JP2011112408A - 絶縁検査装置および絶縁検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】配線パターン3の2つの端点に接触可能なプローブ5,7と、配線パターン4の2つの端点に接触可能なプローブ6,8と、電圧印加部9による絶縁検査電圧Veの印加時に配線パターン3,4間に流れる漏れ電流Imを測定する電流測定部10と、この電流Imによって配線パターン3,4間に発生するパターン間電圧Vm1を検出する電圧検出部11と、配線パターン3に対するプローブ5,7の接触状態を検出する接触状態検出部12と、配線パターン4に対するプローブ6,8の接触状態を検出する接触状態検出部13と、接触状態検出部12,13の各検出結果に基づいて各配線パターン3,4と各プローブ5,7,6,8との接触状態を判別し、パターン間電圧Vm1と漏れ電流Imに基づいて配線パターン3,4間の絶縁状態を検査する処理部14とを備えている。
【選択図】図1
Description
2 回路基板
3,4 配線パターン
5 第1プローブ
6 第3プローブ
7 第2プローブ
8 第4プローブ
9 電圧印加部
10 電流測定部
11 電圧検出部
12,13 接触状態検出部
14 処理部
Im 漏れ電流
R 絶縁抵抗
Va1,Vb1 電圧
Ve 絶縁検査電圧
Vm1 電圧(パターン間電圧)
Claims (3)
- 回路基板に形成された一対の配線パターンのうちの一方の配線パターンにおける2つの端点に接触可能な第1プローブおよび第2プローブと、
前記一対の配線パターンのうちの他方の配線パターンにおける2つの端点に接触可能な第3プローブおよび第4プローブと、
前記第1プローブおよび前記第2プローブのうちの一方のプローブ、並びに前記第3プローブおよび前記第4プローブのうちの一方のプローブを介して前記一対の配線パターン間に絶縁検査電圧を印加する電圧印加部と、
前記絶縁検査電圧の印加に起因して前記一対の配線パターン間に流れる漏れ電流を測定する電流測定部と、
前記漏れ電流が流れることに起因して前記一対の配線パターン間に発生するパターン間電圧を、前記第1プローブおよび前記第2プローブのうちの一方のプローブと、前記第3プローブおよび前記第4プローブのうちの一方のプローブとを介して検出する電圧検出部と、
前記第1プローブおよび前記第2プローブ間に第1検出電流を供給すると共に当該両プローブ間に発生する第1プローブ間電圧を検出することにより、前記一方の配線パターンに対する当該第1プローブおよび当該第2プローブの接触状態を検出する第1接触状態検出部と、
前記第3プローブおよび前記第4プローブ間に第2検出電流を供給すると共に当該両プローブ間に発生する第2プローブ間電圧を検出することにより、前記他方の配線パターンに対する当該第3プローブおよび当該第4プローブの接触状態を検出する第2接触状態検出部と、
前記第1接触状態検出部および前記第2接触状態検出部の各検出結果に基づいて前記一方の配線パターンに対する前記第1プローブおよび前記第2プローブの接触状態と前記他方の配線パターンに対する前記第3プローブおよび前記第4プローブの接触状態とを判別する接触判別処理、並びに前記パターン間電圧と前記漏れ電流とに基づいて前記一対の配線パターン間の絶縁状態を検査する絶縁検査処理を実行する処理部とを備えている絶縁検査装置。 - 前記第1接触状態検出部は、前記第1検出電流として第1交流電流を供給すると共に、当該第1交流電流の供給時における前記第1プローブ間電圧に基づいて前記一方の配線パターンに対する前記第1プローブおよび前記第2プローブの接触状態を検出し、
前記第2接触状態検出部は、前記第2検出電流として前記第1交流電流と周波数の異なる第2交流電流を供給すると共に、当該第2交流電流の供給時における前記第2プローブ間電圧に基づいて前記他方の配線パターンに対する前記第3プローブおよび前記第4プローブの接触状態を検出し、
前記処理部は、前記一方の配線パターンに対する前記第1プローブおよび前記第2プローブの接触状態の検出が前記第1接触状態検出部によって実行され、かつ前記他方の配線パターンに対する前記第3プローブおよび前記第4プローブの接触状態の検出が前記第2接触状態検出部によって実行されている状態において、前記絶縁検査処理と並行して前記接触判別処理を実行する請求項1記載の絶縁検査装置。 - 回路基板に形成された一対の配線パターンのうちの一方の配線パターンにおける2つの端点に第1プローブおよび第2プローブを接触させると共に、当該一対の配線パターンのうちの他方の配線パターンにおける2つの端点に第3プローブおよび第4プローブを接触させ、
前記第1プローブおよび前記第2プローブのうちの一方のプローブ、並びに前記第3プローブおよび前記第4プローブのうちの一方のプローブを介して前記一対の配線パターン間に絶縁検査電圧を印加しつつ、当該絶縁検査電圧の印加に起因して当該一対の配線パターン間に流れる漏れ電流を測定すると共に、当該一対の配線パターン間に発生するパターン間電圧を、前記第1プローブおよび前記第2プローブのうちの一方のプローブと、前記第3プローブおよび前記第4プローブのうちの一方のプローブとを介して検出して、当該漏れ電流および当該パターン間電圧に基づいて前記一対の配線パターン間の絶縁状態を検査する絶縁検査処理を実行し、
前記第1プローブおよび前記第2プローブ間に第1検出電流を供給すると共に当該両プローブ間に発生する第1プローブ間電圧を検出することにより、前記一方の配線パターンに対する当該第1プローブおよび当該第2プローブの接触状態を検出する第1接触判別処理を実行し、かつ、前記第3プローブおよび前記第4プローブ間に第2検出電流を供給すると共に当該両プローブ間に発生する第2プローブ間電圧を検出することにより、前記他方の配線パターンに対する当該第3プローブおよび当該第4プローブの接触状態を検出する第2接触判別処理を実行する絶縁検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2009266900A JP5496620B2 (ja) | 2009-11-25 | 2009-11-25 | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 |
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JP5496620B2 JP5496620B2 (ja) | 2014-05-21 |
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