JP2011243660A - 発光素子搭載用基板および発光装置 - Google Patents

発光素子搭載用基板および発光装置 Download PDF

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Abstract

【課題】発光装置としたときの、発光素子から供給される光の損失が少なく、光の利用効率が高められ、発光素子が搭載される搭載面の平坦度に優れ、熱抵抗が小さい発光素子搭載用基板を提供する。
【解決手段】基板本体2と、基板本体2の一部に形成された、銀(Ag)又は銀合金を主体とする反射層6と、反射層6の全面を覆うように形成された、ガラス粉末焼結体を主体とする第1保護層7と、第1保護層7の上に形成され、一部が発光素子の搭載される搭載部10となる第2保護層8と、を有する発光素子搭載用基板1であって、第1保護層7がアルミナ系フィラーを実質的に含有せず、かつ第2保護層8がセラミックスフィラー9を含有するガラス粉末焼結体からなることを特徴とする発光素子搭載用基板1。
【選択図】図2

Description

本発明は、発光素子搭載用基板およびこれを用いた発光装置に係り、特に発光素子が搭載される搭載面の平坦度に優れ、光取り出し効率の低下が抑制された発光素子搭載用基板およびこれを用いた発光装置に関する。
近年、発光ダイオード素子(チップ)の高輝度、白色化に伴い、照明、各種ディスプレイ、大型液晶TVのバックライト等として発光ダイオード素子を用いた発光装置が使用されている。発光ダイオード素子を搭載する発光素子搭載用基板には、一般に、素子から発せられる光を効率よく反射する高反射性が求められる。
しかしながら、発光素子から基板内に入射した光は、そのほとんどが基板内を拡散放射するため、基板の前方に反射する光の割合を十分に高められないという問題があった。
このため、従来より、発光素子から発光する光を可能な限り前方に反射させることを目的として、基板表面に光反射層を施す試みがされている。このような光反射層としては、高い反射率を有する銀反射層が用いられている。
しかしながら、銀は腐食されやすいため、露出状態で放置すると、銀反射層の表面で酸化や硫化が発生して光反射率が低下し、十分な光取出し効率を得られない。
そこで、光反射層の表面を、シリコーン樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂などの樹脂で被覆して、光反射率の低下を防止することが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、これらの樹脂で銀反射層を被覆しても、その封止性が十分でないため、腐食性の気体または液体が樹脂自体を通過したり、または樹脂と基板との界面から気体または液体が侵入したりするおそれがあり、銀反射層の酸化または硫化による光反射率の低下を十分に防止できないことがある。
そこで近年、光反射層の上面に、ガラスによる被覆層を設けて光反射層を保護することが検討されている。
ガラスによる保護層は、樹脂による保護層と比較して封止性に優れるうえ、光の透過率が高く、光反射層に到達する光の量が増すため、高い反射率を得ることができる。また、ガラスは熱伝導性に優れるため、光反射層の保護層としてガラス層を設けた場合、樹脂層を設けた場合よりも高い放熱性を得ることができる。
しかしながら、光反射層の保護層をガラス層とした場合、ガラス粉末の焼結体は、一般に未焼成状態での流動性が高いため、焼成時にうねり等による変形が生じやすい。したがって、例えば図5に示すように、焼成体の表面に少なからず凹凸部が発生し、ガラス層700表面の平坦度が低下する。このようなガラス層700の上に発光素子11を搭載した場合、素子11とガラス層700との接触面積が小さいため、熱抵抗が増加する。特に、近年の発光ダイオード素子は、高輝度化に伴って発熱量が増加していることから、熱抵抗の増加を抑制することが求められている。
また、搭載部に凹凸があると、発光素子が傾いて固定されるおそれがあり、その後のワイヤボンディングにより損傷し、また光軸ずれが発生するおそれもある。
特開2007−67116号公報
このような問題を解決することを目的として、近年、光反射層の保護層として、セラミックスフィラーを含有させたガラス層(オーバーコート層)を設けることが検討されている。保護層をガラス粉末とセラミックスフィラーとの混合体とすることで、未焼成状態での流動性が低くなり、焼成時のうねり等による変形が抑制される。このため、焼成体表面の凸部の割合が低減し、平坦度が高められる。
また、ガラス層にセラミックスフィラーを含有させた場合、発光素子からガラス層に入射した光の反射方向を分散させることができ、配光特性のばらつきも低減できる。
しかしながら、セラミックスフィラーとして、例えばAlを主成分とするアルミナ系のセラミックスフィラーを含有させてガラス層とした場合、図6に示すように、反射層6の金属イオン6Aが、アルミナ系のセラミックスフィラー90表面上を順次移動する現象(マイグレーション現象)が生じることがある。
この場合、金属イオン6Aは、高濃度状態となりながら、ガラス層70内を表層側に向けて移動するため、ガラス層70表面に金属イオン6Aが凝集して金属粒子となり、その一部がガラス層70から露出することがある。
このような発光素子搭載用基板表面を、シリコーン樹脂等の封止材で封止した場合、表面に露出した銀粒子が、封止材(モールド材)に含まれる白金触媒等と接触して再度イオン化し、これが凝集してコロイド化することがある。この状態で、恒温、恒湿の環境下に長時間放置すると、コロイド粒子が凝集し、封止材(モールド材)やガラス層が茶色や黄色等に発色する、いわゆる銀発色と呼ばれる現象が発生する。
封止材に発色が生じると、発光素子から生じた光が発色体で吸収されるため、発光装置としての光度が低下するおそれがある。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、発光装置としたときに、発光素子から供給される光の損失が少なく、光の利用効率が高められ、また発光素子が搭載される搭載面の平坦度に優れ、熱抵抗が小さく、発光素子の傾きを抑制することのできる発光素子搭載用基板の提供を目的とする。また、本発明は、上記発光素子搭載用基板を用いた発光装置の提供を目的とする。
本発明者らは、鋭意検討した結果、本発明の発光素子搭載用基板及び発光装置により、上記問題を解決できることを見出し、本発明を完成したものである。
すなわち、本発明の発光素子搭載用基板は、基板本体と、前記基板本体の一部に形成された、銀(Ag)又は銀合金を主体とする反射層と、前記反射層の全面を覆うように形成された、ガラス粉末焼結体を主体とする第1保護層と、前記第1保護層の上に形成され、一部が発光素子の搭載される搭載部となる第2保護層と、を有する発光素子搭載用基板であって、前記第1保護層がアルミナ系フィラーを実質的に含有せず、かつ前記第2保護層がセラミックスフィラーを含有するガラス粉末焼結体からなることを特徴とする。
