JP2008246158A - 光画像計測装置、それを制御するプログラム及び光画像計測方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】眼底観察装置1は、干渉光LCの検出結果を基に干渉光の強度分布を求める干渉強度分布演算部213と、この強度分布に基づいて被検眼Eに対する信号光LSの照射位置を決定する照射位置決定部214とを有する。照射位置決定部214は、干渉光の強度が小さい領域を避けるように、つまり被検眼E内の混濁部位を避けるように、信号光LSの照射位置を決定する。主制御部211は、決定された照射位置に向けて新たな信号光LSを照射する。演算制御装置200は、被検眼Eを経由した新たな信号光LSと、参照ミラー174を経由した新たな参照光LRとに基づく新たな干渉光LCの検出結果に基づいて眼底EfのOCT画像を形成する。
【選択図】図6
Description
まず、この発明に係る光画像計測装置の実施形態の構成について図1〜図6を参照しながら説明する。ここで、図1は、この発明に係る光画像計測装置としての機能を有する眼底観察装置1の全体構成の一例を表している。図2は、眼底カメラユニット1A内の走査ユニット141の構成の一例を表している。図3は、OCTユニット150の構成の一例を表している。図4は、演算制御装置200のハードウェア構成の一例を表している。図5及び図6は、眼底観察装置1の制御系の構成の一例を表している。
眼底観察装置1は、図1に示すように、眼底カメラユニット1A、OCTユニット150及び演算制御装置200を含んで構成される。眼底カメラユニット1Aは、眼底表面の2次元画像を撮影する従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有している。OCTユニット150は、光画像計測装置として機能する光学系を格納している。演算制御装置200は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
眼底カメラユニット1Aは、光学的に取得されるデータ(撮像装置10、12により検出されるデータ)に基づいて被検眼の眼底の表面の2次元画像を形成するために用いられる。ここで、眼底の表面の2次元画像とは、眼底の表面を撮影したカラー画像やモノクロ画像、更には蛍光画像(フルオレセイン蛍光画像、インドシアニングリーン蛍光画像等)などを表す。眼底カメラユニット1Aは、従来の眼底カメラと同様に、眼底Efを照明する照明光学系100と、この照明光の眼底反射光を撮像装置10に導く撮影光学系120とを備えている。
次に、OCTユニット150の構成について図3を参照しつつ説明する。OCTユニット150は、光学的に取得されるデータ(後述のCCD184により検出されるデータ)に基づいて眼底の断層画像を形成するための装置である。
次に、演算制御装置200の構成について説明する。演算制御装置200は、OCTユニット150のCCD184から入力される検出信号を解析して、眼底Efの断層画像を形成する。このときの解析手法は、従来のフーリエドメインOCTの手法と同様である。
次に、眼底観察装置1の制御系の構成について図5及び図6を参照しつつ説明する。
眼底観察装置1の制御系は、演算制御装置200の制御部210を中心に構成される。制御部210は、マイクロプロセッサ201、RAM202、ROM203、ハードディスクドライブ204(制御プログラム204a)、通信インターフェイス209等を含んで構成される。
画像形成部220は、撮像装置10、12からの映像信号に基づいて眼底画像Ef′の画像データを形成する。また、画像形成部220は、OCTユニット150のCCD184からの検出信号に基づいて眼底Efの断層画像の画像データを形成する。
画像処理部230は、画像形成部220により形成された画像の画像データに対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部230は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理などを実行する。
ユーザインターフェイス(User Interface;UI)240には、表示部240Aと操作部240Bが設けられている。表示部240Aは、ディスプレイ207等の表示デバイスにより構成される。また、操作部240Bは、キーボード205やマウス206などの入力デバイスや操作デバイスにより構成される。
信号光LSの走査は、前述のように、走査ユニット141のガルバノミラー141A、141Bの反射面の向きを変更することで行う。制御部210は、ミラー駆動機構241、242をそれぞれ制御することで、ガルバノミラー141A、141Bの反射面の向きをそれぞれ変更し、それにより信号光LSを眼底Ef上において走査する。
眼底観察装置1の使用形態について説明する。図9に示すフローチャートは、この使用形態の一例を表している。
以上のような眼底観察装置1(光画像計測装置)の作用及び効果について説明する。
以上に説明した構成は、この発明に係る光画像計測装置を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
この発明に係るプログラムについて説明する。上記の実施形態における制御プログラム204aは、この発明に係るプログラムの一例である。また、演算制御装置200は、この発明に係るコンピュータの一例である。
この発明に係る光画像計測方法について説明する。この光画像計測方法は、以下のステップを含んでいる:(1)低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する;(2)生成された干渉光を検出する;(3)検出手段による検出結果に基づいて、被検眼における干渉光の強度分布を求める;(4)求められた強度分布に基づいて、被検眼に対して信号光を照射する位置を決定する;(5)新たな低コヒーレンス光に基づく新たな信号光を、決定された位置に向けて照射する;(6)被検眼を経由した新たな信号光と、新たな低コヒーレンス光に基づく新たな参照光とを重畳させて新たな干渉光を生成する;(7)生成された新たな干渉光を検出する;(8)新たな干渉光の検出結果に基づいて、被検眼の画像を形成する。
