JP2010276479A - 半導体集積回路、及びそのテスト方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明による半導体集積回路は、スキャンテスト時にスキャンチェーンを構成する複数のスキャンフリップフロップと、クロック入力と複数のスキャンフリップフロップとの間に接続された複数のクロックゲーティング回路とを具備する。複数のクロックゲーティング回路は直列にチェーン接続され、チェーン接続を介してゲーティング設定データがシリアル入力される。複数のクロックゲーティング回路のそれぞれは、入力されたゲーティング設定データに応じて、クロック入力とスキャンフリップフロップとの接続を制御する。
【選択図】図3
Description
図3から図5を参照して、本発明による半導体集積回路(スキャン回路)の構成を説明する。図3は、本発明によるスキャン回路の全体構成を示す図である。図3を参照して、本発明によるスキャン回路は、複数のクロックゲーティング回路GC0〜GCx、複数のスキャンフリップフロップSF00〜SFz0、SF10〜SF1z、SF20〜SF2z、SFx0〜SFxzを具備する。尚、x、zは整数である。
次に、図6及び図7を参照して、本発明によるスキャンテスト動作の一例を説明する。本発明では、スキャンテストを行なう前に、クロックゲーティング回路GC0〜GCxのそれぞれに対し、クロックを導通させるか遮断するかを設定する。この設定動作を行なうモードをクロックゲーティング設定モードと称す。
SF00、SF01、SF10、SF11、SF20、SF21、SF0z0、SF1z1、SF2z2、SFx0、SFx1、SFxz:スキャンフリップフロップ
GSIN0:ゲーティング制御入力
SIN00:スキャン入力
CLK、CLK0:クロック入力
GCC、GCC0:クロックゲーティング回路設定制御入力
AMC、AMC0:テストモード制御信号入力
SMC0:スキャンモード制御信号入力
GCLK0、GCLK1、GCLK2、GCLKx:ゲーテッドクロック出力
GSOUT0、GSOUT1、GSOUT2、GSOUTx:クロックゲーティングイネーブル出力
SOUT00、SOUT01、SOUT10、SOUT11、SOUT20、SOUT21、SOUT0z0、SOUT1z1、SOUT2z2、SOUTx0、SOUTx1、SOUTxz:スキャン出力
MX1:マルチプレクサ
LT1:クロックゲーティングセル
LT1A:ラッチ
LT1B:AND素子
GSIN:スキャン用クロックゲーティングイネーブル信号入力
EN:通常動作用クロックゲーティングイネーブル信号入力
GSOUT:クロックゲーティングイネーブル出力
GCLK:ゲーテッドクロック出力
FF1、FF1A:フリップフロップ
SL1:セレクタ
MX2:マルチプレクサ
GCEN:スキャン用クロックゲーティングイネーブル信号入力
DIN:データ入力
SIN:スキャン入力
DOUT:データ出力
SOUT:スキャン出力
SFFG1a〜SFFG1z:レジスタ群(スキャンフリップフロップ群)
SFFG2a〜SFFG2z:レジスタ群(スキャンフリップフロップ群)
SFFG3a〜SFFG3z:レジスタ群(スキャンフリップフロップ群)
TC11〜TC13:テストクロック制御回路
TCLKCTL:テストクロック制御回路
MUXG:クロック選択回路
CGC、SCGC:クロックゲーティングセル
SFF:スキャンフリップフロップ
Claims (7)
- スキャンテスト時にスキャンチェーンを構成する複数のスキャンフリップフロップと、
クロック入力と前記複数のスキャンフリップフロップとの間に接続された複数のクロックゲーティング回路と
を具備し、
前記複数のクロックゲーティング回路は直列にチェーン接続され、前記チェーン接続を介してゲーティング設定データがシリアル入力され、
前記複数のクロックゲーティング回路のそれぞれは、前記ゲーティング設定データに応じて、クロック入力とスキャンフリップフロップとの接続を制御する
半導体集積回路。 - 請求項1に記載の半導体集積回路において、
前記複数のクロックゲーティング回路のそれぞれは、
ラッチ回路と、
第1マルチプレクサと、
論理演算素子と、
を備え、
前記マルチプレクサは、前記ゲーティング設定データと、前記ラッチ回路の出力であるクロックゲーティングイネーブル出力との一方を選択して前記ラッチ回路に出力し、
前記論理演算素子は、前記クロックゲーティングイネーブル出力と前記クロック入力とに応じたゲーテッドクロック信号を前記複数のスキャンフリップフロップのいずれかに出力する論理演算素子と
を備える
半導体集積回路。 - 請求項2に記載の半導体集積回路において、
前記複数のスキャンフリップフロップのそれぞれは、スキャンモード制御信号に応じて、スキャンシフトモードとキャプチャモードとが切り換えられ、スキャンシフトモード時、前段のスキャンフリップフロップから入力されたテストパタンデータと、前記ゲーテッドクロック信号に応じてフリップフロップに取り込まれたテストパタンデータの一方を、前記クロックゲーティングイネーブル信号の信号レベルに応じて選択し、データ出力と次段のスキャンフリップフロップとに出力する第2マルチプレクサを備える
半導体集積回路。 - 請求項3に記載の半導体集積回路において、
キャプチャモード時、前記第2マルチプレクサは、前記ゲーテッドクロック信号に応じてフリップフロップに取り込まれたデータを前記データ出力に出力する
半導体集積回路。 - スキャンチェーンを構成する複数のスキャンフリップフロップのそれぞれに対するクロック入力の導通又は遮断を設定するステップと、
前記クロック入力の導通又は遮断が設定されたスキャンチェーンにテストパタンデータを入力するステップと
を具備する
半導体集積回路のテスト方法。 - 請求項5に記載の半導体集積回路のテスト方法において、
前記設定するステップは、
直列にチェーン接続された複数のクロックゲーティング回路に対し前記チェーン接続を介してゲーティング設定データをシリアル入力するステップと、
前記複数のクロックゲーティング回路のそれぞれが、前記ゲーティング設定データに応じて、クロック入力と前記複数のスキャンフリップフロップのいずれかとの接続を制御するステップと
を備える
半導体集積回路のテスト方法。 - 請求項6に記載の半導体集積回路のテスト方法において、
前記スキャンチェーンにテストパタンデータを入力ステップは、
前記クロック入力と前記複数のフリップフロップのうち第1フリップフロップとの間に接続を遮断するステップと、
前記第1フリップフロップが、前記テストパタンを次段のフリップフロップにスルー出力するステップと
を備える
半導体集積回路のテスト方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009129489A JP5275136B2 (ja) | 2009-05-28 | 2009-05-28 | 半導体集積回路 |
US12/801,182 US8055965B2 (en) | 2009-05-28 | 2010-05-26 | Semiconductor integrated circuit and method of testing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009129489A JP5275136B2 (ja) | 2009-05-28 | 2009-05-28 | 半導体集積回路 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010276479A true JP2010276479A (ja) | 2010-12-09 |
JP2010276479A5 JP2010276479A5 (ja) | 2012-04-05 |
JP5275136B2 JP5275136B2 (ja) | 2013-08-28 |
Family
ID=43221662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009129489A Expired - Fee Related JP5275136B2 (ja) | 2009-05-28 | 2009-05-28 | 半導体集積回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8055965B2 (ja) |
JP (1) | JP5275136B2 (ja) |
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- 2009-05-28 JP JP2009129489A patent/JP5275136B2/ja not_active Expired - Fee Related
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US20100306607A1 (en) | 2010-12-02 |
US8055965B2 (en) | 2011-11-08 |
JP5275136B2 (ja) | 2013-08-28 |
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