CN109641441A - 制造光学面板的方法以及设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种制造光学面板的设备。设备包含：薄膜分离器，其将光学薄膜自脱模薄膜与光学薄膜的堆叠结构分离；薄膜测量单元，其测量由薄膜分离器分离的光学薄膜的前端的第一位置值及第二位置值，第一位置值表示光学薄膜的前端相对于第一方向的位置，第二位置值表示光学薄膜的前端相对于不同于第一方向的第二方向的位置；以及控制器，其基于通过薄膜测量单元测量的光学薄膜的前端的位置值调节待黏结至光学薄膜的面板的位置。

Description

制造光学面板的方法以及设备
技术领域
本发明涉及一种制造光学面板的方法及设备。更明确而言，本发明涉及一种制造光学面板的设备，所述设备可将光学薄膜在准确位置处黏结至面板。
背景技术
一般而言，作为一种光学面板，液晶面板对应于液晶显示器的显示器部分，且通过将具有偏振层的光学薄膜黏结至具有矩形形状的面板而制得。
此类制造液晶显示面板的方法分类为薄片-至-面板(sheet to panel(STP))类型方法，其中光学薄膜的薄片黏结至面板；以及辊-至-面板(roll to panel(RTP))类型方法，其中供给绕辊卷绕的光学薄膜且将其黏结至面板。
在RTP类型方法中，藉助于黏着剂黏结至脱模薄膜的光学薄膜不断自辊展开，自脱模薄膜分离，且随后通过黏结滚筒以及类似物黏结至面板。
具体而言，在RTP类型方法中，因为不断供应自辊展开的光学薄膜且将其黏结至面板，所以可不断生产液晶显示面板，进而提高生产力。
然而，RTP类型方法不易控制光学薄膜的位置、移动速度以及类似性质且可能由于施加至其上的张力以及残余应力而导致薄膜变形。因此，需要解决这些问题。
本发明的背景技术公开于韩国专利特许公开第10-2012-0023577号中(公开日期：2012.03.13，发明名称：用于将具有偏振层的光学薄膜连续附接至矩形面板的方法以及设备(Method and apparatus for sequentially attaching optical film havingpolarization layer to rectangular panel))。
发明内容
技术问题
已设想本发明来解决先前技术中的此类问题且本发明的一实施方式提供一种制造光学面板的方法以及设备，所述方法以及设备可通过基于光学薄膜的位置或形状的准确测量，调节面板的黏结位置，来将光学薄膜在准确位置处黏结至面板。
技术解决方案
根据本发明的一个实施方式，制造光学面板的设备包含：薄膜分离器，其将光学薄膜自脱模薄膜与光学薄膜的堆叠结构分离；薄膜测量单元，其测量由薄膜分离器分离的光学薄膜的前端(leading end)的第一位置值以及第二位置值，第一位置值表示光学薄膜的前端相对于第一方向的位置，第二位置值表示光学薄膜的前端相对于不同于第一方向的第二方向的位置；以及控制器，其基于通过薄膜测量单元测量的光学薄膜的前端的位置值调节待黏结至光学薄膜的面板的位置。
在本发明中，薄膜测量单元可包含图像获取单元，所述图像获取单元拍摄光学薄膜的前端的图像以测量光学薄膜的前端的第一位置值；以及距离测量单元，所述距离测量单元测量至光学薄膜的距离以测量第二位置值。
在本发明中，距离测量单元可在平行于第一方向的方向上移动。
在本发明中，距离测量单元可包含：在平行于第一方向的方向上延伸的测量导引件；以及以可移动方式耦接至测量导引件的距离测量传感器。
