JP2012021863A - 解析装置及び解析方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 信号処理手段において、キャリブレーション試料を測定して得られた複数の波長帯域の強度を記憶し、前記複数の波長帯域ごとの強度の分布を算出、表示する。
【選択図】 図1
Description
しかし、回折格子のような分光手段とマルチ検出器を用いた装置構成にした場合、図16で示したように、試料を測定する前に、目的蛍光を検出するための波長帯域を予め設定する必要がある。
このように、蛍光補正を行い,図22の状態にすると,(帯域Λ1’の強度)=(試料1(蛍光色素1)の発光強度)とすることができ、一種類の蛍光色素の発光を一つの強度で代表させることができる。
102:フローセル
103:分光手段
104:フォトマルチプライヤー(PMT)
105:A/D変換器
106:信号処理手段
111:蛍光強度を表す軸
112:波長を表す軸
113:蛍光スペクトルを表す曲線
114:蛍光スペクトルを表す曲線
115:周波数範囲Λ1
116:周波数範囲Λ2
121:波長λ3の強度を表す軸
122:波長λ14の強度を表す軸
123:蛍光色素Aが発光した際に測定される信号の分布を表す記号
124:蛍光色素Bが発光した際に測定される信号の分布を表す記号
125:波長帯域Λ1の強度を表す軸
126:波長帯域Λ2の強度を表す軸
127:蛍光色素Aが発光した際に測定される信号の分布が広がる方向を示す破線
128:蛍光色素Bが発光した際に測定される信号の分布が広がる方向を示す破線
210:記憶手段
220:蛍光スペクトルデータ取得手段
230:スペクトル情報算出手段
240:表示手段
250:帯域設定手段
260:波長帯域強度算出手段
270:測定精度評価情報算出手段
280:カットオフ値設定手段
300:平均蛍光スペクトル表示エリア
301:試料1中の粒子の平均蛍光スペクトル
302:試料2中の粒子の平均蛍光スペクトル
303:試料3中の粒子の平均蛍光スペクトル
311:標準偏差を表すバー
320:帯域設定エリア
321:帯域1の範囲を表す矢印
322:帯域2の範囲を表す矢印
323:帯域3の範囲を表す矢印
400:帯域強度情報表示エリア
401:各帯域の蛍光強度を表す軸
402:帯域を表す軸
411:各帯域における蛍光強度の平均値を表すバー
412:各帯域における蛍光強度の標準偏差を表すバー
413:カットオフ値を表す破線
501:帯域1の信号強度を表す軸
502:帯域2の信号強度を表す軸
503:帯域1の強度に設定されたカットオフ値を示す一点鎖線
504:帯域2の強度に設定されたカットオフ値を示す一点鎖線
505:キャリブレーション試料1の帯域強度分布範囲を示す楕円
506:キャリブレーション試料2の帯域強度分布範囲を示す楕円
507:分布の重なりを示す領域。
510:確率を表す軸
511:キャリブレーション試料1の確率分布
512:キャリブレーション試料2の確率分布
513:帯域1の強度に設定されたカットオフ値を示す一点鎖線。
514:分布の重なりを示す領域。
610:蛍光染色された試料
620:シース液
630:フローセル
640:電気信号処理部
650:レーザー光
660:ダイクロイックミラー
670:バンドパスフィルター
680:フォトマルチプライヤー(PMT)
690:専用ソフトウェア
700:蛍光強度を表す軸
705:波長を表す軸
710:蛍光スペクトルを示す曲線
720:蛍光スペクトルを示す曲線
730:蛍光スペクトルを示す曲線
740:蛍光スペクトルの重なりを示す領域
750:従来方式で設定される検出波長帯域
760:分光器とマルチ検出器を用いて設定される検出波長帯域
770:一個の検出器で検出される波長帯域
801:帯域強度を表す軸
802:帯域強度を表す軸
803:帯域の番号を選択するリストボックス
804:帯域の番号を選択するリストボックス
805:試料1の帯域強度の分布を表す記号
806:試料2の帯域強度の分布を表す記号
807:試料の種類を選択するチェックボックス
809:カットオフ値を表す一点鎖線
810:カットオフ値を表す一点鎖線
901:帯域1の信号強度を表す軸。
902:帯域2の信号強度を表す軸。
903:試料1の帯域強度の分布を表す記号
904:試料2の帯域強度の分布を表す記号
905:試料1の信号強度分布の主軸
906:試料2の信号強度分布の主軸
907:試料1の信号強度から、試料2の信号強度分布主軸へ降ろした垂線
908:試料1の信号強度の、試料2の信号強度分布主軸への射影成分の分布形状を表す曲線
1001:蛍光補正後の帯域強度を表す軸
1002:蛍光補正後の帯域強度を表す軸
1003:検体中の粒子が発する蛍光の、蛍光補正後の帯域強度分布を表す記号
1004:検体中の粒子が発する蛍光の、蛍光補正後の帯域強度分布を表す記号
Claims (15)
- 光源と、
前記光源からの光を受けて光を発する試料を流すフローセルと、
前記試料から発せられた光を分光する分光手段と、
前記分光手段から出力された光を異なる波長毎に検出する複数の検出器を備えた検出部と、
前記検出部により検出された光の信号を信号処理する処理手段と、
