JP2011197009A - 超電導線材の検査装置および検査方法 - Google Patents
超電導線材の検査装置および検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011197009A JP2011197009A JP2011111436A JP2011111436A JP2011197009A JP 2011197009 A JP2011197009 A JP 2011197009A JP 2011111436 A JP2011111436 A JP 2011111436A JP 2011111436 A JP2011111436 A JP 2011111436A JP 2011197009 A JP2011197009 A JP 2011197009A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- superconducting wire
- light
- superconducting
- inspection apparatus
- light receiving
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B66—HOISTING; LIFTING; HAULING
- B66B—ELEVATORS; ESCALATORS OR MOVING WALKWAYS
- B66B7/00—Other common features of elevators
- B66B7/12—Checking, lubricating, or cleaning means for ropes, cables or guides
- B66B7/1207—Checking means
- B66B7/1215—Checking means specially adapted for ropes or cables
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/608—Specific applications or type of materials superconductors
Abstract
【解決手段】超電導線材の検査装置は、超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向に光を照射する青色LED(1)と、超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向と角度をなす方向に光を照射する赤色LED(2)と、超電導線材(20)からの反射光(B1)を主として受光し、かつ超電導線材(20)からの散乱光(C2)を主として受光するカラーラインセンサ(3)と、カラーラインセンサ(3)にて受光した光の光量を積算して出力するコンピュータ(5)とを備えている。
【選択図】図8
Description
上記検査装置において好ましくは、上記照射部は、超電導線材の表面の法線方向と角度をなす方向に光を照射する斜方照射部である。
上記検査装置において好ましくは、超電導線材にレーザ光を照射しながら超電導線材の長手方向に相対的に移動するレーザ光照射部と、超電導線材で反射したレーザ光を受光するレーザ光受光部と、レーザ光受光部における受光位置に基づいて超電導線材の変位に関する情報を出力するレーザ式変位計用出力部とを有するレーザ式変位計がさらに備えられている。
(実施の形態1)
図1(a)は超電導ケーブルの一例を示す断面図、(b)は(a)におけるケーブルコアの拡大図である。図1(a)、(b)を参照して、超電導ケーブル30は、ケーブルコア31と、断熱管38と、防食層39とを備えている。断熱管38および防食層39の内側に形成された冷媒流通路37内に、単芯或いは複数芯撚り合わせたケーブルコア31が挿入されている。そして、冷媒流通路37内のケーブルコア31の外周に冷媒が流通される。ケーブルコア31は、内側から順にフォーマ(複数の銅の撚り線)32と、複数の超電導線材40aと、クラフト紙35と、複数の超電導線材40bと、絶縁紙34とから構成されている。外径がたとえば20mmの複数の銅の撚り線よりなるフォーマ32の外周には、テープ状の超電導線材40a、40bの各々がスパイラル状に巻き付けられている。複数の超電導線材40a、40bは、クラフト紙35を挟んで互いに絶縁された積層構造となっている。下層である複数の超電導線材40aは、たとえば13本の超電導線材が200mmピッチで配置されている。また、上層である複数の超電導線材40bは、たとえば14本の超電導線材が200mmピッチで配置されている。超電導線材40a、40bの各々の1本あたりの断面は、たとえば縦0.21mm、横4.1mmの長方形の形状を有している。上層の超電導線材40bの外側には、たとえばポリプロピレンラミネート紙(PPLP(R))よりなる絶縁紙34で覆われている。
図2は、超電導線材に発生するピンホールなどの欠陥を模式的に示す図である。図2を参照して、たとえば超電導線材が多芯線の酸化物超電導線材について説明する。超電導線材20は、図1に示す超電導線材40a、40bに対応するものであり、たとえばテープ状の酸化物超電導線材である。超電導線材20は、長手方向に伸びる複数本の酸化物超電導体フィラメント21と、それらを被覆するシース部22とを有している。複数本の酸化物超電導体フィラメント21の各々の材質は、たとえばBi−Pb−Sr−Ca−Cu−O系の組成を有しており、(ビスマスと鉛):ストロンチウム:カルシウム:銅の原子比がほぼ2:2:2:3の比率で近似して表されるBi2223相を含む材質よりなっている。シース部22の材質は、たとえば銀よりなっている。
図3は、本発明の実施の形態1における超電導線材の検査装置の構成を模式的に示す図である。図3を参照して、本実施の形態における超電導線材の検査装置は、照射部としての青色LED(Light Emitting Diode)1と、受光部としてのカラーラインセンサ3と、出力部としてのコンピュータ5と、ミラー7とを備えている。青色LED1およびカラーラインセンサ3は、超電導線材20の垂直真上における所定の位置に配置されている。カラーラインセンサ3の受光窓13は超電導線材20の表面20aの法線方向を向いている。また、ミラー7は、カラーラインセンサ3と超電導線材20との間に配置されている。コンピュータ5は、カラーラインセンサ3に電気的に接続されている。
