JP2011503772A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011503772A5 JP2011503772A5 JP2010530106A JP2010530106A JP2011503772A5 JP 2011503772 A5 JP2011503772 A5 JP 2011503772A5 JP 2010530106 A JP2010530106 A JP 2010530106A JP 2010530106 A JP2010530106 A JP 2010530106A JP 2011503772 A5 JP2011503772 A5 JP 2011503772A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal
- composition
- containing additive
- silver
- mixtures
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims 26
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims 13
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 claims 13
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims 11
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 10
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims 10
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims 10
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 7
- NDVLTYZPCACLMA-UHFFFAOYSA-N silver oxide Chemical compound [O-2].[Ag+].[Ag+] NDVLTYZPCACLMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 6
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims 5
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 claims 4
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 claims 4
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims 4
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims 4
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 claims 4
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 claims 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 4
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims 4
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims 4
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims 4
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims 4
- 229910015902 Bi 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims 3
- 229910001923 silver oxide Inorganic materials 0.000 claims 3
- GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N sodium;9,10-dioxoanthracene-2-sulfonic acid Chemical compound [Na+].C1=CC=C2C(=O)C3=CC(S(=O)(=O)O)=CC=C3C(=O)C2=C1 GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims 1
Claims (8)
- (1)
a)銀金属、酸化銀、銀塩およびこれらの混合物からなる群から選択される導電性金属;
b)全ガラス組成物の重量%を基準にして、0.1〜8重量%のSiO2、8〜25重量%のB2O3、0〜15重量%のBiF3、および28〜85重量%のBi2O3を含むガラスフリット;
c)Mg、Mgの金属酸化物、焼成の際にMgの金属酸化物を生成することができる任意の化合物、およびそれらの混合物からなる群から選択されるMg含有添加剤であって、前記Mg含有添加剤が、全組成物の0.1〜10重量%であるもの、および
d)有機媒体を含み、
前記導電性金属、前記ガラスフリット、および前記Mg含有添加剤が、全て前記有機媒体中に分散されている厚膜組成物と;
(2)1つまたは複数の基材と;
(3)1つまたは複数の絶縁膜と
を含む構造物であり;
焼成の際に、前記有機媒体が除去され、前記ガラスフリットと銀粉末とが焼結され、前記1つまたは複数の絶縁膜に前記圧膜組成物の成分が浸透し、且つ、前記構造物が半導体デバイスである構造物。 - 前記Mg含有添加剤がMgOである請求項1に記載の構造物。
- 前記半導体デバイスが太陽電池である請求項1または2に記載の構造物。
- 前記厚膜組成物が、(a)Zn、Gd、Ce、Zr、Ti、Mn、Sn、Ru、Co、Fe、CuおよびCrから選択される金属;(b)Zn、Gd、Ce、Zr、Ti、Mn、Sn、Ru、Co、Fe、CuおよびCrから選択される金属の1つまたは複数の金属酸化物;(c)焼成の際に(b)の金属酸化物を生成することができる任意の化合物;ならびに(d)それらの混合物からなる群から選択される追加の添加剤をさらに含む請求項1に記載の構造物。
