JP2011233685A - 多層配線基板およびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 信頼性試験においてビアホール導体の抵抗変化が小さくかつ寸法精度の高い多層配線基板とその製造方法を提供する。
【解決手段】 前記第1、第2のグリーンシートに貫通孔を形成し、該貫通孔の内壁の全面に第1の導体ペーストを塗布して管状のビアホール導体パターンを形成する工程と、該管状のビアホール導体パターンの内側に、前記第1の導体ペーストの焼成収縮開始温度よりも低い焼成収縮終了温度を有する第2の導体ペーストを充填して柱状のビアホール導体パターンを形成する工程と、前記管状のビアホール導体パターンおよび柱状のビアホール導体パターンを覆うように、前記第1のグリーンシートおよび前記第2のグリーンシートの表面に、表面配線導体パターンを形成する工程と、前記表面配線導体パターンが形成された前記第1のグリーンシートおよび前記第2のグリーンシートを積層し、焼成する工程と、を具備する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、ガラスセラミックスからなる絶縁基板を有する多層配線基板およびその製造方法に関するものである。
近年、高度情報化時代を迎え、情報通信技術が急速に発達し、それに伴い、半導体素子等の高速化、大型化が図られ、配線層においても、信号の伝送損失を低減する上で配線層の低抵抗化と絶縁基板の低誘電率化が求められている。そこで、1000℃以下での焼成によって緻密化でき、銅、銀または金等の低抵抗金属を主成分とする配線層との同時焼成が可能で、かつ誘電率の低いガラスセラミックスを絶縁層とする多層配線基板が提案されている。また、多層配線基板に実装される半導体素子は、ゲート数の増加に伴い、フリップチップ実装が主流となっており、接続端子の増加と挟ピッチ化が進められている。このため、これを実装する多層配線基板の半導体素子の搭載面には、半導体素子の表面に形成された接続端子のピッチに適合する寸法精度(主面に形成された接続端子の間隔の精度)が要求されており、この寸法精度を高めるために焼成時の平面方向の収縮を抑制する多層配線基板の製造方法が提案されている(例えば、特許文献1、2を参照)。
例えば、ガラス粉末とセラミック粉末との混合物に有機バインダ、可塑剤、溶剤等を加えてスラリーとし、ドクターブレード等により成形された第1のグリーンシートと、第1のグリーンシートと同様の方法で成形され、第1のグリーンシートの焼成収縮終了温度よりも高い温度で焼成収縮を開始する第2のグリーンシートとを用意し、それぞれのグリーンシートに貫通孔を形成してビアホール導体用の導体ペーストを充填するとともに、少なくとも一方のグリーンシートの一方主面に表面配線層用の導体ペーストを塗布する。次いで、ビアホール導体および表面配線層用パターンを形成した第1のグリーンシートおよび第2のグリーンシート交互にを積層して積層体を作製し、この積層体を第2のグリーンシートが焼成収縮する温度まで加熱して焼成するという方法である。
特許文献1、2に開示された製造方法によれば、第1のグリーンシートが焼成収縮する際、焼成収縮を開始していない状態の第2のグリーンシートによって、第1のグリーンシートの平面方向の収縮が抑制される。一方、第2のグリーンシートが焼成収縮する際、第1の絶縁層(すでに焼成収縮を終了した状態の第1のグリーンシート)によって、第2のグリーンシートの平面方向の収縮が抑制される。なお、平面方向の収縮が抑制される分、積層方向の収縮は大きくなる。以上のようなメカニズムにより、多層配線基板(ガラスセラミックグリーンシートを積層した積層体の焼成後の状態)の寸法精度(主面に形成された接続端子の間隔の精度)を向上できる。