在本发明中，薄膜测量单元可通过使距离测量传感器旋转来测量第一位置值以及第二位置值。
在本发明中，可在光学薄膜的横向方向上配置多个薄膜测量单元。
在本发明中，薄膜测量单元可通过拍摄光学薄膜的侧表面来测量第一位置值以及第二位置值。
在本发明中，在由薄膜分离器分离的光学薄膜上未产生卷曲(curl)的状态下，第一方向可为光学薄膜的纵向方向。
在本发明中，第二方向可垂直于第一方向。
根据本发明的另一实施方式，制造光学面板的方法包含：薄膜分离步骤，将光学薄膜自脱模薄膜与光学薄膜的堆叠结构分离；测量薄膜步骤，测量自所述薄膜分离步骤中堆叠结构分离的光学薄膜的前端的第一位置值以及第二位置值，第一位置值表示光学薄膜的前端相对于第一方向的位置，第二位置值表示光学薄膜的前端相对于不同于第一方向的第二方向的位置；以及调节面板的位置步骤，通过控制器，基于测量薄膜步骤中光学薄膜的前端的所测量的位置值计算无卷曲的光学薄膜的前端的位置，随后调节待黏结至光学薄膜的面板的位置。
在本发明中，测量薄膜步骤可包含：测量第一位置值步骤，拍摄光学薄膜的前端的图像以测量光学薄膜的前端的第一位置值；以及测量第二位置值步骤，测量至光学薄膜的距离以测量第二位置值。
在本发明中，在由薄膜分离器分离的光学薄膜上未产生卷曲(curl)的状态下，第一方向可为光学薄膜的纵向方向，且第二方向可垂直于第一方向。
有利功效
在本发明的制造光学面板的方法以及设备中，测量光学薄膜的卷曲以调节面板的黏结位置，进而实现光学薄膜至面板的准确黏结。
附图说明
图1为根据本发明的一个实施例的制造光学面板的设备的概念视图。
图2示出状态‘A’的视图。
图3示出状态‘A’的透视图。
图4为根据本发明的第二实施例的薄膜测量单元的正视图。
图5为根据本发明的第二实施例的薄膜测量单元的透视图。
图6为根据本发明的第三实施例的薄膜测量单元的正视图。
图7为根据本发明的第三实施例的薄膜测量单元的透视图。
图8为说明在根据本发明的一个实施例的制造光学面板的设备中，视光学薄膜的前端的位置而定的测量误差的曲线。
图9为说明在根据本发明的一个实施例的制造光学面板的设备中，光学薄膜的形状以及长度的曲线。
图10为根据本发明的一个实施例的制造光学面板的方法的流程图。
具体实施方式
文将参考附图详细描述本发明的实施例。应注意，所述附图未按精确比例且仅为了描述便利以及清楚，可能放大线的厚度或组件的尺寸。
此外，通过考虑本发明的功能定义本文所使用的术语且可根据使用者或操作员习惯或意图进行改变。因此，应根据本文所阐述的整个公开内容定义术语。
图1为根据本发明的一个实施例的制造光学面板的设备的概念视图。
参考图1，根据一个实施例的光学面板制造设备(1)包含输送单元(100)、切割单元(200)、薄膜分离器(300)、薄膜测量单元(400)、黏结滚筒单元(500)以及控制器(600)，且其经组态以通过以下来制造液晶显示面板：将光学薄膜(11)自光学薄膜(11)与脱模薄膜(13)的堆叠结构(10)分离；以及基于自堆叠结构分离的光学薄膜(11)的前端(11a)的位置调节面板(20)的附接位置，进而防止光学薄膜(11)与面板(20)之间的黏结位置偏离准确位置。
在本文中，尽管光学面板制造设备(1)将说明为制造诸如液晶显示面板的光学面板(30)，但应了解，本发明的设备可在不偏离包含将具有薄片形状的第一构件黏结至诸如薄膜的第二部件的技术的本发明的精神下应用于其他类型的装置的制造。
在此实施例中，构成光学面板(30)的光学薄膜(11)可包含偏振器以及藉助于黏着剂或无黏着剂的情况下形成于偏振器的一个或两个表面上的保护膜。在一个实施例中，偏振器在其伸展方向上具有吸收轴。
