JP2010229478A - 成膜装置 - Google Patents

成膜装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2010229478A
JP2010229478A JP2009077681A JP2009077681A JP2010229478A JP 2010229478 A JP2010229478 A JP 2010229478A JP 2009077681 A JP2009077681 A JP 2009077681A JP 2009077681 A JP2009077681 A JP 2009077681A JP 2010229478 A JP2010229478 A JP 2010229478A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
primer layer
film
film forming
plasma
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009077681A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5491755B2 (ja
Inventor
Tetsuji Shibata
哲司 柴田
Takahiko Hirai
孝彦 平井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Electric Works Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Electric Works Co Ltd filed Critical Panasonic Electric Works Co Ltd
Priority to JP2009077681A priority Critical patent/JP5491755B2/ja
Publication of JP2010229478A publication Critical patent/JP2010229478A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5491755B2 publication Critical patent/JP5491755B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

【課題】
基材との密着性の高い皮膜を形成することができる成膜装置を提供する。
【解決手段】
大気圧及びその近傍の圧力下でプラズマPを生成する。このプラズマPを基材Fの表面に供給してその表面に成膜するための成膜部1を備えた成膜装置に関する。成膜部1でプラズマPを供給する前の基材Fの表面にプライマー層を形成するためのプライマー層形成部2を備える。プライマー層形成部2で基材Fの表面にプライマー層を形成した後、成膜部1でプライマー層の表面に皮膜をプラズマPにより成膜することができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、反射防止フィルムやガスバリアフィルムなどを形成するにあたって、基材の表面に薄膜を形成する際に用いられる成膜装置に関するものである。
従来より、大気圧及びその近傍の圧力下でプラズマを生成し、このプラズマでフィルムなどの基材を処理することが行われている(例えば、特許文献1参照)。プラズマによる基材への処理としては、クリーニングやエッチングの他に、成膜することも行われている。
特開2004−84027号公報
しかし、大気圧及びその近傍の圧力下で生成したプラズマでは、減圧状態で生成したプラズマに比べて、成膜材料に大きな運動エネルギーを与えることができないので、基材と密着性が低い皮膜しか形成できないという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、基材との密着性の高い皮膜を形成することができる成膜装置を提供することを目的とするものである。
本発明の請求項1に係る成膜装置は、大気圧及びその近傍の圧力下でプラズマPを生成し、このプラズマPを基材Fの表面に供給してその表面に成膜するための成膜部1を備えた成膜装置において、成膜部1でプラズマPを供給する前の基材Fの表面にプライマー層を形成するためのプライマー層形成部2を備えて成ることを特徴とするものである。
本発明の請求項2に係る成膜装置は、請求項1において、プライマー層形成部2が化学気相蒸着によりプライマー層を形成するものであることを特徴とするものである。
本発明の請求項3に係る成膜装置は、請求項1において、プライマー層形成部2がプライマーMを基材Fに供給してプライマー層を形成するものであることを特徴とするものである。
本発明の請求項4に係る成膜装置は、請求項1乃至3のいずれか一項において、成膜部1とプライマー層形成部2との間にガス吸引部3を備えて成ることを特徴とするものである。
本発明の請求項5に係る成膜装置は、請求項1乃至4のいずれか一項において、成膜部1とプライマー層形成部2との間に遮蔽板4を備えて成ることを特徴とするものである。
本発明の請求項6に係る成膜装置は、請求項1乃至5のいずれか一項において、プライマー層形成部2にプライマー層を加熱硬化させるためのヒータ部5を備えて成ることを特徴とするものである。
本発明の請求項7に係る成膜装置は、請求項1乃至6のいずれか一項において、基材Fの表面に形成されたプライマー層の表面改質をするための表面改質部6を備えて成ることを特徴とするものである。
本発明の請求項8に係る成膜装置は、請求項1乃至7のいずれか一項において、プライマー層形成部2がシリコン原子と炭素原子とを2個以上含む有機鎖からなるプライマー層を基材Fに形成するものであることを特徴とするものである。
本発明の請求項9に係る成膜装置は、請求項1乃至8のいずれか一項において、プライマー層形成部2が自己組織化膜のプライマー層を形成するものであることを特徴とするものである。
