JP2018201742A - 眼科撮影装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 被検眼の眼底における良好な断層像を取得することができる眼科撮影装置を提供する。
【解決手段】 ＯＣＴ光学系における測定光のプロファイルを変更する変更手段と、変更手段によって、測定光のプロファイルを複数の互いに異なる第１プロファイルに変更した状態で、被検眼に測定光を照射し、それぞれの第１ＯＣＴデータを取得する取得手段と、を備え、変更手段は、取得手段によって取得された複数のＯＣＴデータに基づいて、本撮影用のプロファイルとして測定光のプロファイルを第１プロファイルとは異なる新たな第２プロファイルに変更し、取得手段は、第２プロファイルに変更した状態で、被検眼に測定光を照射し、第２ＯＣＴデータを取得する。
【選択図】 図１

Description

本開示は、被検眼の断層像を撮影する眼科撮影装置に関する。

被検眼の断層像を撮影する眼科撮影装置として、低コヒーレント光を用いた光断層干渉計（Optical Coherence Tomography: OCT）が知られている（特許文献１参照）。

特開２００８−２９４６７号公報

光断層干渉計（ＯＣＴデバイス）は、光源から出射された光を測定光と参照光に分割し、分割した測定光を被検眼（例えば、眼底等）に照射する。ところが、被検眼に照射する測定光が、被検眼の瞼や、白内障等の疾患により生じた混濁や浮腫に妨げられてしまい、良好な断層像を取得できない場合があった。

本開示は、上記従来技術に鑑み、被検眼の眼底における良好な断層像を取得することができる眼科撮影装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するため、本開示は以下の構成を備えることを特徴とする。

（１） 本開示の第１態様に係る眼科撮影装置は、被検眼に照射された測定光と参照光によるＯＣＴ信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、前記ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴデータを取得する眼科撮影装置であって、前記ＯＣＴ光学系における前記測定光のプロファイルを変更する変更手段と、前記変更手段によって、前記測定光のプロファイルを複数の互いに異なる第１プロファイルに変更した状態で、前記被検眼に前記測定光を照射し、それぞれの第１ＯＣＴデータを取得する取得手段と、を備え、前記変更手段は、前記取得手段によって取得された複数の前記ＯＣＴデータに基づいて、本撮影用のプロファイルとして前記測定光のプロファイルを前記第１プロファイルとは異なる新たな第２プロファイルに変更し、前記取得手段は、前記第２プロファイルに変更した状態で、前記被検眼に前記測定光を照射し、第２ＯＣＴデータを取得することを特徴とする。
（２） 本開示の第２態様に係る眼科撮影方法は、被検眼に照射された測定光と参照光によるＯＣＴ信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、前記ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴデータを取得する眼科撮影方法であって、前記ＯＣＴ光学系における前記測定光のプロファイルを変更する変更手段によって、前記測定光のプロファイルを複数の互いに異なる第１プロファイルに変更した状態で、前記被検眼に前記測定光を照射し、それぞれの第１ＯＣＴデータを取得する第１取得ステップと、前記取得手段によって取得された複数の前記ＯＣＴデータに基づいて、本撮影用のプロファイルとして前記測定光のプロファイルを前記第１プロファイルとは異なる新たな第２プロファイルに変更する変更ステップと、前記第２プロファイルに変更した状態で、前記被検眼に前記測定光を照射し、第２ＯＣＴデータを取得する第２取得ステップと、を備えることを特徴とする。

本実施例に係る眼科撮影装置の外観構成図である。 本実施例に係る眼科撮影装置の光学系及び制御系を示す概略構成図であって、眼底撮影時の光学配置を示している。 本実施例に係る眼科撮影装置の光学系及び制御系を示す概略構成図であって、前眼部撮影時の光学配置を示している。 走査部を拡大して示す図である。 制御動作を説明するフローチャートである。 被検眼の前眼部観察像を示す図である。 ＤＭＤを説明する図である。 ＤＭＤと第１プロファイルの関係を示す図である。 透過率分布を説明する図である。 第２プロファイルを説明する図である。 眼科撮影装置の光学系における変容例を示す図である。

＜概要＞
以下、典型的な実施形態の１つについて、図面を参照して説明する。図１〜図１０は、本実施形態に係る眼科撮影装置を説明する図である。本実施形態においては、被検眼の水平方向をＸ方向、鉛直方向をＹ方向、軸方向をＺ方向として説明する。眼底の表面方向をＸＹ方向として考えてもよい。なお、以下の＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用され得る。

なお、本開示は、本実施例に記載する装置に限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）を、ネットワークまたは各種記憶媒体等を介してシステムあるいは装置に供給し、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出して実行することも可能である。

例えば、本実施例における眼科撮影装置（例えば、眼科撮影装置１）は、ＯＣＴ光学系（例えば、ＯＣＴ光学系２）を有し、ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴデータを取得する。例えば、ＯＣＴ光学系（ＯＣＴデバイス）は、フーリエドメイン光コヒーレンストモグラフィー（ＦＤ−ＯＣＴ）を基本的構成としてもよい。例えば、ＦＤ−ＯＣＴとしては、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）を用いてもよい。また、例えば、ＯＣＴデバイスは、タイムドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）を基本構成としてもよい。なお、例えば、本開示の技術は、被検物の反射強度を検出するためのスダンダートＯＣＴ、被検物のモーションコントラストデータを検出するためのＯＣＴアンジオグラフィー（例えば、ドップラーＯＣＴ）、偏光感受ＯＣＴ（ＰＳ−ＯＣＴ：Polarization Sensitive OCT）等において適用されてもよい。また、スダンダートＯＣＴとＰＳ−ＯＣＴとが複合されたマルチファンクションＯＣＴにおいて適用されてもよい。

＜ＯＣＴ光学系＞
例えば、ＯＣＴ光学系は、被検眼に照射された測定光と参照光によるＯＣＴ信号を検出する。例えば、ＯＣＴ光学系は、ＯＣＴ原理を用いて被検物の断層像を得るための干渉計に係る構成を備えていてもよい。例えば、ＯＣＴ光学系は、光源（例えば、光源１１）、分割器（例えば、カップラー１５）、コンバイナ（光合成器）（例えば、カップラー１５）、検出器（例えば、検出器４０）、参照光学系（例えば、参照光学系３０）を備えていてもよい。

例えば、分割器は、光源からの光を測定光と参照光に分割してもよい。例えば、コンバイナは、測定光と参照光とを合成（干渉）させてもよい。例えば、分割器とコンバイナは兼用されてもよい。また、例えば、分割器とコンバイナは別途設けられてもよい。例えば、分割器及びコンバイナには、ビームスプリッタ、ハーフミラー、ファイバーカップラー、サーキュレータ等のいずれかを用いてもよい。例えば、検出器は、測定光と参照光との干渉により生じた干渉信号光を受光してもよい。例えば、参照光学系は、参照光を装置内で進行させ、測定光と干渉させるための構成を備えていてもよい。

例えば、ＯＣＴ光学系は、ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴデータを取得する。なお、ＯＣＴ光学系は、撮影する被検眼の深度帯を切り換え、被検眼の第１深度帯（例えば、被検眼の前眼部等）に対応する第１位置と、被検眼の第２深度帯（例えば、被検眼の眼底等）に対応する第２位置と、においてＯＣＴデータを取得する構成であってもよい。

＜測定光学系＞
例えば、測定光学系（例えば、測定光学系２０）は、測定光を被検眼へ導くための構成であってもよい。例えば、測定光学系は、走査部（光スキャナー）（例えば、走査部２４）を備えていてもよい。例えば、走査部は、測定光を被検眼の第１深度帯に対応する第１位置上で走査する。また、例えば、走査部は、測定光を被検眼の第２深度帯に対応する第２位置上で走査する。例えば、走査部は、互いに異なる方向へ測定光を偏向する２つの光スキャナ（例えば、ガルバノミラー２４１、ガルバノミラー２４２）を含んでいてもよい。例えば、走査部に含まれる光スキャナには、ＭＥＭＳスキャナ、レゾナントスキャナ、ポリゴンミラー等の反射型スキャナや、音響光学素子を用いてもよい。すなわち、走査部に含まれる光スキャナは、測定光を偏向することが可能なスキャナであればよい。

＜ＯＣＴデータ＞
例えば、ＯＣＴデータは、被検眼の反射強度特性を示す断層画像データ、被検眼のＯＣＴアンジオ画像データ（例えば、ＯＣＴモーションコントラスト画像データ）、被検眼のドップラー特性を示すドップラーＯＣＴ画像データ、被検眼の偏光特性を示す偏光特性画像データ、等の少なくともいずれかであってもよい。なお、各データは、生成された画像のデータであってもよいし、画像が生成される前の信号データであってもよい。

例えば、断層画像データは、Ａスキャン断層画像データであってもよい。また、例えば、断層画像データは、Ｂスキャン断層画像データであってもよい。なお、例えば、Ｂスキャン断層画像データは、走査ライン（横断位置）に沿って測定光をＸＹ方向のいずれかの方向（例えば、Ｘ方向）に走査させることによって取得される断層画像データであってもよい。また、例えば、断層画像データは、三次元断層画像データであってもよい。なお、例えば、三次元断層画像データは、測定光を二次元的に走査することによって取得される断層画像データであってもよい。例えば、ＯＣＴデータは、三次元断層画像データから取得されるＯＣＴ正面（Ｅｎｆａｃｅ）画像データ（例えば、深さ方向に関して積算された積算画像、ＸＹ各位置でのスペクトルデータの積算値、ある一定の深さ方向におけるＸＹ各位置での輝度データ、網膜表層画像、等）であってもよい。

例えば、ＯＣＴアンジオ画像データは、二次元ＯＣＴアンジオ画像データであってもよい。なお、例えば、二次元ＯＣＴアンジオ画像データは、走査ライン（横断位置）に沿って測定光をＸＹ方向のいずれかの方向（例えば、Ｘ方向）に走査させることによって取得されるＯＣＴアンジオ画像データであってもよい。また、例えば、ＯＣＴアンジオ画像データは、三次元ＯＣＴアンジオ画像データであってもよい。なお、例えば、三次元ＯＣＴアンジオ画像データは、測定光を二次元的に走査することによって取得されるＯＣＴアンジオ画像データであってもよい。また、例えば、ＯＣＴアンジオ画像データは、三次元モーションコントラストデータから取得される正面（Ｅｎ ｆａｃｅ）モーションコントラストデータであってもよい。

例えば、本実施例における眼科撮影装置は、ＯＣＴ光学系における測定光のプロファイルを変更する変更手段（例えば、ＤＭＤ２８）を備える。例えば、変更手段は、測定光のプロファイルを、複数の互いに異なる第１プロファイル（例えば、第１プロファイル１００）に変更することができる。例えば、測定光のプロファイルは、少なくとも２つ以上の第１プロファイルに変更される構成であればよい。

