JP2007088672A - 画像形成装置、画像位置計測方法及び画像位置計測調整方法 - Google Patents
画像形成装置、画像位置計測方法及び画像位置計測調整方法 Download PDFInfo
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Abstract
【課題】 簡単に、かつより精度の高い画像位置自動調整機能を有する画像形成装置及び画像位置計測方法を提供する。
【解決手段】 スキャナ1で読み取った画像データを蓄積し、この画像データを読み取って印刷し、これらの動作を制御部4で制御する画像形成装置において、画像位置計測を主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて行ない、前記スキャナ1を介して読み取った前記テストチャートの画像データと、この画像データを印刷した画像を、前記スキャナ1を介してさらに読み取った画像データと比較する。
【選択図】 図1
【解決手段】 スキャナ1で読み取った画像データを蓄積し、この画像データを読み取って印刷し、これらの動作を制御部4で制御する画像形成装置において、画像位置計測を主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて行ない、前記スキャナ1を介して読み取った前記テストチャートの画像データと、この画像データを印刷した画像を、前記スキャナ1を介してさらに読み取った画像データと比較する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、デジタル複写機のごとくスキャナにより読み取った原稿画像を記憶装置に記憶してから印刷出力する画像形成装置、その画像位置計測方法及びその調整方法に関するものである。
デジタル複写機のごとくスキャナにより読み取った原稿画像を記憶装置に記憶してから印刷出力する画像形成装置においては、印刷装置で生成される印刷データをレーザ書き込みユニットからのレーザビームに変換し、これを感光体ドラムに照射して潜像を作成し、その潜像に現像器を介してトナーを付着させ、トナー像を給紙装置から搬送されてきた転写紙に転写手段を用いて転写するというプロセスが存在する。
しかしながら、このプロセスにおいては、レーザ書き込みユニットの走査位置、あるいは給紙、搬送装置の位置精度誤差等により、画像と転写紙の位置にずれが生じてしまうため、レーザ書き込みユニットの書き込みタイミング、給紙装置の給紙タイミング等を調整し、画像と転写紙の位置を合致させる必要がある。
従来、この調整は、テストチャートをスキャナに読み込ませ、そのコピー画像からコピー用紙のずれ量を定規等で計測し、その距離から補正値を計算し、その補正値を操作パネル等からの入力によりCPU等に与え、レーザ書き込みユニットの書き込みタイミング、給紙装置の給紙タイミング等を正規の位置に補正するという方法が用いられてきた。
このような方法では、調整の際に必ず定規等の測定器が必要となり、測定精度も低い上、煩わしい計算を行った後、その補正値を入力しなければならないという問題があった。
上述した問題を解決するために、印字位置調整用のテストパターンを使用して、このテストパターンと、スキャナユニットで読み取った画像データとのずれ量を検出することにより印字位置の自動調整を行う技術が知られている(例えば、特許文献1及び2参照)。
詳しく述べれば、特許文献1では、印字位置調整用のテストパターンを印字し、その出力されたパターンをスキャナユニットで読み取り、前記テストパターンと、スキャナユニットで読み取った画像データとのずれ量を検出し、印字位置を調整するための演算手段をもってずれ量の補正値を算出し設定することができる印字位置自動調整装置が開示されている。
また、特許文献2では、画像メモリに格納されているテストパターン画像に対応する記録画像情報を光書き込みユニット制御部に出力し、記録紙にテストパターン画像を記録する。この記録紙の画像をスキャナユニットにより読み取らせ、スキャナユニット制御部はスキャナユニットからのライン読み取り信号を蓄積して読み取り画像情報を生成する。
さらに、CPUにて読み取り画像情報とテストパターン画像を比較し、この間に不一致があればこれを画像欠陥と判断し、その画像欠陥が除去されるように各種の記録条件を自動調整する技術が開示されている。
特開平06−166245号公報
特開平11−109807号公報
しかしながら、このプロセスにおいては、レーザ書き込みユニットの走査位置、あるいは給紙、搬送装置の位置精度誤差等により、画像と転写紙の位置にずれが生じてしまうため、レーザ書き込みユニットの書き込みタイミング、給紙装置の給紙タイミング等を調整し、画像と転写紙の位置を合致させる必要がある。
従来、この調整は、テストチャートをスキャナに読み込ませ、そのコピー画像からコピー用紙のずれ量を定規等で計測し、その距離から補正値を計算し、その補正値を操作パネル等からの入力によりCPU等に与え、レーザ書き込みユニットの書き込みタイミング、給紙装置の給紙タイミング等を正規の位置に補正するという方法が用いられてきた。
このような方法では、調整の際に必ず定規等の測定器が必要となり、測定精度も低い上、煩わしい計算を行った後、その補正値を入力しなければならないという問題があった。
上述した問題を解決するために、印字位置調整用のテストパターンを使用して、このテストパターンと、スキャナユニットで読み取った画像データとのずれ量を検出することにより印字位置の自動調整を行う技術が知られている(例えば、特許文献1及び2参照)。
詳しく述べれば、特許文献1では、印字位置調整用のテストパターンを印字し、その出力されたパターンをスキャナユニットで読み取り、前記テストパターンと、スキャナユニットで読み取った画像データとのずれ量を検出し、印字位置を調整するための演算手段をもってずれ量の補正値を算出し設定することができる印字位置自動調整装置が開示されている。
