JP2010516067A - 省部品デジタル−アナログデコーダおよびその方法 - Google Patents

省部品デジタル−アナログデコーダおよびその方法 Download PDF

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Abstract

従来のCMOSスイッチの代わりにP型トランジスタスイッチとN型トランジスタスイッチを使用して、nビットD/Aデコーダが形成される。各P型スイッチとN型スイッチは、CMOSスイッチの形成に使用するよりもトランジスタ数を減らして形成することができ、総トランジスタ数が削減される。前記デコーダは、デジタル値を、非線形ガンマ補正されたアナログ出力電圧にデコードするために使用することができる。

Description

本発明は、一般に、デジタル−アナログ(D/A)コンバータに関し、より詳細には、LCD/LEDまたは同様のディスプレイアレイ用のドライバで使用することができるP型デコーダおよびN型デコーダを利用したデジタル/アナログデコーダに関する。
D/Aコンバータ/デコーダは、最新の電子機器においてさまざまな用途を有する。通常、D/Aコンバータは、デジタル入力に対応するアナログ出力を供給する。
最新のディスプレイの表示素子は、例えば、通常は液晶、発光ダイオード(LED)、有機発光ダイオード(OLED)、プラズマセル等、表面伝導型電子放出素子ディスプレイ(SED)の形で、放射素子の二次元のアレイとして形成される。放射素子は、二次元のアレイに配置される。各素子はアレイ内で1ピクセルを表しており、1つ以上の能動素子を有しうる。例えば、カラー液晶ディスプレイ(LCD)は、通常は1画素につき、それぞれが画素の1色成分を表している結晶を少なくとも3つ有する。3つの結晶は、バックライトと組み合わされて、任意の色の画素の表示に使用できる放射素子を形成している。
各ディスプレイが多くの個々の表示素子から形成されているため、適切な駆動回路が必要となる。各表示素子は、通常、3色の発光成分によって形成されているため、駆動回路は、通常、各画素に対して3つの別個の駆動素子を有する。駆動回路は、通常、複数のD/Aコンバータを有し、そのそれぞれが、個々の表示素子を駆動するための適切なアナログの駆動電圧または電流を出力するのに使用されるデジタルデコーダを有する。代表的なD/Aデコーダは、デコード対象のデジタル値に応じて選択される出力アナログ電圧を供給するために、多数のトランジスタスイッチを使用して形成されている。このような設計の1つは相補型金属酸化膜(CMOS)スイッチを使用しており、1つのスイッチにつき少なくとも2つのトランジスタが必要となる。
最新のディスプレイは、従来のCRTディスプレイに比べて遙かに薄型かつ軽量であるため、これらは、小型化されて、テレビジョン、コンピュータモニタ、およびデジタルメディアプレーヤ、携帯電話、PDA、MP3プレーヤ等の携帯が容易な装置などのさまざまな電子装置に組み込まれることがある。トランジスタ数を減らせば消費電力を低減できるため、このような装置でトランジスタ数を減らすことが望ましい。
更に一般化すると、トランジスタ数の少ない集積回路、およびこのような集積回路の機能ブロックは、電力消費が少なく、専有面積が少なくなるように製造することができる。
したがって、電子部品の数を減らしたデジタル−アナログデコーダが望ましい。
本発明の一態様によれば、従来のCMOSスイッチの代わりにP型トランジスタスイッチとN型トランジスタスイッチを使用して、nビットD/Aデコーダが形成される。各P型スイッチとN型スイッチは、CMOSスイッチの形成に使用するよりもトランジスタ数を減らして形成することができ、総トランジスタ数が削減される。
一実施形態では、nビットD/Aデコーダは、第1のしきい値よりも高い出力電圧を供給するためのpチャネル金属酸化膜シリコントランジスタ(PMOS)などのP型トランジスタを使用して形成されたn−1ビットデコーダと、第2のしきい値よりも低い出力電圧を供給するnチャネル金属酸化膜シリコントランジスタ(NMOS)などのN型トランジスタを使用して形成されたn−1ビットデコーダを有する。前記第2のしきい値は前記第1のしきい値よりも高い値であってもよい。前記PMOSデコーダと前記NMOSデコーダに、デコーダ入力のn−1ビットが供給される。前記デコーダの残りのビットによって制御されているスイッチが、デコーダ出力を、前記PMOSデコーダまたは前記NMOSデコーダのいずれかから選択する。前記NMOSデコーダおよび前記PMOSデコーダへのアナログ入力は、前記しきい値よりも高くかつしきい値よりも低い値に選択され、この結果、PMOSスイッチのみを使用して前記PMOSデコーダを、NMOSスイッチのみを使用して前記NMOSデコーダをそれぞれ形成することができる。CMOSスイッチと比較して、トランジスタ数が大幅に削減される。
任意選択で、前記第2のしきい値よりも大きなアナログ電圧を生成するデジタル値が前記NMOSデコーダによってデコードされ、前記第1のしきい値よりも低いアナログ電圧を生成するデジタル値が前記PMOSデコーダによってデコードされるように保証するために、デコード対象のnビットの入力が条件付け(すなわち操作)されてもよい。前記第2としきい値間(between the second and the threshold)の電圧は、前記NMOSデコーダまたは前記PMOSデコーダによってデコードされうる。一実施形態では、D/Aデコーダは、任意のデジタル入力に対して、交互のクロックサイクルで、前記第1のしきい値よりも高い値と、前記第2のしきい値よりも低い値とを出力する。入力デジタルデータは、この1つおきのクロックサイクルで、インバータによって条件付けされる。任意選択で、異なる(が同じ極性の)アナログ電圧が、1つおきのサイクルで前記D/Aデコーダに供給される。
