JP2012220275A - 短絡検査装置および短絡検査方法 - Google Patents

短絡検査装置および短絡検査方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2012220275A
JP2012220275A JP2011084587A JP2011084587A JP2012220275A JP 2012220275 A JP2012220275 A JP 2012220275A JP 2011084587 A JP2011084587 A JP 2011084587A JP 2011084587 A JP2011084587 A JP 2011084587A JP 2012220275 A JP2012220275 A JP 2012220275A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
branch
wirings
pair
wiring
inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011084587A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5687943B2 (ja
Inventor
Akihiro Shioiri
章弘 塩入
Rintaro Murayama
林太郎 村山
Hisayuki Nakajima
寿行 中島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hioki EE Corp filed Critical Hioki EE Corp
Priority to JP2011084587A priority Critical patent/JP5687943B2/ja
Publication of JP2012220275A publication Critical patent/JP2012220275A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5687943B2 publication Critical patent/JP5687943B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

【課題】隣接する一対の枝配線間の短絡を確実に検査する。
【解決手段】一対の検査枝配線13,14の両側の枝配線12,15を補助枝配線として規定したときに、一方の検査枝配線14および補助枝配線12,15のうちのこの検査枝配線14側の補助枝配線15で構成される電流供給枝配線の組にランド24,25から検査電流Iを供給する電流供給部2と、他方の検査枝配線13および補助枝配線12,15のうちのこの検査枝配線13側の補助枝配線12で構成される電圧検出枝配線の組のランド22,23間に発生する電圧Vを測定する電圧測定部3と、この電圧Vと判定データDrefで示される判定範囲とを比較して一対の検査枝配線13,14間の短絡の有無を検査する処理部5とを備えている。
【選択図】図1

