JP5179063B2 - 眼科装置 - Google Patents
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- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/1005—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for measuring distances inside the eye, e.g. thickness of the cornea
Description
被験者眼に対して前記測定部を上下左右方向に移動させる移動手段と、
被験者眼の前眼部を撮影する撮影光学系と、
前記撮影光学系からの撮影信号に基づいて上下左右方向における被験者眼と測定部との相対位置を検出し、該検出結果に基づいて、被検者眼の角膜頂点に前記測定光学系の光軸が移動されるように前記移動手段を駆動制御する第1駆動制御手段と、
前記撮影光学系からの撮影信号に基づいて上下左右方向における被験者眼と測定部との相対位置を検出し、該検出結果に基づいて、被検者眼の角膜頂点から離間した複数の測定点に前記測定光学系の光軸が移動されるように前記移動手段を駆動制御する第2駆動制御手段と、
を備えることを特徴とする。
(2)
第2駆動制御手段は、前記検出結果に基づいて、前記測定光軸が前記測定点に合致したか否かを判定する(1)の眼科装置。
(3)
前記複数の測定点に対応する被験者眼と測定部との相対位置を予め記憶するメモリを備え、
前記第2駆動制御手段は、該検出結果に基づいて、前記メモリに予め記憶された前記複数の測定点に対応する各相対位置に前記測定光学系の光軸が移動されるように前記移動手段を駆動制御する(1)〜(2)のいずれかの眼科装置。
(4)
前記測定光学系は、光路長可変手段を有し、被検者眼の眼底と角膜に測定光を照射し、該測定光による眼底反射光と参照光との第1の干渉信号と、前記測定光による角膜反射光と参照光との第2の干渉信号を検出するための測定光学系であって、前記測定光学系を用いて眼軸長を測定する(1)〜(3)のいずれかの眼科装置。
(5)
前記測定光学系は、眼底反射光と参照光との干渉光のスペクトル情報を得るためのスペクトロメータ部を有し、
スペクトロメータ部によって得られたスペクトル情報をフーリエ変換を用いて解析し、被検者眼眼底の深さ方向における眼特性情報を得る(1)〜(4)のいずれかの眼科装置。
6 XYZ駆動部
9 表示モニタ
23 可動三角プリズム
64 受光素子
80 制御部
85 メモリ
100a 眼底照射光学系
100b 眼底受光光学系
200a 角膜照射光学系
200b 角膜受光光学系
500 参照光光学系
600 分光光学系
700 観察光学系
P1〜P9 測定点
LT レチクル
K1、A1 アライメント指標
Claims (5)
- 被検者眼眼底に測定光を照射し、該測定光による眼底反射光と参照光との干渉信号を検出するための測定光学系を有する測定部と、
被験者眼に対して前記測定部を上下左右方向に移動させる移動手段と、
被験者眼の前眼部を撮影する撮影光学系と、
前記撮影光学系からの撮影信号に基づいて上下左右方向における被験者眼と測定部との相対位置を検出し、該検出結果に基づいて、被検者眼の角膜頂点に前記測定光学系の光軸が移動されるように前記移動手段を駆動制御する第1駆動制御手段と、
前記撮影光学系からの撮影信号に基づいて上下左右方向における被験者眼と測定部との相対位置を検出し、該検出結果に基づいて、被検者眼の角膜頂点から離間した複数の測定点に前記測定光学系の光軸が移動されるように前記移動手段を駆動制御する第2駆動制御手段と、
を備えることを特徴とする眼科装置。 - 第2駆動制御手段は、前記検出結果に基づいて、前記測定光軸が前記測定点に合致したか否かを判定する請求項1の眼科装置。
- 前記複数の測定点に対応する被験者眼と測定部との相対位置を予め記憶するメモリを備え、
前記第2駆動制御手段は、該検出結果に基づいて、前記メモリに予め記憶された前記複数の測定点に対応する各相対位置に前記測定光学系の光軸が移動されるように前記移動手段を駆動制御する請求項1〜2のいずれかの眼科装置。 - 前記測定光学系は、光路長可変手段を有し、被検者眼の眼底と角膜に測定光を照射し、該測定光による眼底反射光と参照光との第1の干渉信号と、前記測定光による角膜反射光と参照光との第2の干渉信号を検出するための測定光学系であって、前記測定光学系を用いて眼軸長を測定する請求項1〜3のいずれかの眼科装置。
- 前記測定光学系は、眼底反射光と参照光との干渉光のスペクトル情報を得るためのスペクトロメータ部を有し、
スペクトロメータ部によって得られたスペクトル情報をフーリエ変換を用いて解析し、被検者眼眼底の深さ方向における眼特性情報を得る請求項1〜4のいずれかの眼科装置。
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