JPH0989763A - 原子吸光分光光度計 - Google Patents
原子吸光分光光度計Info
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- JPH0989763A JPH0989763A JP7241375A JP24137595A JPH0989763A JP H0989763 A JPH0989763 A JP H0989763A JP 7241375 A JP7241375 A JP 7241375A JP 24137595 A JP24137595 A JP 24137595A JP H0989763 A JPH0989763 A JP H0989763A
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- electric heating
- heating furnace
- atomic absorption
- atomization device
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明の目的は、電気加熱炉試料原子化装置を
使用して従来より高感度分析の可能な原子吸光光度計を
提供するにある。 【構成】ホロカソードランプ１から発せられた光線は、
凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化装置３の中央に集
光される。電気加熱炉試料原子化装置３の中央に集光さ
れた光は、さらに、レンズ４により、バーナー試料原子
化装置５のフレーム部中央に集光される。バーナー試料
原子化装置５を通過した光は、凹面鏡６により集光さ
れ、さらに、平面鏡７により反射されて、分光器の入口
スリット８に結像される。分光器の出射スリット１２か
ら出射された光は、光検知器１３によって検出される。
使用して従来より高感度分析の可能な原子吸光光度計を
提供するにある。 【構成】ホロカソードランプ１から発せられた光線は、
凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化装置３の中央に集
光される。電気加熱炉試料原子化装置３の中央に集光さ
れた光は、さらに、レンズ４により、バーナー試料原子
化装置５のフレーム部中央に集光される。バーナー試料
原子化装置５を通過した光は、凹面鏡６により集光さ
れ、さらに、平面鏡７により反射されて、分光器の入口
スリット８に結像される。分光器の出射スリット１２か
ら出射された光は、光検知器１３によって検出される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、原子吸光分光光度計に
係り、特に、高感度分析を行うに好適な原子吸光分光光
度計に関する。
係り、特に、高感度分析を行うに好適な原子吸光分光光
度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の原子吸光光度計は、例えば、特公
昭６０−２９８９３号公報に記載のように、光源から光
検知器に至る光路上に、直列的に２種類以上の試料原子
化装置を配置するものが知られている。
昭６０−２９８９３号公報に記載のように、光源から光
検知器に至る光路上に、直列的に２種類以上の試料原子
化装置を配置するものが知られている。
【０００３】かかる原子吸光光度計においては、フレー
ム内に分析試料を霧状にして導入し、分析試料を原子化
するバーナー試料原子化装置が、光源に近い側に配置さ
れ、また、グラファイト製のキュベット内に分析試料を
導入して、このキュベットを高温に加熱することによ
り、分析試料を原子化する電気加熱炉試料原子化装置
が、バーナー試料原子化装置と分光器の間に配置されて
いた。
ム内に分析試料を霧状にして導入し、分析試料を原子化
するバーナー試料原子化装置が、光源に近い側に配置さ
れ、また、グラファイト製のキュベット内に分析試料を
導入して、このキュベットを高温に加熱することによ
り、分析試料を原子化する電気加熱炉試料原子化装置
が、バーナー試料原子化装置と分光器の間に配置されて
いた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】原子吸光光度計は、ｐ
ｐｂオーダーの高感度分析が可能であることから、臨床
医学や環境分析の分野において、有害元素の微量測定等
に利用されている。近年、各種の水質基準が改正され、
例えば、飲料水における基準では、従来は、ひ素（Ａ
ｓ）やセレン（Ｓｅ）が飲料水に検出されなければ飲料
水基準を満たしていたものが、改正後は、それぞれ、飲
料水中に含まれる量が１０ｐｐｂ以下であれば飲料水基
準を満たすようになった。
ｐｂオーダーの高感度分析が可能であることから、臨床
医学や環境分析の分野において、有害元素の微量測定等
に利用されている。近年、各種の水質基準が改正され、
例えば、飲料水における基準では、従来は、ひ素（Ａ
ｓ）やセレン（Ｓｅ）が飲料水に検出されなければ飲料
水基準を満たしていたものが、改正後は、それぞれ、飲
料水中に含まれる量が１０ｐｐｂ以下であれば飲料水基
準を満たすようになった。
【０００５】飲料水基準において、１０ｐｐｂ以下の定
量分析を行うには、濃度が１ｐｐｂのひ素（Ａｓ）やセ
レン（Ｓｅ）の標準試料を複数回測定した時、相対標準
偏差（標準偏差／平均値）が１０％以下であることが要
求されている。さらに、原子吸光光度計装置本体の検出
限界としては、０．３ｐｐｂの高精度が要求される。
量分析を行うには、濃度が１ｐｐｂのひ素（Ａｓ）やセ
レン（Ｓｅ）の標準試料を複数回測定した時、相対標準
偏差（標準偏差／平均値）が１０％以下であることが要
求されている。さらに、原子吸光光度計装置本体の検出
限界としては、０．３ｐｐｂの高精度が要求される。
【０００６】しかしながら、従来の通常の原子吸光光度
計では、このような検出限界の低い測定は不可能であっ
た。一般に、電気加熱炉試料原子化装置は、ｐｐｂオー
ダーの高感度分析が可能であるが、それでも、０．３ｐ
ｐｂの検出限界を得ることは困難であった。なお、特殊
な分析方法として、原子吸光光度計の付属装置である水
素化物発生付属装置を用いて、ひ素（Ａｓ）やセレン
（Ｓｅ）の水素化物を生成し、加熱石英セルを用いてバ
ーナー試料原子化装置を使用することにより、定量が可
能であるが、測定に時間を要するという問題があった。
また、この付属装置を使用する場合には、測定に必要な
試料は５ｍｌであり、一般に電気加熱炉試料原子化装置
における試料量の数μｌに比べて、１００倍程度の試料