前記第1保護層は、実質的にアルミナ系フィラーを含有しないものであるが、アルミナ系フィラー以外のセラミックスフィラーであれば、含有してもよい。この場合、前記第1保護層に含まれるアルミナ系フィラー以外のセラミックスフィラーの含有量は、30質量%以下、特には0.5質量%以下であることが好ましい。また、前記第1保護層に含まれる銀(Ag)又は銀合金の濃度は0.3%以下であることが好ましい。
前記第2保護層に含まれるセラミックスフィラーの含有量は、10質量%以上30質量%以下であることが好ましい。また、前記第2保護層に含まれるセラミックスフィラーは、アルミナ粉末(Al含有量が95質量%以上)、ジルコニア粉末、チタニア粉末、シリカ粉末から選択される1種又は2種以上の混合物からなることが好ましい。
前記第1保護層の厚みは、10μm以上30μm以下であることが好ましい。また、前記第2保護層の厚みは、10μm以上30μm以下であることが好ましい。
前記反射層は、銀又は銀パラジウム合金、銀白金合金のような銀と白金族元素との合金から選択される金属を含む層で構成されることが好ましい。
本発明の発光装置は、上記した本発明の発光素子搭載用基板と、前記発光素子搭載用基板の搭載部に搭載される発光素子と、を有することを特徴とする。また、本発明の発光装置は、前記基板本体及び前記第2保護層の表面の一部又は全部が、白金触媒を含むシリコーン樹脂で封止されてなることが好ましい。
本発明によれば、銀反射層の上に、アルミナ系フィラーを実質的に含まない第1保護層と、セラミックスフィラーを含有する第2保護層とを積層して設けることで、保護層の表面に露出する銀の量が低減された発光素子搭載用基板とできる。また、発光素子の搭載部の平坦度を向上させることができ、熱抵抗が小さく、発光素子の傾きを抑制できる発光素子搭載用基板とできる。
また、本発明によれば、このような発光素子搭載用基板に発光素子を搭載することで、発光素子から供給される光の損失が少なく、十分な発光輝度を得ることができ、また発光素子の損傷や光軸ずれが抑制された発光装置とできる。
本発明の発光素子搭載用基板の一例を示す断面図である。 第1保護層7a及び第2保護層8a周辺を拡大して示す図である。 本発明の発光素子搭載用基板に発光素子が搭載された状態を示す拡大断面図である。 本発明の発光装置の一例を示す断面図である。 他の実施形態に係る発光素子搭載用基板に発光素子が搭載された状態を示す断面図である。 他の実施形態に係る発光素子搭載用基板の焼成工程における状態を模式的に示す断面図である。
以下、本発明について詳細に説明する。
図1は、本発明の発光素子搭載用基板の一例を示す断面図である。
発光素子搭載用基板1は、略平板状の基板本体2を有している。基板本体2は、一方の主面が、発光ダイオード素子のような発光素子の搭載される搭載面2aとなっている。搭載面2aには、発光素子と電気的に接続される接続端子3が設けられている。また、基板本体2の他方の主面は、発光素子の搭載されない非搭載面2bとされており、この非搭載面2bには、外部回路と電気的に接続される外部電極端子4が設けられている。そして、基板本体2の内部に、これら接続端子3と外部電極端子4とを電気的に接続する貫通導体5が設けられている。
基板2の搭載面2aの略中央部には、発光素子からの光を反射させるための反射層6aが設けられており、この反射層6aの上に、反射層6a全面を覆うように第1保護層7aが設けられている。さらにこの第1保護層7aの上面に、第2保護層8aが設けられており、その一部が発光素子が搭載される搭載部10となっている。
また、搭載面2aの長手方向両端部にも、発光素子から放射される光を反射させるための反射層6bがそれぞれ設けられている。この反射層6bの上に、反射層6b全面を覆うように第1保護層7bが設けられており、この第1保護層7bの上面に、第2保護層8b(以下、反射層6a及び反射層6bを反射層6と示し、第1保護層7a及び第1保護層7bを第1保護層7と示し、第2保護層8a及び第2保護層8bを第2保護層8と示す。)が設けられている。
図2は、第1保護層7a及び第2保護層8a周辺を拡大して示す図である。
第1保護層7は、ガラス粉末焼結体を主体として構成されており、反射層6を完全に被覆するように設けられている。また、第2保護層8は、第1保護層7の上面に設けられており、セラミックスフィラー9を含有するガラス粉末焼結体で構成されている。
この第1保護層7、第2保護層8により、反射層6への気体または液体の侵入を抑制し、反射層6の酸化や硫化を防止できる。
反射層6は、例えば銀、銀パラジウム合金又は銀白金合金等の金属粉末に、エチルセルロース等のビヒクル、必要に応じて溶剤等を添加してペースト状としたものを、スクリーン印刷等の方法により基板本体2上に印刷して形成できる。反射層6に用いる金属粉末としては、高反射率を有するものが好ましく、特に銀を好ましく用いることができる。
第1保護層7は、ガラス粉末焼結体を主体として構成されており、この保護層7が、アルミナ系フィラーを実質的に含まない層として構成されている。
なお、本明細書において「アルミナ系フィラー」とは、化学成分としてAlを50質量%以上含有するセラミックスフィラーをいい、「アルミナ系フィラーを実質的に含まない」とは、第1保護層7のアルミナ系フィラーの含有量が0.1%未満であることをいう。
このような第1保護層7とすることで、第2保護層8の表面に露出する銀の量が極めて低減された発光素子搭載用基板とできる。
すなわち、例えば図6に示すように、アルミナ系フィラー90を含有する保護層70を、反射層6の上に接触させて設けた場合、反射層6の銀(Ag)原子は、加熱、焼成の際に、反射層6から銀(Ag)イオンとして遊離し、マイグレーション現象により保護層70内を移動し、この層内及び表層に堆積すると考えられる。
具体的には、反射層6から遊離した銀イオン6Aが保護層70に移行し、これがアルミナ系フィラー90とガラス粉末との界面に到達して、銀(Ag)イオン6A−アルミナ系フィラー90間でアルカリ置換が生じたとき、銀(Ag)イオン6Aが他のアルミナ系フィラー90表面に順次移行して、保護層7内を表層側に移動することでマイグレーション現象が発生すると考えられる。
したがって、このようなアルミナ系フィラー90を実質的に含有しない第1保護層7とすることで、第1保護層7内を移動する銀(Ag)イオンの量を低減できるため、第1保護層7の銀イオンの濃度の上昇を抑制でき、第2保護層8に到達する銀(Ag)イオンが低減された発光素子搭載用基板とすることができる。
なお、銀反射層6と接する保護層に、アルミナ系フィラー以外のセラミックスフィラーが含まれる場合でも、上述したマイグレーション現象が生じる可能性があるが、アルミナ系フィラーの場合と比較して、その程度は相対的に相当低いため、第1保護層7が、アルミナ系フィラーを実質的に含有しないことが重要である。
第1保護層7に含まれる銀(Ag)又は銀合金の濃度は、0.3%以下であることが好ましく、より好ましくは0.15%以下であり、特に好ましくは0.1%以下である。
