JP2017176341A5 - - Google Patents

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上記の課題を解決する本発明の一態様に係る情報処理装置は、
測定光が走査された被検査物からの戻り光と前記測定光に対応した参照光との干渉光をサンプリングするサンプリング手段の出力から、互いに異なる複数のデータセットを生成するように、前記サンプリング手段による前記干渉光のサンプリングの間隔より長いサンプリング間隔で前記出力に含まれるデータセットを部分的に抽出するデータ抽出手段と、
前記生成された複数のデータセットを用いて、複数の断層像を生成する生成手段と、
前記生成された複数の断層像を用いて、前記被検査物の断層情報を形成する形成手段と、を備えることを特徴とする。

Claims (20)

  1. 測定光が走査された被検査物からの戻り光と前記測定光に対応した参照光との干渉光をサンプリングするサンプリング手段の出力から、互いに異なる複数のデータセットを生成するように、前記サンプリング手段による前記干渉光のサンプリングの間隔より長いサンプリング間隔で前記出力に含まれるデータセットを部分的に抽出するデータ抽出手段と、
    前記生成された複数のデータセットを用いて、複数の断層像を生成する生成手段と、
    前記生成された複数の断層像を用いて、前記被検査物の断層情報を形成する形成手段と、を備えることを特徴とする情報処理装置。
  2. 前記形成手段は、前記生成された複数の断層像の間において相関演算を行って、前記断層情報として血流情報を形成することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
  3. 記形成手段は、前記生成された複数の断層像における各々の画素値の加算平均を行って、前記断層情報として加算平均画像を成することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
  4. 前記形成手段は、前記断層情報として、前記生成された複数の断層像を用いて、モーションコントラストデータを形成することを特徴とする請求項1または2の何れか一項に記載の情報処理装置。
  5. 前記データ抽出手段が前記データセットを部分的に抽出する長いサンプリング間隔は、前記出力からの抽出の際において一定であることを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の情報処理装置。
  6. 前記長いサンプリング間隔は前記サンプリング手段の出力に含まれるデータのw−1個おきの間隔であり、前記複数のデータセットの数はw個であることを特徴とする請求項5に記載の情報処理装置。
  7. 前記サンプリング手段からの出力は、前記被検査物における同一走査線を前記測定光でm回走査して得られるm個の出力を含み、
    前記データ抽出手段は前記m個の出力の各々から前記複数のデータセット生成することを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の情報処理装置。
  8. 前記測定光と前記参照光とを発する光源は経時的に光の波長を掃引可能な波長掃引型の光源であり、
    前記サンプリング手段は、クロック生成手段により出力されるサンプルクロックに基づいて、前記干渉光を所定の等波数間隔サンプリングすることを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の情報処理装置。
  9. 前記サンプリング手段は、前記サンプリング手段の出力に含まれるデータの数を倍加させる信号処理を行うことを特徴とする請求項8に記載の情報処理装置。
  10. 前記サンプリング手段は、前記干渉光を分光する分光手段と、前記分光された光を受光する複数の受光素子とを有し、
    前記受光素子の出力に基づいて所定の等波数間隔で前記干渉光をサンプリングすることを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の情報処理装置。
  11. 前記被検査物の断情報を表示部に表示させる表示制御手段をさらに備え
    前記形成手段は、前記サンプリング手段の出力からなるデータセットを用いて第一の撮像深さ範囲の断層情報を形成可能であり、
    前記サンプリング手段の出力を部分的に抽出して生成された前記複数のデータセットを用いて形成された断層情報であって、前記第一の撮像深さ範囲より小さい第二の撮像深さ範囲の断層情報形成可能であって、
    前記表示制御手段は、前記第一の撮像深さ範囲の断層情報と前記第二の撮像深さ範囲の断層情報との何れかを前記表示部に表示させることを特徴とする請求項1乃至10の何れか一項に記載の情報処理装置。
  12. 前記第二の撮像深さ範囲は、前記抽出されたデータセットの数で前記第一の撮像深さ範囲を除して得られる範囲であることを特徴とする請求項11に記載の情報処理装置。
  13. 前記表示制御手段は、検者の指示、又は前記表示手段の表示の切り替えに応じて前記表示手段に表示させる断層情報を選択することを特徴とする請求項11又は12に記載の情報処理装置。
  14. 前記被検査物は被検眼の眼底であって、
    前記第一の撮像深さ範囲の断層情報4.0mm以上の深さ範囲の断層情報であり、前記第二の撮像深さ範囲の断層情報4.0mm未満の深さ範囲の断層情報であることを特徴とする請求項11乃至13の何れか一項に記載の情報処理装置。
  15. 前記第二の撮像深さ範囲の断層情報を生成するために用いられる前記生成された複数のデータセットは、前記測定光を前記被検査物上で走査する走査手段による前記測定光の走査角度範囲が47度未満の条件で得られた干渉光に基づくことを特徴とする請求項11乃至14の何れか一項に記載の情報処理装置。
  16. 前記データ抽出手段は、前記測定光を前記被検査物上で走査する走査手段による前記測定光の走査角度範囲が47度未満である場合に、前記第二の撮像深さ範囲の断層情報を生成するために用いられる前記複数のデータセットを生成することを特徴とする請求項11乃至14の何れか一項に記載の情報処理装置。
  17. 前記被検査物は被検眼の眼底であって
    記測定光にて所定数の走査線から形成される二次元走査パターンで走査する前記眼底の所定範囲を設定する設定手段をさらに備え
    前記設定手段は前記測定光の走査角度47度以上である第一の撮像範囲と47度未満である第二の撮像範囲とに、前記所定範囲を変更可能であり
    形成手段は前記被検眼の眼球内において4.0mm以上の撮像深さ範囲の断層情報を形成することを特徴とする請求項1乃至13の何れか一項に記載の情報処理装置。
  18. 前記測定光にて所定数の走査線から形成される二次元走査パターンで走査する前記被検査物の所定範囲を設定する設定手段をさらに備え、
    前記設定手段は、前記測定光の走査角度範囲が47度以上である第一の撮像範囲と47度未満である第二の撮像範囲とに、前記所定範囲を変更可能であることを特徴とする請求項1乃至16の何れか一項に記載の情報処理装置。
  19. 測定光が走査された被検査物からの戻り光と前記測定光に対応した参照光との干渉光をサンプリングするサンプリング手段の出力から互いに異なる複数のデータセットを生成するように、前記サンプリング手段による前記干渉光のサンプリングの間隔より長いサンプリング間隔で前記出力に含まれるデータセットを部分的に抽出する工程と、
    前記生成された複数のデータセットを用いて、複数の断層像を生成する工程
    前記生成された複数の断層像を用いて前記被検査物の断層情報を形成する工程と、を含むことを特徴とする情報処理装置の制御方法。
  20. 請求項19に記載の情報処理装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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