JP2010287264A - レーザ駆動装置及びレーザ駆動方法 - Google Patents

Abstract

【課題】簡易な構成によりアンダーシュートが低減されたレーザ駆動信号を生成する。
【解決手段】レーザ駆動部３１のパルス信号発生器４１は、矩形波ＳＢＬの立ち下がりに、矩形波ＳＢＬよりも電圧が小さい付加矩形波ＳＡＤの立ち上がりが一致するよう合成して、パルス信号ＳＬとして増幅器４２に供給する。それに応じて増幅器４２は、パルス信号ＳＬを増幅してレーザ駆動信号ＳＤとしてレーザダイオード３２に出力する。これによりレーザ駆動部３１は、レーザ駆動信号ＳＤの立ち下がりの電圧を段階的に小さくすることにより、増幅器４２で増幅される際に生じ得るアンダーシュートを低減したレーザ駆動信号ＳＤをレーザダイオード３２に供給することができる。
【選択図】図５

Description

本発明は、レーザ駆動装置及びレーザ駆動方法に関し、例えば光ビームを用いて光ディスクに情報を記録する光ディスク装置に適用して好適なものである。

従来、光ディスク装置においては、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）及びＢｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標、以下ＢＤと呼ぶ）等のように、光ディスクに対して光ビームを照射し情報を記録するようになされたものが広く普及している。

そのような光ディスク装置においては、所定のパルス信号発生器によりパルス信号を発生させて増幅器により信号処理を施し増幅させ、レーザ駆動信号としてレーザダイオードに出力することにより当該レーザダイオードからパルス状に光ビームを出射するようになされているものがある。

このときパルス信号発生器から増幅器に供給するパルス信号の立ち下がり時間が早くなると、増幅器の増幅特性や、レーザダイオード内部のインダクタンス成分及びキャパシタンス成分により、レーザ駆動信号にアンダーシュートが発生してしまうことがある。

このためレーザダイオードは、逆方向電圧がかかることにより破壊又は特性が劣化する恐れがあった。

そのようなレーザ駆動信号のアンダーシュートを低減させるため、抵抗器とコンデンサの直列回路からなるダンピング回路をレーザダイオードに並列に接続するレーザ駆動回路が提案されている。（例えば、特許文献１参照）。

特開２００５−３４０７７４公報（第１図）

しかしながらそのようなダンピング回路を追加すると、光ディスク装置において部品点数が増加してしまう。またダンピング回路の定数設定を行う手間を要するという問題があった。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、簡易な構成によりレーザダイオードの劣化や破壊を防止し得るレーザ駆動装置及びレーザ駆動方法を提案しようとするものである。

かかる問題を解決するため本発明のレーザ駆動装置においては、所定の基準電圧から所定の出力電圧に立ち上がり、所定のレーザダイオードにおける緩和振動の振動周期と発光開始時間とを加算した時間がほぼ経過した後に、出力電圧から基準電圧へ２以上の段階に分けて立ち下がる波形でなるパルス信号を生成するパルス信号生成部と、パルス信号に信号処理を施しレーザ駆動信号を生成してレーザダイオードへ出力する出力部とを設けるようにした。

このレーザ駆動装置では、レーザ駆動信号の立ち下がりの電圧を段階的に小さくすることにより、出力部で信号処理が施される際に生じ得るアンダーシュートを低減したレーザ駆動信号をレーザダイオードに供給することができる。

本発明によれば、レーザ駆動信号の立ち下がりの電圧を段階的に小さくすることにより、出力部で信号処理が施される際に生じ得るアンダーシュートを低減したレーザ駆動信号をレーザダイオードに供給することができる。かくして本発明は、簡易な構成によりレーザダイオードの劣化や破壊を防止し得るレーザ駆動装置及びレーザ駆動方法を実現できる。

光ディスク装置及び光ピックアップの構成を示す略線図である。 レーザ駆動部の構成を示す略線図である。 パルス信号、レーザ駆動信号及び光ビームを示す略線図である。 パルス信号発生器の構成を示す略線図である。 パルス信号発生器内部の信号を示す略線図である。 従来のパルス信号及びレーザ駆動信号を示す略線図である。 パルス信号及びレーザ駆動信号を示す略線図である。 付加矩形波の電圧によるレーザ駆動電流の実験装置の構成を示す略線図である。 パルス信号における付加矩形波の電圧の説明に供する略線図である。 付加矩形波の電圧によるレーザ駆動電流を示す略線図である。 付加矩形波の電圧によるパルス信号ＳＬを示す略線図である。 他の実施の形態によるパルス信号（１）を示す略線図である。 他の実施の形態によるパルス信号（２）を示す略線図である。