例えば、第１プロファイルは、測定光の分布を変化させるものである。例えば、測定光の分布としては、被検眼の眼底に向けて照射される測定光のうち、前眼部から眼底までの経路のいずれかの被検眼部位（例えば、被検眼の瞳面（瞳孔面）、硝子体等）における測定光の分布を示してもよい。また、測定光の分布としては、測定光を規則的なパターン形状に変化させるものであってもよい。この場合、第１プロファイルは、格子模様や縞模様等の形状としてもよいし、リング形状としてもよいし、測定光を拡大あるいは縮小した形状としてもよい。また、測定光の分布としては、測定光を不規則なパターン形状に変化させるものであってもよい。例えば、第１プロファイルは、ウォルシュ・アダマール基底の−１を測定光が被検眼に照射される領域、＋１を測定光が被検眼に照射されない領域とした所定のパターン形状であってもよいし、ランダムなパターン形状であってもよい。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、変更手段によって測定光のプロファイルを複数の互いに異なる第１プロファイルに変更した状態で、被検眼に測定光を照射し、それぞれの第１ＯＣＴデータを取得する取得手段（例えば、制御部７０）を備える。このような構成であることによって、検者は、複数の第１プロファイルを試行して、被検眼に照射した測定光の戻り光が眼底に達し、再びＯＣＴ光学系によって回収されるまでの間に、いかなる経路で測定光が伝搬したかの情報を得ることができる。

例えば、本実施例における変更手段はＤＭＤ（Digital Micromirror Device）である。これによって、測定光のプロファイルを、容易に様々な形状に変更することができる。なお、変更手段としては、測定光のプロファイルを変更することが可能な構成を備えていればよい。例えば、この場合には、ＤＭＤの他、透過型ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、反射型ＬＣＤ、波面変調素子等の少なくともいずれかが変更手段として用いられる構成であってもよい。例えば、変更手段としてＤＭＤを用いた場合には、測定光のプロファイルにおいて照射と非照射の離散２値しか取れないが、ＬＣＤや波面変調素子を用いた場合には連続的な値を取ることが可能である。これによって、例えば、第１プロファイルを（離散）コサイン基底等のパターン形状に変化させることもできる。

＜測定光のプロファイル変更＞
例えば、変更手段は、取得手段によって取得された複数のＯＣＴデータに基づいて、本撮影用のプロファイルとして、測定光のプロファイルを第１プロファイルとは異なる新たな第２プロファイル（例えば、第２プロファイル２００）に変更する。なお、第２プロファイルは、第１プロファイルにおける測定光の分布とは異なる測定光の分布をもつものである。すなわち、第２プロファイルは、変更手段によって、第１プロファイルとは全く異なるパターン形状に変更される。

例えば、取得手段は、測定光のプロファイルを第２プロファイルに変更した状態で、被検眼に測定光を照射し、第２ＯＣＴデータを取得する。このとき、変更手段は、測定光のプロファイルを、被検眼に照射した測定光の戻り光をより多く回収（受光）することができるような、第２プロファイルを変更してもよい。例えば、このような第２プロファイルとしては、測定光の戻り光が所定の閾値以上（例えば、８０％、９０％等）となるようなプロファイルに変更されてもよい。なお、所定の閾値は、予め、実験やシミュレーションによって取得されていてもよい。もちろん、所定の閾値は、任意の値を設定できるようにしてもよい。これによって、検者は、第１プロファイルを参考にして、第２プロファイルを被検眼に対する最適なプロファイルに変更することができ、精度のよいＯＣＴデータを取得することができる。

例えば、変更手段は、取得手段によって取得された複数のＯＣＴデータから、被検眼Ｅに対する測定光の戻り光の透過率分布（例えば、透過率分布８５）を作成することによって、第２プロファイルを変更してもよい。例えば、透過率分布は、被検眼の瞳上において、測定光の戻り光の透過のしやすさがわかるものであればよい。なお、透過率分布は、信号データであってもよいし、信号データを画像化した画像データであってもよい。例えば、このような透過率分布としては、測定光の戻り光における透過のしやすさをマップとして表示するようにしてもよい。

例えば、透過率分布は、第１ＯＣＴデータの所定の信号強度に基づいて作成されてもよい。例えば、信号強度としては、ＯＣＴ信号の総量を検出してもよい。この場合には、ＯＣＴ信号の包絡線を積分した値を総量として検出するようにしてもよい。また、例えば、所定の信号強度としては、第１ＯＣＴデータの一部の波長領域、または一部の周波数領域での絶対値を積分したものとしてもよい。あるいは、所定の信号強度としては、ピーク、コントラスト、ヒストグラム等の特徴量などであってもよい。これによって、例えば、信号が飽和してしまうような場合においても、第１プロファイルごとの差異を検出しやすくなる。あるいは、被検眼が動いてしまうことを考慮し、公知のセグメンテーション処理によって、同じ箇所からの反射であることの証左を得てもよい。

なお、例えば、透過率分布は、ＯＣＴ画像における輝度値に基づいて作成されてもよい。この場合には、ＸＹＺ方向のいずれか一方向に対する輝度の立ち上がりや立ち下がりを検出してもよい。また、この場合には、ＯＣＴ画像の画素ごとに輝度値を検出してもよい。

なお、変更手段は、取得手段によって取得された複数のＯＣＴデータの所定の信号強度における強弱を判定する構成としてもよい。例えば、変更手段は、検出した所定の信号強度が、所定の閾値を超えるか否かを判定することによって、信号強度の強弱を判定する。なお、例えば、判定処理に用いられる所定の閾値は、予め、実験やシミュレーションによって取得されるようにしてもよい。

例えば、本実施例における眼科撮影装置は、複数の互いに異なる第１プロファイルに変更した状態で、被検眼の眼底に向けて照射される測定光のうち、前眼部から眼底までの経路のいずれかの被検眼部位における測定光の光量を同一とする光量調整手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。例えば、眼科撮影装置としては、測定光の光量が同一となる第１プロファイルのみを記憶部（例えば、メモリ７２）に記憶している構成であってもよい。この場合、光量調整手段は、記憶された第１プロファイルを順に設定することで、被検眼に照射される測定光の光量を同一とするようにしてもよい。また、例えば、眼科撮影装置としては、測定光の光量が同一の第１プロファイルと、測定光の光量が異なる第１プロファイルと、が混在して記憶部に記憶されている構成であってもよい。この場合、光量調整手段は、第１プロファイルの中から、測定光の光量が同一となる第１プロファイルを選択して順に設定するようにしてもよい。

なお、例えば、光量調整手段は、測定光の光量を同一に調整する際に、前眼部から眼底までの経路のいずれかの被検眼部位における測定光の光量の総和が等しくなるようにしてもよい。例えば、光量調整手段は、被検眼に対する測定光の照射面積が同一となるように変更手段を制御することで、測定光の光量を同一に調整する構成であってもよい。また、例えば、光量調整手段は、光源の出力を制御することで、測定光の光量を同一に調整する構成であってもよい。また、例えば、光量調整手段は、測定光の光路中に配置した部材を制御することで測定光の光量を同一に調整する構成であってもよいし、測定光の光路中に部材を挿脱することで測定光の光量を同一に調整する構成であってもよい。例えば、このような部材としては、濃度フィルタ、偏光フィルタ、減光フィルタ等を用いてもよい。すなわち、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼に照射する測定光の光量を、いずれの第１プロファイルに変更した状態においても一致させることが可能な構成を備えていてもよい。これによって、被検眼に照射した測定光の戻り光における光量を、複数の互いに異なる第１プロファイル間で容易に比較できるようになる。

例えば、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼に向けて照射光を出射して、被検眼を照明する照明光学系と、被検眼からの反射光を受光する受光光学系と、を有し、受光光学系からの受光信号に基づいて被検眼の正面画像を取得する観察光学系であって、ＯＣＴ光学系とは異なる観察光学系を備える構成としてもよい。すなわち、眼科撮影装置は、ＳＬＯ（Scanning Laser Ophthalmoscope）や眼底カメラの構成を備える構成であってもよい。もちろん、本実施例における眼科撮影装置とは別に、ＳＬＯや眼底カメラを設ける構成であってもよい。例えば、この場合には、眼科撮影装置と、ＳＬＯや眼底カメラと、を接続し、ＳＬＯや眼底カメラが取得した被検眼の正面画像を眼科撮影装置が受信してもよい。これらの眼科撮影装置において、第２変更手段（例えば、制御部７０）は、照明光学系における照射光のプロファイルを変更し、照射光のプロファイルを第２プロファイルと同一のプロファイルに変更する。これによって、検者は、ＯＣＴ光学系を備えた装置において取得した測定光のプロファイルを参考にして、ＯＣＴ光学系とは異なる観察光学系を備えた装置における照射光のプロファイルを、効率よく第２プロファイルと同一にすることができる。また、ＯＣＴ光学系とは異なる観察光学系を備えた装置において、精度よく被検眼を撮影することができる。

＜実施例＞
以下、本開示の実施例について図面を用いて説明する。図１は本実施例に係る眼科撮影装置１の外観構成図である。例えば、眼科撮影装置１は、基台１０１と、移動台１０２と、測定部１０３と、操作部材１０４と、顔支持ユニット１０５と、駆動部１０６と、モニタ７５と、を備える。例えば、移動台１０２は、基台１０１に対して左右方向（Ｘ方向）及び前後方向（Ｚ方向）に移動可能である。例えば、測定部１０３は後述する光学系を収納する。例えば、顔支持ユニット１０５は、被検者の顔を支持するために基台１０１に固設されている。例えば、駆動部１０６は、移動台１０２に対して上下方向（Ｙ方向）に移動可能である。例えば、モニタ７５は、後述するＯＣＴデータ（例えば、第１ＯＣＴデータ及び第２ＯＣＴデータ）等を表示する。

例えば、操作部材（ジョイスティック）１０４には、被検眼Ｅに対して測定部１０３を相対的に移動させる移動機構が設けられている。より詳細には、例えば、ジョイスティック１０４は、基台１０１上で移動台１０２をＸＺ方向に摺動させる図示なき摺動機構を備える。例えば、ジョイスティック１０４を操作すると、移動台１０２が基台１０１上をＸＺ方向に摺動する。また、ジョイスティック１０４には回転ノブが設けられている。例えば、ジョイスティック１０４を回転操作すると、駆動部１０６がＹ方向へ駆動し、測定部１０３がＹ方向に移動する。例えば、これによって、被検眼Ｅに対して測定部１０３を移動させることができる。

なお、本実施例においては、駆動部１０６によって測定部１０３をＹ方向へ移動させる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、測定部１０３には、測定部１０３をＸＹＺ方向に移動可能とする移動機構を設けてもよい。この場合には、例えば、被検眼Ｅに対して測定部１０３のＸＹＺ方向の移動機構が、測定部１０３を微動させる際に用いられ、移動台１０２の摺動機構が、測定部１０３を粗動させる際に用いられるようにしてもよい。

例えば、本実施例における眼科撮影装置１は、被検眼Ｅの深さ情報を取得する光断層干渉計（以下、ＯＣＴデバイス１と称す）である。例えば、ＯＣＴデバイス１は、フーリエドメイン光コヒーレンストモグラフィー（ＦＤ−ＯＣＴ：Fourier Domain OCT）であってもよいし、タイムドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ：Time Domain OCT）であってもよい。ＦＤ−ＯＣＴとしては、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ：Spectral Domain OCT）、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ：Swept Source OCT）が代表的であり、もちろん、それらの装置に対して本開示が適用され得る。

