JP2012083250A - 電子部品の電気特性測定治具 - Google Patents

Abstract

【課題】電子部品の外部電極との接触が安定し、電子部品の外部電極が摩耗しにくい接触端子を備えた電気特性測定治具を提供する。
【解決手段】電気特性測定治具２０は、基板２１と、基板２１の主面２１ａに形成された接触端子２４とを備え、接触端子２４に電子部品１０の外部電極１２が押し付けられる。接触端子２４は、はんだにより形成されている。
【選択図】図１

Description

本発明は、電子部品の電気特性測定治具に関し、詳しくは、電子部品の外部電極に接触させるための接触端子を備えた電気特性測定治具に関する。

従来、電子部品の外部電極に接触させるための接触端子を備えた電気特性測定治具が種々提案されている。

例えば図４の要部斜視図に示す電気特性測定治具は、基板１１０の上面に形成された導体パターン１１２の一部に、導電性の接触端子１２０が形成されている。接触端子１２０には、電子部品の外部電極を接触させる。

図５の拡大断面図に示すように、接触端子１２０は、硬質粉末粒子１２２，１２３が添加された銀ペースト１２１を硬化させることにより形成する。接触端子１２０は、電子部品の外部電極１３０の表面に酸化膜１３１が形成されている場合、硬質粉末粒子１２２，１２３による研磨作用で安定した接触状態が得られる。長時間使用して接触端子１２０の表面が摩耗しても、新たな硬質粉末粒子が表面に現れるので、耐久性があるとされている。

特許第４１１９２６６号公報

図４及び図５の電気特性測定治具の接触端子は、耐久性があっても摩耗する。接触端子が一旦摩耗すると、接触端子だけを作り直して電気特性測定治具を再利用することが困難である。

また、製造ラインにおいて電子部品の電気特性を測定する場合、基準となる電子部品（標準試料）を測定し、測定系を校正する。校正には同じ標準試料を用いることで、測定の信頼性を確保できる。

しかし、接触端子が硬質粉末粒子を含む電気特性測定治具を用いて、校正のため標準試料の測定を繰り返すと、標準試料の外部電極が摩耗する。摩耗が進むと標準試料の接触状態が不安定になり、標準試料を正しく測定できない。標準試料を正しく測定できないと、測定系を正しく校正できないため、測定系の測定精度が低下する。

本発明は、かかる実情に鑑み、電子部品の外部電極との接触が安定し、電子部品の外部電極が摩耗しにくい接触端子を備えた電気特性測定治具を提供しようとするものである。

本発明は、上記課題を解決するために、以下のように構成した電気特性測定治具を提供する。

電気特性測定治具は、基板と、前記基板の主面に形成された接触端子とを備え、前記接触端子に電子部品の外部電極が押し付けられる。前記接触端子は、はんだにより形成されている。

上記構成によれば、はんだは変形しやすく弾性があるため、はんだにより形成されている接触端子は、電子部品の外部電極が押し付けられると、外部電極の表面形状に沿って変形した後、外部電極の表面形状に沿って接触している状態を保持する。接触端子は、外部電極の表面形状に沿う面全体が外部電極に接触する。そのため、外部電極との接触が安定する。はんだにより形成されている接触端子は、硬質粉末粒子が混合された接触端子に比べ、接触端子に押し付けられた電子部品の外部電極が摩耗しにくい。

はんだにより形成されている接触端子は、摩耗あるいは変形が進んだ場合、加熱により容易に形状を整えることができ、簡単に再生できる。

好ましくは、前記接触端子の面積は、当該接触端子に押し付けられる前記電子部品の前記外部電極の面積よりも大きい。

この場合、接触端子と電子部品の外部電極との接触面積を大きくすることができるので、より安定して測定できる。また、電気特性測定治具において接触端子が接合されている面積が大きくなるため、接触端子は、より剥がれにくくなる。

また、本発明は上記各構成の電気特性測定治具を用いた電子部品の電気特性測定方法を提供する。

電子部品の電気特性測定方法は、（ｉ）上記いずれかの構成の電気特性測定治具の前記接触端子に、前記電子部品の前記外部電極を押し付けて、前記電子部品の電気特性を測定する第１の工程と、（ii）前記第１の工程を繰り返した後に、前記接触端子を形成する前記はんだの融点以上の温度で前記接触端子を加熱する第２の工程とを備える。

この場合、第２の工程により電気特性測定治具の接触端子の形状を整え、電子部品の電気特性を安定して測定できる状態を維持できる。これにより、電子部品の電気特性の測定に、電気特性測定治具を繰り返し使用できる。

本発明によれば、電子部品の外部電極との接触が安定し、電子部品の外部電極が摩耗しにくい接触端子を備えた電気特性測定治具を提供することができる。

電気特性測定治具の側面図である。（実施例１） 電気特性測定治具の要部側面図である。（実施例１） 電気特性測定治具の平面図である。（実施例１） 電気特性測定治具の要部斜視図である。（従来例） 電気特性測定治具の拡大断面図である。（従来例）

本発明の実施の形態として、図面を参照しながら実施例を説明する。

＜実施例１＞ 実施例１の電子部品１０の電気特性測定治具２０について、図１〜図３を参照しながら説明する。

図１は、電気特性測定治具２０の側面図である。図３は、図１の線Ｘ−Ｘに沿って見た電気特性測定治具２０の平面図である。図１及び図３は、電気特性測定治具２０を用いて電子部品１０を測定する直前の状態を示している。

