JP2011242327A - 試料の断面形成方法、固定用治具および測定方法 - Google Patents
試料の断面形成方法、固定用治具および測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011242327A JP2011242327A JP2010116229A JP2010116229A JP2011242327A JP 2011242327 A JP2011242327 A JP 2011242327A JP 2010116229 A JP2010116229 A JP 2010116229A JP 2010116229 A JP2010116229 A JP 2010116229A JP 2011242327 A JP2011242327 A JP 2011242327A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- section
- cross
- measurement
- sheet member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 81
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title abstract description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 72
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000005102 attenuated total reflection Methods 0.000 claims abstract description 16
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 25
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 19
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 15
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 15
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 13
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 13
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 abstract description 6
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 62
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 5
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 5
- -1 polypropylene Polymers 0.000 description 5
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 5
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 5
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 4
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 4
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 4
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 2
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000004819 Drying adhesive Substances 0.000 description 1
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WNROFYMDJYEPJX-UHFFFAOYSA-K aluminium hydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[OH-].[Al+3] WNROFYMDJYEPJX-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】試料の断面形成方法は、減衰全反射法を利用した赤外分光法において、フィルム状の試料21に測定用断面22を形成するための方法である。試料の断面形成方法は、試料21を補強用シート31間に配置するステップと、補強用シート31に対してその両側から試料21を挟み込む方向の外力を作用させるステップと、補強用シート31に外力を作用させた状態で、補強用シート31の端部を試料21ごと除去することによって、試料21に測定用断面22を得るステップとを備える。
【選択図】図7
Description
Claims (8)
- 減衰全反射法を利用した赤外分光法において、フィルム状の試料に測定用の断面を形成するための試料の断面形成方法であって、
試料をシート部材間に配置するステップと、
前記シート部材に対してその両側から試料を挟み込む方向の外力を作用させるステップと、
前記シート部材に前記外力を作用させた状態で、前記シート部材の端部を試料ごと除去することによって、試料に測定用の断面を得るステップとを備える、試料の断面形成方法。 - 前記シート部材は、試料とは異なる材質から形成される、請求項1に記載の試料の断面形成方法。
- 前記シート部材は、樹脂材料から形成される、請求項1または2に記載の試料の断面形成方法。
- 前記試料をシート部材間に配置するステップは、前記シート部材間の一部に配置した接着部材によって、試料を前記シート部材間に仮固定するステップを含み、
前記試料に測定用の断面を得るステップの前に、前記外力を作用させた状態の前記シート部材から、前記接着部材が配置された前記シート部材の一部を切り離すステップをさらに備える、請求項1から3のいずれか1項に記載の試料の断面形成方法。 - 前記シート部材に外力を作用させるステップは、前記シート部材の両側に挟持部材を配置し、前記挟持部材を互いに近接させることによって、前記シート部材に試料を挟み込む方向の外力を作用させるステップを含む、請求項1から4のいずれか1項に記載の試料の断面形成方法。
- 前記シート部材の両側に挟持部材を配置するステップは、試料を挟み込んだ前記シート部材の一部が前記挟持部材間から突出するように、前記シート部材の両側に前記挟持部材を配置するステップを含み、
前記試料に測定用の断面を得るステップは、前記挟持部材間から突出する位置で前記シート部材の端部を試料ごと除去するステップを含む、請求項5に記載の試料の断面形成方法。 - 請求項5または6に記載の試料の断面形成方法において用いられる試料の固定用治具であって、
前記シート部材の両側に配置される前記挟持部材と、
前記挟持部材に連結され、前記挟持部材間の距離が変化するように前記挟持部材を移動させる移動機構部とを備える、試料の固定用治具。 - 減衰全反射法を利用した赤外分光法による試料の測定方法であって、
試料をシート部材間に配置するステップと、
前記シート部材に対してその両側から試料を挟み込む方向の外力を作用させるステップと、
前記シート部材に前記外力を作用させた状態で、前記シート部材の端部を試料ごと除去することによって、試料に測定用の断面を得るステップと、
前記シート部材に前記外力を作用させた状態で、試料の測定用の断面に所定の屈折率を有する媒質結晶を当接させつつ、赤外線を前記媒質結晶を介して試料に照射するステップとを備える、試料の測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010116229A JP5115584B2 (ja) | 2010-05-20 | 2010-05-20 | 試料の断面形成方法、固定用治具および測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010116229A JP5115584B2 (ja) | 2010-05-20 | 2010-05-20 | 試料の断面形成方法、固定用治具および測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011242327A true JP2011242327A (ja) | 2011-12-01 |
JP5115584B2 JP5115584B2 (ja) | 2013-01-09 |
Family
ID=45409124
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010116229A Active JP5115584B2 (ja) | 2010-05-20 | 2010-05-20 | 試料の断面形成方法、固定用治具および測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5115584B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015017910A (ja) * | 2013-07-11 | 2015-01-29 | 株式会社エス・テイ・ジャパン | 試料ホルダ、顕微分析方法および試料作成方法 |
JP2015045745A (ja) * | 2013-08-28 | 2015-03-12 | 株式会社島津テクノリサーチ | 観察試料固定器具 |
JP2018096735A (ja) * | 2016-12-09 | 2018-06-21 | 株式会社トクヤマ | 分光学的手法による形態観察方法 |