図２Ａ及び図２Ｂは、本実施例に係る眼科撮影装置１の光学系及び制御系を示す概略構成図である。図２Ａは眼底撮影時の光学配置を示し、図２Ｂは前眼部撮影時の光学配置を示している。図２Ａと図２Ｂに示すＯＣＴデバイス１は、主に、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）２と、測定光学系（導光光学系）２０と、制御部７０と、を備える。本実施例におけるＯＣＴデバイス１は、さらに、固視標投影ユニット９０（第２光学系）と、記憶部（メモリ）７２と、操作部７４と、モニタ７５と、を備える。例えば、前述した測定部１０３には、ＯＣＴ光学系２と、測定光学系２０と、固視標投影ユニット９０と、が収納される。また、例えば、前述した移動台１０２には、制御部７０と、記憶部７２と、が収納される。

まず、ＯＣＴ光学系２について説明する。ＯＣＴ光学系２は、光源１１から発せられた光束を測定光と参照光に分割する。ＯＣＴ光学系２は、測定光を被検眼Ｅに導くと共に、参照光を参照光学系３０に導く。そして、ＯＣＴ光学系２は、被検眼Ｅに照射された測定光と参照光との干渉を検出器（光検出器）４０によって検出する。より具体的には、本実施例では、被検眼Ｅで反射（または後方散乱）された測定光、及び参照光の合成による干渉光が検出器４０によって検出され、干渉信号が取得される。

例えば、ＳＤ−ＯＣＴの場合、光源１１として低コヒーレント光源（広帯域光源）が用いられ、検出器４０には、干渉光を周波数成分に分光する分光光学系（スペクトルメータ）が設けられる。例えば、スペクトルメータは、回折格子とラインセンサからなる。

また、例えば、ＳＳ−ＯＣＴの場合、光源１１として出射波長を時間的に高速で変化させる波長走査型光源（波長可変光源）が用いられ、検出器４０には、例えば、単一の受光素子が設けられる。光源１１は、例えば、光源、ファイバーリング共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたものが挙げられる。

ＯＣＴデバイス１では、測定光学系２０の光学配置が切り換わる。一例として、図２Ａに示す光学配置と、図２Ｂに示す光学配置とに切り換わってもよい。図２Ａ及び図２Ｂの光学配置では、ＯＣＴデバイス１によって断層像が撮像される部位の深度帯が互いに異なる。以下、本実施例においては、ＯＣＴデバイス１にＳＤ−ＯＣＴを適用した場合を例に挙げて説明する。

図２Ａと図２Ｂに例示するＯＣＴ光学系２は、光源１１と、光ファイバ１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄと、分割器１５と、参照光学系３０と、検出器４０と、を備える。

光源１１は、ＯＣＴ光学系２の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントの光を発する。光源１１としては、例えば、ＳＬＤ光源等が用いられてもよい。より詳細には、例えば、光源１１はλ＝８００ｎｍ〜１１００ｎｍの間に中心波長を持つ光を出射してもよい。光源１１からの光は、光ファイバ１５ａを介して、分割器１５へ導かれる。

なお、光ファイバ１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄは、内部に光を通過させることで、分割器１５，光源１１，測定光学系２０，参照光学系３０，及び検出器４０等のそれぞれを繋ぐ。

分割器１５は、（光ファイバ１５ａを介して）光源１１から導かれた光を、測定光と参照光とに分割する。測定光は、光ファイバ１５ｂを通って、測定光学系２０へ導かれる。一方、参照光は、光ファイバ１５ｃ、及びポラライザ３１を介して、参照光学系３０へ導かれる。

図２Ａ，図２Ｂの例において、分割器１５は、被検眼Ｅへ導光された測定光の戻り光と、参照光との導光路を結合する結合部（コンバイナ）を兼用する（詳細は後述する）。このような分割器１５は、例えば、ファイバーカップラーであってもよい。以下、分割器１５をカップラー１５と示す。

便宜上、ここで、測定光学系２０について説明する。測定光学系２０は、例えば、測定光を被検眼Ｅに導く。一例として、図２Ａ，図２Ｂに示す測定光学系２０は、コリメータレンズ２１，変更部材２８，ミラー２９，光束径調節部２２，集光位置可変光学系（集光位置可変レンズ系）２３，走査部（光スキャナー）２４，ミラー２５，ダイクロイックミラー２６，及び対物光学系２７を有する。

コリメータレンズ２１は、光ファイバ１５ｂの端部１６ｂから出射される測定光をコリメートする。

変更部材２８は、変更部材２８に入射した測定光の反射光を局所的に変化させることで、被検眼Ｅに照射する測定光のプロファイルを変更する。例えば、変更部材２８としては、ＤＭＤ、ＬＣＤ（例えば、反射型ＬＣＤや透過型ＬＣＤ等）、波面変調素子等を用いることができる。なお、本実施例においては、変更部材２８としてＤＭＤを用いる場合を例に挙げて説明する。このため、以下では変更部材２８をＤＭＤ２８と示す。

例えば、ＤＭＤ２８には、反射角度を変更することができる微小なミラーＰ（図６（ａ）参照）が二次元的に多数配置されている。例えば、ＤＭＤ２８は、微小なミラーＰの１つ１つの反射角度を制御することによって、ＤＭＤ２８に入射した測定光の反射方向を局所的に変化させることができる。このため、被検眼Ｅに照射される測定光のプロファイルは、ＤＭＤ２８を介すことで変更される。つまり、ＤＭＤ２８に反射される測定光のプロファイルは、ＤＭＤ２８に入射した測定光のプロファイルとは異なる形状となって、被検眼Ｅへ照射される。

なお、ＤＭＤ２８は、各微小なミラーＰを２種類の状態に切り換えることによって、測定光のプロファイルを変更するようにしてもよい。この場合、ＤＭＤ２８は、微小なミラーＰの反射角度をＯＮ（例えば、＋１２度）あるいはＯＦＦ（例えば、−１２度）に変化させる。例えば、ＤＭＤ２８は、微小なミラーＰをＯＮの状態にすることで、測定光をミラー２９の方向へ反射させ、被検眼Ｅに導光させてもよい。また、例えば、ＤＭＤ２８は、微小なミラーＰをＯＦＦの状態にすることで、測定光を図示なき吸収部材の方向へ反射させ、被検眼Ｅに導光させないようにしてもよい。

例えば、ＤＭＤ２８は、コリメータレンズ２１とミラー２９との間に配置される。なお、ＤＭＤ２８は、コリメータレンズ２１と、走査部２４と、の間におけるいずれかの位置に配置される構成であればよく、本実施例に限定されない。

光束径調節部２２は、ＯＣＴ光学系２と走査部２４（つまり、光スキャナ）との間の光路中に配置されており、その光路における測定光の光束径を変更するために利用される。図２Ａ，図２Ｂの例において、光束径調節部２２は、測定光学系２０におけるカップラー１５と、走査部２４と、の間の光路中に設けられる。光束径調節部２２は、例えば、挿脱機構によって光路から挿脱可能なアパーチャ、可変ビームエクスパンダ，及び開口の径を調整可能な可変アパーチャ等の少なくともいずれかであってもよい。例えば、本実施例において図２Ａ，図２Ｂに示す光束径調節部２２は、可変ビームエクスパンダである。図２Ａ，図２Ｂに示すように、可変ビームエクスパンダには、例えば、２つのレンズ２２ａ，２２ｂと、駆動部２２ｃと、が含まれてもよい。駆動部２２ｃは、互いのレンズ２２ａ，２２ｂにおける光軸方向の位置関係を、制御部７０からの制御信号に基づいて変更する。これにより、測定光の光束径（及び、開口数ＮＡ）が変更される。

集光位置可変光学系２３は、測定光の集光位置を、光軸Ｌ１方向に変更するために利用される。集光位置可変光学系２３は、少なくとも１つのレンズ２３ａを有し、レンズ２３ａを用いて、測定光の集光位置を光軸Ｌ１方向に関して調整する。図２Ａ，図２Ｂの例において、集光位置可変光学系２３は、カップラー１５と、走査部２４と、の間の光路中に設けられている。なお、本実施例では、光束径調節部２２と走査部２４との中間に集光位置可変光学系２３が配置される。しかし、光束径調節部２２と集光位置可変光学系２３の配置は、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、互いに置き換えられてもよい。また、両者の間にリレー光学系等が介在してもよい。レンズ２３ａは、光軸Ｌ１方向に関して、測定光の集光位置を定めるフォーカス光学系を構成する。集光位置可変光学系２３は、レンズ２３ａ単独で構成されてもよいし、レンズ２３ａと、それ以外の光学素子と共に構成されてもよい。集光位置可変光学系２３は、例えば、レンズ２３ａの屈折力，対物光学系２７とレンズ２３ａとの光軸Ｌ１方向に関する位置関係，のいずれかを調整する構成で実現される。なお、対物光学系２７とレンズ２３ａとの位置関係の調整は、例えば、光軸Ｌ１方向に関するレンズ２３ａの位置，レンズ２３ａと対物光学系２７ａとの間の光路長，及び，測定光路に対するレンズの挿脱，のいずれかによって実現されてもよい。この場合、レンズ２３ａを所期する方向に移動させる駆動部（アクチュエータ）が、制御部７０によって制御される。

図２Ａ，図２Ｂの例において、レンズ２３ａは、可変焦点レンズである。レンズ２３ａは、光軸Ｌ１に対して静止した状態で、焦点位置を変更可能である。レンズ２３ａは、制御部７０によって設定される印加電圧の大きさに応じて、屈折力を変化させる。典型的な可変焦点レンズとしては、液晶レンズ等が知られている。なお、屈折力可変のレンズとしては、液晶レンズに限られるものではなく、例えば、液体レンズ、非線形光学部材、分子部材、回転非対称な光学部材等であってもよい。

走査部２４は、測定光を走査するために、ＯＣＴ光学系からの測定光を偏向する光スキャナを有する。走査部２４は、例えば、２つのガルバノミラー２４１，２４２（光スキャナの一例）を有してもよい。図３の例において、２４１は、Ｘ走査用ガルバノミラーであり、２４２は、Ｙ走査用ガルバノミラーである。各ガルバノミラー２４１，２４２は、それぞれ、ミラー部２４１ａ，２４２ａと、それぞれの２４１ａ，２４２ａを回転させる駆動部２４１ｂ，２４２ｂ（例えば、モーター）を含んでいてもよい。制御部７０は、各々のガルバノミラー２４１，２４２の向きを独立に制御することで、測定光の進行方向を変更する。その結果、被検眼Ｅに対して、上下左右方向に測定光を走査することができる。なお、走査部２４は、ガルバノミラー２４１ｂ，２４２ｂ以外の光スキャナを用いることができる。例えば、反射型のスキャナ（例えば、ＭＥＭＳスキャナ、レゾナントスキャナ、ポリゴンミラー等）が用いられてもよいし、音響光学素子等が用いられてもよい。