本発明の一態様によれば、nビットのデジタル入力信号をアナログ出力信号に変換する方法が提供され、前記方法は、複数のp型トランジスタスイッチを使用して、前記nビットのデジタル入力信号に応じて、第1のしきい値よりも高いアナログ電圧から第1のアナログ電圧を選択するステップと、複数のn型トランジスタスイッチを使用して、前記nビットのデジタル入力信号に応じて、前記第1のしきい値よりも高い第2のしきい値よりも低いアナログ電圧から第2のアナログ電圧を選択するステップと、前記nビットのデジタル入力信号に応じて、前記第1のアナログ電圧および前記第2のアナログ電圧の一方を前記アナログ出力として選択するステップとを有する。
本発明の別の態様によれば、デジタル値をアナログ出力信号に変換する方法が提供され、前記方法は、前記デジタル値をnビットとして受け取るステップと、しきい値電圧よりも高い値のアナログPMOSデコーダ出力信号を供給するために、n−1ビットPMOSデコーダを使用して前記ビットのn−1をデコードするステップと、前記しきい値よりも低い値を有するNMOSデコーダ出力信号を供給するために、n−1ビットNMOSデコーダを使用して前記ビットのn−1をデコードするステップと、前記アナログ出力信号を供給するために、前記NMOSデコーダ出力信号および前記PMOSデコーダ出力信号の一方を選択するステップとを有する。
本発明の別の態様によれば、デジタル−アナログデコーダが提供され、前記デジタル−アナログデコーダは、nビットのデジタル入力を受け取るためのn個の入力と、しきい値電圧よりも高い値のアナログPMOSデコーダ出力信号を供給するために、前記デジタル入力のn−1をデコードするn−1ビットPMOSデコーダと、前記しきい値電圧よりも低い値のアナログNMOSデコーダ出力信号を供給するために、前記デジタル入力のn−1をデコードするn−1ビットNMOSデコーダと、
前記アナログ出力信号を供給するために、前記NMOSデコーダ出力信号および前記PMOSデコーダ出力信号の一方を選択するセレクタと、を有する。
本発明の別の態様によれば、p型トランジスタスイッチおよびn型トランジスタスイッチを有するデジタル−アナログデコーダが提供され、前記デジタル−アナログデコーダは、nビットのデジタル入力を受け取るためのn個の入力と、前記nビットのデジタル入力信号に応じて、第1のしきい値よりも高いアナログ電圧から第1のアナログ電圧を選択するための複数のp型トランジスタスイッチと、前記nビットのデジタル入力信号に応じて、前記第1のしきい値よりも高い第2のしきい値よりも低いアナログ電圧から第1のアナログ電圧を選択するための複数のn型トランジスタスイッチと、前記アナログ出力信号を供給するために、前記第1のアナログ電圧と第2のアナログ電圧の一方を選択するためのセレクタとを有する。
本発明のほかの態様および特徴は、添付の図面を参照して、以下の本発明の特定の実施形態の説明を検討すれば、当業者にとって明らかとなるであろう。
図面において、本発明の実施形態を、例示のみを目的として図示する。
二次元のアレイに配置されたLCD素子を有するディスプレイの模式図。 図1のディスプレイを駆動するための従来のLCDドライバのブロック図。 図2のLCDドライバに使用されている従来のnビットD/Aデコーダのブロック図。 図3のD/AデコーダのCMOSトランジスタスイッチの概略図。 図3のnビットデコーダにmレベルのガンマ補正を行い、2のアナログ電圧レベルを供給するために使用される抵抗回路網の概略図。 本発明の実施態様を例示するnビットD/Aデコーダのブロック図。 図6のデコーダのNMOSトランジスタスイッチの概略図。 図6のデコーダのPMOSトランジスタスイッチの概略図。 図4,7,8のトランジスタスイッチを作動させるためのしきい値電圧を示す図。 本発明の実施態様を例示する、図1のディスプレイと同様のディスプレイを駆動するためのLCDドライバの一部の概略ブロック図。 本発明の別の実施態様を例示する更に別のnビットD/Aデコーダのブロック図。 図10のD/Aデコーダで使用されるデータビット用の制御ロジックの概略ブロック図。 本発明の実施態様を例示する、代替のD/Aデコーダの概略ブロック図。 本発明の実施態様を例示する、代替のD/Aデコーダの概略ブロック図。
図1は、液晶表示(LCD)パネルの形をとることができる従来のディスプレイ10の部分概略図である。図に示すように、それぞれ薄膜トランジスタ(TFT)14と液晶16を備えた複数の放射素子12が、二次元のアレイ18に構成されている。本例の実施形態では、アレイ18のサイズはq×rである。本例のトランジスタ14は、電界効果トランジスタ(FET)である。アレイ18の1列内でそれぞれ素子12を形成しているトランジスタのソース線(SO)が相互接続されている。同様に、1行内のトランジスタのゲート線(GO)が相互接続されている。各トランジスタは、相互接続された液晶16の配向を変更して、結晶を透過する特定の色の光の量を変化させるために使用される。より詳細には、現在アクティブになっている(active)行のソース線(SO)のアナログ電圧が、関連する液晶16の状態を変える。行は、その行に共通のゲート線(GO)をアサートすることによってアクティブになる。液晶16は、自身の固有キャパシタンスCIcおよび記憶キャパシタCstにより、ある限られた期間、その変更された状態を保持する。必要に応じて、液晶16がその状態を保持する時間を延長するために、Cstは、更に液晶16と並列に接続されている。上で説明したように、表示画素は、通常、近くの3つの液晶によって形成されており、そのそれぞれは、各素子が発する赤、緑、青の光の量を制御している。
