JP2011056587A - 研削方法 - Google Patents

研削方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2011056587A
JP2011056587A JP2009205421A JP2009205421A JP2011056587A JP 2011056587 A JP2011056587 A JP 2011056587A JP 2009205421 A JP2009205421 A JP 2009205421A JP 2009205421 A JP2009205421 A JP 2009205421A JP 2011056587 A JP2011056587 A JP 2011056587A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
grinding
ground
optical device
groove
device wafer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009205421A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5357672B2 (ja
Inventor
Yusuke Kimura
祐輔 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2009205421A priority Critical patent/JP5357672B2/ja
Publication of JP2011056587A publication Critical patent/JP2011056587A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5357672B2 publication Critical patent/JP5357672B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】 難研削材からなる被研削物を損傷させることのない研削方法を提供することである。
【解決手段】 被研削物を研削する研削方法であって、被研削物の被研削面に研削仕上げ厚みに至らない深さの複数の溝を形成する溝形成ステップと、該溝中に目立て材を充填する充填ステップと、砥石を含む研削手段で該被研削面を該目立て材ごと研削して、該研削仕上げ厚みまで被研削物を薄化する研削ステップと、を具備したことを特徴とする。
【選択図】図6

Description

本発明は、難研削材からなる被研削物を所定の研削仕上げ厚みへと研削する研削方法に関する。
例えば、サファイア基板やSiC基板上に複数の発光素子が形成された光デバイスウエーハは、裏面を研削装置で研削することで所定の研削仕上げ厚みへと薄化された後、切削装置や分割装置によって個々のチップへと分割されることで光デバイスが形成される。
また、例えばCuからなる電極が埋設されたシリコンウエーハは、研削装置で裏面が研削されて所定の研削仕上げ厚みへと薄化されることで埋設されていた電極がウエーハ裏面に表出される。
このような研削に使用される研削装置としては、ダイアモンドやCBN(Cubic Boron Nitride)等の超砥粒をガラスや樹脂、金属等で固めた研削砥石を含む切削手段を備えたグラインダと称される研削装置が広く使用されている(例えば、特開2007−222986号公報参照)。
グラインダでは、チャックテーブルに保持された被加工物の被研削面に研削砥石を当接させつつ、チャックテーブルと研削手段とをそれぞれ回転させながら互いに接近する方向に相対的に研削送りすることにより研削を遂行する。
特開2007−222986号公報
ところが、研削装置でサファイア基板やSiC基板、金属を含むウエーハ等の難研削材を研削すると、研削砥石に目つぶれが発生し易いという問題がある。目つぶれが発生した研削砥石で研削を行うと、研削物の被研削面に焼け等を引き起こし、被研削物を損傷させてしまう。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、難研削材からなる被研削物を損傷させることのない研削方法を提供することである。
本発明によると、被研削物を研削する研削方法であって、被研削物の被研削面に研削仕上げ厚みに至らない深さの複数の溝を形成する溝形成ステップと、該溝中に目立て材を充填する充填ステップと、砥石を含む研削手段で該被研削面を該目立て材ごと研削して、該研削仕上げ厚みまで被研削物を薄化する研削ステップと、を具備したことを特徴とする研削方法が提供される。
好ましくは、溝形成ステップでは、切削ブレードによる切削、又はエッチングによって溝が形成される。好ましくは、被研削物は、サファイア、SiC、石英ガラス及び金属からなる群から選択される。
本発明の研削方法によると、溝中に充填された目立て材ごと被研削物が研削砥石で研削されるため、研削中に目立て材によって研削砥石の自生発刃(古い砥粒が脱粒して新たな砥粒が表出すること)が促される。よって、研削中の研削砥石は常に新たな砥粒が表出しているため、被研削物の被研削面に焼け等を引き起こし被研削物を損傷させることがない。
光デバイスウエーハの表面側斜視図である。 表面に保護テープが貼着された状態の光デバイスウエーハの裏面側斜視図である。 溝形成ステップを示す斜視図である。 表面に複数の溝が形成された状態の光デバイスウエーハの斜視図である。 溝中に目立て材が充填された状態の光デバイスウエーハの斜視図である。 図6(A)は研削ステップを示す斜視図、図6(B)はその側面図である。