Description

本発明は、回路基板に形成された幹配線から枝状に延出する複数の枝配線間における短絡の有無を検査する短絡検査装置および短絡検査方法に関するものである。
この種の短絡検査装置として、特開2005−300240号公報に開示された短絡検査装置(回路配線検査装置)が知られている。この短絡検査装置は、幹配線とこの幹配線から枝状に延出する(引き出されている)複数の枝配線とを含み、枝配線の各々に2つの端点が設けられている回路配線を検査対象とする検査装置であり、隣接する一対の枝配線(第1枝配線および第2枝配線)のうちの第1枝配線側の2つの端点間と第2枝配線側の2つの端点間との間の短絡の有無を検査する。また、この検査装置は、この短絡検査を実行可能とするため、第1枝配線のうちの反幹配線側に位置する一方の端点と上記の一対の枝配線以外の第3枝配線との間に検査信号(電流)を供給する電流発生器と、第2枝配線側の2つの端点間に接続される電圧測定器と、電流発生器からの電流の供給状態および電圧測定器で測定された電圧に基づいて短絡の有無を判定する制御手段とを備えている。
上記の回路配線では、電流発生器から電流が供給され、かつ電圧測定器の読み値が0Vである場合には、第1枝配線の反幹配線側の端点→幹配線側の端点→幹配線→第3枝配線へと電流が流れるが、第2枝配線の幹配線側の端点および反幹配線側の端点間には電流が流れていない状態である。したがって、この状態のときには、この短絡検査装置では、制御手段は、上記した電流発生器からの電流の供給状態と電圧測定器の読み値とに基づいて、第1枝配線側の各端点間と第2枝配線側の各端点間との間に短絡なしと判定する。
一方、上記の回路配線では、電流発生器から電流が供給され、かつ電圧測定器の読み値が0Vでない場合には、第1枝配線と第2枝配線との間に短絡箇所があり、第1枝配線側から第2枝配線の各端点間に電流が流れている状態である。この短絡電流は、第1枝配線→第2枝配線→幹配線→第3枝配線へと流れる。したがって、この状態のときには、この短絡検査装置では、制御手段は、上記した電流発生器からの電流の供給状態と電圧測定器の読み値とに基づいて、第1枝配線側の各端点間と第2枝配線側の各端点間との間に短絡があると判定する。これにより、複数の枝配線のうちの隣接する一対の枝配線間における短絡の有無が検査される。
特開2005−300240号公報(第6−9頁、第2図)
ところが、上記の短絡検査装置には、以下の改善すべき課題が存在している。すなわち、この短絡検査装置では、第1および第2枝配線に対して、反幹配線側の端点および幹配線側の端点の2つの端点を規定して、検査対象とする一対の枝配線(第1および第2枝配線)のうちの第2枝配線側の2つの端点間に電圧測定器を接続する構成を採用している。このため、この短絡検査装置には、この一対の枝配線のうちの第1枝配線における幹配線側の端点と幹配線との間の部位、および一対の枝配線のうちの第2枝配線における幹配線側の端点と幹配線との間の部位の両部位間に短絡が存在しているときには、この短絡の有無を検査することが困難であるという改善すべき課題が存在している。
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、一対の枝配線間の短絡を確実に検査し得る短絡検査装置および短絡検査方法を提供することを主目的とする。
上記目的を達成すべく請求項1記載の短絡検査装置は、幹配線から枝状に延出する複数の枝配線が形成された回路基板に対して前記各枝配線のうちの隣接する任意の一対の枝配線をそれぞれ検査枝配線として当該検査枝配線間の短絡の有無を検査する短絡検査装置であって、前記一対の検査枝配線のうちの少なくとも一方の検査枝配線側に位置する前記枝配線を補助枝配線として規定したときに、前記一対の枝配線および前記補助枝配線のうちの任意の一対の枝配線の組を電流供給枝配線の組として、当該電流供給枝配線の組を構成する各枝配線の先端側にそれぞれ形成されたプロービング点から検査電流を供給する電流供給部と、前記一対の枝配線および前記補助枝配線のうちの任意の一対の枝配線の組であって、前記電流供給枝配線の組と少なくとも1つの枝配線が相違する一対の枝配線の組を電圧測定枝配線の組として、当該電圧測定枝配線の組を構成する各枝配線の先端側にそれぞれ規定されたプロービング点間に発生する配線間電圧を測定する電圧測定部と、前記一対の検査枝配線間に前記短絡の無い状態において前記検査電流の供給時に測定された前記配線間電圧に基づいて予め規定された当該配線間電圧に基づく電気的パラメータについての判定範囲を記憶する記憶部と、前記電流供給部から前記電流供給枝配線の組に前記検査電流が供給されている状態において前記電圧測定部によって測定された前記配線間電圧に基づく前記電気的パラメータと前記判定範囲とを比較することにより、当該一対の検査枝配線間の前記短絡の有無を検査する処理部とを備えている。
請求項2記載の短絡検査装置は、請求項1記載の短絡検査装置において、前記一対の検査枝配線の両側に位置する一対の前記枝配線を前記補助枝配線として規定したときに、前記電圧測定部は、前記一対の枝配線および前記補助枝配線のすべての枝配線のうちの前記電流供給枝配線の組を構成する前記一対の枝配線と異なる他の一対の枝配線の組を前記電圧測定枝配線の組として、前記配線間電圧を測定する。
請求項3記載の短絡検査装置は、請求項2記載の短絡検査装置において、前記電流供給枝配線の組は、前記一対の検査枝配線のうちの一方の検査枝配線および前記一対の補助枝配線のうちの当該一方の検査枝配線側の補助枝配線で構成され、前記電圧測定枝配線の組は、前記一対の検査枝配線のうちの他方の検査枝配線および前記一対の補助枝配線のうちの当該他方の検査枝配線側の補助枝配線で構成されている。
請求項4記載の短絡検査装置は、請求項1記載の短絡検査装置において、前記一対の検査枝配線のうちの一方の検査枝配線に隣接する1本の前記枝配線を補助枝配線として規定したときに、前記電圧測定部は、前記一対の枝配線および前記補助枝配線のすべての枝配線のうちの任意の一対の枝配線の組であって、前記電流供給枝配線の組と1つの枝配線が相違する一対の枝配線の組を電圧測定枝配線の組として、前記配線間電圧を測定する。
上記目的を達成すべく請求項5記載の短絡検査方法は、幹配線から枝状に延出する複数の枝配線が形成された回路基板に対して前記各枝配線のうちの隣接する任意の一対の枝配線をそれぞれ検査枝配線として当該検査枝配線間の短絡の有無を検査する短絡検査方法であって、前記一対の検査枝配線のうちの少なくとも一方の検査枝配線側に位置する前記枝配線を補助枝配線として規定したときに、前記一対の枝配線および前記補助枝配線のうちの任意の一対の枝配線の組を電流供給枝配線の組として、当該電流供給枝配線の組を構成する各枝配線の先端側にそれぞれ形成されたプロービング点から検査電流を供給し、前記一対の枝配線および前記補助枝配線のうちの任意の一対の枝配線の組であって、前記電流供給枝配線の組と少なくとも1つの枝配線が相違する一対の枝配線の組を電圧測定枝配線の組として、当該電圧測定枝配線の組を構成する各枝配線の先端側にそれぞれ規定されたプロービング点間に発生する配線間電圧を測定し、前記一対の検査枝配線間に前記短絡の無い状態において前記検査電流の供給時に測定された前記配線間電圧に基づいて予め規定された当該配線間電圧に基づく電気的パラメータについての判定範囲と前記測定した配線間電圧に基づく前記電気的パラメータとを比較して、当該一対の検査枝配線間の前記短絡の有無を検査する。
請求項1記載の短絡検査装置および請求項5記載の短絡検査方法では、複数の枝配線のうちの隣接する任意の一対の枝配線を検査枝配線として短絡検査する際に、各枝配線の先端部にそれぞれ形成されたプロービング点を使用して、電流供給部および電圧測定部を接続する。したがって、この短絡検査装置および短絡検査方法によれば、一対の検査枝配線としての一対の枝配線間の全域に亘り、すなわち、この一対の枝配線のうちの一方の枝配線における延出方向に沿った全域と、他方の枝配線における延出方向に沿った全域との間での短絡の発生の有無を確実に検査することができる。
