CN109641441B - 制造光学面板的方法以及设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种制造光学面板的设备，以及制造光学面板的方法。设备包含：薄膜分离器，其将光学薄膜自脱模薄膜与光学薄膜的堆叠结构分离；薄膜测量单元，其测量由薄膜分离器分离的光学薄膜的前端的第一位置值及第二位置值，第一位置值表示光学薄膜的前端相对于第一方向的位置，第二位置值表示光学薄膜的前端相对于不同于第一方向的第二方向的位置；以及控制器，其基于通过薄膜测量单元测量的光学薄膜的前端的位置值调节待黏结至光学薄膜的面板的位置。在本发明的制造光学面板的方法以及设备中，测量光学薄膜的卷曲以调节面板的黏结位置，进而实现光学薄膜至面板的准确黏结。

Description

制造光学面板的方法以及设备
技术领域
本发明涉及一种制造光学面板的方法及设备。更明确而言，本发明涉及一种制造光学面板的设备，所述设备可将光学薄膜在准确位置处黏结至面板。
背景技术
一般而言，作为一种光学面板，液晶面板对应于液晶显示器的显示器部分，且通过将具有偏振层的光学薄膜黏结至具有矩形形状的面板而制得。
此类制造液晶显示面板的方法分类为薄片-至-面板(sheet to panel(STP))类型方法，其中光学薄膜的薄片黏结至面板；以及辊-至-面板(roll to panel(RTP))类型方法，其中供给绕辊卷绕的光学薄膜且将其黏结至面板。
在RTP类型方法中，藉助于黏着剂黏结至脱模薄膜的光学薄膜不断自辊展开，自脱模薄膜分离，且随后通过黏结滚筒以及类似物黏结至面板。
具体而言，在RTP类型方法中，因为不断供应自辊展开的光学薄膜且将其黏结至面板，所以可不断生产液晶显示面板，进而提高生产力。
然而，RTP类型方法不易控制光学薄膜的位置、移动速度以及类似性质且可能由于施加至其上的张力以及残余应力而导致薄膜变形。因此，需要解决这些问题。
本发明的背景技术公开于韩国专利特许公开第10-2012-0023577号中(公开日期：2012.03.13，发明名称：用于将具有偏振层的光学薄膜连续附接至矩形面板的方法以及设备(Method and apparatus for sequentially attaching optical film havingpolarization layer to rectangular panel))。
发明内容
技术问题
已设想本发明来解决先前技术中的此类问题且本发明的一实施方式提供一种制造光学面板的方法以及设备，所述方法以及设备可通过基于光学薄膜的位置或形状的准确测量，调节面板的黏结位置，来将光学薄膜在准确位置处黏结至面板。
技术解决方案
根据本发明的一个实施方式，制造光学面板的设备包含：薄膜分离器，其将光学薄膜自脱模薄膜与光学薄膜的堆叠结构分离；薄膜测量单元，其测量由薄膜分离器分离的光学薄膜的前端(leading end)的第一位置值以及第二位置值，第一位置值表示光学薄膜的前端相对于第一方向的位置，第二位置值表示光学薄膜的前端相对于不同于第一方向的第二方向的位置；以及控制器，其基于通过薄膜测量单元测量的光学薄膜的前端的位置值调节待黏结至光学薄膜的面板的位置。
在本发明中，薄膜测量单元可包含图像获取单元，所述图像获取单元拍摄光学薄膜的前端的图像以测量光学薄膜的前端的第一位置值；以及距离测量单元，所述距离测量单元测量至光学薄膜的距离以测量第二位置值。
在本发明中，距离测量单元可在平行于第一方向的方向上移动。
在本发明中，距离测量单元可包含：在平行于第一方向的方向上延伸的测量导引件；以及以可移动方式耦接至测量导引件的距离测量传感器。
在本发明中，薄膜测量单元可通过使距离测量传感器旋转来测量第一位置值以及第二位置值。