また、特許文献2では、画像メモリに格納されているテストパターン画像に対応する記録画像情報を光書き込みユニット制御部に出力し、記録紙にテストパターン画像を記録する。この記録紙の画像をスキャナユニットにより読み取らせ、スキャナユニット制御部はスキャナユニットからのライン読み取り信号を蓄積して読み取り画像情報を生成する。
さらに、CPUにて読み取り画像情報とテストパターン画像を比較し、この間に不一致があればこれを画像欠陥と判断し、その画像欠陥が除去されるように各種の記録条件を自動調整する技術が開示されている。
しかしながら、かかる従来の技術(特に、特許文献1)においては、スキャナユニットのレジストずれを予め調整しておく必要があり、さらに、検出したずれ量には、スキャナユニット自体のスキューや倍率誤差、直角性の成分が上乗せされるため、正確なレジストずれを検出できないという問題がある。
そこで、本発明の目的は、上述した実情を考慮して、簡単に、かつより精度の高い画像位置自動調整機能を有する画像形成装置、画像位置計測方法、及び画像位置計測調整方法を提供することにある。
そこで、本発明の目的は、上述した実情を考慮して、簡単に、かつより精度の高い画像位置自動調整機能を有する画像形成装置、画像位置計測方法、及び画像位置計測調整方法を提供することにある。
上記の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、原稿画像を読み取るスキャナと、該スキャナが読み取った画像データを蓄積するメモリ手段と、該メモリ手段に蓄積された画像データを演算する演算手段と、前記メモリ手段から読み出した画像データを印刷する印刷手段と、前記メモリ手段、演算手段及び印刷手段を制御する制御部と、を備えた画像形成装置において、前記制御部は、画像位置計測を主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて行ない、前記スキャナを介して読み取った前記テストチャートの画像データを前記印刷手段により印刷した印刷画像を、前記スキャナを介してさらに読み取った画像データと比較することを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、原稿画像を読み取るスキャナと、該スキャナが読み取った画像データを蓄積するメモリ手段と、該メモリ手段に蓄積された画像データを演算する演算手段と、前記メモリ手段から読み出した画像データを印刷する印刷手段と、前記メモリ手段、演算手段及び印刷手段を制御する制御部と、を備えた画像形成装置における画像位置を計測する画像位置計測方法において、主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて、前記スキャナを介して前記テストチャートの画像データを読み取る読取ステップと、該読取ステップにより読み取られた画像データを前記印刷手段によって印刷する印刷ステップと、該印刷ステップにより印刷された画像を、前記スキャナを介してさらに読み取る再読み取りステップと、前記読取ステップの画像データと前記再読み取りステップの画像データを比較する比較ステップを含むことを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、前記テストチャートの主走査方向あるいは副走査方向に、2個の位置検出画像を有する請求項2記載の画像位置計測方法を特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、前記テストチャートの主走査方向あるいは副走査方向に、3個以上の位置検出画像を有する請求項2記載の画像位置計測方法を特徴とする。
また、請求項5に記載の発明は、前記テストチャートの画像の主走査および副走査方向の位置情報を、前記画像形成装置の外部から供給する請求項2、3又は4記載の画像位置計測方法を特徴とする。
また、請求項6に記載の発明は、請求項1記載の画像形成装置の、請求項2、3又は4記載の画像位置計測方法によって得られた画像位置計測の状態を調整可能である画像位置計測調整方法を特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、原稿画像を読み取るスキャナと、該スキャナが読み取った画像データを蓄積するメモリ手段と、該メモリ手段に蓄積された画像データを演算する演算手段と、前記メモリ手段から読み出した画像データを印刷する印刷手段と、前記メモリ手段、演算手段及び印刷手段を制御する制御部と、を備えた画像形成装置における画像位置を計測する画像位置計測方法において、主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて、前記スキャナを介して前記テストチャートの画像データを読み取る読取ステップと、該読取ステップにより読み取られた画像データを前記印刷手段によって印刷する印刷ステップと、該印刷ステップにより印刷された画像を、前記スキャナを介してさらに読み取る再読み取りステップと、前記読取ステップの画像データと前記再読み取りステップの画像データを比較する比較ステップを含むことを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、前記テストチャートの主走査方向あるいは副走査方向に、2個の位置検出画像を有する請求項2記載の画像位置計測方法を特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、前記テストチャートの主走査方向あるいは副走査方向に、3個以上の位置検出画像を有する請求項2記載の画像位置計測方法を特徴とする。
また、請求項5に記載の発明は、前記テストチャートの画像の主走査および副走査方向の位置情報を、前記画像形成装置の外部から供給する請求項2、3又は4記載の画像位置計測方法を特徴とする。