量が必要であった。測定試料が飲料水である場合には、
この試料量はさほど問題とならないが、食物中のひ素
（Ａｓ）やセレン（Ｓｅ）の分析においては、実質的に
測定ができないという場合もある。
計では、このような検出限界の低い測定は不可能であっ
た。一般に、電気加熱炉試料原子化装置は、ｐｐｂオー
ダーの高感度分析が可能であるが、それでも、０．３ｐ
ｐｂの検出限界を得ることは困難であった。なお、特殊
な分析方法として、原子吸光光度計の付属装置である水
素化物発生付属装置を用いて、ひ素（Ａｓ）やセレン
（Ｓｅ）の水素化物を生成し、加熱石英セルを用いてバ
ーナー試料原子化装置を使用することにより、定量が可
能であるが、測定に時間を要するという問題があった。
また、この付属装置を使用する場合には、測定に必要な
試料は５ｍｌであり、一般に電気加熱炉試料原子化装置
における試料量の数μｌに比べて、１００倍程度の試料
量が必要であった。測定試料が飲料水である場合には、
この試料量はさほど問題とならないが、食物中のひ素
（Ａｓ）やセレン（Ｓｅ）の分析においては、実質的に
測定ができないという場合もある。
【０００７】本発明の目的は、電気加熱炉試料原子化装
置を使用して従来より高感度分析の可能な原子吸光光度
計を提供するにある。
置を使用して従来より高感度分析の可能な原子吸光光度
計を提供するにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、光源から光検知器に至る光路上に直列的
に２種類以上の試料原子化装置を配置し、この２種類以
上の試料原子化装置を選択的に使用するように構成され
た原子吸光分光光度計において、上記光源に近接して電
気加熱炉試料原子化装置を配置し、 この電気加熱炉試
料原子化装置と上記光検知器の間に、バーナー試料原子
化装置を配置するようにしたものである。
に、本発明は、光源から光検知器に至る光路上に直列的
に２種類以上の試料原子化装置を配置し、この２種類以
上の試料原子化装置を選択的に使用するように構成され
た原子吸光分光光度計において、上記光源に近接して電
気加熱炉試料原子化装置を配置し、 この電気加熱炉試
料原子化装置と上記光検知器の間に、バーナー試料原子
化装置を配置するようにしたものである。
【０００９】上記原子吸光光度計において、好ましく
は、さらに、上記光源に直流電流に低周波のパルス電流
を重畳した点灯用電流を供給するランプ点灯手段と、上
記光検知器の出力信号を低周波増幅する低周波増幅手段
を備え、上記低周波増幅手段は、上記ランプ点灯手段が
上記光源に供給する点灯電流に同期して増幅するように
したものである。
は、さらに、上記光源に直流電流に低周波のパルス電流
を重畳した点灯用電流を供給するランプ点灯手段と、上
記光検知器の出力信号を低周波増幅する低周波増幅手段
を備え、上記低周波増幅手段は、上記ランプ点灯手段が
上記光源に供給する点灯電流に同期して増幅するように
したものである。
【００１０】上記原子吸光光度計において、好ましく
は、上記光源から発せられた光を上記電気加熱炉試料原
子化装置の中央部に集光する結像素子として凹面鏡を使
用するようにしたものである。
は、上記光源から発せられた光を上記電気加熱炉試料原
子化装置の中央部に集光する結像素子として凹面鏡を使
用するようにしたものである。
【００１１】上記原子吸光光度計において、好ましく
は、上記電気加熱炉試料原子化装置に集光された光を、
さらに、上記バーナー試料原子化装置に集光する結像素
子として凹面鏡を使用するようにしたものである。
は、上記電気加熱炉試料原子化装置に集光された光を、
さらに、上記バーナー試料原子化装置に集光する結像素
子として凹面鏡を使用するようにしたものである。
【００１２】
【作用】本発明では、光源に近接して電気加熱炉試料原
子化装置を配置し、 この電気加熱炉試料原子化装置と
光検知器の間に、バーナー試料原子化装置を配置するこ
とにより、電気加熱炉試料原子化装置からの白色光の影
響を低減し得るものとなる。
子化装置を配置し、 この電気加熱炉試料原子化装置と
光検知器の間に、バーナー試料原子化装置を配置するこ
とにより、電気加熱炉試料原子化装置からの白色光の影
響を低減し得るものとなる。
【００１３】また、光源に直流電流に低周波のパルス電
流を重畳した点灯用電流を供給するランプ点灯手段と、
光検知器の出力信号を低周波増幅する低周波増幅手段を
備え、低周波増幅手段は、ランプ点灯手段が上記光源に
供給する点灯電流に同期して増幅することにより、さら
に、電気加熱炉試料原子化装置からの白色光の影響を低
減し得るものとなる。
流を重畳した点灯用電流を供給するランプ点灯手段と、
光検知器の出力信号を低周波増幅する低周波増幅手段を
備え、低周波増幅手段は、ランプ点灯手段が上記光源に
供給する点灯電流に同期して増幅することにより、さら
に、電気加熱炉試料原子化装置からの白色光の影響を低
減し得るものとなる。
【００１４】また、さらに、光源から発せられた光を電
気加熱炉試料原子化装置の中央部に集光する結像素子と
して凹面鏡を使用することにより、波長を変えて測定し
た場合にも色収差の発生がなく、常に、電気加熱炉試料
原子化装置の最適位置に結像でき、感度を向上し得るも
のとなる。
気加熱炉試料原子化装置の中央部に集光する結像素子と
して凹面鏡を使用することにより、波長を変えて測定し
た場合にも色収差の発生がなく、常に、電気加熱炉試料
原子化装置の最適位置に結像でき、感度を向上し得るも
のとなる。
【００１５】また、電気加熱炉試料原子化装置に集光さ
れた光を、さらに、バーナー試料原子化装置に集光する
結像素子として凹面鏡を使用することにより、波長を変
えて測定した場合にも色収差の発生がなく、常に、バー
ナー試料原子化装置の最適位置に結像でき、感度を向上
し得るものとなる。
れた光を、さらに、バーナー試料原子化装置に集光する
結像素子として凹面鏡を使用することにより、波長を変
えて測定した場合にも色収差の発生がなく、常に、バー
ナー試料原子化装置の最適位置に結像でき、感度を向上
し得るものとなる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明の一実施例について、図１を用
いて説明する。図１は、本発明の一実施例による原子吸
光光度計の全体構成図である。
いて説明する。図１は、本発明の一実施例による原子吸
光光度計の全体構成図である。
【００１７】光源であるホロカソードランプ１は、分析
目的原子の吸収スペクトルと同じ波長の発光スペクトル
を有する原子の共鳴線の光線を放射する。ホロカソード
ランプ１は、ランプ点灯装置２０から１００Ｈｚの直流
