JP2011151548A - フラットベッドスキャナの較正方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】フラットベッドスキャナを測定装置として利用できる程度にまで、読取り精度を向上させられる較正方法を提供する。
【解決手段】フラットベッドスキャナFSの読取り面1a上における位置関係と読取った画像上における位置関係との対応関係を補正するためのフラットベッドスキャナの較正方法において、硬質部材に設定間隔で目盛りを並べて形成した基準スケールSSを前記読取り面1a上に載置してその画像を読取り、その読取り画像における前記目盛り部分の画像の位置情報を測定することによって前記対応関係を特定する。
【選択図】図1
【解決手段】フラットベッドスキャナFSの読取り面1a上における位置関係と読取った画像上における位置関係との対応関係を補正するためのフラットベッドスキャナの較正方法において、硬質部材に設定間隔で目盛りを並べて形成した基準スケールSSを前記読取り面1a上に載置してその画像を読取り、その読取り画像における前記目盛り部分の画像の位置情報を測定することによって前記対応関係を特定する。
【選択図】図1
Description
本発明は、フラットベッドスキャナの読取り面上における位置関係と読取った画像上における位置関係との対応関係を補正するためのフラットベッドスキャナの較正方法に関する。
フラットベッドスキャナは、主として写真や書類等のシート状の部材に形成されている画像を簡便に読取ることができる装置として広く普及している。
このフラットベッドスキャナにおける画像の読取り精度や読取り解像度は近年急速に向上しているものの、更なる読取り精度の向上を求める声も強くなっている。
このような要請に応えるため、例えば下記特許文献1に記載のように、較正用のチャートをプリントし、その較正用のチャートをフラットベッドスキャナにて読取って、較正用チャートを作成した基準データと読取りデータとを比較して補正用のデータを得る装置も考えられている。
このフラットベッドスキャナにおける画像の読取り精度や読取り解像度は近年急速に向上しているものの、更なる読取り精度の向上を求める声も強くなっている。
このような要請に応えるため、例えば下記特許文献1に記載のように、較正用のチャートをプリントし、その較正用のチャートをフラットベッドスキャナにて読取って、較正用チャートを作成した基準データと読取りデータとを比較して補正用のデータを得る装置も考えられている。
しかしながら、上記従来構成では、較正用のチャートとして柔らかく変形し易い記録紙を使用している上、較正用のチャートのプリント精度自体がどの程度の精度を確保できているかという問題もあり、上述のような手法によって較正を行っても未だ十分な補正精度を得られない場合も出現してきた。
例えば、フラットベッドスキャナを単純な画像読取り装置としてではなく、十分な読取り精度を有する測定装置として利用したいような場合である。
本発明は、かかる実情に鑑みてなされたものであって、その目的は、フラットベッドスキャナを測定装置として利用できる程度にまで、読取り精度を向上させられる較正方法を提供する点にある。
例えば、フラットベッドスキャナを単純な画像読取り装置としてではなく、十分な読取り精度を有する測定装置として利用したいような場合である。
本発明は、かかる実情に鑑みてなされたものであって、その目的は、フラットベッドスキャナを測定装置として利用できる程度にまで、読取り精度を向上させられる較正方法を提供する点にある。
本出願の第1の発明は、フラットベッドスキャナの読取り面上における位置関係と読取った画像上における位置関係との対応関係を補正するためのフラットベッドスキャナの較正方法において、硬質部材に設定間隔で目盛りを並べて形成した基準スケールを前記読取り面上に載置してその画像を読取り、その読取り画像における前記目盛り部分の画像の位置情報を測定することによって前記対応関係を特定する。
すなわち、硬質部材に目盛りを形成した基準スケールをフラットベッドスキャナに読取らせて較正用のデータを得るのである。
このような基準スケールとしては、温度変動等の環境変化に対しても目盛りの間隔の変動誤差を十分抑制したものが提供されており、そのような基準スケールを利用して較正精度を向上させる。