在此实施例中，光学薄膜(11)可包含相位延迟薄膜，诸如λ/4延迟膜、λ/2延迟膜以及类似膜、补偿膜、增亮膜、表面保护膜以及类似膜。在一些实施例中，光学薄膜的厚度可为10μm(微米)至500μm。
偏振器例如聚乙烯醇膜，是通过染色、交联、拉伸以及干燥来制造。可同时或依次进行聚乙烯醇膜的染色、交联以及拉伸，不限于特定顺序。
在一个实施例中，经受膨胀的聚乙烯醇膜可用作所述聚乙烯醇膜。一般而言，通过以下来制造偏振器：将所述聚乙烯醇膜浸渍在含有碘或二色性染料的溶液中以使聚乙烯醇膜经碘或二色性染料染色，且在含有硼酸或硼砂的溶液中将经染色的聚乙烯醇膜单轴向拉伸至其初始长度的三倍至七倍的伸长，随后清洗以及干燥。
在一个实施例中，黏着剂可包含(但不限于)丙烯酸黏着剂、硅酮黏着剂以及胺基甲酸酯黏着剂。在一个实施例中，黏着层的厚度可为10μm至50μm。
作为脱模薄膜(13)，可使用塑胶薄膜，例如聚对苯二甲酸伸乙酯膜以及聚烯烃薄膜。脱模薄膜(13)可涂有合适剥离剂，诸如硅类剥离剂、长链烷基类剥离剂、氟类剥离剂或硫化钼剥离剂。
作为液晶单元，面板(20)可包含一对面向彼此安置的基板以及密封于基板之间的液晶层。面板(20)可由任何类型的液晶单元中选出。具体而言，为获得高对比度，面板可为垂直对准(vertical alignment(VA))模式液晶单元或共平面切换模式(in-planeswitching mode(IPS))液晶单元。
光学面板(30)包含黏结至面板(20)的一个或两个表面的光学薄膜(11)且其中视需要具备驱动电路。
输送单元(100)输送脱模薄膜(13)与光学薄膜(11)的堆叠结构(10)。在此实施例中，堆叠结构(10)自堆叠结构辊(40)展开且供应至输送单元(100)，其中光学薄膜(11)自堆叠结构(10)的脱模薄膜(13)分离且耦接至具有基本上平面形状的面板(20)。
在此实施例中，堆叠结构(10)通过使光学薄膜(11)黏结至脱模薄膜(13)来形成且绕堆叠结构辊(40)卷绕，进而允许持续供应光学薄膜(11)，同时防止涂覆至光学薄膜(11)的黏着剂损失。在此实施例中，输送单元(100)包含进料器(110)、导向器(130)以及张力控制器(150)。
进料器(110)经旋转以在邻接堆叠结构(10)的同时使堆叠结构(10)移动。提供多个导向器(130)且使其邻接堆叠结构(10)以转换堆叠结构(10)的移动方向。
张力控制器(150)安置于进料器(110)附近或导向器(130)之间以在邻接堆叠结构(10)的状态下往复运动且调节施加至堆叠结构(10)的张力。在此实施例中，张力控制器(150)可通过张力调节辊(dancer roll)(但不限于其)实现。
在此实施例中，光学薄膜(11)通过在其横向方向上或纵向方向上具有吸收轴的偏振膜实现且黏结至通过液晶单元实现的面板(20)。在此实施例中，一对光学薄膜(11)附接至面板(20)的两个表面，使得光学薄膜(11)的吸收轴彼此垂直配置，从而提供正交偏光镜(crossed Nicols)。
切割单元(200)用以切割耦接至脱模薄膜(13)的光学薄膜(11)。在此实施例中，切割单元(200)包含切割装置(210)以及吸收装置(230)。在切割单元(200)中，随着脱模薄膜(13)牢固吸附至吸收装置(230)，切割装置(210)在横向方向上切割光学薄膜(11)，从而将堆叠结构(10)半切割(half-cut)。