図２Ａ，図２Ｂの例では、走査部２４によって進行方向が変えられた測定光は、各ミラー面が直角を挟んで配置されるミラー２５，及び，ダイクロイックミラー２６，のそれぞれで反射される。これにより、測定光は、走査部２４からの出射時とは反対向きに折り返される。その結果として、測定光が対物光学系２７へ導かれる。

本実施例において、対物光学系２７は、固定的に配置されている。より詳細には、対物光学系２７は、測定光学系２０において、走査部２４と被検眼Ｅとの間に配置されている。対物光学系２７は、光スキャナ（本実施例では、ガルバノミラー２４１，２４２）によって偏向された測定光を、被検眼Ｅに導く。本実施例において、対物光学系２７は、正のパワーを持つレンズ系（対物レンズ系）として形成されている。このため、走査部２４からの測定光は、対物光学系２７を通過することで、光軸Ｌ１側に折れ曲がる。なお、図２Ａ，図２Ｂでは、便宜上、対物光学系２７を、２枚のレンズ２７ａ，２７ｂからなる光学系として示しているが、対物光学系２７を構成するレンズの数は、これに限定されない。対物光学系２７は、１枚のレンズに置き換えてもよいし、３枚以上のレンズに置き換えてもよい。また、対物光学系２７は、レンズ系に限られるものではなく、例えば、ミラー系であってもよいし、レンズとミラーとの組み合わせによる光学系であってもよいし、レンズ及びミラー以外の光学部材を含む光学系であってもよい。

このような測定光学系２０では、光ファイバ１５ｂの端部１６ｂから測定光が出射すると、コリメータレンズ２１によって測定光がコリメートされる。また、ＤＭＤ２８によって測定光のプロファイルが変更される。その後、測定光は、ミラー２９に反射され、光束径調節部２２及び集光位置可変光学系２３を通過して、走査部２４に達する。測定光は、走査部２４に設けられた２つのガルバノミラーで反射された後、更に、ミラー２５及びダイクロイックミラー２６で反射される。その結果、測定光は、対物光学系２７に入射する。そして、測定光は、対物光学系２７を通過して、被検眼Ｅへ導光される。その後、測定光は、被検眼Ｅで反射または散乱され、その結果として、測定光学系２０を逆に辿って光ファイバ１５ｂの端部１６ｂに入射する。端部１６ｂに入射した測定光は、光ファイバ１５ｂを介して、カップラー１５に入射する。

ＯＣＴデバイス１は、駆動部（アクチュエータ）を備える。駆動部は、対物光学系２７に対する走査部２４（つまり、光スキャナであるガルバノミラー２４１，２４２）の相対位置であって、測定光学系２０の光軸Ｌ１方向に関する相対位置を変位させる。より詳細には、駆動部の駆動によって、対物光学系２７の後側焦点位置（または、その共役位置）に対する走査部２４の相対位置が変更される。この相対位置の変位によって、測定光の旋回位置が光軸Ｌ１方向に関して変更される。駆動部は、走査部２４、及び、対物光学系２７と走査部２４との間に配置される光学部材、の少なくとも一方を移動させることで、対物光学系２７に対する走査部２４の相対距離を変位させてもよい。図２Ａ，図２Ｂの例において、ＯＣＴデバイス１は、駆動部５０を有する。対物光学系２７と走査部２４との間隔（光路長）が、駆動部５０の駆動によって変更され、これにより、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置が変位される。この相対位置は、断層像が撮影される被検眼Ｅの深度帯と対応して変更される。

図２Ａ，図２Ｂの例において、駆動部５０は、それぞれのミラー面が直角を挟んで配置される２枚のミラー（ミラー２５及びダイクロイックミラー２６）を、所定の方向に一体的に移動させる。本実施例では、対物光学系２７の光軸方向に移動される。その結果、走査部２４から対物光学系２７までの光路長が変更される（例えば、図２Ａ→図２Ｂ，図２Ｂ→図２Ａ）。例えば、断層像が得られる深度帯を前眼部Ｅｃと眼底Ｅｒとの間で切り換える場合は、走査部２４から対物光学系２７までの光路長を比較的大きく変更する必要がある。これに対し、図２Ａの例において、走査部２４から出射した測定光は、２枚のミラーによって折り返されているので、２枚のミラーを移動させた場合、走査部２４から対物光学系２７までの光路長の変化（換言すれば、対物光学系２７に対する走査部２４の光軸Ｌ１方向に関する変位量）を、２枚のミラー２５，２６の移動量の２倍とることができる。故に、対物光学系２７に対する走査部２４の位置を、測定光学系２０の光軸Ｌ１方向に関して変位させるために必要なスペースを抑制できる。

また、図２Ａ，図２Ｂに示すように、ＯＣＴデバイス１は、対物光学系２７に対する走査部２４の位置を検出するためのセンサ５１を備えていてもよい。センサ５１としては、様々なデバイスを利用可能である。例えば、ポテンショメータ等のリニア変位センサがセンサ５１として適用されてもよい。

ここで、ＯＣＴ光学系２の説明に戻る。参照光学系３０は、参照光を生成する。参照光は、眼底Ｅｒによって反射された測定光の反射光と合成される光である。参照光学系３０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。図２Ａ，図２Ｂに例示する参照光学系３０は、反射光学系（例えば、参照ミラー３４）によって形成される。図２Ａ，図２Ｂの例では、カップラー１５からの光が、反射光学系によって反射されることで再度カップラー１５に戻され、結果として、検出器４０に導かれる。なお、参照光学系３０は必ずしもこれに限られるものではなく、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成されてもよい。この場合、参照光学系３０は、カップラー１５で分割された参照光を、カップラー１５へ戻さずに透過させることで、検出器４０へ導く。

図２Ａ，図２Ｂの例において、参照光学系３０は、分割器１５から、参照ミラー３４までの光路に、光ファイバ１５ｃ，光ファイバ１５ｃの端部１６ｃ，コリメータレンズ３３，参照ミラー３４，を有している。光ファイバ１５ｃは、参照光の偏光方向を変化させるため、駆動部３２により回転移動される。すなわち、光ファイバ１５ｃ及び駆動部３２は、偏光方向を調整するためのポラライザ３１として用いられる。なお、ポラライザとしては、上記構成に限定されず、測定光の光路または参照光の光路に配置されるポラライザを駆動させることにより、測定光と参照光の偏光状態を略一致させるものであればよい。例えば、１／２波長板や１／４波長板を用いることや光ファイバに圧力を加えて変形させることで偏光状態を変えるもの等が適用できる。

なお、ポラライザ３１（偏光コントローラ）は、測定光と参照光の偏光方向を一致させるために、測定光と参照光の少なくともいずれかの偏光方向を調整する構成であればよい。例えば、ポラライザ３１は、測定光の光路に配置された構成であってもよい。

また、参照ミラー３４は、参照ミラー駆動部３４ａによって、光軸方向Ｌ２に関して変位する。参照ミラー３４が変位することで、参照光の光路長が調整される。

光ファイバ１５ｃの端部１６ｃから出射した参照光は、コリメータレンズ３３で平行光束とされ、参照ミラー３４で反射される。その後、参照光はコリメータレンズ３３によって集光されて光ファイバ１５ｃの端部１６ｃに入射する。端部１６ｃに入射した参照光は、光ファイバ１５ｃ、光ファイバ３１（ポラライザ３１）を介して、カップラー１５に達する。

図２Ａ，図２Ｂの例では、参照ミラー３４で反射された参照光と、被検眼Ｅに導光された測定光の戻り光（つまり、被検眼Ｅで反射または散乱された測定光）とは、カップラー１５によって合成されて、干渉光とされる。この干渉光は、光ファイバ１５ｄを介して、端部１６ｄから出射される。その結果、干渉光が検出器４０に導かれる。

検出器（ここでは、スペクトロメータ部）４０は、周波数（波長）毎の干渉信号を得るために、参照光と測定光による干渉光を周波数（波長）毎に分光し、分光された干渉光を受光する。

図２Ａ，図２Ｂに示す検出器４０は、例えば、コリメータレンズ、グレーティングミラー（回折格子）、集光レンズ、等の光学系（いずれも図示せず）を含んでいてもよい。検出器４０の本体（受光素子部分）は、例えば、一次元受光素子（ラインセンサ）が適用されてもよい。検出器４０は、光源１１から出射される光の波長に対して、感度を有する。上述したように、光源１１から赤外域の光が出射される場合、赤外域の感度がある検出器４０を利用し得る。

端部１６ｂから出射された干渉光は、コリメータレンズ２１によって平行光とされ、その後、図示なきグレーティングミラーによって、周波数成分に分光される。そして、周波数成分に分光された干渉光は、図示なき集光レンズを介して、検出器４０の受光面に集光する。これによって、検出器４０上での干渉縞のスペクトル情報（スペクトル信号）が得られる。スペクトル情報は、制御部７０へ入力され、制御部７０において、フーリエ変換を用いて解析される。そして、解析結果として、被検眼Ｅの断層像が形成される。また、解析結果として、被検眼Ｅの深さ方向における情報が計測可能となる。

ここで、制御部７０は、走査部２４により測定光を被検眼Ｅの横断方向に走査することにで、断層像を取得できる。例えば、Ｘ方向もしくはＹ方向に走査することにより、被検眼眼底ＥｒのＸＺ面もしくはＹＺ面における断層像を取得できる（なお、本実施例においては、このように測定光を眼底Ｅｒに対して一次元走査し、断層像を得る方式をＢスキャンとする）。なお、取得された断層像は、制御部７０に接続された記憶部７２に記憶される。更に、走査部２４の駆動を制御して、測定光をＸＹ方向に二次元的に走査することにより、被検眼眼底ＥｒのＸＹ方向に関する二次元動画像，及び，被検眼眼底Ｅｒの三次元画像を検出器４０からの出力信号に基づいて形成可能である。

次に、固視標投影ユニット９０について説明する。固視標投影ユニット９０は、被検眼Ｅの視線方向を誘導するための光学系を有する。固視標投影ユニット９０は、被検眼Ｅに呈示する固視標（固視光源９１）を有する。固視標投影ユニット９０は、複数の方向に被検眼Ｅを誘導する構成でもよい。ここで、ダイクロイックミラー２６は、ＯＣＴ光学系２の測定光として用いられる波長成分の光を反射し、固視標投影ユニット９０に用いられる波長成分の光を透過する特性を有する。故に、固視標投影ユニット９０から出射される固視標光束は、対物光学系２７を介して被検眼Ｅに照射される。これにより、被検者は固視が可能になる。

＜制御系＞
次に、ＯＣＴデバイス１の制御系を説明する。制御部（コントローラ）７０は、ＯＣＴデバイス１の各部を制御する。例えば、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）及びメモリ等を含んで構成されてもよい。また、本実施例において、制御部７０は、例えば、検出器４０からの出力信号（つまり、干渉信号）を処理することによって、被検眼Ｅの深さ情報を取得する。深さ情報としては、断層像等の画像情報，被検眼Ｅの各部の寸法を示す寸法情報，測定光の照射部位における動き量を示す情報，偏光特性の情報を含む（複素数の）解析信号，等の少なくともいずれかであってもよい。本実施例では、制御部７０が、干渉信号に基づいて被検眼Ｅの断層像を形成する画像処理器を兼用している。また、本実施例の制御部７０は、断層像の形成以外にも、各種の画像処理を行う。画像処理は、制御部７０に設けられた専用の電子回路（例えば、図示なき画像処理ＩＣ）によって行われてもよいし、プロセッサ（例えば、ＣＰＵ）によって行われてもよい。