また、請求項2記載の短絡検査装置では、一対の検査枝配線の両側に位置する一対の枝配線を補助枝配線として規定し、電流供給部が接続される電流供給枝配線の組を構成する一対の枝配線と異なる一対の枝配線の組を電圧測定部が接続される電圧測定枝配線の組とする。したがって、この短絡検査装置によれば、各プロービング点に電流供給部および電圧測定部のプローブを1つずつ接触させる構成とすることができるため、各枝配線が狭ピッチで形成されていて、各プロービング点間のピッチも狭い場合であっても、1つのランドに2つのプローブを接触させる構成とは異なり、プローブをランドに確実に接触させることができる結果、狭ピッチで形成された各枝配線に対する短絡検査を確実に実行することができる。
また、請求項3記載の短絡検査装置では、電流供給枝配線の組は、一対の検査枝配線のうちの一方の検査枝配線および一対の補助枝配線のうちのこの一方の検査枝配線側の補助枝配線で構成され、電圧測定枝配線の組は、一対の検査枝配線のうちの他方の検査枝配線および一対の補助枝配線のうちのこの他方の検査枝配線側の補助枝配線で構成されている。したがって、この短絡検査装置によれば、一対の検査枝配線が短絡していないときには、電圧測定部で検出する配線間電圧についての電圧経路を電流供給部から供給される検査電流についての電流経路と全く重ならないようにし(電圧経路と電流経路との間に共通経路が存在しない構成とし)、一対の検査枝配線が短絡したときに、電圧経路が電流経路と重なる構成(電圧経路と電流経路との間に共通経路が存在する構成)にすることができる。したがって、この短絡検査装置によれば、電圧測定部が測定する配線間電圧を、一対の検査枝配線が短絡していないときにゼロボルトにし、一対の検査枝配線が短絡しているときにゼロボルトでない電圧にすることができるため、判定範囲の設定作業を容易に行うことができる。
また、請求項4記載の短絡検査装置によれば、幹配線から枝状に延出する複数の枝配線のうちの両端に位置する枝配線についても、検査枝配線として、隣接する枝配線との間の短絡の有無を検査することができる。
短絡検査装置1の構成を示す構成図である。 枝配線12,13を検査枝配線としたときの各枝配線11〜14への電流供給部2および電圧測定部3の接続状態を示す接続図である。 枝配線14,15を検査枝配線としたときの各枝配線13〜16への電流供給部2および電圧測定部3の接続状態を示す接続図である。 枝配線12,13を検査枝配線としたときの各枝配線11〜14への電流供給部2および電圧測定部3の他の接続状態を示す接続図である。 枝配線12,13を検査枝配線としたときの各枝配線11〜14への電流供給部2および電圧測定部3の他の接続状態を示す接続図である。 短絡検査装置1Aの構成を示す構成図である。 枝配線12,13を検査枝配線としたときの各枝配線12〜14への電流供給部2および電圧測定部3の他の接続状態を示す接続図である。
以下、短絡検査装置および短絡検査方法の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
最初に、短絡検査装置1の構成について、図面を参照して説明する。
短絡検査装置1は、図1に示すように、電流供給部2、電圧測定部3、記憶部4、処理部5および表示部6を備え、幹配線Mの一方の側(同図では右側)へ並んで枝状に延出する複数(本例では一例として6つ)の枝配線11,12,13,14,15,16が形成された回路基板(不図示)に対して、両端の枝配線11,16を除く各枝配線12〜15のうちの隣接する任意の一対の枝配線をそれぞれ検査枝配線とし、かつ検査枝配線とした一対の枝配線の両側に位置する一対の枝配線を補助枝配線として、各検査枝配線間の短絡の有無を検査する。また、短絡検査装置1は、上記の一対の枝配線の検査に際して、各枝配線11,12,13,14,15,16の先端部にそれぞれ形成されたランド21,22,23,24,25,26をプロービング点として使用する。
電流供給部2は、一例として、電流源2aおよび一対のプローブ(電流供給プローブ)2b,2cを備え、処理部5によって制御されて、各プローブ2b,2c間に検査電流(直流電流または交流電流。本例では一例として直流電流)Iを出力する。また、電流供給部2は、検査電流Iを各プローブ2b,2c間に出力しているときには、検査電流Iの電流値を示す電流データDiを処理部5へ出力する。
電圧測定部3は、一例として、電圧計3aおよび一対のプローブ(電圧検出プローブ)3b,3cを備え、各プローブ3b,3c間の電圧Vを測定する。また、電圧測定部3は、測定した電圧Vの電圧値を示す電圧データDvを処理部5へ出力する。記憶部4は、例えば、ROMやRAMなどの半導体メモリや、ハードディスク装置で構成されて、処理部5を構成する後述のCPUのための動作プログラムや、処理部5による後述の短絡検査処理において使用される判定範囲を示す判定データDrefが予め記憶されている。
処理部5は、一例として、CPUを用いて構成されて、電流供給部2に対する動作制御、短絡検査処理、およびこの短絡検査処理の結果についての表示処理を実行する。表示部6は、一例としてLCDなどの表示装置で構成されて、短絡検査処理の結果を画面に表示する。
次に、短絡検査装置1を用いた各枝配線12〜15に対する短絡検査方法について、短絡検査装置1の動作も併せて、図面を参照して説明する。
なお、検査枝配線となる各枝配線12〜15のうちの隣接する一対の枝配線としては、枝配線12,13、枝配線13,14、および枝配線14,15の3組が存在するが、各組に対して補助枝配線となる一対の枝配線については,以下のようにして予め規定されている。
一対の枝配線12,13が検査枝配線のときには、枝配線12,13の一方の側に位置する枝配線11と、枝配線12,13の他方の側に位置する枝配線14〜16のうちの任意の1つの枝配線(例えば、枝配線14)とが、枝配線12,13の両側に位置する補助枝配線としての一対の枝配線として規定されている。また、一対の枝配線13,14が検査枝配線のときには、枝配線13,14の一方の側に位置する枝配線11,12のうちの任意の1つの枝配線(例えば、枝配線12)と、枝配線12,13の他方の側に位置する枝配線15,16のうちの任意の1つの枝配線(例えば、枝配線15)とが、枝配線13,14の両側に位置する補助枝配線としての一対の枝配線として規定されている。また、一対の枝配線14,15が検査枝配線のときには、枝配線14,15の一方の側に位置する枝配線11〜13のうちの任意の1つの枝配線(例えば、枝配線13)と、枝配線14,15の他方の側に位置する枝配線16とが、枝配線14,15の両側に位置する補助枝配線としての一対の枝配線として規定されている。
次いで、一対の検査枝配線およびこの一対の検査枝配線に対して規定された一対の補助枝配線のすべての枝配線(4つの枝配線)のうちの任意の一対の枝配線の組を電流供給枝配線の組として電流供給部2を接続すると共に、一対の検査枝配線および一対の補助枝配線のすべての枝配線のうちの電流供給枝配線の組のいずれとも相違する一対の枝配線の組(残りの2つの枝配線の組)を電圧測定枝配線の組として電圧測定部3を接続する。
具体的には、一対の枝配線12,13が検査枝配線であり、一対の枝配線11,14を補助枝配線としたときには、一例として、図2に示すように、これらの4つの枝配線11〜14のうちの一対の枝配線13,14の組を電流供給枝配線の組として、この一対の枝配線13,14の各ランド23,24に電流供給部2のプローブ2b,2cを接続する。また、枝配線11〜14のうちの電流供給枝配線の組のいずれとも相違する一対の枝配線11,12の組(残りの2つの枝配線11,12の組)を電圧測定枝配線の組として、この一対の枝配線11,12の各ランド21,22に電圧測定部3のプローブ3b,3cを接続する。この場合、電流供給枝配線の組を構成する各枝配線と電圧測定枝配線の組を構成する各枝配線とを入れ替えて、電流供給部2および電圧測定部3を接続することもできる。
また、一対の枝配線13,14が検査枝配線であり、一対の枝配線12,15を補助枝配線としたときには、一例として、図1に示すように、これらの4つの枝配線12〜15のうちの一対の枝配線14,15の組を電流供給枝配線の組として、各ランド24,25に電流供給部2のプローブ2b,2cを接続する。また、残りの一対の枝配線12,13の組を電圧測定枝配線の組として、各ランド22,23に電圧測定部3のプローブ3b,3cを接続する。この場合、電流供給枝配線の組を構成する各枝配線と電圧測定枝配線の組を構成する各枝配線とを入れ替えて、電流供給部2および電圧測定部3を接続することもできる。