ドライバ20は、図2に示すように、ディスプレイ10の1行内のq本のソース線(SO)のすべてを同時に駆動するのに使用されうる。図に示すように、駆動回路20は、q個のnビットロードレジスタ24を有し、そのおのおのは、サンプリングレジスタ(不図示)から、二次元画像の行にある画素を表しているデータ要素を受け取る。各nビットロードレジスタ24は、nビットレベルシフタ26に出力を供給し、nビットレベルシフタ26は、nビットデコーダ32と、バッファとして機能するオペアンプ28を有するデジタル−アナログコンバータ30に出力する。レベルシフタ26は、レジスタ24の信号のデジタル電圧レベルを、nビットデコーダ32と互換のレベルにシフトする。nビットデコーダ32は、nビット入力の値に対応するV〜V −1の範囲のアナログ出力信号を出力する。明らかなように、V〜V −1は、非線形ガンマ補正された基準電圧を供給するために選択されうる。ガンマ補正は、一般に、インターネット上でwww.povnton.com/GammFAQ.htmlから入手可能なCharles Poynton’s Gamma FAQに記載されており、同文献の内容を参照により本明細書に援用する。
オペアンプ28は、バッファとして機能し、アレイ18の相互接続されたソース線(SO)を駆動するために使用される分離された(isolated)アナログ信号を供給する。各出力に関連するスイッチ34は、アナログ出力がソース線に供給されるタイミングを制御する。ゲートドライバ40は、アレイ18の各行に関連するゲート線(GO)をアサートすることができ、行セレクタとして機能する。ゲート線は所定の電圧を印加することによってアサートされ、これにより、関連する行のFETのソースからドレインに電流が流れるようになる。このように、ゲートドライバ40は、r個の出力を有し、そのおのおのは、アクティブ時に、アレイ28の相互接続されたゲート線(GO)を駆動するための固定の出力を供給する。ゲートドライバ40はクロック入力(ROW_CLK)によって制御されている。ROW_CLKのエッジで、アサートされているゲートドライバ40のr個の出力が先に進む(that is asseted advances)。
動作時に、ゲートドライバ40は、1つの行のゲート線GOをアサートする(図1参照)。ディスプレイ10に表現しようとしている画像の、q個のデータ要素を有する対応する行が、メモリ(不図示)から読み出され、ロードレジスタ22に供給される。nビットレベルシフタ26は、ロードレジスタ22内のデータをシフトして、シフトされたデータをnビットデコーダ32に供給し、nビットデコーダ32は、オペアンプ28を駆動して、特定の行に存在する全てのソース線(ソース線SO〜SO)に対して、ソース線を駆動するアナログ出力(D/A〜D/A)を供給する。データの行が現在アサートされている列のソース線(SO〜SO)に供給されると、q個の新しいサンプルが、ロードレジスタ22に供給され、ロードレジスタ22は、アサートされているゲート線が先に進み、スイッチ34が再びアクティブになってから、表示素子の次の行を駆動する。上で説明した動作がディスプレイの全行について繰り返される。
各液晶16に関連するキャパシタンスCICおよびCstにより、各表示素子12は自身の状態を保持し、アレイ18の残るr−1行の素子は(すなわち、ROW_CLKの約rサイクルに)デジタル−アナログコンバータ30によってリフレッシュされる。理解されるように、ドライバ20は、行内の各表示素子について、nビットレベルシフタ、nビットデコーダおよびオペアンプを有する。このため、ドライバ20は、q列(すなわちq×r)のディスプレイを駆動するためには、このようなレベルシフタ、デコーダおよびオペアンプをq個有する。
図3は、図1のディスプレイ10の素子12などの表示素子の駆動に用いられうる従来のnビットデジタル−アナログデコーダ32を示す。図に示すように、D/Aデコーダ32は、入力I,I,…,
Figure 2010516067
において、nビットのデジタル入力D(D,D,D,…,Dn−1)と2のアナログ入力を受ける。デコーダ32は、2(2−1)のアナログスイッチ54を有し、これがn個の列に配列されている。各スイッチ54は、アナログ入力(IN)と出力(OUT)を有する。制御入力(CON)およびその逆制御入力(BCON)が、INPUTでの信号をその出力に与えるかどうかを制御する。各列内の隣接するアナログスイッチ54(例えばスイッチ54a,54b)は、制御入力CONとBCONが相補的に相互接続されており(スイッチ54aの制御入力CONがスイッチ54bの逆制御入力に接続されている)、その出力が並列に接続されている。このようにして、2つの隣接するスイッチ(例えばスイッチ54a,54b)がセレクタとして機能し、出力OUTに与えられる信号が、2つのトランジスタスイッチの一方の入力にある信号となる。例えば、スイッチ54a,54bの制御入力CON(およびその逆のBCON)に応じて、スイッチ54aに供給されるIまたはスイッチ54bに供給されるIのいずれかが、スイッチ54a,54bのセレクタの出力に与えられる。
nビットデジタルデータDの1ビット(D,D,…,Dn−1)を受け取るために、各列の1つおきのトランジスタスイッチ54の制御入力(CON)が相互接続されうる。nビットデジタルデータBDのビット補数の1ビット(BD,BD,BDn−1)を受け取るために、各列の残りのトランジスタスイッチ54の制御入力(CON)が相互接続されうる。BDは、適切なnビットインバータ(不図示)を使用して作成することができる。
ある列内の4つのスイッチ54の出力が、次の列の2つのスイッチ54に入力を供給しており、セレクタとして機能する。このようにして、n個の制御入力によって、デコーダ32のD/Aコンバータ出力D/Aoutにおいて、入力