請求項1の発明では、プライマー層形成部2で基材Fの表面にプライマー層を形成した後、成膜部1でプライマー層の表面に皮膜をプラズマPにより成膜することができ、基材Fと皮膜との間にプライマー層を介在させて皮膜の密着性を高くすることができるものである。
請求項2の発明では、プライマーの塗布によりプライマー層を形成する場合に比べて、成膜速度を速くすることができ、また処理面積も大きくでき、さらに凹凸のある基材Fの表面でも均一に成膜することができ、密着性の高いプライマー層を効率よく形成することができるものである。
請求項3の発明では、CVD法に比べて、簡単な装置でプライマー層を形成することができ、プライマー層を安価に形成することができるものである。
請求項4の発明では、成膜部1で使用したガスをプライマー層形成部2に流入させないようにガス吸引部3で吸引して除去することができ、成膜部1で使用したガスがプライマー層に混入するなどの悪影響を防止することができるものである。
請求項5の発明では、成膜部1で使用したガスをプライマー層形成部2に流入しないように遮蔽板4で遮蔽することができ、成膜部1で使用したガスがプライマー層に混入するなどの悪影響を防止することができるものである。
請求項6の発明では、プライマー層の硬化を加熱により促進することができ、プライマー層を効率よく形成することができるものである。
請求項7の発明では、表面改質部6でプライマー層の表面を改質することができ、プライマー層とプラズマPで成膜される皮膜との密着性を高くすることができるものである。
請求項8の発明では、プライマーに有機シラン化合物を用いることにより、有機物系の基材と皮膜との密着性を高めることができるものである。
請求項9の発明では、有機シラン化合物のプライマーに自己組織化膜を用いることにより、分子レベルの非常に薄いプライマー層を形成することができ、成膜後の干渉ムラを抑制しながら密着性を向上できるものである。
本発明の実施の形態を示す概略の断面図である。 同上の電極部品の一例を示し、(a)は平面図、(b)は断面図である。 同上の他の実施の形態の一例を示す概略の断面図である。 同上のさらに他の実施の形態の一例を示す概略の断面図である。 同上のさらに他の実施の形態の一例を示す概略の断面図である。 同上のさらに他の実施の形態の一例を示す概略の断面図である。 同上のさらに他の実施の形態の一例を示す概略の断面図である。 同上のさらに他の実施の形態の一例を示す概略の断面図である。 同上のさらに他の実施の形態の一例を示す概略の断面図である。 同上のさらに他の実施の形態の一例を示す概略の断面図である。 同上の比較例を示す概略の断面図である。
以下、本発明を実施するための形態を説明する。
図1に成膜装置の一例を示す。この成膜装置は成膜部1とプライマー層形成部2とを備えて形成されている。成膜部1はプラズマを用いた化学気相蒸着法(プラズマCVD法)により成膜するものであって、一対の電極41、41を上下に対向配置して備えると共に対向する電極41、41の間の空間を対向領域42として形成するものである。また、上側の電極41は円筒状のロール電極41aとして形成されており、下側の電極41は平板状の平板電極41bとして形成されている。図1のものではロール電極41aと平板電極41bは紙面に直交する方向に長尺に形成されている。また、ロール電極41aの両端面には軸部40が突設されており、ロール電極41aは略水平の軸部40を中心として回転駆動自在に形成されている。電極41(41a、41b)は銅、アルミニウム、チタニウム合金、真鍮、耐食性の高いステンレス鋼(SUS304など)などの導電性の金属材料で形成することができる。耐久性を向上させる場合には、その表面にアルミナ等のセラミックス層を溶射により形成することができる。
ロール電極41aの周面は曲面であるため、ロール電極41aの下面と平板電極41bの上面との間隔は、軸部40の真下が最も狭く、平板電極41bの両方の長辺に向かうに従って徐々に広がるように形成されている。すなわち、ロール電極41aの下面における周面の接線方向と平行な方向(平板電極41bの短手方向と平行な方向)において、対向領域42の間隔がその中央部から両側に向かって徐々に広がるように形成されている。このように電極41、41の間隔を上下方向で不均一にすることによって、ストリーマ放電形成手段を形成することができる。すなわち、ロール電極41aと平板電極41bとの間隔は平板電極41bの短手方向(図面の紙面と平行な水平方向)における対向領域42の両端になるほど広くなるため、対向領域42の中央部に比べて電界強度が低くなる。従って、対向領域42の中央部から両端に向かって電界強度が徐々に小さくなるように不均一な電界強度分布が生じることになる。ここで、対向領域42の中央部における電界強度は20kV/mm、対向領域42の両端における電界強度は18kV/mmとすることができるが、これに限定されるものではない。上記の対向領域42は被処理物である基材FにプラズマPにより成膜するための空間として形成されている。
また、下側の平板電極41bは電源21が接続されて高圧電極として形成されていると共に上側のロール電極41aは軸部40において接地されて接地電極として形成されている。また、平板電極41bの上面を含む全面はアーク放電の防止のためにカバー材60により被覆されている。カバー材60は、例えば、石英ガラス、アルミナ、チタン酸バリウム、イットリア、ジルコニウムなどのガラス質材料やセラミック材料などの高融点の絶縁材料(誘電体)で形成することができ、比誘電率が5以上であることが好ましい。また、カバー材60の皮膜の厚みは全体にわたって略一定であり、例えば、0.5〜5mmとすることができる。尚、ロール電極41aの周面も上記カバー材60と同様の誘電体で被覆することができる。そして、平板電極41bには上下に貫通する多数個のガス流通孔30が形成されている。ガス流通孔30はカバー材60も上下に貫通するものであり、カバー材60の上面と下面の両方に開口して形成されている。また、平板電極41bを複数配設することにより、成膜面積を自在に変化させることができる。