この基準スケールをフラットベッドスキャナにて読取った画像は、前記目盛りに対応する部分が設定間隔で並ぶ画像であり、その画像上での目盛りの位置情報を測定すれば、読取り画像での距離とフラットベッドスキャナの読取り面上での距離(すなわち、基準スケール上の目盛り間の実際の距離)との対応関係を正確に特定することができる。
すなわち、硬質部材に目盛りを形成した基準スケールをフラットベッドスキャナに読取らせて較正用のデータを得るのである。
このような基準スケールとしては、温度変動等の環境変化に対しても目盛りの間隔の変動誤差を十分抑制したものが提供されており、そのような基準スケールを利用して較正精度を向上させる。
この基準スケールをフラットベッドスキャナにて読取った画像は、前記目盛りに対応する部分が設定間隔で並ぶ画像であり、その画像上での目盛りの位置情報を測定すれば、読取り画像での距離とフラットベッドスキャナの読取り面上での距離(すなわち、基準スケール上の目盛り間の実際の距離)との対応関係を正確に特定することができる。
又、本出願の第2の発明は、上記第1の発明の構成に加えて、前記読取り画像における目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の画像の位置情報を測定することによって前記対応関係を特定する。
すなわち、距離の特定のための基準となる目盛りの形成部分だけでなく、目盛りと目盛りとの間の空白部分をも利用して較正用のデータを得ることで、基準スケールから倍の分解能の基準距離情報を得ることができる。
すなわち、距離の特定のための基準となる目盛りの形成部分だけでなく、目盛りと目盛りとの間の空白部分をも利用して較正用のデータを得ることで、基準スケールから倍の分解能の基準距離情報を得ることができる。
又、本出願の第3の発明は、上記第2の発明の構成に加えて、前記読取り画像が二値化画像であり、前記読取り画像の二値を反転させて、前記読取り画像における目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の画像の位置情報を測定する。
すなわち、二値画像が黒と白との画像であるとして、前記目盛りの形成部分を黒画像として読取って、黒線が設定間隔で並んでいる画像から黒線部分の位置情報を取得し、更に白と黒とを反転させて、目盛りと目盛りとの間の空白部分を黒とする。
その上で、上記と同じ、黒線が設定間隔で並んでいる画像から黒線部分の位置情報を取得する処理操作を行う。
これによって、同一の処理操作によって、目盛り部分の位置情報及び前記空白部分の位置情報を求めることができる。
すなわち、二値画像が黒と白との画像であるとして、前記目盛りの形成部分を黒画像として読取って、黒線が設定間隔で並んでいる画像から黒線部分の位置情報を取得し、更に白と黒とを反転させて、目盛りと目盛りとの間の空白部分を黒とする。
その上で、上記と同じ、黒線が設定間隔で並んでいる画像から黒線部分の位置情報を取得する処理操作を行う。
これによって、同一の処理操作によって、目盛り部分の位置情報及び前記空白部分の位置情報を求めることができる。
又、本出願の第4の発明は、上記第1〜第3のいずれかの発明の構成に加えて、前記基準スケールを前記目盛りの並び方向が前記読取り面の主走査方向と一致するように前記読取り面上に載置して、その画像を読取る。
すなわち、フラットベッドスキャナの主走査方向を対象して、基準スケールを利用した較正を行うのである。
フラットベッドスキャナの主走査方向は、機械的に駆動されて読取り位置が決まる副走査方向と異なり、読取り位置の相対的な位置関係は変動せず、適切な較正を行えば読取り精度を相当程度に向上させることができる。
すなわち、フラットベッドスキャナの主走査方向を対象して、基準スケールを利用した較正を行うのである。
フラットベッドスキャナの主走査方向は、機械的に駆動されて読取り位置が決まる副走査方向と異なり、読取り位置の相対的な位置関係は変動せず、適切な較正を行えば読取り精度を相当程度に向上させることができる。
又、本出願の第5の発明は、上記第1〜第4のいずれかの発明の構成に加えて、前記基準スケールとして、ガラススケールを用いる。
すなわち、ガラススケールは、例えば金属スケール等に比べて、熱膨張等による誤差も小さく、このような基準スケールを用いることで、精度良く較正用データを得ることができる。