また、一対の枝配線14,15が検査枝配線であり、一対の枝配線13,16を補助枝配線としたときには、一例として、図3に示すように、これらの4つの枝配線13〜16のうちの一対の枝配線15,16の組を電流供給枝配線の組として、各ランド25,26に電流供給部2のプローブ2b,2cを接続する。また、残りの一対の枝配線13,14の組を電圧測定枝配線の組として、各ランド23,24に電圧測定部3のプローブ3b,3cを接続する。この場合、電流供給枝配線の組を構成する各枝配線と電圧測定枝配線の組を構成する各枝配線とを入れ替えて、電流供給部2および電圧測定部3を接続することもできる。
このようにして規定した1つの電流供給枝配線の組への電流供給部2の接続、およびこの電流供給枝配線の組に対応する1つの電圧測定枝配線の組への電圧測定部3の接続が完了した後、短絡検査装置1では、処理部5が、電流供給部2に対して、電流供給枝配線の組とした一対の枝配線間への検査電流Iの供給を開始させると共に、電流供給部2から検査電流Iの電流値を示す電流データDiを入力する。
処理部5は、入力した電流データDiで示される検査電流Iの電流値がゼロでないときには、電流供給部2から検査電流Iが電流供給枝配線の組に対して正常に供給されていると判別して、短絡検査処理を実行する。この短絡検査処理では、処理部5は、電圧測定部3から電圧データDvを入力すると共に、現在の電圧測定枝配線の組および電流供給枝配線の組に対応する判定データDrefを記憶部4から読み出して、電圧データDvで示される電圧V(電圧測定枝配線の組とした一対の枝配線間に発生している配線間電圧)の電圧値を判定データDrefで示される判定範囲と比較する。
一例として、図1に示すように、一対の枝配線13,14を検査枝配線とし、一対の枝配線12,15を補助枝配線として規定し、さらに、一対の枝配線14,15の組を電流供給枝配線の組とし、残りの一対の枝配線12,13の組を電圧測定枝配線の組とした例について説明する。この例において、検査枝配線としての各枝配線13,14間が短絡していないとき(短絡パターンSCが存在していないとき)には、電流供給部2から電流供給枝配線の組(枝配線14,15の組)に供給された検査電流Iは、同図中において実線で示した電流経路(ランド24から枝配線14、幹配線Mおよび枝配線15を介してランド25に至る経路)に流れるが、この電流経路と電圧測定部3が接続されている電圧経路(ランド22から枝配線12、幹配線Mおよび枝配線13を介してランド23に至る経路)との間には共通経路が存在しないため、この電圧経路には検査電流Iは流れない。これにより、電圧測定部3によって測定される電圧Vの電圧値はゼロボルトとなり、この電圧値を示す電圧データDvが処理部5に入力される。
一方、検査枝配線としての各枝配線13,14間が短絡しているとき(短絡パターンSCが存在しているとき)には、上記した電流経路(図1中において実線で示した電流経路)の他に、同図中において破線で示した新たな他の電流経路(ランド24から枝配線14、短絡パターンSC、枝配線13の一部、幹配線Mおよび枝配線15を介してランド25に至る経路)が形成される。この他の電流経路と上記した電圧経路との間には、枝配線13の一部が共通経路として存在している。このため、この共通経路(枝配線13の一部)において、検査電流Iの一部が流れることに起因して電圧降下が発生し、電圧測定部3によって測定される電圧Vの電圧値はゼロボルトではない電圧値となり、この電圧値を示す電圧データDvが処理部5に入力される。
したがって、検査枝配線としての各枝配線13,14間が短絡していないとき(各枝配線13,14間が正常な状態のとき)の電圧データDvで示される電圧値(本例ではゼロボルト)、および検査枝配線としての各枝配線13,14間が短絡しているとき(各枝配線13,14間が不良な状態のとき)の電圧データDvで示される電圧値(ゼロボルトではない電圧値)に基づく電気的パラメータ(本例では、この電圧値自体がこの電気的パラメータ)に基づいて、各枝配線13,14間が短絡していないときの電圧データDvで示される電圧値は含まれ、各枝配線13,14間が短絡しているときの電圧データDvで示される電圧値は含まれないような判定範囲を一例として決定して判定データDrefとして記憶部4に記憶しておく。これにより、処理部5は、記憶部4から読み出した判定データDrefで示される判定範囲と電圧Vの電圧値とを比較して、電圧Vの電圧値が判定範囲に含まれているときには、各枝配線13,14間が短絡していない(短絡パターンが存在していない)と判別し、電圧Vの電圧値が判定範囲に含まれていないときには、各枝配線13,14間が短絡している(短絡パターンSCが存在している)と判別する。これにより、短絡検査処理が完了する。
なお、各枝配線13,14間が短絡していないときの電圧データDvで示される電圧値は含まれず、各枝配線13,14間が短絡しているときの電圧データDvで示される電圧値は含まれるような判定範囲を決定して判定データDrefとすることもできる。この場合、処理部5は、記憶部4から読み出した判定データDrefで示される判定範囲と電圧Vの電圧値とを比較して、電圧Vの電圧値が判定範囲に含まれていないときには、各枝配線13,14間が短絡していない(短絡パターンが存在していない)と判別し、電圧Vの電圧値が判定範囲に含まれているときには、各枝配線13,14間が短絡している(短絡パターンSCが存在している)と判別する。
最後に、処理部5は、表示処理を実行して、短絡検査処理の結果を表示部6に表示させる。これにより、検査枝配線としての各枝配線13,14に対する短絡検査が完了する。短絡検査装置1では、他の一対の枝配線を検査枝配線として、図2,3に示すように、電流供給部2が対応する電流供給枝配線の組に接続され、かつ電圧測定部3が対応する電圧測定枝配線の組に接続される都度、処理部5が上記のように作動して、短絡検査処理を実行すると共に、短絡検査処理の結果を表示部6に表示させる。したがって、この短絡検査装置1では、表示部6に表示される内容を確認することにより、検査枝配線とした一対の枝配線間(枝配線12,13間、枝配線13,14間および枝配線14,15間)の全域に亘り、短絡が発生しているか否かを検査することが可能となっている。
このように、この短絡検査装置1および短絡検査方法では、複数の枝配線12〜15のうちの隣接する任意の一対の枝配線を検査枝配線として短絡検査する際に、各枝配線11〜16の先端部にそれぞれ形成されたランド21〜26をプロービング点として使用して、電流供給部2および電圧測定部3を接続する。したがって、この短絡検査装置1および短絡検査方法によれば、一対の検査枝配線としての一対の枝配線間の全域に亘り、すなわち、この一対の枝配線のうちの一方の枝配線における延出方向に沿った全域と、他方の枝配線における延出方向に沿った全域との間での短絡の発生の有無を確実に検査することができる。
また、この短絡検査装置1では、一対の検査枝配線の両側に位置する一対の枝配線を補助枝配線として規定し(図1で示すように、一対の検査枝配線13,14に対しては、それらの両側に位置する一対の枝配線(この例では枝配線12,15)を補助枝配線として規定し)、電流供給部2が接続される電流供給枝配線の組を構成する枝配線14,15と異なる一対の枝配線12,13の組を電圧測定部3が接続される電圧測定枝配線の組とする。したがって、この短絡検査装置1によれば、各ランド22〜25にプローブを1つずつ接触させる構成とすることができるため、各枝配線11〜16が狭ピッチで形成されていて、各ランド21〜26間のピッチも狭い場合であっても、1つのランドに2つのプローブを接触させる構成とは異なり、プローブをランドに確実に接触させることができる結果、狭ピッチで形成された各枝配線12〜15に対する短絡検査を確実に実行することができる。