青色LED1は、超電導線材20の長手方向に沿ってミラー7へ青色光を照射する。ミラー7は、超電導線材20の表面20aの法線方向に青色LED1からの光を反射する。これによって、青色LED1は、超電導線材20の表面20aの法線方向に照射光A1を照射する同軸照射部となる。
なお、本実施の形態ではコンピュータ処理の一例を示したが、本発明はこのようなコンピュータ処理に限定されるものではなく、少なくとも受光部にて受光した光の光量が積算して出力されればよい。
図8は、本発明の実施の形態2における超電導線材の製造装置の構成を模式的に示す図である。図8を参照して、本実施の形態における超電導線材の検査装置は、照射部として青色LEDの代わりに赤色LED2を備えている。赤色LED2は、超電導線材20の垂直真上における所定の位置に配置されている。
赤色LED2は、超電導線材20の表面20aの法線方向と角度をなす方向に照射光A2を照射する。つまり、赤色LED2は斜方照射部である。超電導線材20に欠陥がない場合には、赤色LED2から超電導線材20へ照射された照射光A2は、入射角に等しい反射角を持って反射される。本実施の形態では、反射光B2が発生する。このとき、カラーラインセンサ3では反射光B2がわずかに受光される。
図9は、本発明の実施の形態3の超電導線材の検査装置の構成を模式的に示す図である。図9を参照して、本実施の形態の超電導線材の検査装置は、同軸照射部としての青色LED1と、斜方照射部としての赤色LED2と、反射光受光部および散乱光受光部としてのカラーラインセンサ3と、出力部としてのコンピュータ5と、ミラー7とを備えている。青色LED1、赤色LED2、およびカラーラインセンサ3は、超電導線材20の垂直真上における所定の位置に配置されている。カラーラインセンサ3の受光窓13は超電導線材20の表面20aの法線方向を向いている。
青色LED1は、実施の形態1と同様の方法によって、超電導線材20の表面20aの法線方向に照射光A1を照射する。赤色LED2は、超電導線材20の表面20aの法線方向と角度をなす方向に照射光A2を照射する。
図11は、本発明の実施の形態4における超電導線材の検査装置の構成を模式的に示す図である。図11を参照して、本実施の形態の超電導線材の検査装置は、実施の形態3における検査装置と同様の構成を有する検査装置を2つ備えている。2つの検査装置は、超電導線材20の表面20a側および裏面20b側にそれぞれ配置されている。
実施の形態1〜4に示す検査装置(以下、光方式検査装置と記すこともある)は、図2に示すピンホール29などの欠陥の検出に特に適したものであった。しかし、超電導線材20には、ピンホールなどの欠陥の他、図12に示すような膨れ23や曲がり24などの欠陥や、局所幅変動、変形、たわみ、うねり、波うちなどの欠陥が発生することがある。これらの欠陥は、超電導線材の製造工程のうち伸線工程、圧延工程、または焼結工程などに発生するものである。特に膨れ23は、超電導線材20の原材料粉末に付着している吸着物が焼結工程中に気化し、気化することによって吸着物の体積が増加して発生するものである。そこで、以下の実施の形態5〜8においては、欠陥のうち特に膨れ、曲がり、局所幅変動、変形、たわみ、うねり、波うちなどの欠陥を感度よく検査することのできる検査装置および検査方法について説明する。これらの欠陥はピンホールなどの欠陥に比べて大きな変形を伴なうような欠陥である。
半導体レーザ43は、超電導線材20にレーザ光Dを照射しながら、超電導線材20の長手方向に相対的に移動される。図13では半導体レーザ43は固定されており、超電導線材20が図中右方向に移動されている。これにより、超電導線材20の長手方向に沿ってレーザ光Dが照射される。レーザ光Dは、超電導線材20の表面20aで反射され、レーザ光EがPSD44で受光される。
図16は、本発明の実施の形態6における超電導線材の検査装置の構成を模式的に示す図である。図16を参照して、本実施の形態における超電導線材の検査装置は、実施の形態1〜4のいずれかに示す光方式検査装置の他に、渦電流式変位計51をさらに備えている。渦電流式変位計51は、交流発生部および渦電流式変位計用出力部としての本体53と、渦電流式変位計用コイルとしてのコイル52aとを有している。プローブ52は超電導線材20に近接して表面20aの上部に配置されており、コイル52aはプローブ52の先端に取り付けられている。コイル52aはプローブ52を介して本体53と電気的に接続されている。
本体53からコイル52aに交流電圧が印加されると、コイル52aには交流電流が流れ、コイル52aから発生する磁場58は周期的に変動する。この磁場58の変動により超電導線材20の表面20aには渦電流54が発生する。プローブ52は超電導線材20の表面20aに渦電流54を発生させながら超電導線材20の長手方向に相対的に移動される。図16ではプローブ52は固定されており、超電導線材20が図中右方向に移動されている。これにより、超電導線材20の長手方向に沿って超電導線材20の表面20aに渦電流54が発生する。この渦電流54の影響を受けて、コイル52aの発振状態は基準となる発振波形(渦電流による影響のない状態での発振波形)から変化する。
図18は、本発明の実施の形態7における超電導線材の検査装置の構成を模式的に示す断面図である。図18を参照して、本実施の形態における超電導線材の検査装置は、実施の形態1〜4のいずれかに示す光方式検査装置の他に、接触式変位計61をさらに備えている。接触式変位計61は、プローブ64と、鉄心65と、1次コイル63と、接触式変位計用コイルとしての2つの2次コイル62aおよび62bと、接触式変位計用出力部としての本体66と、筐体67とを有している。プローブ64はその先端が超電導線材20の表面20aに接触するように配置されており、プローブ64の上部には鉄心65が取り付けられている。筐体67は中空部分67aのある円筒形状を有している。プローブ64の上部および鉄心65は中空部分67aの内部に配置されており、中空部分67aの内部において図中上下方向にスライド可能である。筐体67には上から順に2次コイル62a、1次コイル63、および2次コイル62bの各々が巻きつけられている。1次コイル63および2次コイル62a,62bの各々は本体66と電気的に接続されている。