亦即，可通过仅切割堆叠结构(10)中脱模薄膜(13)以外的光学薄膜(11)，将光学薄膜(11)切割至对应于面板(20)的长度以便黏结至面板(20)，且切割光学薄膜(11)可连同脱模薄膜(13)同时移动，进而实现光学薄膜(11)的持续供应。
在一个实施例中，可通过切割机、激光或类似物(但不限于)实现切割装置(210)。显然，亦可通过其他方法实现切割装置(210)，只要所述方法可在横向方向上切割光学薄膜(11)即可。
薄膜分离器(300)将脱模薄膜(13)自堆叠结构(10)分离。在此实施例中，随着脱模薄膜(13)安置于堆叠结构(10)内部，薄膜分离器(300)折叠堆叠结构(10)，进而使得光学薄膜(11)自脱模薄膜(13)分离。
薄膜分离器(300)可包含楔形构件以及滚筒。由薄膜分离器(300)分离的脱模薄膜(13)绕脱模薄膜卷绕辊(50)卷绕。
图2示出状态‘A’的视图且图3示出状态‘A’的透视图。
参考图2以及图3，薄膜测量单元(400)测量由薄膜分离器(300)分离的光学薄膜(11)的前端(11a)相对于第一方向(图2中的X轴方向)的第一位置值(x)以及其相对于不同于第一方向(X轴方向)的第二方向(图2中的Y轴方向)的第二位置值(y)，且将所测量的位置值(x,y)发送至控制器(600)。
根据本发明，因为薄膜测量单元(400、400a、400b、400c)在多个方向上测量光学薄膜(11)的前端(11a)的位置值，所以薄膜测量单元(400、400a、400b、400c)可测量二维坐标，亦即光学薄膜(11)的前端(11a)的平面坐标，或三维坐标，亦即其空间坐标，且允许基于多维坐标测量光学薄膜(11)的前端(11a)与薄膜分离器(300)之间的距离以及光学薄膜(11)的卷曲(curled)。
根据第一实施例的薄膜测量单元(400a)包含图像获取单元(410a)以及距离测量单元(430a)以测量光学薄膜(11)的前端(11a)的第一位置值(x)以及第二位置值(y)且将所测量的位置值发送至控制器(600)。
在本文中，第一方向(X轴方向)表示在由薄膜分离器(300)分离的光学薄膜(11)上未产生卷曲(curl)的状态下光学薄膜(11)的纵向方向，且第一位置值(x)表示在第一方向(X轴方向)上或在平行于第一方向(X轴方向)的方向上光学薄膜(11)相对于薄膜分离器(300)的移动距离。
亦即，假设将平行于第一方向(X轴方向)的轴线定义为X轴，则第一方向(X轴方向)表示X轴方向且第一位置值(x)对应于在X轴上的坐标值。
此外，第二方向(Y轴方向)表示垂直于第一方向(X轴方向)的方向。亦即，因为第二方向(Y轴方向)表示光学薄膜(11)的前端(11a)由于光学薄膜(11)的重量或由于在自脱模薄膜(13)分离时所产生的残余应力而相对于第一方向(X轴方向)弯曲的程度，所以光学薄膜(11)的卷曲(curl)愈高表明光学薄膜(11)的前端(11a)在第二方向(Y轴方向)上的弯曲程度愈高，亦即第二位置值(y)的绝对值愈高。
在此实施例中，第二方向(Y轴方向)对应于光学薄膜相对于第一方向(X轴方向)的弯曲方向，亦即Y轴方向垂直于X轴方向，且第二位置值(y)对应于前端(11a)在Y轴上的坐标值(y)。
图像获取单元(410a)通过拍摄光学薄膜(11)的前端(11a)的图像来测量光学薄膜(11)的前端(11a)的第一位置值(x)。具体言之，图像获取单元(410a)通过以下来测量光学薄膜(11)的前端(11a)的第一位置值(x)：在基本上垂直于第一方向(X轴方向)的方向上拍摄光学薄膜(11)的前端(11a)的图像以获得基本上垂直于Y轴方向的其二维图像；基于色彩信息的差异(例如色度、亮度以及类似特性的差异)判定某一区域是否是属于光学薄膜(11)的区域；且随后测量所述区域的界面位置。