すなわち、ガラススケールは、例えば金属スケール等に比べて、熱膨張等による誤差も小さく、このような基準スケールを用いることで、精度良く較正用データを得ることができる。
上記第1の発明によれば、高精度なスケールとして入手できる基準スケールをフラットベッドスキャナにて画像として読取って、読取り画像における目盛り部分の位置情報を読取ることで、読取り画像における目盛り部分の画像の位置が実際には前記読取り面上でどの位置にあるかを極めて高精度に把握できる。
もって、フラットベッドスキャナを測定装置として利用できる程度にまで、読取り精度を向上させるられるものとなった。
もって、フラットベッドスキャナを測定装置として利用できる程度にまで、読取り精度を向上させるられるものとなった。
又、上記第2の発明によれば、目盛りと目盛りとの間の空白部分も利用して較正用のデータを得るため、読取り精度を更に向上させることができる。
又、上記第3の発明によれば、目盛りと目盛りとの間の空白部分も利用して較正用のデータを得るための処理操作が複雑化してしまうのを回避できる。
又、上記第3の発明によれば、目盛りと目盛りとの間の空白部分も利用して較正用のデータを得るための処理操作が複雑化してしまうのを回避できる。
又、上記第4の発明によれば、フラットベッドスキャナにおいて誤差の変動要素を引込みにくい主走査方向に着目して、それを較正対象とすることで、安定した較正が可能となる。
又、上記第5の発明によれば、高精度を安定して維持できるガラススケールを使用することで、較正精度を更に向上させることができる。
又、上記第5の発明によれば、高精度を安定して維持できるガラススケールを使用することで、較正精度を更に向上させることができる。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
本発明を適用して較正するフラットベッドスキャナFSは、図1の斜視図に示すように、透明ガラス板を取り付けた読取り面1aを備える本体部1と、揺動開閉式のカバー2とを主要部として構成されている。
フラットベッドスキャナFSの本体部1内にはセンサヘッド1bが備えられ、図示を省略する駆動機構によって、副走査方向である矢印Sにて示す方向に読取り面1aに沿って移動駆動される。
センサヘッド1bはCCD光学縮小方式で構成しているが、密着センサー方式(いわゆるCIS方式)でも良い。何れにしても、図1において矢印Mで示す方向をセンサの並び方向である主走査方向としている。
本発明を適用して較正するフラットベッドスキャナFSは、図1の斜視図に示すように、透明ガラス板を取り付けた読取り面1aを備える本体部1と、揺動開閉式のカバー2とを主要部として構成されている。
フラットベッドスキャナFSの本体部1内にはセンサヘッド1bが備えられ、図示を省略する駆動機構によって、副走査方向である矢印Sにて示す方向に読取り面1aに沿って移動駆動される。
センサヘッド1bはCCD光学縮小方式で構成しているが、密着センサー方式(いわゆるCIS方式)でも良い。何れにしても、図1において矢印Mで示す方向をセンサの並び方向である主走査方向としている。
本実施の形態では、図2に示すように、キーボード3,モニタ4及び図示を省略するマウス等が接続されたパーソナルコンピュータ5(以下において、単に「コンピュータ5」と称する場合がある)にフラットベッドスキャナFSを接続して、コンピュータ5からの制御によってフラットベッドスキャナFSの較正に必要な情報の取得、並びに、フラットベッドスキャナFSを使用した実際の測定を行う。
本実施の形態でのフラットベッドスキャナFSの較正においては、図3に示すガラススケール11を基準スケールSSとして使用し、主走査方向(図1において矢印Mで示す方置く)のみを較正対象とする。すなわち、フラットベッドスキャナFSの主走査方向において、読取り面1a上における位置関係と読取った画像上における位置関係との対応関係を補正する。
硬質部材であるガラスにより作製されるガラススケール11は種々の形状のものが提供されているが、本実施の形態では、厚さが数mm程度の長方形ガラス板の片側の面にエッチング加工と黒色塗料の塗布とによって、図3(a)に例示するような目盛りを形成したものを使用する。