分にパルス信号の重畳されてパルス変調された電流を供
給されており、この電流に同期して、点灯・消灯を繰り
返している。
目的原子の吸収スペクトルと同じ波長の発光スペクトル
を有する原子の共鳴線の光線を放射する。ホロカソード
ランプ１は、ランプ点灯装置２０から１００Ｈｚの直流
分にパルス信号の重畳されてパルス変調された電流を供
給されており、この電流に同期して、点灯・消灯を繰り
返している。
【００１８】ホロカソードランプ１から発せられた光線
は、凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化装置３の中央
に集光される。電気加熱炉試料原子化装置３は、グラフ
ァイト製の円筒形のキュベットから構成され、このキュ
ベットに通電することにより、キュベットを高温に加熱
できる。キュベットの温度を、乾燥，灰化，原子化の各
段階に応じて順次高温化することにより、キュベット内
に導入された分析試料を原子化できる。
は、凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化装置３の中央
に集光される。電気加熱炉試料原子化装置３は、グラフ
ァイト製の円筒形のキュベットから構成され、このキュ
ベットに通電することにより、キュベットを高温に加熱
できる。キュベットの温度を、乾燥，灰化，原子化の各
段階に応じて順次高温化することにより、キュベット内
に導入された分析試料を原子化できる。
【００１９】電気加熱炉試料原子化装置３の中央に集光
された光は、さらに、レンズ４により、バーナー試料原
子化装置５のフレーム部中央に集光される。バーナー試
料原子化装置５は、アセチレン等の可燃性のガスによっ
てフレームを形成し、このフレーム内に霧化された分析
試料を導入することによって加熱原子化する。ここで、
結像素子として、レンズ４を使用しているため、このレ
ンズ４の色収差の影響によって、バーナー試料原子化装
置５のフレーム部における集光位置は、波長によって異
なることになる。しかながら、フレーム部の光軸方向の
長さは、約１００ｍｍ程度あるため、このフレーム部に
おいて、結像位置が１０数ｍｍズレたとしても、その影
響は小さいものである。また、バーナー試料原子化装置
５自体が、その原子化効率やフレームの安定性の点で、
電気加熱炉試料原子化装置３に比べて感度が落ちるた
め、かかる点からもレンズ光学系を使用する影響は少な
い。
された光は、さらに、レンズ４により、バーナー試料原
子化装置５のフレーム部中央に集光される。バーナー試
料原子化装置５は、アセチレン等の可燃性のガスによっ
てフレームを形成し、このフレーム内に霧化された分析
試料を導入することによって加熱原子化する。ここで、
結像素子として、レンズ４を使用しているため、このレ
ンズ４の色収差の影響によって、バーナー試料原子化装
置５のフレーム部における集光位置は、波長によって異
なることになる。しかながら、フレーム部の光軸方向の
長さは、約１００ｍｍ程度あるため、このフレーム部に
おいて、結像位置が１０数ｍｍズレたとしても、その影
響は小さいものである。また、バーナー試料原子化装置
５自体が、その原子化効率やフレームの安定性の点で、
電気加熱炉試料原子化装置３に比べて感度が落ちるた
め、かかる点からもレンズ光学系を使用する影響は少な
い。
【００２０】バーナー試料原子化装置５を通過した光
は、凹面鏡６により集光され、さらに、平面鏡７により
反射されて、分光器の入口スリット８に結像される。分
光器は、入射スリット８，コリメータ鏡９，回折格子１
０，カメラ鏡１１及び出射スリット１２によって構成さ
れている。入口スリット８を通過した光線は、コリメー
タ鏡９で平行光束にされ、回折格子１０により分散され
る。分散された分析目的原子と同じ原子の共鳴吸収線
が、カメラ鏡１１で、出口スリット１２に集光され、ホ
トマルチプライヤー等の光検知器１３に到達する。
は、凹面鏡６により集光され、さらに、平面鏡７により
反射されて、分光器の入口スリット８に結像される。分
光器は、入射スリット８，コリメータ鏡９，回折格子１
０，カメラ鏡１１及び出射スリット１２によって構成さ
れている。入口スリット８を通過した光線は、コリメー
タ鏡９で平行光束にされ、回折格子１０により分散され
る。分散された分析目的原子と同じ原子の共鳴吸収線
が、カメラ鏡１１で、出口スリット１２に集光され、ホ
トマルチプライヤー等の光検知器１３に到達する。
【００２１】光検知器１３によって検出された信号は、
直流増幅器１４によって増幅される。直流増幅器１４
は、ランプ点灯装置２０に同期して増幅するものであ
り、ランプ点灯装置２０からホローカソードランプ１に
供給される電流が、パルス信号の重畳されていないタイ
ミングにおける光検知器１３の出力をホールドして、パ
ルス信号が重畳されているタイミングにおける光検知器
１３の出力の差分をとるように機能することによって、
電気加熱炉試料原子化装置３から発せられる白色光の影
響を低減できる。また、直流増幅器であることから高周
波ノイズ成分が増幅されることもなく、Ｓ／Ｎが改善さ
れ、微弱信号がノイズに埋もれることによる感度の低下
を防止できる。直流増幅器の１４の出力は、データ処理
装置によって処理され、吸光度の表示や、予め求められ
ていた検量線に基づいて、分析試料の濃度を求めること
ができる。
直流増幅器１４によって増幅される。直流増幅器１４
は、ランプ点灯装置２０に同期して増幅するものであ
り、ランプ点灯装置２０からホローカソードランプ１に
供給される電流が、パルス信号の重畳されていないタイ
ミングにおける光検知器１３の出力をホールドして、パ
ルス信号が重畳されているタイミングにおける光検知器
１３の出力の差分をとるように機能することによって、
電気加熱炉試料原子化装置３から発せられる白色光の影
響を低減できる。また、直流増幅器であることから高周
波ノイズ成分が増幅されることもなく、Ｓ／Ｎが改善さ
れ、微弱信号がノイズに埋もれることによる感度の低下
を防止できる。直流増幅器の１４の出力は、データ処理
装置によって処理され、吸光度の表示や、予め求められ
ていた検量線に基づいて、分析試料の濃度を求めること
ができる。
【００２２】バーナー試料原子化装置５を使用する場合
には、電気加熱炉試料原子化装置３を使用しない。ま
た、電気加熱炉試料原子化装置３を使用する場合には、
バーナー試料原子化装置５を使用しない。
には、電気加熱炉試料原子化装置３を使用しない。ま
た、電気加熱炉試料原子化装置３を使用する場合には、
バーナー試料原子化装置５を使用しない。
【００２３】従来の原子吸光光度計においては、ホロー