また、請求項6に記載の発明は、請求項1記載の画像形成装置の、請求項2、3又は4記載の画像位置計測方法によって得られた画像位置計測の状態を調整可能である画像位置計測調整方法を特徴とする。
本発明によれば、スキャナユニットのレジストずれを予め調整しておく必要がないため、調整に掛かる時間の短縮を図ることが可能となる。
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は本発明による画像形成装置の構成を示す概略ブロック図である。図1において、画像形成装置Aは原稿画像を読み取るスキャナ(ユニット)1と、このスキャナ1が読み取った画像データを蓄積するメモリ手段3と、前記メモリ手段3から読み出した画像データを印刷する印刷装置2とを含んでいる。
また、画像形成装置Aは、スキャナ1、メモリ手段3、及び印刷装置2の各動作を制御しかつメモリ手段3に蓄積された画像データを演算する演算手段を含む制御部(CPU)4を備えている。
また、後述する画像位置計測を行う際、制御部(CPU)4によりアクセスできる外部記憶媒体5を備えている。この外部記憶媒体5には画像位置計測の際に必要なテストチャートの画像位置検出用パターンの主走査および副走査方向の位置データが格納されている。
画像位置計測を行う際、CPU4は外部記憶媒体5にアクセスし、テストチャートの画像位置検出用パターンの位置データを取得する。外部記憶媒体5を装着するI/Fは、画像形成装置A外部から容易にアクセスできる位置に用意されていることが望ましい。
この画像形成装置Aの画像位置計測及びこの画像位置計測の状態の調整においては、テストチャートに依存する固有データを外部から供給しているため、テストチャートを交換する際のテストチャートのデータの入れ換えを容易に行うことが可能となる。
図2は本発明において使用するテストチャートの第1の実施の形態を示す概略図である。図3は図2のテストチャートをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。図4は 図3の画像をプロッタで印刷し、それをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
また、画像形成装置Aは、スキャナ1、メモリ手段3、及び印刷装置2の各動作を制御しかつメモリ手段3に蓄積された画像データを演算する演算手段を含む制御部(CPU)4を備えている。
また、後述する画像位置計測を行う際、制御部(CPU)4によりアクセスできる外部記憶媒体5を備えている。この外部記憶媒体5には画像位置計測の際に必要なテストチャートの画像位置検出用パターンの主走査および副走査方向の位置データが格納されている。
画像位置計測を行う際、CPU4は外部記憶媒体5にアクセスし、テストチャートの画像位置検出用パターンの位置データを取得する。外部記憶媒体5を装着するI/Fは、画像形成装置A外部から容易にアクセスできる位置に用意されていることが望ましい。
この画像形成装置Aの画像位置計測及びこの画像位置計測の状態の調整においては、テストチャートに依存する固有データを外部から供給しているため、テストチャートを交換する際のテストチャートのデータの入れ換えを容易に行うことが可能となる。
図2は本発明において使用するテストチャートの第1の実施の形態を示す概略図である。図3は図2のテストチャートをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。図4は 図3の画像をプロッタで印刷し、それをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
図1〜図4を参照して、図2中、符号6はテストチャートの外形を示し、画像位置検出用パターン7が付されている。この画像位置検出用パターン7のテストチャート外形6からの主走査方向の距離をx1、副走査方向の距離をy1として示している。
図3は図2のテストチャートの外形6をスキャナ1で読み取った画像を示している。図3中の符号8はスキャナ1で読み取った画像の有効画像領域を示し、符号9は読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン9の有効画像領域端部からの主走査方向の距離をx2、副走査方向の距離をy2として示している。
図4中の符号10はスキャナ1で読み取った画像の有効画像領域を示している。符号11は読み取った画像位置検出用パターン11を示している。画像位置検出用パターン11の有効画像領域端部からの主走査方向の距離をx3、副走査方向の距離をy3として示している。
図5は画像位置補正量算出フローを示すフローチャートである。次に、実際の画像位置補正量算出方法を説明する。図1ないし図5を参照して、まず、画像形成装置Aは、図2に示したテストチャート6の読み取りを行う(S1)。この時、テストチャート外形6は画像形成装置Aのスキャナ(ユニット)1にある原稿スケール(図示せず)に突き当ててセットされている。
また、画像位置検出用パターン7のテストチャート外形6からの主走査方向の距離x1、及び副走査方向の距離をy1は予め測定されているもので、この値は画像位置補正量算出のためのソフトウェアプログラムに埋め込まれている。読み取ったテストチャートの画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S2)。
メモリ手段2上の画像は図3に示した画像である。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン9までの距離、x2及びy2を算出する(S3)。さらに、メモリ手段2に格納された画像データは印刷装置3に渡され、これを転写紙(図示せず)に印刷する(S4)。
印刷された転写紙をスキャナ1により再び読み取る(S5)。この時、転写紙はスキャナ1の原稿スケールに突き当ててセットされている。読み取った転写紙画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S6)。