ガラススケール11の最小目盛り領域11aは、図4に拡大して示すように、線幅が50μmの黒い直線状の目盛りを設定間隔(具体的には100μm間隔)で並べて形成している。
従って、最小目盛り領域11aにおいては、目盛り部分(黒線)と目盛り部分(黒線)との間の空白部分も幅が50μmで、その空白部分が100μmピッチで並んでいる。
図3(a)で例示するガラススケール11は、最小目盛り領域11aの長手方向端部とガラススケール11の端縁との間に目盛りのない空白部分が存在するが、図3(b)で示すような、最小目盛り領域11aがガラススケール11の全長に亘って形成されているものもあり、もちろん、このような形態のガラススケール11を使用しても良い。
ガラススケール11の最小目盛り領域11aは、図4に拡大して示すように、線幅が50μmの黒い直線状の目盛りを設定間隔(具体的には100μm間隔)で並べて形成している。
従って、最小目盛り領域11aにおいては、目盛り部分(黒線)と目盛り部分(黒線)との間の空白部分も幅が50μmで、その空白部分が100μmピッチで並んでいる。
図3(a)で例示するガラススケール11は、最小目盛り領域11aの長手方向端部とガラススケール11の端縁との間に目盛りのない空白部分が存在するが、図3(b)で示すような、最小目盛り領域11aがガラススケール11の全長に亘って形成されているものもあり、もちろん、このような形態のガラススケール11を使用しても良い。
フラットベッドスキャナFSは、コンピュータ5からの制御で動作し、コンピュータ5には、フラットベッドスキャナFSの較正のための動作と、測定対象を測定するための動作を行わせる処理プログラムが実装されている。
以下、コンピュータ5が実行する図7及び図8に示すフローチャートに基づいて説明する。
以下、コンピュータ5が実行する図7及び図8に示すフローチャートに基づいて説明する。
図7に示す「スケール読込み処理」は、フラットベッドスキャナFSの較正のための基礎データを収集する処理であり、ガラススケール11の画像を読み込んで、その読取り画像における目盛り部分の画像の位置情報、更には、目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の位置情報を測定することによって、フラットベッドスキャナFSの主走査方向における、読取り面1a上における位置関係と読取った画像上における位置関係との対応関係を把握する。
先ず、図1において2点鎖線で示すように、ガラススケール11の角部分を読取り面1aの角部分に押しつけて読取り面1a上に載置し、ガラススケール11を、目盛りの並び方向が読取り面1aの主走査方向(図1において矢印Mで示す方向)と一致する姿勢で位置決めしてカバー2を閉じる。
その状態で、操作者がキーボード3等から、図7の処理の開始を指示入力すると、先ず、フラットベッドスキャナFSに対して画像の読取りを指示する(ステップ#1)。この際の読取りエリアは、ガラススケール11の最小目盛り領域11aのみを読取り対象とし、読取り解像度を100μmが25画素程度に相当する解像度(およそ6400dpi程度)に設定して、白黒の二値画像として読取る。尚、上記のフラットベッドスキャナFSの読取り解像度としては、4800dpi〜6400dpi程度の範囲が好ましい。
これによって、図4に拡大して示すガラススケール11の図と同等の画像が得られる。
その状態で、操作者がキーボード3等から、図7の処理の開始を指示入力すると、先ず、フラットベッドスキャナFSに対して画像の読取りを指示する(ステップ#1)。この際の読取りエリアは、ガラススケール11の最小目盛り領域11aのみを読取り対象とし、読取り解像度を100μmが25画素程度に相当する解像度(およそ6400dpi程度)に設定して、白黒の二値画像として読取る。尚、上記のフラットベッドスキャナFSの読取り解像度としては、4800dpi〜6400dpi程度の範囲が好ましい。
これによって、図4に拡大して示すガラススケール11の図と同等の画像が得られる。
ガラススケール11の最小目盛り領域11aの部分の読取り画像が得られると、先ず、読取り画像における目盛り部分の画像の位置情報を測定する。
この位置情報の測定として、読取り画像の黒線部分(この段階ではガラススケール11の目盛り部分に対応)の中心座標、すなわち、黒線の中心線の主走査方向での座標を求める(ステップ#2)。