上述した第1保護層7の銀(Ag)又は銀合金の濃度は、第1保護層7のアルミナ系フィラーの含有量、及び第1保護層7に含まれるアルミナ系フィラー以外のセラミックスフィラーの種類、含有量を適宜調整することにより、調整できる。
上記のような第1保護層7を、銀反射層6と第2保護層8との間に設けることで、反射層6から第2保護層8側への銀(Ag)イオン6Aのマイグレーション現象を、第1保護層7領域で略遮断できる。したがって、第2保護層8には銀(Ag)イオン6Aが到達し難くなり、第2保護層8の表面8Aに銀(Ag)が露出する量が極めて低減された第2保護層8とできる。
上述したマイグレーション現象は、特に銀イオンとAlとの間で生じ易いため、第1保護層7が、上述したアルミナ系フィラーの中でも、Alを高い含有率で含むアルミナ粉末(Al含有量が95質量%以上)を、実質的に含有しないことが特に好ましい。
但し、アルミナ系フィラー以外のものであれば、従来から用いられるセラミックスフィラーを含有していてもよい。具体的には、例えばジルコニア粉末、チタニア粉末、シリカ粉末、またはこれらの混合物であれば、第1保護層7に含有されていてもよい。セラミックスフィラーの50%粒径(D50)は、例えば0.5μm以上4μm以下であることが好ましい。なお、本明細書において、50%粒径(D50)は、レーザー回折/散乱式粒度分布測定装置を用いて測定したものをいう。
第1保護層7がアルミナ系フィラー以外のセラミックスフィラーを含有する場合、第1保護層7に対するアルミナ系フィラー以外のセラミックスフィラーの含有量が、30質量%以下であることが好ましい。
第1保護層7に対するアルミナ系フィラー以外のセラミックスフィラーの含有量が30質量%を超えると、保護層7が焼成不足となり易く、その耐酸性や強度が低下して、反射層6の保護層として十分に機能できなくなるおそれがある。
第1保護層7に対するアルミナ系フィラー以外のセラミックスフィラーの含有量は、0.5質量%以下であることが特に好ましい。
第1保護層7に用いるガラス粉末は、軟化点(Ts)が900℃以下のものであることが好ましい。
ガラス粉末の軟化点(Ts)が900℃を超える場合、このガラス粉末を焼成して緻密な焼結体を得るためには焼成温度が900℃を超えることが必要となるが、この場合、反射層6として好適に用いられる銀反射層(以下、銀反射層6と示す。)と同時に焼成したときに、銀反射層が変形するおそれがある。
第1保護層用ガラス粉末として、軟化点(Ts)が900℃以下のものを用いることにより、銀反射層の変形を生じさせることなく、第1保護層用ガラスペーストと銀反射層とを同時に焼成できる。
一方、一般に、軟化点の低いガラス粉末は、銀と同時に焼成すると、溶融状態のガラス粉末中に銀イオンが拡散し、さらにこれがコロイド化して、ガラス粉末焼結体が黄色、または赤色などに発色する、銀発色と呼ばれる現象が生じることがある。この現象は、ガラス粉末の軟化点が低いほど生じやすい。
第1保護層用のガラス粉末焼結体に発色が生じると、第1保護層7の反射率が低下する。したがって、銀と同時に焼成しても、発色を生じないガラス粉末を用いることが好ましい。
このようなガラス粉末として、例えば、SiOが62mol%以上84mol%以下、Bが10mol%以上25mol%以下、Alが0mol%以上5mol%以下、MgOが0mol%以上10mol%以下、NaOとKOから選ばれる少なくとも一方が合計で0mol%以上5mol%以下からなり、SiOの含有量とAlの含有量の合計が62mol%以上84%mol%以下であり、CaO、SrO、BaOのいずれかを含有する場合にその含有量の合計が5%mol以下であるホウケイ酸ガラスを用いることが好ましい。
第1保護層7用のガラス粉末として、上記組成のガラス粉末を用いることにより、銀反射層6と同時に焼成した場合でも、銀反射層6を変形させることなく、緻密な焼結体を得ることができる。また、銀反射層6と同時に焼成しても、焼結体が発色せず、第1保護層7の反射率を低下させることもない。
SiOはガラスのネットワークフォーマとなるものであり、化学的耐久性、とくに耐酸性を高くするために必須の成分である。SiOの含有量が62mol%未満であると、耐酸性が不十分となるおそれがある。一方、SiOの含有量が84mol%を超えると、ガラスの軟化点(Ts)やガラス転移点(Tg)が過度に高くなるおそれがある。
はガラスのネットワークフォーマとなるものである。Bの含有量が10mol%未満であると、軟化点(Ts)が過度に高くなるおそれがあり、またガラスが不安定となるおそれもある。一方、Bの含有量が25mol%を超えると、安定なガラスを得ることが難しく、また化学的耐久性が低下するおそれもある。
の含有量は、好ましくは12mol%以上である。
Alは、ガラスの安定性、化学的耐久性を高めるために5mol%以下の範囲で添加してもよい。Alの含有量が5mol%を超える場合、ガラスの透明性が低下するおそれがある。また、Alの含有量が5mol%を超えると、銀発色が生じやすくなるおそれがある。
NaO、KOは、軟化点(Ts)やガラス点移転(Tg)を低下させるために、合計した含有量が5mol%を超えない範囲で添加できる。NaOおよびKOの含有量の合計が5mol%を超えると、化学的耐久性、特に耐酸性が低下するおそれがあり、電気絶縁性も低下するおそれがある。また、NaOおよびKOの含有量の合計が5mol%を超える場合、銀発色が生じやすくなるおそれがある。
NaO、KOは、そのいずれか1以上を含有することが好ましく、NaOおよびKOの合計した含有量が0.9mol%以上であることが好ましい。
また、SiOの含有量とAlの含有量の合計は、62mol%以上84%mol%以下である。
SiOの含有量とAlの含有量の合計が62mol%未満であると、化学的耐久性が不十分になるおそれがある。一方、SiOの含有量とAlの含有量の合計が84mol%を超えると、軟化点(Ts)やガラス点移転(Tg)が過度に高くなるおそれがある。
MgOは、軟化点(Ts)やガラス点移転(Tg)を低下させると共に、ガラスの安定性を高めるために10mol%を超えない範囲で添加してもよい。
MgOの含有量が10mol%を超えると、銀発色が生じやすくなるおそれがある。
MgOの含有量は、好ましくは8mol%以下である。
CaO、SrO、BaOは、軟化点(Ts)やガラス点移転(Tg)を低下させると共に、ガラスの安定性を高めるために、合計した含有量が5mol%を超えない範囲で添加してもよい。CaO、SrO、BaOの含有量の合計が5mol%を超えると、耐酸性が低下するおそれがある。また、CaO、SrO、BaOの含有量の合計が5mol%を超えると、銀発色が生じやすくなるおそれがある。
なお、第1保護層7に用いるガラス粉末は、必ずしも上記成分のみからなるものに限定されず、本発明の目的を損なわない範囲で他の成分を含有できる。なお、この実施形態では鉛酸化物は含有していない。他の成分を含有する場合、その合計した含有量は10mol%以下であることが好ましい。
また、第1保護層7に用いるガラス粉末は、上記含有比率を有するものに限定されず、これとは異なる含有比率を有するガラス粉末を用いることもできる。