プライマー層形成部2は、基材Fと反応結合する官能基と、後述のプラズマPにより成膜される皮膜と反応結合する官能基を同時に有するプライマー層を形成するための装置であって、成膜部1の側方でロール電極41aの回転方向と反対側に配置されるものである。このプライマー層形成部2は化学気相蒸着装置、いわゆるCVD装置で形成されている。すなわち、作製したい薄膜のプライマー層の構成元素を含む化合物(プライマーM)の原料ガスを基材Fの表面に供給し、気相または基材Fの表面での化学反応により薄膜のプライマー層を作製する方法である。本発明では熱CVD、プラズマCVD、光CVDなどの方式の装置を用いることができる。図1のものでは、気相状態のプライマーMを生成して供給するための気相生成部2aと、気相生成部2aを覆うカバー部材2bとで構成されている。また、プライマーMとしては有機シラン系材料を用いることができ、特に、ビニル、エポキシ、アミノ基を持つシランカップリング剤を用いるのが好ましい。これにより、シリコン原子と炭素原子とを2個以上含む有機ケイ素化合物の有機鎖からなるプライマー層を形成することができる。また、自己組織化膜のプライマー層を形成することもできる。自己組織化膜は、外部からの細かい制御を加えていない状態で、膜材料そのものがもつ機構によって形成される一定の秩序をもつ組織をもった単分子膜やLB膜などの超薄膜のことである。本発明では、n−オクタデシルトリメトキシシラン、p−アミノフェニルトリメトキシシランなどを用いて自己組織化膜のプライマー層を形成することができる。本発明において、プライマー層の厚みはプライマーMの成分や、基材Fと後述のプラズマPにより成膜される皮膜との密着性により適宜設定可能であるが、例えば、1nm〜0.1mmとすることができる。
そして、本発明の成膜装置を用いて以下のように成膜することができる。まず、大気圧又はその近傍の圧力下(90〜107kPa)において、成膜用ガスGを平板電極41bのガス流通孔30を通じて対向領域42に導入しながら、ロール電極41aと平板電極41bの間に電圧を印加することによって対向領域2に多数本のストリーマ放電を発生させてプラズマPを生成する。ロール電極41aと平板電極41bの間に印加される電圧の波形は正弦波などの連続波形とすることができ、その周波数は1kHz〜200MHzに設定するのが好ましい。連続波形の電圧を用いると、ロール電極41aと平板電極41bの間への電力の供給を大きくすることができ、高密度のプラズマを生成することができる。また、ロール電極41aと平板電極41bの間に印加される電圧の波形はパルス波形とすることもでき、この場合は、周波数は0.5kHz〜200MHzに設定するのが好ましい。パルス波形の電圧を用いることにより、対向領域42の温度上昇を抑制することができ、耐熱性の低い基材Fであっても成膜することができる。ロール電極41aと平板電極41bの間に印加される電圧は、ロール電極41aと平板電極41bの間の距離や成膜用ガスGの組成等によって異なるが、電界強度が1kV〜30kV/mmの範囲になるように設定するのが好ましい。また、成膜用ガスGは皮膜の構成成分とキャリアガスとを含有するものである。皮膜の構成成分としてはシラン化合物と酸素ガスとを用いることができ、シラン化合物としては、ヘキサメチルジシロキサン、ヘキサメチルジシラザン、テトラエトキシシラン、テトラメチルシランなどを好適に用いることができる。シラン化合物は気化して用いることができる。キャリアガスとしてはアルゴン、窒素、ヘリウムなどを用いることができる。成膜用ガスG中における気化したシラン化合物の含有割合は、例えば、0.01〜20vol%とすることができ、成膜用ガスG中における酸素ガスの含有割合は、例えば、0.01〜2vol%とすることができ、残部をキャリアガスとすることができる。また、成膜用ガスGの供給量は例えば、成膜幅1mあたり10〜500リットル/分とすることができる。
そして、ロール電極41aの外周に合成樹脂フィルムなどの可撓性の長尺の基材Fを掛架し、軸部40を中心にロール電極41aを回転させることによって、基材Fを長尺方向に連続して進行させて搬送する。これにより、基材Fがロール電極41aとプライマー層形成部2との間を通過した後、ロール電極41aと平板電極41bとの間を通過することになる。従って、基材Fがロール電極41aとプライマー層形成部2との間を通過する際に、基材Fの表面にプライマー層が形成され、この後、ロール電極41aと平板電極41bとの間を通過する際に、基材Fに設けたプライマー層の表面にさらにプラズマPによる成膜により皮膜が形成されることになり、基材Fの搬送方向の全長にわたってプライマー層及び皮膜を形成することができる。尚、基材Fの搬送速度は0.05〜30m/分とすることができるが、これに限定されるものではない。
本発明では、プライマー層形成部2で基材Fの表面にプライマー層を形成した後、成膜部1でプライマー層の表面に皮膜をプラズマPにより成膜することができ、基材Fと皮膜との間にプライマー層を介在させて皮膜の密着性を高くすることができるものである。
図3に他の実施の形態を示す。この成膜装置では、プライマー層形成部2にヒータ部5を備えたものであり、その他の構成は図1のものと同様である。ヒータ部5は赤外線ヒータなどを用いることができ、カバー部材2bの下側(基材Fの搬送方向の下流側)に配置されている。
この成膜装置では、気相生成部2aで生成したプライマーMを基材Fに供給して堆積した直後に、ヒータ部5で加熱してプライマー層の硬化及び基材Fとの結合を加熱により促進することができ、プライマー層を効率よく形成することができるものである。
図4に他の実施の形態を示す。この成膜装置では、成膜部1とプライマー層形成部2の間にガス吸引部3を設けたものであり、その他の構成は図3と同様である。ガス吸引部3はポンプなどに接続されたパイプ(ノズル)で形成することができ、ロール電極41aの方に向けて開口させている。
この成膜装置では、成膜用ガスGが対向領域42から漏れ出してプライマー層形成部2に流入する前に、ガス吸引部3で吸引して除去することができ、成膜用ガスGがプライマー層に混入するなどの悪影響を防止することができるものである。