特開2002−261443号公報 特開2008−117815号公報
ところが、特許文献1、2に開示された多層配線基板の製造方法により積層体を焼成した場合、積層体のグリーンシートの部分は平面方向の焼成収縮が抑えられるものの、グリーンシートの貫通孔内に形成されたビアホール導体は平面方向に収縮してしまうことから、貫通孔とビアホール導体との間に隙間が発生し、このため信頼性試験において多層配線
基板の層間絶縁信頼性試験において絶縁抵抗が大きく低下するという問題があった。
従って本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、多層配線基板の層間絶縁信頼性試験において絶縁抵抗変化が小さくかつ寸法精度の高い多層配線基板とその製造方法を提供することを目的とする。
本発明の多層配線基板の製造方法は、ガラス粉末およびセラミック粉末を含有する第1のグリーンシートを準備する工程と、ガラス粉末およびセラミック粉末を含有し、前記第1のグリーンシートの焼成収縮終了温度よりも焼成収縮開始温度の高い第2のグリーンシートを準備する工程と、前記第1のグリーンシートおよび前記第2のグリーンシートに貫通孔を形成し、該貫通孔の内壁の全面に第1の導体ペーストを塗布して管状のビアホール導体パターンを形成する工程と、該管状のビアホール導体パターンの内側に、前記第1の導体ペーストの焼成収縮開始温度よりも低い焼成収縮終了温度を有する第2の導体ペーストを充填して柱状のビアホール導体パターンを形成する工程と、前記管状のビアホール導体パターンおよび前記柱状のビアホール導体パターンを覆うように、前記第1のグリーンシートおよび前記第2のグリーンシートの表面に、表面配線導体パターンを形成する工程と、前記表面配線導体パターンが形成された前記第1のグリーンシートおよび前記第2のグリーンシートを積層し、焼成する工程と、を具備することを特徴とする。
本発明の多層配線基板は、複数のガラスセラミック絶縁層を積層してなり、少なくとも最外層の2層が他の前記ガラスセラミック絶縁層とは異なる異種材料ガラスセラミック絶縁層からなり、前記他のガラスセラミック絶縁層と前記異種材料ガラスセラミック絶縁層とにそれぞれビアホール導体が設けられた多層配線基板において、前記ビアホール導体中に当該ビアホール導体を構成する金属粒子よりも粒径の小さい金属粒子を具備する第2のビアホール導体を有していることを特徴とする。
本発明によれば、多層配線基板の層間絶縁信頼性試験において絶縁抵抗変化が小さくかつ寸法精度の高い多層配線基板を容易に得ることができる。
(a)〜(c)は、本実施形態の多層配線基板の製造方法の一例を示す工程図である。 (a)は管状のビアホール導体パターンを形成するためのスクリーン印刷版を示す模式図であり、(b)は管状のビアホール導体パターンの内側に第2の導体ペーストを充填するためのスクリーン印刷版を示す模式図である。 本実施形態の多層配線基板の製造方法により作製される多層配線基板の一部を拡大して示す断面図である。
図1の(a)〜(c)は、本実施形態の多層配線基板の製造方法の一例を示す工程図である。
第1の工程では、まず、ガラス粉末およびセラミック粉末を含有する第1のグリーンシート1を準備するとともに、ガラス粉末およびセラミック粉末を含有し、第1のグリーンシートの焼成収縮終了温度よりも焼成収縮開始温度の高い第2のグリーンシート2を準備する。
第1のグリーンシート1に含まれるガラス粉末の具体的な組成の例としては、必須成分
として、SiOを20〜30質量%、Bを15〜20質量%、 Alを5〜10質量%、MgOを10〜20質量%、BaOを20〜25質量%、SnOを0.2〜2質量%、CaOを2〜7質量%、SrOを0.1〜0.6質量%、ZrOを1〜2質量%含む組成が挙げられる。