図18および図19を参照して、プローブ64は超電導線材20の表面20aに接触しながら超電導線材20の長手方向に相対的に移動される。図18ではプローブ64は固定されており、超電導線材20が図18中右方向に移動されている。
図20は、本発明の実施の形態8における超電導線材の検査装置の構成を模式的に示す図である。図20を参照して、本実施の形態における超電導線材の検査装置は、実施の形態1〜4のいずれかに示す光方式検査装置の他に、3つの重心評価計71〜73をさらに備えている。重心評価計71〜73の各々は、超電導線材20の長手方向に沿ってこの順序で配置されており、レーザ光を照射するための照射部74aと、照射部74aから照射されたレーザ光を受光するための受光部74bとを有している。照射部74aの各々は超電導線材20の表面20aの上部に配置されており、受光部74bの各々は超電導線材20の裏面20bの下部に配置されている。一対の照射部74aと受光部74bとは同軸配置されている。また、重心評価計71〜73は共通のコンピュータ75を有しており、重心評価計71〜73の受光部74bの各々はコンピュータ75と電気的に接続されている。
図21は超電導線材20にたわみが発生していない場合の超電導線材の中心位置を示す図であり、図22は超電導線材20にたわみが発生している場合の超電導線材の中心位置を示す図である。
図23は、本実施の形態における超電導線材の検査装置を概念的に示す図である。図23を参照して、本実施の形態の検査装置は、送りリール81と、巻取りリール82と、実施の形態1の光方式検査装置10と、実施の形態8の重心評価計71〜73と、実施の形態5の2つのレーザ式変位計41と、実施の形態6の渦電流式変位計51とを備えている。本実施の形態における超電導線材の検査装置において、超電導線材20は送りリール81から巻取りリール82へ送られ、その間に種々の検査(インライン検査)がなされる。
(実施例1)
本実施例では、加圧窒素試験と、本発明の超電導線材の検査装置および検査方法とを比較して、本発明の(光方式)検査装置および検査方法の効果を確認した。具体的には、始めに以下の方法によって超電導線材を製造した。
本実施例では、超電導線材の照射部が同軸照射部であることの効果と、斜方照射部であることの効果とを調べた。具体的には、実施例1と同様の方法により超電導線材を製造した。得られた超電導線材には、図26(a)に示すような変色部分28およびピンホール29や、図26(b)に示すような表面キズ27が発生していることが目視にて確認された。続いて、この超電導線材について、以下の3つの検査装置を用いて欠陥を検査した。この結果を表2に示す。
検査装置B:実施の形態2の構成の検査装置(斜方照射部を備えた検査装置)。
本実施例では、実施の形態7に示す接触式変位計の効果を確認した。具体的には、始めに以下の方法によって超電導線材を製造した。
本実施例では、実施の形態5に示すレーザ式変位計の効果を確認した。具体的には、実施例3で製造した超電導線材20に対し、実施の形態5に示すレーザ式変位計およびこれを用いた検査方法を用いて、超電導線材の幅方向の変位を測定した。変位の測定は超電導線材の長手方向に沿って2mmごとに行なわれた。この結果を図29に示す。
本実施例では、実施の形態8に示す重心評価計の効果を確認した。具体的には、実施例3で製造した超電導線材20に対し、実施の形態8に示す3つの重心評価計およびこれを用いた検査方法を用いて、超電導線材の幅方向の中心位置を測定した。そしちぇ、両側の2つの重心評価計(図20における重心評価計71および73)により計算される中心位置と、中央の重心評価計(図20における重心評価計72)により計算される中心位置との差を出力した。この結果を図30に示す。
Claims (21)
- 超電導線材(20)に光を照射する照射部(1,2)と、
前記超電導線材からの光を受光する受光部(3)と、
前記受光部にて受光した光の光量を積算して出力する出力部(5)とを備える、超電導線材の検査装置(10)。 - 前記受光部(3)は、前記超電導線材(20)からの反射光(B1)を主として受光する反射光受光部である、請求の範囲第1項に記載の超電導線材の検査装置。
- 前記受光部(3)は、前記超電導線材(20)からの散乱光(C2)を主として受光する散乱光受光部である、請求の範囲第1項に記載の超電導線材の検査装置。
- 前記照射部(1)は、前記超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向に光を照射する同軸照射部である、請求の範囲第1項に記載の超電導線材の検査装置。
- 前記照射部(3)は、前記超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向と角度をなす方向に光を照射する斜方照射部である、請求の範囲第1項に記載の超電導線材の検査装置。
- 請求の範囲第1項に記載の超電導線材の検査装置を2つ以上備える、超電導線材の検査装置。
- 前記超電導線材(20)にレーザ光(D)を照射しながら前記超電導線材の長手方向に相対的に移動するレーザ光照射部(43)と、前記超電導線材で反射した前記レーザ光(E)を受光するレーザ光受光部(44)と、前記レーザ光受光部における受光位置に基づいて前記超電導線材の変位に関する情報を出力するレーザ式変位計用出力部(45)とを有するレーザ式変位計(41)をさらに備える、請求の範囲第1項に記載の超電導線材の検査装置。
- 渦電流式変位計用コイル(52a)に交流を流す交流発生部(53)と、前記超電導線材(20)に渦電流(54)を発生させながら前記超電導線材の長手方向に相対的に移動する前記渦電流式変位計用コイルと、前記渦電流の発生による前記渦電流式変位計用コイルの発振状態の変化に基づいて前記超電導線材の変位に関する情報を出力する渦電流式変位計用出力部(53)とを有する渦電流式変位計をさらに備える、請求の範囲第1項に記載の超電導線材の検査装置。
- 前記超電導線材(20)に接触しながら前記超電導線材の長手方向に相対的に移動し、かつ前記超電導線材の変位に連動するプローブ(64)と、前記プローブに取り付けられた鉄心(65)と、前記鉄心の移動によって誘導起電力を発生する接触式変位計用コイル(62a、62b)と、前記誘導起電力に基づいて前記超電導線材の変位に関する情報を出力する接触式変位計用出力部(66)とを有する接触式変位計をさらに備える、請求の範囲第1項に記載の超電導線材の検査装置。