具体的な処理としては、例えば、各黒線部分に対して単一画素の線になるまで細線化処理を実行し、原点からの画素数によって各黒線部分の中心座標を特定する。尚、本実施の形態では、前記主走査方向が画像の左右方向であるとして、画像の左端を原点としたものとして説明する。
この位置情報の測定として、読取り画像の黒線部分(この段階ではガラススケール11の目盛り部分に対応)の中心座標、すなわち、黒線の中心線の主走査方向での座標を求める(ステップ#2)。
具体的な処理としては、例えば、各黒線部分に対して単一画素の線になるまで細線化処理を実行し、原点からの画素数によって各黒線部分の中心座標を特定する。尚、本実施の形態では、前記主走査方向が画像の左右方向であるとして、画像の左端を原点としたものとして説明する。
次ぎに、読取り画像における目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の画像の位置情報を測定する。
このための処理として、ステップ#1で得られた読取り画像(二値画像)の二値を反転させる。すなわち、白黒を反転させる(ステップ#3)。
この反転画像に対して、ステップ#2の処理と全く同じ処理を実行し、黒線部分の中心線の座標を、原点からの画素数によって特定する。
ここでの黒線部分は、ガラススケール11の読取り画像における目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分であり、その空白部分からも較正のための寸法情報を得る。
このようにして座標情報を得ると、ステップ#2で得た座標データとステップ#4で得た座標データとを併せてコンピュータ5のハードディスク装置等に記憶保存する(ステップ#5)。上記のようにして特定した各中心線の座標の間隔は、フラットベッドスキャナFSの読取り面1a上での実際の距離「50μm」に対応することがわかっているので、ステップ#2及びステップ#4で得た画素数による座標データは、フラットベッドスキャナFSの主走査方向における、読取り面1a上における位置関係と読取った画像上における位置関係との対応関係を示すものとなっている。
このための処理として、ステップ#1で得られた読取り画像(二値画像)の二値を反転させる。すなわち、白黒を反転させる(ステップ#3)。
この反転画像に対して、ステップ#2の処理と全く同じ処理を実行し、黒線部分の中心線の座標を、原点からの画素数によって特定する。
ここでの黒線部分は、ガラススケール11の読取り画像における目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分であり、その空白部分からも較正のための寸法情報を得る。
このようにして座標情報を得ると、ステップ#2で得た座標データとステップ#4で得た座標データとを併せてコンピュータ5のハードディスク装置等に記憶保存する(ステップ#5)。上記のようにして特定した各中心線の座標の間隔は、フラットベッドスキャナFSの読取り面1a上での実際の距離「50μm」に対応することがわかっているので、ステップ#2及びステップ#4で得た画素数による座標データは、フラットベッドスキャナFSの主走査方向における、読取り面1a上における位置関係と読取った画像上における位置関係との対応関係を示すものとなっている。
以上のような較正用の基礎データを取得した上で、フラットベッドスキャナFSにて実際に測定対象物を測定するときは、図8に示す「測定処理」を実行させる。
本実施の形態において測定対象として例示するものは、図5に示す記録紙21に多数の細線21aを等間隔に並べてプリントしたものであり、実際のプリント結果が等間隔の並びピッチからどの程度ずれているかを検出するために、プリントされている細線21a間の間隔を計測する。
本実施の形態において測定対象として例示するものは、図5に示す記録紙21に多数の細線21aを等間隔に並べてプリントしたものであり、実際のプリント結果が等間隔の並びピッチからどの程度ずれているかを検出するために、プリントされている細線21a間の間隔を計測する。
細線21aのプリント面を下にして、記録紙21をフラットベッドスキャナFSの読取り面1aにセットし、操作者がキーボード3等から図8の「測定処理」の開始を指示入力すると、図8の処理が開始する。尚、記録紙21をセットする位置は、図1においてガラススケール11の載置位置として示す位置と同一であり、細線21aの並び方向を主走査方向(矢印Mで示す方向)に一致させる。