应了解，本发明不限于以上实施例且图像获取单元(410a)对光学薄膜(11)的前端(11a)的区域的测量可通过各种方法实现，只要所述方法可测量光学薄膜(11)的第一位置值(x)即可。
距离测量单元(430a)通过测量距离测量单元(430a)至光学薄膜(11)的距离来测量第二位置值(y)。在第一实施例中，距离测量单元(430a)可通过以下来测量距离测量单元(430a)至光学薄膜(11)的距离：向光学薄膜(11)发射诸如激光光束的光；接收自其反射的光；以及分析反射光的波长变化、反射光到达距离测量单元(430a)所需的时间以及类似参数。此处，第二位置值(y)对应于自距离测量单元(430a)至X轴的距离减去距离测量单元(430a)至光学薄膜(11)的距离所获得的值。
距离测量单元(430a)测量在基本上平行于第一方向(X轴方向)的方向上移动时至光学薄膜(11)的前端(11a)的距离。因为距离测量单元(430a)测量表示在X轴方向上移动时至光学薄膜(11)的前端(11a)的距离的Y轴坐标值，所以可测量光学薄膜(11)的卷曲(curl)。
此外，距离测量单元(430a)可基于至光学薄膜(11)的距离或在即将无法测量至光学薄膜(11)的距离的时间点前至光学薄膜的距离的突变来测量表示光学薄膜(11)的前端(11a)的Y轴坐标值的第二位置值(y)。在此实施例中，距离测量单元(430a)包含测量导引件(431a)以及距离测量传感器(433a)。
测量导引件(431a)在平行于第一方向(X轴方向)的X轴方向上延伸，且距离测量传感器(433a)以可移动方式耦接至测量导引件(431a)。
因此，因为距离测量传感器(433a)测量在第一方向(X轴方向)上移动时至光学薄膜(11)的距离，所以距离测量传感器(433a)可测量在第一方向(X轴方向)上至光学薄膜(11)的所有距离，至光学薄膜(11)的最近距离(当光学薄膜(11)的前端(11a)由于其重量而向距离测量传感器(433a)弯曲时)或至光学薄膜(11)的最远距离(当光学薄膜(11)的前端(11a)由于残余应力以及类似力而向距离测量传感器(433a)反向弯曲时)可作为至光学薄膜(11)的前端(11a)的距离测量。
图4为根据本发明的第二实施例的薄膜测量单元的正视图且图5为根据本发明的第二实施例的薄膜测量单元的透视图。
参考图4以及图5，根据第二实施例的薄膜测量单元(400b)包含距离测量传感器(410b)以及传感器旋转单元(430b)，所述传感器旋转单元(430b)使距离测量传感器(410b)旋转以测量光学薄膜(11)的前端(11a)的第一位置值(x)以及第二位置值(y)。
当距离测量传感器(410b)旋转时，距离测量传感器(410b)所测量的至光学薄膜(11)的距离以及距离测量传感器(410b)的旋转角度对应于将距离测量传感器(410b)设定为原点的情况下的旋转坐标值(r,θ)，且可通过简单坐标转换将其转换为光学薄膜(11)的前端(11a)的第一位置值(x)以及第二位置值(y)的坐标值。
根据第二实施例，可在不使用图像获取单元(410a)下通过单独距离测量传感器(410b)测量光学薄膜(11)的前端(11a)的位置以及光学薄膜(11)的形状，进而简化设备的结构。
图6为根据本发明的第三实施例的薄膜测量单元的正视图且图7为根据本发明的第三实施例的薄膜测量单元的透视图。