- 前記超電導線材(20)の長手方向に並んで配置され、かつ前記超電導線材の幅方向の中心(H1〜H3)を測定する第1〜第3の重心評価計(71〜73)をさらに備える、請求の範囲第1項に記載の超電導線材の検査装置。
- 超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向に光を照射する同軸照射部(1)と、
前記超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向と角度をなす方向に光を照射する斜方照射部(2)と、
前記超電導線材(20)からの反射光(B1)を主として受光する反射光受光部(3)と、
前記超電導線材(20)からの散乱光(C2)を主として受光する散乱光受光部(3)と、
前記反射光受光部および前記散乱光受光部にて受光した光の光量を積算して出力する出力部(5a)とを備える、超電導線材の検査装置。 - 請求の範囲第11項に記載の超電導線材の検査装置を2つ以上備える、超電導線材の検査装置。
- 超電導線材(20)に光を照射する照射工程と、
前記超電導線材からの光を受光する受光工程と、
受光した光の光量を積算して出力する出力工程とを備える、超電導線材の検査方法。 - 前記受光工程において、前記超電導線材(20)からの反射光を主として受光する、請求の範囲第13項に記載の超伝導線材の検査方法。
- 前記受光工程において、前記超電導線材(20)からの散乱光を主として受光する、請求の範囲第13項に記載の超伝導線材の検査方法。
- 前記照射工程において、前記超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向に光を照射する、請求の範囲第13項に記載の超電導線材の検査方法。
- 前記照射工程において、前記超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向と角度をなす方向に光を照射する、請求の範囲第13項に記載の超電導線材の検査方法。
- 前記超電導線材(20)の長手方向に沿ってレーザ光(D)を照射する工程と、
前記超電導線材で反射した前記レーザ光(E)を受光する工程と、
前記レーザ光を受光した位置に基づいて前記超電導線材の変位に関する情報を出力する工程とをさらに備える、請求の範囲第13項に記載の超電導線材の検査方法。 - 交流を流した渦電流式変位計用コイル(52a)を用いて前記超電導線材(20)の長手方向に沿って前記超電導線材に渦電流(54)を発生させる工程と、
前記渦電流の発生による前記渦電流式変位計用コイルの発振状態の変化に基づいて前記超電導線材の変位に関する情報を出力する工程とをさらに備える、請求の範囲第13項に記載の超電導線材の検査方法。 - 鉄心(65)が取り付けられたプローブ(64)を前記超電導線材(20)に接触させながら前記超電導線材の長手方向に相対的に移動させ、前記プローブを前記超電導線材に連動させる工程と、前記鉄心の移動によって接触式変位計用コイル(62a、62b)に誘導起電力を発生させ、前記誘導起電力に基づいて前記超電導線材の変位に関する情報を出力する工程とをさらに備える、請求の範囲第13項に記載の超電導線材の検査方法。
- 前記超電導線材(20)の長手方向における第1の位置における幅方向の中心(H1)を測定する工程と、
前記超電導線材の長手方向における第2の位置における幅方向の中心(H2)を測定する工程と、
前記超電導線材の長手方向における第3の位置における幅方向の中心(H3)を測定する工程とをさらに備える、請求の範囲第13項に記載の超電導線材の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011111436A JP5360132B2 (ja) | 2005-04-21 | 2011-05-18 | 超電導線材の検査装置および検査方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005123634 | 2005-04-21 | ||
JP2005123634 | 2005-04-21 | ||
JP2011111436A JP5360132B2 (ja) | 2005-04-21 | 2011-05-18 | 超電導線材の検査装置および検査方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007514529A Division JPWO2006115007A1 (ja) | 2005-04-21 | 2006-04-06 | 超電導線材の検査装置および検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011197009A true JP2011197009A (ja) | 2011-10-06 |
JP5360132B2 JP5360132B2 (ja) | 2013-12-04 |
Family
ID=37214635
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007514529A Pending JPWO2006115007A1 (ja) | 2005-04-21 | 2006-04-06 | 超電導線材の検査装置および検査方法 |
JP2011111436A Expired - Fee Related JP5360132B2 (ja) | 2005-04-21 | 2011-05-18 | 超電導線材の検査装置および検査方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007514529A Pending JPWO2006115007A1 (ja) | 2005-04-21 | 2006-04-06 | 超電導線材の検査装置および検査方法 |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7755749B2 (ja) |
EP (2) | EP2461157B1 (ja) |
JP (2) | JPWO2006115007A1 (ja) |
KR (1) | KR20080011208A (ja) |
CN (1) | CN101163961B (ja) |
AU (1) | AU2006240965A1 (ja) |
CA (1) | CA2601842C (ja) |