図5に他の実施の形態を示す。この成膜装置では、成膜部1とプライマー層形成部2の間に一対のガス吸引部3、3を設け、さらに一対のガス吸引部3、3の間に表面改質部6を設けたものであり、その他の構成は図3と同様である。ガス吸引部3は上記と同様にポンプなどに接続されたパイプで形成することができ、ロール電極41aの方に向けて開口させている。一対のガス吸引部3、3はロール電極41aの回転方向に並べて設けられている。一方のガス吸引部3はプライマー層形成部2と表面改質部6との間に設けられており、プラズマP’がプライマー層形成部2に流入する前に、ガス吸引部3で吸引して除去することができ、プラズマP’がプライマー層に混入するなどの悪影響を防止することができるものである。また、他方のガス吸引部3は成膜用ガスGが対向領域42から漏れ出して表面改質部6に流入する前に、ガス吸引部3で吸引して除去することができ、成膜用ガスGが表面改質に混入するなどの悪影響を防止することができるものである。
表面改質部6は基材Fに形成されたプライマー層の表面にプラズマP’を供給し、プライマー層の表面に配向した有機官能基を除去することにより、次工程のプラズマPによる成膜で得られる皮膜との密着性を高めることができるものである。この表面改質工程には、各種表面改質方法を用いることができるが、特に、改質能力の高い大気圧プラズマ表面改質装置を用いることが好ましい。この成膜装置では、外面が誘電体44で覆われた誘電体被覆電極45をロール電極41aの外周面と間隙を開けて配置することにより表面改質部6を形成している。プラズマP’は、成膜用ガスGを用いずに、誘電体被覆電極45とロール電極41aとの間に空気を介在させた状態で放電させて生成するものであり、誘電体被覆電極45とロール電極41aとの間隔や印加電圧等のプラズマP’の生成条件はプラズマPの場合と同様である。また、プラズマP’の生成時に、窒素、酸素、アルゴンのいずれかを含むガスを誘電体被覆電極45とロール電極41aとの間に適宜投入することもでき、表面改質効果を高めることができる。
図6に他の実施の形態を示す。この成膜装置では、プライマー層形成部2の上側(基材Fの搬送方向の上流側)にガス吸引部3と基材プラズマ処理部46とを設けたものであり、その他の構成は図5に示すものと同様である。尚、図6のものは、図5のものに比べて、平板電極41b、プライマー層形成部2、表面改質部6及びガス吸引部3を反時計回りに位置をずらして配置したものである。ガス吸引部3は上記と同様にポンプなどに接続されたパイプで形成することができ、ロール電極41aの方に向けて開口させている。ガス吸引部3はプライマー層形成部2と基材プラズマ処理部46との間に設けられており、プラズマP”がプライマー層形成部2に流入する前に、ガス吸引部3で吸引して除去することができ、プラズマP”がプライマー層に混入するなどの悪影響を防止することができるものである。
基材プラズマ処理部46は、プライマー層の堆積前に基材Fの表面を改質することにより、有機汚染物を除去し、さらに、水酸基、カルボキシル基、カルボニル基などの親水性官能基を基材Fの表面に付与することができ、プライマー層と基材Fとの結合を強化することができる。この基材プラズマ処理工程には、各種表面改質方法を用いることができるが、特に、改質能力の高い大気圧プラズマ表面改質装置を用いることが好ましい。この場合、表面改質部6と同様に、外面が誘電体44で覆われた誘電体被覆電極45をロール電極41aの外周面と間隙を開けて配置することにより基材プラズマ処理部46を形成している。プラズマP”は、成膜用ガスGを用いずに、誘電体被覆電極45とロール電極41aとの間に空気を介在させた状態で放電させて生成するものであり、誘電体被覆電極45とロール電極41aとの間隔や印加電圧等のプラズマP”の生成条件はプラズマPの場合と同様である。
図7に他の実施の形態を示す。この成膜装置では、一対のロール電極41a、41aを備えて形成されるものであり、その他の構成は図6のものと同様である。一方のロール電極41aの下側には、基材プラズマ処理部46とガス吸引部3とヒータ部5を具備するプライマー層形成部2とが配設されている。他方のロール電極41aは遮蔽ボックス47で覆われており、このロール電極41aの下側に表面改質部6と一対のガス吸引部3、3と平板電極41bとが配設されている。遮蔽ボックス47には導入口48と導出口49とが設けられている。
そして、基材Fは一方のロール電極41aと基材プラズマ処理部46との間、及び一方のロール電極41aとプライマー層形成部2との間を通過させた後、中間ロール50に支持されながら導入口48から遮蔽ボックス47に導入され、この後、他方のロール電極41aと表面改質部6との間、及び他方のロール電極41aと平板電極41bとの間を通過させられ、導出口49から遮蔽ボックス47外に導出されるものである。
このようにプライマー層形成部2と成膜部1とを分離して遮蔽ボックス47で遮蔽することにより、プライマー層形成部2と成膜部1とが互いに悪影響を及ぼすのを防止することができるものである。
図8に他の実施の形態を示す。この成膜装置では、成膜部1とプライマー層形成部2との間に遮蔽板4を設けたものであり、その他の構成は図3と同様である。遮蔽板4は耐食性の高い金属板等で形成することができ、ロール電極41aの周面と僅かに間隙を介して配置されている。
この成膜装置では、成膜用ガスGが対向領域42から漏れ出してプライマー層形成部2に流入するのを遮蔽板4で遮断することができ、成膜用ガスGがプライマー層に混入するなどの悪影響を防止することができるものである。
図9に他の実施の形態を示す。この成膜装置ではプライマー層形成部2をCVD装置の代わりにプライマーMの塗布装置で形成したものであり、その他の構成は図1のものと同様である。塗布装置はロールコータ51で形成されており、容器52に溜められたプライマーMを転写して塗布するものである。
この成膜装置では、CVD法に比べて、簡単な装置でプライマー層を形成することができ、プライマー層を安価に形成することができる。
プライマー層形成部2は図9のようなロールコーター51の他に、インクジェット等による塗布や、超音波霧化装置等によるスプレー塗布や、気化装置によるCVDなどで形成することができる。