参考图6以及图7，根据第三实施例的薄膜测量单元(400c)通过拍摄由薄膜分离器(300)分离的光学薄膜(11)的侧表面来测量第一位置值(x)以及第二位置值(y)。
在第三实施例中，因为薄膜测量单元(400c)在光学薄膜(11)的各侧拍摄光学薄膜(11)的侧表面的图像且将所拍摄的图像发送至控制器(600)，所以薄膜测量单元(400c)可基于薄膜测量单元(400c)的位置以及在光学薄膜(11)的前端(11a)的所拍摄图像中光学薄膜(11)的前端(11a)的坐标，测量光学薄膜(11)的前端(11a)的第一位置值(x)以及第二位置值(y)。
在第三实施例中，薄膜测量单元(400c)可与光学薄膜(11)的两对面间隔开。薄膜测量单元(400c)拍摄光学薄膜(11)的左前端(11a)以及右前端(11a)的图像且将所拍摄的图像发送至控制器(600)，进而能够减小光学薄膜(11)的前端(11a)的测量误差以及估算光学薄膜(11)的倾斜角。
控制器(600)基于薄膜测量单元(400、400a、400b、400c)所测量的光学薄膜(11)的前端(11a)的位置值调节待黏结至光学薄膜(11)的面板(20)的位置。
图8为说明在根据本发明的实施例的制造光学面板的设备中，视光学薄膜的前端的位置而定的测量误差的曲线，且图9为说明在根据本发明的实施例的制造光学面板的设备中，光学薄膜的形状以及长度的曲线。
参考图8以及图9，在此实施例中，当光学薄膜(11)在第一方向(X轴方向)上铺展时，控制器(600)基于光学薄膜(11)的前端(11a)的位置计算相对于第一位置值(x)的第一位置校正值(x+Δx)，亦即，光学薄膜(11)与薄膜分离器(300)的分离距离(l)。随后，控制器(600)基于分离长度校正面板(20)的位置，使得光学薄膜(11)可黏结至面板(20)的准确位置。
参考图8以及图9，当光学薄膜(11)与薄膜分离器(300)的分离距离(l)为30mm(毫米)时，可通过各种实验、测量以及类似方式获得测量误差(Δx)相对于第二位置值(y)的曲线，且控制器(600)可通过回应于第二位置值(y)的输入计算测量误差(Δx)且随后测量误差(Δx)加上第一位置值(x)来计算第一位置校正值(x+Δx)。
此外，当通过薄膜测量单元(400、400a、400b、400c)测量光学薄膜(11)的弯曲形状时，控制器(600)可通过在XY坐标平面中整合对应薄膜测量单元(400、400a、400b、400c)的长度来计算第一位置校正值(x+Δx)。
在如下假设的基础上，基于光学薄膜(11)的前端(11a)的位置，自先前输入资料计算第一位置校正值(x+Δx)：光学薄膜(11)的前端(11a)在特定方向上不断自薄膜分离器(300)弯曲；然而，当测量薄膜测量单元(400)、薄膜测量单元(400a、400b、400c)的弯曲形状时，可基于视位置、弯曲方向以及类似参数而定的弯曲程度测量第一位置校正值(x+Δx)。
在光学薄膜(11)自脱模薄膜(13)分离之后，黏结滚筒单元(500)将光学薄膜(11)黏结至面板(20)。在此实施例中，黏结滚筒单元(500)包含下黏结辊(510)以及上黏结辊(530)且经组态以在将光学薄膜(11)黏结至面板(20)时，通过移动下黏结辊(510)以及上黏结辊(530)中的一者将光学薄膜(11)与面板(20)彼此压缩，其中面板(20)以及光学薄膜(11)插入于下黏结辊(510)与上黏结辊(530)之间。
在一个实施例中，因为黏着剂保持在已附接至脱模薄膜(13)的光学薄膜(11)的表面上，所以在通过黏结滚筒单元(500)压缩光学薄膜(11)时，可将其黏结至面板(20)，其中光学薄膜(11)邻接面板(20)。