NO (1) | NO20075896L (ja) |
RU (1) | RU2007143027A (ja) |
TW (1) | TW200643406A (ja) |
WO (1) | WO2006115007A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016102724A (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 日立金属株式会社 | 平角エナメル線の外観検査方法および平角エナメル線の外観検査装置 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5251189B2 (ja) * | 2008-03-18 | 2013-07-31 | 日本電気株式会社 | 線形状物検出装置、及び該線形状物検出装置に用いられる線形状物検出方法 |
JP5459995B2 (ja) * | 2008-07-16 | 2014-04-02 | 古河電気工業株式会社 | 線条表面検査装置 |
US20100019776A1 (en) * | 2008-07-23 | 2010-01-28 | Folts Douglas C | Method for analyzing superconducting wire |
JP5415162B2 (ja) * | 2009-06-23 | 2014-02-12 | 昭和電工株式会社 | 円筒体の表面検査装置 |
IT1395116B1 (it) * | 2009-07-29 | 2012-09-05 | Utpvision S R L | Sistema di rilevamento ottico di difetti superficiali |
JP5172878B2 (ja) * | 2010-03-04 | 2013-03-27 | 下村特殊精工株式会社 | 伸線装置の伸線局部曲がり異常検出システム |
DE102015219978B4 (de) | 2015-10-14 | 2017-06-14 | Lisa Dräxlmaier GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung der Oberfläche einer elektrischen Leitung nach Schirmbearbeitung |
FI129412B (en) * | 2018-04-13 | 2022-01-31 | Maillefer Sa | Arrangement and procedure for detecting faults in a cable surface |
CN110118786B (zh) * | 2019-05-07 | 2022-05-17 | 鲁班嫡系机器人(深圳)有限公司 | 检测方法、检测装置和工业设备 |
CN110118817A (zh) * | 2019-05-31 | 2019-08-13 | 云谷(固安)科技有限公司 | 导线检测装置及其检测方法 |
DE102019134857A1 (de) * | 2019-12-18 | 2021-06-24 | Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft | Verfahren zur Überwachung eines flüssigkeitsgekühlten Ladekabels einer Ladestation für eine Traktionsbatterie eines elektrisch betriebenen Kraftfahrzeugs |
CN111304897B (zh) * | 2020-03-05 | 2020-11-10 | 宁波马菲羊纺织科技有限公司 | 一种纱中纤维径向分布自动分析系统 |
EP3901571A1 (en) * | 2020-04-21 | 2021-10-27 | Nexans | Surface quality determination of a high voltage cable end |
KR102136347B1 (ko) * | 2020-05-11 | 2020-07-22 | 엄지은 | 초극세사 저온초전도선재의 세정 및 검사 장치 |
CN112683129B (zh) * | 2020-12-03 | 2022-08-12 | 国网北京市电力公司 | 电缆最小弯曲半径的检测方法 |
CN115855970B (zh) * | 2023-02-21 | 2023-05-12 | 攀枝花大宇包装印刷有限公司 | 一种印刷钢网自动检测设备 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03238307A (ja) * | 1990-02-15 | 1991-10-24 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 外径測定装置 |
JPH04370906A (ja) * | 1991-06-19 | 1992-12-24 | Mitsubishi Electric Corp | 線引き加工された線材の巻線方法および巻線機 |
JPH06221833A (ja) * | 1993-01-26 | 1994-08-12 | Canon Inc | 超電導体クエンチ検出方法および装置 |
JPH08220184A (ja) * | 1995-02-20 | 1996-08-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 絶縁電線の絶縁被覆亀裂検知方法及び装置 |
JP2000311526A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-11-07 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 絶縁被膜を有する酸化物超電導線材およびその製造方法 |
Family Cites Families (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4139306A (en) * | 1977-02-07 | 1979-02-13 | General Electric Company | Television inspection system |