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1を参照すると、光デバイスウエーハ11の斜視図が示されている。光デバイスウエーハ11は、例えば厚さ200μmのサファイア基板上にGaN、InGaN等の窒化ガリウム系化合物半導体層を積層して構成されており、表面11aに複数のストリート13が格子状に形成されているとともに、該複数のストリート13によって区画された複数の領域に発光ダイオード(LED)、レーザダイオード(LD)等の光デバイス15が形成されている。
このように構成された光デバイスウエーハ11は、光デバイス15が形成されているデバイス領域17と、デバイス領域17を囲繞する外周余剰領域19を備えている。また、光デバイスウエーハ11の外周にはサファイア基板の結晶方位を示すマークとしてのノッチ21が形成されている。
光デバイスウエーハ11の裏面11bを研削する前に、光デバイスウエーハ11の表面11aには、保護テープ貼着工程により保護テープ23が貼着される。従って、光デバイスウエーハ11の表面11aは保護テープ23によって保護され、図2に示すように、裏面11bが露出する状態となる。
本発明の研削方法では、まず光デバイスウエーハ11の裏面11bに、研削仕上げ厚みに至らない深さの複数の溝を形成する溝形成ステップを実施する。この溝形成ステップは、例えば図3にその概略を示すような切削装置2により実施する。
切削装置2はチャックテーブル4と切削ユニット6を備えている。切削ユニット6のスピンドル8の先端部には切削ブレード10が着脱可能に装着されている。 切削ブレード10は、例えば500μm〜1mm程度の厚さのダイアモンド砥粒を樹脂で固めたレジンブレードやニッケル等の金属で固めたメタルブレードから構成される。
この溝形成ステップを実施するには、チャックテーブル4で光デバイスウエーハ11の保護テープ23側を吸引保持し、チャックテーブル4をX1方向に移動させるとともに、切削ブレード10をA方向に高速回転させながら切削ユニット6を下降させて光デバイスウエーハ11の裏面をハーフカットする。これにより、光デバイスウエーハ11の裏面(被研削面)に研削仕上げ厚みに至らない深さの溝12が形成される。
切削ブレード10をY軸方向にインデックス送りして同様な複数の溝12を形成する。第1の方向に伸長する複数の溝12の形成が終了すると、チャックテーブル4を90度回転してから同様な切削を行うと、第1の方向に直交する第2の方向に伸長する複数の溝12が形成される。
このように光デバイスウエーハ11の裏面に第1の方向及び第2の方向に伸長する複数の溝12が形成された状態が図4に示されている。尚、この溝形成は図4に示した格子状に限定されるものではなく、十字形状や放射線形状でもよく、光デバイスウエーハ11の裏面に満遍なくハーフカットの溝が形成されればよい。この溝形成ステップは、切削ブレード10の切削にかえて、エッチングにより研削仕上げ厚みに至らない深さの複数の溝を形成するようにしてもよい。
溝形成ステップが終了すると、これらの溝12中に目立て材を充填する充填ステップを実施する。この目立て材充填ステップは、例えばグリーンカーボランダム(GC)、ホワイトアランダム(WA)、ガラス等を含むモールド樹脂を溝12中に充填することにより実施する。図5は溝12中に目立て材14が充填された状態の光デバイスウエーハ11の裏面側斜視図を示している。
目立て材14の充填が終了したならば、図6にその概略を示すような研削装置16による光デバイスウエーハ11の研削ステップを実施する。研削装置16はチャックテーブル18と、研削ユニット20を備えている。
研削ユニット20は、スピンドルハウジング22と、スピンドルハウジング22中に回転可能に収容されたスピンドル24と、スピンドル24の先端に固定されたホイールマウント26と、ホイールマウント26に着脱可能に装着された研削ホイール28と、スピンドル24を回転駆動するモータ34から構成される。研削ホイール28は、ホイール基台30と、ホイール基台30の自由端部に固着された複数の研削砥石32とを含んでいる。
光デバイスウエーハ11の裏面の研削を実施するには、チャックテーブル18を矢印A方向に例えば500rpmで回転しつつ、研削ホイール28を矢印B方向に例えば800rpmで回転させるとともに、研削ホイール28の研削砥石32を光デバイスウエーハ11の裏面に接触させる。そして、研削ホイール28を所定の研削送り速度で下方に所定量研削送りして、光デバイスウエーハ11を図6(B)に示す研削仕上げ厚みtに仕上げる。
本実施形態の研削方法では、溝12中に充填された目立て材14と光デバイスウエーハ11が同時に研削されるため、研削中に目立て材14によって研削砥石32の自生発刃(古い砥粒が脱落して新たな砥粒が表出すること)が促される。
よって、研削中の研削砥石32は常に新たな砥粒が表出しているため、光デバイスウエーハ11の被研削面に焼け等を引き起こすことが防止され、焼け等に起因する光デバイスウエーハ11の損傷を防止することができる。
上述した実施形態では、被研削物はサファイア基板から構成されているが、本発明の研削方法はこれに限定されるものではなく、SiC、石英ガラス、金属等の被研削物にも同様に適用可能である。
2 研削装置
4 チャックテーブル
6 研削ユニット
10 切削ブレード
11 光デバイスウエーハ
12 溝
14 目立て材
15 光デバイス
16 研削装置
18 チャックテーブル
20 研削ユニット
23 保護テープ
28 研削ホイール
32 研削砥石

Claims (3)

  1. 被研削物を研削する研削方法であって、
    被研削物の被研削面に研削仕上げ厚みに至らない深さの複数の溝を形成する溝形成ステップと、
    該溝中に目立て材を充填する充填ステップと、
    砥石を含む研削手段で該被研削面を該目立て材ごと研削して、該研削仕上げ厚みまで被研削物を薄化する研削ステップと、
    を具備したことを特徴とする研削方法。
  2. 前記溝形成ステップでは、切削ブレードによる切削、又はエッチングによって前記溝が形成される請求項1記載の研削方法。
  3. 前記被研削物は、サファイア、SiC、石英ガラス及び金属からなる群から選択される請求項1又は2記載の研削方法。
JP2009205421A 2009-09-07 2009-09-07 研削方法 Active JP5357672B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009205421A JP5357672B2 (ja) 2009-09-07 2009-09-07 研削方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009205421A JP5357672B2 (ja) 2009-09-07 2009-09-07 研削方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011056587A true JP2011056587A (ja) 2011-03-24
JP5357672B2 JP5357672B2 (ja) 2013-12-04

Family

ID=43944842

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009205421A Active JP5357672B2 (ja) 2009-09-07 2009-09-07 研削方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5357672B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015046525A (ja) * 2013-08-29 2015-03-12 株式会社ディスコ 被加工物の分割方法
CN113396030A (zh) * 2018-12-27 2021-09-14 胜高股份有限公司 两头磨削方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6427859A (en) * 1987-07-23 1989-01-30 Kyowa Electronic Instruments Method for grinding hard and brittle material
JPH0435868A (ja) * 1990-05-31 1992-02-06 Mitsubishi Materials Corp 岩石試片の研摩方法
JPH0825198A (ja) * 1994-07-21 1996-01-30 Akai Electric Co Ltd 磁気ヘッドにおけるギャップ対向面の鏡面研磨方法及び平面研削盤
JP2002305168A (ja) * 1995-09-13 2002-10-18 Hitachi Ltd 研磨方法及び研磨装置および半導体装置の製造方法
JP2002307306A (ja) * 2001-04-19 2002-10-23 Topcon Corp 研削砥石のドレッシング方法
JP2005125420A (ja) * 2003-10-21 2005-05-19 Nippon Electric Glass Co Ltd 連続研磨装置の研磨具のドレッシング方法
JP2009045728A (ja) * 2007-07-20 2009-03-05 Fujitsu Ltd 研磨方法及び半導体装置の製造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6427859A (en) * 1987-07-23 1989-01-30 Kyowa Electronic Instruments Method for grinding hard and brittle material
JPH0435868A (ja) * 1990-05-31 1992-02-06 Mitsubishi Materials Corp 岩石試片の研摩方法
JPH0825198A (ja) * 1994-07-21 1996-01-30 Akai Electric Co Ltd 磁気ヘッドにおけるギャップ対向面の鏡面研磨方法及び平面研削盤
JP2002305168A (ja) * 1995-09-13 2002-10-18 Hitachi Ltd 研磨方法及び研磨装置および半導体装置の製造方法
JP2002307306A (ja) * 2001-04-19 2002-10-23 Topcon Corp 研削砥石のドレッシング方法
JP2005125420A (ja) * 2003-10-21 2005-05-19 Nippon Electric Glass Co Ltd 連続研磨装置の研磨具のドレッシング方法
JP2009045728A (ja) * 2007-07-20 2009-03-05 Fujitsu Ltd 研磨方法及び半導体装置の製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015046525A (ja) * 2013-08-29 2015-03-12 株式会社ディスコ 被加工物の分割方法
CN113396030A (zh) * 2018-12-27 2021-09-14 胜高股份有限公司 两头磨削方法
CN113396030B (zh) * 2018-12-27 2023-07-21 胜高股份有限公司 两头磨削方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5357672B2 (ja) 2013-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102163441B1 (ko) 웨이퍼의 가공 방법
US9768049B2 (en) Support plate and method for forming support plate
JP6013858B2 (ja) ウェーハの加工方法
TWI647771B (zh) Device wafer evaluation method
JP2013247135A (ja) ウエーハの加工方法
JP5443192B2 (ja) サファイア基板の加工方法
JP2018075694A (ja) 基板の製造方法
JP5498857B2 (ja) ウェーハの加工方法
CN110875173A (zh) SiC基板的加工方法
JP2012056013A (ja) 研削ホイール
CN110828361B (zh) 光器件晶片的加工方法
JP2013086246A (ja) サファイア基板の研削方法
JP5357672B2 (ja) 研削方法
CN110571131B (zh) 倒角加工方法
KR20110063293A (ko) 웨이퍼 가공 방법
JP2017213613A (ja) ドレッサーボード及びドレス方法
JP2011124260A (ja) ウエーハの加工方法
JP6045426B2 (ja) ウェーハの転写方法および表面保護部材
JP2011124265A (ja) ウエーハの加工方法
JP5841738B2 (ja) ウェーハの研削方法
JP5934491B2 (ja) サファイア基板の研削方法
JP5860216B2 (ja) ウエーハの面取り部除去方法
JP6196846B2 (ja) 被加工物の分割方法
JP5553585B2 (ja) ウエーハの加工方法
JP2014003198A (ja) ウエーハの加工方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120813

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130827

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130830

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130830

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5357672

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250