カソードランプからの発光を、１８００Ｈｚで変調して
いた。この変調は、ホローカソードランプに、電源から
直流に１８００Ｈｚのパルス電流を重畳した電流を供給
するものであり、ホローカソードランプを直流重畳高速
点灯していた。これは、電気加熱炉試料原子化装置自体
が約３０００℃まで加熱されるため、この電気加熱炉試
料原子化装置のキュベットから発せられる白色光の影響
を除去するためであった。
カソードランプからの発光を、１８００Ｈｚで変調して
いた。この変調は、ホローカソードランプに、電源から
直流に１８００Ｈｚのパルス電流を重畳した電流を供給
するものであり、ホローカソードランプを直流重畳高速
点灯していた。これは、電気加熱炉試料原子化装置自体
が約３０００℃まで加熱されるため、この電気加熱炉試
料原子化装置のキュベットから発せられる白色光の影響
を除去するためであった。
【００２４】光検知器であるホトマルチプライヤーに
は、ホローカソードランプからの発光スペクトルとキュ
ベットから発せられる白色光が同時に入射し、それぞ
れ、電気信号に変換されるが、ホローカソードランプか
らの発光は、１８００Ｈｚの交流成分を有し、一方、キ
ュベットから発せられる白色光は直流的な成分であるた
め、光検知器の出力を増幅する増幅器に交流増幅器を使
用することにより、キュベットから発せられる白色光は
除去されていた。
は、ホローカソードランプからの発光スペクトルとキュ
ベットから発せられる白色光が同時に入射し、それぞ
れ、電気信号に変換されるが、ホローカソードランプか
らの発光は、１８００Ｈｚの交流成分を有し、一方、キ
ュベットから発せられる白色光は直流的な成分であるた
め、光検知器の出力を増幅する増幅器に交流増幅器を使
用することにより、キュベットから発せられる白色光は
除去されていた。
【００２５】しかしながら、ホトマルチプライヤーの出
力信号のレベルは低いため、複数段の増幅器で増幅する
と、交流増幅器の発生するノイズ成分も増幅する結果と
なっていた。
力信号のレベルは低いため、複数段の増幅器で増幅する
と、交流増幅器の発生するノイズ成分も増幅する結果と
なっていた。
【００２６】ここで、分析試料の濃度が高濃度である時
には、増幅器で増幅される信号レベルは、ノイズ成分に
比べて十分大きいため、このノイズ成分も分析の妨げと
はならなかったが、検出限界が、例えば、０．３ｐｐｂ
というように低くなると、増幅器で増幅される信号レベ
ルも低下して、ノイズ成分の中に隠れてしまう。その結
果として、従来の原子吸光光度計では、０．３ｐｐｂと
いうような低濃度の分析はできないものであった。
には、増幅器で増幅される信号レベルは、ノイズ成分に
比べて十分大きいため、このノイズ成分も分析の妨げと
はならなかったが、検出限界が、例えば、０．３ｐｐｂ
というように低くなると、増幅器で増幅される信号レベ
ルも低下して、ノイズ成分の中に隠れてしまう。その結
果として、従来の原子吸光光度計では、０．３ｐｐｂと
いうような低濃度の分析はできないものであった。
【００２７】かかる問題を解決するには、交流増幅器を
使用せず、低周波若しくは直流増幅器を使用して、直流
的に信号を扱えばいいが、キュベットから発せられる白
色光の影響を除去するのが難しくなる。特に、ひ素（Ａ
ｓ）やセレン（Ｓｅ）の測定において、この白色光の影
響が顕著となる。即ち、ひ素（Ａｓ）の吸収スペクトル
は、１９３ｎｍであり、セレン（Ｓｅ）の吸収スペクト
ルは、１９６ｎｍである。一方、白色光の発光スペクト
ルは、色温度によって異なるが、色温度が２０００°Ｋ
の場合には、その発光スペクトルのピークは、１４００
ｎｍ付近にあり、しかも、ひ素（Ａｓ）やセレン（Ｓ
ｅ）の吸収スペクトルに相当する紫外域の光は殆ど発し
ていない。それに対して、色温度が３０００°Ｋになる
と、１９０ｎｍ以上の紫外域の発光が大きくなってくる
ので、この影響が顕著となる。
使用せず、低周波若しくは直流増幅器を使用して、直流
的に信号を扱えばいいが、キュベットから発せられる白
色光の影響を除去するのが難しくなる。特に、ひ素（Ａ
ｓ）やセレン（Ｓｅ）の測定において、この白色光の影
響が顕著となる。即ち、ひ素（Ａｓ）の吸収スペクトル
は、１９３ｎｍであり、セレン（Ｓｅ）の吸収スペクト
ルは、１９６ｎｍである。一方、白色光の発光スペクト
ルは、色温度によって異なるが、色温度が２０００°Ｋ
の場合には、その発光スペクトルのピークは、１４００
ｎｍ付近にあり、しかも、ひ素（Ａｓ）やセレン（Ｓ
ｅ）の吸収スペクトルに相当する紫外域の光は殆ど発し
ていない。それに対して、色温度が３０００°Ｋになる
と、１９０ｎｍ以上の紫外域の発光が大きくなってくる
ので、この影響が顕著となる。
【００２８】そこで、本実施例では、電気加熱炉試料原
子化装置の位置を、光源であるホローカソードランプ側
に配置し、バーナー試料原子化装置を電気加熱炉試料原
子化装置と分光器の間に配置した。これによって、従来
は、分光器の入射スリットから凹面鏡６までの距離が約
２２０ｍｍであり、凹面鏡６から従来電気加熱炉試料原
子化装置が配置された位置までの距離が１７０ｍｍであ
ったのに対して、本実施例では、凹面鏡６から電気加熱
炉試料原子化装置３までの距離が４７０ｍｍとなった。
分光器の入射スリット側から見た場合、距離を従来の約
３倍遠くできたので、入射スリットから見込む角度内に
おいて、電気加熱炉試料原子化装置３からの発せられる
白色光の影響は、約１／９に低減できた。
子化装置の位置を、光源であるホローカソードランプ側
に配置し、バーナー試料原子化装置を電気加熱炉試料原
子化装置と分光器の間に配置した。これによって、従来
は、分光器の入射スリットから凹面鏡６までの距離が約
２２０ｍｍであり、凹面鏡６から従来電気加熱炉試料原
子化装置が配置された位置までの距離が１７０ｍｍであ
ったのに対して、本実施例では、凹面鏡６から電気加熱
炉試料原子化装置３までの距離が４７０ｍｍとなった。
分光器の入射スリット側から見た場合、距離を従来の約
３倍遠くできたので、入射スリットから見込む角度内に
おいて、電気加熱炉試料原子化装置３からの発せられる
白色光の影響は、約１／９に低減できた。
【００２９】また、電気回路的にも、光源であるホロー
カソードランプを１００Ｈｚの低周波パルス点灯し、増
幅器に直流増幅器を使用し、さらに、光源の変調周波数
に対して同期して直流分をキャンセルするように増幅す
ることにより、電気加熱炉試料原子化装置からの白色光
の影響を除去できるものである。
カソードランプを１００Ｈｚの低周波パルス点灯し、増
幅器に直流増幅器を使用し、さらに、光源の変調周波数