また、この短絡検査装置1では、電流供給枝配線の組は、一対の検査枝配線13,14のうちの一方の検査枝配線14および一対の補助枝配線12,15のうちのこの一方の検査枝配線14側の補助枝配線15で構成され、電圧測定枝配線の組は、一対の検査枝配線13,14のうちの他方の検査枝配線13および一対の補助枝配線12,15のうちのこの他方の検査枝配線13側の補助枝配線12で構成されている。したがって、この短絡検査装置1によれば、一対の検査枝配線13,14が短絡していないときには、電圧測定部3で検出する電圧Vについての電圧経路を電流供給部2から供給される検査電流Iについての電流経路と全く重ならないようにし(電圧経路と電流経路との間に共通経路が存在しない構成とし)、一対の検査枝配線13,14が短絡したときに、電圧経路が電流経路と重なる構成(電圧経路と電流経路との間に共通経路が存在する構成)にすることができる。このため、この短絡検査装置1によれば、電圧測定部3が測定する電圧Vを、一対の検査枝配線13,14が短絡していないときにゼロボルトにし、一対の検査枝配線13,14が短絡しているときにゼロボルトでない電圧にすることができるため、判定範囲の設定作業を容易に行うことができる。
なお、上記の構成に限定されない。例えば、一対の検査枝配線の両側に位置する一対の枝配線を補助枝配線として規定する構成において、図4に示すように、一対の検査枝配線12,13を電流供給枝配線の組または電圧測定枝配線の組(同図では一例として電流供給枝配線の組)とし、一対の検査枝配線12,13の両側に位置する一対の補助枝配線11,14を電流供給枝配線の組および電圧測定枝配線の組のうちの残りの組(同図では一例として電圧測定枝配線の組)とする構成を採用することもできる。また、図5に示すように、各枝配線11,12,13,14のランド21,22,23,24に対する電流供給部2の各プローブ2b,2cおよび電圧測定部3の各プローブ3b,3cの接続位置が交互に位置するように(この例では、ランド21側からプローブ3b、プローブ2b、プローブ3c、プローブ2cの順に接続されるように)、電流供給枝配線の組および電圧測定枝配線の組を規定する構成を採用することもできる。
図4,5に示す上記の構成では、一対の検査枝配線12,13が短絡しているか否かに拘わらず、電圧測定部3についての電圧経路と電流供給部2についての電流経路とが常に一部において重なる状態(共通経路が存在する状態)となっている。しかしながら、図4,5に示すいずれの構成においても、電圧測定部3において測定される電圧Vが、一対の検査枝配線12,13が短絡しているときと、短絡していないときとで相違する。このため、この短絡の有無での電圧Vの相違を区別し得るように予め判定範囲を規定しておくことで、図4,5に示すいずれの構成においても、各枝配線11〜14の先端部にそれぞれ形成されたランド21〜24をプロービング点として使用して、隣接する一対の枝配線間(各同図では、一例として一対の検査枝配線12,13間)の短絡の有無を検査することができ、上記した短絡検査装置1と同様の効果を奏することができる。
また、一対の検査枝配線の両側に位置する一対の枝配線を補助枝配線として規定する例について上記したが、一対の検査枝配線のうちの一方の検査枝配線側に隣接する1つの枝配線を補助枝配線として規定する構成を採用することもできる。以下、この構成を採用した短絡検査装置1Aについて、図6を参照して説明する。
まず、短絡検査装置1Aの構成について説明する。なお、短絡検査装置1Aと短絡検査装置1とは、上記したように一対の検査枝配線に対する補助枝配線の規定の仕方が主として相違するだけで、装置の構成については同一である。このため、短絡検査装置1と同一の構成については同一の符号を付して重複する説明を省略する。
短絡検査装置1Aは、電流供給部2、電圧測定部3、記憶部4、処理部5および表示部6を備え、幹配線Mの一方の側(同図では右側)へ枝状に延出する複数(本例では一例として5つを図示している)の枝配線11,12,13,14,15が形成された回路基板(不図示)に対して、すべての枝配線11〜15のうちの隣接する任意の一対の枝配線をそれぞれ検査枝配線とし、かつ検査枝配線とした一対の枝配線のうちの一方の検査枝配線側に隣接する1つの枝配線を補助枝配線として、各検査枝配線間の短絡の有無を検査する。また、短絡検査装置1Aは、短絡検査装置1と同様にして、各枝配線11,12,13,14,15の先端部にそれぞれ形成されたランド21,22,23,24,25をプロービング点として使用する。
次に、短絡検査装置1Aを用いた複数の枝配線(各枝配線11〜15)に対する短絡検査方法について、短絡検査装置1Aの動作と併せて説明する。
なお、検査枝配線となる各枝配線11〜15のうちの隣接する一対の枝配線としては、枝配線11,12、枝配線12,13、枝配線13,14、および枝配線14,15の4組が存在するが、各組に対して補助枝配線となる1つの枝配線については,以下のように予め規定されている。
一対の枝配線11,12が検査枝配線のときには、枝配線11,12のうちの一方の枝配線12側に隣接する枝配線13を補助枝配線として規定されている。また、一対の枝配線12,13が検査枝配線のときには、枝配線12,13のうちの一方の枝配線13側に隣接する枝配線14および他方の枝配線12側に隣接する枝配線11のいずれか(例えば、枝配線14)が、補助枝配線として規定されている。また、一対の枝配線13,14が検査枝配線のときには、枝配線13,14のうちの一方の枝配線14側に隣接する枝配線15および他方の枝配線13側に隣接する枝配線12のいずれか(例えば、枝配線15)が、補助枝配線として規定されている。また、一対の枝配線14,15が検査枝配線のときには、枝配線14,15のうちの一方の枝配線14側に隣接する枝配線13が、補助枝配線として規定されている。
次いで、一対の検査枝配線およびこれに対して規定された1つの補助枝配線のすべての枝配線(3つの枝配線)のうちの任意の一対の枝配線の組を電流供給枝配線の組として電流供給部2を接続すると共に、電流供給枝配線の組と1つの枝配線が相違する一対の枝配線の組を電圧測定枝配線の組として電圧測定部3を接続する。
例えば、一対の枝配線11,12が検査枝配線であり、枝配線13を補助枝配線としたときには、図示はしないが、一例として、これらの3つの枝配線11〜13のうちの任意の一対の枝配線(例えば、枝配線12,13)の組を電流供給枝配線の組として、この一対の枝配線12,13の各ランド22,23に電流供給部2のプローブ2b,2cを接続する。また、枝配線11〜13のうちの電流供給枝配線の組と1つの枝配線が相違する一対の枝配線(例えば、枝配線11,13)の組を電圧測定枝配線の組として、この一対の枝配線11,13の各ランド21,23に電圧測定部3のプローブ3b,3cを接続する。
また、一対の枝配線12,13が検査枝配線であり、1つの枝配線14を補助枝配線としたときには、図6に示すように、一例として、これらの3つの枝配線12〜14のうちの一対の枝配線13,14の組を電流供給枝配線の組として、この一対の枝配線13,14の各ランド23,24に電流供給部2のプローブ2b,2cを接続する。また、枝配線12〜14のうちの電流供給枝配線の組と1つの枝配線が相違する一対の枝配線(例えば、枝配線12,14)の組を電圧測定枝配線の組として、この一対の枝配線12,14の各ランド22,24に電圧測定部3のプローブ3b,3cを接続する。
また、一対の枝配線13,14が検査枝配線であり、1つの枝配線15を補助枝配線としたときには、図示はしないが、一例として、これらの3つの枝配線13〜15のうちの一対の枝配線13,14の組を電流供給枝配線の組として、この一対の枝配線13,14の各ランド23,24に電流供給部2のプローブ2b,2cを接続する。また、枝配線13〜15のうちの電流供給枝配線の組と1つの枝配線が相違する一対の枝配線(例えば、枝配線13,15)の組を電圧測定枝配線の組として、この一対の枝配線13,15の各ランド23,25に電圧測定部3のプローブ3b,3cを接続する。
また、一対の枝配線14,15が検査枝配線であり、1つの枝配線13を補助枝配線としたときには、図示はしないが、一例として、これらの3つの枝配線13〜15のうちの一対の枝配線14,15の組を電流供給枝配線の組として、この一対の枝配線14,15の各ランド24,25に電流供給部2のプローブ2b,2cを接続する。また、枝配線13〜15のうちの電流供給枝配線の組と1つの枝配線が相違する一対の枝配線(例えば、枝配線13,15)の組を電圧測定枝配線の組として、この一対の枝配線13,15の各ランド23,25に電圧測定部3のプローブ3b,3cを接続する。