以下、発明を実施するための形態（以下実施の形態とする）について説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．実施の形態
２．他の実施の形態

＜１．実施の形態＞
［１−１．光ディスク装置及び光ピックアップの構成］
図１に示す光ディスク装置１は、所定の波長の光を２光子吸収する２光子吸収材料を含有している記録層を有する光ディスク１００に対して、レーザダイオード３２から、２光子吸収反応を生じ得るような高い光強度でなり短いパルス状でなる光ビームを出力するようになされている（特願２００８−２５９１１２参照）。

このような２光子吸収反応を利用した光ディスク装置１においては、レーザダイオードに通常加えるレーザ駆動信号の電圧よりも高い（例えば１．５倍以上）電圧でなるパルス状のレーザ駆動信号をレーザダイオードに印加する場合がある。

このため光ディスク装置１は、光ビームの瞬間的な光強度の最大値を、通常のレーザダイオードから出射する光ビームよりも増大させることができる。

レーザダイオード３２は、レーザ駆動信号が印加され始めてから、ある程度の時間を経た後、発光を開始する。以下では当該時間を発光開始時間τｄと呼ぶ。

またレーザダイオード３２は、高い電圧でなるパルス状のレーザ駆動信号ＳＤが印加されると、いわゆる緩和振動により光ビームの光子密度（すなわち光強度）が振動する。以下では、当該振動する光子密度の振幅の周期を振動周期ｔａと呼ぶ。ここで光強度の値は、発光開始直後に出現する第１波の振幅が最も大きく、第２波、第３波と徐々に減衰し、やがて安定する。

また光ディスク装置１は、制御部１１により全体を統括制御するようになされており、光ディスク１００に対する情報の記録及び再生を行い得るようになされている。

制御部１１は、図示しないＣＰＵ(Central Processing Unit)と、各種プログラムなどが格納されるＲＯＭ(Read Only Memory)と、当該ＣＰＵのワークメモリとして用いられるＲＡＭ(Random Access Memory)とによって構成されている。

すなわち制御部１１はスピンドルモータ１２を回転駆動させ、ターンテーブル１２Ｔに載置された光ディスク１００を所望の速度で回転させる。また制御部１１は、スレッドモータ１３を駆動させることにより、移動軸Ｇ１に沿って光ピックアップ２０を光ディスク１００の内周側又は外周側へ向かう方向であるトラッキング方向に大きく移動させる。

制御部１１は、例えば光ディスク１００に情報を記録する場合、当該情報に所定の符号化処理及び変調処理等を施すことにより記録信号を生成し、これを光ピックアップ２０のレーザ駆動部３１に供給する。

レーザ駆動部３１は、制御部１１から供給される記録信号を基に生成したレーザ駆動信号ＳＤをレーザダイオード３２に供給する。

レーザダイオード３２は、レーザ駆動信号ＳＤに基づいた光ビームＬ１を出射しコリメータレンズ３３へ入射させる。

コリメータレンズ３３は、光ビームＬ１を発散光から平行光に変換してビームスプリッタ３４に入射させる。

ビームスプリッタ３４は、光ビームＬ１を所定の割合で反射又は透過させる反射透過面３４Ｓを有している。反射透過面３４Ｓは光ビームＬ１が入射されると当該光ビームＬ１を透過させ、対物レンズ３５へ入射させる。

対物レンズ３５は、光ビームＬ１を集光することにより、光ディスク１００内の目標位置に合焦させ、記録マークを形成させるようになされている。

一方制御部１１は、光ディスク１００から情報を再生する場合、光ピックアップ２０のレーザ駆動部３１に再生光量信号を供給する。

レーザ駆動部３１は、制御部１１から供給される再生光量信号を基に生成したレーザ駆動信号ＳＤをレーザダイオード３２に供給する。

レーザダイオード３２は、レーザ駆動信号ＳＤに基づいた光ビームＬ１を出射しコリメータレンズ３３、ビームスプリッタ３４、対物レンズ３５を介して光ディスク１００内の目標位置に合焦させる。

対物レンズ３５は、光ディスク１００から反射された反射光ビームＬ２を平行光に変換し、ビームスプリッタ３４へ入射させる。このときビームスプリッタ３４は、反射光ビームＬ２の一部を反射透過面３４Ｓにより反射し、集光レンズ３６へ入射させる。集光レンズ３６は、反射光ビームＬ２を集光して受光素子３７に照射する。

