TW201806747A

TW201806747A - 製造光學面板的方法以及設備

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Publication number: TW201806747A
Application number: TW106126628A
Authority: TW
Inventors: 具宰晧; 權淳五; 任唯淸; 許材承
Original assignee: 三星Ｓｄｉ股份有限公司
Priority date: 2016-08-29
Filing date: 2017-08-08
Publication date: 2018-03-01
Also published as: CN109641441B; TWI657933B; KR20180024346A; KR102008178B1; CN109641441A; WO2018043868A1

Abstract

本發明揭露一種製造光學面板的設備。設備包含：薄膜分離器，其將光學薄膜自脫模薄膜與光學薄膜之堆疊結構分離；薄膜量測單元，其量測由薄膜分離器分離之光學薄膜之前端的第一位置值及第二位置值，第一位置值表示光學薄膜之前端相對於第一方向之位置，第二位置值表示光學薄膜之前端相對於不同於第一方向之第二方向的位置；以及控制器，其基於藉由薄膜量測單元量測之光學薄膜之前端的位置值調節待黏結至光學薄膜之面板之位置，以及一種製造光學面板的方法。

Description

製造光學面板的方法以及設備

本發明是有關一種製造光學面板的方法及設備。更明確而言，本發明是有關一種製造光學面板的設備，所述設備可將光學薄膜在準確位置處黏結至面板。

一般而言，作為一種光學面板，液晶面板對應於液晶顯示器之顯示器部分，且藉由將具有偏振層之光學薄膜黏結至具有矩形形狀之面板而製得。

此類製造液晶顯示面板之方法分類為薄片-至-面板（sheet-to-panel，STP）類型方法，其中光學薄膜之薄片黏結至面板；以及輥-至-面板（roll-to-panel，RTP）類型方法，其中供給繞輥捲繞之光學薄膜且將其黏結至面板。

在RTP類型方法中，藉助於黏著劑黏結至脫模薄膜之光學薄膜不斷自輥展開，自脫模薄膜分離，且隨後藉由黏結滾筒以及類似物黏結至面板。

具體而言，在RTP類型方法中，因為不斷供應自輥展開之光學薄膜且將其黏結至面板，所以可不斷生產液晶顯示面板，進而提高生產力。

然而，RTP類型方法不易控制光學薄膜之位置、移動速度以及類似性質且可能由於施加至其上之張力以及殘餘應力而導致薄膜變形。因此，需要解決這些問題。

本發明之背景技術揭露於韓國專利特許公開第10-2012-0023577號中（公開日期：2012.03.13，發明名稱：用於將具有偏振層之光學薄膜連續附接至矩形面板之方法以及設備（Method and apparatus for sequentially attaching optical film having polarization layer to rectangular panel））。

已設想本發明來解決先前技術中之此類問題且本發明之一態樣提供一種製造光學面板的方法以及設備，所述方法以及設備可藉由基於光學薄膜之位置或形狀之準確量測，調節面板之黏結位置，來將光學薄膜在準確位置處黏結至面板。

根據本發明之一個態樣，製造光學面板的設備包含：薄膜分離器，其將光學薄膜自脫模薄膜與光學薄膜之堆疊結構分離；薄膜量測單元，其量測由薄膜分離器分離之光學薄膜之前端（leading end）的第一位置值以及第二位置值，第一位置值表示光學薄膜之前端相對於第一方向之位置，第二位置值表示光學薄膜之前端相對於不同於第一方向之第二方向的位置；以及控制器，其基於藉由薄膜量測單元量測之光學薄膜之前端的位置值調節待黏結至光學薄膜之面板之位置。

薄膜量測單元可包含影像擷取單元，所述影像擷取單元拍攝光學薄膜之前端之影像以量測光學薄膜之前端之第一位置值；以及距離量測單元，所述距離量測單元量測至光學薄膜之距離以量測第二位置值。