図10に他の実施の形態を示す。この成膜装置では、リモート型の大気圧プラズマを用いたものであり、図1〜9で示したダイレクト型の大気圧プラズマを用いたものとは異なるものである。すなわち、ダイレクト型の大気圧プラズマを用いた成膜装置では、対向配置された電極41、41の間に基材Fを導入してプラズマPで成膜したり、誘電体被覆電極45とロール電極41aの間に基材Fを導入してプラズマP’やプラズマP”でプライマー層の表面改質処理や基材Fのプラズマ処理をするものであるが、リモート型の大気圧プラズマを用いた成膜装置では、プラズマ生成装置でプラズマを生成した後、このプラズマを基材に吹き付けるようにするものである。図10のものでは、複数本の搬送ローラ55を並べて形成される搬送手段で板状の基材Fを搬送するものであり、その上方に基材プラズマ処理部46、プライマー層形成部2、ヒータ部5、表面改質部6、成膜部1を基材Fの搬送方向に沿って順に並べて形成されている。そして、基材プラズマ処理部46からプラズマP”を基材Fの表面に供給した後、この基材Fの表面にプライマー層形成部2から気相状態のプライマーMを供給してヒータ部5で加熱硬化してプライマー層PSを形成し、さらに表面改質部6からプラズマP’を供給して表面改質処理を行い、この後、成膜部1からプラズマPを供給して皮膜Cを形成するものである。
このように本発明の成膜装置は、基材の形状や材質に応じてリモート、ダイレクト型を適宜選択することができる。基材Fが金属基板や回路パターンが形成された導電性基板では基材Fの厚みや可撓性を考慮してリモート型プラズマ装置を用いることができ、基材Fが樹脂フィルム等で改質能力の高いダイレクト型プラズマ装置を用いることができる。
以下本発明を実施例によって具体的に説明する。
(実施例1)
図1に示す成膜装置を形成した。
高圧電極となる平板電極41bを図2に示す。始めにアルミナ粉末を含む混合材料をシート状に成形することにより、カバー材60となる第1のシート材(厚み1.0mm)と第2のシート材(厚み1.4mm)を形成し、第1及び第2のシート材それぞれについて、隣り合うガス流通孔30、30同士の間隔が4.5mmとなるように平面視45×22mmの領域内に直径1mmの55個の貫通孔を形成した。次に、シート材に形成した貫通孔よりも大きい直径3mmの貫通孔がシート材の貫通孔を囲むパターン形状となるように、厚み30μmのタングステン層を第1のシート材の一面に印刷成形した。次に、タングステン層の上面に第2のシート材を積層し、積層体を加熱焼成することにより平板電極41bを形成した。
上記の平板電極41bを3個用意し、各々タングステン層に電源21を接続し、図1のように平板電極41bと対向する位置に、接地した直径300mmの円筒状のロール電極41aを配置した。ロール電極41aの材質はSUS304である。この時、ロール電極41aと平板電極41bの最短部の距離を1mmとした。
そして、平板電極41aのガス流通孔30から薄膜の皮膜を形成するための成膜用ガスGを噴出することにより、ロール電極41aと平板電極41bとの間に形成される放電空間の対向空間42に成膜用ガスGを導入した。
プライマー層形成部2はプライマー霧化機構を持つCVD成膜装置とし、プラズマPによる成膜前に基材Fの表面に塗布されるようにした。
(実施例2)
図3に示すように、実施例1の成膜装置において、プライマー層形成部2のCVD成膜装置と成膜部1との間に、赤外線ヒータであるヒータ部5を設置した。
(実施例3)
図4に示すように、実施例2の成膜装置において、ヒータ部5と成膜部1との間に、ガス吸引部3のノズルを設置し、成膜部1からプライマー層形成部2への成膜用ガスGの流入を抑制した。
(実施例4)
図5に示すように、実施例3の成膜装置において、ヒータ部とガス吸引部3との間に、棒状の誘電体被覆電極45を持つ表面改質部(大気圧プラズマ照射装置)6とガス吸引部3のノズルを設置し、プライマー層の表面の改質を行うようにした。
(実施例5)
図6に示すように、実施例4の成膜装置において、CVD成膜装置の前(上方)に、棒状の誘電体被覆電極45を持つ基材プラズマ処理部46(大気圧プラズマ照射装置)とガス吸引部3のノズルを設置し、基材Fの表面の改質を行うようにした。
(実施例6)
図7に示すように、基材プラズマ処理部46とプライマー層形成部2及びヒータ部5と、表面改質部6及び成膜部1とを分離した成膜装置を用いた。いずれも接地した直径300mmの円筒状のロール電極41aを用いた。
(実施例7)
図4に示すように、実施例2の装置のヒータ部5と成膜部1との間に、隔壁を設置し、プラズマ成膜部からプライマー形成部へのガスの流入を抑制した。
(実施例8)
プライマー層形成部2をロールコータで形成したものあり、成膜部1の前に基材Fの表面に塗布されるようにした。
(比較例)
図11に示すように、プライマー層形成部2を省略した以外は実施例1と同様にした。
(評価)
上記のような成膜装置を用いて、大気圧下でPETフィルム(基材F)の表面に酸化シリコン成膜を行った。プライマーMにはn−オクタデシルトリメトキシシラン(ODS)溶液を用いた。PETフィルムは幅200mmのものを用いた。成膜部1の平板電極41bのガス流通孔30から対向領域42にアルゴンガスを30(L/min)、ガス化したヘキサメチルジシロキサンを0.25(L/min)およびOガスを0.2(L/min)供給した。平板電極41bに正弦波状波形を有する50kHz、10kVの電圧を印加し、電極41、41間で放電を発生させた。また、PETフィルムを1(m/min)の速度で搬送した。尚、表面改質部6におけるプラズマP’の印加条件及び基材プラズマ処理部46におけるプラズマP”の印加条件も、成膜部1のプラズマPの印加条件と同様にすることができるが、プラズマP’及びP”を生成するためのガスとしては空気を用いた。
実施例1〜8及び比較例について成膜後の密着性を測定した。密着性はJIS K5400に基づき評価した。これらの結果を表1に示す。
Figure 2010229478
表1に示すように、プライマー層を形成することにより、密着性が大きく向上することがわかる。よって、プライマー層形成部2を追加した実施例1〜8は、比較例よりも皮膜の密着性向上効果が高いと言える。
1 成膜部
2 プライマー層形成部
3 ガス吸引部
4 遮蔽板
5 ヒータ部
6 表面改質部
P プラズマ
F 基材
M プライマー