このようにして規定した1つの電流供給枝配線の組への電流供給部2の接続、およびこの電流供給枝配線の組に対応する1つの電圧測定枝配線の組への電圧測定部3の接続が完了した後、短絡検査装置1では、処理部5が、電流供給部2に対して、電流供給枝配線の組とした一対の枝配線間への検査電流Iの供給を開始させると共に、電流供給部2から検査電流Iの電流値を示す電流データDiを入力する。
処理部5は、入力した電流データDiで示される検査電流Iの電流値がゼロでないときには、電流供給部2から検査電流Iが電流供給枝配線の組に対して正常に供給されていると判別して、短絡検査処理を実行する。この短絡検査処理では、処理部5は、電圧測定部3から電圧データDvを入力すると共に、現在の電圧測定枝配線の組および電流供給枝配線の組に対応する判定データDrefを記憶部4から読み出して、電圧データDvで示される電圧V(電圧測定枝配線の組とした一対の枝配線間に発生している電圧)の電圧値を判定データDrefで示される判定範囲と比較する。
一例として、図6に示すように、一対の枝配線12,13を検査枝配線とし、1つの枝配線14を補助枝配線として規定し、さらに、一対の枝配線13,14の組を電流供給枝配線の組とし、一対の枝配線12,14の組を電圧測定枝配線の組とした例について説明する。この例において、検査枝配線としての各枝配線12,13間が短絡していないとき(短絡パターンが存在していないとき)には、電流供給部2から電流供給枝配線の組(枝配線13,14の組)に供給された検査電流Iは、同図中において実線で示した電流経路(ランド23から枝配線13、幹配線Mおよび枝配線14を介してランド24に至る経路)に流れる。この例では、この電流経路は、電圧測定部3が接続されている電圧経路(ランド22から枝配線12、幹配線Mおよび枝配線14を介してランド24に至る経路)と、幹配線Mの一部および枝配線14において重複している(幹配線Mの一部および枝配線14を共通経路として共有している)。このため、電圧測定部3は、電流経路および電圧経路の共通経路に検査電流Iが流れることに起因して発生する電圧降下を電圧Vとして測定し、この電圧Vの電圧値を示す電圧データDvを処理部5に出力する。
一方、検査枝配線としての各枝配線12,13間が短絡しているとき(短絡パターンSCが存在しているとき)には、上記の電流経路(図6中において実線で示された経路)の他に、同図中において破線で示した新たな他の電流経路(ランド23から枝配線13、短絡パターンSC、枝配線12の一部、幹配線Mおよび枝配線14を介してランド24に至る経路)が形成される。このため、電流経路と電圧経路との共通経路が変化し、この変化後の共通経路に検査電流Iが流れることで発生する電圧降下も変化し、電圧測定部3から処理部5に出力される電圧データDvで示される電圧Vの電圧値も変化する。
したがって、検査枝配線としての各枝配線12,13間が短絡していないとき(各枝配線12,13間が正常な状態のとき)の電圧データDvで示される電圧値、およびこの枝配線12,13間が短絡しているとき(各枝配線12,13間が不良な状態のとき)の電圧データDvで示される電圧値に基づいて、各枝配線12,13間が短絡していないときの電圧データDvで示される電圧値は含まれ、各枝配線12,13間が短絡しているときの電圧データDvで示される電圧値は含まれないような判定範囲を決定して判定データDrefとして記憶部4に記憶しておく。これにより、処理部5は、記憶部4から読み出した判定データDrefで示される判定範囲と電圧Vの電圧値とを比較して、電圧Vの電圧値が判定範囲に含まれているときには、各枝配線12,13間が短絡していない(短絡パターンが存在していない)と判別し、電圧Vの電圧値が判定範囲に含まれていないときには、各枝配線12,13間が短絡している(短絡パターンSCが存在している)と判別する。これにより、短絡検査処理が完了する。
なお、各枝配線12,13間が短絡していないときの電圧データDvで示される電圧値は含まれず、各枝配線12,13間が短絡しているときの電圧データDvで示される電圧値が含まれるような判定範囲を決定して判定データDrefとすることもできる。この場合、処理部5は、記憶部4から読み出した判定データDrefで示される判定範囲と電圧Vの電圧値とを比較して、電圧Vの電圧値が判定範囲に含まれていないときには、各枝配線12,13間が短絡していない(短絡パターンが存在していない)と判別し、電圧Vの電圧値が判定範囲に含まれているときには、各枝配線12,13間が短絡している(短絡パターンSCが存在している)と判別する。
最後に、処理部5は、表示処理を実行して、短絡検査処理の結果を表示部6に表示させる。これにより、検査枝配線としての各枝配線12,13に対する短絡検査が完了する。短絡検査装置1Aでは、他の一対の枝配線を検査枝配線として、電流供給部2が対応する電流供給枝配線の組に接続され、かつ電圧測定部3が対応する電圧測定枝配線の組に接続される都度、処理部5が上記のように作動して、短絡検査処理を実行すると共に、短絡検査処理の結果を表示部6に表示させる。したがって、この短絡検査装置1Aでも、短絡検査装置1と同様にして、表示部6に表示される内容を確認することにより、検査枝配線としての一対の枝配線間に短絡が発生しているか否かを検査することが可能となっている。
このように、この短絡検査装置1Aにおいても、複数の枝配線11〜15のうちの隣接する任意の一対の枝配線を検査枝配線として短絡検査する際に、各枝配線11〜15の先端部にそれぞれ形成されたランド21〜25をプロービング点として使用して、電流供給部2および電圧測定部3を接続する。したがって、この短絡検査装置1Aによれば、短絡検査装置1と同様にして、検査枝配線としての一対の枝配線のうちの一方の枝配線における延出方向に沿ったいずれの位置と、他方の枝配線における延出方向に沿ったいずれの位置との間で短絡が発生していたとしても(短絡パターンSCが存在していたとしても)、その短絡の発生を確実に検査することができる。さらに、この短絡検査装置1Aによれば、複数の枝配線11〜15のうちの両側に位置する枝配線11,15についても、検査枝配線として、隣接する枝配線との間の短絡の有無を検査することができる。
なお、上記の一対の検査枝配線12,13のうちの一方の検査枝配線13に隣接する1本の枝配線を補助枝配線として規定する構成において、例えば、図7に示すように、一対の検査枝配線12,13および補助枝配線14のすべての枝配線のうちの真中に位置する枝配線(枝配線13)を電流供給枝配線の組(枝配線13,14)および電圧測定枝配線の組(枝配線12,13)についての共通の枝配線として、電流供給部2および電圧測定部3の各プローブ2b,2c,3b,3cを各枝配線(枝配線12,13,14)のランド(ランド22,23,24)に接続する構成を採用することもできる。
この構成においても、各枝配線11〜15の先端部にそれぞれ形成されたランド21〜25をプロービング点として使用するため、検査枝配線としての一対の枝配線のうちの一方の枝配線における延出方向に沿ったいずれの位置と、他方の枝配線における延出方向に沿ったいずれの位置との間で短絡が発生していたとしても、その短絡の発生を確実に検査することができる。また、複数の枝配線のうちの両側に位置する枝配線11,15についても、検査枝配線として、隣接する枝配線との間の短絡の有無を検査することができる。
また、上記した短絡検査装置1,1Aでは、電圧測定部3によって測定された電圧Vに基づく電気的パラメータとして、この電圧V自体を使用する構成(電圧Vとそれに対応させて予め規定された判定範囲(電圧値の範囲)とを比較して短絡の有無を検査する構成)を採用しているが、電圧Vに基づく電気的パラメータとして、電圧Vと検査電流Iとに基づいて算出される抵抗値(電圧測定枝配線の組を構成する一対の枝配線間の抵抗値)を使用する構成を採用することもできる。
1 短絡検査装置
2 電流供給部
3 電圧測定部
5 処理部
11〜16 枝配線
13,14 検査枝配線
12,15 補助枝配線
21〜26 ランド(プロービング点)
I 検査電流
M 幹配線