第1のグリーンシート1に含まれるセラミック粉末の具体例としては、Al、SiO(クォーツ)、MgTiO、CaZrO、CaTiO、MgSiO、BaTi、ZrTiO、SrTiO、BaTiO、TiOから選ばれる1種以上が挙げられる。この場合、第1のグリーンシート1では、ガラス粉末70〜90質量%とセラミック粉末10〜30質量%とを含むことが望ましい。
第2のグリーンシート2に含まれるガラス粉末の具体的な組成の例としては、必須成分として、SiOを35〜50質量%、Bを5〜10質量%、 Alを10〜15質量%、MgOを15〜20質量%、BaOを11〜18質量%、CaOが0.5〜2質量%、SrOが0.1〜0.9質量%、ZrOが0.5〜1.5質量%、希土類元素(RE)の酸化物(希土類元素としては、Y、Dy、HoおよびErから選ばれる少なくとも1種)を0.5〜1.5質量%含む組成が挙げられる。
第2のグリーンシート2に含まれるセラミック粉末については、上記した第1のグリーンシート1に適用されるセラミック粉末と同じようなセラミック粉末が挙げられるが、この場合、第2のグリーンシート2では、ガラス粉末50〜65質量%とセラミック粉末35〜50質量%とを含むことが望ましい。
上記組成のガラス粉末とセラミック粉末との組み合わせによれば、1000℃以下での低温焼結が可能になるとともに、配線層として、Cu、Ag、Alなどの低抵抗導体を用いて形成することが可能となり、また、誘電率を幅広い範囲で制御することも可能であり、高速伝送化や、内蔵素子の機能向上に適している。しかも、上記の範囲で種々組成を制御することによって、焼成収縮挙動を容易に制御、変更することができる。
第1のグリーンシート1および第2のグリーンシート2は、上記したガラス粉末とセラミック粉末との混合物に、有機バインダと有機溶剤および必要に応じて可塑剤とを混合し、スラリー化する。このスラリーを用いてドクターブレード法などによりテープ成形を行い、所定寸法に切断して作製する。
第2の工程では、第1のグリーンシート1および第2のグリーンシート2のそれぞれに、金型、パンチングおよびレーザー加工等のいずれかの加工法によって貫通孔3を形成する。
第3の工程では、貫通孔3の内壁の全面に導体ペーストを塗布して管状のビアホール導体パターン5を形成する。
第4の工程では、管状のビアホール導体パターン5の内側にガラスセラミックペーストを充填して柱状のガラスセラミックパターン7を形成する。
貫通孔3の形状は、平面視での形状が円形または多角形のいずれでもよいが、後述するように、この貫通孔3に形成する管状のビアホール導体パターンの厚みをより均一にできるという点で円形が好ましい。
貫通孔3を断面視したときの形状(第1、第2のグリーンシートの厚み方向)は、第1、第2のグリーンシート1、2の両面において同じ口径を有するような形状、すなわち、
長方形または正方形等の矩形状であるのがよいが、この場合、貫通孔3の内壁の全面に第1の導体ペーストを塗布しやすく、また内壁の全面に塗布された管状のビアホール導体パターン5が落下し難く、形状保持性を高めるとともに、その管状のビアホール導体パターン5の内側に充填する第2の導体ペーストについても、充填しやすくかつ形状保持性を高められるという点で、第1の導体ペーストおよび第2の導体ペーストを充填する側の口径をその反対側の面よりも大きくするのがよい。
管状のビアホール導体パターン5を形成するための第1の導体ペーストは、平均粒径が1〜5μm程度の導体材料の金属粉末に、必要に応じてセラミック粉末を添加した無機成分に対して、エチルセルロース、アクリル樹脂などの樹脂を加え、さらにジブチルフタレート、αテルピネオール、ブチルカルビトール、2・2・4−トリメチル−3・3−ペンタジオールモノイソブチレートなどの適当な溶剤を混合し、3本ローラ又はボールミル等により均質に混練して調製されたものを用いる。