受光素子３７は、表面に検出領域が設けられており、各検出領域における反射光ビームＬ２の検出結果を基に検出信号を生成し、これを制御部１１へ送出する。

制御部１１は、検出信号を基に再生ＲＦ信号を生成し、これに所定の復調処理や復号化処理等を施すことにより、光ディスク１００に記録されている情報を再生し得るようになされている。

このように光ディスク装置１は、光ディスク１００に対して情報記録処理及び情報再生処理を実行するようになされている。

［１−２．レーザ駆動部の構成］
図２に示すレーザ駆動部３１は、所定のタイミングで複数種類のパルス状の信号を生成するパルス信号発生器４１と、レーザダイオード３２を駆動する増幅器４２とにより構成されている。

レーザ駆動部３１は、制御部１１（図１）から記録信号を送出されると当該記録信号をパルス信号発生器４１に供給する。

パルス信号発生器４１は、図３（Ａ）に示すように、供給された記録信号に基づきパルス状に変化するパルス信号ＳＬを生成し、これを増幅器４２へ供給する。このパルス信号ＳＬは、増幅器４２に対し、レーザダイオード３２へ電源を供給すべきタイミング及び電圧レベルの大きさを示している。

またパルス信号発生器は、その内部で、種々の時間幅及び電圧でなる複数の矩形波を発生させることができ、またそれらの複数の矩形波を組み合わせて出力することができる。

増幅器４２は、パルス信号ＳＬを所定の増幅率で増幅することにより図３（Ｂ）に示すようなレーザ駆動信号ＳＤを生成し、これをレーザダイオード３２へ供給する。このためレーザ駆動信号ＳＤのピーク電圧ＶＤは、パルス信号ＳＬのピーク電圧ＶＬに応じて変化することになる。またレーザ駆動信号ＳＤは、増幅器４２の増幅特性により、その波形が歪まされている。

レーザダイオード３２は、レーザ駆動信号ＳＤの供給を受けると、図３（Ｃ）に示すように、光強度をパルス状に変化させながら光ビームＬを出射する。

またレーザダイオード３２は、半導体発光を利用する一般的なレーザダイオード（例えばソニー株式会社製、ＳＬＤ２５３ＶＬ）でなる。当該レーザダイオード３２の逆方向電圧の絶対最大定格は、２［Ｖ］となっている。

ここでレーザ駆動部３１は、上述した発光開始時間τｄに緩和振動の振動周期ｔａを加算した時間だけハイレベルとなる矩形波をパルス信号ＳＬとして出力する。

このため当該パルス信号ＳＬが増幅されたレーザ駆動信号ＳＤを供給されたレーザダイオード３２は、上述した緩和振動における第１波の部分のみに相当するパルス状の光ビームＬを出射することができる。

［１−３．パルス信号発生器の構成］
次に、パルス信号発生器４１の構成について説明する。図４に示すように、パルス信号発生器４１は、矩形波発生回路５１、遅延回路５２、デコード回路５３、減衰回路５４及び合成回路５５により構成されている。

矩形波発生回路５１は、図５（Ａ）に示すように、時間幅Ｗ１及び電圧Ａ１でなる矩形波ＳＢＬを発生し、当該矩形波ＳＢＬを遅延回路５２、デコード回路５３及び合成回路５５に供給する。

遅延回路５２は、図５（Ｂ）に示すように、矩形波ＳＢＬを時間幅Ｗ２だけ遅延させて遅延矩形波ＳＤＬを生成し、デコード回路５３に供給する。

デコード回路５３は、矩形波ＳＢＬの電圧が基準電圧である０［Ｖ］であり、かつ遅延矩形波ＳＤＬの電圧が電圧Ａ１の時点では、出力電圧を電圧Ａ１とする。このため図５（Ｃ）に示すように、デコード回路５３は、矩形波ＳＢＬが立ち下がってから遅延矩形波ＳＤＬが立ち下がるまでの間だけ電圧Ａ１となるデコード矩形波ＳＤＣを減衰回路５４に供給する。

減衰回路５４は、図５（Ｄ）に示すように、供給されたデコード矩形波ＳＤＣの電圧を所定の割合で減衰させて、電圧Ａ２でなる付加矩形波ＳＡＤとし、合成回路５５に供給する。

合成回路５５は、矩形波発生回路５１から供給された矩形波ＳＢＬの立ち下がりに、減衰回路５４から供給された付加矩形波ＳＡＤの立ち上がりが重なるよう合成して図５（Ｅ）に示すパルス信号ＳＬを生成し出力する。