に対して同期して直流分をキャンセルするように増幅す
ることにより、電気加熱炉試料原子化装置からの白色光
の影響を除去できるものである。
【００３０】また、従来は、光源から発せられた光を第
１の試料原子化装置でバーナー試料原子化装置に集光す
るために、レンズを使用し、さらに、第２の試料原子化
装置である電気加熱炉試料原子化装置に集光するために
も、レンズを使用していた。従って、光源と電気加熱炉
試料原子化装置の間には、２枚のレンズを使用していた
ため、このレンズの色収差の影響による電気加熱炉試料
原子化装置における結像位置のズレの影響があった。電
気加熱炉試料原子化装置に用いるグラファイト製のキュ
ベットは、全長が３０ｍｍ程度の円筒形であり、この中
心の内部に分析試料を載置して高温に加熱して、原子化
するとともに、円筒形のキュベットの両側からキャリア
ガスを流入させることによって、発生した原子蒸気をキ
ュベットの中央部の数ｍｍの範囲内に封じ込めることに
よって、高感度分析を可能にしていた。そして、光学設
計上、５００ｎｍの時に、光源の結像位置が、電気加熱
炉試料原子化装置のキュベットの中央になるように設計
されている。そして、ひ素（Ａｓ）やセレン（Ｓｅ）の
ように、１９０ｎｍで測定する際には、レンズの色収差
によって、その結像位置は、キュベットの中央から光源
側に１５ｍｍ程度ズレることになる。その結果、原子蒸
気の一番濃いキュベット中央部に結像しないため、高感
度分析を阻害する要因となっていた。
１の試料原子化装置でバーナー試料原子化装置に集光す
るために、レンズを使用し、さらに、第２の試料原子化
装置である電気加熱炉試料原子化装置に集光するために
も、レンズを使用していた。従って、光源と電気加熱炉
試料原子化装置の間には、２枚のレンズを使用していた
ため、このレンズの色収差の影響による電気加熱炉試料
原子化装置における結像位置のズレの影響があった。電
気加熱炉試料原子化装置に用いるグラファイト製のキュ
ベットは、全長が３０ｍｍ程度の円筒形であり、この中
心の内部に分析試料を載置して高温に加熱して、原子化
するとともに、円筒形のキュベットの両側からキャリア
ガスを流入させることによって、発生した原子蒸気をキ
ュベットの中央部の数ｍｍの範囲内に封じ込めることに
よって、高感度分析を可能にしていた。そして、光学設
計上、５００ｎｍの時に、光源の結像位置が、電気加熱
炉試料原子化装置のキュベットの中央になるように設計
されている。そして、ひ素（Ａｓ）やセレン（Ｓｅ）の
ように、１９０ｎｍで測定する際には、レンズの色収差
によって、その結像位置は、キュベットの中央から光源
側に１５ｍｍ程度ズレることになる。その結果、原子蒸
気の一番濃いキュベット中央部に結像しないため、高感
度分析を阻害する要因となっていた。
【００３１】それに対して、本実施例では、結像光学系
として、レンズではなく、凹面鏡を使用したため、色収
差の問題は発生しない。従って、ひ素（Ａｓ）やセレン
（Ｓｅ）のような紫外域の測定に際しても、電気加熱炉
試料原子化装置のキュベットの中心の原子蒸気の濃度の
高い位置に結像することができるため、高感度分析が可
能となる。
として、レンズではなく、凹面鏡を使用したため、色収
差の問題は発生しない。従って、ひ素（Ａｓ）やセレン
（Ｓｅ）のような紫外域の測定に際しても、電気加熱炉
試料原子化装置のキュベットの中心の原子蒸気の濃度の
高い位置に結像することができるため、高感度分析が可
能となる。
【００３２】さらに、従来の原子吸光光度計のように、
２枚のレンズを用いるものにあっては、分光器の入射ス
リットの位置における光源の結像位置も、レンズの色収
差の影響でズレるものである。結像位置がズレると、入
射スリットから入射する光の一部がケラレるため、光検
知器に到達する光量が低下し、Ｓ／Ｎ比が低下する。し
かしながら、本実施例のように、結像素子として凹面鏡
を使用することにより、分光器の入射スリット位置にお
ける光源の結像位置のズレも発生しなくなるため、Ｓ／
Ｎ比を向上できるものである。
２枚のレンズを用いるものにあっては、分光器の入射ス
リットの位置における光源の結像位置も、レンズの色収
差の影響でズレるものである。結像位置がズレると、入
射スリットから入射する光の一部がケラレるため、光検
知器に到達する光量が低下し、Ｓ／Ｎ比が低下する。し
かしながら、本実施例のように、結像素子として凹面鏡
を使用することにより、分光器の入射スリット位置にお
ける光源の結像位置のズレも発生しなくなるため、Ｓ／
Ｎ比を向上できるものである。
【００３３】本実施例によれば、試料測定時に白色光を
放射する電気加熱炉試料原子化装置３が、分光器から離
れたところに配置されているために、白色光の中で検知
器に到達する成分を除去し、正しい吸収信号を得ること
が可能である。
放射する電気加熱炉試料原子化装置３が、分光器から離
れたところに配置されているために、白色光の中で検知
器に到達する成分を除去し、正しい吸収信号を得ること
が可能である。
【００３４】また、ホロカソードランプ１からの光線
を、色収差のない凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化
装置３の中央に集光するので、電気加熱炉試料原子化装
置を用いた測定において測定元素によらず常に、キュベ
ット中央の所定の位置に光線が集光され、正しい吸収信
号を得ることができる。
を、色収差のない凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化
装置３の中央に集光するので、電気加熱炉試料原子化装
置を用いた測定において測定元素によらず常に、キュベ
ット中央の所定の位置に光線が集光され、正しい吸収信
号を得ることができる。
【００３５】さらに、電気加熱炉試料原子化装置３を通
過した光は、レンズ４により集光されるため、色収差の
影響を受けるが、従来技術のレンズを２枚組み合わせる
装置よりも、影響が少なく、ホロカソードランプ１から
の光線が、効率よく光検知器１３に入射するので良好な
Ｓ／Ｎ比で測定を行うことが可能である。
過した光は、レンズ４により集光されるため、色収差の
影響を受けるが、従来技術のレンズを２枚組み合わせる
装置よりも、影響が少なく、ホロカソードランプ１から
の光線が、効率よく光検知器１３に入射するので良好な
Ｓ／Ｎ比で測定を行うことが可能である。
【００３６】また、電気加熱炉試料原子化装置３を色収
差のない凹面鏡２の次に配置したのは、電気加熱炉試料
原子化装置３の方がバーナー試料原子化装置５に比べて
光線の通る断面積が小さく色収差の影響を受けやすいか
らである。