距離量測單元可在平行於第一方向之方向上移動。

距離量測單元可包含：在平行於第一方向之方向上延伸之量測導引件；以及以可移動方式耦接至量測導引件之距離量測感測器。

薄膜量測單元可藉由使距離量測感測器旋轉來量測第一位置值以及第二位置值。

可在光學薄膜之橫向方向上配置多個薄膜量測單元。

薄膜量測單元可藉由拍攝光學薄膜之側表面來量測第一位置值以及第二位置值。

在由薄膜分離器分離之光學薄膜上未產生捲曲之狀態下，第一方向可為光學薄膜之縱向方向。

第二方向可垂直於第一方向。

根據本發明之另一態樣，製造光學面板的方法包含：將光學薄膜自脫模薄膜與光學薄膜之堆疊結構分離；量測自堆疊結構分離之光學薄膜之前端的第一位置值以及第二位置值，第一位置值表示光學薄膜之前端相對於第一方向之位置，第二位置值表示光學薄膜之前端相對於不同於第一方向之第二方向的位置；以及藉由控制器，基於光學薄膜之前端之所量測的位置值計算無捲曲之光學薄膜之前端的位置，隨後調節待黏結至光學薄膜之面板之位置。

量測光學薄膜之前端之第一位置值以及第二位置值可包含：拍攝光學薄膜之前端之影像以量測光學薄膜之前端之第一位置值；以及量測至光學薄膜之距離以量測第二位置值。

在由薄膜分離器分離之光學薄膜上未產生捲曲之狀態下，第一方向可為光學薄膜之縱向方向，且第二方向可垂直於第一方向。

在本發明之製造光學面板的方法以及設備中，量測光學薄膜之捲曲以調節面板之黏結位置，進而實現光學薄膜至面板之準確黏結。

下文將參考附圖詳細描述本發明之實施例。應注意，所述圖式未按精確比例且僅為了描述便利以及清楚，可能放大線之厚度或組件之尺寸。

此外，藉由考慮本發明之功能定義本文所使用之術語且可根據使用者或操作員習慣或意圖進行改變。因此，應根據本文所闡述之整個揭露內容定義術語。

圖1為根據本發明之一個實施例的製造光學面板之設備的概念視圖。

參考圖1，根據一個實施例之光學面板製造設備1包含輸送單元100、切割單元200、薄膜分離器300、薄膜量測單元400、黏結滾筒單元500以及控制器600，且其經組態以藉由以下來製造液晶顯示面板：將光學薄膜11自光學薄膜11與脫模薄膜13之堆疊結構10分離；以及基於自堆疊結構分離之光學薄膜11之前端11a的位置調節面板20之附接位置，進而防止光學薄膜11與面板20之間之黏結位置偏離準確位置。

在本文中，儘管光學面板製造設備1將說明為製造諸如液晶顯示面板之光學面板30，但應瞭解，本發明之設備可在不偏離包含將具有薄片形狀之第一構件黏結至諸如薄膜之第二部件之技術的本發明之精神下應用於其他類型之裝置之製造。

在此實施例中，構成光學面板30之光學薄膜11可包含偏振器以及藉助於黏著劑或無黏著劑之情況下形成於偏振器之一個或兩個表面上之保護膜。在一個實施例中，偏振器在其伸展方向上具有吸收軸。

在此實施例中，光學薄膜11可包含相位延遲薄膜，諸如λ/4延遲膜、λ/2延遲膜以及類似膜、補償膜、增亮膜、表面保護膜以及類似膜。在一些實施例中，光學薄膜之厚度可為10微米至500微米。

偏振器例如聚乙烯醇膜，是藉由染色、交聯、拉伸以及乾燥來製造。可同時或依次進行聚乙烯醇膜之染色、交聯以及拉伸，不限於特定順序。

在一個實施例中，經受膨脹之聚乙烯醇膜可用作所述聚乙烯醇膜。一般而言，藉由以下來製造偏振器：將所述聚乙烯醇膜浸漬在含有碘或二色性染料之溶液中以使聚乙烯醇膜經碘或二色性染料染色，且在含有硼酸或硼砂之溶液中將經染色之聚乙烯醇膜單軸向拉伸至其初始長度之三倍至七倍之伸長，隨後清洗以及乾燥。