メモリ手段2上の画像は前出の図4にあたる。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン11までの距離、x3及びy3を算出する(S7)。
図3は図2のテストチャートの外形6をスキャナ1で読み取った画像を示している。図3中の符号8はスキャナ1で読み取った画像の有効画像領域を示し、符号9は読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン9の有効画像領域端部からの主走査方向の距離をx2、副走査方向の距離をy2として示している。
図4中の符号10はスキャナ1で読み取った画像の有効画像領域を示している。符号11は読み取った画像位置検出用パターン11を示している。画像位置検出用パターン11の有効画像領域端部からの主走査方向の距離をx3、副走査方向の距離をy3として示している。
図5は画像位置補正量算出フローを示すフローチャートである。次に、実際の画像位置補正量算出方法を説明する。図1ないし図5を参照して、まず、画像形成装置Aは、図2に示したテストチャート6の読み取りを行う(S1)。この時、テストチャート外形6は画像形成装置Aのスキャナ(ユニット)1にある原稿スケール(図示せず)に突き当ててセットされている。
また、画像位置検出用パターン7のテストチャート外形6からの主走査方向の距離x1、及び副走査方向の距離をy1は予め測定されているもので、この値は画像位置補正量算出のためのソフトウェアプログラムに埋め込まれている。読み取ったテストチャートの画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S2)。
メモリ手段2上の画像は図3に示した画像である。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン9までの距離、x2及びy2を算出する(S3)。さらに、メモリ手段2に格納された画像データは印刷装置3に渡され、これを転写紙(図示せず)に印刷する(S4)。
印刷された転写紙をスキャナ1により再び読み取る(S5)。この時、転写紙はスキャナ1の原稿スケールに突き当ててセットされている。読み取った転写紙画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S6)。
メモリ手段2上の画像は前出の図4にあたる。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン11までの距離、x3及びy3を算出する(S7)。
次に、得られた各パターン距離から、スキャナ1およびプロッタ(印刷装置)3のレジストずれ量を算出する(S8)。スキャナ1の主走査レジストずれ量をXsとすると、Xsは、
Xs=x2−x1
として表される。同様に、スキャナの副走査レジストずれ量をYsとすると、Ysは、
Ys=y2−y1
として表される(S9)。
プロッタ3の主走査レジストずれ量をXpとする。転写紙画像を読み取って得られた画像位置検出用パターン11の距離x3は、テストチャートの画像位置検出用パターン7の距離x1に対して、スキャナ1で2回読み取っているため、スキャナ1の主走査レジストずれ量が2回分加算され、さらにプロッタ主走査レジストずれ量が加算されている(S10)。すなわち、
x3=x1+2×(Xs)+Xp
として表される。
したがって、プロッタ3の主走査レジストずれXpは、
Xp=x3−2×(Xs)−x1
=x3−2×(x2−x1)−x1
=x3−2×(x2)+x1
として表されることになる。
同様に、プロッタ3の副走査レジストずれ量をYpとすると、Ypは、
Yp=y3−2×(y2)+y1
として表されることになる(S11)。
得られた各レジストずれ量は、画像形成装置Aの不揮発性記憶手段に格納され、スキャナ1およびプロッタ3のレジストずれ補正データとして使用される。これらの補正データを使用してスキャナ補正値の設定(S12)及びプロッタ補正値の設定(S13)を行う。
Xs=x2−x1
として表される。同様に、スキャナの副走査レジストずれ量をYsとすると、Ysは、
Ys=y2−y1
として表される(S9)。
プロッタ3の主走査レジストずれ量をXpとする。転写紙画像を読み取って得られた画像位置検出用パターン11の距離x3は、テストチャートの画像位置検出用パターン7の距離x1に対して、スキャナ1で2回読み取っているため、スキャナ1の主走査レジストずれ量が2回分加算され、さらにプロッタ主走査レジストずれ量が加算されている(S10)。すなわち、
x3=x1+2×(Xs)+Xp
として表される。
したがって、プロッタ3の主走査レジストずれXpは、
Xp=x3−2×(Xs)−x1
=x3−2×(x2−x1)−x1
=x3−2×(x2)+x1
として表されることになる。
同様に、プロッタ3の副走査レジストずれ量をYpとすると、Ypは、
Yp=y3−2×(y2)+y1
として表されることになる(S11)。
得られた各レジストずれ量は、画像形成装置Aの不揮発性記憶手段に格納され、スキャナ1およびプロッタ3のレジストずれ補正データとして使用される。これらの補正データを使用してスキャナ補正値の設定(S12)及びプロッタ補正値の設定(S13)を行う。
図6は本発明において使用するテストチャートの第2の実施の形態を示す概略図である。図7は図6のテストチャートをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。図8は図7の画像をプロッタで印刷し、それをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
次に、本発明において使用するテストチャートの第2の実施の形態を図1及び図6〜8にて説明する。図6中の符号12はテストチャートの外形を示し、画像位置検出用パターン13〜15が付されている。
