JP2013081763A5 - - Google Patents
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Description
（１） 光源から出射された光を測定光と参照光に分割し、測定光を被検眼眼底に導き，参照光を参照光学系に導いた後、眼底で反射した測定光と参照光とが合成された光のスペクトルを受光素子に受光させる干渉光学系と、前記測定光の光路中に配置され，眼底上で前記測定光を走査する光スキャナと、前記受光素子から出力されるスペクトル信号をフーリエ解析して眼底断層像を得る眼底断層像撮影装置において、前記光スキャナを制御して、撮影条件の異なる複数のスキャンを順次行うと共に、各スキャンによって取得される複数の眼底断層像が光路長一致位置の近傍で取得されるように各スキャンに応じて、測定光と参照光の光路差を調整する制御手段と、を備える、ことを特徴とする。
（２） 前記制御手段は、前記光スキャナを制御してサークル径が互いに異なる複数のサークルスキャンを順次行うと共に、各サークルスキャンによって取得される複数の眼底断層像が光路長一致位置の近傍で取得されるように各サークルスキャンのサークル径に応じて測定光と参照光の光路差を調整する（１）の眼底断層像撮影装置。
（３） 各サークルスキャンによって取得された複数の眼底断層像に基づいて眼底の層厚分布を測定し、測定結果に基づく層厚マップを取得する解析手段を備える（２）の眼底断層像撮影装置。
（２） 前記制御手段は、前記光スキャナを制御してサークル径が互いに異なる複数のサークルスキャンを順次行うと共に、各サークルスキャンによって取得される複数の眼底断層像が光路長一致位置の近傍で取得されるように各サークルスキャンのサークル径に応じて測定光と参照光の光路差を調整する（１）の眼底断層像撮影装置。
（３） 各サークルスキャンによって取得された複数の眼底断層像に基づいて眼底の層厚分布を測定し、測定結果に基づく層厚マップを取得する解析手段を備える（２）の眼底断層像撮影装置。
Claims (3)
- 光源から出射された光を測定光と参照光に分割し、測定光を被検眼眼底に導き，参照光を参照光学系に導いた後、眼底で反射した測定光と参照光とが合成された光のスペクトルを受光素子に受光させる干渉光学系と、
前記測定光の光路中に配置され，眼底上で前記測定光を走査する光スキャナと、
前記受光素子から出力されるスペクトル信号をフーリエ解析して眼底断層像を得る眼底断層像撮影装置において、
前記光スキャナを制御して、撮影条件の異なる複数のスキャンを順次行うと共に、各スキャンによって取得される複数の眼底断層像が光路長一致位置の近傍で取得されるように各スキャンに応じて、測定光と参照光の光路差を調整する制御手段と、
を備える、ことを特徴とする眼底断層像撮影装置。 - 前記制御手段は、前記光スキャナを制御してサークル径が互いに異なる複数のサークルスキャンを順次行うと共に、各サークルスキャンによって取得される複数の眼底断層像が光路長一致位置の近傍で取得されるように各サークルスキャンのサークル径に応じて測定光と参照光の光路差を調整する請求項１の眼底断層像撮影装置。
- 各サークルスキャンによって取得された複数の眼底断層像に基づいて眼底の層厚分布を測定し、測定結果に基づく層厚マップを取得する解析手段を備える請求項２の眼底断層像撮影装置。
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