在本发明中，可在光学薄膜的横向方向上配置多个薄膜测量单元。
在本发明中，薄膜测量单元可通过拍摄光学薄膜的侧表面来测量第一位置值以及第二位置值。
在本发明中，在由薄膜分离器分离的光学薄膜上未产生卷曲(curl)的状态下，第一方向可为光学薄膜的纵向方向。
在本发明中，第二方向可垂直于第一方向。
根据本发明的另一实施方式，制造光学面板的方法包含：将光学薄膜自脱模薄膜与光学薄膜的堆叠结构分离；测量自堆叠结构分离的光学薄膜的前端的第一位置值以及第二位置值，第一位置值表示光学薄膜的前端相对于第一方向的位置，第二位置值表示光学薄膜的前端相对于不同于第一方向的第二方向的位置；以及通过控制器，基于光学薄膜的前端的所测量的位置值计算无卷曲的光学薄膜的前端的位置，随后调节待黏结至光学薄膜的面板的位置。
在本发明中，测量光学薄膜的前端的第一位置值以及第二位置值可包含：拍摄光学薄膜的前端的图像以测量光学薄膜的前端的第一位置值；以及测量至光学薄膜的距离以测量第二位置值。
在本发明中，在由薄膜分离器分离的光学薄膜上未产生卷曲(curl)的状态下，第一方向可为光学薄膜的纵向方向，且第二方向可垂直于第一方向。
有利功效
在本发明的制造光学面板的方法以及设备中，测量光学薄膜的卷曲以调节面板的黏结位置，进而实现光学薄膜至面板的准确黏结。
附图说明
图1为根据本发明的一个实施例的制造光学面板的设备的概念视图。
图2为图1中所示的虚线区块A的放大视图。
图3为图1中所示的虚线区块A的透视图。
图4为根据本发明的第二实施例的薄膜测量单元的正视图。
图5为根据本发明的第二实施例的薄膜测量单元的透视图。
图6为根据本发明的第三实施例的薄膜测量单元的正视图。
图7为根据本发明的第三实施例的薄膜测量单元的透视图。
图8为说明在根据本发明的一个实施例的制造光学面板的设备中，视光学薄膜的前端的位置而定的测量误差的曲线。
图9为说明在根据本发明的一个实施例的制造光学面板的设备中，光学薄膜的形状以及长度的曲线。
图10为根据本发明的一个实施例的制造光学面板的方法的流程图。
具体实施方式
文将参考附图详细描述本发明的实施例。应注意，所述附图未按精确比例且仅为了描述便利以及清楚，可能放大线的厚度或组件的尺寸。
此外，通过考虑本发明的功能定义本文所使用的术语且可根据使用者或操作员习惯或意图进行改变。因此，应根据本文所阐述的整个公开内容定义术语。
图1为根据本发明的一个实施例的制造光学面板的设备的概念视图。
参考图1，根据一个实施例的光学面板制造设备1包含输送单元100、切割单元200、薄膜分离器300、薄膜测量单元400、黏结滚筒单元500以及控制器600，且其经组态以通过以下来制造液晶显示面板：将光学薄膜11自光学薄膜11与脱模薄膜13的堆叠结构10分离；以及基于自堆叠结构分离的光学薄膜11的前端11a的位置调节面板20的附接位置，进而防止光学薄膜11与面板20之间的黏结位置偏离准确位置。
在本文中，尽管光学面板制造设备1将说明为制造诸如液晶显示面板的光学面板30，但应了解，本发明的设备可在不偏离包含将具有薄片形状的第一构件黏结至诸如薄膜的第二部件的技术的本发明的精神下应用于其他类型的装置的制造。
在此实施例中，构成光学面板30的光学薄膜11可包含偏振器以及藉助于黏着剂或无黏着剂的情况下形成于偏振器的一个或两个表面上的保护膜。在一个实施例中，偏振器在其伸展方向上具有吸收轴。
在此实施例中，光学薄膜11可包含相位延迟薄膜，诸如λ/4延迟膜、λ/2延迟膜以及类似膜、补偿膜、增亮膜、表面保护膜以及类似膜。在一些实施例中，光学薄膜的厚度可为10μm(微米)至500μm。
偏振器例如聚乙烯醇膜，是通过染色、交联、拉伸以及干燥来制造。可同时或依次进行聚乙烯醇膜的染色、交联以及拉伸，不限于特定顺序。