画像位置検出用パターン13〜15のテストチャート外形12からの、主走査方向の距離はx11、x12、x13で、副走査方向の距離はy11、y12、y13として示している。
図7は図6のテストチャートをスキャナ1で読み取った画像を示している。図中の符号16はスキャナ(ユニット)1で読み取った画像の有効画像領域を示し、符号17〜19は読み取った画像位置検出用パターンを示している。
前記と同様に、画像位置検出用パターン17〜19の有効画像領域端部からの、主走査方向の距離はx21、x22、x23で、副走査方向の距離はy21、y22、y23として示している。
図8は図7の画像をプロッタ(印刷装置)3で印刷し、それをスキャナ1で読み取った画像を示している。図中の20はスキャナ1で読み取った画像の有効画像領域を示している。
符号21〜23は読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン21〜23の有効画像領域端部からの、主走査方向の距離はx31、x32、x33で、副走査方向の距離はy31、y32、y33として示している。
次に、本発明において使用するテストチャートの第2の実施の形態を図1及び図6〜8にて説明する。図6中の符号12はテストチャートの外形を示し、画像位置検出用パターン13〜15が付されている。
画像位置検出用パターン13〜15のテストチャート外形12からの、主走査方向の距離はx11、x12、x13で、副走査方向の距離はy11、y12、y13として示している。
図7は図6のテストチャートをスキャナ1で読み取った画像を示している。図中の符号16はスキャナ(ユニット)1で読み取った画像の有効画像領域を示し、符号17〜19は読み取った画像位置検出用パターンを示している。
前記と同様に、画像位置検出用パターン17〜19の有効画像領域端部からの、主走査方向の距離はx21、x22、x23で、副走査方向の距離はy21、y22、y23として示している。
図8は図7の画像をプロッタ(印刷装置)3で印刷し、それをスキャナ1で読み取った画像を示している。図中の20はスキャナ1で読み取った画像の有効画像領域を示している。
符号21〜23は読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン21〜23の有効画像領域端部からの、主走査方向の距離はx31、x32、x33で、副走査方向の距離はy31、y32、y33として示している。
図9は画像位置算出フローを示すフローチャートである。図1及び図6〜9を参照して、まず、画像形成装置Aは、図6に示したテストチャートの読み取りを行う(S20)。このとき、テストチャートは画像形成装置Aのスキャナ1にある原稿スケール(図示せず)に突き当ててセットされている。
また、画像位置検出用パターン13〜15のテストチャート外形12からの主走査方向の距離x11、x12、x13、及び副走査方向の距離をy11、y12、y13は予め測定されているもので、この値は画像位置補正量算出のためのソフトウェアプログラムに埋め込まれている。
読み取ったテストチャートの画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S21)。メモリ手段2上の画像は図7に示してある。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン17〜19までの距離x21、x22、x23及びy21、y22、y23を算出する(S22)。
さらに、メモリ手段2に格納された画像データは印刷装置3に渡され、これを転写紙(図示せず)に印刷する(S23)。印刷された転写紙を再びスキャナ1により読み取る(S24)。このとき、転写紙はスキャナ1の原稿スケールに突き当ててセットされている。読み取った転写紙画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S25)。
この時のメモリ手段2上の画像は図8に示してある。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン21〜23までの距離x31、x32、x33及びy31、y32、y33を算出する(S26)。
また、画像位置検出用パターン13〜15のテストチャート外形12からの主走査方向の距離x11、x12、x13、及び副走査方向の距離をy11、y12、y13は予め測定されているもので、この値は画像位置補正量算出のためのソフトウェアプログラムに埋め込まれている。
読み取ったテストチャートの画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S21)。メモリ手段2上の画像は図7に示してある。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン17〜19までの距離x21、x22、x23及びy21、y22、y23を算出する(S22)。
さらに、メモリ手段2に格納された画像データは印刷装置3に渡され、これを転写紙(図示せず)に印刷する(S23)。印刷された転写紙を再びスキャナ1により読み取る(S24)。このとき、転写紙はスキャナ1の原稿スケールに突き当ててセットされている。読み取った転写紙画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S25)。
この時のメモリ手段2上の画像は図8に示してある。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン21〜23までの距離x31、x32、x33及びy31、y32、y33を算出する(S26)。
次に、得られた各パターン距離から、スキャナ1およびプロッタ(印刷装置)3の倍率誤差、スキュー量を算出する。スキャナの主走査倍率誤差をBsxとすると、Bsxは、