第1保護層7は、その耐酸性が100μg/cm以下であることが好ましく、より好ましくは30μg/cm以下であり、更に好ましくは5μg/cm以下であり、特に好ましくは1μg/cm以下である。
第1保護層7の耐酸性が100μg/cmを超えると、反射層6のメッキ処理溶液中に第1保護層7のガラス成分が溶出し、基板を製造する際に、連続運転が妨げられたり、第1保護層7が白濁し、反射率が低下したりするおそれがある。
なお、第1保護層7の耐酸性は、pH1.68、温度85℃のシュウ酸塩緩衝液700cmの中に浸漬し、1時間経過後の質量減少量を測定することにより評価したものである。
第1保護層7に用いる他のガラス粉末としては、例えば、第1保護層7の反射率を高められるものとして、SiOが78mol%以上83mol%以下、Bが16mol%以上18mol%以下、NaOとKOから選ばれる少なくとも一方が合計で0.9mol%以上4mol%以下、Alが0mol%以上0.5mol%以下、CaOが0mol%以上0.6mol%以下からなるもの(以下、「ガラスA」と示す。)が好ましい。
以下に、「ガラスA」の組成について説明する。
SiOはガラスのネットワークフォーマとなるものである。SiOの含有量が78mol%未満であると、化学的耐久性が低下するおそれがある。一方、SiOの含有量が83mol%を超えると、軟化点(Ts)やガラス転移点(Tg)が過度に高くなるおそれがある。
SiOの含有量は、好ましくは80mol%以上である。また、SiOの含有量は、好ましくは82mol%以下、より好ましくは81mol%以下である。
はガラスのネットワークフォーマとなるものである。
の含有量が16mol%未満の場合、軟化点(Ts)やガラス転移点(Tg)が過度に高くなるおそれがある。一方、Bの含有量が18mol%を超えると、安定なガラスを得ることが難しく、また化学的耐久性が低下するおそれもある。
の含有量は、好ましくは17mol%以下である。
Alは、ガラスの安定性、化学的耐久性を高めるために0.5mol%以下の範囲で添加してもよい。Alの含有量が0.5mol%を超えると、軟化点(Ts)やガラス転移点(Tg)が過度に高くなるおそれがある。Alの含有量が0.5mol%を超えると、銀発色が生じやすくなるおそれがある。
NaO、KOは、軟化点(Ts)やガラス点移転(Tg)を低下させるために添加されるものであり、NaOまたはKOの少なくともいずれか一方を含有することが必要である。
NaOおよびKOの含有量の合計が0.9mol%未満の場合、軟化点(Ts)やガラス転移点(Tg)が過度に高くなるおそれがある。一方、NaOおよびKOの含有量の合計が4mol%を超える場合、化学的耐久性、特に耐酸性が低下するおそれがあり、電気絶縁性も低下するおそれがある。また、NaOおよびKOの含有量の合計が4mol%を超える場合、銀発色が生じやすくなるおそれがある。
NaOおよびKOの含有量の合計は、好ましくは1.0mol%以上、より好ましくは1.5mol%以上である。また、NaOおよびKOの含有量の合計は、好ましくは3mol%以下、より好ましくは2mol%以下である。
CaOは、軟化点(Ts)やガラス点移転(Tg)を低下させると共に、ガラスの安定性を高めるために0.6mol%を超えない範囲で添加してもよい。
CaOの含有量が0.6mol%を超えると、軟化点(Ts)やガラス移転点(Tg)が過度に低くなるおそれがあり、また結晶化を促進するため、透明なガラスを得られないおそれがある。また、CaOの含有量が0.6mol%を超えると、銀発色が生じやすくなるおそれがある。
また、他のガラス粉末としては、例えば、SiOが72mol%以上78mol%以下、Bが13mol%以上18mol%以下、NaOとKOから選ばれる少なくとも一方が合計で0.9mol%以上4mol%以下、MgOが2mol%以上10mol%以下からなるもの(以下、ガラスBと示す。)も、第1保護層7の反射率を高められるため好ましい。
以下に、「ガラスB」の組成について説明する。
SiOはガラスのネットワークフォーマとなるものである。SiOの含有量が72mol%未満のとき、化学的耐久性が低下するおそれがある。一方、SiOの含有量が78mol%を超えると、ガラスの軟化点(Ts)やガラス転移点(Tg)が過度に高くなるおそれがある。
SiOの含有量は、好ましくは73mol%以上である。また、SiOの含有量は、好ましくは76mol%以下である。
はガラスのネットワークフォーマとなるものである。
の含有量が13mol%未満の場合、ガラスの軟化点(Ts)やガラス転移点(Tg)が過度に高くなるおそれがある。一方、Bの含有量が18mol%を超えると、安定なガラスを得ることが難しく、また化学的耐久性が低下するおそれもある。
の含有量は、好ましくは17mol%以下である。
MgOは、軟化点(Ts)やガラス点移転(Tg)を低下させると共に、ガラスの安定性を高めるために添加される。
MgOの含有量が2mol%未満のとき、軟化点(Ts)やガラス点移転(Tg)が過度に高くなるおそれがあり、またガラスが不安定となるおそれがある。一方、MgOの含有量が10mol%を超えると、銀発色が生じやすくなるおそれがある。
MgOの含有量は、好ましくは4mol%以上である。また、MgOの含有量は、好ましくは8mol%以下、より好ましくは6mol%以下である。
NaO、KOは、軟化点(Ts)やガラス移転点(Tg)を低下させるために添加されるものであり、NaOまたはKOの少なくともいずれか一方を含有することが必要である。
NaOおよびKOの含有量の合計が0.9mol%未満のとき、軟化点(Ts)やガラス移転点(Tg)が過度に高くなるおそれがある。一方、NaOおよびKOの含有量の合計が4mol%を超えると、化学的耐久性、特に耐酸性が低下するおそれがあり、電気絶縁性も低下するおそれがある。また、NaOおよびKOの含有量の合計が4mol%を超えると、銀発色が生じやすくなるおそれがある。
NaOおよびKOの含有量の合計は、好ましくは1.0mol%以上、より好ましくは1.5mol%以上である。また、NaOおよびKOの含有量の合計は、好ましくは3mol%以下である。
また、第1保護層7に用いるガラス粉末としては、上述した「ガラスA」、「ガラスB」の成分のみからなるものに限定されず、本発明の目的を損なわない範囲で他の成分を含有できる。なお、この実施形態では鉛酸化物は含有していない。他の成分を含有する場合、その合計した含有量は、10mol%以下であることが好ましい。
第1保護層7に用いるガラス粉末は、上記したようなガラス組成を有するガラスを溶融法によって製造し、乾式粉砕法や湿式粉砕法によって粉砕することにより得ることができる。湿式粉砕法の場合、溶媒として水を用いることが好ましい。粉砕は、例えばロールミル、ボールミル、ジェットミル等の粉砕機を用いて行うことができる。
