JP2010199934A - ジッタ発生装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明は、ジッタ抑制分を加味することなく、ジッタを付加することが出来るジッタ発生装置を実現することを目的にする。
【解決手段】本発明は、一方の入力に基準信号を入力し、他方の入力と位相比較を行い、位相差が閾値未満のとき、位相比較結果を出力しない位相比較器と、この位相比較器の出力を入力とするローパスフィルタと、このローパスフィルタの出力を入力とする電圧制御発振器と、この電圧制御発振器の出力を入力とし、位相比較器の他方の入力に出力する帰還回路と、ローパスフィルタの前後の少なくとも一方に設けられ、ジッタ信号を入力信号に加算し、出力する加算器とを備えたことを特徴とするものである。
【選択図】図1
【解決手段】本発明は、一方の入力に基準信号を入力し、他方の入力と位相比較を行い、位相差が閾値未満のとき、位相比較結果を出力しない位相比較器と、この位相比較器の出力を入力とするローパスフィルタと、このローパスフィルタの出力を入力とする電圧制御発振器と、この電圧制御発振器の出力を入力とし、位相比較器の他方の入力に出力する帰還回路と、ローパスフィルタの前後の少なくとも一方に設けられ、ジッタ信号を入力信号に加算し、出力する加算器とを備えたことを特徴とするものである。
【選択図】図1
Description
本発明は、フェーズ・ロック・ループ(PLL)回路を用いたジッタ発生装置に関し、ジッタ制御分を加味することなく、ジッタを付加することができるジッタ発生装置に関するものである。
シリアル通信においては、送信される信号に多少の時間揺らぎ(ジッタ)があったとしても受信側では正確に受信する必要があるため、通信機器やデバイス評価においては、故意にジッタを付加した信号を受信側に与え、動作に問題が無いことの確認(ジッタ耐性試験)が行われる。このことから、それらの通信機器やデバイスを評価する計測機器にはジッタを付加する機能が求められる。その際、ジッタを付加した信号を出力できるジッタ発生装置が必要になる。このようなジッタ発生装置は例えば下記特許文献1、2に示されている。
このような装置を、図5を用いて説明する。図5において、基準信号発生回路1は、基準信号を発生させる。ジッタ発生回路2は、任意周波数のジッタ信号、例えば、正弦波を出力する。位相比較器3は、一方の入力に基準信号発生回路1の基準信号を入力し、他方の入力と位相比較を行う。加算器4は、ジッタ発生回路2の出力を位相比較器3の出力に加算し、出力する。ループフィルタ5はローパスフィルタで、加算器3の出力を入力する。電圧制御発振器6は、ループフィルタ5の出力を入力する。帰還回路7は、例えば分周器で、電圧制御発振器6の出力を入力とし、位相比較器3の他方の入力に出力する。
次に、位相比較器3の具体的構成を図6に示し説明する。図6において、D型フリップフロップ(以下DFF)31はハイレベルがD端子に接続され、基準信号発生回路1の基準信号がクロック端子に入力される。DFF32は、ハイレベルがD端子に接続され、帰還回路7の出力がクロック端子に入力される。ANDゲート33は、DFF31のQ端子が一方の入力端子に接続され、DFF32のQ端子が他方の入力端子に接続され、DFF31、32のリセット端子に出力端子が接続される。出力部34は、DFF31、32のQ端子が接続され、減算を行い、加算器4に出力する。
このような装置の動作を以下に説明する。基準信号発生回路1の基準信号がローレベルからハイレベルに遷移すると、DFF31の出力がローレベルからハイレベルに遷移する。同様に、帰還回路7の出力がローレベルからハイレベルに遷移すると、DFF32の出力がローレベルからハイレベルに遷移する。そして、DFF31、32の出力が両方ともハイレベルになると、ANDゲート33の出力はハイレベルになり、DFF31、32をリセットする。この結果、DFF31、32の出力はローレベルになる。従って、DFF31の出力がハイレベルになっている時間は、基準信号発生回路1の基準信号がローレベルからハイレベルに遷移してから、帰還回路7の出力がローレベルからハイレベルに遷移するまでの時間となる。これは、帰還回路7の出力に対する基準信号発生回路1の基準信号位相の進み量である。一方、DFF32の出力がハイレベルになっている時間は、帰還回路7の出力がローレベルからハイレベルに遷移してから、基準信号発生回路1の基準信号がローレベルからハイレベルに遷移するまでの時間となる。これは、帰還回路7の出力に対する基準信号発生回路1の基準信号の位相の遅れ量である。そして、出力部34がDFF31の出力からDFF32の出力の減算を行い、加算器4に出力する。加算器4は、ジッタ発生回路2のジッタ信号と位相比較器3の出力とを加算し、ループフィルタ5を介して、電圧制御発振器に出力する。電圧制御発振器6は、ループフィルタ5からの出力に対応した周波数の信号を帰還回路7に出力する。
位相比較器3は、もともと基準信号と電圧制御発振器6の出力を同期させるように働くため、フェーズ・ロック・ループ全体としては、外部から入ってくるジッタを抑制する方向に動作する。従って、所望のジッタを付加するには抑制分を加味した大きなレベルのジッタ信号を印加する方法や、印加する箇所を複数設けるなどの方法を取らなければならないという問題点があった。