Figure 2010516067
に与えられた2個の入力電圧
Figure 2010516067
のいずれか1つが選択される。
各スイッチ54が2つの相補的な制御入力(CONおよびBCON)によって制御されるため、制御入力CON=1(V)およびBCON=0(V)の場合にスイッチ54がオンになり、制御入力CON=0(V)およびBCON=1(V)の場合にスイッチ54がオフになる。電圧VとVLは、それぞれ、ハイとローの論理レベルを表している。例えば、Vは電源電圧であり、Vはグラウンドなどである。
各スイッチ54はトランジスタスイッチとして作製されうる。一般に、このようなトランジスタスイッチは、金属酸化膜半導体(MOS)トランジスタを使用して作製される。スイッチ54として使用される適切なMOSスイッチが、図4に示されている。図に示すように、各スイッチ54は2つのMOSトランジスタ56,58を有し、そのうちの1つはP−チャネルMOS(PMOS)トランジスタ56であり、もう1つはN−チャネルMOS(NMOS)トランジスタ58であり、各トランジスタ56,58のソースが、もう一方のトランジスタ56,58のドレインに接続され、背中合わせ(back to back)に配置されている。このようなトランジスタ相互接続は、相補型金属酸化膜((CMOS)スイッチ54を提供する。CMOSおよび他のMOSトランジスタスイッチは、CMOS Analog Design,P. E. Allen, et al.,Oxford University Press,米国;第2版(2002年1月15日)に詳しく説明されており、その内容が参照により本明細書に援用される。
CMOSスイッチ54は、スイッチ54の正常動作範囲内で、入力(ゲート)電圧を制御するためのスイッチ入力(ソース)に制限がないことを保証するために使用される。詳細には、当業者が理解しているように、スイッチとして接続されているPMOSトランジスタ58は、ゲート−ソース電圧が所定の電圧(VTP)よりも低い場合にのみ完全に導通となる。(すなわちVGS<VTP、拡張PMOS(for enhancement PMOS):VTP<0)。V=Vの場合、導通となるにはソース電圧が第1のしきい値を越えていなければならない。すなわち、V>V+|VTP|。NMOSトランジスタ(スイッチとして接続される)は、ゲート−ソース電圧が所定の電圧(VTP)よりも高い場合にのみ完全に導通となる(すなわちVGS>VTN、拡張NMOS(for enhancement NMOS):VTN>0)。V=Vの場合、ソース電圧が第2のしきい値よりも低くなければならない。すなわち、V<V−VTN。NMOSトランジスタおよびPMOSトランジスタ56,58をソース−ドレイン間で接続することにより、VCON=VおよびVBCON=Vが、NMOSトランジスタおよびPMOSトランジスタ56,58のゲートに印加されたときに、2つのトランジスタ56,58の少なくとも一方が、VIN=V〜Vの全入力範囲に対して導通となることが保証される。特に、第2のしきい値電圧V=V−VTNは、通常、第1のしきい値電圧V=V+|VTP|よりも高い(またはこれと等しい)ため、トランジスタ56,58の動作電圧が重複する範囲が生まれる可能性がある。しきい値電圧V=V−VTNおよびV=V+|VTP|と、VおよびVとの関係を図9に示す。
個々のスイッチ54の電圧に対する制約がないため、スイッチ54の正常動作電圧範囲内(例えば、V〜V)で、デコーダ32(図3)の電圧入力
Figure 2010516067
に対する制約もない。しかし、スイッチ54はそれぞれ2つのトランジスタ56,58を必要とするため、nビットデコーダ32は、通常、少なくとも4(2−1)個のトランジスタを必要とする。このため、6ビットD/Aコンバータ/デコーダでは、デコーダ32などのD/Aデコーダを形成するために合計で少なくとも252個のトランジスタが使用される。実際、以下で詳しく説明するように、デコーダ32の省面積設計では、通常は、この数よりも多くのトランジスタが必要となる。
図6に示すように、本発明の一実施形態を例示するD/Aデコーダ100は、主にP型(例えばPMOS)トランジスタスイッチ102とN形(例えばNMOS)トランジスタスイッチ104によって形成される。図6のデコーダのNMOSトランジスタスイッチとPMOSトランジスタスイッチが、図7と図8にそれぞれ示されている。図9に示すように、PMOSトランジスタスイッチ102は、第1のしきい値(V=V+|VTP|)と等しいかこれよりも高い値の電圧しか切り替えることができず、NMOSトランジスタスイッチ102は、スイッチ電圧が第2のしきい値(V=V−VTN)よりも低い値の電圧しか切り替えることができない。
図6に示すように、PMOSスイッチ102は、V+|VTP|よりも高いレベルのアナログ入力
Figure 2010516067
に対して機能する2n−1ビットPMOS D/Aデコーダ120を形成している。同様に、NMOSスイッチ104は、V−VTNよりもレベルが低いアナログ入力
Figure 2010516067
に対して機能する2n−1ビットNMOS D/Aデコーダ122を形成している。デコーダ120の出力とデコーダ122の出力は、PMOSスイッチ124とNMOSスイッチ126で形成されたセレクタを使用して結合されうる。
明らかなように、D/Aデコーダ100は、V+|VTP|よりも高い2n−1のアナログ出力電圧(2n−1の一意のデジタル入力に対応する)、およびV−VTNよりも低い2n−1のアナログ電圧(残りの2n−1の一意のデジタル入力に対応する)を供給するのに最も適している。V+|VTP|よりも高い入力電圧はPMOSデコーダ120によってデコードされ、V−VTNよりも低い電圧はNMOSデコーダ122によってデコードされうる。