下黏结辊(510)以及上黏结辊(530)中的至少一者充当驱动滚筒以将面板(20)以及光学薄膜(11)移动至下黏结辊(510)与上黏结辊(530)之间的间隙，从而使得面板(20)与光学薄膜(11)在其间可彼此黏结。
在此实施例中，通过吸辊实现下黏结辊(510)，所述吸辊(suction roll)包含在其外表面上形成的孔洞且通过孔洞抽吸外部空气以迫使光学薄膜(11)吸附至其上。
图10为根据本发明的一个实施例的制造光学面板的方法的流程图。参考图10，现将描述根据本发明的一个实施例的光学面板制造方法(S1)以及其效果。
根据此实施例的光学面板制造方法(S1)包含薄膜分离操作(S100)、薄膜测量操作(S200)、面板位置调节操作(S300)以及薄膜黏结操作(S400)，使得可测量经分离的光学薄膜的位置且可通过基于光学薄膜(11)的所测量的位置调节面板(20)的位置将光学薄膜(11)黏结至面板(20)。
在薄膜分离操作(S100)中，将光学薄膜(11)自脱模薄膜(13)与光学薄膜(11)的堆叠结构(10)分离。亦即，当堆叠结构(10)自上面卷绕脱模薄膜(13)与光学薄膜(11)的堆叠结构(10)的堆叠结构辊(40)展开时，在通过输送单元(100)移动堆叠结构(10)期间通过切割单元(200)半切割光学薄膜(11)。
在薄膜测量操作(S200)中，测量在薄膜分离操作(S100)中分离的光学薄膜(11)的前端(11a)的第一位置值(x)以及第二位置(y)。此处，第一位置值为相对于第一方向(X轴方向)所测量的值且第二位置值为相对于不同于第一方向(X轴方向)的第二方向(Y轴方向)所测量的值。在此实施例中，薄膜测量操作(S200)包含第一位置测量操作(S210)以及第二位置测量操作(S230)。
在第一位置测量操作(S210)中，拍摄光学薄膜(11)的前端(11a)的图像以测量光学薄膜(11)的前端(11a)的第一位置值(x)。前端(11a)的第一位置值(x)表示随着光学薄膜(11)弯曲，前端(11a)相对于第一方向(X轴方向)的位置，亦即X轴坐标值(x)。
在第二位置测量操作(S230)中，测量至光学薄膜(11)的距离以计算第二位置值(y)。前端(11a)的第二位置值(y)表示随着光学薄膜(11)弯曲，前端(11a)相对于第二方向(Y轴方向)的位置，亦即Y轴坐标值(y)。
在面板位置调节操作(S300)中，基于在薄膜测量操作(S200)中所测量的光学薄膜(11)的前端(11a)的位置值，控制器(600)计算光学薄膜(11)与薄膜分离器(300)的分离长度(l)且基于分离长度调节待黏结至光学薄膜(11)的面板(20)的位置。
面板(20)的位置调节通过如下方式实现，控制器(600)通过控制面板移动单元(60)调节待黏结至面板(20)的位置，且不仅包含面板(20)的纵向位置的调节且亦包含面板(20)的横向移动或面板(20)的旋转。
在调节面板(20)的位置时，黏结滚筒单元(500)经驱动以将光学薄膜(11)与面板(20)彼此压缩，从而使得光学薄膜(11)可黏结至面板(20)。
因而，在根据本发明的实施例的制造光学面板的方法(S1)以及设备(1)中，测量光学薄膜(11)的准确长度以通过考虑光学薄膜(11)的卷曲(curl)来调节光学薄膜(11)与面板(20)之间的黏结位置，进而实现光学薄膜(11)至面板(20)的准确黏结。