このようにパルス信号発生器４１は、電圧Ａ１及び時間幅Ｗ１でなる矩形波ＳＢＬと、電圧Ａ１よりも小さい電圧Ａ２及び時間幅Ｗ２でなる付加矩形波ＳＡＤとを合成することで、電圧Ａ１及び時間幅Ｗ３でなる矩形波の一部が電圧Ａ２に落ちたようなパルス信号ＳＬを出力する。

［１−４．パルス信号及びレーザ駆動信号］
ここで、レーザ駆動部３１を用いた実験として、矩形波ＳＢＬに付加矩形波ＳＡＤを合成せずに、矩形波ＳＢＬ（図５（Ａ））のみでなるパルス信号ＳＬを増幅し、レーザ駆動信号ＳＤとしてレーザダイオード３２（図２）に出力した。

このときパルス信号ＳＬの波形は図６（Ａ）のようになり、またレーザ駆動信号ＳＤの波形は図６（Ｂ）のようになった。因みに図６（Ａ）に示したパルス信号ＳＬは、その後増幅器４２で増幅する際の都合により、ほぼ０［Ｖ］を中心としてプラスとマイナスに振れる波形となっている。

図６（Ｂ）では、レーザ駆動信号ＳＤのピーク電圧はおよそ１５［Ｖ］となっている。このためレーザ駆動部３１は、高い電圧でなるレーザ駆動信号ＳＤをレーザダイオード３２に供給することができている。

しかしながらレーザ駆動信号ＳＤは、立ち下がる際に、およそ３［Ｖ］の電圧でなるアンダーシュートが発生している。このアンダーシュートは、上述したレーザダイオード３２の逆方向電圧の絶対最大定格である２［Ｖ］よりも大きい値となっている。

レーザダイオード３２の絶対最大定格を超えた逆方向電圧を加えることは、当該レーザダイオード３２の破壊や特性劣化につながってしまう。

このように、増幅器４２が高い電圧（およそ１５［Ｖ］）から直接的に０［Ｖ］へ立ち下がるレーザ駆動信号ＳＤを出力すると、レーザダイオード３２に絶対最大定格を超えた逆方向電圧が加わってしまう恐れがあった。

それに対して、本実施の形態によるレーザ駆動部３１は、矩形波ＳＢＬに付加矩形波ＳＡＤを合成したパルス信号ＳＬ（図５（Ｅ））を増幅し、レーザ駆動信号ＳＤとしてレーザダイオード３２（図２）に出力する。

このときパルス信号ＳＬの波形は図７（Ａ）のようになり、またレーザ駆動信号ＳＤの波形は図７（Ｂ）のようになった。因みにパルス信号ＳＬは、パルス信号発生器の周波数特性により、その波形が歪まされ、なまったような波形となっている。

図７（Ｂ）に示したレーザ駆動信号ＳＤは、図６（Ｂ）と同様、ピーク電圧がおよそ１５［Ｖ］と高い電圧となっている。

一方図７（Ａ）に示したパルス信号ＳＬは、図６（Ａ）と比べて、付加矩形波ＳＡＤ（図５（Ｄ））に相当する部分が一部異なっている。

それと共に図７（Ｂ）に示したレーザ駆動信号ＳＤは、図６（Ｂ）と比べて、立ち下がった後に、電圧値がマイナスになる部分がほとんどなく、アンダーシュートが大幅に低減されている。

実際上、図７（Ｂ）に示したレーザ駆動信号ＳＤにおいて立ち下がった後に発生するアンダーシュートは、いずれもレーザダイオード３２の逆方向電圧の絶対最大定格以内に収まっている。

また図７（Ｂ）に示したレーザ駆動信号ＳＤは、図６（Ｂ）と比べて、０［Ｖ］に立ち下がる時間がわずかに遅くなっている。

［１−５．付加矩形波によるアンダーシュートの違いの実験］
上述したように、本実施の形態によるパルス信号ＳＬは、矩形波ＳＢＬの立ち下がりに付加矩形波ＳＡＤが合成されている。

このため当該パルス信号ＳＬを増幅したレーザ駆動信号ＳＤは、付加矩形波ＳＡＤが合成されておらず矩形波ＳＢＬのみでなるパルス信号ＳＬを増幅した場合と比べて、アンダーシュートが低減される。

ここで、付加矩形波ＳＡＤが合成されておらず矩形波ＳＢＬのみでなるパルス信号ＳＬは、電圧０［Ｖ］の付加矩形波ＳＡＤが合成されている矩形波ＳＢＬとみなすこともできる。このため、付加矩形波ＳＡＤの電圧が変化すると、レーザ駆動信号ＳＤに現れるアンダーシュートの電圧も変化すると考えられる。