在一個實施例中，黏著劑可包含（但不限於）丙烯酸黏著劑、矽酮黏著劑以及胺基甲酸酯黏著劑。在一個實施例中，黏著層之厚度可為10微米至50微米。

作為脫模薄膜13，可使用塑膠薄膜，例如聚對苯二甲酸伸乙酯膜以及聚烯烴薄膜。脫模薄膜13可塗有合適剝離劑，諸如矽類剝離劑、長鏈烷基類剝離劑、氟類剝離劑或硫化鉬剝離劑。

作為液晶單元，面板20可包含一對面向彼此安置之基板以及密封於基板之間的液晶層。面板20可由任何類型之液晶單元中選出。具體而言，為獲得高對比度，面板可為垂直對準（vertical alignment，VA）模式液晶單元或共平面切換模式（in-plane switching mode，IPS）液晶單元。

光學面板30包含黏結至面板20之一個或兩個表面之光學薄膜11且其中視需要具備驅動電路。

輸送單元100輸送脫模薄膜13與光學薄膜11之堆疊結構10。在此實施例中，堆疊結構10自堆疊結構輥40展開且供應至輸送單元100，其中光學薄膜11自堆疊結構10之脫模薄膜13分離且耦接至具有基本上平面形狀之面板20。

在此實施例中，堆疊結構10藉由使光學薄膜11黏結至脫模薄膜13來形成且繞堆疊結構輥40捲繞，進而允許持續供應光學薄膜11，同時防止塗覆至光學薄膜11之黏著劑損失。在此實施例中，輸送單元100包含進料器110、導向器130以及張力控制器150。

進料器110經旋轉以在鄰接堆疊結構10的同時使堆疊結構10移動。提供多個導向器130且使其鄰接堆疊結構10以轉換堆疊結構10之移動方向。

張力控制器150安置於進料器110附近或導向器130之間以在鄰接堆疊結構10之狀態下往復運動且調節施加至堆疊結構10之張力。在此實施例中，張力控制器150可藉由張力調節輥（dancer roll）（但不限於其）實現。

在此實施例中，光學薄膜11藉由在其橫向方向上或縱向方向上具有吸收軸之偏振膜實現且黏結至藉由液晶單元實現之面板20。在此實施例中，一對光學薄膜11附接至面板20之兩個表面，使得光學薄膜11之吸收軸彼此垂直配置，從而提供正交偏光鏡（crossed Nicols）。

切割單元200用以切割耦接至脫模薄膜13之光學薄膜11。在此實施例中，切割單元200包含切割裝置210以及吸收裝置230。在切割單元200中，隨著脫模薄膜13牢固吸附至吸收裝置230，切割裝置210在橫向方向上切割光學薄膜11，從而將堆疊結構10半切割。

亦即，可藉由僅切割堆疊結構10之光學薄膜11，將光學薄膜11切割至對應於面板20之長度以便黏結至面板20，且可連同脫模薄膜13同時移動，進而實現光學薄膜11之持續供應。

在一個實施例中，可藉由切割機、雷射或類似物（但不限於其）實現切割裝置210。顯然，亦可藉由其他方法實現切割裝置210，只要所述方法可在橫向方向上切割光學薄膜11即可。

薄膜分離器300將脫模薄膜13自堆疊結構10分離。在此實施例中，隨著脫模薄膜13安置於堆疊結構10內部，薄膜分離器300摺疊堆疊結構10，進而使得光學薄膜11自脫模薄膜13分離。

薄膜分離器300可包含楔形構件以及滾筒。由薄膜分離器300分離之脫模薄膜13繞脫模薄膜捲繞輥50捲繞。

圖2為圖1中所示之虛線區塊A之放大視圖且圖3為圖1中所示之虛線區塊A之透視圖。

參考圖2以及圖3，薄膜量測單元400量測由薄膜分離器300分離之光學薄膜11之前端11a相對於第一方向（圖2中之X軸方向）的第一位置值（x）以及其相對於不同於第一方向（X軸方向）之第二方向（圖2中之Y軸方向）之第二位置值（x），且將所量測之位置值（x, y）發送至控制器600。