在一个实施例中，经受膨胀的聚乙烯醇膜可用作所述聚乙烯醇膜。一般而言，通过以下来制造偏振器：将所述聚乙烯醇膜浸渍在含有碘或二色性染料的溶液中以使聚乙烯醇膜经碘或二色性染料染色，且在含有硼酸或硼砂的溶液中将经染色的聚乙烯醇膜单轴向拉伸至其初始长度的三倍至七倍的伸长，随后清洗以及干燥。
在一个实施例中，黏着剂可包含(但不限于)丙烯酸黏着剂、硅酮黏着剂以及胺基甲酸酯黏着剂。在一个实施例中，黏着层的厚度可为10μm至50μm。
作为脱模薄膜13，可使用塑胶薄膜，例如聚对苯二甲酸伸乙酯膜以及聚烯烃薄膜。脱模薄膜13可涂有合适剥离剂，诸如硅类剥离剂、长链烷基类剥离剂、氟类剥离剂或硫化钼剥离剂。
作为液晶单元，面板20可包含一对面向彼此安置的基板以及密封于基板之间的液晶层。面板20可由任何类型的液晶单元中选出。具体而言，为获得高对比度，面板可为垂直对准(vertical alignment(VA))模式液晶单元或共平面切换模式(in-plane switchingmode(IPS))液晶单元。
光学面板30包含黏结至面板20的一个或两个表面的光学薄膜11且其中视需要具备驱动电路。
输送单元100输送脱模薄膜13与光学薄膜11的堆叠结构10。在此实施例中，堆叠结构10自堆叠结构辊40展开且供应至输送单元100，其中光学薄膜11自堆叠结构10的脱模薄膜13分离且耦接至具有基本上平面形状的面板20。
在此实施例中，堆叠结构10通过使光学薄膜11黏结至脱模薄膜13来形成且绕堆叠结构辊40卷绕，进而允许持续供应光学薄膜11，同时防止涂覆至光学薄膜11的黏着剂损失。在此实施例中，输送单元100包含进料器110、导向器130以及张力控制器150。
进料器110经旋转以在邻接堆叠结构10的同时使堆叠结构10移动。提供多个导向器130且使其邻接堆叠结构10以转换堆叠结构10的移动方向。
张力控制器150安置于进料器110附近或导向器130之间以在邻接堆叠结构10的状态下往复运动且调节施加至堆叠结构10的张力。在此实施例中，张力控制器150可通过张力调节辊(dancer roll)(但不限于其)实现。
在此实施例中，光学薄膜11通过在其横向方向上或纵向方向上具有吸收轴的偏振膜实现且黏结至通过液晶单元实现的面板20。在此实施例中，一对光学薄膜11附接至面板20的两个表面，使得光学薄膜11的吸收轴彼此垂直配置，从而提供正交偏光镜(crossedNicols)。
切割单元200用以切割耦接至脱模薄膜13的光学薄膜11。在此实施例中，切割单元200包含切割装置210以及吸收装置230。在切割单元200中，随着脱模薄膜13牢固吸附至吸收装置230，切割装置210在横向方向上切割光学薄膜11，从而将堆叠结构10半切割(half-cut)。
亦即，可通过仅切割堆叠结构10中脱模薄膜13以外的光学薄膜11，将光学薄膜11切割至对应于面板20的长度以便黏结至面板20，且切割光学薄膜11可连同脱模薄膜13同时移动，进而实现光学薄膜11的持续供应。
在一个实施例中，可通过切割机、激光或类似物(但不限于)实现切割装置210。显然，亦可通过其他方法实现切割装置210，只要所述方法可在横向方向上切割光学薄膜11即可。
薄膜分离器300将脱模薄膜13自堆叠结构10分离。在此实施例中，随着脱模薄膜13安置于堆叠结构10内部，薄膜分离器300折叠堆叠结构10，进而使得光学薄膜11自脱模薄膜13分离。
薄膜分离器300可包含楔形构件以及滚筒。由薄膜分离器300分离的脱模薄膜13绕脱模薄膜卷绕辊50卷绕。
图2为图1中所示的虚线区块A的放大视图且图3为图1中所示的虚线区块A的透视图。