そこで以下では、図８に示す実験装置６０により、付加矩形波ＳＡＤの電圧を変化させ、レーザ駆動信号ＳＤのアンダーシュートの電圧が最も小さくなる付加矩形波ＳＡＤの電圧を求めた。

実験装置６０において、レーザ駆動部３１のパルス信号発生器４１は、様々な電圧でなる付加矩形波ＳＡＤが合成された矩形波ＳＢＬでなるパルス信号ＳＬを発生するよう設定され、当該設定に基づいたパルス信号ＳＬを増幅器４２に供給する。またパルス信号発生器４１にはオシロスコープ６１が接続されており、当該オシロスコープ６１によりパルス信号ＳＬが測定される。

レーザ駆動部３１の増幅器４２は、当該パルス信号ＳＬを増幅してレーザ駆動信号ＳＤをレーザダイオード３２のアノード側に出力する。

レーザダイオード３２のカソード側と基準電位ＧＮＤとの間には、１［Ω］の抵抗値を有する電流検出抵抗器６２が接続されている。

当該電流検出抵抗器６２の両端にはアクティブ差動プローブ６１Ｐが接続され、オシロスコープ６１により当該電流検出抵抗器６２の両端の電位差が測定される。

このとき、電流検出抵抗器６２の両端の電位差と電流検出抵抗器６２の抵抗値との関係により、電流検出抵抗器６２に流れる電流、即ちレーザダイオード３２に流れる電流が求まる。以下ではレーザダイオード３２に流れる電流をレーザ駆動電流ＣＬとも呼ぶ。

ここで、レーザ駆動電流ＣＬとレーザダイオード３２に加わる逆方向電圧とには比例関係があるため、レーザ駆動電流ＣＬのアンダーシュートの電流値が最も小さくなるとき、レーザダイオード３２にかかる逆方向電圧も最も小さくなると言える。

以上に示した構成において、パルス信号発生器４１は図９に示すパルス信号ＳＬを発生する。このときパルス信号発生器４１は、設定により矩形波ＳＢＬの時間幅Ｗ１を１．０［ｎｓ］、付加矩形波ＳＡＤの時間幅Ｗ２を０．５［ｎｓ］でなるパルス信号ＳＬを出力する。

パルス信号発生器４１により矩形波ＳＢＬの電圧Ａ１に対する付加矩形波ＳＡＤの電圧Ａ２の割合（以下これを付加矩形波割合ＲＴと呼ぶ）を変化させたところ、図１０（Ａ）〜（Ｅ）に示すようなレーザ駆動電流ＣＬが得られた。

図１０（Ａ）〜（Ｅ）は、それぞれ付加矩形波割合ＲＴを０、２５、４２、６４及び１００［％］と設定した際の電流値を示している。

因みにオシロスコープ６１は電流検出抵抗器６２の両端の電位差を測定するが、図１０は当該測定により得られた電位差を、電流検出抵抗器６２との関係により電流に変換したものを表している。

図１０（Ａ）に示したように、レーザ駆動電流ＣＬは、付加矩形波割合ＲＴが０［％］、即ちパルス信号ＳＬが矩形波ＳＢＬのみの場合、１２［ｎｓ］時点において大きな電流値のアンダーシュートが現れている。

また図１０（Ｂ）〜（Ｅ）に示したように、付加矩形波割合ＲＴが大きくなるにつれて、レーザ駆動電流ＣＬの１２［ｎｓ］時点におけるアンダーシュートは小さくなっていく。因みに図１０（Ｅ）に示したレーザ駆動電流ＣＬについては、１２［ｎｓ］時点ではマイナスの値までは落ちていない。

一方図１０（Ｅ）に示したように、レーザ駆動電流ＣＬは、付加矩形波割合ＲＴが１００［％］、即ちパルス信号ＳＬが１．５［ｎｓ］の時間幅を有する矩形波であった場合、１３［ｎｓ］時点において大きな電流値のアンダーシュートが現れている。

また図１０（Ａ）〜（Ｄ）に示したように、付加矩形波割合ＲＴが小さくなるにつれて、レーザ駆動電流ＣＬの１３［ｎｓ］時点におけるアンダーシュートは小さくなっていく。因みに図１０（Ａ）に示したレーザ駆動電流ＣＬについては、１３［ｎｓ］時点ではマイナスの値までは落ちていない。