根據本發明，因為薄膜量測單元400、薄膜量測單元400a、薄膜量測單元400b或薄膜量測單元400c在多個方向上量測光學薄膜11之前端11a之位置值，所以薄膜量測單元400、薄膜量測單元400a、薄膜量測單元400b或薄膜量測單元400c可量測二維座標，亦即光學薄膜11之前端11a之平面座標，或三維座標，亦即其空間座標，且允許基於多維座標量測光學薄膜11之前端11a與薄膜分離器300之間的距離以及光學薄膜11之捲曲。

根據第一實施例之薄膜量測單元400a包含影像擷取單元410a以及距離量測單元430a以量測光學薄膜11之前端11a之第一位置值（x）以及第二位置值（y）且將所量測之位置值發送至控制器600。

在本文中，第一方向（X軸方向）表示在由薄膜分離器300分離之光學薄膜11上未產生捲曲之狀態下光學薄膜11的縱向方向，且第一位置值（x）表示在第一方向（X軸方向）上或在平行於第一方向（X軸方向）之方向上光學薄膜相對於薄膜分離器300之移動距離。

亦即，假設將平行於第一方向（X軸方向）之軸線定義為X軸，則第一方向（X軸方向）表示X軸方向且第一位置值（x）對應於在X軸上之座標值。

此外，第二方向（Y軸方向）表示垂直於第一方向（X軸方向）之方向。亦即，因為第二方向（Y軸方向）表示光學薄膜11之前端11a由於光學薄膜11之重量或由於在自脫模薄膜13分離時所產生的殘餘應力而相對於第一方向（X軸方向）彎曲之程度，所以光學薄膜11之捲曲愈高表明光學薄膜11之前端11a在第二方向（Y軸方向）上之彎曲程度愈高，亦即第二位置值（y）之絕對值愈高。

在此實施例中，第二方向（Y軸方向）對應於光學薄膜相對於第一方向（X軸方向）之彎曲方向，亦即Y軸方向垂直於X軸方向，且第二位置值（y）對應於前端11a在Y軸上之座標值。

影像擷取單元410a藉由拍攝光學薄膜11之前端11a之影像來量測光學薄膜11之前端11a之第一位置值（x）。具體言之，影像擷取單元410a藉由以下來量測光學薄膜11之前端11a之第一位置值（x）：在基本上垂直於第一方向（X軸方向）之方向上拍攝光學薄膜11之前端11a之影像以獲得基本上垂直於Y軸方向之其二維影像；基於色彩資訊之差異（例如色度、亮度以及類似特性之差異）判定某一區域是否是屬於光學薄膜11之區域；且隨後量測所述區域之界面位置。

應瞭解，本發明不限於以上實施例且影像擷取單元410a對光學薄膜11之前端11a之區域的量測可藉由各種方法實現，只要所述方法可量測光學薄膜11之第一位置值（x）即可。

距離量測單元430a藉由量測距離量測單元430a至光學薄膜11之距離來量測第二位置值（y）。在第一實施例中，距離量測單元430a可藉由以下來量測距離量測單元430a至光學薄膜11之距離：向光學薄膜11發射諸如雷射光束之光；接收自其反射之光；以及分析反射光之波長變化、反射光到達距離量測單元430a所需之時間以及類似參數。此處，第二位置值（y）對應於自距離量測單元430a至X軸之距離減去距離量測單元430a至光學薄膜11之距離所獲得之值。

距離量測單元430a量測在基本上平行於第一方向（X軸方向）之方向上移動時至光學薄膜11之前端11a之距離。因為距離量測單元430a量測表示在X軸方向上移動時至光學薄膜11之前端11a之距離的Y軸座標值，所以可量測光學薄膜11之捲曲。