図8の「測定処理」では、先ず、記録紙21の画像を二値画像として読み込む(ステップ#11)。この読込みの際の読取り解像度や読取りエリアの設定は、図7のステップ#1での設定と同一で良い。
次ぎに、得られた二値画像において、細線21aの部分の中心座標を抽出する(ステップ#12)。
この処理は、図7のステップ#2,#4の処理と同一であり、細線21aの部分の中心座標を原点(画像の左端)からの画素数で特定する。
次ぎに、得られた二値画像において、細線21aの部分の中心座標を抽出する(ステップ#12)。
この処理は、図7のステップ#2,#4の処理と同一であり、細線21aの部分の中心座標を原点(画像の左端)からの画素数で特定する。
次ぎに、各細線21aの中心間の間隔を、細線21aの並びの左端側から順次に測定して行く過程を、図6に示す模式図を参照して説明する。
図6において、下段側の座標線31a,31bの並びは、図7の処理で求めた目盛り部分の画像の中心線の位置、及び、目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の中心線の位置を、画素数を横軸にとった座標で併せて模式的に示しており、座標線31aが目盛り部分の画像の中心線の位置に対応し、座標線31bが目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の中心線の位置に対応している。
上段側の測定対象線32は、ステップ#12で求めた細線21aの画像の中心位置を模式的に示しており、下段の座標線31a,31bとは共通の横軸としてある。
図6において、下段側の座標線31a,31bの並びは、図7の処理で求めた目盛り部分の画像の中心線の位置、及び、目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の中心線の位置を、画素数を横軸にとった座標で併せて模式的に示しており、座標線31aが目盛り部分の画像の中心線の位置に対応し、座標線31bが目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の中心線の位置に対応している。
上段側の測定対象線32は、ステップ#12で求めた細線21aの画像の中心位置を模式的に示しており、下段の座標線31a,31bとは共通の横軸としてある。
図6の測定対象線32が、測定対象線32の並びにおいて左端からn番目のものであるとして、先ず、図6で示しているn番目の測定対象線32の左隣りに位置するn−1番目の測定対象線32(図6では不図示)と、図6で示している測定対象線32との間に、何本の座標線31a,31bが存在するかをカウントする(ステップ#13)。このカウント数を「p」とする。
次ぎに、線間距離を内挿によって求める(ステップ#14)。
具体的には、n番目の測定対象線32よりも左側に位置して、且つ、最も近い座標線31bと、n番目の測定対象線32との横軸の画素数の差「b」を求め、更に、n番目の測定対象線32よりも右側に位置して、且つ、最も近い座標線31aと、n番目の測定対象線32よりも左側に位置して、且つ、最も近い座標線31bとの横軸の画素数の差「a」を求める。この「a」の値は、本実施の形態ではおよそ12画素であるが、座標線31a,31b間によって11画素、あるいは、13画素というようにばらついている。
具体的には、n番目の測定対象線32よりも左側に位置して、且つ、最も近い座標線31bと、n番目の測定対象線32との横軸の画素数の差「b」を求め、更に、n番目の測定対象線32よりも右側に位置して、且つ、最も近い座標線31aと、n番目の測定対象線32よりも左側に位置して、且つ、最も近い座標線31bとの横軸の画素数の差「a」を求める。この「a」の値は、本実施の形態ではおよそ12画素であるが、座標線31a,31b間によって11画素、あるいは、13画素というようにばらついている。