参考图2以及图3，薄膜测量单元400测量由薄膜分离器300分离的光学薄膜11的前端11a相对于第一方向(图2中的X轴方向)的第一位置值x以及其相对于不同于第一方向(X轴方向)的第二方向(图2中的Y轴方向)的第二位置值y，且将所测量的位置值(x,y)发送至控制器600。
根据本发明，因为薄膜测量单元400、400a、400b、400c在多个方向上测量光学薄膜11的前端11a的位置值，所以薄膜测量单元400、400a、400b、400c可测量二维坐标，亦即光学薄膜11的前端11a的平面坐标，或三维坐标，亦即其空间坐标，且允许基于多维坐标测量光学薄膜11的前端11a与薄膜分离器300之间的距离以及光学薄膜11的卷曲(curled)。
根据第一实施例的薄膜测量单元400a包含图像获取单元410a以及距离测量单元430a以测量光学薄膜11的前端11a的第一位置值x以及第二位置值y且将所测量的位置值发送至控制器600。
在本文中，第一方向(X轴方向)表示在由薄膜分离器300分离的光学薄膜11上未产生卷曲(curl)的状态下光学薄膜11的纵向方向，且第一位置值x表示在第一方向(X轴方向)上或在平行于第一方向(X轴方向)的方向上光学薄膜11相对于薄膜分离器300的移动距离。
亦即，假设将平行于第一方向(X轴方向)的轴线定义为X轴，则第一方向(X轴方向)表示X轴方向且第一位置值x对应于前端11a在X轴上的坐标值。
此外，第二方向(Y轴方向)表示垂直于第一方向(X轴方向)的方向。亦即，因为第二方向(Y轴方向)表示光学薄膜11的前端11a由于光学薄膜11的重量或由于在自脱模薄膜13分离时所产生的残余应力而相对于第一方向(X轴方向)弯曲的程度，所以光学薄膜11的卷曲(curl)愈高表明光学薄膜11的前端11a在第二方向(Y轴方向)上的弯曲程度愈高，亦即第二位置值y的绝对值愈高。
在此实施例中，第二方向(Y轴方向)对应于光学薄膜相对于第一方向(X轴方向)的弯曲方向，亦即Y轴方向垂直于X轴方向，且第二位置值y对应于前端11a在Y轴上的坐标值。
图像获取单元410a通过拍摄光学薄膜11的前端11a的图像来测量光学薄膜11的前端11a的第一位置值x。具体言之，图像获取单元410a通过以下来测量光学薄膜11的前端11a的第一位置值x：在基本上垂直于第一方向(X轴方向)的方向上拍摄光学薄膜11的前端11a的图像以获得基本上垂直于Y轴方向的其二维图像；基于色彩信息的差异(例如色度、亮度以及类似特性的差异)判定某一区域是否是属于光学薄膜11的区域；且随后测量所述区域的界面位置。
应了解，本发明不限于以上实施例且图像获取单元410a对光学薄膜11的前端11a的区域的测量可通过各种方法实现，只要所述方法可测量光学薄膜11的第一位置值x即可。
距离测量单元430a通过测量距离测量单元430a至光学薄膜11的距离来测量第二位置值y。在第一实施例中，距离测量单元430a可通过以下来测量距离测量单元430a至光学薄膜11的距离：向光学薄膜11发射诸如激光光束的光；接收自其反射的光；以及分析反射光的波长变化、反射光到达距离测量单元430a所需的时间以及类似参数。此处，第二位置值y对应于自距离测量单元430a至X轴的距离减去距离测量单元430a至光学薄膜11的距离所获得的值。
距离测量单元430a测量在基本上平行于第一方向(X轴方向)的方向上移动时至光学薄膜11的前端11a的距离。因为距离测量单元430a测量表示在X轴方向上移动时至光学薄膜11的前端11a的距离的Y轴坐标值，所以可测量光学薄膜11的卷曲(curl)。
此外，距离测量单元430a可基于至光学薄膜11的距离或在即将无法测量至光学薄膜11的距离的时间点前至光学薄膜的距离的突变来测量表示光学薄膜11的前端11a的Y轴坐标值的第二位置值y。在此实施例中，距离测量单元430a包含测量导引件431a以及距离测量传感器433a。