此外，距離量測單元430a可基於至光學薄膜11之距離或在即將無法量測至光學薄膜11之距離之時間點前至光學薄膜之距離的突變來量測表示光學薄膜11之前端11a之Y軸座標值的第二位置值（y）。在此實施例中，距離量測單元430a包含量測導引件431a以及距離量測感測器433a。

量測導引件431a在平行於第一方向（X軸方向）之X軸方向上延伸，且距離量測感測器433a以可移動方式耦接至量測導引件431a。

因此，因為距離量測感測器433a量測在第一方向（X軸方向）上移動時至光學薄膜11之距離，所以距離量測感測器433a可量測在第一方向（X軸方向）上至光學薄膜11之所有距離，至光學薄膜11之最近距離（當光學薄膜11之前端11a由於其重量而向距離量測感測器433a彎曲時）或至光學薄膜11之最遠距離（當光學薄膜11之前端11a由於殘餘應力以及類似力而向距離量測感測器433a反向彎曲時）可作為至光學薄膜11之前端11a之距離量測。

圖4為根據本發明之第二實施例之薄膜量測單元的正視圖且圖5為根據本發明之第二實施例之薄膜量測單元的透視圖。

參考圖4以及圖5，根據第二實施例之薄膜量測單元400b包含距離量測感測器410b以及感測器旋轉單元430b，所述感測器旋轉單元430b使距離量測感測器410b旋轉以量測光學薄膜11之前端11a之第一位置值（x）以及第二位置值（y）。

當距離量測感測器410b旋轉時，距離量測感測器410b所量測之至光學薄膜11之距離以及距離量測感測器410b之旋轉角度對應於將距離量測感測器410b設定為原點之情況下的旋轉座標值（r, θ），且可藉由簡單座標轉換將其轉換為光學薄膜11之前端11a之第一位置值（x）以及第二位置值（y）的座標值。

根據第二實施例，可在不使用影像擷取單元410a下藉由單獨距離量測感測器410b量測光學薄膜11之前端11a之位置以及光學薄膜11之形狀，進而簡化設備之結構。

圖6為根據本發明之第三實施例之薄膜量測單元的正視圖且圖7為根據本發明之第三實施例之薄膜量測單元的透視圖。

參考圖6以及圖7，根據第三實施例之薄膜量測單元400c藉由拍攝由薄膜分離器300分離之光學薄膜11之側表面來量測第一位置值（x）以及第二位置值（y）。

在第三實施例中，因為薄膜量測單元400c在光學薄膜11之各側拍攝光學薄膜11之側表面之影像且將所拍攝之影像發送至控制器600，所以薄膜量測單元400c可基於薄膜量測單元400c之位置以及在光學薄膜11之前端11a之所拍攝影像中光學薄膜11之前端11a之座標，量測光學薄膜11之前端11a之第一位置值（x）以及第二位置值（y）。

在第三實施例中，薄膜量測單元400c可與光學薄膜11之兩對面間隔開。薄膜量測單元400c拍攝光學薄膜11之左前端11a以及右前端11b之影像且將所拍攝之影像發送至控制器600，進而能夠減小光學薄膜11之前端11a之量測誤差以及估算光學薄膜11之傾斜角。

控制器600基於薄膜量測單元400、薄膜量測單元400a、薄膜量測單元400b或薄膜量測單元400c所量測之光學薄膜11之前端11a的位置值調節待黏結至光學薄膜11之面板20之位置。

圖8為說明在根據本發明之實施例的製造光學面板之設備中，視光學薄膜之前端之位置而定之量測誤差的曲線，且圖9為說明在根據本發明之實施例的製造光學面板之設備中，光學薄膜之形狀以及長度之曲線。

參考圖8以及圖9，在此實施例中，當光學薄膜11在第一方向（X軸方向）上鋪展時，控制器600基於光學薄膜11之前端11a之位置計算相對於第一位置值（x）之第一位置校正值（x+Δx），亦即，光學薄膜11與薄膜分離器300之分離距離（ℓ）。隨後，控制器600基於分離長度校正面板20之位置，使得光學薄膜11可黏結至面板20之準確位置。