LCD表示素子12の焼付きを防止するために、各液晶に印加される電圧が定期的に変更される。すなわち、同じ入力デジタルデータDに対して、ソース線出力のレベルを変えて液晶16を充電する必要がある。このために、デジタル値Dに対して、2つの電圧のいずれを印加するかが極性制御信号POL_CLKによって制御されうる。例えば、必要に応じて、POL_CLK=0の場合、ソース線出力V(D)および全素子12の共通電極がVCOM=VCOMLにセットされ、POL_CLK=1の場合、ソース線出力V(D)および全素子12の共通電極がVCOM=VCOMHにセットされ、このとき、V(D)−VCOML=VCOMH−V(D)である。
従来のLCDドライバ(図3)の場合は、一般に、図5に示すように、ガンマ補正された入力電圧の組{V GAMMA}={V GAMMA1,V GAMMA2,…,V GAMMAm}または{V GAMMA}={V GAMMA1,V GAMMA2,…,V GAMMAm}を抵抗回路網62に印加することによって、D/Aデコーダ32を使用して、電圧
Figure 2010516067
がディスプレイに供給される。複数の抵抗64は、回路網62内で、
Figure 2010516067
をデコーダ32に供給するための分圧器として機能する。ガンマ補正された2組の入力電圧{V GAMMA}または{V GAMMA}が供給され、この結果、値が振動する(oscillating)電圧
Figure 2010516067
が素子12の各結晶16(図1)に印加されうる。
印加電圧の電圧は、極性クロック信号(POL_CLK)のレベルに応じて振動する。詳細には、POL_CLK=0の場合{V GAMMA}が印加され、POL_CLK=1の場合{V GAMMA}が印加される。このため、コンバータ52の入力D〜DN−1(D)に印加される各デジタル値は、D/AOUTにおいて、特定の極性クロックサイクルに応じて2種類の異なる電圧V(D)/V(D)を生成しうる。留意点として、各V/V対は同じ色/強度に対応しているため、V GAMMA1>V GAMMA2,…,>V GAMMAm、かつV GAMMA1<V GAMMA2,…,<V GAMMAmである。V GAMMAmとV GAMMAmには、V GAMMAm+VCOML=VCOMH−V GAMMAmという関係がある。図の実施形態では、V GAMMAj+VCOML=VCOMH−V GAMMAjである。{V GAMMA}と{V GAMMA}の値を変更することで、V(D)−VCOML=VCOMH−V(D)により、D/Aコンバータの非線形性が調整される。
このため、D/Aデコーダ100は、ディスプレイ10の駆動に使用する一部のアナログ電圧を生成するのに非常に適しており、当業者が理解する他の多くの用途も有することができる。しかし、上で説明したように、従来のLCD配列を駆動するために、各データ入力Dは、現在の極性クロック(POL_CLK)サイクルに応じて、2つの異なる電圧に対応している。このため、デコーダ100を、デコーダ32の代用として使用することはできない。
すなわち、入力
Figure 2010516067
に印加する電圧はVL+|VTP|よりも高くなければならず、入力
Figure 2010516067
に印加する電圧はVH−VTNよりも低くなければならないため、図5の回路網62を使用して、図3のデコーダ32に単に電圧V/Vを印加するだけでは正常に動作しない。
したがって、本発明の実施形態の例示では、デコーダ100の入力
Figure 2010516067
において
Figure 2010516067
を生成するために、V GAMMA1>V GAMMA2,…,>V GAMMAmおよびV GAMMA1>V GAMMA2,…,>V GAMMAmを満たす{V GAMMA}={V GAMMA1,V GAMMA2,…,V GAMMAm}または{V GAMMA}={V GAMMA1,V GAMMA2,…,V GAMMAm}が選択され、極性クロック(POL_CLK)の交互のサイクルにおいて抵抗器ラダーに印加される。同時に、必要に応じて、VL+|VTP|よりも高い出力電圧を供給するデジタル入力がPMOSデコーダ120によって常にデコードされ、VH−VTNよりも低い出力電圧を供給するデジタル入力がNMOSデコーダ122によってデコードされるように保証するために、データがクロック130の交代極性クロックサイクルにおいて条件付けされてもよい。
図の実施形態では、組{VGAMMA}と{VGAMMA}を切り替えるための論理を有する回路150が、図10に示される。図に示すように、m個のマルチプレクサ152は、{VGAMMA}または{VGAMMA}の電圧を選択して、これらを抵抗回路網154(図5の抵抗回路網60と同様)のm個の入力に供給するために使用されており、分圧器として機能する。回路網154は、組
Figure 2010516067
をデコーダ100のアナログ入力
Figure 2010516067
にそれぞれ供給する。
更に別のマルチプレクサ156が、Dかそのビット補数
Figure 2010516067
(インバータ158によって出力される)かを選択し、これを、(図2のロードレジスタ24およびレベルシフタ26のなどの、サンプリングレジスタ、ロードレジスタおよびレベルシフタによって)コンバータ100のデジタル入力に供給する。マルチプレクサ152,156は、極性クロック信号POL_CLKをクロック供給される。
POL_CLK=0の場合、マルチプレクサ152は、{V GAMMA}を自身の出力として選択し、
Figure 2010516067