第1保護層7に用いるガラス粉末の50%粒径(D50)は0.5μm以上4μm以下であることが好ましい。ガラス粉末の50%粒径が0.5μm未満のとき、ガラス粉末が凝集しやすく、取り扱いが困難となると共に、粉末化に要する時間が長くなりすぎるおそれもある。一方、ガラス粉末の50%粒径が4μmを超えると、ガラス軟化温度の上昇や焼結不足が発生するおそれがある。粒径の調整は、例えば粉砕後に必要に応じて分級することにより行うことができる。
なお、本明細書において、50%粒径(D50)は、レーザー回折/散乱式粒度分布測定装置を用いて測定したものをいう。
また、ガラス粉末の最大粒径は20μm以下であることが好ましい。最大粒径が20μmを超えると、ガラス粉末の焼結性が低下し、焼結体中に未溶解成分が残留して、第1保護層7の反射性を低下させるおそれがある。
ガラス粉末の最大粒径は、より好ましくは10μm以下である。
上記第1保護層7は、未焼成状態での流動性が低いため、焼成時にはうねり等による変形が生じやすい。したがって、第1保護層7を表層として設けると、焼成体表面に凹凸面が生じやすく、その平坦度が低下する。
第2保護層8は、セラミックスフィラー9を含有するガラス粉末焼結体からなり、未焼成状態での流動性が低減されている。このような第2保護層8を、第1保護層7の上面に設けることで、焼成体の表面の凹凸面の発生が低減される。したがって、発光素子の搭載部10の平坦度を向上させることができ、熱抵抗を低減し、また、発光素子を搭載したときの傾きも抑制できる。
また、図3に示すように、セラミックスフィラー9を含有するガラス粉末焼結体からなる第2保護層8を、反射層6の図中上側に設けることで、発光素子10から第2保護層8に入射した光L1の一部が、反射層6に到達する前に、ガラスとセラミックスフィラー9との界面に衝突し、ガラスとセラミックス9との屈折率の違いによって反射あるいは屈折される。このため、発光素子からの光の反射方向が分散させることができ、反射光の配光特性のばらつきを低減できる。
第2保護層8に用いるガラス粉末としては、上述した第1保護層7用のガラス粉末を好適に用いることができる。
なお、第2保護層8のガラス粉末は、第1保護層7のガラス粉末と同一のものを用いることが好ましいが、上述した第1保護層用のガラス粉末であれば、他のガラス粉末を用いることも可能である。
第2の保護層8に用いるセラミックスフィラー9としては、従来から用いられるものを特に制限なく用いることができる。
このようなセラミックスフィラーとしては、例えばアルミナ系フィラー、アルミナ粉末、ジルコニア粉末、チタニア粉末、またはこれらの混合物を好適に用いることができる。セラミックスフィラーの50%粒径(D50)は、例えば0.5μm以上4μm以下であることが好ましい。
このようなセラミックスフィラー9と保護層用ガラス粉末とを、例えば第2保護層8に対するセラミックスフィラー9の含有量が、10質量%以上30質量%以下となるように配合、混合することによりガラスセラミックス組成物を得ることができる。
セラミックスフィラー9の含有量が10質量%未満の場合、第2保護層8の未焼成状態での流動性が高すぎて、焼成時にうねり等が発生し、焼成体表面に凹凸面が生じて搭載部10の平坦度が低下するおそれがある。
一方、セラミックスフィラー9の含有量が30質量%を超えると、焼成が困難となり、焼成中にガラス粉末の流動が不十分となって、各セラミックフィラー9がガラス粉末焼結体によって均一に包まれた焼結体を得難くなり、第2保護層8の平坦性が低下したり、耐酸性や強度が低下したりして、反射層6の保護層として、十分に機能できなくなるおそれがある。
セラミックスフィラー9の含有量は、好ましくは25質量%以下である。
第1保護層7及び第2保護層8は、上述したガラス粉末にセラミックスフィラーを配合して組成物としたものを、例えばバインダーを加えてペースト化し、これを基板本体2にスクリーン印刷して焼成することにより形成できる。
第1保護層7の厚みは、10μm以上30μm以下であることが好ましい。
第1保護層7の厚みが10μm未満の場合、反射層6表面から第2保護層8までの距離が短すぎて、焼成の際に、銀イオンが第2保護層8に到達し、第2保護層8の表面8Aに銀が露出するおそれがある。一方、第1保護層7の厚みが30μmを超える場合、第1保護層7の体積が過大となって熱伝導性が低下したり、さらに第1保護層7の焼成時のうねり等の影響が第2保護層8の表面8Aに及んで搭載部10の平坦度が低下したりするおそれがある。第1保護層7の厚みは、より好ましくは20μm以上25μm以下である。
第2保護層8の厚みは、10μm以上30μm以下であることが好ましい。
第2の保護層8aの厚みが10μm未満の場合、第1保護層7の表層面(第2保護層8との接触面)の影響が、第2保護層8の表面8Aに及ぶおそれがあり、搭載部10の平坦度が低下するおそれがある。
一方、第2保護層8の厚みが30μmを超えると、熱伝導性が低下するおそれがある。第2保護層8の厚みは、より好ましくは20μm以上25μm以下である。
基板本体2は、平板状の部材であれば、材質等は特に限定されないが、第1保護層7および第2保護層8用ガラスセラミックス組成物のペーストを、この基板2表面で焼成しても、変形しないものが好ましく、無機材料が好ましく用いられる。
無機材料の中でも、アルミナセラミックス、低温同時焼成セラミックス(Low Temperature Co−fired Ceramic。以下、LTCCと示す。)、窒化アルミニウム等は、熱伝導性、放熱性、強度、および製造コスト等の点で優れており、好ましく用いられる。
上記の無機材料の中でも、特に、LTCCを基板本体2として採用した場合には、基板本体2、反射層6、第1保護層7、および第2保護層8とを一括して同時に焼成できるため、発光素子搭載用基板1を効率的に製造できる。
LTCCからなる基板本体2は、以下のようにして製造できる。
まず、グリーンシートを形成する。グリーンシートは、基板本体用ガラス粉末とセラミックスフィラーとを含むガラスセラミックス組成物にバインダー、必要に応じて可塑剤、溶剤等を添加してスラリーを調整し、これをドクターブレード法等によりシート状に成形し、乾燥させることで製造できる。
基板本体用ガラス粉末は、必ずしも限定されるものではないものの、ガラス転移点(Tg)が550℃以上700℃以下のものが好ましい。ガラス転移点(Tg)が550℃未満の場合、後述する脱脂が困難となるおそれがある。一方、ガラス転移点(Tg)が700℃を超える場合、収縮開始温度が高くなり、寸法精度が低下するおそれがある。
このような基板本体用ガラス粉末としては、例えばSiOを57mol%以上65mol%以下、Bを13mol%以上18mol%以下、CaOを9mol%以上23mol%以下、Alを3mol%以上8mol%以下、KOとNaOから選ばれる少なくとも一方を合計で0.5mol%以上6mol%以下含有するものが好ましい。
基板本体用ガラス粉末は、上記したようなガラス組成を有するガラスを溶融法によって製造し、乾式粉砕法や湿式粉砕法によって粉砕することにより得ることができる。
湿式粉砕法の場合には、溶媒として水を用いることが好ましい。粉砕は、例えばロールミル、ボールミル、ジェットミル等の粉砕機を用いて行うことができる。