测量导引件431a在平行于第一方向(X轴方向)的X轴方向上延伸，且距离测量传感器433a以可移动方式耦接至测量导引件431a。
因此，因为距离测量传感器433a测量在第一方向(X轴方向)上移动时至光学薄膜11的距离，所以距离测量传感器433a可测量在第一方向(X轴方向)上至光学薄膜11的所有距离，至光学薄膜11的最近距离(当光学薄膜11的前端11a由于其重量而向距离测量传感器433a弯曲时)或至光学薄膜11的最远距离(当光学薄膜11的前端11a由于残余应力以及类似力而向距离测量传感器433a反向弯曲时)可作为至光学薄膜11的前端11a的距离测量。
图4为根据本发明的第二实施例的薄膜测量单元的正视图且图5为根据本发明的第二实施例的薄膜测量单元的透视图。
参考图4以及图5，根据第二实施例的薄膜测量单元400b包含距离测量传感器410b以及传感器旋转单元430b，所述传感器旋转单元430b使距离测量传感器410b旋转以测量光学薄膜11的前端11a的第一位置值x以及第二位置值y。
当距离测量传感器410b旋转时，距离测量传感器410b所测量的至光学薄膜11的距离以及距离测量传感器410b的旋转角度对应于将距离测量传感器410b设定为原点的情况下的旋转坐标值(r,θ)，且可通过简单坐标转换将其转换为光学薄膜11的前端11a的第一位置值x以及第二位置值y的坐标值。
根据第二实施例，可在不使用图像获取单元410a下通过单独距离测量传感器410b测量光学薄膜11的前端11a的位置以及光学薄膜11的形状，进而简化设备的结构。
图6为根据本发明的第三实施例的薄膜测量单元的正视图且图7为根据本发明的第三实施例的薄膜测量单元的透视图。
参考图6以及图7，根据第三实施例的薄膜测量单元400c通过拍摄由薄膜分离器300分离的光学薄膜11的侧表面来测量第一位置值x以及第二位置值y。
在第三实施例中，因为薄膜测量单元400c在光学薄膜11的各侧拍摄光学薄膜11的侧表面的图像且将所拍摄的图像发送至控制器600，所以薄膜测量单元400c可基于薄膜测量单元400c的位置以及在光学薄膜11的前端11a的所拍摄图像中光学薄膜11的前端11a的坐标，测量光学薄膜11的前端11a的第一位置值x以及第二位置值y。
在第三实施例中，薄膜测量单元400c可与光学薄膜11的两对面间隔开。薄膜测量单元400c拍摄光学薄膜11的左前端11a以及右前端11b的图像且将所拍摄的图像发送至控制器600，进而能够减小光学薄膜11的前端11a的测量误差以及估算光学薄膜11的倾斜角。
控制器600基于薄膜测量单元400、400a、400b、400c所测量的光学薄膜11的前端11a的位置值调节待黏结至光学薄膜11的面板20的位置。
图8为说明在根据本发明的实施例的制造光学面板的设备中，视光学薄膜的前端的位置而定的测量误差的曲线，且图9为说明在根据本发明的实施例的制造光学面板的设备中，光学薄膜的形状以及长度的曲线。
参考图8以及图9，在此实施例中，当光学薄膜11在第一方向(X轴方向)上铺展时，控制器600基于光学薄膜11的前端11a的位置计算相对于第一位置值x的第一位置校正值x+Δx，亦即，光学薄膜11与薄膜分离器300的分离距离l。随后，控制器600基于分离长度校正面板20的位置，使得光学薄膜11可黏结至面板20的准确位置。
参考图8以及图9，当光学薄膜11与薄膜分离器300的分离距离l为30mm(毫米)时，可通过各种实验、测量以及类似方式获得测量误差Δx相对于第二位置值y的曲线，且控制器600可通过回应于第二位置值y的输入计算测量误差Δx且随后测量误差Δx加上第一位置值x来计算第一位置校正值x+Δx。