ここで図１０（Ｃ）に示したように、付加矩形波割合ＲＴが４２［％］のとき、レーザ駆動電流ＣＬのアンダーシュートの電流値が最も小さくなった。

これにより、レーザ駆動電流ＣＬと比例関係にあるレーザ駆動信号ＳＤは、付加矩形波割合ＲＴが４２［％］のとき、アンダーシュートの電圧値が最も小さくなると言える。

次に、付加矩形波割合ＲＴを変化させたときのパルス信号ＳＬを図１１に示す。図１１は、付加矩形波割合ＲＴを０、２５、４２、６４及び１００［％］と設定したときのパルス信号ＳＬをそれぞれパルス信号ＳＬ０、ＳＬ２５、ＳＬ４２、ＳＬ６４及びＳＬ１００として示している。

因みにパルス信号発生器４１から出力された高周波でなるパルス信号ＳＬは、増幅器４２により増幅されてレーザ駆動信号ＳＤとなりレーザダイオード３２に供給されるまでに、ある程度の回路長を通るため、信号に遅延が生じる。

このためパルス信号ＳＬは０〜１［ｎｓ］の時点で立ち上がり始め、図１０に示したレーザ駆動電流ＣＬはそれからおよそ１０［ｎｓ］遅れて立ち上がり始めている。

図１１に示したように、付加矩形波割合ＲＴが０［％］であるパルス信号ＳＬ０は、他の付加矩形波割合ＲＴでなる信号パルスよりも最も早く立ち下がり始めている。またパルス信号ＳＬは、付加矩形波割合ＲＴが大きくなるにつれて立ち下がり始めるのが遅くなる。

以上のように、付加矩形波割合ＲＴが４２［％］のとき、アンダーシュートの電圧値が最も小さくなるレーザ駆動信号ＳＤが得られた。

［１−６．動作及び効果］
以上の構成においてレーザ駆動部３１のパルス信号発生器４１は、矩形波ＳＢＬの立ち下がりに、矩形波ＳＢＬよりも電圧が小さい付加矩形波ＳＡＤの立ち上がりが一致するよう合成して、パルス信号ＳＬとして増幅器４２に供給する。

それに応じて増幅器４２は、パルス信号ＳＬを増幅し、レーザ駆動信号ＳＤとしてレーザダイオード３２に出力する。

このためレーザ駆動部３１は、立ち下がりの電圧が段階的に小さくなるレーザ駆動信号ＳＤをレーザダイオード３２に供給することができる。

仮にレーザ駆動部３１は、矩形波ＳＢＬに付加矩形波ＳＡＤを合成せずに、矩形波ＳＢＬのみでなるパルス信号ＳＬを増幅した場合、高い電圧から０［Ｖ］まで急激に立ち下がレーザ駆動信号ＳＤをレーザダイオード３２に出力することになる。

このような場合、レーザ駆動信号ＳＤの立ち下がりには大きくアンダーシュートが発生する（図６（Ｂ））。このためレーザダイオード３２には、絶対最大定格を超えた逆方向電圧が加わってしまい、破壊又は特性が劣化する可能性があった。

これに対して本発明によるレーザ駆動部３１は、立ち下がりにおいてアンダーシュートが低減されたレーザ駆動信号ＳＤ（図７（Ｂ））をレーザダイオード３２に供給することができる。

これによりレーザ駆動部３１は、絶対最大定格を超えた逆方向電圧がレーザダイオード３２に加わってしまうのを防ぐことができる。

また、レーザ駆動信号ＳＤのアンダーシュートを抑えるためには、パルス信号ＳＬが緩やかに立ち下がるよう、アナログ的にパルス信号ＳＬを調整する方法も考えられる。

それに対して本発明のレーザ駆動部３１では、矩形波を組み合わせるだけで良いため、簡素な信号処理、回路構成にてレーザ駆動信号ＳＤのアンダーシュートを抑えることができる。

また、コンデンサなどの電子部品を追加することにより、レーザ駆動信号ＳＤの立ち下がりを緩やかにし、アンダーシュートを抑える方法も考えられる。しかしながらそのような場合、レーザ駆動信号ＳＤの立ち下がりだけでなく、立ち上がりも緩やかになる可能性がある。

光ディスク装置１は、２光子吸収反応を利用するため、高い電圧でパルス状でなるレーザ駆動信号ＳＤをレーザダイオード３２に供給する必要がある。このため、立ち上がりが緩やかなレーザ駆動信号ＳＤは、本発明における光ディスク装置１には適していない。

本発明におけるレーザ駆動部３１は、レーザ駆動信号ＳＤの立ち下がりにおけるアンダーシュートを低減させると共に、急峻な立ち上がりを維持することができる。

これにより光ディスク装置１では、急峻に立ち上がる高い電圧でなるレーザ駆動信号ＳＤをレーザダイオード３２に加えることができるため、その後の立ち下がりが緩やかになるものの、レーザダイオード３２の発光タイミングが遅れることはない。このため光ディスク装置１は、光ディスク１００に対して記録を適切に行うことができる。