柱状のビアホール導体パターン5を形成するための第2の導体ペーストは、平均粒径が500nm以下の導体材料の金属粉末に、必要に応じてセラミック粉末を添加した無機成分に対して、エチルセルロース、アクリル樹脂などの樹脂を加え、さらにジブチルフタレート、αテルピネオール、ブチルカルビトール、2・2・4−トリメチル−3・3−ペンタジオールモノイソブチレートなどの適当な溶剤を混合し、3本ローラ又はボールミル等により均質に混練して調製されたものを用いる。ここで、柱状のビアホール導体パターン5を形成するための第2の導体ペーストは、金属粉末の平均粒径が500nm以下と管状のビアホール導体パターン5を形成するための第1の導体ペーストに用いている金属粉末よりも粒径が小さいものを用いていることから、第1の導体ペーストの焼成収縮開始温度よりも低い焼成収縮終了温度を有する第2の導体ペーストとすることができる。
図2(a)は管状のビアホール導体パターンを形成するためのスクリーン印刷版Aを示す模式図であり、(b)は管状のビアホール導体パターンの内側に第2の導体ペーストを充填するためのスクリーン印刷版Bを示す模式図である。
第1の導体ペーストの貫通孔3の内壁への塗布は、図2(a)に示すように、貫通孔3の内壁に第1の導体ペーストを塗布できるようにスクリーン印刷版Aの貫通孔3の中心にレジスト部を設けて貫通孔3の中心に導体ペーストが充填されないようにしたドーナツ状の開口部を有するスクリーン印刷版Aを用いて印刷により行う。この場合、貫通孔3が完全に第1の導体ペーストにより充填されず管状のビアホール導体パターン5として所定の厚みを有するとともに、この管状のビアホール導体パターン5の内側に空隙を確保できるように、第1の導体ペーストの粘度を適宜調整する。
次に、第2の導体ペーストを管状のビアホール導体パターン5の内側に充填する場合には、例えば、図2(b)に示すように、円形状の開口部を有するスクリーン印刷版Bを用いて印刷により行う。この場合、管状のビアホール導体パターン5の内側の空隙に、液だれなどが生じないように第2の導体ペーストを充填できるように、第2の導体ペーストの粘度を適宜調整する。
第5の工程では、管状のビアホール導体パターン5および柱状のビアホール導体パターン7を覆うように、第1のグリーンシート1および第2のグリーンシート2の表面に、表面配線導体パターン9を形成する。
この表面配線導体パターン9を形成するための導体ペーストも、管状のビアホール導体パターン5を形成するための第1の導体ペーストと同じく平均粒径が1〜5μm程度の導体材料の粉末に、必要に応じてセラミック材料を添加した無機成分に対して、エチルセル
ロース、アクリル樹脂などの樹脂を加え、さらにジブチルフタレート、αテルピネオール、ブチルカルビトール、2・2・4−トリメチル−3・3−ペンタジオールモノイソブチレートなどの適当な溶剤を混合し、3本ローラ又はボールミル等により均質に混練して調製されたものを用いる。表面配線導体パターン9用の導体ペーストは、焼成後の表面配線導体層の導体抵抗を低くするという理由から管状のビアホール導体パターン5の第1の導体ペーストよりもセラミック材料の添加量を少なくしたものを用いるのがよい。
第6の工程では、表面配線導体パターン9が形成された第1のグリーンシート1および第2のグリーンシート2を積層して積層体を形成した後、焼成を行って多層配線基板を作製する。
このようにして、第1のグリーンシート1および第2のグリーンシート2に管状のビアホール導体パターン5および柱状のビアホール導体パターンと、それらを覆うように形成された表面配線導体パターン9とを有する積層体11を形成することができる。なお、焼成にあたっては、有機バインダの揮散、消失工程で、第1、第2のグリーンシート1、2に含まれている樹脂を消失させ、焼成工程にて窒素などの不活性雰囲気中または大気中で、用いたガラス粉末、セラミック粉末および導体材料が十分に焼結する温度で焼成して、相対密度95%以上に緻密化することが望ましい。