画素数「a」に対応する実際の距離は「50μm」であるので、画素数「b」に対応する実際の距離「Bn」は、Bn=50*(b/a)(単位はμm,「*」は乗算を意味する演算子)となる。又、n番目の測定対象線32よりも右側に位置して、且つ、最も近い座標線31aと、n番目の測定対象線32との間の実際の距離「Cn」は、Cn=50−Bn(単位はμm)となる。この「Cn」は、n番目の測定対象線32と右隣りのn+1番目の測定対象線32との間隔を求めるのに利用する。
これによって、左隣りのn−1番目の測定対象線32について求めた上記「Cn」に対する距離を「Cn−1」として、n−1番目の測定対象線32とn番目の測定対象線32との間の実際の距離「Dn」は、Dn=Cn−1+50*(p−1)+Bn(単位はμm)と求まる。
但し、左端の測定対象線32については、「D1」は存在しないので、「D2」の算出のために、上記の「Cn」に対応する「C1」のみを求めておく。
以上の操作を、各測定対象線32について繰り返して(ステップ#15)、全ての測定対象線32間の間隔を正確な実際の距離として求める。
これによって、左隣りのn−1番目の測定対象線32について求めた上記「Cn」に対する距離を「Cn−1」として、n−1番目の測定対象線32とn番目の測定対象線32との間の実際の距離「Dn」は、Dn=Cn−1+50*(p−1)+Bn(単位はμm)と求まる。
但し、左端の測定対象線32については、「D1」は存在しないので、「D2」の算出のために、上記の「Cn」に対応する「C1」のみを求めておく。
以上の操作を、各測定対象線32について繰り返して(ステップ#15)、全ての測定対象線32間の間隔を正確な実際の距離として求める。
〔別実施形態〕
以下、本発明の別実施形態を列記する。
(1)上記実施の形態では、フラットベッドスキャナの主走査方向を較正の対象としているが、ガラススケール11を、目盛りの並び方向が読取り面1aの副走査方向に一致するように読取り面1a上に載置して、上記実施の形態と同様の処理を行うことで、フラットベッドスキャナの副走査方向を較正の対象としても良い。
以下、本発明の別実施形態を列記する。
(1)上記実施の形態では、フラットベッドスキャナの主走査方向を較正の対象としているが、ガラススケール11を、目盛りの並び方向が読取り面1aの副走査方向に一致するように読取り面1a上に載置して、上記実施の形態と同様の処理を行うことで、フラットベッドスキャナの副走査方向を較正の対象としても良い。
(2)上記実施の形態では、読取り面1a上における位置関係と読取った画像上における位置関係との対応関係を示すデータとして、読取り画像上での目盛り部分の中心線の座標と、目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の中心線の座標とを取得し、実際の測定においては、測定対象の実際の位置を、上記の中心線の座標データによる内挿によって求めているが、上記の対応関係の具体構成や実際の測定処理における前記対応関係の利用態様は種々に変更可能である。
例えば、上記実施の形態で求めた目盛り部分等の中心線の座標から、読取り画像の主走査方向での各画素毎に、各画素の位置が読取り面1a上での実際の位置にどのように対応するかを求め、前記対応関係として記憶保持するようにしても良い。
このような対応関係を求めておけば、実際の測定においては、測定対象の読取り画像の画素位置から上記の対応関係を利用して直ちに読取り面1a上での実際の位置を求めることができる。
例えば、上記実施の形態で求めた目盛り部分等の中心線の座標から、読取り画像の主走査方向での各画素毎に、各画素の位置が読取り面1a上での実際の位置にどのように対応するかを求め、前記対応関係として記憶保持するようにしても良い。
このような対応関係を求めておけば、実際の測定においては、測定対象の読取り画像の画素位置から上記の対応関係を利用して直ちに読取り面1a上での実際の位置を求めることができる。
(3)上記実施の形態では、読取り面1a上における位置関係と読取った画像上における位置関係との対応関係を示すデータとして、読取り画像上での目盛り部分の中心線の座標と、目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の中心線の座標とを取得して、それらを一体として取り扱っているが、読取り画像上での目盛り部分の中心線の座標と、目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の中心線の座標とを個別に取り扱うようにしても良い。