制御部７０には、記憶部７２，操作部（ユーザインターフェイス）７４，及び，モニタ７５，が接続されている（図２Ａ及び図２Ｂ参照）。記憶部７２は、書き換え可能な非一過性の記憶媒体を含んでいてもよく、例えば、フラッシュメモリ及びハードディスク等のいずれかであってもよい。撮影及び測定の結果得られた画像及び測定データは、記憶部７２に保存される。ＯＣＴデバイス１における撮影シーケンスを規定するプログラム及び固定データは、この記憶部７２に記憶されていてもよいし、制御部７０内のＲＯＭに記憶されていてもよい。また、光源１１，検出器４０，及び，各種駆動部２２ｃ，２３ａ，２４１ａ，２４２ｂ，３２，３４ａ，５０のほか、センサ５１等が接続されている。

＜撮影深度帯の切換動作＞
例えば、上記の構成を備えるＯＣＴデバイス１は、被検眼Ｅにおける撮影部位の深度帯を切り換えてもよい。この場合、制御部７０は、駆動部５０を制御し、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置を光軸Ｌ１方向に関して切り換える。旋回位置は、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置に応じて変位する。つまり、本実施例において、制御部７０は、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置を駆動部５０によって変更させ、その結果として、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置を光軸Ｌ１方向に関して調整する。その際、制御部７０は、測定光の旋回位置を、少なくとも、第１位置と、第２位置との間で変更する。第１位置は、被検眼Ｅの第１深度帯（例えば、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃ）に対応し、第２位置は、第１深度帯とは異なる被検眼Ｅの第２深度帯（例えば、被検眼Ｅの眼底Ｅｒ）に対応する。また、第２位置は、測定光学系の光軸方向（被検眼Ｅの深さ方向）に関して第１位置とは異なる。

また、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置を光軸Ｌ１方向に関して切り換えた際には、対物光学系２７と走査部２４との相対位置の変更と連動して、制御部７０が参照光学系３０における光路長を調整してもよい。また、制御部７０は、集光位置可変光学系２３を制御して、測定光の集光位置を切換えてもよい。また、更に、制御部７０は、光束径調節部２２を制御して、ＮＡを調節してもよい。このような走査部２４の位置変更（換言すれば、撮影深度帯の変更）は、例えば、操作部７４から制御部７０へ出力される切換信号に基づいて実行されてもよい。また、一連の撮影シーケンスにおいて、制御部７０が自動的に切換えを行ってもよい。

例えば、被検眼Ｅの前眼部撮影時においては、図２Ｂに示すように、制御部７０が、走査部２４を眼底撮影時（図２Ａ参照）に対して対物光学系２７に近づける。このとき、対物光学系２７の物体側（被検眼側）において、測定光の主光線はテレセントリック（または略テレセントリック）となる。つまり、本実施例では、走査部２４と対物光学系２７からなる光学系が、物体側テレセントリック光学系として形成される。この場合、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置（本実施例における第１位置）は、光軸Ｌ１上の無限遠点であるものと考えることができる。また、この場合、対物光学系２７の前面（つまり、最も被検眼側に配置されるレンズ面）から、被検眼Ｅの瞳孔面に照射される測定光の主光線は、走査部２４で反射される測定光の向きに関わらず、光軸Ｌ１と平行（略平行）となる。

一方、眼底撮影時においては、図２Ａに示すように、制御部７０が、前眼部撮影時（図２Ｂ参照）に対して、走査部２４を対物光学系２７から遠ざける。このとき、走査部２４の駆動に伴って、対物光学系２７の前面（最も被検眼側のレンズ面）から出た測定光は、瞳孔位置を中心（旋回点）として旋回する。つまり、この場合、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置（本実施例における第２位置）が瞳孔位置に設定される。

なお、被検眼Ｅの前眼部撮影時、及び眼底撮影時における測定光学系２０の位置関係とその詳細については、特開２０１６−２０９５７７号公報を参照されたい。

＜制御動作＞
以下、図４に示すフローチャートを用いて、上記の構成を備えるＯＣＴデバイス１の制御動作を順に説明する。例えば、眼科撮影装置１は、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃを撮影する前眼部撮影モードと、被検眼Ｅの眼底Ｅｒを撮影する眼底撮影モードと、を備えるが、本実施例においては眼底撮影モードを適用する場合を例に挙げる。例えば、眼底撮影モードでは、測定光が被検眼の瞳孔面を介して眼底に照射される。この場合、被検眼Ｅの瞳孔面に対してある一定の径をもった測定光が照射されてもよい。

例えば、検者は、固視標投影ユニット９０の固視標を注視するよう被検者に指示する。被検眼Ｅには、図示なき指標投影光学系の光源が点灯することにより、後述するアライメント指標像Ｍａ〜Ｍｈが投影される。また、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃは図示なき前眼部撮像光学系によって検出され、その前眼部観察像６０（図５参照）がモニタ７５に表示される。

＜被検眼のアライメント（Ｓ１）＞
例えば、制御部７０は、アライメント指標像Ｍａ〜Ｍｈを用いて、被検眼Ｅと測定光学系２０とのアライメント状態を検出する。また、制御部７０は、移動台１０２及び駆動部１０６を制御し、測定部１０３を移動させることで、被検眼Ｅの角膜頂点位置（または、略角膜頂点位置）と、測定光の光軸Ｌ１と、を一致させる自動アライメントを行う（Ｓ１）。

図５は被検眼Ｅの前眼部観察像６０を示す図である。例えば、被検眼Ｅの左右方向（Ｘ方向）及び上下方向（Ｙ方向）におけるアライメント状態は、角膜頂点位置と光軸Ｌ１とを一致させる位置に予め設定されたアライメント基準位置を用いて判定される。例えば、制御部７０は、指標像Ｍａ〜Ｍｈにおけるリング形状のＸＹ中心座標（図５に示す十字マーク）を角膜頂点位置として検出する。また、制御部７０は、アライメント基準位置に対して、検出した被検眼Ｅの角膜頂点位置がＸＹ方向にずれた偏位量を求める。例えば、制御部７０は、偏位量が０となるように測定部１０３を移動させ、被検眼Ｅに対するＸ方向及びＹ方向のアライメントを調整する。なお、アライメント基準位置を中心としたＸＹ方向における所定の領域に、アライメントの適否を判定するための許容範囲を設定しておき、測定部１０３をこの許容範囲内におさめるように移動させてもよい。

例えば、被検眼Ｅの前後方向（Ｚ方向）におけるアライメント状態は、アライメント指標像Ｍａ〜Ｍｈを用いて判定される。例えば、指標像Ｍａ及びＭｅは無限遠であり、指標像Ｍｈ及びＭｆは有限遠である。例えば、本実施例においては、ＯＣＴデバイス１に対して被検眼Ｅが適切な位置にある場合（すなわち、Ｚ方向の位置ずれがない場合）、無限遠の指標像ＭａからＭｅまでの像間隔ａと、有限遠の指標像ＭｈからＭｆまでの像間隔ｂと、がある一定の比率となるように設定されている。例えば、ＯＣＴデバイス１に対して被検眼Ｅが適切な位置にない場合（すなわち、Ｚ方向に位置ずれがある場合）、像間隔ａはほとんど変化しないが、像間隔ｂは変化する。例えば、制御部７０は、像間隔ａと像間隔ｂの像比率（つまり、ａ／ｂ）を比較し、これが一定の比率となるようにＺ方向のアライメントを調整する（詳細は特開平６−４６９９９号公報を参照されたい）。もちろん、アライメント基準位置を中心としたＺ方向における所定の領域に、アライメントの適否を判定するための許容範囲を設定しておき、測定部１０３をこの許容範囲内におさめるように移動させてもよい。

＜最適化制御の実施（Ｓ２）＞
次いで、制御部７０は、撮影条件の最適化を開始する（Ｓ２）。例えば、最適化の制御を行うことによって、検者が所望する眼底部位が、高感度・高解像度で観察できるようになる。例えば、最適化の制御とは、光路長調整、フォーカス調整、偏光状態の調整（ポラライザ調整）である。

なお、例えば、本実施例においては、第１自動光路長調整、フォーカス調整、第２自動光路長調整、ポラライザ調整の順に最適化の制御が行われる。例えば、制御部７０は、参照ミラー３４の位置を初期位置に設定し、レンズ２３ａの屈折力を０Ｄにする。初期化が完了すると、制御部７０は、参照ミラー３４を初期位置から一方向に所定ステップで移動させ、第１光路長調整（第１自動光路長調整）を行う。第１光路長調整が完了すると、制御部７０は、被検眼Ｅの前眼部に合焦するようにレンズ２３ａの屈折力を変化させて、オートフォーカス調整（フォーカス調整）を行う。オートフォーカス調整が完了すると、制御部７０は参照ミラー３４を光軸Ｌ２方向に移動させ、光路長を再調整（光路長を微調整）するための第２光路長調整（第２自動光路長調整）を行う。第２光路長調整が完了すると、制御部７０は干渉光を強く受光できる位置（すなわち、測定光と参照光の偏光状態が合う位置）にポラライザ３１を移動させて、測定光の偏光状態を調整する。

＜測定光の第１プロファイルへの変更（Ｓ３）＞
例えば、制御部７０は、ＤＭＤ２８を制御することによって、ＯＣＴ光学系２における測定光のプロファイルを変更する。例えば、本実施例においては、ＤＭＤ２８における微小なミラーＰの状態（すなわち、ＯＮの状態とＯＦＦの状態）を切り換えることで、測定光のプロファイルを変更する場合を例に挙げて説明する。これによって、測定光のプロファイルは第１プロファイル１００に変更される（Ｓ３）。なお、測定光のプロファイルは、少なくとも２つ以上の互いに異なる第１プロファイルに変更される構成であればよい。また、第１プロファイル１００としては、被検眼の眼底に向けて照射される測定光のうち、前眼部から眼底までの経路のいずれかの被検眼部位（例えば、被検眼の瞳面（瞳孔面）、硝子体等）における測定光の分布が変更される構成であればよい。

図６はＤＭＤ２８を説明する図である。例えば、本実施例では、図６における格子の１つ１つを、ＤＭＤ２８が備える微小なミラーＰ（Ｐ１〜Ｐ１６）として表している。また、例えば、図６において点線で示した形状は、ＤＭＤ２８へ入射する前の測定光の外径８０を表している。すなわち、本実施例においては、ＤＭＤ２８へ測定光が入射する位置に、微小なミラーＰが１６枚配置されている。