なお、基板本体用ガラス粉末は、必ずしも上記成分のみからなるものに限定されず、ガラス転移点等の諸特性を満たす範囲で他の成分を含有することもできる。他の成分を含有する場合、その合計した含有量は10mol%以下であることが好ましい。
基板本体2用ガラス粉末の50%粒径(D50)は0.5μm以上2μm以下であることが好ましい。基板本体2用ガラス粉末の50%粒径が0.5μm未満の場合、ガラス粉末が凝集しやすく、取り扱いが困難となると共に、均一に分散させることが困難となる。一方、ガラス粉末の50%粒径が2μmを超える場合、ガラス軟化温度の上昇や焼結不足が発生するおそれがある。粒径の調整は、例えば粉砕後に必要に応じて分級することにより行うことができる。
セラミックスフィラーとしては、従来からLTCC基板の製造に用いられるものを特に制限なく用いることができ、例えばアルミナ粉末、ジルコニア粉末、またはアルミナ粉末とジルコニア粉末との混合物を好適に用いることができる。セラミックスフィラーの50%粒径(D50)は、例えば0.5μm以上4μm以下であることが好ましい。
このような基板本体用ガラス粉末とセラミックスフィラーとを、例えば基板本体用ガラス粉末が30質量%以上50質量%以下、セラミックスフィラーが50質量%以上70 質量%以下となるように配合し、混合することによりガラスセラミックス組成物を得ることができる。 また、このガラスセラミックス組成物に、バインダー必要に応じて可塑剤、溶剤等を添加することによりスラリーを得ることができる。
バインダーとしては、例えばポリビニルブチラール、アクリル樹脂等を好適に用いることができる。可塑剤としては、例えばフタル酸ジブチル、フタル酸ジオクチル、フタル酸ブチルベンジル等を用いることができる。また、溶剤としては、トルエン、キシレン、ブタノール等の芳香族系またはアルコール系の有機溶剤を用いることができる。さらに、分散剤やレベリング剤を使用することも可能である。
このスラリーをドクターブレード法等によりシート状に成形し、乾燥させることで、グリーンシートを製造できる。このようにして製造されたグリーンシートを、打ち抜き型あるいはパンチングマシーンを使用して所定の寸法角に切断し、同時に所定位置に層間接続用のビアホールを打ち抜き形成できる。
グリーンシートの表面に、導電金属のペーストをスクリーン印刷等の方法で印刷することにより、未焼成の導体パターンを形成する。また、前記した層間接続用のビアホール内に導体金属のペーストを充填することによって、未焼成の層間接続部を形成する。これにより、未焼成接続端子3A、未焼成外部電極端子4A、未焼成貫通導体5A、未焼成反射層6Aを形成する。金属ペーストとしては、例えば銅、銀、金等を主成分とする金属粉末に、エチルセルロース等のビヒクル、必要に応じて溶剤等を添加してペースト状としたものを用いることができる。
未焼成の導体パターンが形成されたグリーンシートを位置合わせしつつ複数枚重ね合わせて加熱および加圧して一体化した後、例えば500℃以上600℃以下の温度で1時間以上10時間以下保持することにより、グリーンシートに含まれる樹脂等のバインダーを分解・除去する脱脂を行う。その後、例えば850℃以上900℃以下の温度で20分以上60分以下保持することにより、グリーンシートを構成するガラスセラミックス組成物を焼成する。この焼成により、ガラスセラミックス基板内部および表面に形成された金属ペーストも同時に焼成され、接続端子3、外部電極端子4、貫通導体5、及び反射層6を有する基板2とできる。
脱脂温度が500℃未満もしくは脱脂時間が1時間未満の場合、バインダー等を十分に除去することができないおそれがある。一方、脱脂温度を600℃程度、脱脂時間を10時間程度とすれば、十分にバインダー等を除去することができ、これを超えるとかえって生産性等が低下するおそれがある。
焼成は、焼成温度が850℃未満、焼成時間が20分未満の場合、緻密なものが得られないおそれがある。一方、焼成温度を900℃程度、焼成時間を60分程度とすれば、十分に緻密なものが得られ、これを超えるとかえって生産性等が低下するおそれがある。
焼成は、特に860℃以上880℃以下の温度で行うことが好ましい。反射層6の形成に、銀を主成分とする金属粉末を含有する金属ペーストを用いた場合には、焼成温度が880℃を超えると、金属ペーストが過度に軟化して所定の形状を維持できなくなるおそれがある。
以上、本発明の発光素子搭載用基板1について一例を挙げて説明したが、本発明の趣旨に反しない限度において、また必要に応じて、その構成を適宜変更できる。
本発明の発光装置は、例えば図4に示すように、発光素子搭載用基板1の搭載面2aに設けられた第2保護層8aの搭載部10に発光ダイオード素子等の発光素子11が搭載されたものである。発光素子11は、第2保護層8に接着剤を用いて固定され、その図示しない電極がボンディングワイヤ12によって接続端子3に電気的に接続されている。そして、発光素子11やボンディングワイヤ12を覆うようにモールド材13が設けられて発光装置20が構成されている。
モールド材13を形成する封止剤としては、例えばシリコーン樹脂は、耐光性、耐熱性の点で優れているため好ましく用いられる。このシリコーン樹脂に、白金、チタン等の触媒を添加することにより、樹脂を硬化させることが可能となる。
モールド材13との接触面となる第2保護層8の表層8Aに銀が露出していると、モールド材13に含まれる白金等の触媒が、銀粒子をイオン化、凝集させてコロイド粒子を生成し、これらコロイド粒子がさらに凝集することで、モールド材13が茶色等に発色することがある。
本発明の発光装置20によれば、第2保護層8の表面8Aに露出する銀の量が極めて低減されているため、上記白金触媒等が表面8Aに接触したときの、銀イオンのコロイド化現象が抑制されており、コロイド粒子の凝集に伴うモールド材13及びその近傍領域での発色現象が抑制されている。
上記封止剤に、蛍光体等を混合または分散させることにより、発光装置20として得られる光を、所望の発光色に適宜調整できる。
発光色の調整としては、例えば、蛍光体を封止剤に混合、分散させることにより、発光素子11から放射された光によって蛍光体が励起されて可視光を発光し、この可視光と発光素子11から放射される光とが混色して、発光装置20として所望の発光色を得ることができる。
また、発光素子11から放射される光と蛍光体から発光される可視光とが混色したり、または可視光同士が混色したりすることでも、発光装置20として所望の発光色を得ることができる。
蛍光体の種類は特に限定されるものではなく、発光素子から放射される光の種類や目的とする発光色に応じて適宜に選択される。
本発明の発光装置20は、セラミックスフィラー9を含有させた第2保護層8を設けることにより、発光素子11から基板本体2側に放射された光が、反射層6、セラミックスフィラー9などによって上方に反射され、この反射光が、モールド材13内の蛍光体に入射して可視光を発光したり、またはこの反射光が蛍光体と衝突してさらに屈折または反射されたりする。このため、発光素子からの光が多方向に分散され、配光特性に優れた発光装置20とできる。