JPS559170A (en) * | 1978-07-07 | 1980-01-23 | Fujikura Ltd | Surface flaw detector |
JPS58207254A (ja) | 1982-05-10 | 1983-12-02 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 線条体表面の凹凸検出装置 |
JPS60256003A (ja) * | 1984-06-01 | 1985-12-17 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 金属条の走間曲がり測定装置 |
US4705957A (en) * | 1986-08-11 | 1987-11-10 | United Technologies Corporation | Wire surface monitor |
JPH01128317A (ja) * | 1987-11-12 | 1989-05-22 | Toshiba Corp | 超電導体線材の製造方法 |
US4988875A (en) * | 1988-12-13 | 1991-01-29 | At&T Bell Laboratories | Near infrared polyethylene inspection system and method |
JPH0661502B2 (ja) * | 1989-06-29 | 1994-08-17 | 政彦 松成 | 粉末供給装置 |
JP2624054B2 (ja) * | 1991-09-19 | 1997-06-25 | 住友電装株式会社 | 電線皮剥ぎ状態検査方法 |
JP2969401B2 (ja) | 1991-10-29 | 1999-11-02 | 株式会社新川 | ボンデイングワイヤ検査装置 |
FR2692355B1 (fr) * | 1992-06-10 | 1997-06-20 | Valinox | Dispositif et procede de detection au defile de defauts de surface sur des produits longs metalliques. |
JPH07335706A (ja) * | 1994-06-03 | 1995-12-22 | Nec Corp | ワイヤの高さ測定装置 |
JPH08254504A (ja) * | 1994-11-29 | 1996-10-01 | Zellweger Luwa Ag | 伸長された物体の特性を記録するための方法と装置 |
JPH08247965A (ja) | 1995-03-08 | 1996-09-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 表面外観検査装置 |
AR002082A1 (es) * | 1995-05-25 | 1998-01-07 | Gillette Co | Metodo para producir un borde cortante en una tira de metal y el aparato para realizarlo |
FR2743142B1 (fr) | 1995-12-28 | 1998-01-23 | Alcatel Fibres Optiques | Dispositif de controle du revetement d'un produit filaire en mouvement a encombrement reduit |
AU735879B2 (en) | 1996-09-05 | 2001-07-19 | Wea Manufacturing Inc. | Double sided optical disc surface inspector |
US6453264B1 (en) * | 1997-04-30 | 2002-09-17 | Southwest Research Institute | Surface flaw detection using spatial raman-based imaging |
JPH10321066A (ja) * | 1997-05-23 | 1998-12-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 超電導線材の製造方法 |
US6097978A (en) | 1997-07-03 | 2000-08-01 | Medtronic Inc. | Measurement confirmation devices and methods for fluoroscopically directed surgery |
DE69703487T2 (de) | 1997-08-22 | 2001-06-13 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Prüfung bewegter Oberflächen |
AUPP298698A0 (en) * | 1998-04-17 | 1998-05-07 | Crc For Intelligent Manufacturing Systems & Technologies Ltd | Fault detection apparatus |
CN2385310Y (zh) * | 1999-02-10 | 2000-06-28 | 合肥工业大学 | 精密零件热变形高精度测量装置 |
US6496271B1 (en) * | 1999-10-28 | 2002-12-17 | Oes, Inc. | Wire and seal profile analyzer |
US20030020916A1 (en) * | 2000-05-11 | 2003-01-30 | Shay Ghilai | Optical detection device |
JP3639516B2 (ja) * | 2000-09-28 | 2005-04-20 | 矢崎総業株式会社 | 端子金具の検査装置 |
JP3932812B2 (ja) | 2001-02-20 | 2007-06-20 | 住友金属鉱山株式会社 | 帯状金属処理面の検査装置 |