此外，当通过薄膜测量单元400、400a、400b、400c测量光学薄膜11的弯曲形状时，控制器600可通过在X-Y坐标平面中整合对应薄膜测量单元400、400a、400b、400c的长度来计算第一位置校正值x+Δx。
在如下假设的基础上，基于光学薄膜11的前端11a的位置，自先前输入资料计算第一位置校正值x+Δx：光学薄膜11的前端11a在特定方向上不断自薄膜分离器300弯曲；然而，当测量薄膜测量单元400、薄膜测量单元400a、400b、400c的弯曲形状时，可基于视位置、弯曲方向以及类似参数而定的弯曲程度测量第一位置校正值x+Δx。
在光学薄膜11自脱模薄膜13分离之后，黏结滚筒单元500将光学薄膜11黏结至面板20。在此实施例中，黏结滚筒单元500包含下黏结辊510以及上黏结辊530且经组态以在将光学薄膜11黏结至面板20时，通过移动下黏结辊510以及上黏结辊530中的一者将光学薄膜11与面板20彼此压缩，其中面板20以及光学薄膜11插入于下黏结辊510与上黏结辊530之间。
在一个实施例中，因为黏着剂保持在已附接至脱模薄膜13的光学薄膜11的表面上，所以在通过黏结滚筒单元500压缩光学薄膜11时，可将其黏结至面板20，其中光学薄膜11邻接面板20。
下黏结辊510以及上黏结辊530中的至少一者充当驱动滚筒以将面板20以及光学薄膜11移动至下黏结辊510与上黏结辊530之间的间隙，从而使得面板20与光学薄膜11在其间可彼此黏结。
在此实施例中，通过吸辊实现下黏结辊510，所述吸辊(suction roll)包含在其外表面上形成的孔洞且通过孔洞抽吸外部空气以迫使光学薄膜11吸附至其上。
图10为根据本发明的一个实施例的制造光学面板的方法的流程图。参考图10，现将描述根据本发明的一个实施例的光学面板制造方法S1以及其效果。
根据此实施例的光学面板制造方法S1包含薄膜分离操作S100、薄膜测量操作S200、面板位置调节操作S300以及薄膜黏结操作S400，使得可测量经分离的光学薄膜的位置且可通过基于光学薄膜11的所测量的位置调节面板20的位置将光学薄膜11黏结至面板20。
在薄膜分离操作S100中，将光学薄膜11自脱模薄膜13与光学薄膜11的堆叠结构10分离。亦即，当堆叠结构10自上面卷绕脱模薄膜13与光学薄膜11的堆叠结构10的堆叠结构辊40展开时，在通过输送单元100移动堆叠结构10期间通过切割单元200半切割光学薄膜11。
在薄膜测量操作S200中，测量在薄膜分离操作S100中分离的光学薄膜11的前端11a的第一位置值x以及第二位置y。此处，第一位置值为相对于第一方向(X轴方向)所测量的值且第二位置值为相对于不同于第一方向(X轴方向)的第二方向(Y轴方向)所测量的值。在此实施例中，薄膜测量操作S200包含第一位置测量操作以及第二位置测量操作。
在第一位置测量操作中，拍摄光学薄膜11的前端11a的图像以测量光学薄膜11的前端11a的第一位置值x。前端11a的第一位置值x表示随着光学薄膜11弯曲，前端11a相对于第一方向(X轴方向)的位置，亦即X轴坐标值x。
在第二位置测量操作中，测量至光学薄膜11的距离以计算第二位置值y。前端11a的第二位置值y表示随着光学薄膜11弯曲，前端11a相对于第二方向(Y轴方向)的位置，亦即Y轴坐标值y。
在面板位置调节操作S300中，基于在薄膜测量操作S200中所测量的光学薄膜11的前端11a的位置值，控制器600计算光学薄膜11与薄膜分离器300的分离长度l且基于分离长度调节待黏结至光学薄膜11的面板20的位置。
面板20的位置调节通过如下方式实现，控制器600通过控制面板移动单元60调节待黏结至面板20的位置，且不仅包含面板20的纵向位置的调节且亦包含面板20的横向移动或面板20的旋转。
