
前記制御手段は、前記表示手段の表示を制御し、前記画像形成手段によって随時取得された断層画像が前記表示領域内の所定位置に表示されるように、検出された位置ずれ情報に基づいて前記断層画像の表示位置を補正することを特徴とする。
（２） （１）の光断層像撮影装置において、
前記制御手段は、前記位置ずれ情報検出手段によって検出される位置ずれ情報が所定の許容範囲より大きい場合、前記駆動部の駆動を制御し、検出される前記位置ずれ情報が所定の許容範囲内に収まるように前記光路長可変部材の位置を調整することを特徴とする。
（３） （２）の光断層像撮影装置において、
前記制御手段は、前記位置ずれ情報検出手段によって検出される位置ずれ情報が所定の許容範囲より大きい場合、前記表示手段の表示制御による前記断層画像の表示位置の補正と，前記駆動部の駆動制御による前記光路長可変部材の位置調整と，を同期させることを特徴とする。
（４） （３）の光断層像撮影装置において、
前記干渉光学系は、測定光束を被検眼の所定部位に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検眼の所定部位で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系であって、
前記画像形成手段は、前記受光素子からの出力信号に基づいて被検眼の所定部位の断層像を得ることを特徴とする。

Claims (4)

  1. 光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系と、
    前記測定光束の光路中に配置され，被検物上で横断方向に前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、
    前記測定光束又は前記参照光束の光路中に配置され、測定光束と参照光束の光路差を調整するために駆動部により移動される光路長可変部材と、
    前記受光素子からの出力信号に基づいて被検物の断層画像を得る画像形成手段と、
    前記駆動部の駆動を制御し，前記光路長可変部材を移動させると共に、表示手段を制御し，前記画像形成手段によって取得された断層画像を所定の表示領域内に表示する制御手段と、
    を備える光断層像撮影装置において、
    前記受光素子からの出力信号に基づいて、前記画像形成手段によって取得された断層画像の深さ方向における位置ずれ情報を検出する位置ずれ情報検出手段を備え、
    前記制御手段は、前記表示手段の表示を制御し、前記画像形成手段によって随時取得された断層画像が前記表示領域内の所定位置に表示されるように、検出された位置ずれ情報に基づいて前記断層画像の表示位置を補正することを特徴とする光断層像撮影装置。
  2. 請求項１の光断層像撮影装置において、
    前記制御手段は、前記位置ずれ情報検出手段によって検出される位置ずれ情報が所定の許容範囲より大きい場合、前記駆動部の駆動を制御し、検出される前記位置ずれ情報が所定の許容範囲内に収まるように前記光路長可変部材の位置を調整することを特徴とする光断層像撮影装置。
  3. 請求項２の光断層像撮影装置において、
    前記制御手段は、前記位置ずれ情報検出手段によって検出される位置ずれ情報が所定の許容範囲より大きい場合、前記表示手段の表示制御による前記断層画像の表示位置の補正と，前記駆動部の駆動制御による前記光路長可変部材の位置調整と，を同期させることを特徴とする光断層像撮影装置。
  4. 請求項３の光断層像撮影装置において、
    前記干渉光学系は、測定光束を被検眼の所定部位に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検眼の所定部位で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系であって、
    前記画像形成手段は、前記受光素子からの出力信号に基づいて被検眼の所定部位の断層像を得ることを特徴とする光断層像撮影装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7286853B2 (ja) 2018-08-10 2023-06-05 株式会社トプコン 眼科装置、及びその制御方法
JP7374272B2 (ja) 2018-08-10 2023-11-06 株式会社トプコン 眼科装置