を自身の出力として選択し、その結果、デコーダ100のデータビット入力が
Figure 2010516067
となり、デコーダ100のアナログ入力
Figure 2010516067
として
Figure 2010516067
となる。POL_CLK=1の場合、マルチプレクサ152は、{V- GAMMA}を自身の出力として選択し、Dを自身の出力として選択し、その結果、デコーダ100のデータビット入力がDとなり、
Figure 2010516067
として
Figure 2010516067
となる。このため、入力データDについて、POL_CLK=0の場合、デコーダの出力はV であり、このとき、m=
Figure 2010516067
およびVCOM=VCOMLであり、POL_CLK=1の場合、デコーダの出力はV であり、このとき、m=DおよびVCOM=VCOMHである。このため、
Figure 2010516067
であっても、V(D)−VCOML=VCOMH−V(D)を実現しうる。このようにして、データDのビットを反転させることによって、VL+VTPよりも高い出力電圧(組{V GAMMA}または{V GAMMA}に対する)をデコーダ120によって切り替えることができ、VH−VTNよりも低い出力電圧をデコーダ122によって切り替えることができる。
実際、VL+|VTP|よりも高く、VH−VTNよりも低い電圧は、範囲が重複している(図9に示す)。VL〜VHのアナログ出力範囲に対する0〜2−1の範囲のデジタルデータをデコードするために、2組のアナログ入力電圧が、PMOSデコーダの入力とNMOSデコーダの入力に供給され、VH−VTNよりも高い出力電圧を供給するデジタル入力がPMOSデコーダ120によって常にデコードされ、VL+|VTP|よりも低い出力電圧を供給するデジタル入力がNMOSデコーダ122によって常にデコードされ、VL+|VTP|とVH−VTNの間の出力電圧を供給するデジタル入力が、PMOSデコーダ120またはNMOSデコーダ122によってデコードされることが保証される。
回路網60(または回路網154)の電圧出力が、図5に更に示される。図に示すように、回路網154のi番目の出力は、組{V GAMMA}の印加後は、POL_CLK=0の正サイクルに対応するアナログ電圧V であり、組{V GAMMA}の印加後は、ラダー154のi番目の出力は、POL_CLK=1の負サイクルに対応するアナログ電圧V に対応する。{V GAMMA}と{V GAMMA}は、ガンマ曲線に対応する、固有のガンマ補正された非線形デジタル−アナログ変換のための基準レベルであり、特定のディスプレイに適合させるために選択されうる。
理解されるように、上で説明したデコーダは、開示のディスプレイドライバ、他のディスプレイドライバ、非線形デジタル−アナログ変換を含むデジタル−アナログ変換を必要とする他の回路/デバイスなど、多くの用途を有する。他の適切な動作しきい値電圧およびVTP値,VTN値によって動作するコンバータを容易に作製することができる。
PMOSデコーダまたはNMOSデコーダを未使用時に効果的にパワーダウンすることによって、電力消費が少なくなるように更にデコーダ100を変更してもよい。図11は、N型D/Aデコーダ120’(デコーダ120と同様)の第1列にあるスイッチ102’、またはP型デコーダ122’(デコーダ122と同様)にある第1列のスイッチ104’のすべてを、1つ以上の追加の制御入力を使用してオフにできる変更例のデコーダ100’を示す。詳細には、N型デコーダ120’およびP型デコーダ122’の第1列にあるスイッチ102’を制御するために、ビットD0(およびその補数(BD0))を使用する代わりに、4つの制御入力D00,D01、D02およびD04が使用される。制御入力D00およびD01はN型デコーダ120’の制御に使用され、制御入力D02およびD03はP型デコーダ122’の制御に使用される。制御入力D00およびD01は、N型デコーダ120’の第1列にあるトランジスタ102’のシャットオフに、またはアナログ電圧の切り替えに使用することができ、便利である。同様に、制御入力D02およびD03は、P型デコーダ122’の第1列にあるトランジスタ104‘のシャットオフに、またはアナログ電圧の切り替えに使用することができる。このため、制御入力D00,D01は、デコーダ120’を実質的にパワーダウンするために使用され、制御入力D02,D03は、デコーダ122’を実質的にパワーダウンするために使用されうる。各デコーダ102’,104’の第1列にあるトランジスタ102’は、デコード中のデータDの最上位ビット(MSB)に応じてシャットオフでき、便利である。このようにして、現在使用されていないn−1ビットデコーダ120’または122’が効果的にシャットダウンされる。シャットオフされたデコーダ120’または122’の入力における印加電圧と関連する電流が、適宜、トランジスタ102’または104’の第1列を越えて伝達されることはない。
データDのMSBおよび最下位ビット(LSB)をデコードするために使用されうる論理回路160が図12に示されており、これは、その後、制御入力D01、D02,D03およびD04の駆動に使用されうる。表1に示すLSB、DOおよびMSB、Dn−1をデコードするために、図に示すように、2つのNANDゲート162,164、2つのNORゲート166,168および3つのインバータ170,172,174が設けられている。
Figure 2010516067