Claims (5)

  1. 幹配線から枝状に延出する複数の枝配線が形成された回路基板に対して前記各枝配線のうちの隣接する任意の一対の枝配線をそれぞれ検査枝配線として当該検査枝配線間の短絡の有無を検査する短絡検査装置であって、
    前記一対の検査枝配線のうちの少なくとも一方の検査枝配線側に位置する前記枝配線を補助枝配線として規定したときに、
    前記一対の枝配線および前記補助枝配線のうちの任意の一対の枝配線の組を電流供給枝配線の組として、当該電流供給枝配線の組を構成する各枝配線の先端側にそれぞれ形成されたプロービング点から検査電流を供給する電流供給部と、
    前記一対の枝配線および前記補助枝配線のうちの任意の一対の枝配線の組であって、前記電流供給枝配線の組と少なくとも1つの枝配線が相違する一対の枝配線の組を電圧測定枝配線の組として、当該電圧測定枝配線の組を構成する各枝配線の先端側にそれぞれ規定されたプロービング点間に発生する配線間電圧を測定する電圧測定部と、
    前記一対の検査枝配線間に前記短絡の無い状態において前記検査電流の供給時に測定された前記配線間電圧に基づいて予め規定された当該配線間電圧に基づく電気的パラメータについての判定範囲を記憶する記憶部と、
    前記電流供給部から前記電流供給枝配線の組に前記検査電流が供給されている状態において前記電圧測定部によって測定された前記配線間電圧に基づく前記電気的パラメータと前記判定範囲とを比較することにより、当該一対の検査枝配線間の前記短絡の有無を検査する処理部とを備えている短絡検査装置。
  2. 前記一対の検査枝配線の両側に位置する一対の前記枝配線を前記補助枝配線として規定したときに、
    前記電圧測定部は、前記一対の枝配線および前記補助枝配線のすべての枝配線のうちの前記電流供給枝配線の組を構成する前記一対の枝配線と異なる他の一対の枝配線の組を前記電圧測定枝配線の組として、前記配線間電圧を測定する請求項1記載の短絡検査装置。
  3. 前記電流供給枝配線の組は、前記一対の検査枝配線のうちの一方の検査枝配線および前記一対の補助枝配線のうちの当該一方の検査枝配線側の補助枝配線で構成され、
    前記電圧測定枝配線の組は、前記一対の検査枝配線のうちの他方の検査枝配線および前記一対の補助枝配線のうちの当該他方の検査枝配線側の補助枝配線で構成されている請求項2記載の短絡検査装置。
  4. 前記一対の検査枝配線のうちの一方の検査枝配線に隣接する1本の前記枝配線を補助枝配線として規定したときに、
    前記電圧測定部は、前記一対の枝配線および前記補助枝配線のすべての枝配線のうちの任意の一対の枝配線の組であって、前記電流供給枝配線の組と1つの枝配線が相違する一対の枝配線の組を電圧測定枝配線の組として、前記配線間電圧を測定する請求項1記載の短絡検査装置。
  5. 幹配線から枝状に延出する複数の枝配線が形成された回路基板に対して前記各枝配線のうちの隣接する任意の一対の枝配線をそれぞれ検査枝配線として当該検査枝配線間の短絡の有無を検査する短絡検査方法であって、
    前記一対の検査枝配線のうちの少なくとも一方の検査枝配線側に位置する前記枝配線を補助枝配線として規定したときに、
    前記一対の枝配線および前記補助枝配線のうちの任意の一対の枝配線の組を電流供給枝配線の組として、当該電流供給枝配線の組を構成する各枝配線の先端側にそれぞれ形成されたプロービング点から検査電流を供給し、
    前記一対の枝配線および前記補助枝配線のうちの任意の一対の枝配線の組であって、前記電流供給枝配線の組と少なくとも1つの枝配線が相違する一対の枝配線の組を電圧測定枝配線の組として、当該電圧測定枝配線の組を構成する各枝配線の先端側にそれぞれ規定されたプロービング点間に発生する配線間電圧を測定し、
    前記一対の検査枝配線間に前記短絡の無い状態において前記検査電流の供給時に測定された前記配線間電圧に基づいて予め規定された当該配線間電圧に基づく電気的パラメータについての判定範囲と前記測定した配線間電圧に基づく前記電気的パラメータとを比較して、当該一対の検査枝配線間の前記短絡の有無を検査する短絡検査方法。
JP2011084587A 2011-04-06 2011-04-06 短絡検査装置および短絡検査方法 Active JP5687943B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011084587A JP5687943B2 (ja) 2011-04-06 2011-04-06 短絡検査装置および短絡検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011084587A JP5687943B2 (ja) 2011-04-06 2011-04-06 短絡検査装置および短絡検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012220275A true JP2012220275A (ja) 2012-11-12
JP5687943B2 JP5687943B2 (ja) 2015-03-25