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5570125B2 (ja) * 2009-01-22 2014-08-13 キヤノン株式会社 光断層撮像装置
JP5836564B2 (ja) 2010-03-12 2015-12-24 キヤノン株式会社 眼科撮像装置、および眼科撮像方法、そのプログラム
JP5289496B2 (ja) 2011-03-31 2013-09-11 キヤノン株式会社 眼科装置
JP5220208B2 (ja) * 2011-03-31 2013-06-26 キヤノン株式会社 制御装置、撮像制御方法、およびプログラム
JP6057567B2 (ja) * 2011-07-14 2017-01-11 キヤノン株式会社 撮像制御装置、眼科撮像装置、撮像制御方法及びプログラム
JP5926533B2 (ja) * 2011-10-27 2016-05-25 キヤノン株式会社 眼科装置
EP2815694B1 (en) * 2011-12-30 2017-12-06 WaveLight GmbH An integrated device for ophthalmology
JP6166509B2 (ja) * 2012-01-16 2017-07-19 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像方法
JP5374598B2 (ja) * 2012-01-26 2013-12-25 キヤノン株式会社 光断層撮像装置
EP2633804B1 (en) * 2012-03-02 2017-12-06 Nidek Co., Ltd Ophthalmologic photographing apparatus
EP2644086B1 (en) * 2012-03-30 2015-11-04 Canon Kabushiki Kaisha Fundus inspection apparatus
JP6040562B2 (ja) * 2012-04-27 2016-12-07 株式会社ニデック 眼底撮影装置用アタッチメント
TWI474802B (zh) * 2012-05-04 2015-03-01 光學眼壓量測裝置及其運作方法
US9016862B2 (en) * 2012-05-10 2015-04-28 Sonomed Ip Holdings, Inc. Multimodality correlation of optical coherence tomography using secondary reference images
US8876292B2 (en) * 2012-07-03 2014-11-04 Nidek Co., Ltd. Fundus imaging apparatus
JP6195334B2 (ja) * 2012-08-30 2017-09-13 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像方法およびプログラム
JP6045895B2 (ja) * 2012-10-01 2016-12-14 株式会社トプコン 眼科観察装置
JP6159454B2 (ja) * 2012-10-01 2017-07-05 株式会社トプコン 眼科観察装置
JP6274728B2 (ja) * 2013-01-31 2018-02-07 キヤノン株式会社 光干渉断層撮像装置およびその制御方法
JP6207220B2 (ja) * 2013-04-30 2017-10-04 キヤノン株式会社 光断層撮像装置
JP6218425B2 (ja) * 2013-04-30 2017-10-25 キヤノン株式会社 光断層撮像装置
JP6130723B2 (ja) * 2013-05-01 2017-05-17 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、及びプログラム
JP2015039580A (ja) * 2013-08-23 2015-03-02 キヤノン株式会社 光断層撮像装置
JP2015039581A (ja) * 2013-08-23 2015-03-02 キヤノン株式会社 光断層撮像装置
US9913580B2 (en) 2013-09-19 2018-03-13 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus, method, and non-transitory medium for optical stabilization and digital image registration in scanning light ophthalmoscopy
JP6606881B2 (ja) 2015-06-16 2019-11-20 株式会社ニデック Ｏｃｔ信号処理装置、ｏｃｔ信号処理プログラム、およびｏｃｔ装置
JP6498162B2 (ja) * 2016-08-24 2019-04-10 キヤノン株式会社 光断層撮像装置
JP6934747B2 (ja) * 2017-05-19 2021-09-15 株式会社トプコン 眼科装置、及びその制御方法
JP2019047841A (ja) 2017-09-07 2019-03-28 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム
JP7027076B2 (ja) 2017-09-07 2022-03-01 キヤノン株式会社 画像処理装置、位置合わせ方法及びプログラム
JP2019047839A (ja) * 2017-09-07 2019-03-28 キヤノン株式会社 画像処理装置、位置合わせ方法及びプログラム
KR102661654B1 (ko) 2017-11-07 2024-04-29 노탈 비전 엘티디. 망막 이미징 디바이스 및 관련 방법들
CN111542258B (zh) 2017-11-07 2023-10-20 诺达尔视觉有限公司 用于眼科成像设备的对准的方法和系统
JP7130989B2 (ja) 2018-03-05 2022-09-06 株式会社ニデック 眼科画像処理装置、および眼科画像処理プログラム
JP7202808B2 (ja) * 2018-08-10 2023-01-12 株式会社トプコン 眼科装置、及びその制御方法
US10595722B1 (en) 2018-10-03 2020-03-24 Notal Vision Ltd. Automatic optical path adjustment in home OCT
US10653311B1 (en) 2019-06-12 2020-05-19 Notal Vision Ltd. Home OCT with automatic focus adjustment

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4426839B2 (ja) * 2003-12-26 2010-03-03 株式会社ニデック 眼底撮影装置
JP4850495B2 (ja) * 2005-10-12 2012-01-11 株式会社トプコン 眼底観察装置及び眼底観察プログラム
US8223143B2 (en) * 2006-10-27 2012-07-17 Carl Zeiss Meditec, Inc. User interface for efficiently displaying relevant OCT imaging data
JP4996917B2 (ja) * 2006-12-26 2012-08-08 株式会社トプコン 光画像計測装置及び光画像計測装置を制御するプログラム
JP2008253492A (ja) * 2007-04-04 2008-10-23 Fujifilm Corp 断層画像処理方法および装置ならびにプログラム
JP5339828B2 (ja) * 2007-10-04 2013-11-13 キヤノン株式会社 光干渉断層撮像装置及び光干渉断層撮像方法
JP5231802B2 (ja) * 2007-12-29 2013-07-10 株式会社ニデック 眼科撮影装置
EP2130486B1 (en) * 2008-06-02 2016-03-23 Nidek Co., Ltd. Ophthalmic Photographing Apparatus
JP5255524B2 (ja) * 2008-07-04 2013-08-07 株式会社ニデック 光断層像撮影装置、光断層像処理装置。
JP5331395B2 (ja) * 2008-07-04 2013-10-30 株式会社ニデック 光断層像撮影装置
JP2010040586A (ja) 2008-07-31 2010-02-18 Panasonic Corp 半導体装置の製造方法およびこれに用いられる半導体ウェハ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7286853B2 (ja) 2018-08-10 2023-06-05 株式会社トプコン 眼科装置、及びその制御方法
JP7374272B2 (ja) 2018-08-10 2023-11-06 株式会社トプコン 眼科装置

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