図７はＤＭＤ２８と第１プロファイル１００の関係を示す図である。図７（ａ）は、微小なミラーＰの反射角度を切り換えた状態を示している。なお、図７（ａ）では、反射角度がＯＮの状態にある微小なミラーＰを白色の領域で示し、反射角度がＯＦＦの状態にある微小なミラーＰを斜線の領域で示している。図７（ｂ）は、図７（ａ）の状態にあるＤＭＤ２８に対応して、被検眼Ｅに照射される測定光の第１プロファイル１００（第１プロファイル１００ａ〜ｄ）を示している。

例えば、微小なミラーＰがすべてＯＮの状態である場合（図７（ａ）におけるＢ１）、ＤＭＤ２８に入射する測定光のプロファイルは、第１プロファイル１００ａに変更される。つまり、測定光は、すべての微小なミラーＰ１〜Ｐ１６によってミラー２９の方向へ反射され、被検眼Ｅに導光される。このとき、第１プロファイル１００ａには、測定光が被検眼Ｅへ照射される照射領域１１０がつくられる。また、例えば、微小なミラーＰがすべてＯＦＦの状態である場合（図７（ａ）におけるＢ４）、ＤＭＤ２８に入射する測定光のプロファイルは、第１プロファイル１００ｄに変更される。つまり、測定光は、すべての微小なミラーＰ１〜Ｐ１６によって図示なき吸収部材の方向へ反射され、被検眼Ｅに導光されない。このとき、第１プロファイル１００ｄには、測定光が被検眼Ｅへ照射されない非照射領域１２０がつくられる。

例えば、一部の微小なミラーＰがＯＮの状態で、他の微小なミラーＰがＯＦＦの状態である場合（図７（ａ）におけるＢ２またはＢ３）、ＤＭＤ２８に入射する測定光のプロファイルは、第１プロファイル１００ｂまたは第１プロファイル１００ｃに変更される。このとき、白色の領域で示した微小なミラーＰ（言い換えると、反射角度がＯＮの状態にある微小なミラーＰ）に向かって入射した測定光のみが被検眼Ｅに導光される。斜線の領域で示した微小なミラーＰ（言い換えると、反射角度がＯＦＦの状態にある微小なミラーＰ）に向かって入射した測定光は被検眼Ｅに導光されない。つまり、第１プロファイル１００ｂ及び第１プロファイル１００ｃには、照射領域１１０と非照射領域１２０とがつくられる。

例えば、このように、ＤＭＤ２８に入射した後の測定光は、第１プロファイル１００を変更することで、様々なパターン形状（例えば、規則的なパターン形状、不規則なパターン形状、ランダムなパターン形状等）に変化する。例えば、本実施例における制御部７０は、ＤＭＤ２８を制御し、測定光のプロファイルを何通りにも変化させることで、複数の互いに異なる第１プロファイル１００に変更することができる。

例えば、本実施例では、測定光のプロファイルを複数の互いに異なる第１プロファイル１００に変更した状態において、被検眼Ｅに照射される測定光の光量が同一に設定される。例えば、この場合、制御部７０は、被検眼に照射する測定光における光量の総和が等しくなるようにしてもよい。例えば、測定光の光量を同一に設定する構成としては、第１プロファイル１００における照射領域１１０の面積を光源１１からの測定光の強度に従って変化させることで、被検眼Ｅに照射される測定光の光量を同一にしてもよい。また、例えば、測定光の光量を同一に設定する構成としては、光源１１の出力を変化させることで、被検眼Ｅに照射される測定光の光量を同一にしてもよい。もちろん、第１プロファイル１００における照射領域１１０の面積と、光源１１の出力と、を変化させることで、被検眼Ｅに照射される測定光の光量を同一にしてもよい。なお、本実施例においては、光源１１からの測定光の強度が至る所において一様であるとし、第１プロファイル１００における照射領域１１０の面積を一定に保つことで、被検眼Ｅに照射される測定光の光量を同一に設定する場合を例に挙げる。

例えば、制御部７０は、いずれの第１プロファイルにおいても照射領域１１０の面積が同じになるように、ＤＭＤ２８が備える微小なミラーＰを制御する。例えば、このような場合、メモリ７２には、照射領域１１０の面積が同じ（すなわち、反射角度がＯＮの状態にある微小なミラーＰの数が同じ）第１プロファイル１００のみが予め記憶されていてもよい。また、このような場合、メモリ７２には、照射領域１１０の面積が同じ第１プロファイル１００と、照射領域１１０の面積が異なる第１プロファイル１００と、が予め混在して記憶されていてもよい。例えば、制御部７０は、メモリ７２に記憶された第１プロファイル１００の中から、照射領域１１０の面積が同じ第１プロファイル１００を選択し、これに対応する微小なミラーＰの状態を切り換える。

例えば、図７（ｂ）における第１プロファイル１００ｂと第１プロファイル１００ｃは、１６枚の微小なミラーＰのうち、８枚がＯＦＦの状態となっており、照射領域１１０の面積は同一である。もちろん、ＯＦＦの状態とする微小なミラーＰの数は本実施例に限定されない。これによって、光源１１が一定の出力で被検眼Ｅに照射される場合に、測定光の光量を同一に設定することができる。なお、被検眼に照射される測定光の光量は必ずしも同一にする必要はなく、照射領域１１０の面積が互いに異なる第１プロファイル１００を選択して設定するようにしてもよい。この場合は、第１プロファイルごとに得られる所定の信号強度を適切に規格化することで、以下と同様に第１ＯＣＴデータを取得してもよい。

＜第１ＯＣＴデータの取得（Ｓ４）＞
例えば、制御部７０は、測定光のプロファイルを複数の互いに異なる第１プロファイル１００に変更した状態で、被検眼Ｅに測定光を照射し、それぞれの第１プロファイルに対応した第１ＯＣＴデータを取得する（Ｓ４）。例えば、第１ＯＣＴデータとしては、検出器４０からのＯＣＴ信号そのものであってもよいし、被検眼Ｅの断層画像データであってもよいし、モーションコントラストデータであってもよいし、偏光特性データであってもよい。例えば、本実施例においては、第１ＯＣＴデータとして、被検眼Ｅにおける断層画像の信号が取得される。なお、本実施例においては、便宜上、第１ＯＣＴデータとして、広角の眼底像を例に挙げて説明するがこれに限定されない。例えば、第１ＯＣＴデータは狭角の眼底像であってもよい。例えば、この場合には、中心窩等の所定の位置を検出しやすくなる。また、例えば、第１ＯＣＴデータは、全くスキャンを行わずに同じ位置を撮影し続けた像（Ｍスキャン像）であってもよい。もちろん、第１ＯＣＴデータは、所定の回数のデータを取得し、その平均を取ったものであってもよい。

例えば、制御部７０は、測定光のプロファイルを複数の第１プロファイル１００に変更し、それぞれの第１プロファイル１００に対応した複数の第１ＯＣＴデータを取得する。すなわち、本実施例では、測定光のプロファイルが、仮撮影用のプロファイルとして複数の互いに異なる第１プロファイルに変更される。また、本実施例では、仮撮影用のプロファイルにおいて、それぞれの第１ＯＣＴデータが取得される。

＜第１ＯＣＴデータの解析（Ｓ５）＞
例えば、制御部７０は、取得した第１ＯＣＴデータを解析することで、各第１プロファイルにおける所定の信号強度を検出する（Ｓ５）。なお、ＯＣＴ信号は、フーリエ変換前の信号を解析する構成であってもよいし、フーリエ変換後の信号を解析する構成であってもよい。例えば、本実施例においては、フーリエ変換前の信号を解析することにより、信号強度としてＯＣＴ信号の総量が検出される。例えば、この場合、制御部７０は、ＯＣＴ信号の包絡線を求め、これを積分した値を総量として検出するようにしてもよい。なお、所定の信号強度は、第１ＯＣＴデータの一部の波長領域、または一部の周波数領域での絶対値を積分したものとしてもよいし、ピーク、コントラスト、ヒストグラム等の特徴量であってもよい。また、これらの波長領域または周波数領域は、予め実験やシミュレーション等によって設定された領域であってもよいし、任意に設定可能としてもよい。これによって、例えば、制御部７０は、第１ＯＣＴデータごとに検出した所定の信号強度と、設定した第１のプロファイル１００との関係を用いて、いかなる経路で測定光が伝搬したかの情報を得ることができる。

＜透過率分布の作成（Ｓ６）＞
例えば、制御部７０は、いかなる経路で測定光が伝搬したかの情報を用いて、透過率分布８５を作成してもよい（Ｓ６）。例えば、透過率分布８５とは、被検眼Ｅの瞳上の位置において、被検眼Ｅに照射した測定光の戻り光が透過しやすい位置、あるいは透過しにくい位置を特定することが可能な分布である。なお、透過率分布は、被検眼Ｅの瞳上の各位置において、測定光の戻り光の光量を示すデータであってもよいし、測定光の戻り光の光量から求めた透過率を示すデータであってもよい。また、透過率分布は、測定光の戻り光の光量や透過率等のデータを可視化（例えば、マップ化）した画像データであってもよい。なお、本実施例では、透過率分布８５として、測定光の戻り光の透過率を求め、これをマップ化して示す場合を例に挙げる。

図８は透過率分布８５を説明する図である。図８（ａ）は被検眼Ｅの瞳上の位置を示している。図８（ｂ）は透過率分布８５をマップ化した図を示している。例えば、図８（ａ）における格子の１つ１つは、被検眼Ｅにおける瞳上の位置Ｅ１〜Ｅ１６を示している。なお、本実施例においては、被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ１〜Ｅ１６と、ＤＭＤ２８の微小なミラーＰ１〜Ｐ１６と、の位置を対応させている。すなわち、ＤＭＤ２８の微小なミラーＰ１に反射された測定光は、被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ１を通過して眼底Ｅｒに到達する。また、被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ１を通過した測定光の戻り光は、ＤＭＤ２８の微小なミラーＰ１に反射されてカップラー１５に到達する。

ここで、例えば、測定光は、必ずしも被検眼Ｅの眼底Ｅｒに到達するとは限らない。例えば、測定光が入射する位置に、被検眼Ｅの瞼や、被検眼Ｅに生じた混濁等が存在すると、これらによって測定光が遮られる場合がある。また、例えば、測定光の戻り光は、必ずしも測定光が通過した光路上における同一の位置を通過して、カップラー１５に到達するとは限らない。測定光の戻り光は、眼底Ｅｒの形状等により散乱して反射し、測定光が通過した光路上における異なる位置を通過する場合がある。また、測定光の戻り光は、被検眼Ｅの瞼や被検眼Ｅに生じた混濁に遮られたり、ＯＦＦの状態にある微小なミラーＰ等に入射することで、カップラー１５の方向へ反射しなかったりする場合がある。

これについて、より詳細に説明する。例えば、ＤＭＤ２８の微小なミラーＰ１とＰ３のみがＯＮの状態であったとき、ＤＭＤ２８に入射した測定光の一部は、微小なミラーＰ１に反射されて被検眼Ｅへ向かう。このとき、眼底Ｅｒにおいて散乱して反射した測定光の戻り光には、ＤＭＤ２８に入射し、微小なミラーＰ１に反射されてカップラー１５に到達する戻り光と、微小なミラーＰ３に反射されてカップラー１５に到達する戻り光と、ＯＦＦの状態にある微小なミラーＰ（すなわち、微小なミラーＰ２、Ｐ４〜Ｐ１６）に反射されることでカップラー１５に到達しない戻り光と、がある。なお、微小なミラーＰ３に反射されて被検眼Ｅへ向かい、眼底Ｅｒにおいて散乱して反射した測定光の戻り光については、上記と同様にして説明できるため省略する。