Family

ID=47271953

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011084587A Active JP5687943B2 (ja) 2011-04-06 2011-04-06 短絡検査装置および短絡検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5687943B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020128881A (ja) * 2019-02-07 2020-08-27 日本電産リード株式会社 短絡検査システム、及び短絡検査方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000275295A (ja) * 1999-01-21 2000-10-06 Sharp Corp 電極パターン検査装置および電極パターン検査方法
JP2006234401A (ja) * 2005-02-22 2006-09-07 Hioki Ee Corp 回路配線検査方法および回路配線検査装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000275295A (ja) * 1999-01-21 2000-10-06 Sharp Corp 電極パターン検査装置および電極パターン検査方法
JP2006234401A (ja) * 2005-02-22 2006-09-07 Hioki Ee Corp 回路配線検査方法および回路配線検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020128881A (ja) * 2019-02-07 2020-08-27 日本電産リード株式会社 短絡検査システム、及び短絡検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5687943B2 (ja) 2015-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI394961B (zh) Insulation inspection equipment and insulation inspection methods
JP2008026320A (ja) 非接触シングルサイドプローブ及び、これを用いたパターン電極の断線・短絡検査装置及びその方法
JP2011112408A (ja) 絶縁検査装置および絶縁検査方法
JP2009109379A (ja) 絶縁検査装置
JP5687943B2 (ja) 短絡検査装置および短絡検査方法
KR101866427B1 (ko) 반도체 소자용 테스트 소켓의 검사장치
JP5317554B2 (ja) 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP5507363B2 (ja) 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP5510964B2 (ja) 導通検査方法
JP4676218B2 (ja) 回路配線検査方法および回路配線検査装置
JP4417762B2 (ja) 回路配線検査方法およびその装置
JP5944121B2 (ja) 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP2017187439A (ja) 処理装置、検査装置および処理方法
JP5485012B2 (ja) 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP5844096B2 (ja) 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP5213114B2 (ja) 導通検査方法及び導通検査装置
JP3950713B2 (ja) 回路配線検査方法およびその装置
JP4107897B2 (ja) 回路配線検査方法
JP2011247669A (ja) 絶縁検査装置
JP5988557B2 (ja) 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP5323502B2 (ja) 基板検査装置および基板検査方法
JP6076034B2 (ja) 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP6400329B2 (ja) 表示制御装置、基板検査装置および表示方法
JP2015059840A (ja) 回路基板検査装置および回路基板検査方法
JP6320862B2 (ja) 検査装置および検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140320

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20141112

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141202

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141225

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150120

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150123

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5687943

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250