として表される(S27)。
同様に、スキャナ1の副走査倍率誤差偏差をBsyとすると、Bsyは、
として表される(S28)。
プロッタ3の主走査倍率誤差をBpxとする。転写紙画像を読み取って得られた画像の主走査方向の2点のパターンの距離は、スキャナ1で2回読み取っているため、スキャナ1の主走査倍率誤差成分が2回分積算され、さらにプロッタ主走査倍率誤差成分が積算されている。すなわち、
(x32−x31)=(x12−x11)×(1+Bsx)2×(1+Bpx)
として表される。
したがって、プロッタ3の主走査倍率誤差Bpxは、
として表されることになる(S29)。
同様に、プロッタの副走査倍率誤差をBpyとすると、Bpyは、
として表されることになる(S30)。
として表される(S27)。
同様に、スキャナ1の副走査倍率誤差偏差をBsyとすると、Bsyは、
として表される(S28)。
プロッタ3の主走査倍率誤差をBpxとする。転写紙画像を読み取って得られた画像の主走査方向の2点のパターンの距離は、スキャナ1で2回読み取っているため、スキャナ1の主走査倍率誤差成分が2回分積算され、さらにプロッタ主走査倍率誤差成分が積算されている。すなわち、
(x32−x31)=(x12−x11)×(1+Bsx)2×(1+Bpx)
として表される。
したがって、プロッタ3の主走査倍率誤差Bpxは、
として表されることになる(S29)。
同様に、プロッタの副走査倍率誤差をBpyとすると、Bpyは、
として表されることになる(S30)。
次にスキューの算出方法について述べる。ここで、スキューは以下のように定義する。
スキャナ1の主走査スキューをSsxとすると、Ssxは、
として表される(S31)。
同様に、スキャナ1の副走査スキューをSsyとすると、Ssyは、
として表される(S32)。
スキャナ1の主走査スキューをSsxとすると、Ssxは、
として表される(S31)。
同様に、スキャナ1の副走査スキューをSsyとすると、Ssyは、
として表される(S32)。
プロッタ3の主走査スキューをSpxとする。転写紙画像を読み取って得られた画像(図8参照)のスキュー量は、テストチャート(図6参照)に対して、スキャナ1で2回読み取っているため、スキャナ1の主走査スキュー量が2回分加算され、さらに、プロッタ主走査スキュー量が加算されている。
すなわち
として表されることになる(S33)。
同様に、プロッタ3の副走査スキュー量をSpyとすると、Spyは、
として表されることになる(S34)。
この画像形成装置Aの画像位置計測方法においては、スキャナ1のスキュー、及び倍率誤差を排除してプロッタ(印刷装置)3のスキュー、及び倍率誤差を検出できるため、精度良くプロッタ3のスキュー、倍率誤差を計測することが可能となる。
すなわち
として表されることになる(S33)。
同様に、プロッタ3の副走査スキュー量をSpyとすると、Spyは、
として表されることになる(S34)。
この画像形成装置Aの画像位置計測方法においては、スキャナ1のスキュー、及び倍率誤差を排除してプロッタ(印刷装置)3のスキュー、及び倍率誤差を検出できるため、精度良くプロッタ3のスキュー、倍率誤差を計測することが可能となる。
図10は本発明において使用するテストチャートの第3の実施の形態を示す概略図である。図11は図10のテストチャートをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。図12は図11の画像をプロッタで印刷し、それをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
図1及び図10〜図12を参照して、第3の実施の形態について説明する。
図10中の符号24はテストチャートの外形を示し、画像位置検出用パターン25〜29が付されている。画像位置検出用パターン25〜29のテストチャート外形24からの主走査方向の距離をx11、x12、x13、副走査方向の距離をy11、y12、y13として示している。
図11は図10のテストチャートをスキャナ1で読み取った画像を示している。図11中の符号30はスキャナ(ユニット)1で読み取った画像の有効画像領域を示し、符号31〜35はスキャナ1で読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン31〜35の有効画像領域端部からの主走査方向の距離はx21、x22、x23で、副走査方向の距離はy21、y22、y23として示している。
図12は図11の画像をプロッタ(印刷装置)3で印刷し、それをスキャナ1で読み取った画像を示している。図12中の符号36はスキャナ1で読み取った画像の有効画像領域を示している。
符号37〜41はスキャナ1で読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン37〜41の有効画像領域端部からの主走査方向の距離はx31、x32、x33で、副走査方向の距離はy31、y32、y33として示している。
図1及び図10〜図12を参照して、第3の実施の形態について説明する。
図10中の符号24はテストチャートの外形を示し、画像位置検出用パターン25〜29が付されている。画像位置検出用パターン25〜29のテストチャート外形24からの主走査方向の距離をx11、x12、x13、副走査方向の距離をy11、y12、y13として示している。
図11は図10のテストチャートをスキャナ1で読み取った画像を示している。図11中の符号30はスキャナ(ユニット)1で読み取った画像の有効画像領域を示し、符号31〜35はスキャナ1で読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン31〜35の有効画像領域端部からの主走査方向の距離はx21、x22、x23で、副走査方向の距離はy21、y22、y23として示している。