例えば、微小なミラーＰ１〜Ｐ１６をある特定の第１プロファイルとなるよう設定し、被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ１〜Ｅ１６のそれぞれに入射した測定光が、被検眼の眼底Ｅｒで散乱、あるいは反射されたのち、再び被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ１〜Ｅ１６と微小なミラーＰ１〜Ｐ１６を経て検出されるとき、所定の信号強度Ａは以下の数式で与えられる。

ここに、ボールド体のｘは、微小なミラーＰ１〜Ｐ１６のＯＮあるいはＯＦＦの状態をそれぞれ１あるいは０で表して列ベクトル表示したもので、右肩にＴを付したｘは転置（Transposed）されたもの、すなわち行ベクトルを意味する。従って、例えば、ＤＭＤ２８が備える微小なミラーＰ１〜Ｐ１６のうち、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ７、Ｐ９〜Ｐ１６がＯＮの状態にある場合は、以下の数式で表すことができる。

これは、微小なミラーＰがＯＮの状態であれば、微小なミラーＰに入射した測定光がミラー２９の方向へロス無く反射して被検眼Ｅに導光されることを意味する。反対に、微小なミラーＰがＯＦＦの状態であれば、微小なミラーＰに入射した測定光が図示なき吸収部材の方向へ反射され、被検眼Ｅには導光されないため、所定の信号強度Ａへの寄与がない（すなわち、寄与が０である）ことを意味している。

また、斜体のＴは、被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ１〜Ｅ１６のそれぞれに測定光が入射し、被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ１〜Ｅ１６と微小なミラーＰ１〜Ｐ１６を経て再び回収されるまでに、それぞれの経路がどれだけ寄与するかを表したもので、トランスファー行列と呼ばれる。例えばＴの（４、７）成分は、微小なミラーＰ７に相当する被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ７から測定光が入射して、最終的に微小なミラーＰ４に相当する被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ４から測定光の戻り光が回収される経路が、所定の信号強度Ａに対してどれだけ寄与しているかを表すものである。

例えば、制御部７０は、上記の数式１に、第１ＯＣＴデータの所定の信号強度Ａと、微小なミラーＰの状態ｘと、を代入し、１つの第１プロファイルを与えるＤＭＤ２８の状態につき、１つのトランスファー行列Ｔの成分に関する条件式を得る。従って、複数の異なる第１プロファイル１００を次々に取得することで、複数の条件式からトランスファー行列の各成分を連立方程式によって求められることになるので、被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ１〜Ｅ１６のそれぞれに測定光が入射し、被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ１〜Ｅ１６と微小なミラーＰ１〜Ｐ１６を経て再び回収されるまでに、それぞれの経路がどれだけ寄与するかを求めることができる。なお、その際、取得する第１プロファイル１００のバリエーション数は、一般には変数の数だけ必要となるが、一定の仮定を置くことでその数を減らしてもよい。例えば、この場合には、スパース性を仮定する手法（スパースモデリング）を用いてもよい。なお、スパースモデリングはＣＴ（Computed Tomography）再構成において広く用いられており、その詳細についてはQuant Imaging Med Surg 2013;3(3):147-161等に記載されているため省略する。また、例えば、一定の仮定を置く場合には、急峻な変化がないという仮定を置いてもよいし、前眼部観察像６０で確認される明らかに測定光の通りやすい経路はトランスファー行列Ｔの成分が他より大きいという仮定であってもよい。また、眼科撮影装置１で予め撮影した前眼部のＯＣＴ画像を基に、どの成分がどれだけ大きいかを予め設定するようにしてもよい。もちろん、Ｅ１とＥ２、あるいはＥ３とＥ４等、それぞれ特定の位置を一括りにして扱って、変数を減らしてもよい。

例えば、制御部７０は、上記のトランスファー行列Ｔから、瞳上の位置における透過率を求めてもよい。例えば、この場合には種々の方法が考えうるが、トランスファー行列Ｔを以下の数式のように分解することで、瞳上の位置における透過率を得てもよい。

数式３において、Ｍａｘ（ ）はＴの成分のうちの最大の値を選び出す関数であり、規格化に用いている。ボールド体のｔは被検眼Ｅの瞳上の位置Ｅ１〜Ｅ１６のそれぞれに入射する測定光の透過率を列ベクトルとして表示したものであって、中央の演算子は列ベクトルと行ベクトルから各行・各列の成分同士をかけ合わせた値を成分にもつ行列を生成する直積演算である。これは一意に決まるとは限らないが、誤差を小さくする方法（例えば、最小二乗法等の手法）を援用して得てもよい。

例えば、これによってｔの第３成分が０．５と算出された場合、制御部７０は瞳上の位置Ｅ３の透過率が５０％であると判断してもよい。例えば、制御部７０は、瞳上の各位置における透過率を求め、これをマップ化することで、図８（ｂ）のような透過率分布８５を作成してもよい。

なお、瞳上の位置における透過率は、設計値などから各経路についての既知のウェイトを設定し、これに基づいてトランスファー行列Ｔを分解してもよく、本実施例に限定されない。このようなウェイトを付ける場合には、以下の数式のようにトランスファー行列Ｔを分解してもよい。なお、Wはそれぞれの経路についてのウェイトを表した行列であるが、これは実験やシミュレーション等から求めておけば既知であるため、数式３と同様にして分解することができる。

＜測定光の第２プロファイルへの変更（Ｓ７）＞
例えば、制御部７０は、取得した複数の第１ＯＣＴデータに基づいて、本撮影用のプロファイルとして、測定光のプロファイルを第１プロファイル１００とは異なる新たな第２プロファイル２００に変更する（Ｓ７）。例えば、本実施例においては、作成した透過率分布８５に基づいて、測定光のプロファイルが第２プロファイル２００に変更される。

図９は第２プロファイル２００を説明する図である。例えば、制御部７０は、透過率分布８５において、所定の透過率以下となった領域に該当する微小なミラーＰをＯＦＦの状態にしてもよい。例えば、図７（ｂ）に示す透過率分布８５が得られた場合、制御部７０は、５０％以下の透過率を示す領域に該当する微小なミラーＰ（すなわち、Ｐ８、Ｐ１０〜Ｐ１６）をＯＦＦの状態に切り換え、測定光のプロファイルを図９に示す第２プロファイル２００に変更する。なお、例えば、所定の透過率は、予め設定された透過率（例えば、３０％以下、５０％以下等）であってもよいし、検者が任意に設定可能な構成であってもよいし、透過率分布８５を基にして制御部７０が設定する構成であってもよい。

また、このとき、制御部７０は、光源１１の出力を制御して、測定光の光量を調整する。例えば、図９では、１６枚の微小なミラーＰのうち、４枚の微小なミラーＰがＯＦＦの状態であるため、測定光の光量が４分の１となって被検眼Ｅに照射される。この場合、例えば、制御部７０は、第２プロファイル２００における照射領域１１０、あるいは非照射領域１２０の面積から、被検眼Ｅに対する最適な光量を求め、光源１１の出力を制御する。すなわち、図９の場合には、光源の出力を予め４倍とすることで、被検眼Ｅに対して最適な照明をすることができる。

＜第２ＯＣＴデータの取得（Ｓ８）＞
例えば、制御部７０は、測定光のプロファイルを第２プロファイル２００に変更した状態で、被検眼Ｅに測定光を照射し、第２プロファイルに対応した第２ＯＣＴデータを取得する（Ｓ８）。なお、第２ＯＣＴデータは、被検眼Ｅの断層画像データであってもよいし、モーションコントラストデータであってもよいし、偏光特性データであってもよい。また、例えば、第２ＯＣＴデータは、ＯＣＴ信号（すなわち、画像化される前の信号）を取得する構成としてもよいし、ＯＣＴ画像を取得する構成としてもよい。

以上説明したように、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、測定光のプロファイルを変更する変更手段と、測定光のプロファイルを複数の互いに異なる第１プロファイルに変更した状態で、それぞれの第１ＯＣＴデータを取得する取得手段と、を備える。また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、複数のＯＣＴデータに基づいて、本撮影用のプロファイルとして、測定光のプロファイルを第１プロファイルとは異なる新たな第２プロファイルに変更し、第２プロファイルに変更した状態で、第２ＯＣＴデータを取得する。これによって、検者は、複数の第１プロファイルを試行して、被検眼に照射した測定光の戻り光が眼底に達し、再びＯＣＴ光学系によって回収されるまでの間に、いかなる経路で測定光が伝搬したかの情報を得ることができる。また、検者は、その情報を参考にして、第２プロファイルを被検眼に対する最適なプロファイルに変更することができる。従って、検者は、被検眼ごとに最適化されたＯＣＴデータを取得することができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、複数の互いに異なる第１プロファイルに変更した状態で、被検眼に照射される測定光の光量を同一とする光量調整手段を備える。これによって、被検眼に照射した測定光の戻り光における光量を、複数の互いに異なる第１プロファイル間で容易に比較できるようになる。従って、検者は、第１プロファイルによる結果から、被検眼に対する良好な第２プロファイルを容易に決定することができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、変更手段としてＤＭＤを備える。このため、測定光のプロファイルを、容易に様々な形状に変更することができる。

＜変容例＞
なお、本実施例においては、互いに異なる複数の第１プロファイル１００を選択する際に、スパースモデリングの技術を応用してもよい。この場合には、メモリ７２に記憶されたすべての第１プロファイル１００に優先順位が付けられ、第１プロファイル１００を選択的に変更することができる。従って、制御部７０は、少数の第１ＯＣＴデータを基にして、透過率分布８５を作成することができる。なお、第１プロファイル１００の優先順位は、透過率分布８５を作成する過程において随時変更されてもよい。

なお、本実施例においては、第２プロファイル２００における照射領域１１０と、第１プロファイル１００における照射領域１１０と、が異なる面積である場合を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、第２プロファイル２００における照射領域１１０が、第１プロファイル１００における照射領域１１０と同一の面積となるように、ＤＭＤ２８の微小なミラーＰの状態が切り換えられてもよい。例えば、この場合には、取得した透過率分布８５に基づいて、測定光の透過率が低い位置に対応する微小なミラーＰから優先的にＯＦＦの状態とすることで、照射領域１１０の面積を第１プロファイル１００と第２プロファイル２００とで同一にしてもよい。また、例えば、測定光の透過率が低い領域が広く、これに対応する微小なミラーＰの数が、第１プロファイル１００においてＯＦＦの状態にした微小なミラーＰの数を越えてしまうような場合には、測定光の透過率が低い領域の周辺における透過率を考慮してＯＦＦの状態とする微小なミラーＰを決定し、照射領域１１０の面積を第１プロファイル１００と第２プロファイル２００とで同一にしてもよい。