本実施形態の多層配線基板の製造方法は、ガラス粉末およびセラミック粉末の組成を変更することにより焼成収縮開始温度および焼成収縮終了温度の異なる第1のグリーンシート1および第2のグリーンシート2を積層して、第1のグリーンシート1の焼成収縮がほぼ終了した温度よりも高い温度から第2のグリーンシート2の焼成収縮が開始するようにして、第1のグリーンシート1が焼成時に収縮するときには第2のグリーンシート2が第1のグリーンシート1を拘束し、一方、第2のグリーンシート2が収縮し始めたときには、第1のグリーンシート1の焼成収縮がほぼ完了している。このため、第1のグリーンシート1が焼成されて形成されたガラスセラミックスからなる絶縁層により第2のグリーンシート2が拘束されることにより第2のグリーンシート2の焼成収縮を抑えることができる。その結果、第1のグリーンシート1および第2のグリーンシート2が積層された積層体のX−Y方向(長さの測定)の焼成収縮率を2%以下にすることができるとともに、同じX−Y方向(長さの測定)の測定から求められる寸法精度を±0.2%以内にすることができる。
ここで、焼成収縮開始温度とは、第1のグリーンシート1および第2のグリーンシート2であるグリーンシートが0.1%体積収縮したときのことをいい、焼成収縮終了温度とは、グリーンシートが最終焼成体積収縮量の95%以上焼成収縮が進行している状態をいう。
また、本実施形態の多層配線基板の製造方法では、第1のグリーンシート1および第2のグリーンシート2に形成した貫通孔3の内壁の全面に第1の導体ペーストを塗布して管状のビアホール導体パターン5を形成し、次いで、この管状のビアホール導体パターン5の内側に第2の導体ペーストを充填して柱状のビアホール導体パターン7を形成する。
このように、貫通孔3の内壁に管状のビアホール導体パターン5および柱状のビアホール導体パターン7を形成することにより、柱状のビアホール導体パターン7が焼成時に収縮するときには、その外側に形成された管状のビアホール導体パターン5が柱状のビアホール導体パターン7を拘束し、次に、昇温して、管状のビアホール導体パターン5が収縮し始めたときには、柱状のビアホール導体パターン7の焼成収縮がほぼ完了していることから、今度は、柱状のビアホール導体パターン7が焼成されて形成された第2のビアホール導体が管状のビアホール導体パターン5を拘束するため、管状のビアホール導体パター
ン5の焼成収縮が抑えられる。この結果、第1のグリーンシート1が焼成されて形成されるガラスセラミックスからなる絶縁層および第2のグリーンシート2から形成されるガラスセラミックスからなる絶縁層(第1のグリーンシート1とは組成の異なる絶縁層:異種材料ガラスセラミック絶縁層)の貫通孔3と管状のビアホール導体との間および管状のビアホール導体と柱状の第2のビアホール導体との間が接しており隙間が形成されにくい。
なお、貫通孔3の内壁に形成される管状のビアホール導体パターン5および柱状のビアホール導体パターン7のそれぞれの焼成収縮開始温度の関係は、管状のビアホール導体パターン5の焼成収縮開始温度が柱状のビアホール導体パターン7の焼成収縮終了温度よりも低くする。これにより高温高湿付加試験(85℃、85%RH、2気圧、直流電圧5.5V、100時間経過後)での多層配線基板の層間絶縁抵抗の低下を大幅に抑えることが可能になる。
また、本実施形態の多層配線基板の製造方法では、柱状のビアホール導体パターン7の直径を管状のビアホール導体パターン5の厚みの1/5以上としたときには、同じ条件の高温高湿負荷試験での多層配線基板の層間絶縁抵抗の低下をさらに抑えることが可能になる。