図12は図11の画像をプロッタ(印刷装置)3で印刷し、それをスキャナ1で読み取った画像を示している。図12中の符号36はスキャナ1で読み取った画像の有効画像領域を示している。
符号37〜41はスキャナ1で読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン37〜41の有効画像領域端部からの主走査方向の距離はx31、x32、x33で、副走査方向の距離はy31、y32、y33として示している。
図13は画像位置算出フローを示すフローチャートである。図1及び図10〜図13を参照して、まず、画像形成装置Aは、図10に示すテストチャートの読み取りを行う(S40)。この時、テストチャートは画像形成装置Aのスキャナ(ユニット)1にある原稿スケール(図示せず)に突き当ててセットされている。
また、画像位置検出用パターンのテストチャート外形24からの主走査方向の距離x11、x12、x13、及び副走査方向の距離をy11、y12、y13は予め測定されているもので、これらの値は画像位置補正量算出のためのソフトウェアプログラムに埋め込まれている。
読み取ったテストチャートの画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S41)。メモリ手段2上の画像は図11に示してある。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン31〜35までの距離、x21、x22、x23及びy21、y22、y23を算出する(S42)。
さらに、メモリ手段2に格納された画像データは印刷装置3に渡され、これを転写紙(図示せず)に印刷する(S43)。印刷された転写紙を再びスキャナ1から読み取る(S44)。この時、転写紙はスキャナ1の原稿スケールに突き当ててセットされている。読み取った転写紙画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S45)。
メモリ手段2上の画像は前に示した図12にあたる。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン37〜41までの距離、x31、x32、x33及びy31、y32、y33を算出する(S46)。
また、画像位置検出用パターンのテストチャート外形24からの主走査方向の距離x11、x12、x13、及び副走査方向の距離をy11、y12、y13は予め測定されているもので、これらの値は画像位置補正量算出のためのソフトウェアプログラムに埋め込まれている。
読み取ったテストチャートの画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S41)。メモリ手段2上の画像は図11に示してある。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン31〜35までの距離、x21、x22、x23及びy21、y22、y23を算出する(S42)。
さらに、メモリ手段2に格納された画像データは印刷装置3に渡され、これを転写紙(図示せず)に印刷する(S43)。印刷された転写紙を再びスキャナ1から読み取る(S44)。この時、転写紙はスキャナ1の原稿スケールに突き当ててセットされている。読み取った転写紙画像は、画像形成装置Aのメモリ手段2に格納される(S45)。
メモリ手段2上の画像は前に示した図12にあたる。メモリ手段2に格納された画像データから、制御部4の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン37〜41までの距離、x31、x32、x33及びy31、y32、y33を算出する(S46)。
次に、得られた各パターン距離から、スキャナ1およびプロッタ(印刷装置)3の倍率誤差偏差を算出する。倍率誤差偏差とは、主走査方向の左側と右側、あるいは副走査方向の上側と下側の倍率誤差の差であり、次のように定義する。
主走査倍率誤差偏差=左側倍率誤差−右側倍率誤差
副走査倍率誤差偏差=上側倍率誤差−下側倍率誤差
スキャナ1の主走査左側倍率誤差をBsxl、主走査右側倍率誤差をBsxr、主走査倍率誤差偏差をHsxとすると、Hsxは、
として表される(S47、S48及びS49)。
同様に、スキャナ1の副走査上側倍率誤差をBsyu、副走査下側倍率誤差をBsyd、副走査倍率誤差偏差をHsyとすると、Hsyは、
として表される(S50、S51及びS52)。
主走査倍率誤差偏差=左側倍率誤差−右側倍率誤差
副走査倍率誤差偏差=上側倍率誤差−下側倍率誤差
スキャナ1の主走査左側倍率誤差をBsxl、主走査右側倍率誤差をBsxr、主走査倍率誤差偏差をHsxとすると、Hsxは、
として表される(S47、S48及びS49)。
同様に、スキャナ1の副走査上側倍率誤差をBsyu、副走査下側倍率誤差をBsyd、副走査倍率誤差偏差をHsyとすると、Hsyは、
として表される(S50、S51及びS52)。
プロッタ3の主走査左側倍率誤差をBpxl、主走査右側倍率誤差をBpxr、主走査倍率誤差偏差をHpxとすると、Hpxは、
Hpx=Bpxl−Bpxr
として表されることになる(S53、S54及びS55)。
同様に、プロッタ3の副走査上側倍率誤差をBpyu、副走査下側倍率誤差をBpyd、副走査倍率誤差偏差をHpyとすると、Hpyは、
Hpy=Bpyu−Bpyd
として表されることになる(S56、S57及びS58)。
この画像形成装置Aの画像位置計測方法においては、スキャナ1の倍率誤差偏差の影響を排除してプロッタ3の倍率誤差偏差を検出できるため、精度良くプロッタの倍率誤差偏差を計測することが可能となる。
上記実施の形態は走査方向に3点の画像位置検出用パターンを配した実施の形態であるが、走査方向にパターンを増やすことで、さらに細かいピッチの倍率誤差の偏差を計測することが可能である。
Hpx=Bpxl−Bpxr
として表されることになる(S53、S54及びS55)。
同様に、プロッタ3の副走査上側倍率誤差をBpyu、副走査下側倍率誤差をBpyd、副走査倍率誤差偏差をHpyとすると、Hpyは、
Hpy=Bpyu−Bpyd
として表されることになる(S56、S57及びS58)。
この画像形成装置Aの画像位置計測方法においては、スキャナ1の倍率誤差偏差の影響を排除してプロッタ3の倍率誤差偏差を検出できるため、精度良くプロッタの倍率誤差偏差を計測することが可能となる。
上記実施の形態は走査方向に3点の画像位置検出用パターンを配した実施の形態であるが、走査方向にパターンを増やすことで、さらに細かいピッチの倍率誤差の偏差を計測することが可能である。
A 画像形成装置
1 スキャナ(スキャナユニット)
2 メモリ手段
3 印刷装置(プロッタ)
4 制御部(CPU、演算手段)
5 外部記憶媒体
1 スキャナ(スキャナユニット)
2 メモリ手段
3 印刷装置(プロッタ)
4 制御部(CPU、演算手段)
5 外部記憶媒体
Claims (6)
- 原稿画像を読み取るスキャナと、該スキャナが読み取った画像データを蓄積するメモリ手段と、該メモリ手段に蓄積された画像データを演算する演算手段と、前記メモリ手段から読み出した画像データを印刷する印刷手段と、前記メモリ手段、演算手段及び印刷手段を制御する制御部と、を備えた画像形成装置において、
前記制御部は、画像位置計測を主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて行ない、前記スキャナを介して読み取った前記テストチャートの画像データを前記印刷手段により印刷した印刷画像を、前記スキャナを介してさらに読み取った画像データと比較することを特徴とする画像形成装置。 - 原稿画像を読み取るスキャナと、該スキャナが読み取った画像データを蓄積するメモリ手段と、該メモリ手段に蓄積された画像データを演算する演算手段と、前記メモリ手段から読み出した画像データを印刷する印刷手段と、前記メモリ手段、演算手段及び印刷手段を制御する制御部と、を備えた画像形成装置における画像位置を計測する画像位置計測方法において、
主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて、前記スキャナを介して前記テストチャートの画像データを読み取る読取ステップと、該読取ステップにより読み取られた画像データを前記印刷手段によって印刷する印刷ステップと、該印刷ステップにより印刷された画像を、前記スキャナを介してさらに読み取る再読み取りステップと、前記読取ステップの画像データと前記再読み取りステップの画像データを比較する比較ステップを含むことを特徴とする画像位置計測方法。 - 前記テストチャートの主走査方向あるいは副走査方向に、2個の位置検出画像を有することを特徴とする請求項2記載の画像位置計測方法。
- 前記テストチャートの主走査方向あるいは副走査方向に、3個以上の位置検出画像を有することを特徴とする請求項2記載の画像位置計測方法。
- 前記テストチャートの画像の主走査および副走査方向の位置情報を、前記画像形成装置の外部から供給することを特徴とする請求項2、3又は4記載の画像位置計測方法。
- 請求項1記載の画像形成装置の、請求項2、3又は4記載の画像位置計測方法によって得られた画像位置計測の状態を調整可能であることを特徴とする画像位置計測調整方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005273300A JP2007088672A (ja) | 2005-09-21 | 2005-09-21 | 画像形成装置、画像位置計測方法及び画像位置計測調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family
ID=37975233
Family Applications (1)
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Country | Link |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010188679A (ja) * | 2009-02-20 | 2010-09-02 | Casio Computer Co Ltd | テープ印刷装置、テープ印刷装置における取込画像の修正方法、該修正方法を実行するためのプログラムが記憶された記憶媒体 |
JP2019155749A (ja) * | 2018-03-14 | 2019-09-19 | 株式会社リコー | 印刷装置 |
CN115208985A (zh) * | 2021-04-09 | 2022-10-18 | 佳能株式会社 | 图像形成装置和图像形成系统 |
-
2005
- 2005-09-21 JP JP2005273300A patent/JP2007088672A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2010188679A (ja) * | 2009-02-20 | 2010-09-02 | Casio Computer Co Ltd | テープ印刷装置、テープ印刷装置における取込画像の修正方法、該修正方法を実行するためのプログラムが記憶された記憶媒体 |
JP2019155749A (ja) * | 2018-03-14 | 2019-09-19 | 株式会社リコー | 印刷装置 |
JP7064171B2 (ja) | 2018-03-14 | 2022-05-10 | 株式会社リコー | 印刷装置 |
CN115208985A (zh) * | 2021-04-09 | 2022-10-18 | 佳能株式会社 | 图像形成装置和图像形成系统 |
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