前記信号処理への指示入力を受け付ける入力手段と、
前記信号処理された結果を格納する記憶部と、
処理された結果を表示する出力部と、を備え、
前記記憶部は、複数の異なる試料について、検出された光信号を、前記複数の検出器毎に格納しており、前記光信号について前記複数の検出器における強度を、前記異なる試料毎に前記出力部に表示し、前記複数の検出器のうち少なくともひとつの検出器が検出する波長帯域を前記入力手段により設定させる帯域設定手段と、を有することを特徴とする解析装置。 - 前記帯域設定手段により設定された波長帯域の光信号の強度を算出し、前記複数の異なる試料毎に前記記憶部に格納する波長帯域強度算出手段を有することを特徴とする請求項1記載の解析装置。
- 前記波長帯域強度算出手段により記憶装置に格納された前記複数の異なる試料毎の前記波長帯域の光信号の強度を前記出力部に出力し、一定の強度以下の信号を棄却するための強度値を前記入力手段により設定させ、設定された強度値を前記記憶部に格納するカットオフ値設定手段を有することを特徴とする請求項2記載の解析装置。
- 前記カットオフ値設定手段による設定によって棄却された率を算出して前記記憶部に格納し、前記帯域設定手段により設定された波長帯域について、前記波長帯域の棄却部分を除き、前記複数の異なる試料のうちの第1の試料と第2の試料における帯域強度分布の重なりを算出し前記出力部に出力する測定精度評価算出手段を有することを特徴とする請求項3記載の解析装置。
- 前記入力手段は、前記帯域設定手段により設定された波長帯域から2つを選択させる波長帯域選択手段と、前記複数の異なる試料のうち少なくとも1つを選択させる試料選択手段とを有し、前記波長帯域選択手段と前記試料選択手段により選択された波長帯域における試料の光信号の強度を前記記憶部から取り出し、前記強度の前記波長帯域における分布を前記出力部に表示することを特徴とする請求項2記載の解析装置。
- 前記処理手段は、前記複数の異なる試料のうち第1の試料の主軸を算出し、前記複数の異なる試料のうち第2の試料の帯域強度分布の前記第1の試料の主軸方向への射影成分の分布を算出して前記記憶部に格納し、前記出力部は、前記射影成分の分布を出力することを特徴とする請求項1記載の解析装置。
- 前記試料は、同じ色素により標識された複数の粒子であり、前記処理手段は、複数の粒子からの光の信号の平均スペクトルと標準偏差を算出して、前記出力部に表示することを特徴とする請求項1記載の解析装置。
- 前記複数の異なる試料は、異なる色素によりそれぞれ標識された試料であることを特徴とする請求項1記載の解析装置。
- 前記試料は、粒子であることを特徴とする請求項1記載の解析装置。
- 前記試料は、細胞又はビーズであることを特徴とする請求項1記載の解析装置。
- 光源と、試料を流すフローセルと、前記光源からの光により前記フローセルを流れる試料から発せられた光を分光する分光手段と、前記分光手段から出力された光を異なる波長毎に検出する複数の検出器と、前記検出器により検出された光信号を処理する処理手段と、データの記憶部と、前記処理手段への入力を行う入力手段と、処理結果を出力する出力部とを用いた解析方法であって、
前記記憶部は、フローセルに流された複数の異なる試料それぞれについて検出された光信号を、前記複数の検出器毎に記憶しており、
前記複数の検出器における光信号の強度を、前記異なる試料毎に前記出力部に表示する工程と、
前記複数の検出器のうち少なくとも一つの検出器が検出する波長帯域を入力手段により設定させる工程と、
前記設定された波長帯域を前記記憶部に格納する工程と、
前記フローセルに流される検体からの光を前記検出器により検出する工程と、
前記設定された波長帯域を用い、前記検体の信号を前記出力部に出力する工程と、
を有することを特徴とする解析方法。 - 前記複数の異なる試料毎に、前記設定された波長帯域における光信号の強度を出力部に出力する工程と、
出力された光信号において、一定強度以下の信号を棄却するための強度値を入力手段により入力させて前記記憶部に記憶する工程とを有する請求項11記載の解析方法。 - 前記処理手段は、前記一定強度以下の信号を棄却するための強度値により棄却された率を算出し、前記設定された波長帯域について、前記波長帯域の棄却部分を除き、複数の異なる試料の第1の試料と第2の試料における帯域強度分布の重なりを算出して前記出力部に出力する工程と有することを特徴とする請求項12記載の解析方法。
- 前記複数の異なる試料のうち第1の試料の主軸を算出し、前記複数の異なる試料のうち第2の試料の帯域強度分布の前記第1の試料の主軸方向への射影成分の分布を算出して前記記憶部に格納する工程と、前記射影成分の分布を前記出力部に出力することを特徴とする請求項11記載の解析方法。
- 前記試料は、同じ色素により標識された複数の粒子であり、前記処理手段は、前記複数の粒子からの光の信号の平均スペクトルと標準偏差を算出する工程と、前記平均スペクトルと標準偏差を前記出力部に表示する工程とを有することを特徴とする請求項11記載の解析方法。
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