WO2020068259A1 (en) * | 2018-09-30 | 2020-04-02 | Agilent Technologies, Inc. | Sacrificial clamp for preparation of thin specimens for infrared microscopy |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4984780U (ja) * | 1972-11-13 | 1974-07-23 | ||
JPS5517479A (en) * | 1978-07-25 | 1980-02-06 | Kobe Steel Ltd | Polishing method for test piece for metal microscope and test piece |
JPS6021435A (ja) * | 1983-07-15 | 1985-02-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 観察用サンプルの製造方法 |
JPH04348257A (ja) * | 1990-07-06 | 1992-12-03 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 赤外線全反射吸収測定装置および結晶体 |
JPH09205122A (ja) * | 1996-01-29 | 1997-08-05 | Matsushita Electron Corp | 半導体装置の解析方法および解析装置 |
JP2003098076A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Konica Corp | 赤外吸収スペクトル測定方法及び装置 |
JP2005156385A (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-16 | Shimadzu Corp | 赤外顕微鏡及びその測定位置確定方法 |
JP2005164547A (ja) * | 2003-12-05 | 2005-06-23 | Jiyasuko Eng Kk | 薄膜スライサ |
JP2008076345A (ja) * | 2006-09-25 | 2008-04-03 | Toppan Printing Co Ltd | 顕微鏡観察用固定治具 |
JP3147841U (ja) * | 2008-11-04 | 2009-01-22 | 雅浩 中村 | 超簡単ミクロトーム |
-
2010
- 2010-05-20 JP JP2010116229A patent/JP5115584B2/ja active Active
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4984780U (ja) * | 1972-11-13 | 1974-07-23 | ||
JPS5517479A (en) * | 1978-07-25 | 1980-02-06 | Kobe Steel Ltd | Polishing method for test piece for metal microscope and test piece |
JPS6021435A (ja) * | 1983-07-15 | 1985-02-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 観察用サンプルの製造方法 |
JPH04348257A (ja) * | 1990-07-06 | 1992-12-03 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 赤外線全反射吸収測定装置および結晶体 |
JPH09205122A (ja) * | 1996-01-29 | 1997-08-05 | Matsushita Electron Corp | 半導体装置の解析方法および解析装置 |
JP2003098076A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Konica Corp | 赤外吸収スペクトル測定方法及び装置 |
JP2005156385A (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-16 | Shimadzu Corp | 赤外顕微鏡及びその測定位置確定方法 |
JP2005164547A (ja) * | 2003-12-05 | 2005-06-23 | Jiyasuko Eng Kk | 薄膜スライサ |
JP2008076345A (ja) * | 2006-09-25 | 2008-04-03 | Toppan Printing Co Ltd | 顕微鏡観察用固定治具 |
JP3147841U (ja) * | 2008-11-04 | 2009-01-22 | 雅浩 中村 | 超簡単ミクロトーム |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015017910A (ja) * | 2013-07-11 | 2015-01-29 | 株式会社エス・テイ・ジャパン | 試料ホルダ、顕微分析方法および試料作成方法 |
JP2015045745A (ja) * | 2013-08-28 | 2015-03-12 | 株式会社島津テクノリサーチ | 観察試料固定器具 |
JP2018096735A (ja) * | 2016-12-09 | 2018-06-21 | 株式会社トクヤマ | 分光学的手法による形態観察方法 |
WO2020068259A1 (en) * | 2018-09-30 | 2020-04-02 | Agilent Technologies, Inc. | Sacrificial clamp for preparation of thin specimens for infrared microscopy |
CN112771370A (zh) * | 2018-09-30 | 2021-05-07 | 安捷伦科技有限公司 | 用于制备红外显微镜薄样本的牺牲性夹具 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5115584B2 (ja) | 2013-01-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5115584B2 (ja) | 試料の断面形成方法、固定用治具および測定方法 | |
TWI461783B (zh) | 液晶顯示裝置用單元之製造方法 | |
JP6165206B2 (ja) | 光制御パネルの製造方法、光制御パネル、光学結像装置、及び、空中映像形成システム | |
US11786194B2 (en) | Radiation detector comprising a reinforcement substrate, radiographic imaging device, and manufacturing method | |
KR20150139520A (ko) | 절삭 가공 방법 및 절삭 가공 장치 | |
CN106370115B (zh) | 一种铝塑膜铝层厚度的测试方法 | |
KR101185647B1 (ko) | 디스플레이 패널을 제조하기 위한 방법 | |
JP2016539828A (ja) | 使い捨て試験ユニットをレーザ溶着するための方法 | |
JP6407472B2 (ja) | 接着シートおよびその使用方法 | |
CN108700762B (zh) | 调光单元 | |
KR20220145816A (ko) | 광투과성 적층체의 검사 방법 | |
JP2006220559A (ja) | 薄切片標本の作製方法及び薄切片標本 | |
JP2020512585A5 (ja) | ||
CN104097382A (zh) | 冷却显示设备的粘合层的装置及分离面板的方法 | |
CN105026136A (zh) | 面板层叠体的制造方法和固化状态判别方法 | |
JP7084702B2 (ja) | 指紋センサに適したカバー部材を製造する方法 | |
KR101589932B1 (ko) | 웨이퍼 상의 다이를 검측하는 방법 | |
JP5848952B2 (ja) | 接着強度測定装置および接着強度測定方法 | |
CN115931710A (zh) | 绝缘材料与铜箔剥离强度的测试装置和测试方法 | |
TWI334028B (en) | Test apparatus for chip strength | |
TW201545174A (zh) | 異向性導電膜及其製造方法 | |
CN108878282B (zh) | 分离装置及分离方法 | |
JP2018080280A (ja) | 半導体用シートの製造方法および製造装置、並びに切り込み刃 | |
CN109641441B (zh) | 制造光学面板的方法以及设备 | |
CN112697098A (zh) | 柱体棒材上的应变片粘贴方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110928 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120725 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120731 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120830 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120918 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121001 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5115584 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151026 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |