JP2011090973A - 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置における三次元情報の表示方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、電子線の照射方向に垂直な回転軸を中心として回転可能な試料台を備え、当該試料台の周囲に気密室を形成できる試料ホルダに関する。本発明によれば、任意の雰囲気にて試料を化学反応させ、当該反応について三次元解析することが可能となる。また、大気中で変化し易い試料を、大気に曝すことなく三次元解析することも可能となる。
【選択図】 図1
Description
(1)まず、FIB装置16内に試料ホルダ1を挿入する。具体的には、FIB装置16の試料室の側壁に設けられた孔から試料ホルダ1を挿入する。これにより、試料ホルダ1は試料室に固定され、試料ホルダ1の先端部はイオンビーム28の光軸上に配置される。また、試料台5は、イオンビーム28の光軸と平行な回転軸、言い換えるとFIB装置の設置面に対して垂直な回転軸を中心に360度回転可能な状態となる。
(2)次に、FIB装置16内において、試料ホルダ1の被覆部9を開放する。具体的には、マイクロメータ12を回転することにより、被覆部駆動部11を水平稼動させ、被覆部9を試料ホルダ1の内部に収容する。これにより、試料6等が開放されている開放状態となり、試料6にイオンビーム28を照射することが可能となる。
(3)試料ホルダ1を開放状態とした後、イオンビーム照射により試料台5に微小試料6を固定し、加工する。具体的には、マイクロプローブ制御装置を制御することにより、試料イオンビーム28とマイクロプローブ24を用いて母材より摘出された微小試料6を、ホルダ1の先端部に取り付けられた試料台5に移送する。その後、デポジション銃23からガスを放出しつつイオンビーム28を照射することにより、微小試料6と試料台5を固定する堆積膜を形成する。そして、試料台5に固定されている微小試料6にイオンビーム28を照射することにより、透過電子顕微鏡観察に適した形状に微小試料6を加工する。この際、モーター電源制御部15の制御により、試料台5を所望角度回転させつつイオンビーム28を照射することにより、三次元構造観察に適した形状に微小試料5を加工することが容易となる。
(4)イオンビーム加工後、試料ホルダ1の被覆部9を閉鎖する。具体的には、マイクロメータ12を(3)とは逆に回転することにより、被覆部駆動部11が水平移動し、被覆部9を試料ホルダ1の外部にスライドする。これにより、試料ホルダ1は閉鎖状態となり、試料6を真空密封される。
(5)試料ホルダ1を閉鎖状態とした後、FIB装置16から試料ホルダ1を取り出す。具体的には、試料室から試料ホルダ1を抜き取る。これにより、試料ホルダ1をFIB装置16以外の装置、例えば電子顕微鏡29に搬送可能となる。
(6)電子顕微鏡29に試料ホルダ1を挿入する。具体的には、閉鎖状態の試料ホルダ1を試料予備排気室47に挿入する。これにより、予備排気が可能となる。
(7)次に、試料予備排気室47で排気しながら試料ホルダ1の被覆部9を開放する。具体的には、バルブ45を開放し、真空ポンプ46を稼動させる。そして、試料予備排気室47が真空状態となった後、マイクロメータ12を回転することにより、被覆部駆動部11を水平稼動させ、被覆部9を試料ホルダ1の内部に収容する。これにより、FIB装置16により三次元構造観察用に加工された試料6を、大気暴露することなく、電子顕微鏡29の試料室40に搬送することが可能となる。
(8)予備排気後、電子顕微鏡の試料室40に試料6を挿入し、試料6の三次元観察・分析を実施する。具体的には、予備排気後、試料ホルダ1を更に挿入する。これにより、試料ホルダ1は試料室40に固定され、試料ホルダ1の先端部は電子線50の光軸上に配置され、試料6に電子線50を照射することが可能となる。また、試料台5は、電子線50の光軸に垂直な回転軸、言い換えると電子顕微鏡29の設置面に対して平行な回転軸を中心に360度回転可能な状態となる。尚、この際における試料台5の回転角を0度とする。この情報は、モーター電源制御部15から、電子顕微鏡の制御装置52に転送され、画像表示部35に表示される。
(9)回転しながら撮影した透過電子線像を用いて三次元再構成を実施し、体積や表面積などを計測する。三次元再構成は画像記録部に接続した三次元再構成用PCに画像を転送し、再構成を行う。具体的には、上記取得した透過像と試料台角度のデータセットを三次元再構成用PCに転送する。三次元再構成用PCでは、三次元再構成用のソフトを利用し、データセットから三次元再構成を行う。例えば、取得した画像のある断面の濃度値のグラフをフーリエ変換し、それを重ね合わせて周波数領域のグラフを作成し、さらに逆フーリエ変換することにより、ある断面が再構成される。これを、取り込んだ画像すべての位置で行うことにより、三次元再構成像が得られる。一度再構成した三次元像からは、任意の部分を抽出し、2点間の距離,体積,表面積などを計測する。
(1)実施例1における(8)と同様の手順により、試料6を大気に曝さずに、試料6の三次元観察・分析および計測を実施する。
(2)バルブ48を調節し、ガスボンベ49より、所望の圧力のガスを試料6へ噴射する。均一な反応を起こさせる場合は、モーター電源制御部から試料の回転を行うように設定する。ガス噴射の場所に依存した変化を動的観察する場合は、回転は行わないように設定する。
(3)ガス噴射による試料6の変化を動的観察する。これによって、例えば、触媒粒子が、ガス雰囲気中で集合合体する様子を観察する。
(4)バルブ48を閉鎖し、試料6へのガス噴射を停止する。
(5)実施例1における(8)と同様の手順により、変化後の試料6の三次元観察・分析および計測を実施する。
(6)手順(1)、及び(5)にて得られた結果を比較する。具体的には、反応前後の三次元再構成像を表示する。また、反応前又は反応後の三次元再構成像における任意の部分を三次元再構成用PCに入力することにより、三次元再構成用PCは、反応前後における2点間の距離,体積,表面積などの変化を計測する。
(1)実施例1における(8)と同様の手順により、試料6を大気に曝さずに、試料6の三次元観察・分析および計測を実施する。
(2)試料6へ光あるいはレーザーを照射する。目的によっては、試料6を回転しながら光あるいはレーザーを照射する。
(3)光あるいはレーザー照射による試料6の変化を動的観察する。
(4)試料6の光あるいはレーザー照射を停止する。
(5)実施例1における(8)と同様の手順により、変化後の試料6について三次元観察・分析および計測を実施する。
(6)手順(1)、及び(5)にて得られた結果を比較する。
(1)実施例1における(8)と同様の手順により、試料6を大気に曝さずに、試料6の三次元観察・分析および計測を実施する。
(2)試料ホルダ1先端部を開放状態としたまま、電子顕微鏡29の試料予備排気室47へ試料ホルダ1を移動する。
(3)試料予備排気室47へガスを導入し、試料6を回転しながら試料6へレーザー照射し、試料6とガスを高温反応させる。レーザー照射は、電子顕微鏡外のレーザーから、光ファイバーを通して実施される。レーザーの出力は、試料加熱温度が所望の値となるようレーザーに連結している制御部にて制御する。
(4)試料予備排気室47へのガス導入とレーザー照射を停止し、試料予備排気室47を排気する。
(5)試料ホルダ1先端部を開放状態としたまま、試料室40へ試料ホルダ1を移動する。
(6)実施例1における(8)と同様の手順により、高温ガス反応後の試料6について三次元観察・分析および計測を実施する。
(7)手順(1)、及び(6)にて得られた結果を比較する。これにより、試料6の高温ガス反応前後の三次元解析が可能となる。
2 回転軸
3 軸保持部
4 歯車
5 試料台
6 試料
7 試料支持棒
8 Oリング
9 被覆部
10 シリンダ
11 被覆部駆動部
12 マイクロメータ
13 ハーメチックシール
14 モーター
15 モーター電源制御部
16 FIB装置
17 イオン銃
18 コンデンサーレンズ
19 絞り
20 走査電極
21 対物レンズ
22 二次電子検出器
23 デポジション銃
24 マイクロプローブ
25 走査像表示装置
26 走査電極制御部
27 マイクロプローブ制御装置
28 イオンビーム
29 電子顕微鏡
30 電子銃
31 コンデンサーレンズ
32 対物レンズ
33 投射レンズ
34 TVカメラ
35 画像表示部
36 EELS検出器
37 EELS制御部
38 EDX検出器
39 EDX制御部
40 試料室
41 観察室
45,48 バルブ
46 真空ポンプ
47 試料予備排気室
49 ガスボンベ
50 電子線
51 ガス配管
52 電子顕微鏡制御装置
53 画像記録部
Claims (23)
- 試料を保持する試料台を有する試料ホルダと、
前記試料に照射する電子線を発生させる電子銃と、
前記試料を透過した電子線を検出する検出器と、
前記検出器が取得した透過像を演算処理する演算処理装置と、
前記演算処理装置の演算結果を表示する表示装置と、を備えた荷電粒子線装置であって、
前記試料ホルダが、前記電子線の照射方向に垂直な回転軸を中心として前記試料台を180度回転できる回転機構と、当該試料台の周囲に気密室を形成できる遮断機構とを備え、
前記表示装置が、前記試料台を所定角度回転して取得した透過像群を演算処理して得られた三次元情報を表示することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1記載の荷電粒子線装置であって、
前記表示装置が、前記試料台を所定角度回転して得られた第1の三次元情報と、前記試料台を所定角度回転して得られた第2の三次元情報と、の比較結果を表示することを特徴とする装置。 - 請求項2記載の荷電粒子線装置であって、
前記表示装置が、立体形状の比較結果を表示することを特徴とする装置。 - 請求項2記載の荷電粒子線装置であって、
前記表示装置が、前記三次元情報から任意に選択した領域における表面積の比較結果を表示することを特徴とする装置。 - 請求項2記載の荷電粒子線装置であって、
前記表示装置が、前記三次元情報から任意に選択した領域における体積の比較結果を表示することを特徴とする装置。 - 請求項1記載の荷電粒子線装置であって、
前記試料ホルダが、前記遮断機構により形成された気密室内にガスを放射できるガス配管を備え、
前記表示装置が、前記試料台を所定角度回転して得られた第1の三次元情報と、ガスの放出後に前記試料台を所定角度回転して得られた第2の三次元情報と、の比較結果を表示することを特徴とする装置。 - 請求項1記載の荷電粒子線装置であって、
前記試料ホルダが、前記試料台に保持されている試料にガスを放射できるガス配管を備え、
前記表示装置が、前記試料台を所定角度回転して得られた第1の三次元情報と、ガスの放出後に前記試料台を所定角度回転して得られた第2の三次元情報と、の比較結果を表示することを特徴とする装置。 - 請求項1記載の荷電粒子線装置であって、
前記試料ホルダが、前記試料台に保持されている試料に電磁波を放射できるガス配管を備え、
前記表示装置が、前記試料台を所定角度回転して得られた第1の三次元情報と、ガスの放出後に前記試料台を所定角度回転して得られた第2の三次元情報と、の比較結果を表示することを特徴とする装置。 - 請求項1記載の荷電粒子線装置であって、
前記遮断機構が、前記試料ホルダにおける支持棒の先端部を被覆する被覆部を備え、当該被覆部が移動することにより、前記気密室を形成することを特徴とする装置。 - 請求項1記載の荷電粒子線装置であって、
前記遮断機構が、前記試料ホルダにおける支持棒をスライドさせる機構を備え、当該支持棒の先端部を試料ホルダのシリンジ内に格納することにより、前記気密室を形成することを特徴とする装置。 - 請求項1記載の荷電粒子線装置であって、
前記試料ホルダが、イオンビーム装置に装着可能であることを特徴とする装置。 - 荷電粒子線装置における三次元情報の表示方法であって、
試料を保持する試料台の周囲に気密室を形成できる遮断機構を備えた試料ホルダを荷電粒子線装置に装着し、
回転機構により、電子線の照射方向に垂直な回転軸を中心として前記試料台を所定角度回転させ、前記試料に電子線を照射し、当該試料を透過した電子線を検出し、
前記遮断機構により、前記試料台の周囲に気密室を形成し、
前記気密室を開放状態とした後、前記回転機構により電子線の照射方向に垂直な回転軸を中心として前記試料台を所定角度回転させ、前記試料に電子線を照射し、当該試料を透過した電子線を検出し、
演算処理装置により、前記検出器が取得した透過像群を演算処理し、
表示装置により、前記試料台を所定角度回転して得られた第1の三次元情報と、前記試料台を所定角度回転して得られた第2の三次元情報と、の比較結果を表示する方法。 - 請求項12記載の三次元情報の表示方法であって、
前記表示装置が、立体形状の比較結果を表示することを特徴とする方法。 - 請求項12記載の三次元情報の表示方法であって、
前記表示装置が、前記三次元情報から任意に選択した領域における表面積の比較結果を表示することを特徴とする方法。 - 請求項12記載の三次元情報の表示方法であって、
前記表示装置が、前記三次元情報から任意に選択した領域における体積の比較結果を表示することを特徴とする方法。 - 請求項12記載の三次元情報の表示方法であって、
ガス配管により、前記遮断機構により形成された気密室内にガスを放射し、
前記表示装置が、前記試料台を所定角度回転して得られた第1の三次元情報と、ガスの放出後に前記試料台を所定角度回転して得られた第2の三次元情報と、の比較結果を表示することを特徴とする方法。 - 請求項12記載の三次元情報の表示方法であって、
ガス配管により、前記遮断機構により形成された気密室内にガスを放射し、
前記表示装置が、前記試料台を所定角度回転して得られた第1の三次元情報と、ガスの放出後に前記試料台を所定角度回転して得られた第2の三次元情報と、の比較結果を表示することを特徴とする方法。 - 請求項12記載の三次元情報の表示方法であって、
ガス配管により、前記遮断機構により形成された気密室内にガスを放射し、
前記表示装置が、前記試料台を所定角度回転して得られた第1の三次元情報と、ガスの放出後に前記試料台を所定角度回転して得られた第2の三次元情報と、の比較結果を表示することを特徴とする方法。 - 請求項12記載の三次元情報の表示方法であって、
前記遮断機構が、前記試料ホルダにおける支持棒の先端部を被覆する被覆部を備え、当該被覆部が移動することにより、前記気密室を形成することを特徴とする方法。 - 請求項12記載の三次元情報の表示方法であって、
前記遮断機構が、前記試料ホルダにおける支持棒をスライドさせる機構を備え、当該支持棒の先端部を試料ホルダのシリンジ内に格納することにより、前記気密室を形成することを特徴とする装置。 - 荷電粒子線装置における三次元情報の表示方法であって、
試料を保持する試料台の周囲に気密室を形成できる遮断機構を備えた試料ホルダをイオンビーム装置に装着し、
前記試料にイオンビームを照射し、当該試料を加工し、
前記遮断機構により、前記試料台の周囲に気密室を形成し、
前記気密室が形成されている前記試料ホルダを荷電粒子線装置に装着し、
前記気密室を開放状態とした後、前記回転機構により電子線の照射方向に垂直な回転軸を中心として前記試料台を所定角度回転させ、前記試料に電子線を照射し、当該試料を透過した電子線を検出し、
演算処理装置により、取得した透過像群を演算処理し、
表示装置により、前記試料台を所定角度回転して得られた三次元情報を表示する方法。 - 請求項21記載の三次元情報の表示方法であって、
前記遮断機構が、前記試料ホルダにおける支持棒の先端部を被覆する被覆部を備え、当該被覆部が移動することにより、前記気密室を形成することを特徴とする方法。 - 請求項21記載の三次元情報の表示方法であって、
前記遮断機構が、前記試料ホルダにおける支持棒をスライドさせる機構を備え、当該支持棒の先端部を試料ホルダのシリンジ内に格納することにより、前記気密室を形成することを特徴とする装置。
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