なお、蛍光体は、上記のようにして封止剤に混合・分散させる方法に限られず、例えばモールド材13の上に、別に蛍光体の層を設けるようにすることも可能である。
本発明の発光装置20によれば、第2保護層8の表面8Aに露出する銀の量が極めて低減された発光素子搭載用基板1を用いることで、コロイド粒子がモールド材13において凝集して発色する現象が抑制されており、発光素子11から供給される光の損失が少なく、高い発光輝度を得られる発光装置20とできる。
また、本発明の発光装置20によれば、搭載部10の平坦度に優れ、熱抵抗の小さい発光素子搭載用基板1を用いることで、発光素子11の過度な温度上昇を抑制し、高輝度に発光させることができる。さらに、本発明の発光装置20によれば、配光特性のばらつきが低減された、良質の光を得ることができる。
このような本発明の発光装置20は、例えば携帯電話や大型液晶ディスプレイ等のバックライト、自動車用あるいは装飾用の照明、その他の光源として好適に用いることができる。
以下、本発明について実施例を参照してさらに詳細に説明する。
まず、第1保護層7及び第2保護層8(以下、保護層と示す。)用のガラスセラミックス組成物を製造した。すなわち、SiOが81.6mol%、Bが16.6mol%、KOが1.8mol%となるように原料を配合、混合し、この原料混合物を白金ルツボに入れて1600℃で60分溶融させた後、この溶融状態のガラスを流し出し冷却した。このガラスをアルミナ製ボールミルにより20時間粉砕して基板本体用ガラス粉末を製造した。なお、粉砕の溶媒にはエチルアルコールを用いた。
このようにして得られた保護層用のガラス粉末の平均粒径D50(μm)を、レーザー回折/散乱式粒度分布測定装置(島津製作所社製、商品名:SALD2100)を用いて測定した。ガラス粉末の平均粒径D50は、2.5μmであった。
また、保護層用ガラス粉末の軟化点(Ts)を、示差熱分析装置(ブルカーAXS社製、商品名:TG−DTA2000)を用いて昇温速度10℃/分の条件で1000℃まで昇温して測定した。ガラス粉末の軟化点(Ts)は、775℃であった。
次に、保護層用ガラス粉末の耐酸性試験を行った。
耐酸性試験は、ガラス粉末4gを金型に入れてプレスし、焼成して直径14mm、高さ15mmの焼結体を得た後、この焼結体をpH1.68、温度85℃のシュウ酸塩緩衝液700cmの中に浸漬し、1時間経過後の質量減少量を測定することにより行った。なお、浸漬後の質量については、100℃で1時間乾燥した後に測定した。
ガラス粉末焼結体の単位表面積あたりの質量減少量は、0μg/cmであった。
次に、上記の保護層用ガラス粉末に、アルミナ粉末を配合せず、上記保護層用ガラス粉末のみで構成される第1保護層用の組成物1を製造した。
また、上記の保護層用ガラス粉末に、50%粒径(D50)が2μmであるアルミナ粉末(昭和電工社製、商品名:AL−45H)を、30質量%となるように配合し、混合することにより第2保護層用ガラスセラミックス組成物1を製造した。
なお、表中、ガラス粉末とアルミナフィラーとの混合割合は、質量%で表示したものである。
上記第1保護層用組成物1及び第2保護層用ガラスセラミックス組成物1の一部を金型に入れてプレス成形したものを、直径5mm、長さ1mm円板状に加工して10gの加重を加えながら、熱機械測定装置(島津製作所社製、商品名:TMA50)を用いて昇温速度10℃/分で昇温し、試料が収縮を始める温度(収縮開始温度)Td(℃)を測定した。第1保護層用組成物1、第2保護層用ガラスセラミックス組成物1の収縮開始温度は、それぞれ730℃、750℃であった。
(実施例1)
上記の第1保護層用組成物1と樹脂成分とを、ガラスセラミックス組成物を60質量%、樹脂成分を40質量%の割合で配合し、磁器乳鉢中で1時間混練を行い、さらに三本ロールにて3回分散を行って、第1保護層用ガラスペースト1を作製した。
また、第2保護層用ガラスセラミックス組成物1と樹脂成分とを、ガラスセラミックス組成物を60質量%、樹脂成分を40質量%の割合で配合し、磁器乳鉢中で1時間混練を行い、さらに三本ロールにて3回分散を行って、第2保護層用ガラスペースト1を作製した。なお、樹脂成分は、エチルセルロースとαテレピネオールとを質量比85:15の割合で調合し分散したものを使用した。
次に、基板本体用グリーンシート2を製造した。
まず、SiOを60.4mol%、Bを15.6mol%、Alを6mol%、CaOを15mol%、KOを1mol%、NaOを2mol%となるように原料を配合、混合し、この原料混合物を白金ルツボに入れて1600℃で60分溶融させた後、この溶融状態のガラスを流し出し冷却した。このガラスをアルミナ製ボールミルにより40時間粉砕して基板本体用ガラス粉末を製造した。なお、粉砕の溶媒にはエチルアルコールを用いた。
この本体基板用ガラス粉末が35質量%、アルミナ粉末(昭和電工社製、商品名:AL−45H)が40質量%、ジルコニア粉末(第一稀元素化学工業社製、商品名:HSY−3F−J)が25質量%となるように配合し、混合することにより基板本体用ガラスセラミックス組成物を製造した。このガラス基板本体用セラミックス組成物50gに、有機溶剤(トルエン、キシレン、2−プロパノール、2−ブタノールを質量比4:2:2:1で混合したもの)15g、可塑剤(フタル酸ジ−2−エチルヘキシル)2.5g、バインダーとしてのポリビニルブチラール(デンカ社製、商品名:PVK#3000K)5g、さらに分散剤(ビックケミー社製、商品名:BYK180)を配合し、混合してスラリーを調製した。
このスラリーをPETフィルム上にドクターブレード法により塗布し、乾燥させ、焼成後の厚さが0.15mmとなる本体用グリーンシートを製造した。
一方、導電性粉末(大研化学工業社製、商品名:S550)、ビヒクルとしてのエチルセルロースを質量比85:15の割合で配合し、固形分が85質量%となるように溶剤としてのαテレピネオールに分散した後、磁器乳鉢中で1時間混練を行い、さらに三本ロールにて3回分散を行って金属ペーストを製造した。
本体用グリーンシート2の未焼成貫通導体6に相当する部分に孔空け機を用いて直径0.3mmの貫通孔を形成し、スクリーン印刷法により金属ペーストを充填して未焼成貫通導体ペースト層5を形成すると共に、未焼成接続端子導体ペースト層3、未焼成外部電極端子導体ペースト層4を形成した。このグリーンシートを重ね合わせ、熱圧着により一体化して、導体ペースト層付き本体用グリーンシート2を得た。
導体ペースト層付き本体用グリーンシート2の搭載面2aの中央部に、銀反射膜用ペースト層6をスクリーン印刷法によって形成した。その上に、第1保護層用ガラスペースト1をスクリーン印刷法によって塗布し、第1保護層7を形成した。この第1保護層7の上に、さらに第2保護層用ガラスペースト1をスクリーン印刷法によって塗布し、第2保護層8を形成して未焼成発光素子搭載用基板1とした。