また、本実施例においては、ＤＭＤ２８の微小なミラーＰの状態を切り換えることで、測定光を局所的に変化させる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、測定光の光路中に測定光の強度を調整するための部材を配置し、これを移動あるいは挿脱させてもよい。この場合、測定光の強度を調整するための部材としてアポダイゼーションフィルタを用い、これを測定光に対する垂直面内で移動させる構成としてもよい。また、ＬＣＤ（例えば、透過型ＬＣＤ、反射型ＬＣＤ等）を用いる構成としてもよい。例えば、このようにして、部分的に強度を変化させた測定光を被検眼Ｅに照射するようにしてもよい。

例えば、部分的に強度を変化させた測定光を被検眼Ｅに照射する場合、数式１におけるボールド体のｘには、透過率の分布を表す連続値を採用する。従って、例えば、被検眼Ｅの瞳上の位置の中央近傍（Ｅ６、Ｅ７、Ｅ１０、Ｅ１１）に相当する位置のみに強い減光がある場合は、以下に示す数式のようになり、前述の実施例と同様に考えることができる。なお、数式１と同様に、連立方程式を得た後は、トランスファー行列の各成分がスパース性等の仮定を置いて計算されてもよい。例えば、制御部７０は、これに基づいて透過率分布８５を作成し、第２プロファイル２００を設定するようにしてもよい。

なお、本実施例においては、第１プロファイル１００を変更した際に、照射領域１１０の面積が一定となるように微小なミラーＰの状態を切り換え、測定光の光量を同一とする構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例では、照射領域１１０の面積がそれぞれ異なる第１プロファイルを設定し、光源１１から出射される光量を調整することによって、測定光の光量を同一としてもよい。例えば、この場合、制御部７０は、設定した第１プロファイル１００における照射領域１１０の面積に応じて、測定光の光量を変化させる。例えば、制御部７０は、第１プロファイル１００における照射領域１１０の面積が、第１プロファイル１００における全体の面積の２分の１となった場合、光源１１の出力を２倍とする。これによって、照射領域１１０の面積が異なる第１プロファイル１００を設定した場合であっても、光源１１の出力を随時変化させ、被検眼に照射する測定光の光量を同一にすることができる。

また、例えば、光源１１から出射される光量を調整することで測定光の光量を同一とする場合には、ＤＭＤ２８とレンズ２２ａとの間に、被検眼Ｅに照射される測定光の光量を検出するための光検出器を設置してもよい。例えば、制御部７０は、光検出器が検出した測定光の光量に基づいて、光源１１の出力を制御してもよい。また、例えば、制御部７０は、光検出器が検出した測定光の光量に基づいて、測定光の光量を調整するための部材を、測定光が被検眼Ｅに到達するまでの光路中に挿脱してもよい。例えば、光量を調整するための部材としては、フィルタ（例えば、濃度フィルタ、偏光フィルタ、減光フィルタ等）等が用いられる。また、濃度可変型のフィルタを用いるのであれば、測定光が被検眼Ｅに到達するまでの光路中にこれを固定配置し、所望の濃度となるように回転あるいはスライド移動させてもよい。例えば、このような構成であっても、照射領域１１０の面積が異なる第１プロファイル１００を設定した場合に、被検眼に照射する測定光の光量を同一にすることができる。

なお、本実施例における眼科撮影装置１は、測定光の戻り光を検出するための光検出器８８を備える構成であってもよい。図１０は、眼科撮影装置１の光学系における変容例を示す図である。例えば、このような場合には、ＤＭＤ２８からレンズ２２ａまでの間におけるいずれかの位置（本実施例ではミラー２９とレンズ２２ａとの間）にビームスプリッタ８７を設け、被検眼Ｅで反射された測定光の戻り光を、ビームスプリッタ８７で光検出器８８の方向へ反射させる。例えば、検出器４０は、光検出器８８に導光された測定光の戻り光と、参照光と、を合成してＯＣＴ信号を取得するようにしてもよい。例えば、制御部７０は、取得したＯＣＴ信号から、本実施例と同様にして所定の信号強度Ａを検出することができる。

例えば、図１０に示す光学系配置である場合には、以下の数式でトランスファー行列を同様に求めることができる。ここに、ボールド体の１は全ての成分を１とした行ベクトルで、数式１でＤＭＤ２８の全ての微小なミラーＰがＯＮである場合の行ベクトルに相当する。なお、数式１と同様、連立方程式を得た後は、トランスファー行列の各成分がスパース性等の仮定を置いて計算されてもよい。例えば、制御部７０は、これに基づいて透過率分布８５を作成し、第２プロファイル２００を設定するようにしてもよい。

なお、例えば、本実施例における眼科撮影装置１は、照明光学系と、受光光学系と、ＯＣＴ光学系２とは異なる観察光学系と、を有していてもよい。例えば、照明光学系は、被検眼に向けて照射光を出射することで、被検眼を照明する。例えば、受光光学系は、被検眼からの反射光を受光する。例えば、観察光学系は、受光光学系からの受光信号に基づいて、被検眼の正面画像を取得する。なお、このような眼科撮影装置１としては、眼科撮影装置１がＳＬＯや眼底カメラを備える構成であってもよい。

例えば、上述の眼科撮影装置１において、制御部７０は、照射光学系における照射光のプロファイルを変更する。例えば、制御部７０は、照射光のプロファイルを第２プロファイルと同一のプロファイルに変更することができる。この場合には、ＤＭＤ２８を、照明光学系と、測定光学系２０と、において共通する光路中に配置してもよい。また、この場合には、ＳＬＯや眼底カメラの絞り面に、第２プロファイルのパターンを配置してもよい。例えば、このような構成とすることによって、照明光学系における照射光のプロファイルが、測定光の第２プロファイルと同一のプロファイルに変更される。

例えば、このように、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼に向けて照射光を出射して被検眼を照明する照明光学系と、被検眼からの反射光を受光する受光光学系と、受光光学系からの受光信号に基づいて被検眼の正面画像を取得するＯＣＴ光学系とは異なる観察光学系と、照明光学系における照射光のプロファイルを変更する第２変更手段と、を備える。このため、検者は、ＯＣＴ光学系を備えた装置において取得した測定光のプロファイルを参考にして、ＯＣＴ光学系とは異なる観察光学系を備えた装置における照射光のプロファイルを、効率よく第２プロファイルと同一にすることができる。また、ＯＣＴ光学系とは異なる観察光学系を備えた装置において、精度よく被検眼を撮影することができる。

なお、本実施例においては、すべての第１ＯＣＴデータを解析した所定の信号強度Aを用いて、被検眼Ｅに対する透過率分布８５を作成する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、透過率分布８５は、第１ＯＣＴデータによる所定の信号強度Aの強弱を判定し、これに基づいて作成されてもよい。この場合、透過率分布８５は、「強」と判断した複数の第１ＯＣＴデータのみを用いて作成してもよいし、「弱」と判断した複数の第１ＯＣＴデータのみを用いて作成してもよい。例えば、第１ＯＣＴデータによる所定の信号強度Ａの強弱は、実験やシミュレーション等により予め設定された所定の閾値と、取得した振幅強度と、を比較することにより判定することができる。もちろん、このような閾値は、検者が任意に設定することが可能な構成としてもよいし、被検者が変わるごと（被検眼Ｅが変わるごと）に設定される構成であってもよい。

なお、本実施例においては、第１ＯＣＴデータとしてＯＣＴ信号を解析し、所定の信号強度Ａを検出する場合を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、第１ＯＣＴデータとしてＯＣＴ信号を解析し、信号値のピーク、コントラスト、ヒストグラム等の特徴量等を検出する構成としてもよい。この場合には、例えば、第１ＯＣＴデータの立ち上がりや立ち下がりを検出することによって取得してもよいし、第１ＯＣＴデータの一部を切り出すことで取得してもよい。もちろん、第１ＯＣＴデータとしてＯＣＴ画像を解析し、輝度値を検出する構成としてもよい。

なお、本実施例においては、作成した透過率分布８５を用いることで、被検眼Ｅに生じた混濁等の位置を推測するようにしてもよい。この場合、例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの瞳上の位置において、測定光の戻り光が透過しにくい位置を、混濁等の位置と推測してもよい。

１ 眼科撮影装置
１１ 光源
１５ 分割器
２０ 測定光学系
２２ 光束径調節部
２３ 集光位置可変光学系
２４ 走査部
２７ 対物光学系
２８ 変更部材
３０ 参照光学系
４０ 検出器
５０ 駆動部
７０ 制御部
１００ 第１プロファイル
１０３ 測定部
２００ 第２プロファイル

Claims (5)

1. 被検眼に照射された測定光と参照光によるＯＣＴ信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、前記ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴデータを取得する眼科撮影装置であって、
   前記ＯＣＴ光学系における前記測定光のプロファイルを変更する変更手段と、
   前記変更手段によって、前記測定光のプロファイルを複数の互いに異なる第１プロファイルに変更した状態で、前記被検眼に前記測定光を照射し、それぞれの第１ＯＣＴデータを取得する取得手段と、
   を備え、
   前記変更手段は、前記取得手段によって取得された複数の前記ＯＣＴデータに基づいて、本撮影用のプロファイルとして前記測定光のプロファイルを前記第１プロファイルとは異なる新たな第２プロファイルに変更し、
   前記取得手段は、前記第２プロファイルに変更した状態で、前記被検眼に前記測定光を照射し、第２ＯＣＴデータを取得することを特徴とする眼科撮影装置。
2. 請求項１の眼科撮影装置において、
   複数の互いに異なる第１プロファイルに変更した状態で、前記被検眼に照射される前記測定光の光量を同一とする光量調整手段を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
3. 請求項１〜２のいずれかの眼科撮影装置において、
   前記被検眼に向けて照射光を出射して前記被検眼を照明する照明光学系と、前記被検眼からの反射光を受光する受光光学系と、を有し、前記受光光学系からの受光信号に基づいて被検眼の正面画像を取得する観察光学系であって、前記ＯＣＴ光学系とは異なる観察光学系と、
   前記照明光学系における前記照射光のプロファイルを変更する第２変更手段と、
   を備え、
   前記第２変更手段は、前記照射光のプロファイルを前記第２プロファイルと同一のプロファイルに変更することを特徴とする眼科撮影装置。
4. 請求項１〜３のいずれかの眼科撮影装置において、
   前記変更手段は、ＤＭＤであることを特徴とする眼科撮影装置。
5. 被検眼に照射された測定光と参照光によるＯＣＴ信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、前記ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴデータを取得する眼科撮影方法であって、
   前記ＯＣＴ光学系における前記測定光のプロファイルを変更する変更手段によって、前記測定光のプロファイルを複数の互いに異なる第１プロファイルに変更した状態で、前記被検眼に前記測定光を照射し、それぞれの第１ＯＣＴデータを取得する第１取得ステップと、
   前記取得手段によって取得された複数の前記ＯＣＴデータに基づいて、本撮影用のプロファイルとして前記測定光のプロファイルを前記第１プロファイルとは異なる新たな第２プロファイルに変更する変更ステップと、
   前記第２プロファイルに変更した状態で、前記被検眼に前記測定光を照射し、第２ＯＣＴデータを取得する第２取得ステップと、
   を備えることを特徴とする。

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