例に示したデコーダ100および100’は、2+2+,…,+2個のトランジスタスイッチを有する。多くの他のスイッチ/列の構成も可能である。例えば、面積を節約し、トランジスタのファンアウトを減らし、駆動強度を提供するために、4ビットデコーダを、図13に示すように、2(1+1+1+2)個のスイッチで構成するか、図14に示すように、2(1+1+2+2)のスイッチで構成することができる。留意点として、P型とN型の(n−1)ビットデコーダとを選択するために使用されるセレクタは複数のp型スイッチとn型スイッチで形成される。図13の例えば、D3によって駆動されるセレクタは、4つのPMOSトランジスタと4つのNMOSトランジスタを使用して形成される。図14のD3によって駆動されるセレクタは、2つのPMOSトランジスタと4つのNMOSトランジスタを使用して形成される。n−1ビットセレクタを形成するための他のトランジスタスイッチ構成が、当業者に明らかであろう。
ここで、デコーダ100,100’の開示の実施形態は、PMOSおよびNMOSトランジスタ/スイッチを利用するが、本発明を実施する同様のデコーダを、他のp型/n型トランジスタを使用して形成することができることを理解されたい。例えば、バイポーラ接合トランジスタ(例えばPNP/NPN)トランジスタスイッチを使用するデコーダを形成してもよい。
当然、上記の実施形態は、例示のみを目的としており、限定を意図するものではない。本発明を実施する記載した実施形態は、形状、構成要素の配置、操作の詳細および順序がさまざまに変更される。むしろ、本発明は、請求の範囲によって規定される範囲に、このような変更のすべてを含むことを意図する。

Claims (28)

  1. nビットのデジタル入力信号をアナログ出力信号に変換する方法であって、
    複数のp型トランジスタスイッチを使用して、前記nビットのデジタル入力信号に応じて、第1のしきい値よりも高いアナログ電圧から第1のアナログ電圧を選択するステップと、
    複数のn型トランジスタスイッチを使用して、前記nビットのデジタル入力信号に応じて、前記第1のしきい値よりも高い第2のしきい値よりも低いアナログ電圧から第2のアナログ電圧を選択するステップと、
    前記nビットのデジタル入力信号に応じて、前記第1のアナログ電圧および前記第2のアナログ電圧の一方を前記アナログ出力として選択するステップと、を有する方法。
  2. 前記p型トランジスタスイッチのそれぞれは、PMOSトランジスタスイッチとして形成され、前記n型トランジスタスイッチのそれぞれは、NMOSトランジスタスイッチとして形成される請求項1に記載の方法。
  3. 前記p型トランジスタスイッチのそれぞれは、1つのPMOSトランジスタを使用して形成され、前記n型トランジスタスイッチのそれぞれは、1つのNMOSトランジスタを使用して形成される請求項2に記載の方法。
  4. 前記第1のアナログ電圧および前記第2のアナログ電圧は、それぞれ、前記nビットのデジタル入力信号のn−1ビットを使用して選択される請求項1乃至3のいずれか一項に記載の方法。
  5. 前記第1のアナログ電圧および前記第2のアナログ電圧の一方は、前記nビットのデジタル入力信号の1ビットを使用して選択される請求項4に記載の方法。
  6. クロック信号に応じて、前記第1のしきい値よりも高い前記アナログ電圧、前記第2のしきい値よりも低い前記アナログ電圧を周期的に変更するステップを更に有する請求項1乃至5のいずれか一項に記載の方法。
  7. 前記第1のしきい値よりも高い前記アナログ電圧および前記第2のしきい値よりも低い前記アナログ電圧は分圧器を使用して供給され、前記クロック信号に応じて前記分圧器に印加される電圧が変更される請求項6に記載の方法。
  8. 前記アナログ出力信号はディスプレイの素子を駆動する請求項1乃至7のいずれか一項に記載の方法。
  9. デジタル値をアナログ出力信号に変換する方法であって、
    前記デジタル値をnビットとして受け取るステップと、
    しきい値電圧よりも高い値のアナログPMOSデコーダ出力信号を供給するために、n−1ビットPMOSデコーダを使用して前記ビットのn−1をデコードするステップと、
    前記しきい値よりも低い値を有するNMOSデコーダ出力信号を供給するために、n−1ビットNMOSデコーダを使用して前記ビットのn−1をデコードするステップと、
    前記アナログ出力信号を供給するために、前記NMOSデコーダ出力信号および前記PMOSデコーダ出力信号の一方を選択するステップとを含む方法。
  10. デジタル−アナログデコーダであって、
    nビットのデジタル入力を受け取るためのn個の入力と、
    しきい値電圧よりも高い値のアナログPMOSデコーダ出力信号を供給するために、前記デジタル入力のn−1をデコードするn−1ビットPMOSデコーダと、
    前記しきい値電圧よりも低い値のアナログNMOSデコーダ出力信号を供給するために、前記デジタル入力のn−1をデコードするn−1ビットNMOSデコーダと、
    前記アナログ出力信号を供給するために、前記NMOSデコーダ出力信号および前記PMOSデコーダ出力信号の一方を選択するセレクタとを備えるデジタル−アナログデコーダ。