図3は、本実施形態の多層配線基板の製造方法により作製された多層配線基板の断面図である。
多層配線基板11は、第1のグリーンシート1の焼成体である第1のガラスセラミック絶縁層13と、第1のガラスセラミック絶縁層13とは異なる第2のグリーンシート2の焼成体である第2のガラスセラミック絶縁層15とが積層された絶縁基板の内部に貫通孔16が形成されており、この貫通孔16の内壁に導体層がビアホール導体17として管状に形成され、さらに、このビアホール導体17の内側に柱状の第2のビアホール導体19が形成されている。また、第2のビアホール導体19は、ビアホール導体17を構成する金属粒子よりも粒径の小さい金属粒子を具備している。さらに、第1のガラスセラミック絶縁層13は、絶縁基板の最外層の2層を構成するようになっており、第1のガラスセラミック絶縁層13および第2のガラスセラミック絶縁層15の表面には表面配線層21が形成されている。
本実施形態の多層配線基板11によれば、第1のガラスセラミック絶縁層13および第2のガラスセラミック絶縁層15に設けられた貫通孔16内にビアホール導体17が設けられ、さらにその内側にビアホール導体17を構成する金属粒子よりも粒径の小さい金属粒子を具備している柱状の第2のビアホール導体19を有しており、貫通孔16内のビアホール導体17が第1、第2のガラスセラミック絶縁層13、15と第2のビアホール導体19とで挟持された状態となっていることから、多層配線基板11がハンダ実装工程や高温高湿負荷試験などにおいて加熱されてもビアホール導体17の熱膨張による第1、第2のガラスセラミック絶縁層13、15からの剥離を大幅に抑制でき、ハンダ実装工程にも信頼性が高く、高温高湿負荷寿命に優れた多層配線基板11を得ることができる。
まず、絶縁層を形成するためのグリーンシートを作製した。第1のグリーンシートとして、SiO2が23.8質量%、Bが17.9質量%、Al23が8.4質量%、
MgOが15.4質量%、BaOが26.5質量%、SnOが1.0質量%、CaOが4.9質量%、SrOが0.4質量%、ZrOが1.7質量%を含むガラス粉末と、クォーツ粉末とを準備し、これらをガラス80質量%、Al23粉末を20質量%秤量し、有機バインダーを添加して、ガラスセラミック組成物を作製した。
次いで、上記ガラスセラミック組成物に、有機バインダーとしてアクリル樹脂、可塑剤としてジオクチルフタレート、溶媒としてトルエンを加えて調製したスラリーを用いて、ドクターブレード法により成形し、面積が200mm×200mm、厚みが84μmの第
1のグリーンシートを作製した。
次に、第2のグリーンシートとして、SiO2が43.3質量%、Bが7.5質
量%、Al23が12.9質量%、MgOが18.0質量%、CaOが1.7質量%、BaOが14.1質量%、Y23が1.0重量%、SrOが0.5質量%、ZrOが1.0質量%を含むガラス粉末と、Al23粉末とを準備し、これらをガラス60質量%、Al23粉末を40質量%に秤量し、有機バインダーを添加して、ガラスセラミック組成物を作製した。
次いで、上記ガラスセラミック組成物に、有機バインダーとしてアクリル樹脂、可塑剤としてジオクチルフタレート、溶媒としてトルエンを加えて調製したスラリーを用いて、ドクターブレード法により成形し、面積が200mm×200mm、厚みが84μmの第
2のグリーンシートを作製した。
次に、得られた第1、第2のグリーンシートの複数個に、CO2レーザーにより直径2
00μmの貫通孔を形成した。また、貫通孔を形成しない第1、第2のグリーンシートもそれぞれ用意した。
次に、管状のビアホール導体パターン用の第1の導体ペーストを調製した。管状のビアホール導体パターン用の導体ペーストは、平均粒径5μmの銀粉末100質量%に対して