Claims (9)

  1. 大気圧及びその近傍の圧力下でプラズマを生成し、このプラズマを基材の表面に供給してその表面に成膜するための成膜部を備えた成膜装置において、成膜部でプラズマを供給する前の基材の表面にプライマー層を形成するためのプライマー層形成部を備えて成ることを特徴とする成膜装置。
  2. プライマー層形成部が化学気相蒸着によりプライマー層を形成するものであることを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。
  3. プライマー層形成部がプライマーを基材に供給してプライマー層を形成するものであることを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。
  4. 成膜部とプライマー層形成部との間にガス吸引部を備えて成ることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の成膜装置。
  5. 成膜部とプライマー層形成部との間に遮蔽板を備えて成ることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の成膜装置。
  6. プライマー層形成部にプライマー層を加熱硬化させるためのヒータ部を備えて成ることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の成膜装置。
  7. 基材の表面に形成されたプライマー層の表面改質をするための表面改質部を備えて成ることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の成膜装置。
  8. プライマー層形成部がシリコン原子と炭素原子とを2個以上含む有機鎖からなるプライマー層を基材に形成するものであることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の成膜装置。
  9. プライマー層形成部が自己組織化膜のプライマー層を形成するものであることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載の成膜装置。
JP2009077681A 2009-03-26 2009-03-26 成膜装置 Active JP5491755B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009077681A JP5491755B2 (ja) 2009-03-26 2009-03-26 成膜装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009077681A JP5491755B2 (ja) 2009-03-26 2009-03-26 成膜装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010229478A true JP2010229478A (ja) 2010-10-14
JP5491755B2 JP5491755B2 (ja) 2014-05-14