在调节面板20的位置时，黏结滚筒单元500经驱动以将光学薄膜11与面板20彼此压缩，从而使得光学薄膜11可黏结至面板20。
因而，在根据本发明的实施例的制造光学面板的方法S1以及设备1中，测量光学薄膜11的准确长度以通过考虑光学薄膜11的卷曲(curl)来调节光学薄膜11与面板20之间的黏结位置，进而实现光学薄膜11至面板20的准确黏结。
尽管本文已描述一些实施例，但本领域技术人员应了解，仅藉助于说明给出这些实施例且本发明不限于此。此外，所本领域技术人员应了解，在不偏离本发明的精神以及范畴的情况下可对本发明进行各种修改、变化以及更改。因此，本发明的范畴应仅受权利要求以及其等效物限制。

Claims (11)

1.一种制造光学面板的设备，包括：
薄膜分离器，其将光学薄膜自脱模薄膜与所述光学薄膜的堆叠结构分离；
薄膜测量单元，其测量由所述薄膜分离器分离的所述光学薄膜的前端的第一位置值以及第二位置值，所述第一位置值表示所述光学薄膜的所述前端相对于第一方向的位置，所述第二位置值表示所述光学薄膜的所述前端相对于不同于所述第一方向的第二方向的位置；以及
控制器，其基于通过所述薄膜测量单元测量的所述光学薄膜的所述前端的所述第一位置值以及所述第二位置值调节待黏结至所述光学薄膜的面板的位置，
其中在由所述薄膜分离器分离的所述光学薄膜上未产生卷曲的状态下，所述第一方向为所述光学薄膜的纵向方向。
2.根据权利要求1所述的制造光学面板的设备，其中所述薄膜测量单元包括：图像获取单元，其拍摄所述光学薄膜的所述前端的图像以测量所述光学薄膜的所述前端的所述第一位置值；以及距离测量单元，其测量至所述光学薄膜的距离以测量所述第二位置值。
3.根据权利要求2所述的制造光学面板的设备，其中所述距离测量单元能在平行于所述第一方向的方向上移动。
4.根据权利要求3所述的制造光学面板的设备，其中所述距离测量单元包括：在平行于所述第一方向的所述方向上延伸的测量导引件；以及以可移动方式耦接至所述测量导引件的距离测量传感器。
5.根据权利要求4所述的制造光学面板的设备，其中所述薄膜测量单元通过使所述距离测量传感器旋转来测量所述第一位置值以及所述第二位置值。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的制造光学面板的设备，其中在所述光学薄膜的横向方向上配置多个薄膜测量单元。
7.根据权利要求1所述的制造光学面板的设备，其中所述薄膜测量单元通过拍摄所述光学薄膜的侧表面来测量所述第一位置值以及所述第二位置值。
8.根据权利要求1至5中任一项所述的制造光学面板的设备，其中所述第二方向垂直于所述第一方向。
9.一种制造光学面板的方法，包括：
将光学薄膜自脱模薄膜与所述光学薄膜的堆叠结构分离；
测量自所述堆叠结构分离的所述光学薄膜的前端的第一位置值以及第二位置值，所述第一位置值表示所述光学薄膜的所述前端相对于第一方向的位置，所述第二位置值表示所述光学薄膜的所述前端相对于不同于所述第一方向的第二方向的位置；以及
通过控制器，基于所述光学薄膜的所述前端的所测量的位置值计算无卷曲的所述光学薄膜的所述前端的位置，随后调节待黏结至所述光学薄膜的面板的位置，
其中在由薄膜分离器分离的所述光学薄膜上未产生卷曲的状态下，所述第一方向为所述光学薄膜的纵向方向。
10.根据权利要求9所述的制造光学面板的方法，其中测量所述光学薄膜的前端的所述第一位置值以及所述第二位置值包括：拍摄所述光学薄膜的所述前端的图像以测量所述光学薄膜的所述前端的所述第一位置值；以及测量至所述光学薄膜的距离以测量所述第二位置值。
11.根据权利要求9或10所述的制造光学面板的方法，其中所述第二方向垂直于所述第一方向。
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