尽管本文已描述一些实施例，但本领域技术人员应了解，仅藉助于说明给出这些实施例且本发明不限于此。此外，所本领域技术人员应了解，在不偏离本发明的精神以及范畴的情况下可对本发明进行各种修改、变化以及更改。因此，本发明的范畴应仅受权利要求以及其等效物限制。

Claims (12)

1.一种制造光学面板的设备，包括：
薄膜分离器，其将光学薄膜自脱模薄膜与所述光学薄膜的堆叠结构分离；
薄膜测量单元，其测量由所述薄膜分离器分离的所述光学薄膜的前端的第一位置值以及第二位置值，所述第一位置值表示所述光学薄膜的所述前端相对于第一方向的位置，所述第二位置值表示所述光学薄膜的所述前端相对于不同于所述第一方向的第二方向的位置；以及
控制器，其基于通过所述薄膜测量单元测量的所述光学薄膜的所述前端的所述位置值调节待黏结至所述光学薄膜的所述面板的位置。
2.根据权利要求1所述的制造光学面板的设备，其中所述薄膜测量单元包括：图像获取单元，其拍摄所述光学薄膜的所述前端的图像以测量所述光学薄膜的所述前端的所述第一位置值；以及距离测量单元，其测量至所述光学薄膜的距离以测量所述第二位置值。
3.根据权利要求2所述的制造光学面板的设备，其中所述距离测量单元能在平行于所述第一方向的方向上移动。
4.根据权利要求3所述的制造光学面板的设备，其中所述距离测量单元包括：在平行于所述第一方向的所述方向上延伸的测量导引件；以及以可移动方式耦接至所述测量导引件的距离测量传感器。
5.根据权利要求1所述的制造光学面板的设备，其中所述薄膜测量单元通过使所述距离测量传感器旋转来测量所述第一位置值以及所述第二位置值。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的制造光学面板的设备，其中在所述光学薄膜的横向方向上配置多个薄膜测量单元。
7.根据权利要求1所述的制造光学面板的设备，其中所述薄膜测量单元通过拍摄所述光学薄膜的侧表面来测量所述第一位置值以及所述第二位置值。
8.根据权利要求1至5中任一项所述的制造光学面板的设备，其中在由所述薄膜分离器分离的所述光学薄膜上未产生卷曲(curl)的状态下，所述第一方向为所述光学薄膜的纵向方向。
9.根据权利要求8所述的制造光学面板的设备，其中所述第二方向垂直于所述第一方向。
10.一种制造光学面板的方法，包括：
薄膜分离步骤，将光学薄膜自脱模薄膜与所述光学薄膜的堆叠结构分离；
测量薄膜步骤，测量自所述薄膜分离步骤中所述堆叠结构分离的所述光学薄膜的前端的第一位置值以及第二位置值，所述第一位置值表示所述光学薄膜的所述前端相对于第一方向的位置，所述第二位置值表示所述光学薄膜的所述前端相对于不同于所述第一方向的第二方向的位置；以及
调节面板的位置步骤，通过控制器，基于测量薄膜步骤中所述光学薄膜的所述前端的所测量的位置值计算无卷曲的所述光学薄膜的所述前端的位置，随后调节待黏结至所述光学薄膜的所述面板的所述位置。
11.根据权利要求10所述的制造光学面板的方法，其中所述测量薄膜步骤包括：测量所述第一位置值步骤，拍摄所述光学薄膜的所述前端的图像以测量所述光学薄膜的所述前端的所述第一位置值；以及测量所述第二位置值步骤，测量至所述光学薄膜的距离以测量所述第二位置值。
12.根据权利要求10或11所述的制造光学面板的方法，其中在由所述薄膜分离器分离的所述光学薄膜上未产生卷曲(curl)的状态下，所述第一方向为所述光学薄膜的纵向方向，且所述第二方向垂直于所述第一方向。
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