1A 眼底カメラユニット
140 LCD
141 走査ユニット
141A、141B ガルバノミラー
150 OCTユニット
160 低コヒーレンス光源
162 光カプラ
174 参照ミラー
180 スペクトロメータ
184 CCD
200 演算制御装置
204a 制御プログラム
210 制御部
211 主制御部
212 記憶部
212a 照射位置情報
213 干渉強度分布演算部
214 照射位置決定部
220 画像形成部
230 画像処理部
240 ユーザインターフェイス
240A 表示部
240B 操作部
241、242 ミラー駆動機構
Ri(i=1〜m) 走査線
E 被検眼
Ef 眼底
Claims (14)
- 低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
前記検出手段による検出結果に基づいて、前記被検眼における前記干渉光の強度分布を求める演算手段と、
前記求められた強度分布に基づいて、前記被検眼に対する前記信号光の照射位置を決定する決定手段と、
前記決定された照射位置に向けて照射された新たな信号光と前記参照物体を経由した新たな参照光とに基づく新たな干渉光の検出結果に基づいて、前記被検眼の画像を形成する画像形成手段と、
を備えることを特徴とする光画像計測装置。 - 前記決定手段により決定された照射位置に前記新たな信号光を照射させるように前記被検眼と装置との相対位置を変更する変更手段を更に備える、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記変更手段は、前記決定手段により決定された照射位置に前記新たな信号光が照射されるように前記被検眼を固視させるための固視標を呈示する呈示手段を含む、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。 - 前記呈示手段は、前記固視標を表示する固視標表示手段と、前記表示された固視標を前記被検眼の眼底に投影させる投影光学系とを含む、
ことを特徴とする請求項3に記載の光画像計測装置。 - 前記決定手段は、前記演算手段により求められた干渉光の強度分布において、所定の閾値よりも強度が小さい領域を特定し、前記特定された領域以外の領域の少なくとも一部を前記照射位置とする、
ことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記決定手段は、前記演算手段により求められた干渉光の強度分布において、所定の閾値よりも強度が大きい領域を特定し、前記特定された領域の少なくとも一部を前記照射位置とする、
ことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記変更手段は、過去に形成された画像について前記決定手段により決定された照射位置に信号光を照射させるように前記相対位置を変更する、
ことを特徴とする請求項2〜請求項6のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記画像形成手段により形成された画像を表示する表示手段と、
操作手段と、
を更に備え、
前記変更手段は、前記操作手段により前記表示された画像が指定されたときに、当該指定された画像が形成されたときに決定された照射位置に信号光を照射させるように前記相対位置を変更する、
ことを特徴とする請求項7に記載の光画像形成装置。 - 前記変更手段は、前記決定手段により決定された照射位置の情報を記憶する記憶手段を含み、前記記憶された情報に基づいて前記相対位置を変更する、
ことを特徴とする請求項7又は請求項8に記載の光画像計測装置。 - 前記決定手段により決定された照射位置と所定の基準位置との距離を求め、当該距離に基づく報知情報を出力する報知手段を更に備える、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記報知手段は、前記画像形成手段により形成された画像と前記求められた距離とを前記報知情報として表示する表示手段を含む、
ことを特徴とする請求項10に記載の光画像計測装置。 - 前記報知手段は、前記求められた距離が所定距離以上であるときに、当該所定距離以上であることを示す情報を前記報知情報として出力する、
ことを特徴とする請求項10に記載の光画像計測装置。 - 低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
コンピュータと、
を有する光画像計測装置を制御するプログラムであって、
前記コンピュータを、
前記検出手段による検出結果に基づいて、前記被検眼における前記干渉光の強度分布を求める演算手段として機能させ、
前記求められた強度分布に基づいて、前記被検眼に対する信号光の照射位置を決定する決定手段として機能させ、
前記決定された照射位置に向けて照射された新たな信号光と前記参照物体を経由した新たな参照光とに基づく新たな干渉光の検出結果に基づいて、前記被検眼の画像を形成する画像形成手段として機能させる、
ことを特徴とするプログラム。 - 低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成するステップと、
前記生成された干渉光を検出するステップと、
前記検出手段による検出結果に基づいて、前記被検眼における前記干渉光の強度分布を求めるステップと、
前記求められた強度分布に基づいて、前記被検眼に対する前記信号光の照射位置を決定するステップと、
新たな低コヒーレンス光に基づく新たな信号光を前記決定された照射位置に向けて照射するステップと、
前記被検眼を経由した新たな信号光と、前記新たな低コヒーレンス光に基づく新たな参照光とを重畳させて新たな干渉光を生成するステップと、
該生成された新たな干渉光を検出するステップと、
前記新たな干渉光の検出結果に基づいて、前記被検眼の画像を形成するステップと、
を含むことを特徴とする光画像計測方法。
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