- (1)1つまたは複数の半導体基材、1つまたは複数の絶縁膜、および厚膜組成物を提供するステップであって、前記厚膜組成物が、
a)銀金属、酸化銀、銀塩およびこれらの混合物からなる群から選択される導電性金属、
b)全ガラス組成物重量%を基準にして、0.1〜8重量%のSiO2、8〜25重量%のB2O3、0〜15重量%のBiF3、および28〜85重量%のBi2O3を含むガラスフリット、
c)Mg、Mgの金属酸化物、焼成の際にMgの金属酸化物を生成することができる任意の化合物、およびそれらの混合物からなる群から選択されるMg含有添加剤であって、前記Mg含有添加剤が、全組成物の0.1〜10重量%であるもの、および
d)有機媒体を含み、
前記導電性金属、前記ガラスフリット、および前記Mg含有添加剤が、全て前記有機媒体中に分散されているステップと、
(2)前記半導体基材上に前記絶縁膜を適用するステップと、
(3)前記半導体基材上の前記絶縁膜上に前記厚膜組成物を適用するステップと、
(4)前記半導体、絶縁膜および厚膜組成物を焼成するステップとを含み、
焼成の際に、前記有機媒体が除去され、前記銀粉末とガラスフリットとが焼結され、且つ、前記1つまたは複数の絶縁膜に前記圧膜組成物の成分が浸透する
半導体デバイスの製造方法。 - a)銀金属、酸化銀、銀塩およびこれらの混合物からなる群から選択される導電性金属と;
b)全ガラス組成物重量%を基準にして、0.1〜8重量%のSiO2、8〜25重量%のB2O3、0〜15重量%のBiF3、および28〜85重量%のBi2O3を含むガラスフリットと;
c)Mg、Mgの金属酸化物、焼成の際にMgの金属酸化物を生成することができる任意の化合物、およびそれらの混合物から選択されるMg含有添加剤であって、前記Mg含有添加剤が、全組成物の0.1〜10重量%であるものと、
d)有機媒体とを含み、
前記導電性金属、前記ガラスフリット、および前記Mg含有添加剤が、全て前記有機媒体中に分散されている厚膜組成物。 - 前記Mg含有添加剤がMgOである請求項6に記載の組成物。
- 前記厚膜組成物が、(a)Zn、Gd、Ce、Zr、Ti、Mn、Sn、Ru、Co、Fe、CuおよびCrから選択される金属;(b)Zn、Gd、Ce、Zr、Ti、Mn、Sn、Ru、Co、Fe、CuおよびCrから選択される金属の1つまたは複数の金属酸化物;(c)焼成の際に(b)の金属酸化物を生成することができる任意の化合物;ならびに(d)それらの混合物からなる群から選択される追加の添加剤をさらに含む請求項6に記載の組成物。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US98091607P | 2007-10-18 | 2007-10-18 | |
PCT/US2008/080133 WO2009052266A1 (en) | 2007-10-18 | 2008-10-16 | Conductive compositions and processes for use in the manufacture of semiconductor devices: mg-containing additive |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011503772A JP2011503772A (ja) | 2011-01-27 |
JP2011503772A5 true JP2011503772A5 (ja) | 2011-11-17 |
Family
ID=40297673
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010530106A Withdrawn JP2011503772A (ja) | 2007-10-18 | 2008-10-16 | 伝導性組成物、および半導体デバイスの製造における使用方法:Mg含有添加剤 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7790065B2 (ja) |
EP (1) | EP2193526A1 (ja) |
JP (1) | JP2011503772A (ja) |
KR (1) | KR20100080614A (ja) |
CN (1) | CN101816044A (ja) |
TW (1) | TW200931449A (ja) |
WO (1) | WO2009052266A1 (ja) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007100146A1 (ja) * | 2006-03-01 | 2007-09-07 | Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. | 液相成長法によるZnO単結晶の製造方法 |
JP5151150B2 (ja) * | 2006-12-28 | 2013-02-27 | 株式会社日立製作所 | 導電性焼結層形成用組成物、これを用いた導電性被膜形成法および接合法 |
WO2009126671A1 (en) * | 2008-04-09 | 2009-10-15 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Conductive compositions and processes for use in the manufacture of semiconductor devices |
US8076777B2 (en) * | 2008-06-26 | 2011-12-13 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Glass compositions used in conductors for photovoltaic cells |
KR101144810B1 (ko) * | 2009-07-06 | 2012-05-11 | 엘지전자 주식회사 | 태양전지용 전극 페이스트, 이를 이용한 태양전지, 및 태양전지의 제조방법 |
WO2011033826A1 (ja) | 2009-09-18 | 2011-03-24 | 信越化学工業株式会社 | 太陽電池、その製造方法及び太陽電池モジュール |