  11. 前記n−1ビットPMOSデコーダは2−2個のPMOSトランジスタスイッチを有し、前記n−1ビットNMOSデコーダは2−2個のNMOSトランジスタスイッチを有する請求項10に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  12. 前記セレクタは、PMOSトランジスタおよびNMOSトランジスタスイッチとして形成される請求項10または11に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  13. 前記n−1ビットNMOSデコーダは前記n−1ビットNMOSデコーダを実質的にパワーダウンするための制御入力を有し、前記n−1ビットPMOSデコーダは前記n−1ビットPMOSデコーダを実質的にパワーダウンするための制御入力を有し、前記制御入力は、請求項10乃至12のいずれか一項に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  14. 前記アナログ出力信号を供給していない前記NMOSデコーダおよび前記PMOSデコーダの一方を実質的にパワーダウンするために、前記制御入力が前記n入力の1つによって制御される請求項13に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  15. p型トランジスタスイッチおよびn型トランジスタスイッチを有するデジタル−アナログデコーダであって、
    nビットのデジタル入力を受け取るためのn個の入力と、
    前記nビットのデジタル入力信号に応じて、第1のしきい値よりも高いアナログ電圧から第1のアナログ電圧を選択するための複数のp型トランジスタスイッチと、
    前記nビットのデジタル入力信号に応じて、前記第1のしきい値よりも高い第2のしきい値よりも低いアナログ電圧から第1のアナログ電圧を選択するための複数のn型トランジスタスイッチと、
    前記アナログ出力信号を供給するために、前記第1のアナログ電圧と第2のアナログ電圧の一方を選択するためのセレクタとを備えるデジタル−アナログデコーダ。
  16. 前記しきい値よりも高く、かつ前記しきい値よりも低い前記アナログ電圧を受け取るための2個のアナログ入力を有する請求項15に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  17. 前記アナログ入力の2n−1は、前記しきい値よりも高い前記アナログ電圧を受け取るためのものであり、前記アナログ入力の2n−1は、前記しきい値よりも低い前記アナログ電圧を受け取るためのものである請求項16に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  18. 前記p型トランジスタスイッチのそれぞれは、PMOSトランジスタスイッチとして形成され、前記n型トランジスタスイッチのそれぞれは、NMOSトランジスタスイッチとして形成される請求項15乃至17のいずれか一項に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  19. 前記p型トランジスタスイッチのそれぞれは、1つのPMOSトランジスタを使用して形成され、前記n型トランジスタスイッチのそれぞれは、1つのNMOSトランジスタを使用して形成される請求項18に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  20. 前記セレクタは、PMOSトランジスタおよびNMOSトランジスタスイッチとして形成される請求項15乃至19のいずれか一項に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  21. 前記p型トランジスタは、n−1ビットp型デコーダを形成するために相互接続されており、前記n−1ビットp型デコーダに供給されるアナログ信号が、前記p型トランジスタスイッチを介して前記n−1ビットp型デコーダの出力に伝達されるのを阻止するために、前記複数のp型トランジスタスイッチの少なくとも一部に相互接続された制御入力を更に有する請求項15乃至20のいずれか一項に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  22. 前記p型トランジスタは列に構成され、前記制御入力は、前記アナログ入力の2n−1を受信している列の前記p型トランジスタをオフにする請求項21に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  23. 前記n型トランジスタは、n−1ビットn型デコーダを形成するために相互接続されており、前記n−1ビットn型デコーダに供給されるアナログ信号が、前記n型トランジスタスイッチを介して前記n−1ビットn型デコーダの出力に伝達されるのを阻止するために、前記複数のn型トランジスタスイッチの少なくとも一部に相互接続された制御入力を更に有する請求項15乃至22のいずれか一項に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  24. 前記n型トランジスタは列に構成され、前記制御入力は、前記アナログ入力の2n−1を受信している列の前記n型トランジスタをオフにする請求項23に記載のデジタル−アナログデコーダ。
  25. デジタル−アナログ変換デコーダ回路であって、
    請求項15乃至24のいずれか一項に記載のデジタル−アナログデコーダと、
    印加クロックの交互のクロックサイクルにおいて、前記アナログ入力に印加されるアナログ電圧を変更する少なくとも1つのマルチプレクサとを備えるデジタル−アナログ変換デコーダ回路。
  26. 前記アナログ入力に印加される前記アナログ電圧を供給するための抵抗回路網を有する請求項25に記載のデジタル−アナログ変換デコーダ回路。
  27. 前記印加クロックの交互のクロックサイクルにおいて、前記デジタル入力に与えられるデジタルデータを変更するデータ条件を有する請求項26に記載のデジタル−アナログ変換デコーダ回路。
  28. 前記データ条件部は、前記印加クロックの交互のクロックサイクルにおいて、前記nビットを反転させるためのインバータを有する請求項27に記載のデジタル−アナログ変換デコーダ回路。
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