差のない凹面鏡２の次に配置したのは、電気加熱炉試料
原子化装置３の方がバーナー試料原子化装置５に比べて
光線の通る断面積が小さく色収差の影響を受けやすいか
らである。
【００３７】次に、図２を用いて、本発明の他の実施例
について説明する。図２は、本発明の他の実施例による
原子吸光光度計の全体構成図である。
について説明する。図２は、本発明の他の実施例による
原子吸光光度計の全体構成図である。
【００３８】光源であるホロカソードランプ１は、分析
目的原子の吸収スペクトルと同じ波長の発光スペクトル
を有する原子の共鳴線の光線を放射する。ホロカソード
ランプ１は、ランプ点灯装置２０から１００Ｈｚの直流
分にパルス信号の重畳されてパルス変調された電流を供
給されており、この電流に同期して、点灯・消灯を繰り
返している。
目的原子の吸収スペクトルと同じ波長の発光スペクトル
を有する原子の共鳴線の光線を放射する。ホロカソード
ランプ１は、ランプ点灯装置２０から１００Ｈｚの直流
分にパルス信号の重畳されてパルス変調された電流を供
給されており、この電流に同期して、点灯・消灯を繰り
返している。
【００３９】ホロカソードランプ１から発せられた光線
は、凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化装置３の中央
に集光される。電気加熱炉試料原子化装置３は、グラフ
ァイト製の円筒形のキュベットから構成され、このキュ
ベットに通電することにより、キュベットを高温に加熱
できる。キュベットの温度を、乾燥，灰化，原子化の各
段階に応じて順次高温化することにより、キュベット内
に導入された分析試料を原子化できる。
は、凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化装置３の中央
に集光される。電気加熱炉試料原子化装置３は、グラフ
ァイト製の円筒形のキュベットから構成され、このキュ
ベットに通電することにより、キュベットを高温に加熱
できる。キュベットの温度を、乾燥，灰化，原子化の各
段階に応じて順次高温化することにより、キュベット内
に導入された分析試料を原子化できる。
【００４０】電気加熱炉試料原子化装置３の中央に集光
された光は、第２の凹面鏡１５により、バーナー試料原
子化装置５のフレーム部中央に集光される。バーナー試
料原子化装置５は、アセチレン等の可燃性のガスによっ
てフレームを形成し、このフレーム内に霧化された分析
試料を導入することによって加熱原子化する。
された光は、第２の凹面鏡１５により、バーナー試料原
子化装置５のフレーム部中央に集光される。バーナー試
料原子化装置５は、アセチレン等の可燃性のガスによっ
てフレームを形成し、このフレーム内に霧化された分析
試料を導入することによって加熱原子化する。
【００４１】バーナー試料原子化装置５を通過した光
は、凹面鏡６により集光され、さらに、平面鏡７により
反射されて、分光器の入口スリット８に結像される。分
光器は、入射スリット８，コリメータ鏡９，回折格子１
０，カメラ鏡１１及び出射スリット１２によって構成さ
れている。入口スリット８を通過した光線は、コリメー
タ鏡９で平行光束にされ、回折格子１０により分散され
る。分散された分析目的原子と同じ原子の共鳴吸収線
が、カメラ鏡１１で、出口スリット１２に集光され、ホ
トマルチプライヤー等の光検知器１３に到達する。
は、凹面鏡６により集光され、さらに、平面鏡７により
反射されて、分光器の入口スリット８に結像される。分
光器は、入射スリット８，コリメータ鏡９，回折格子１
０，カメラ鏡１１及び出射スリット１２によって構成さ
れている。入口スリット８を通過した光線は、コリメー
タ鏡９で平行光束にされ、回折格子１０により分散され
る。分散された分析目的原子と同じ原子の共鳴吸収線
が、カメラ鏡１１で、出口スリット１２に集光され、ホ
トマルチプライヤー等の光検知器１３に到達する。
【００４２】光検知器１３によって検出された信号は、
直流増幅器１４によって増幅される。直流増幅器１４
は、ランプ点灯装置２０に同期して増幅するものであ
り、ランプ点灯装置２０からホローカソードランプ１に
供給される電流が、パルス信号の重畳されていないタイ
ミングにおける光検知器１３の出力をホールドして、パ
ルス信号が重畳されているタイミングにおける光検知器
１３の出力の差分をとるように機能することによって、
電気加熱炉試料原子化装置３から発せられる白色光の影
響を低減できる。また、直流増幅器であることから高周
波ノイズ成分が増幅されることもなく、Ｓ／Ｎが改善さ
れ、微弱信号がノイズに埋もれることによる感度の低下
を防止できる。直流増幅器の１４の出力は、データ処理
装置によって処理され、吸光度の表示や、予め求められ
ていた検量線に基づいて、分析試料の濃度を求めること
ができる。
直流増幅器１４によって増幅される。直流増幅器１４
は、ランプ点灯装置２０に同期して増幅するものであ
り、ランプ点灯装置２０からホローカソードランプ１に
供給される電流が、パルス信号の重畳されていないタイ
ミングにおける光検知器１３の出力をホールドして、パ
ルス信号が重畳されているタイミングにおける光検知器
１３の出力の差分をとるように機能することによって、
電気加熱炉試料原子化装置３から発せられる白色光の影
響を低減できる。また、直流増幅器であることから高周
波ノイズ成分が増幅されることもなく、Ｓ／Ｎが改善さ
れ、微弱信号がノイズに埋もれることによる感度の低下
を防止できる。直流増幅器の１４の出力は、データ処理
装置によって処理され、吸光度の表示や、予め求められ
ていた検量線に基づいて、分析試料の濃度を求めること
ができる。
【００４３】バーナー試料原子化装置５を使用する場合
には、電気加熱炉試料原子化装置３を使用しない。ま
た、電気加熱炉試料原子化装置３を使用する場合には、
バーナー試料原子化装置５を使用しない。
には、電気加熱炉試料原子化装置３を使用しない。ま
た、電気加熱炉試料原子化装置３を使用する場合には、
バーナー試料原子化装置５を使用しない。
【００４４】本実施例によれば、試料測定時に白色光を
放射する電気加熱炉試料原子化装置３が、分光器から離
れたところに配置されているために、白色光の中で検知
器に到達する成分を除去し、正しい吸収信号を得ること
が可能である。
放射する電気加熱炉試料原子化装置３が、分光器から離
れたところに配置されているために、白色光の中で検知
器に到達する成分を除去し、正しい吸収信号を得ること
が可能である。
【００４５】また、ホロカソードランプ１からの光線
を、色収差のない第１の凹面鏡２により電気加熱炉試料