、ガラス粉末を表1に示す割合になるように添加した無機成分に、有機バインダーとしてエチルセルロース樹脂を、溶媒としてテルピネオールとジブチルフタレートの混合溶液(質量比で80:20)を添加し、混練して調製した。
調製した管状のビアホール導体パターン用の第1の導体ペーストを、図2(a)に示すスクリーン印刷版を用いて、第1、第2のグリーンシートに形成した貫通孔に、スクリーン印刷法により塗布した。その後、80℃で30分乾燥し、続いて室温、7MPaの条件で第1、第2のグリーンシートの表面を加圧し、表面形状を整えた。
続いて、柱状のビアホール導体パターン用の第2の導体ペーストを調製した。この場合、表1に示す3種の平均粒径を有する銀粉末100質量%に対して、有機バインダーとしてエチルセルロース樹脂を、溶媒としてテルピネオールとジブチルフタレートの混合溶液(質量比で80:20)を添加し、混練して調製した。
次に、先に貫通孔に管状のビアホール導体パターンを形成した第1、第2のグリーンシートの管状のビアホール導体パターンの内側に、図2(b)示すスクリーン印刷版を用いてスクリーン印刷法により調製した第2の導体ペーストを充填して柱状のビアホール導体パターンを形成した。
次に、表面配線層となる表面配線用の導体ペーストを調製した。この場合、平均粒径2.5μmの銀粉末を用意し、この銀粉末に対して有機バインダーとしてエチルセルロース
樹脂を、溶媒としてテルピネオールとジブチルフタレートの混合溶液(重量比で80:20)を添加し混練して調製した。
次に、調製した表面配線用の導体ペーストを、管状のビアホール導体パターンおよび柱状のビアホール導体パターンが形成された第1、第2のグリーンシートの貫通孔の上面に接続パッドとして、10mm×20mmの表面配線導体パターンをスクリーン印刷により
形成した。このとき表面配線導体パターンのみ形成した第2のグリーンシートも用意した。
次に、管状のビアホール導体パターン、柱状のビアホール導体パターンおよび表面配線導体パターンを形成した第1のグリーンシート5枚と、管状のビアホール導体パターン、ビアホール導体パターンおよび表面配線導体パターンを形成した第2のグリーンシート3枚と、表面配線導体パターンのみ形成した第2のグリーンシート1枚とを用意し、管状のビアホール導体パターン、柱状のビアホール導体パターンおよび表面配線導体パターンを形成した第1のグリーンシートが最表層となるように第1のグリーンシートと第2のグリーンシートとを交互に積層した。このとき表面配線導体パターンのみ形成した第2のグリーンシートを2層目に配置させ、第1のグリーンシートと第2のグリーンシートとの間に接着剤を均一に塗布し、45℃、10MPaの条件で加圧積層を行い、積層体を作製した。
続いて、積層体を30mm×30mmのサイズに切断し、これらの積層体の個片をAlの台板上に載せて有機バインダー等の有機成分を分解除去するために、大気中、400℃で加熱処理した後、910℃で1時間保持して焼成した。得られた多層配線基板を100個抽出し、多層配線基板の四隅に形成した接続パッドの間隔を測定して、焼成前の積層体に対する焼成後の積層体のX−Y方向の焼成収縮率を測定したところ、辺の長さとしての収縮率が平均値で1.0%であり、寸法ばらつきが辺の長さの測定において±0.1%以内に入っており、高寸法制度の多層配線基板が得られた。
次に、得られた多層配線基板の接続パッドにNi−Auめっきを施し、評価用の基板を作製した。その後、接続パッドに低融点はんだ(Sn:Pb=63:37(質量比))を用いてリード線を付け、多層配線基板に対して層間絶縁信頼性試験を行った。試験条件は、85℃、85%RH、2気圧、直流電圧5.5Vの条件とし、試験前の初期および試験
100時間後の層間絶縁抵抗を測定した。層間絶縁抵抗は作製した多層配線基板のビアホール導体を形成していない2層目を対象とした。絶縁抵抗が1.0×10Ω以上あれば良品として○で示した。