參考圖8以及圖9，當光學薄膜11與薄膜分離器300之分離距離（ℓ）為30毫米時，可藉由各種實驗、量測以及類似方式獲得量測誤差（Δx）相對於第二位置值（y）之曲線，且控制器600可藉由回應於第二位置值（y）之輸入計算量測誤差（Δx）且隨後量測誤差（Δx）加上第一位置值（x）來計算第一位置校正值（x+Δx）。

此外，當藉由薄膜量測單元400、薄膜量測單元400a、薄膜量測單元400b或薄膜量測單元400c量測光學薄膜11之彎曲形狀時，控制器600可藉由在X-Y座標平面中整合對應薄膜量測單元400、薄膜量測單元400a、薄膜量測單元400b或薄膜量測單元400c之長度來計算第一位置校正值（x+Δx）。

在如下假設的基礎上，基於光學薄膜11之前端11a之位置，自先前輸入資料計算第一位置校正值（x+Δx）：光學薄膜11之前端11a在特定方向上不斷自薄膜分離器300彎曲；然而，當量測薄膜量測單元400、薄膜量測單元400a、薄膜量測單元400b或薄膜量測單元400c之彎曲形狀時，可基於視位置、彎曲方向以及類似參數而定之彎曲程度量測第一位置校正值（x+Δx）。

在光學薄膜11自脫模薄膜13分離之後，黏結滾筒單元500將光學薄膜11黏結至面板20。在此實施例中，黏結滾筒單元500包含下黏結輥510以及上黏結輥530且經組態以在將光學薄膜11黏結至面板20時，藉由移動下黏結輥510以及上黏結輥530中之一者將光學薄膜11與面板20彼此壓縮，其中面板20以及光學薄膜11插入於下黏結輥510與上黏結輥530之間。

在一個實施例中，因為黏著劑保持在已附接至脫模薄膜13之光學薄膜11之表面上，所以在藉由黏結滾筒單元500壓縮光學薄膜11時，可將其黏結至面板20，其中光學薄膜11鄰接面板20。

下黏結輥510以及上黏結輥530中之至少一者充當驅動滾筒以將面板20以及光學薄膜11移動至下黏結輥510與上黏結輥530之間的間隙，從而使得面板20與光學薄膜11在其間可彼此黏結。

在此實施例中，藉由吸輥實現下黏結輥510，所述吸輥包含在其外表面上形成之孔洞且藉由孔洞抽吸外部空氣以迫使光學薄膜11吸附至其上

圖10為根據本發明之一個實施例的製造光學面板之方法的流程圖。參考圖10，現將描述根據本發明之一個實施例之光學面板製造方法S1以及其效果。

根據此實施例之光學面板製造方法S1包含薄膜分離操作S100、薄膜量測操作S200、面板位置調節操作S300以及薄膜黏結操作S400，使得可量測經分離之光學薄膜之位置且可藉由基於光學薄膜11之所量測之位置調節面板20之位置將光學薄膜11黏結至面板20。

在薄膜分離操作S100中，將光學薄膜11自脫模薄膜13與光學薄膜11之堆疊結構10分離。亦即，當堆疊結構10自上面捲繞脫模薄膜13與光學薄膜11之堆疊結構10之堆疊結構輥40展開時，在藉由輸送單元100移動堆疊結構10期間藉由切割單元200半切割光學薄膜11。

在薄膜量測操作S200中，量測在薄膜分離操作S100中分離之光學薄膜11之前端11a的第一位置值（x）以及第二位置（y）。此處，第一位置值為相對於第一方向（X軸方向）所量測之值且第二位置值為相對於不同於第一方向（X軸方向）之第二方向所量測的值。在此實施例中，薄膜量測操作S200包含第一位置量測操作S210以及第二位置量測操作S230。

在第一位置量測操作S210中，拍攝光學薄膜11之前端11a之影像以量測光學薄膜11之前端11a之第一位置值（x）。前端11a之第一位置值（x）表示隨著光學薄膜11彎曲，前端11a相對於第一方向（X軸方向）之位置，亦即X軸座標值（x）。