そこで、本発明の目的は、ジッタの抑制分を加味することなく、ジッタを付加することができるジッタ発生装置を実現することにある。
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
一方の入力に基準信号を入力し、他方の入力の信号と位相比較を行い、位相差があらかじめ設定された値より小さいとき、位相比較結果を出力しない位相比較器と、
この位相比較器の出力を入力とするローパスフィルタと、
このローパスフィルタの出力を入力とする電圧制御発振器と、
この電圧制御発振器の出力を入力とし、前記位相比較器の他方に出力する帰還回路と、前記ローパスフィルタの前後少なくとも一方に設けられ、ジッタ信号を入力信号に加算し、出力する加算器と
を備えたことを特徴とする、ものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明であって、
前記位相比較器は、
前記基準信号がクロック端子に入力される第1のフリップフロップと、
前記帰還回路の出力がクロック端子に入力される第2のフリップフロップと、
前記第1、第2のフリップフロップの出力を入力とする論理積回路と、
第1、第2のフリップフロップの出力パルス幅のそれぞれが、あらかじめ設定された値未満の場合、遮断信号を出力するパルス幅検出部と、
このパルス幅検出部の遮断信号により、前記第1のフリップフロップの出力を遮断する第1のパルス制御部と、
前記パルス幅検出部の遮断信号により、前記第2のフロップフロップの出力を遮断する第2のパルス制御部と、
前記第1、第2のパルス制御部の出力に基づいて、位相差信号を出力する出力部と
を備えたことを特徴とするものである。
請求項3の記載の発明は、請求項1または2記載の発明であって、
前記位相比較器は、温度制御されることを特徴とするものである。
一方の入力に基準信号を入力し、他方の入力の信号と位相比較を行い、位相差があらかじめ設定された値より小さいとき、位相比較結果を出力しない位相比較器と、
この位相比較器の出力を入力とするローパスフィルタと、
このローパスフィルタの出力を入力とする電圧制御発振器と、
この電圧制御発振器の出力を入力とし、前記位相比較器の他方に出力する帰還回路と、前記ローパスフィルタの前後少なくとも一方に設けられ、ジッタ信号を入力信号に加算し、出力する加算器と
を備えたことを特徴とする、ものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明であって、
前記位相比較器は、
前記基準信号がクロック端子に入力される第1のフリップフロップと、
前記帰還回路の出力がクロック端子に入力される第2のフリップフロップと、
前記第1、第2のフリップフロップの出力を入力とする論理積回路と、
第1、第2のフリップフロップの出力パルス幅のそれぞれが、あらかじめ設定された値未満の場合、遮断信号を出力するパルス幅検出部と、
このパルス幅検出部の遮断信号により、前記第1のフリップフロップの出力を遮断する第1のパルス制御部と、
前記パルス幅検出部の遮断信号により、前記第2のフロップフロップの出力を遮断する第2のパルス制御部と、
前記第1、第2のパルス制御部の出力に基づいて、位相差信号を出力する出力部と
を備えたことを特徴とするものである。
請求項3の記載の発明は、請求項1または2記載の発明であって、
前記位相比較器は、温度制御されることを特徴とするものである。
本発明によれば、位相比較器が、基準信号と帰還回路の出力との位相比較を行い、位相差が閾値未満のとき、位相比較結果を出力しないので、フェーズ・ロック・ループが無制御状態になり、ジッタ信号による影響を受けやすくなり、ジッタの抑制分を加味することなく、ジッタを付加することができる。
また、電圧制御発振器は、ランダムなジッタを持つため、フェーズ・ロック・ループが無制御状態となることにより、ランダムなジッタを発生することが出来る。
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図1は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図4と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
図1において、位相比較器8は位相比較器3の代わりに設けられ、基準信号発生回路1の基準信号を一方に入力し、帰還回路7の出力を他方に入力し、一方と他方の入力の位相比較を行い、位相差があらかじめ設定された値、閾値より小さいとき、位相比較結果(位相差信号)を出力しないと共に、閾値以上のときは位相比較結果(位相差信号)を出力する。