原子化装置３の中央に、色収差のない第２の凹面鏡１５
によりバーナー試料原子化装置５のフレーム部中央にそ
れぞれ集光するので、電気加熱炉試料原子化装置を用い
た測定、バーナー試料原子化装置を用いた測定、いずれ
の場合も測定元素によらず、常に所定の位置に光線が集
光されるため、正しい吸収信号を得ることができる。
を、色収差のない第１の凹面鏡２により電気加熱炉試料
原子化装置３の中央に、色収差のない第２の凹面鏡１５
によりバーナー試料原子化装置５のフレーム部中央にそ
れぞれ集光するので、電気加熱炉試料原子化装置を用い
た測定、バーナー試料原子化装置を用いた測定、いずれ
の場合も測定元素によらず、常に所定の位置に光線が集
光されるため、正しい吸収信号を得ることができる。
【００４６】さらに、色収差を持つレンズを使用してい
ないために、測定元素によらず、常に分光器の入口スリ
ット８にホロカソードランプ１からの光線が結像するの
で、良好なＳ／Ｎ比で測定を行うことが可能である。
ないために、測定元素によらず、常に分光器の入口スリ
ット８にホロカソードランプ１からの光線が結像するの
で、良好なＳ／Ｎ比で測定を行うことが可能である。
【００４７】次に、図３を用いて、本発明のその他の実
施例について説明する。図３は、本発明のその他の実施
例による原子吸光光度計の全体構成図である。
施例について説明する。図３は、本発明のその他の実施
例による原子吸光光度計の全体構成図である。
【００４８】光源であるホロカソードランプ１は、分析
目的原子の吸収スペクトルと同じ波長の発光スペクトル
を有する原子の共鳴線の光線を放射する。ホロカソード
ランプ１は、ランプ点灯装置２０から１００Ｈｚの直流
分にパルス信号の重畳されてパルス変調された電流を供
給されており、この電流に同期して、点灯・消灯を繰り
返している。
目的原子の吸収スペクトルと同じ波長の発光スペクトル
を有する原子の共鳴線の光線を放射する。ホロカソード
ランプ１は、ランプ点灯装置２０から１００Ｈｚの直流
分にパルス信号の重畳されてパルス変調された電流を供
給されており、この電流に同期して、点灯・消灯を繰り
返している。
【００４９】ホロカソードランプ１から発せられた光線
は、凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化装置３の中央
に集光される。電気加熱炉試料原子化装置３は、グラフ
ァイト製の円筒形のキュベットから構成され、このキュ
ベットに通電することにより、キュベットを高温に加熱
できる。キュベットの温度を、乾燥，灰化，原子化の各
段階に応じて順次高温化することにより、キュベット内
に導入された分析試料を原子化できる。
は、凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化装置３の中央
に集光される。電気加熱炉試料原子化装置３は、グラフ
ァイト製の円筒形のキュベットから構成され、このキュ
ベットに通電することにより、キュベットを高温に加熱
できる。キュベットの温度を、乾燥，灰化，原子化の各
段階に応じて順次高温化することにより、キュベット内
に導入された分析試料を原子化できる。
【００５０】電気加熱炉試料原子化装置３の中央に集光
された光は、バーナー試料原子化装置５のフレーム部を
通過する。バーナー試料原子化装置５は、アセチレン等
の可燃性のガスによってフレームを形成し、このフレー
ム内に霧化された分析試料を導入することによって加熱
原子化する。
された光は、バーナー試料原子化装置５のフレーム部を
通過する。バーナー試料原子化装置５は、アセチレン等
の可燃性のガスによってフレームを形成し、このフレー
ム内に霧化された分析試料を導入することによって加熱
原子化する。
【００５１】バーナー試料原子化装置５を通過した光
は、凹面鏡６により集光され、さらに、平面鏡７により
反射されて、分光器の入口スリット８に結像される。分
光器は、入射スリット８，コリメータ鏡９，回折格子１
０，カメラ鏡１１及び出射スリット１２によって構成さ
れている。入口スリット８を通過した光線は、コリメー
タ鏡９で平行光束にされ、回折格子１０により分散され
る。分散された分析目的原子と同じ原子の共鳴吸収線
が、カメラ鏡１１で、出口スリット１２に集光され、ホ
トマルチプライヤー等の光検知器１３に到達する。
は、凹面鏡６により集光され、さらに、平面鏡７により
反射されて、分光器の入口スリット８に結像される。分
光器は、入射スリット８，コリメータ鏡９，回折格子１
０，カメラ鏡１１及び出射スリット１２によって構成さ
れている。入口スリット８を通過した光線は、コリメー
タ鏡９で平行光束にされ、回折格子１０により分散され
る。分散された分析目的原子と同じ原子の共鳴吸収線
が、カメラ鏡１１で、出口スリット１２に集光され、ホ
トマルチプライヤー等の光検知器１３に到達する。
【００５２】光検知器１３によって検出された信号は、
直流増幅器１４によって増幅される。直流増幅器１４
は、ランプ点灯装置２０に同期して増幅するものであ
り、ランプ点灯装置２０からホローカソードランプ１に
供給される電流が、パルス信号の重畳されていないタイ
ミングにおける光検知器１３の出力をホールドして、パ
ルス信号が重畳されているタイミングにおける光検知器
１３の出力の差分をとるように機能することによって、
電気加熱炉試料原子化装置３から発せられる白色光の影
響を低減できる。また、直流増幅器であることから高周
波ノイズ成分が増幅されることもなく、Ｓ／Ｎが改善さ
れ、微弱信号がノイズに埋もれることによる感度の低下
を防止できる。直流増幅器の１４の出力は、データ処理
装置によって処理され、吸光度の表示や、予め求められ
ていた検量線に基づいて、分析試料の濃度を求めること
ができる。
直流増幅器１４によって増幅される。直流増幅器１４
は、ランプ点灯装置２０に同期して増幅するものであ
り、ランプ点灯装置２０からホローカソードランプ１に
供給される電流が、パルス信号の重畳されていないタイ
ミングにおける光検知器１３の出力をホールドして、パ
ルス信号が重畳されているタイミングにおける光検知器
１３の出力の差分をとるように機能することによって、
電気加熱炉試料原子化装置３から発せられる白色光の影
響を低減できる。また、直流増幅器であることから高周
波ノイズ成分が増幅されることもなく、Ｓ／Ｎが改善さ
れ、微弱信号がノイズに埋もれることによる感度の低下
を防止できる。直流増幅器の１４の出力は、データ処理
装置によって処理され、吸光度の表示や、予め求められ
ていた検量線に基づいて、分析試料の濃度を求めること
ができる。
【００５３】バーナー試料原子化装置５を使用する場合