図１及び図３に示すように、電気特性測定治具２０は、絶縁体である基板２１の上面２１ａに、導電性を有する複数の導体パターン２２が形成されている。導体パターン２２の基端は、不図示の測定装置に接続されている。導体パターン２２の先端には、接触端子２４が形成されている。接触端子２４は、測定対象である電子部品１０の外部電極１２に対応して形成される。

接触端子２４は、はんだを用いて形成する。すなわち、導体パターン２２の先端に、はんだペーストを塗布し、加熱により溶融して、盛り上がった形状に形成する。接触端子２４の形成には、Ｐｂ−Ｓｎの合金、又はＳｎ−Ａｇ，Ｓｎ−Ｂｉを含む合金（鉛フリーはんだ）などのはんだを用いる。はんだは、低融点のろう付けに用いられるため、弾性がある。

図１に示すように、電気特性測定治具２０を用いて電子部品１０の電気特性を測定するとき、電気特性測定治具２０の上に電子部品１０を配置する。このとき、電子部品１０の下面１０ｂに形成されている外部電極１２が、それぞれ、電気特性測定治具２０の接触端子２４に対向するように、電子部品１０を位置決めする。次いで、矢印１８で示すように、電子部品１０の上面１０ａを所定の大きさの測定荷重で押圧し、電子部品１０の外部電極１２を電気特性測定治具２０の接触端子２４に押し付ける。

ここで、電子部品１０の外部電極１２の接触端子２４はたとえば、Ｎｉ，Ｃｕを主成分とする合金で形成される。このため、外部電極１２は一般的にはんだで形成された接触端子２４よりも変形しにくい。

これにより、図２（ａ）の要部側面図に示すように電気特性測定治具２０の接触端子２４に対向する電子部品１０の外部電極１２が、図２（ｂ）の要部側面図に示すように電気特性測定治具２０の接触端子２４に当接し、電気特性測定治具２０の接触端子２４を押しつぶす。

電気特性測定治具２０の接触端子２４を形成するはんだは弾性があるため、電子部品１０の外部電極１２の表面形状に沿って変形した後、外部電極１２の表面形状に沿って接触している状態を保持する。接触端子２４は、外部電極１２の表面形状に沿う面全体が外部電極１２に接触する。そのため、外部電極１２との接触が安定する。つまり、電気特性測定治具２０の接触端子２４は、電子部品１０の外部電極１２と安定して接触させることができる。

はんだを用いて形成された電気特性測定治具２０の接触端子２４は、熱を加えることにより、容易に形状を整えることができるので、電気特性測定治具２０の接触端子２４の摩耗あるいは変形が進んだ場合に、簡単に元の形状に戻し、再生することができる。例えば、電気特性測定治具２０の接触端子２４のはんだの変形が大きくなってきたら、リフロー炉で加熱して、形状を容易に整えることができる。

電気特性測定治具２０の接触端子２４の形状を整えると、電子部品の電気特性を安定して測定できる状態を維持できので、電子部品の電気特性の測定に、電気特性測定治具２０を繰り返し使用できる。

電気特性測定治具２０の接触端子２４の高さは、はんだペーストの塗布時に用いるメタルマスクの厚さを変えることにより調整できる。例えば、電子部品１０の下面１０ｂに段差がある場合、電気特性測定治具２０の接触端子２４のはんだの高さを変えるだけで対応でき、別個の電気特性測定治具を準備する必要がない。

図３に示すように、電気特性測定治具２０の接触端子２４の面積は、それぞれの接触端子２４に押し付けられる電子部品１０の外部電極１２よりも大きくすることが好ましい。

この場合、接触端子２４と電子部品１０の外部電極１２との接触面積を大きくすることができるので、より安定して測定できる。また、電気特性測定治具２０の導体パターン２２と接触端子２４との接合面積が大きくなるため、接触端子２４は、より剥がれにくくなる。

さらには、電気特性測定治具２０の接触端子２４と電子部品１０の外部電極１２との位置ずれの許容範囲が広くなり、測定作業が容易になる。

＜まとめ＞ はんだを用いて接触端子を形成することにより、接触端子は電子部品の外部電極との接触が安定する。また、電子部品の外部電極が摩耗しにくい。

なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、種々変更を加えて実施することが可能である。

例えば、電子部品の電気特性を測定するときに、電気特性測定治具と電子部品との間に異方性導電シートを配置して、電気特性測定治具の接触端子と電子部品の外部電極とが異方性導電シートを介して電気的に接続されるようにしてもよい。

また、電気特性測定治具の基板の主面に導体パターンを設ける代わりに、基板を貫通する貫通導体を形成し、この貫通導体に接触端子が接合されるように構成してもよい。

１０ 電子部品
１２ 外部電極
２０ 電気特性測定治具
２２ 導体パターン
２４ 接触端子

Claims (3)

1. 基板と、
   前記基板の主面に形成された接触端子と、
   を備え、
   前記接触端子に電子部品の外部電極が押し付けられる、電気特性測定治具において、
   前記接触端子は、はんだにより形成されていることを特徴とする、電気特性測定治具。
2. 前記接触端子の面積は、当該接触端子に押し付けられる前記電子部品の前記外部電極の面積よりも大きいことを特徴とする、請求項１に記載の電子部品特性測定治具。
3. 請求項１又は請求項２に記載の電気特性測定治具の前記接触端子に、前記電子部品の前記外部電極を押し付けて、前記電子部品の電気特性を測定する第１の工程と、
   前記第１の工程を繰り返した後に、前記接触端子を形成する前記はんだの融点以上の温度で前記接触端子を加熱する第２の工程と、
   を備えたことを特徴とする、電子部品の電気特性の測定方法。

Images