次に、位相比較器8の具体的な構成を図2に示し説明する。図2において、DFF81は、ハイレベルがD端子に接続され、基準信号発生回路1の基準信号がクロック端子に入力される。DFF82は、ハイレベルがD端子に接続され、帰還回路7の出力がクロック端子に入力される。ANDゲート83は論理積回路で、DFF81のQ端子の一方の入力端子に接続され、DFF82のQ端子が他方の入力端子に接続され、DFF81、82のリセット端子に出力端子が接続される。パルス幅検出部84は、ANDゲート83の出力によりリセットされ、DFF81、82の出力のパルス幅のそれぞれがあらかじめ設定された閾値未満の場合は遮断信号としてハイレベルを出力し、それ以外のときはローレベルを出力する。パルス制御部85は、DFF81の出力を入力とし、DFF81の出力を閾値分遅延し、パルス幅検出部84からの遮断信号により、DFF81の出力の遮断を行う。パルス制御部86は、DFF82の出力を入力し、DFF82の出力を閾値分遅延し、パルス制御部84からの遮断信号により、DFF82の出力の遮断を行う。出力部87は、パルス制御部85、86の出力を入力し、減算を行い、加算器4に出力する。
そして、パルス幅検出部84の一部、パルス制御部85の具体例を図3に示し説明する。図3において、パルス幅検出部84の一部は、定電流源841、アナログスイッチ842、843、コンデンサ844、D/Aコンバータ845、コンパレータ846を有する。定電流源841は、一端が定電圧に接続される。アナログスイッチ842は、定電流源841の他端に一端が接続され、DFF81の出力によりオン、オフされる。アナログスイッチ843は、アナログスイッチ842の他端に一端が接続され、他端が接地される。コンデンサ844は、アナログスイッチ842の他端に一端が接続され、他端が接地される。D/Aコンバータ845は、閾値が入力される。コンパレータ846は、D/Aコンバータ845の出力端が非反転入力端子に接続され、コンデンサ844の一端が反転入力端子に接続される。
パルス制御部85は、遅延器851、セレクタ852からなる。遅延器851は、DFF81の出力を、パルス幅測定に要する時間を補償するため、閾値分遅延させる。セレクタ852は、遅延器851の出力が一方の入力に接続され、他方の入力にローレベルが接続され、コンパレータ846の出力により選択を行い、出力部87に出力する。
ここで、DFF82のパルス幅検出の具体的構成とパルス制御部86の具体的構成は、図3と同様なので、説明を省略する。
このような装置の動作を以下に説明する。基準信号発生回路1の基準信号がローレベルからハイレベルに遷移すると、DFF81の出力がローレベルからハイレベルに遷移する。同様に、帰還回路7の出力がローレベルからハイレベルに遷移すると、DFF82の出力がローレベルからハイレベルに遷移する。そして、DFF81、82の出力が両方ともハイレベルになると、ANDゲート83の出力はハイレベルになり、DFF81、82をリセットする。この結果、DFF81、82の出力はローレベルになる。
そして、DFF81の出力がハイレベルになると、パルス幅検出部84のアナログスイッチ842がオンになり、パルス幅検出部84の定電流源841からコンデンサ844に充電が開始される。この結果、コンデンサ844には、ハイレベルのパルス幅に比例した電圧が発生する。この電圧を、パルス幅検出部84の846が、D/Aコンバータ845の出力、つまり閾値に対応した電圧と比較する。比較した結果、コンパレータ846は、コンデンサ844の電圧がD/Aコンバータ845の出力未満の場合はハイレベル、出力以上の場合はローレベルを、パルス制御部85のセレクタ852に出力する。セレクタ852は、コンパレータ846の出力がハイレベル、つまり、パルス幅が閾値未満のとき、ローレベルを選択し、出力部87に出力する。また、セレクタ852は、コンパレータ846の出力がローレベル、つまり、パルス幅が閾値以上のとき、遅延部851の出力を選択し、出力部87に出力する。そして、ANDゲート83がオンになり、DFF81がリセットされ、DFF81がローレベルになり、アナログスイッチ843がオンになり、アナログスイッチ842がオフとなる。この結果、コンデンサ844が放電し、コンデンサ44の電圧がリセットされる。
また、同様に、パルス幅検出部84は、DFF82の出力パルス幅が閾値より小さいとき、ハイレベルを出力し、パルス制御部86は、DFF82の出力を遮断する。そして、DFF82のパルス幅が閾値以上のとき、パルス幅検出84は、ローレベルを出力し、パルス制御部86は、DFF82の出力を閾値分遅延させて、出力部87に出力する。
そして、出力部87が、パルス制御部85の出力からパルス制御部86の出力の減算を行い、位相差を求め、加算器4に位相差信号を出力する。加算器4は、ジッタ発生回路2のジッタ信号と位相比較器8の出力とを加算し、ループフィルタ5を介して、電圧制御発振器6に出力する。電圧制御発振器6は、ループフィルタ5からの出力に対応した周波数の信号を帰還回路7に出力する。
このように、位相比較器8が、基準信号発生部1の基準信号と帰還回路7の出力との位相比較を行い、位相差が閾値未満のとき、位相比較結果を出力しないので、フェーズ・ロック・ループが無制御状態となり、ジッタ信号による影響を受けやすくなり、ジッタの抑制分を加味することなく、ジッタを付加することができる。
また、電圧制御発振器6は、ランダムなジッタを持つため、フェーズ・ロック・ループが無制御状態となることにより、ランダムなジッタを発生することができる。