在第二位置量測操作S230中，量測至光學薄膜11之距離以計算第二位置值（y）。前端11a之第二位置值（y）表示隨著光學薄膜11彎曲，前端11a相對於第二方向（Y軸方向）之位置，亦即Y軸座標值（y）。

在面板位置調節操作S300中，基於在薄膜量測操作S200中所量測之光學薄膜11之前端11a的位置值，控制器600計算光學薄膜11與薄膜分離器300之分離長度（ℓ）且基於分離長度調節待黏結至光學薄膜11之面板20之位置。

面板20之位置調節藉由控制器600實現，所述控制器600藉由控制面板移動單元60調節待黏結至光學薄膜11之面板20之位置，且不僅包含面板20之縱向位置之調節且亦包含面板20之橫向移動或旋轉。

在調節面板20之位置時，黏結滾筒單元500經驅動以將光學薄膜11與面板20彼此壓縮，從而使得光學薄膜11可黏結至面板20。

因而，在根據本發明之實施例的製造光學面板之方法以及設備中，量測光學薄膜11之準確長度以藉由考慮光學薄膜11之捲曲來調節光學薄膜11與面板20之間的黏結位置，進而實現光學薄膜11至面板20之準確黏結。

儘管本文已描述一些實施例，但所屬領域中具通常知識者應瞭解，僅藉助於說明給出這些實施例且本發明不限於此。此外，所屬領域中具通常知識者應瞭解，在不偏離本發明之精神以及範疇的情況下可對本發明進行各種修改、變化以及更改。因此，本發明之範疇應僅受隨附申請專利範圍以及其等效物限制。

1‧‧‧光學面板製造設備
10‧‧‧堆疊結構
11‧‧‧光學薄膜
11a‧‧‧前端
13‧‧‧脫模薄膜
20‧‧‧面板
30‧‧‧光學面板
40‧‧‧堆疊結構輥
50‧‧‧脫模薄膜捲繞輥
60‧‧‧面板移動單元
100‧‧‧輸送單元
110‧‧‧進料器
130‧‧‧導向器
150‧‧‧張力控制器
200‧‧‧切割單元
210‧‧‧切割裝置
230‧‧‧吸收裝置
300‧‧‧薄膜分離器
400、400a、400b、400c‧‧‧薄膜量測單元
410a‧‧‧影像擷取單元
410b‧‧‧距離量測感測器
430a‧‧‧距離量測單元
430b‧‧‧感測器旋轉單元
431a‧‧‧量測導引件
433a‧‧‧距離量測感測器
500‧‧‧黏結滾筒單元
510‧‧‧下黏結輥
530‧‧‧上黏結輥
600‧‧‧控制器
S1‧‧‧光學面板製造方法
S100‧‧‧薄膜分離操作
S200‧‧‧薄膜量測操作
S300‧‧‧面板位置調節操作
S400‧‧‧薄膜黏結操作

圖1為根據本發明之一個實施例的製造光學面板之設備的概念視圖。圖2為圖1中所示之虛線區塊A之放大視圖。圖3為圖1中所示之虛線區塊A之透視圖。圖4為根據本發明之第二實施例之薄膜量測單元的正視圖。圖5為根據本發明之第二實施例之薄膜量測單元的透視圖。圖6為根據本發明之第三實施例之薄膜量測單元的正視圖。圖7為根據本發明之第三實施例之薄膜量測單元的透視圖。圖8為說明在根據本發明之一個實施例的製造光學面板之設備中，視光學薄膜之前端之位置而定之量測誤差的曲線。圖9為說明在根據本發明之一個實施例的製造光學面板之設備中，光學薄膜之形狀以及長度之曲線。圖10為根據本發明之一個實施例的製造光學面板之方法的流程圖。