なお、銀反射層6用ペーストは、銀粉末(大研化学工業社製、商品名:S400−2)、ビヒクルとしてのエチルセルロースを質量比85:15の割合で配合し、固形分が85質量%となるように溶剤としてのαテレピネオールに分散した後、磁器乳鉢中で1時間混練を行い、さらに三本ロールにて3回分散を行って金属ペーストを製造した。
上記で得られた未焼成発光素子搭載用基板1を、550℃で5時間保持して脱脂を行い、さらに870℃で30分間保持して焼成を行って発光素子搭載用基板1を製造した。発光素子搭載用基板1上に形成された第1保護層7の厚みは、25μmであり、第2保護層8の厚みは、25μmであった。
(比較例1〜2)
銀反射膜用ペースト層6上に第1保護層7を形成せず、銀反射膜用ペースト層6上に直接第2保護層用ガラスペーストを塗布して第2保護層8を形成したこと以外は、実施例1と同様にして、発光素子搭載用基板1を製造した(比較例1)。
また、銀反射膜用ペースト層6上に第1保護層用ガラスペースト1を塗布して第1保護層7のみを形成し、第2保護層8を形成しなかったこと以外は、実施例1と同様にして、発光素子搭載用基板1を製造した(比較例2)。
次に、各実施例1および比較例1〜2の発光素子搭載用基板1を焼成後24時間放置した後、Electron Probe Micro Analyzerを用いて第1保護層7又は第2保護層8に含まれる銀(Ag)成分の濃度を測定した。
なお、実施例1及び比較例1では、アルミナ粉末を配合した第2保護層8における、Al近傍領域のガラス粉末焼結体について銀(Ag)成分の濃度測定を行った。また、比較例2では、第1保護層7における、ガラス粉末焼結体の任意領域について銀(Ag)成分の濃度測定を行った。測定結果を表1に示す。
次に、上記実施例1及び比較例1〜2の各発光素子搭載用基板1に、発光ダイオード素子11を搭載して発光装置20を作成した。第2保護層8aの搭載部10上に発光ダイオード素子11(昭和電工社製、商品名:GQ2CR460Z)を1つダイボンド材(信越化学工業社製、商品名:KER−3000−M2)により固定し、その図示しない電極をボンディングワイヤ12によって接続端子3に電気的に接続した。さらに封止剤(信越化学工業社製、商品名:CSR−1016A)をもちいて図4に示すモールド材13を構成するように封止した。封止剤には蛍光体(化学オプトニクス社製、商品名P46−Y3)を封止剤に対して20重量%含有したものを用いた。
この状態で、温度85℃、湿度85%の環境下で250時間放置して、モールド材13の発色状態を観察した。
[熱抵抗]
この発光ダイオード素子が搭載された発光素子用基板1について、熱抵抗測定器(嶺光音電機株式会社製、商品名:TH−2167)を用いて熱抵抗を測定した。なお、印加電流は35mAとし、電圧降下が飽和する時間まで通電し、降下した電圧と発光ダイオード素子の温度−電圧降下特性から導かれる温度係数によって飽和温度Tj(℃)を算出した。評価結果を表1に示す。
なお、表1では、実施例1の飽和温度Tjの測定値を100とし、比較例1及び2については、各飽和温度Tjの測定値から、実施例1の測定値を基準とした相対値を算出したものを表記した。
上記発光ダイオード素子を用いた場合の熱抵抗は30℃以下が好ましく、25℃以下がより好ましい。熱抵抗が30℃より高いと電圧降下が大きくなり、発光ダイオード素子の光取り出し効率や寿命が低下するおそれがある。
[光束量]
次に、各実施例及び比較例の発光装置20について、発光素子11(発光ダイオード素子)に対し、電圧/電流発生器(アドバンテスト社製、商品名:R6243)を用いて35mAを印加し、各発光装置20から得られる光の全光束量(ルーメン)を測定した。
全光束量の測定は、積分球(直径6インチ)内に発光装置20を設置し、全光束測定装置(スペクトラコープ社製、商品名:SOLIDLAMBDA・CCD・LED・MONITOR・PLUS)を用いて行った。測定結果を表1に示す。
なお、表1では、実施例1の光束量の測定値を100とし、比較例1及び2については、各光束量の測定値から、実施例1の測定値を基準とした相対値を算出したものを表記した。
Figure 2011243660
表1から明らかなように、比較例1の発光素子搭載用基板1を用いた発光装置20では、モールド13での発色が認められ、光束量が低くなることが認められた。また、比較例2の発光素子搭載用基板1を用いた発光装置20では、モールド材13の発色は認められなかったものの、熱抵抗が高くなることが認められた。
一方、実施例1の発光素子搭載用基板1を用いた発光装置20では、モールド材13における発色がなく、高い光束量を得られるとともに、熱抵抗の上昇も抑制されることが認められた。
1…発光素子搭載用基板、2…基板本体、3…接続端子、4…外部電極端子、5…貫通導体、6…反射層、6A…金属イオン(銀イオン)、7…第1保護層、8…第2保護層、8A…第2保護層8の表面、9…セラミックスフィラー、10…搭載部、11…発光素子、12…ボンディングワイヤ、13…モールド材、20…発光装置、90…アルミナ系フィラー

Claims (9)

  1. 基板本体と、
    前記基板本体の一部に形成された、銀(Ag)又は銀合金を主体とする反射層と、
    前記反射層の全面を覆うように形成された、ガラス粉末焼結体を主体とする第1保護層と、前記第1保護層の上に形成され、一部が発光素子の搭載される搭載部となる第2保護層と、を有する発光素子搭載用基板であって、前記第1保護層がアルミナ系フィラーを実質的に含有せず、かつ前記第2保護層がセラミックスフィラーを含有するガラス粉末焼結体からなることを特徴とする発光素子搭載用基板。
  2. 前記第1保護層に含まれる銀(Ag)又は銀合金の濃度が0.3%以下である請求項1記載の発光素子搭載用基板。
  3. 前記第2保護層に含まれるセラミックスフィラーの含有量が、10質量%以上30質量%以下である請求項1又は2記載の発光素子搭載用基板。
  4. 前記第2保護層に含まれるセラミックスフィラーがアルミナ粉末、ジルコニア粉末、チタニア粉末、シリカ粉末から選択される1種又は2種以上の混合物からなる請求項1乃至3のいずれか1項記載の発光素子搭載用基板。
  5. 前記第1保護層の厚みが10μm以上30μm以下である請求項1乃至4のいずれか1項記載の発光素子搭載用基板。
  6. 前記第2保護層の厚みが10μm以上30μm以下である請求項1乃至5のいずれか1項記載の発光素子搭載用基板。
  7. 前記反射層が、銀又は銀パラジウム合金、銀白金合金のような銀と白金族元素との合金から選択される金属を含む層で構成される請求項1乃至6のいずれか1項記載の発光素子搭載用基板。
  8. 請求項1乃至7のいずれか1項記載の発光素子搭載用基板と、
    前記発光素子搭載用基板の搭載部に搭載される発光素子と、を有する
    ことを特徴とする発光装置。
  9. 前記基板本体及び前記第2保護層の表面の一部又は全部が、白金触媒を含むシリコーン樹脂で封止されてなる請求項8記載の発光装置。
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