JP2012183390A5 - - Google Patents
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Description
本発明の光断層画像生成装置は、走査手段を介して測定光を照射した被検査物からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とによる合波光の強度信号に基づいて、前記被検査物の少なくとも１つの２次元の断層画像を生成する光断層画像生成装置であって、前記走査手段により前記測定光を走査して２次元の断層画像を１つ取得する際に、該測定光の横分解能に基づく範囲における複数のラインの強度信号を平均して、新たなラインの画像を作成する手段を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像生成方法は、走査手段を介して測定光を照射した被検査物からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とによる合波光の強度信号に基づいて、前記被検査物の少なくとも１つの２次元の断層画像を生成する光断層画像生成方法であって、前記走査手段により前記測定光を走査して２次元の断層画像を１つ取得する際に、該測定光の横分解能に基づく範囲における複数のラインの強度信号を平均して、新たなラインの画像を作成する工程を含むことを特徴とする。
Claims (15)
- 走査手段を介して測定光を照射した被検査物からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とによる合波光の強度信号に基づいて、前記被検査物の少なくとも１つの２次元の断層画像を生成する光断層画像生成装置であって、
前記走査手段により前記測定光を走査して２次元の断層画像を１つ取得する際に、該測定光の横分解能に基づく範囲における複数のラインの強度信号を平均して、新たなラインの画像を作成する手段
を有することを特徴とする光断層画像生成装置。 - 前記走査手段の走査距離は、前記横分解能の数倍以下であることを特徴とする請求項１に記載の光断層画像生成装置。
- 前記横分解能は、前記被検査物における前記測定光の大きさに対応することを特徴とする請求項１又は２に記載の光断層画像生成装置。
- 前記横分解能に基づいて前記測定光の走査速度を決定する決定手段と、
前記決定した走査速度に基づいて前記走査する手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光断層画像生成装置。 - 前記平均する手段が、前記複数の強度信号を重みつけ平均することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光断層画像生成装置。
- 前記複数のラインの強度信号をフーリエ変換する手段と、
前記新たなラインの画像に基づいて前記１つの２次元の断層画像を生成する手段と、を有し、
前記新たなラインの画像を作成する手段は、前記フーリエ変換された複数のラインの強度信号を複素数の状態で平均することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の光断層画像生成装置。 - 前記平均して得た２次元の断層画像の縦と横の長さ比を調整する手段と、
前記調整して得た２次元の断層画像を表示手段に表示させる手段と、
を有することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の光断層画像生成装置。 - 走査手段を介して測定光を照射した被検査物からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とによる合波光の強度信号に基づいて、前記被検査物の少なくとも１つの２次元の断層画像を生成する光断層画像生成方法であって、
前記走査手段により前記測定光を走査して２次元の断層画像を１つ取得する際に、該測定光の横分解能に基づく範囲における複数のラインの強度信号を平均して、新たなラインの画像を作成する工程
を含むことを特徴とする光断層画像生成方法。 - 前記走査する工程の走査距離は、前記横分解能の数倍以下であることを特徴とする請求項８に記載の光断層画像生成方法。
- 前記横分解能は、前記被検査物における前記測定光の大きさに対応することを特徴とする請求項８又は９に記載の光断層画像生成方法。
- 前記横分解能に基づいて前記測定光の走査速度を決定する工程と、
前記決定した走査速度に基づいて前記走査する工程を制御する工程と、
を含むことを特徴とする請求項８乃至１０のいずれか１項に記載の光断層画像生成方法。 - 前記平均する工程が、前記複数の強度信号を重みつけ平均することを特徴とする請求項８乃至１１のいずれか１項に記載の光断層画像生成方法。
- 前記複数のラインの強度信号をフーリエ変換する工程と、
前記新たなラインの画像に基づいて前記１つの２次元の断層画像を生成する工程と、を含み、
前記新たなラインの画像を作成する工程は、前記フーリエ変換された複数のラインの強度信号を複素数の状態で平均することを特徴とする請求項８乃至１２のいずれか１項に記載の光断層画像生成方法。 - 前記平均して得た２次元の断層画像の縦と横の長さ比を調整する工程と、
前記調整して得た２次元の断層画像を表示手段に表示させる工程と、
を含むことを特徴とする請求項８乃至１３のいずれか１項に記載の光断層画像生成方法。 - 請求項８乃至１４のいずれか１項に記載の光断層画像生成方法の各工程をコンピュータに実行させるためのコンピュータプログラム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2012148527A JP5451822B2 (ja) | 2012-07-02 | 2012-07-02 | 光断層画像生成方法及び光断層画像生成装置 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2012148527A JP5451822B2 (ja) | 2012-07-02 | 2012-07-02 | 光断層画像生成方法及び光断層画像生成装置 |
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Family Applications (1)
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| JP2012148527A Active JP5451822B2 (ja) | 2012-07-02 | 2012-07-02 | 光断層画像生成方法及び光断層画像生成装置 |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP5451822B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7174993B2 (ja) * | 2018-08-31 | 2022-11-18 | 学校法人 名城大学 | マイクロ断層可視化装置および方法 |
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2012
- 2012-07-02 JP JP2012148527A patent/JP5451822B2/ja active Active
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