1‧‧‧光學面板製造設備

10‧‧‧堆疊結構

11‧‧‧光學薄膜

11a‧‧‧前端

13‧‧‧脫模薄膜

20‧‧‧面板

30‧‧‧光學面板

40‧‧‧堆疊結構輥

50‧‧‧脫模薄膜捲繞輥

60‧‧‧面板移動單元

100‧‧‧輸送單元

110‧‧‧進料器

130‧‧‧導向器

150‧‧‧張力控制器

200‧‧‧切割單元

210‧‧‧切割裝置

230‧‧‧吸收裝置

300‧‧‧薄膜分離器

400‧‧‧薄膜量測單元

400a‧‧‧薄膜量測單元

500‧‧‧黏結滾筒單元

510‧‧‧下黏結輥

530‧‧‧上黏結輥

600‧‧‧控制器

Claims

一種製造光學面板的設備，包括：薄膜分離器，其將光學薄膜自脫模薄膜與所述光學薄膜之堆疊結構分離；薄膜量測單元，其量測由所述薄膜分離器分離之所述光學薄膜之前端的第一位置值以及第二位置值，所述第一位置值表示所述光學薄膜之所述前端相對於第一方向之位置，所述第二位置值表示所述光學薄膜之所述前端相對於不同於所述第一方向之第二方向的位置；以及控制器，其基於藉由所述薄膜量測單元量測之所述光學薄膜之所述前端的所述位置值調節待黏結至所述光學薄膜之所述面板之位置。
如申請專利範圍第1項所述之製造光學面板的設備，其中所述薄膜量測單元包括：影像擷取單元，其拍攝所述光學薄膜之所述前端之影像以量測所述光學薄膜之所述前端之所述第一位置值；以及距離量測單元，其量測至所述光學薄膜之距離以量測所述第二位置值。
如申請專利範圍第1項所述之製造光學面板的設備，其中所述距離量測單元能在平行於所述第一方向之方向上移動。
如申請專利範圍第3項所述之製造光學面板的設備，其中所述距離量測單元包括：在平行於所述第一方向之所述方向上延伸之量測導引件；以及以可移動方式耦接至所述量測導引件之距離量測感測器。
如申請專利範圍第1項所述之製造光學面板的設備，其中所述薄膜量測單元藉由使所述距離量測感測器旋轉來量測所述第一位置值以及所述第二位置值。
如申請專利範圍第1項至第5項中任一項所述之製造光學面板的設備，其中在所述光學薄膜之橫向方向上配置多個薄膜量測單元。
如申請專利範圍第1項所述之製造光學面板的設備，其中所述薄膜量測單元藉由拍攝所述光學薄膜之側表面來量測所述第一位置值以及所述第二位置值。
如申請專利範圍第1項至第5項中任一項所述之製造光學面板的設備，其中在由所述薄膜分離器分離之所述光學薄膜上未產生捲曲之狀態下，所述第一方向為所述光學薄膜之縱向方向。
如申請專利範圍第8項所述之製造光學面板的設備，其中所述第二方向垂直於所述第一方向。
一種製造光學面板的方法，包括：將光學薄膜自脫模薄膜與所述光學薄膜之堆疊結構分離；量測自所述堆疊結構分離之所述光學薄膜之前端的第一位置值以及第二位置值，所述第一位置值表示所述光學薄膜之所述前端相對於第一方向之位置，所述第二位置值表示所述光學薄膜之所述前端相對於不同於所述第一方向之第二方向的位置；以及藉由控制器，基於所述光學薄膜之所述前端之所量測的位置值計算無捲曲之所述光學薄膜之所述前端的位置，隨後調節待黏結至所述光學薄膜之面板之位置。
如申請專利範圍第10項所述之製造光學面板的方法，其中量測所述光學薄膜之所述前端之所述第一位置值以及所述第二位置值包括：拍攝所述光學薄膜之所述前端之影像以量測所述光學薄膜之所述前端之所述第一位置值；以及量測至所述光學薄膜之距離以量測所述第二位置值。
如申請專利範圍第10項或第11項所述之製造光學面板的方法，其中在由所述薄膜分離器分離之所述光學薄膜上未產生捲曲之狀態下，所述第一方向為所述光學薄膜之縱向方向，且所述第二方向垂直於所述第一方向。