US8252204B2 (en) * | 2009-12-18 | 2012-08-28 | E I Du Pont De Nemours And Company | Glass compositions used in conductors for photovoltaic cells |
KR101041603B1 (ko) * | 2010-12-31 | 2011-06-15 | (주)알가 | 진공 유리 패널 및 그 제조 방법 |
US8486308B2 (en) | 2010-12-17 | 2013-07-16 | E I Du Pont De Nemours And Company | Conductive paste composition containing lithium, and articles made therefrom |
US9129725B2 (en) | 2010-12-17 | 2015-09-08 | E I Du Pont De Nemours And Company | Conductive paste composition containing lithium, and articles made therefrom |
KR20120077439A (ko) * | 2010-12-30 | 2012-07-10 | 주식회사 동진쎄미켐 | 태양전지의 전극 형성용 페이스트 조성물 및 이를 이용한 전극 |
CN102157219B (zh) * | 2011-01-12 | 2012-06-27 | 西安银泰新能源材料科技有限公司 | 晶体硅太阳能电池正面电极银浆及其制备方法 |
JP2015511205A (ja) * | 2011-12-22 | 2015-04-16 | ヘレウス プレシャス メタルズ ノース アメリカ コンショホーケン エルエルシー | 低抵抗接点の太陽電池ペースト |
EP2607327A1 (en) * | 2011-12-23 | 2013-06-26 | Heraeus Precious Metals GmbH & Co. KG | Thick-film composition containing antimony oxides and their use in the manufacture of semi-conductor devices |
CN104137194A (zh) * | 2012-02-27 | 2014-11-05 | E.I.内穆尔杜邦公司 | 银浆及其在太阳能电池生产中的用途 |
JP2013243279A (ja) * | 2012-05-22 | 2013-12-05 | Namics Corp | 太陽電池の電極形成用導電性ペースト |
CN105408267B (zh) | 2013-07-25 | 2020-01-14 | 纳美仕有限公司 | 结晶系硅太阳能电池及其制造方法 |
WO2015026483A1 (en) * | 2013-08-21 | 2015-02-26 | Gtat Corporation | Using an active solder to couple a metallic article to a photovoltaic cell |
CN103943168B (zh) * | 2014-04-18 | 2016-04-27 | 西安交通大学 | 一种Ag(Ti,Zr)/稀土晶体硅太阳电池复合浆料及其制备方法 |
CN110337423A (zh) * | 2017-03-24 | 2019-10-15 | 贺利氏贵金属北美康舍霍肯有限责任公司 | 用于导电膏组合物的低蚀刻和非接触式玻璃 |
TWI745562B (zh) * | 2017-04-18 | 2021-11-11 | 美商太陽帕斯特有限責任公司 | 導電糊料組成物及用其製成的半導體裝置 |
CN112041994B (zh) * | 2018-03-30 | 2022-06-21 | 深圳市首骋新材料科技有限公司 | 晶硅太阳能电池正面导电浆料及其制备方法和太阳能电池 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4060661A (en) * | 1975-08-22 | 1977-11-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Voltage-dependent resistor |
NL7905817A (nl) * | 1979-07-27 | 1981-01-29 | Philips Nv | Werkwijze voor het vervaardigen van een zonnecel. |
US4416932A (en) | 1981-08-03 | 1983-11-22 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Thick film conductor compositions |
US5011725A (en) | 1987-05-22 | 1991-04-30 | Ceramics Process Systems Corp. | Substrates with dense metal vias produced as co-sintered and porous back-filled vias |
JPH0565456A (ja) * | 1991-09-09 | 1993-03-19 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 気密封止用樹脂ペースト |
US5296413A (en) | 1991-12-03 | 1994-03-22 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Automotive glass thick film conductor paste |
JPH06136298A (ja) | 1992-10-26 | 1994-05-17 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 銅系内部導体を有する低温焼成多層回路基板外部導体用ペースト |
JP3209089B2 (ja) | 1996-05-09 | 2001-09-17 | 昭栄化学工業株式会社 | 導電性ペースト |