には、電気加熱炉試料原子化装置３を使用しない。ま
た、電気加熱炉試料原子化装置３を使用する場合には、
バーナー試料原子化装置５を使用しない。
には、電気加熱炉試料原子化装置３を使用しない。ま
た、電気加熱炉試料原子化装置３を使用する場合には、
バーナー試料原子化装置５を使用しない。
【００５４】本実施例によれば、試料測定時に白色光を
放射する電気加熱炉試料原子化装置３が、分光器から離
れたところに配置されているために、白色光の中で検知
器に到達する成分を除去し、正しい吸収信号を得ること
が可能である。
放射する電気加熱炉試料原子化装置３が、分光器から離
れたところに配置されているために、白色光の中で検知
器に到達する成分を除去し、正しい吸収信号を得ること
が可能である。
【００５５】また、ホロカソードランプ１からの光線
を、色収差のない凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化
装置３の中央に集光し、バーナー試料原子化装置５のフ
レーム部中央を通過させるので、電気加熱炉試料原子化
装置を用いた測定、バーナー試料原子化装置を用いた測
定、いずれの場合も測定元素によらず、常に所定の位置
に光線が集光されるため、正しい吸収信号を得ることが
できる。
を、色収差のない凹面鏡２により電気加熱炉試料原子化
装置３の中央に集光し、バーナー試料原子化装置５のフ
レーム部中央を通過させるので、電気加熱炉試料原子化
装置を用いた測定、バーナー試料原子化装置を用いた測
定、いずれの場合も測定元素によらず、常に所定の位置
に光線が集光されるため、正しい吸収信号を得ることが
できる。
【００５６】さらに、色収差を持つレンズを使用してい
ないために、測定元素によらず、常に分光器の入口スリ
ット８にホロカソードランプ１からの光線が結像するの
で、良好なＳ／Ｎ比で測定を行うことが可能である。
ないために、測定元素によらず、常に分光器の入口スリ
ット８にホロカソードランプ１からの光線が結像するの
で、良好なＳ／Ｎ比で測定を行うことが可能である。
【００５７】また、凹面鏡は、１枚のみであるため、光
学系が簡単になる。バーナー試料原子化装置において
は、結像されていないが、フレームは、長さは、１００
ｍｍ程度あるため、ｐｐｍオーダーの低感度分析は可能
である。特に、本実施例は、電気加熱炉試料原子化装置
やバーナー試料原子化装置にゼーマン効果によるバック
グラウンド補正のための、磁石を用いない原子吸光光度
計においては、電気加熱炉試料原子化装置とバーナー試
料原子化装置との距離を短くできるため、適用可能なも
のである。
学系が簡単になる。バーナー試料原子化装置において
は、結像されていないが、フレームは、長さは、１００
ｍｍ程度あるため、ｐｐｍオーダーの低感度分析は可能
である。特に、本実施例は、電気加熱炉試料原子化装置
やバーナー試料原子化装置にゼーマン効果によるバック
グラウンド補正のための、磁石を用いない原子吸光光度
計においては、電気加熱炉試料原子化装置とバーナー試
料原子化装置との距離を短くできるため、適用可能なも
のである。
【００５８】
【発明の効果】本発明によれば、原子吸光光度計におけ
る分析をより高感度に行えるものとなる。
る分析をより高感度に行えるものとなる。
【００５９】
【図１】本発明の一実施例の原子吸光光度計のブロック
構成図である。
構成図である。
【図２】本発明の他の実施例の原子吸光光度計のブロッ
ク構成図である。
ク構成図である。
【図３】本発明のその他の実施例の原子吸光光度計のブ
ロック構成図である。
ロック構成図である。
１…ホロカソードランプ ２…凹面鏡 ３…電気加熱炉試料原子化装置 ４…レンズ ５…バーナー試料原子化装置 ６…凹面鏡 ７…平面鏡 ８…入口スリット ９…コリメータ鏡 １０…回折格子 １１…カメラ鏡 １２…出口スリット １３…光検知器 １４…直流増幅器 １５…データ処理装置 １６…凹面鏡 ２０…ランプ点灯装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 戸辺 早人 茨城県ひたちなか市市毛882番地 株式会 社日立製作所計測器事業部内 (72)発明者 照井 康 茨城県ひたちなか市市毛882番地 株式会 社日立製作所計測器事業部内
Claims (4)
- 【請求項１】 光源から光検知器に至る光路上に直列的
に２種類以上の試料原子化装置を配置し、この２種類以
上の試料原子化装置を選択的に使用するように構成され
た原子吸光分光光度計において、 上記光源に近接して電気加熱炉試料原子化装置を配置
し、 この電気加熱炉試料原子化装置と上記光検知器の間に、
バーナー試料原子化装置を配置したことを特徴とする原
子吸光光度計。 - 【請求項２】 請求項１記載の原子吸光光度計におい
て、さらに、 上記光源に直流電流に低周波のパルス電流を重畳した点
灯用電流を供給するランプ点灯手段と、 上記光検知器の出力信号を低周波増幅する低周波増幅手
段を備え、 上記低周波増幅手段は、上記ランプ点灯手段が上記光源
に供給する点灯電流に同期して増幅することを特徴とす
る原子吸光光度計。 - 【請求項３】 請求項１記載の原子吸光光度計におい
て、 上記光源から発せられた光を上記電気加熱炉試料原子化
装置の中央部に集光する結像素子として凹面鏡を使用し
たことを特徴とする原子吸光光度計。 - 【請求項４】 請求項３記載の原子吸光光度計におい
て、 上記電気加熱炉試料原子化装置に集光された光を、さら
に、上記バーナー試料原子化装置に集光する結像素子と
して凹面鏡を使用したことを特徴とする原子吸光光度
計。
Priority Applications (3)
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|---|---|---|---|
| JP7241375A JPH0989763A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 原子吸光分光光度計 |
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| JP7241375A JPH0989763A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 原子吸光分光光度計 |
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|---|---|---|---|
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