JP2003057020A (ja) * | 2001-06-05 | 2003-02-26 | D S Giken:Kk | 形状測定装置 |
FR2836229B1 (fr) * | 2002-02-15 | 2004-09-17 | Lilian Martinez | Procede de controle de l'integrite et/ou de la degradation d'un revetement susceptible de presenter sous une excitation electromagnetique une luminescence, ainsi qu'un tel revetement et des procedes de depot d'un tel revetement |
AU2003242406B2 (en) | 2002-05-24 | 2007-09-13 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Oxide superconducting wire producing method |
AU2003253235A1 (en) * | 2002-08-19 | 2004-03-03 | Green Vision Systems Ltd. | Electro-optically inspecting a longitudinally moving rod of material |
ITUD20030019A1 (it) * | 2003-01-28 | 2004-07-29 | Danieli Automation Spa | Procedimento e dispositivo per il controllo della rettilineita' e delle torsioni di prodotti lunghi. |
FR2873207A1 (fr) * | 2004-07-16 | 2006-01-20 | Jean Francois Fardeau | Instrument de mesure optique, sans contact et en production, de l'etat de surface, de la rugosite, des defauts de forme, en surface d'un fil ou profile long |
US7495766B2 (en) * | 2006-06-22 | 2009-02-24 | Linccln Global, Inc. | Spectroscopic analysis technique for measuring the amount of surface material on wire |
CN201000437Y (zh) * | 2006-09-28 | 2008-01-02 | 北京云电英纳超导电缆有限公司 | 超导线材检测机 |
-
2006
- 2006-04-06 EP EP12157824.9A patent/EP2461157B1/en not_active Not-in-force
- 2006-04-06 WO PCT/JP2006/307340 patent/WO2006115007A1/ja active Application Filing
- 2006-04-06 AU AU2006240965A patent/AU2006240965A1/en not_active Abandoned
- 2006-04-06 CA CA2601842A patent/CA2601842C/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-04-06 US US11/887,330 patent/US7755749B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-04-06 KR KR1020077026979A patent/KR20080011208A/ko not_active Application Discontinuation
- 2006-04-06 RU RU2007143027/28A patent/RU2007143027A/ru not_active Application Discontinuation
- 2006-04-06 CN CN2006800135017A patent/CN101163961B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-04-06 JP JP2007514529A patent/JPWO2006115007A1/ja active Pending
- 2006-04-06 EP EP06731288.4A patent/EP1879019B1/en not_active Not-in-force
- 2006-04-18 TW TW095113723A patent/TW200643406A/zh unknown
-
2007
- 2007-11-15 NO NO20075896A patent/NO20075896L/no not_active Application Discontinuation
-
2011
- 2011-05-18 JP JP2011111436A patent/JP5360132B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03238307A (ja) * | 1990-02-15 | 1991-10-24 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 外径測定装置 |
JPH04370906A (ja) * | 1991-06-19 | 1992-12-24 | Mitsubishi Electric Corp | 線引き加工された線材の巻線方法および巻線機 |
JPH06221833A (ja) * | 1993-01-26 | 1994-08-12 | Canon Inc | 超電導体クエンチ検出方法および装置 |
JPH08220184A (ja) * | 1995-02-20 | 1996-08-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 絶縁電線の絶縁被覆亀裂検知方法及び装置 |