以上の構成によれば、レーザ駆動部３１のパルス信号発生器４１は、矩形波ＳＢＬの立ち下がりに、矩形波ＳＢＬよりも電圧が小さい付加矩形波ＳＡＤの立ち上がりが一致するよう合成して、パルス信号ＳＬとして増幅器４２に供給する。それに応じて増幅器４２は、パルス信号ＳＬを増幅してレーザ駆動信号ＳＤとしてレーザダイオード３２に出力する。これによりレーザ駆動部３１は、レーザ駆動信号ＳＤの立ち下がりの電圧を段階的に小さくすることにより、増幅器４２で増幅される際に生じ得るアンダーシュートを低減したレーザ駆動信号ＳＤをレーザダイオード３２に供給することができる。

＜２．他の実施の形態＞
なお上述した実施の形態においては、レーザ駆動部３１は、矩形波ＳＢＬに、矩形波ＳＢＬよりも小さい電圧でなる１つの付加矩形波ＳＡＤを合成し、パルス信号ＳＬを生成する場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、例えば図１２に示すように、矩形波ＳＢＬに、矩形波ＳＢＬよりも小さい電圧でなる付加矩形波ＳＡＤ１と、当該付加矩形波ＳＡＤ１よりも小さい電圧でなる付加矩形波ＳＡＤ２とを合成し、パルス信号ＳＬ１を生成しても良い。

要は、矩形波ＳＢＬに、矩形波ＳＢＬよりも小さい電圧でなる複数の付加矩形波ＳＡＤを矩形波ＳＢＬに合成しても良い。この場合、矩形波ＳＢＬに合成される複数の付加矩形波ＳＡＤの電圧が段階的に徐々に小さくなるようにすると、一層レーザ駆動信号ＳＤのアンダーシュートを低減させることができる。

但し付加矩形波ＳＡＤの数が多すぎるとレーザ駆動信号ＳＤの立ち下がるまでの時間がかかり過ぎるため、図３（Ｂ）に示したレーザ駆動信号ＳＤにおいて、所定のパルスの立ち下がりが、次に出力されるレーザ駆動信号ＳＤのパルスの立ち上がりにかからない程度にする必要がある。

また上述した実施の形態においては、付加矩形波ＳＡＤの時間幅Ｗ２は０．５［ｎｓ］と設定される場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、例えば図１３に示すパルス信号ＳＬ２のように、付加矩形波ＳＡＤの時間幅Ｗ２は１．０［ｎｓ］と設定されても良い。

要は、特性に製品差、固体差を有する増幅器４２の増幅特性やレーザダイオード３２内部のインダクタンス成分及びキャパシタンス成分を考慮し、適切な付加矩形波ＳＡＤの時間幅Ｗ２を設定すれば良い。

また、付加矩形波ＳＡＤの電圧Ａ２も同様に、増幅器４２の増幅特性やレーザダイオード３２内部のインダクタンス成分及びキャパシタンス成分を考慮し、最適化することが望ましい。

さらに上述した実施の形態においては、パルス信号発生器４１は、矩形波発生回路５１、遅延回路５２、デコード回路５３、減衰回路５４及び合成回路５５により構成され、パルス信号ＳＬを出力する場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、例えばＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）により矩形波ＳＢＬ及びデコード矩形波ＳＤＣを生成し、当該デコード矩形波ＳＤＣを減衰させて矩形波ＳＢＬに合成させ、パルス信号ＳＬを出力するようにしても良い。

要はパルス信号発生器４１は、矩形波ＳＢＬに、矩形波ＳＢＬより小さい電圧でなる１以上の付加矩形波ＳＡＤが合成されたようなパルス信号ＳＬを出力できれば良い。

さらに上述した実施の形態においては、パルス信号発生器４１により出力されたパルス信号ＳＬは、増幅器４２により増幅されてから、レーザ駆動信号ＳＤとしてレーザダイオード３２に供給される場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、パルス信号発生器４１により出力されたパルス信号ＳＬは、例えばイコライザなどにより、所定の電気的な処理を施されてレーザダイオード３２に供給されれば良い。

さらに上述した実施の形態においては、レーザ駆動信号ＳＤのアンダーシュートが最小となる付加矩形波割合ＲＴを求める場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、ある程度であれば、レーザ駆動信号ＳＤにアンダーシュートが生じ、レーザダイオード３２に逆方向電圧がかかってしまっても良い。要は、レーザ駆動信号ＳＤのアンダーシュートがレーザダイオード３２の絶対最大定格を超えない逆方向電圧の範囲内に収まるように、パルス信号発生器４１において付加矩形波割合ＲＴが設定されていれば良い。