すなわち、読取り画像上での目盛り部分の中心線の座標のみによって上記実施の形態と同様の内挿によって測定対象の位置を特定し、更に、読取り画像上での目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の中心線の座標のみによって上記実施の形態と同様の内挿によって測定対象の位置を特定して、両者の平均値によって最終的に測定対象の位置を求めるようにしても良い。
すなわち、読取り画像上での目盛り部分の中心線の座標のみによって上記実施の形態と同様の内挿によって測定対象の位置を特定し、更に、読取り画像上での目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の中心線の座標のみによって上記実施の形態と同様の内挿によって測定対象の位置を特定して、両者の平均値によって最終的に測定対象の位置を求めるようにしても良い。
(4)上記実施の形態では、読取り画像上での目盛り部分の中心線の座標や、目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の中心線の座標を求めるための処理として、細線化処理を行う場合を例示しているが、目盛り部分等の画像に対応する黒画像のエッジの座標を複数箇所で取得し、それらの中央値の平均値を中心線の座標として特定する等、中心線の座標を求めるための手法は種々に変更可能である。
(5)上記実施の形態では、基準スケールSSとしてガラススケール11を使用する場合を例示しているが、ガラススケール11の代わりに、金属スケールや樹脂スケール等の基準スケールを使用しても良い。
(5)上記実施の形態では、基準スケールSSとしてガラススケール11を使用する場合を例示しているが、ガラススケール11の代わりに、金属スケールや樹脂スケール等の基準スケールを使用しても良い。
FS フラットベッドスキャナ
SS 基準スケール
11 ガラススケール
SS 基準スケール
11 ガラススケール
Claims (5)
- フラットベッドスキャナの読取り面上における位置関係と読取った画像上における位置関係との対応関係を補正するためのフラットベッドスキャナの較正方法であって、
硬質部材に設定間隔で目盛りを並べて形成した基準スケールを前記読取り面上に載置してその画像を読取り、
その読取り画像における前記目盛り部分の画像の位置情報を測定することによって前記対応関係を特定するフラットベッドスキャナの較正方法。 - 前記読取り画像における目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の画像の位置情報を測定することによって前記対応関係を特定する請求項1記載のフラットベッドスキャナの較正方法。
- 前記読取り画像が二値化画像であり、前記読取り画像の二値を反転させて、前記読取り画像における目盛り部分と目盛り部分との間の空白部分の画像の位置情報を測定する請求項2記載のフラットベッドスキャナの較正方法。
- 前記基準スケールを前記目盛りの並び方向が前記読取り面の主走査方向と一致するように前記読取り面上に載置して、その画像を読取る請求項1〜3のいずれか1項に記載のフラットベッドスキャナの較正方法。
- 前記基準スケールとして、ガラススケールを用いる請求項1〜4のいずれか1項に記載のフラットベッドスキャナの較正方法。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2010010181A JP2011151548A (ja) | 2010-01-20 | 2010-01-20 | フラットベッドスキャナの較正方法 |
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Publication Number | Publication Date |
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-
2010
- 2010-01-20 JP JP2010010181A patent/JP2011151548A/ja active Pending
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