次に、第2の実施例を図4に示し説明する。ここで、図1と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。図4において、恒温槽付電圧制御発振器9は、電圧制御発振器6の代わりの設けられ、温度制御信号を入力し、恒温槽の温度が制御され、ループフィルタ5の出力を入力し、帰還回路7に出力する。
このような装置の動作を以下に説明する。温度制御信号により、恒温槽付電圧制御発振器9の温度を制御し、電圧制御発振器9自身によるランダムジッタを得るために適した温度にする。その他の動作は、図1に示す装置と同様なので説明を省略する。
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、パルス幅検出部84の具体的構成は、ANDゲート83の出力を必要としているが、パルス幅検出部84内部にANDゲート83と同様の構成を設ければ、必要ない。
また、帰還回路7は、分周器でなく、単にラインだけの構成でも良い。この場合、基準信号と同じ周波数の信号が電圧制御発振器6、9から出力されることになる。
また、加算器4をループフィルタ5の前段に設けた構成を示したが、ループフィルタ5の前段を設けずに、ループフィルタ5の後段、つまり、ループフィルタ5と電圧制御発振器6との間に設ける構成でも良い。もちろん、ループフィルタ5の前段と後段の両方に加算器を設け、ジッタ信号を加算する構成でも良い。
また、DFF81、82でなく、フリップフロップであれば良い。
そして、パルス幅検出部84、パルス制御部85、86は閾値を外部から入力する構成を示したが、内部に保持する構成でもよい。
4 加算器
5 ループフィルタ
6 電圧制御発振器
7 帰還回路
8 位相比較器
81、82 DFF
83 ANDゲート
84 パルス幅検出部
85、86 パルス制御部
87 出力部
5 ループフィルタ
6 電圧制御発振器
7 帰還回路
8 位相比較器
81、82 DFF
83 ANDゲート
84 パルス幅検出部
85、86 パルス制御部
87 出力部
Claims (3)
- 一方の入力に基準信号を入力し、他方の入力と位相比較を行い、位相差が閾値未満のとき、位相比較結果を出力しない位相比較器と、
この位相比較器の出力を入力とするローパスフィルタと、
このローパスフィルタの出力を入力とする電圧制御発振器と、
この電圧制御発振器の出力を入力とし、前記位相比較器の他方の入力に出力する帰還回路と、
前記ローパスフィルタの前後少なくとも一方に設けられ、ジッタ信号を入力信号に加算し、出力する加算器と
を備えたことを特徴とするジッタ発生装置。 - 前記位相比較器は、
前記基準信号がクロック端子に入力され、この入力によりハイレベルを出力する第1のフリップフロップと、
前記帰還回路の出力がクロック端子に入力され、この入力によりハイレベルを出力する第2のフリップフロップと、
前記第1、第2のフリップフロップの出力を入力とする論理積回路と、
前記第1、第2のフリップフロップの出力のパルス幅のそれぞれが、閾値より小さい場合、遮断信号を出力するパルス幅検出部と、
このパルス幅検出部の遮断信号により、前記第1のフリップフロップの出力を遮断する第1のパルス制御部と、
前記パルス幅検出部の遮断信号により、前記第2のフリップフロップの出力を遮断する第2のパルス制御部と、
前記第1、第2のパルス制御部の出力に基づいて、位相差信号を出力する出力部と
を備えたことを特徴とする請求項1記載のジッタ発生装置。 - 前記位相比較器は、温度制御されることを特徴とする請求項1または2記載のジッタ発生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009041824A JP2010199934A (ja) | 2009-02-25 | 2009-02-25 | ジッタ発生装置 |
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JP2009041824A JP2010199934A (ja) | 2009-02-25 | 2009-02-25 | ジッタ発生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP (1) | JP2010199934A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015089139A (ja) * | 2013-11-01 | 2015-05-07 | コリア アドバンスド インスティチュート オブ サイエンス アンド テクノロジィ | 内部ジッタ生成部を有する内部ジッタ許容値テスト装置 |
-
2009
- 2009-02-25 JP JP2009041824A patent/JP2010199934A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015089139A (ja) * | 2013-11-01 | 2015-05-07 | コリア アドバンスド インスティチュート オブ サイエンス アンド テクノロジィ | 内部ジッタ生成部を有する内部ジッタ許容値テスト装置 |
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