また、管状のビアホール導体パターン用の第1の導体ペーストおよび柱状のビアホール導体パターン用の第2の導体ペーストを熱処理して有機成分を除去した粉末を用いて、加圧成型により直径10mm、高さ8mmの円柱状の圧粉体を形成した。成型条件は1×10kgf/cmとした。次に、この圧粉体に対して室温〜1000℃の温度範囲で熱機械分析(TMA)によりそれぞれの収縮開始温度および収縮終了温度を測定した。このとき、昇温速度を10℃/minとした。結果を表2に示す。
Figure 2011233685
Figure 2011233685
表2の結果から明らかなように、本発明の試料(試料No.2〜5、7〜9)では、作製した多層配線基板の破断面の観察から、最表層の絶縁層に形成されている貫通孔のビアホール導体について、ガラスセラミック絶縁層の内壁とビアホール導体との間およびビアホール導体と当該ビアホール導体の内側に設けられており、該ビアホール導体を構成する金属粒子よりも粒子径の小さい金属粒子を含んでなる柱状の第2のビアホール導体との間のいずれにも隙間が見られず、高温高湿付加試験100時間後の多層配線基板の層間絶縁抵抗が2.9×10Ω以上で絶縁抵抗の変化が少なく、絶縁信頼性に優れた多層配線基板を得ることができた。
また、ガラスセラミック柱状パターンの直径を、管状のビアホール導体パターンの厚みの1/5以上とした試料(試料No.3〜14)では、高温高湿付加試験100時間後の
多層配線基板の層間絶縁抵抗が2.1×1010Ω以上で絶縁抵抗の変化が2桁以内であった。
1 第1のグリーンシート
2 第2のグリーンシート
3 貫通孔
5 管状のビアホール導体パターン
7 柱状のビアホール導体パターン
9 表面配線導体パターン
11 多層配線基板
13 ガラスセラミック絶縁層
15 異種材料ガラスセラミック絶縁層
16 貫通孔
17 ビアホール導体
19 第2のビアホール導体

Claims (2)

  1. ガラス粉末およびセラミック粉末を含有する第1のグリーンシートを準備する工程と、ガラス粉末およびセラミック粉末を含有し、前記第1のグリーンシートの焼成収縮終了温度よりも焼成収縮開始温度の高い第2のグリーンシートを準備する工程と、
    前記第1のグリーンシートおよび前記第2のグリーンシートに貫通孔を形成し、該貫通孔の内壁の全面に第1の導体ペーストを塗布して管状のビアホール導体パターンを形成する工程と、
    該管状のビアホール導体パターンの内側に、前記第1の導体ペーストの焼成収縮開始温度よりも低い焼成収縮終了温度を有する第2の導体ペーストを充填して柱状のビアホール導体パターンを形成する工程と、
    前記管状のビアホール導体パターンおよび前記柱状のビアホール導体パターンを覆うように、前記第1のグリーンシートおよび前記第2のグリーンシートの表面に、表面配線導体パターンを形成する工程と、
    前記表面配線導体パターンが形成された前記第1のグリーンシートおよび前記第2のグリーンシートを積層し、焼成する工程と、
    を具備することを特徴とする多層配線基板の製造方法。
  2. 複数のガラスセラミック絶縁層を積層してなり、少なくとも最外層の2層が他の前記ガラスセラミック絶縁層とは異なる異種材料ガラスセラミック絶縁層からなり、前記他のガラスセラミック絶縁層と前記異種材料ガラスセラミック絶縁層とにそれぞれビアホール導体が設けられた多層配線基板において、
    前記ビアホール導体中に当該ビアホール導体を構成する金属粒子よりも粒径の小さい金属粒子を具備する第2のビアホール導体を有していることを特徴とする多層配線基板。
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