JP2000311526A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-11-07 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 絶縁被膜を有する酸化物超電導線材およびその製造方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016102724A (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 日立金属株式会社 | 平角エナメル線の外観検査方法および平角エナメル線の外観検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101163961A (zh) | 2008-04-16 |
EP1879019A1 (en) | 2008-01-16 |
EP1879019A4 (en) | 2011-12-07 |
CA2601842A1 (en) | 2006-11-02 |
TW200643406A (en) | 2006-12-16 |
US7755749B2 (en) | 2010-07-13 |
JP5360132B2 (ja) | 2013-12-04 |
EP1879019B1 (en) | 2015-02-25 |
EP2461157B1 (en) | 2018-10-03 |
EP2461157A3 (en) | 2017-03-22 |
AU2006240965A1 (en) | 2006-11-02 |
RU2007143027A (ru) | 2009-05-27 |
US20090135412A1 (en) | 2009-05-28 |
CA2601842C (en) | 2011-03-15 |
EP2461157A2 (en) | 2012-06-06 |
WO2006115007A1 (ja) | 2006-11-02 |
JPWO2006115007A1 (ja) | 2008-12-18 |
KR20080011208A (ko) | 2008-01-31 |
CN101163961B (zh) | 2011-07-27 |
NO20075896L (no) | 2008-01-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5360132B2 (ja) | 超電導線材の検査装置および検査方法 | |
CN107015125A (zh) | 一种基于红外、紫外和可见光的一体化检测方法和装置 | |
JP2008026218A (ja) | 超電導ケーブル線路の試験方法 | |
CN207964725U (zh) | 一种管内电缆导体局部缺陷的连续无损检测装置 | |
CN104914331A (zh) | 高温超导带材临界电流与n值指数的测量装置及测量方法 | |
JP5484885B2 (ja) | 撚った対の電気ケーブルの試験法 | |
CN110579680B (zh) | 一种超导电缆的无损检测装置及检测方法 | |
JP5229482B2 (ja) | 超電導ケーブルの健全性検査方法 | |
JP2015045617A (ja) | 長尺用超電導線材の臨界電流評価装置および評価方法 | |
Prasad et al. | Fabrication of new joints for SST-1 TF coil winding packs | |
CN108279267A (zh) | 管内电缆导体局部缺陷的连续无损检测装置 | |
MX2007011592A (es) | Dispositivo y metodo de inspeccion de cable superconductor. | |
JPH04370906A (ja) | 線引き加工された線材の巻線方法および巻線機 | |
WO2008143615A1 (en) | Improved device and method for internal flaw magnification or removal during wire drawing | |
Yarkimbaev et al. | Study of physical control methods for metric parameters of extended products in cable industry | |
JP3486173B2 (ja) | 超伝導材料を含む導体の臨界電流を測定する方法およびこの方法を実施するための装置 | |
RU2707399C1 (ru) | Способ получения высокотемпературной сверхпроводящей ленты второго поколения, преимущественно для токоограничивающих устройств, и способ контроля качества такой ленты | |
WO2016027522A1 (ja) | 超電導線材の検査方法および検査装置ならびに超電導線材の製造方法 | |
Park et al. | Proposal of Continuous Thickness Measurement Technology for the Superconducting Wire | |
Osabe | Quality Assurance of Bi-2223 Wires | |
JP2000111529A (ja) | 渦流探傷器のプローブ | |
JPH0734606B2 (ja) | 電線異常の診断方法 | |
JP2007218649A (ja) | Squid磁気センサを用いた非磁性金属配管の非破壊検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130806 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130819 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5360132 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |