JP2012145429A - 分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】実施形態に記載の分析装置は、反応管内の混合液に対して、光源からの光を照射する照射光学部を有する。また検出光学部は、混合液を透過した光を検出する。また照射光学部は、前側焦点位置に光源が配置され、光源からの光を集光する第1光学素子を有する。また第2光学素子は、第1光学素子を通過した光を反応管に導く。また入射開口数調整部材は、第1光学素子の後側に設けられ、光源からの光を反応管に入射させる際の開口数を調整する。
【選択図】図5
Description
まず、図1を用いて第1及び第2実施形態に共通する自動分析装置の構成について説明する。なお、実施形態は自動分析装置に関するものであるが、これに限られない。本実施形態の構成を各種分光分析装置に適用することも可能である。
次に、図2を用いて第1及び第2実施形態に共通する測光ユニット11の構成について説明する。
図3から図7を用いて第1実施形態に係る自動分析装置について詳述する。
本実施形態において、第2スリットは第1スリットを通過した光の一部を通過させる機能を有する。つまり第2スリットによって入射開口数の調整を行うことが可能となる。
本変形例において、スリット215には、入射開口数を調整するためにそのスリットの幅を可変可能とする可変機構(図示なし)が設けられている。可変機構を設けることにより、入射開口数を測定項目毎に調整することが可能となる。
凹面鏡216の結像位置を調整することにより様々な効果が得られる。例えば、凹面鏡216の結像位置に反応管4の中心が位置するように凹面鏡216と反応管4の位置関係を調整することにより、反応管4内の混合液の量を低減させることが可能となる。或いは、凹面鏡216の結像位置が反応管4の中心よりも後側に位置するように凹面鏡216と反応管4の位置関係を調整することにより、反応管4内の混合液に含まれる散乱体により散乱された光の検出を抑制することが可能となる。
次に、図9及び図10を用いて第2実施形態についての説明を行う。
以上より、本実施形態では、スリット212により入射開口数を調整し、スリット222により検出開口数を調整している。これら入射開口数と検出開口数を所望の値に設定することで反応管4内の散乱物質により多重散乱した光の検出を抑制することができるため比濁測定を性能よく行うことが可能となる。
分析装置の測光方法としては、特定の波長帯の光のみを用いる単波長測光と、2つの異なる波長帯の光を用い、それらの相対変化を測定する2波長測光がある。第1実施形態及び第2実施形態の構成によれば、いずれの測光方法の場合であっても比色測定及び比濁測定を性能よく行うことができる。
11 測定ユニット
20 光源
21 照射光学部
22 検出光学部
23 分光部
24 検出部
211 レンズ
212、215 スリット
213 フィルタ
214 平面鏡
216 凹面鏡
221、223 レンズ
222、224 スリット
Claims (12)
- 反応管内の混合液に対して、光源からの光を照射する照射光学部と、
前記混合液を透過した光を検出する検出光学部と、
を有し、
前記照射光学部は、
前側焦点位置に前記光源が配置され、前記光源からの光を集光する第1光学素子と、
前記第1光学素子を通過した光を前記反応管に導く第2光学素子と、
前記第1光学素子の後側に設けられ、前記光源からの光を前記反応管に入射させる際の開口数を調整する入射開口数調整部材と、
を有することを特徴とする分析装置。 - 前記第1光学素子の後側焦点位置に配置され、前記第1光学素子を透過した光の一部を通過させる第1スリットを更に有し、
前記入射開口数調整部材は、前記第1スリットを通過した光の一部を通過させる第2スリットであることを特徴とする請求項1記載の分析装置。 - 前記照射光学部は、
前記第2スリットは、前記第2光学素子の前側焦点位置に配置されることを特徴とする請求項2記載の分析装置。 - 前記第2スリットは、前記第2光学素子と前記反応管との間に配置されることを特徴とする請求項2記載の分析装置。
- 前記第2スリットは、前記第2光学素子と一体形成されていることを特徴とする請求項2記載の分析装置。
- 前記入射開口数調整部材は、前記第1光学素子の後側焦点位置に配置され、前記第1光学素子を透過した光の一部を通過させる第1スリットであることを特徴とする請求項1記載の分析装置。
- 前記検出光学部は、
前記反応管を透過した光をコリメートする第3光学素子と、
前記第3光学素子を透過した光の一部を通過させる第3スリットと、
前記第3スリットを通過した光を集光する第4光学素子と、
前記第4光学素子によって集光された光の一部を通過させる第4スリットと、
を有し、
前記第4スリットを通過した光を分光する分光部と、
前記分光部で分光された光を検出する検出部と、
を有することを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の分析装置。 - 前記光源からの光を前記反応管に入射させる際の開口数と前記検出部において前記反応管を透過した光を検出する際の開口数とが等しいことを特徴とする請求項7記載の分析装置。
- 前記光源からの光を前記反応管に入射させる際の開口数及び前記検出部において前記反応管を透過した光を検出する際の開口数がそれぞれ0.1以下であることを特徴とする請求項7又は8に記載の分析装置。
- 前記光源からの光を前記第2光学素子を介して前記反応管に入射させる際の開口数及び前記検出部において前記反応管を透過した光を検出する際の開口数がそれぞれ0.05以下であることを特徴とする請求項9記載の分析装置。
- 前記第2光学素子は、凹面鏡であることを特徴とする請求項1から10のいずれかに記載の分析装置。
- 前記凹面鏡への光の入射角は10度以下であることを特徴とする請求項11記載の分析装置。
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