さらに上述した実施の形態においては、パルス信号発生器４１は、矩形波ＳＢＬの立ち下がりに付加矩形波ＳＡＤの立ち上がりが一致するよう、付加矩形波ＳＡＤを矩形波ＳＢＬに合成させる場合について述べた。

上述したようにパルス信号ＳＬは、パルス信号発生器４１の周波数特性によりその波形が歪み、なまったような波形となる。このため、矩形波ＳＢＬの立ち下がりと付加矩形波ＳＡＤの立ち上がりとにわずかに間が空いていても、パルス信号発生器４１から出力されるパルス信号ＳＬは、矩形波ＳＢＬの立ち下がりと付加矩形波ＳＡＤの立ち上がりとが緩やかにつながったような波形となる。

このため本発明では、ある程度であれば、矩形波ＳＢＬの立ち下がりと付加矩形波ＳＡＤの立ち上がりとの間が空いていても良い。

さらに上述した実施の形態においては、パルス信号生成部としてのパルス信号発生器４１と、出力部としての増幅器４２とによってレーザ駆動装置としてのレーザ駆動部３１を構成する場合について述べた。

しかしながら本発明はこれに限らず、その他種々の回路構成でなるパルス信号発生部と出力部とによってレーザ駆動装置を構成するようにしても良い。

本発明は、映像や音声或いは種々のデータ等の情報を光ディスクに記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生する光ディスク装置でも利用できる。

１……光ディスク装置、１００……光ディスク、１１……制御部、１２……スピンドルモータ、１３……スレッドモータ、２０……光ピックアップ、３１……レーザ駆動部、３２……レーザダイオード、３３……コリメータレンズ、３４……ビームスプリッタ、３５……対物レンズ、３６……集光レンズ、３７……受光素子、４１……パルス信号発生器、４２……増幅器、５１……矩形波発生回路、５２……遅延回路、５３……デコード回路、５４……減衰回路、５５……合成回路、６０……実験装置、６１……オシロスコープ、６１Ｐ……アクティブ差動プローブ、６２……電流検出抵抗器、ＳＢＬ……矩形波、ＳＤＬ……遅延矩形波、ＳＤＣ……デコード矩形波、ＳＡＤ……付加矩形波、ＳＬ……パルス信号、ＳＤ……レーザ駆動信号、ＣＬ……レーザ駆動電流、Ｌ１……光ビーム、Ｌ２……反射光ビーム。

Claims (5)

1. 所定の基準電圧から所定の出力電圧に立ち上がり、所定のレーザダイオードにおける緩和振動の振動周期と発光開始時間とを加算した時間がほぼ経過した後に、上記出力電圧から上記基準電圧へ２以上の段階に分けて立ち下がる波形でなるパルス信号を生成するパルス信号生成部と、
   上記パルス信号に信号処理を施しレーザ駆動信号を生成して上記レーザダイオードへ出力する出力部と
   を有するレーザ駆動装置。
2. 上記パルス信号生成部は、基本波形生成回路と、付加波形生成回路と、波形合成回路とを有し、
   上記基本波形生成回路は、
   上記出力電圧に立ち上がった後に上記基準電圧に立ち下がる矩形波でなる基本波形を生成し、
   上記付加波形生成回路は、
   上記基本波形の出力電圧よりも電圧が小さい任意数の矩形波でなり、上記基本波形から電圧が順次下がる付加波形を生成し、
   上記波形合成回路は、
   上記基本波形の立ち下がりに上記付加波形の立ち上がりを合成し上記パルス信号を生成する
   請求項１に記載のレーザ駆動装置。
3. 上記付加波形生成回路は、
   上記基本波形の出力電圧よりも電圧が小さい、１の矩形波でなる上記付加波形を生成する
   請求項２に記載のレーザ駆動装置。
4. 上記出力部は、
   上記パルス信号を所定の増幅率で増幅して出力する増幅器でなる
   請求項１に記載のレーザ駆動装置。
5. 所定の基準電圧から所定の出力電圧に立ち上がり、所定のレーザダイオードにおける緩和振動の振動周期と発光開始時間とを加算した時間がほぼ経過した後に、上記出力電圧から上記基準電圧へ２以上の段階に分けて立ち下がる波形でなるパルス信号を生成するパルス信号生成ステップと、
   上記パルス信号に信号処理を施しレーザ駆動信号を生成して上記レーザダイオードへ出力する出力ステップと
   を有するレーザ駆動方法。

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