JP2013228272A - 抵抗測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】処理部7は、容量成分に起因して電流値Iaが電源部4による測定電流Iの出力開始直後から収束値に向けて徐々に変化する過渡期間に含まれる検査時点において抵抗算出処理を実行して抵抗値Rを算出すると共にこの抵抗値Rが判定範囲に含まれるか否かに基づいて、プローブ2,3の断線、およびプローブ2,3と測定対象体11との接触状態の良否を検査する断線接触検査処理を、プローブ2,3の断線、およびプローブ2,3と測定対象体11との接触不良のいずれもが発生していない状態のときに検査時点において算出される抵抗値Rが含まれる範囲を判定範囲として実行する。
【選択図】図1
Description
2,3 プローブ
4 電源部
5 電流測定部
6 電圧測定部
7 処理部
11 測定対象体
Claims (4)
- 容量成分を含む測定対象体に接触されたプローブを介して当該測定対象体に測定電流を出力する電源部と、
前記測定電流の電流値を測定する電流測定部と、
前記測定電流が前記測定対象体に流れることによって当該測定対象体に発生する電圧の電圧値を当該測定対象体に接触されたプローブを介して測定する電圧測定部と、
前記電流値および前記電圧値に基づいて前記測定対象体の抵抗値を算出する抵抗算出処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記容量成分に起因して前記電圧値および前記電流値の少なくとも一方が前記電源部による前記測定電流の出力開始直後から収束値に向けて徐々に変化する過渡期間に含まれる検査時点において前記抵抗算出処理を実行して前記抵抗値を算出すると共に当該算出した抵抗値が予め規定された判定範囲に含まれるか否かに基づいて、前記各プローブの断線、および当該各プローブと前記測定対象体との接触状態の良否を検査する断線接触検査処理を、当該各プローブの断線、および当該各プローブと当該測定対象体との接触不良のいずれもが発生していない状態のときに前記検査時点において算出される前記抵抗値が含まれる範囲を前記判定範囲として実行する抵抗測定装置。 - 容量成分を含む測定対象体に接触されたプローブを介して当該測定対象体に測定電流を出力する電源部と、
前記測定電流の電流値を測定する電流測定部と、
前記測定電流が前記測定対象体に流れることによって当該測定対象体に発生する電圧の電圧値を当該測定対象体に接触されたプローブを介して測定する電圧測定部と、
前記電流値および前記電圧値に基づいて前記測定対象体の抵抗値を算出する抵抗算出処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記容量成分に起因して前記電圧値および前記電流値の少なくとも一方が前記電源部による前記測定電流の出力開始直後から収束値に向けて徐々に変化する過渡期間に含まれる検査時点において前記抵抗算出処理を実行して前記抵抗値を算出すると共に当該算出した抵抗値が予め規定された判定範囲に含まれるか否かに基づいて、前記各プローブの断線、および当該各プローブと前記測定対象体との接触状態の良否を検査する断線接触検査処理を、当該各プローブのうちのいずれかの断線、および当該各プローブのうちのいずれかと当該測定対象体との接触不良のうちの少なくとも1つが発生している状態のときに前記検査時点において算出される前記抵抗値が含まれる範囲を前記判定範囲として実行する抵抗測定装置。 - 前記検査時点が前記過渡期間中に複数規定されると共に、当該複数の検査時点にそれぞれ対応する複数の前記判定範囲が記憶部に記憶され、
前記処理部は、前記複数の検査時点のうちの1つが指定されたときに、当該指定された検査時点に対応する前記判定範囲を前記記憶部から読み出して前記抵抗算出処理および前記断線接触検査処理を実行する請求項1または2記載の抵抗測定装置。 - 前記検査時点にそれぞれ対応させて複数の前記判定範囲が記憶部に記憶され、
前記処理部は、前記複数の判定範囲のうちの1つが指定されたときに、当該指定された判定範囲を前記記憶部から読み出して前記抵抗算出処理および前記断線接触検査処理を実行する請求項1または2記載の抵抗測定装置。
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