Family

ID=43045562

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009077681A Active JP5491755B2 (ja) 2009-03-26 2009-03-26 成膜装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5491755B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101439926B1 (ko) 2013-06-11 2014-09-17 한국기계연구원 캐필러리부가 구비된 판상형 전극을 이용한 롤투롤 플라즈마 처리 시스템
JP2019157243A (ja) * 2018-03-16 2019-09-19 富士フイルム株式会社 成膜方法
JP2020090700A (ja) * 2018-12-05 2020-06-11 株式会社フジクラ 成膜装置

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05194770A (ja) * 1992-01-17 1993-08-03 Mitsubishi Kasei Corp 表面被覆プラスチックス製品
JPH09228054A (ja) * 1996-02-16 1997-09-02 Hitachi Ltd 磁気記録媒体およびその製造方法と製造装置
JP2002069644A (ja) * 2000-08-29 2002-03-08 Sony Corp 薄膜製造装置および薄膜製造方法
JP2003201570A (ja) * 2001-11-01 2003-07-18 Konica Corp 大気圧プラズマ処理装置、大気圧プラズマ処理方法及びそれを用いて作製した長尺フィルム
JP2003342731A (ja) * 2002-05-24 2003-12-03 Dainippon Printing Co Ltd 積層体およびその製造方法
JP2004535037A (ja) * 2000-09-22 2004-11-18 テトラ ラバル ホールディングス アンド ファイナンス エス.エー. グロー放電プラズマを用いた表面処理方法及び装置
JP2006219721A (ja) * 2005-02-10 2006-08-24 Konica Minolta Holdings Inc 機能性フィルムの製造方法と機能性フィルムと表示素子と表示装置
JP2006257503A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Konica Minolta Holdings Inc プラズマ放電処理装置
JP2006312778A (ja) * 2005-04-06 2006-11-16 Toyo Seikan Kaisha Ltd 表面波プラズマによる蒸着膜の形成方法及び装置
WO2007111098A1 (ja) * 2006-03-24 2007-10-04 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. 透明バリア性シート及びその製造方法
JP2008514813A (ja) * 2004-09-27 2008-05-08 ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレーテッド プラズマ強化化学蒸着による多層被膜
JP2008115412A (ja) * 2006-11-01 2008-05-22 Fujifilm Corp プラズマ装置およびプラズマ処理方法