DE10116653A1 (de) * | 2001-04-04 | 2002-10-10 | Dmc2 Degussa Metals Catalysts Cerdec Ag | Leitfähigkeitspaste, damit erzeugte Artikel mit einer leitfähigen Beschichtung auf Glas, Keramik und emailliertem Stahl und Verfahren zu deren Herstellung |
CN1316509C (zh) | 2001-09-06 | 2007-05-16 | 诺利塔克股份有限公司 | 导体组合物及其制造方法 |
US7435361B2 (en) * | 2005-04-14 | 2008-10-14 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Conductive compositions and processes for use in the manufacture of semiconductor devices |
US7611645B2 (en) | 2005-04-25 | 2009-11-03 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Thick film conductor compositions and the use thereof in LTCC circuits and devices |
US20080203914A1 (en) * | 2007-02-23 | 2008-08-28 | Lg Electronics Inc. | Plasma display panel and related technologies including method for manufacturing the same |
JP2011502330A (ja) * | 2007-10-18 | 2011-01-20 | イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー | 鉛フリーの伝導性組成物、および半導体デバイスの製造における使用方法:Mg含有添加剤 |
EP2203921A1 (en) * | 2007-10-18 | 2010-07-07 | E. I. du Pont de Nemours and Company | Lead-free conductive compositions and processes for use in the manufacture of semiconductor devices: flux materials |
-
2008
- 2008-10-16 WO PCT/US2008/080133 patent/WO2009052266A1/en active Application Filing
- 2008-10-16 KR KR1020107010789A patent/KR20100080614A/ko active IP Right Grant
- 2008-10-16 CN CN200880110508A patent/CN101816044A/zh active Pending
- 2008-10-16 EP EP20080839117 patent/EP2193526A1/en not_active Withdrawn
- 2008-10-16 JP JP2010530106A patent/JP2011503772A/ja not_active Withdrawn
- 2008-10-20 TW TW97140251A patent/TW200931449A/zh unknown
- 2008-10-20 US US12/254,246 patent/US7790065B2/en active Active
-
2010
- 2010-07-20 US US12/839,653 patent/US7998371B2/en active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2011503772A5 (ja) | ||
JP2011502330A5 (ja) | ||
JP2011523492A5 (ja) | ||
JP2010524257A5 (ja) | ||
CN105051830B (zh) | 形成太阳电池电极用的组成物及以所述组成物制备的电极 | |
TWI333664B (en) | Production method of multilayer ceramic electronic device | |
TWI285381B (en) | Multilayer ceramic capacitor | |
JP2010532586A5 (ja) | ||
JP2006344939A5 (ja) | ||
JP2010283340A5 (ja) | ||
EP1713092A3 (en) | Conductive compositions and processes for their use in the manufacture of semiconductor devices | |
TW200814108A (en) | Multi-layer ceramic capacitor | |
JP2006138016A5 (ja) | ||
JP2010037161A5 (ja) | ||
CN104658727B (zh) | 一种贱金属内电极叠层片式ZnO压敏电阻器及其制备方法 | |
TWI310195B (en) | Multilayer chip varistor | |
JP2006261636A5 (ja) | ||
RU2010135770A (ru) | Проводящие пасты с металлоорганическими модификаторами | |
JP2011514397A5 (ja) | ||
JP2015532611A5 (ja) | ||
JP2015532776A5 (ja) | ||
JP2012248622A (ja) | チップ状電子部品 | |
JP2005504409A5 (ja) | ||
CN105499559A (zh) | 一种改性铜粉及其制备方法和电子浆料 | |
JP2010531044A5 (ja) |