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05194770A (ja) * 1992-01-17 1993-08-03 Mitsubishi Kasei Corp 表面被覆プラスチックス製品
JPH09228054A (ja) * 1996-02-16 1997-09-02 Hitachi Ltd 磁気記録媒体およびその製造方法と製造装置
JP2002069644A (ja) * 2000-08-29 2002-03-08 Sony Corp 薄膜製造装置および薄膜製造方法
JP2004535037A (ja) * 2000-09-22 2004-11-18 テトラ ラバル ホールディングス アンド ファイナンス エス.エー. グロー放電プラズマを用いた表面処理方法及び装置
JP2003201570A (ja) * 2001-11-01 2003-07-18 Konica Corp 大気圧プラズマ処理装置、大気圧プラズマ処理方法及びそれを用いて作製した長尺フィルム
JP2003342731A (ja) * 2002-05-24 2003-12-03 Dainippon Printing Co Ltd 積層体およびその製造方法
JP2008514813A (ja) * 2004-09-27 2008-05-08 ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレーテッド プラズマ強化化学蒸着による多層被膜
JP2006219721A (ja) * 2005-02-10 2006-08-24 Konica Minolta Holdings Inc 機能性フィルムの製造方法と機能性フィルムと表示素子と表示装置
JP2006257503A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Konica Minolta Holdings Inc プラズマ放電処理装置
JP2006312778A (ja) * 2005-04-06 2006-11-16 Toyo Seikan Kaisha Ltd 表面波プラズマによる蒸着膜の形成方法及び装置
WO2007111098A1 (ja) * 2006-03-24 2007-10-04 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. 透明バリア性シート及びその製造方法
JP2008115412A (ja) * 2006-11-01 2008-05-22 Fujifilm Corp プラズマ装置およびプラズマ処理方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101439926B1 (ko) 2013-06-11 2014-09-17 한국기계연구원 캐필러리부가 구비된 판상형 전극을 이용한 롤투롤 플라즈마 처리 시스템
JP2019157243A (ja) * 2018-03-16 2019-09-19 富士フイルム株式会社 成膜方法
JP2020090700A (ja) * 2018-12-05 2020-06-11 株式会社フジクラ 成膜装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5491755B2 (ja) 2014-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20100108322A (ko) 대기압 플라즈마
Da Ponte et al. Plasma Deposition of PEO‐Like Coatings with Aerosol‐Assisted Dielectric Barrier Discharges
TW200308187A (en) An atmospheric pressure plasma assembly
JP5157169B2 (ja) ガスバリア積層体、有機エレクトロルミネッセンス素子及びガスバリア積層体の製造方法
JP2005524930A (ja) 大気圧プラズマアセンブリ
US20140042130A1 (en) Plasma Treatment of Substrates
KR20070095286A (ko) 플라즈마 시스템
KR20130130062A (ko) 코팅 공정을 위한 물질의 분무화 방법
US20170283952A1 (en) Plasma cvd apparatus
TW201419947A (zh) 基板的電漿處理
JP5491755B2 (ja) 成膜装置
WO2017087991A1 (en) Method and device for promoting adhesion of metallic surfaces
US10266938B2 (en) Deposition method, deposition apparatus, and structure
JP2022020586A (ja) コンポーネントの付加的製造装置及び方法
WO2006075490A1 (ja) 透明ガスバリアフィルム
JPWO2008047549A1 (ja) 透明導電膜基板及びこれに用いる酸化チタン系透明導電膜の形成方法
JP6135847B2 (ja) 撥水性薄膜の製造方法および撥水処理装置
JP2011144438A (ja) ガスバリア性フィルムの製造方法
JP5677312B2 (ja) ガラスをコーティングする方法および装置
JP2006219721A (ja) 機能性フィルムの製造方法と機能性フィルムと表示素子と表示装置
JP2012144786A (ja) 中性粒子照射型cvd装置
Galaly Nano-Coating Process for Si [1 0 0] Wafer Using Atmospheric Pressure Plasma Jet (APPJ)
WO2017038200A1 (ja) 成膜装置及び成膜方法
JP6341207B2 (ja) ガスバリアーフィルムの製造装置
JP5598659B2 (ja) コロナ放電装置およびその利用

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20100714

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111117

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20120113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130411

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130430

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130701

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130910

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131111

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140228

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5491755

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151