JP2010169817A - 振れ補正機能を有する光学機器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 操作端を有する操作手段と、操作量検出手段と、操作端検出手段と、振れ検出手段と、振れ補正手段を有する光学機器において、操作端への到達が予測された際、操作端への突き当て衝撃による不要な振れ信号を軽減するように、振れ信号に施す信号処理の特性を制御する振れ信号制御手段を有する。
【選択図】 図2
Description
操作量(回転位置)の検出を行う。例えば、ポテンショメータから得られる電圧値を回転位置として検出する。あるいは、MRエンコーダやパルス板などの周期的な出力をカウントすることで回転位置を検出してもよい。
ステップ301で検出した回転位置を記憶部に記憶する。ここで記憶した回転位置は一定周期毎に記憶され、ステップ303での使用者による操作有り無しの判定や、ステップ304での回転速度計算に用いる。
使用者が操作手段を操作したか否かの判定を行う。例えば、ステップ302に記憶されていた1つ前の処理周期での回転位置と今回の処理で検出した回転位置を比較し、その時間変化を見る。すなわち、両者の値が異なれば操作がされているといった方法により判定が可能である。操作があったと判定された場合にはステップ304に進み、操作がなかったと判定された場合にはステップ307に進む。
ステップ302に記憶されていた1つ前の処理周期での回転位置と今回の処理で検出した回転位置から回転速度ωを算出する。例えば、1周期前の回転位置をθp、今回の検出したθn、本フローの処理時間とTとすると、
ω=(θp−θn)/T
で表すことができる。過去、複数回分の回転位置を記憶しておき、これらの回転速度の平均値を求めれば、算出する回転速度ωの正確性を高めることもできる。
ステップ305では操作端への到達予想を行う。図3は本ステップでの操作端予測の原理を示している。θw、θtはそれぞれズーム操作リングのワイド端、テレ端である。θth_w、θth_tはそれぞれワイド、テレ端を予想するための端近傍閾値であり、これらの値によって操作端からの所定距離を規定する。例えば、回転位置θw〜θth_w間、すなわち操作端であるワイド端から所定距離未満の位置にあるとする。このとき、回転速度が所定速度か所定速度より大きい(ωA以上:図3中では傾き)で端方向に移動させた場合には、操作端での突き当て衝撃が発生すると判定しステップ306に進む。所定速度未満(ωA未満)の場合には、操作端へ到達しないあるいは到達しても衝撃が小さいと判断し、ステップ307に進む。また、回転速度が速くても、操作端近傍でない場合には衝撃は発生しないと判定する。
操作端での突き当て衝撃による異常な振れ信号を低減させるために、振れ信号に施すフィルタの特性を変更させる。フィルタ特性の変更については後述する。
通常のフィルタ特性を維持あるいは通常のフィルタ特性への変更を行う。使用者による操作手段の操作がない場合や、操作されていても端へ到達しないと判定された場合にはこのステップを経由する。
既知の手法により、光学機器が支持状態にあるか否かの判定を行う。
支持状態でないと判断された際には、振れ補正信号処理のフィルタ特性を通常の特性に変更したり、振れ補正動作を開始したりすることで通常の振れ補正が行えるようにする。
支持状態であると判断された際には、振れ補正信号処理のフィルタ特性を支持モードでの特性に変更したり、振れ補正動作を停止したり、振れ補正が映像に不要なブレを発生させないように動作させる。
操作量(回転位置)の検出を行う。例えば、ポテンショメータから得られる電圧値を回転位置として検出する。あるいは、MRエンコーダやパルス板などの周期的な出力をカウントすることで回転位置を検出する。
ステップ404で検出した回転位置を記憶部に記憶する。ここで記憶した回転位置は一定周期毎に記憶され、操作有り無しの判定や、ステップ407での回転速度計算に用いる。
使用者が操作手段を操作したか否かの判定を行う。前のステップ405に記憶されていた1つ前の処理周期での回転位置と今回の処理で検出した回転位置を比較し、両者の値が異なれば操作がされているといった方法により判定が可能である。操作があったと判定された場合には次のステップに進み、操作がなかったと判定された場合には始めのステップに戻る。
実施例1のステップ304と同様に操作量から回転速度ωを求める。
実施例1のステップ306と同様に操作端への到達を予測する。操作端への突き当たりが予測される場合にはステップ410に進み、そうでない場合にはステップ409に進む。
支持状態検出部により支持状態か否かを検出する条件(閾値)を、衝撃のない場合の条件に設定する。条件の設定後、最初のステップに戻る。
支持状態か否かを検出する条件を、操作端の衝撃が発生しても誤検出しないよう変更する。例えば、振れ信号の周波数成分と振幅成分を検出し、支持されたかを判断する場合には、高い周波数かつ大きな振幅が入力されても支持状態であると判定できるように閾値を大きくする設定を行う。条件の変更後、最初のステップに戻る。したがって、ステップ401ではステップ410にて変更した条件で支持状態の検出を行う。
114 角速度センサ
118 振れ補正信号処理部
121 ズーム操作リング
122 連動部
123、204、205、206 回転位置検出部
124、210、211、212 操作端検出部
125、213 記憶部
126 振れ信号制御部
131 支持状態検出部
132 支持制御部
135 制御CPU
Claims (13)
- 光学機器に加わる振れを検出するための振れ検出手段と、
前記振れによる像ブレを補正する振れ補正手段と、
前記振れ補正手段を駆動する振れ補正駆動手段と、
前記振れ検出手段の検出した振れ信号に基づいて前記振れ補正駆動手段を制御する制御手段とを有する光学機器において、
前記光学機器の光学系を構成する光学ユニットと、
前記光学ユニットを機械的な操作端を持ち、所定の可動範囲内で操作する操作手段と、を有し、
前記制御手段は、前記操作手段が前記操作端へ到達する場合、
前記操作手段が前記操作端へ到達する際に前記光学機器に加わる衝撃が前記振れ信号に及ぼす影響を軽減させるように、前記振れ信号に掛けるフィルタ特性を制御することを特徴とする光学機器。 - 前記操作手段の操作量を検出する操作量検出手段を有し、
前記制御手段は、前記操作量検出手段の出力を基に、前記操作手段が前記操作端へ到達するか否かを判定し、
前記操作手段が前記操作端へ到達する場合とは、前記制御手段が、前記操作手段が前記操作端へ到達すると判定した場合を指し、
前記制御手段は、前記操作手段が前記操作端から所定距離未満の範囲にあり、かつ前記操作手段が所定速度より大きい速度で前記操作端に近づいているときに、前記操作手段が前記操作端へ到達すると判定することを特徴とする請求項1に記載の光学機器。 - 前記制御手段は、前記操作手段が前記操作端へ到達すると判定された場合、前記振れ信号に掛けるハイパスフィルタのカットオフ周波数を前記操作手段が前記操作端へ到達すると判定されない場合に比べて高く設定することを特徴とする請求項1または2に記載の光学機器。
- 前記制御手段は、前記操作手段が前記操作端へ到達すると判定された場合、前記振れ信号に掛けるローパスフィルタのカットオフ周波数を前記操作手段が前記操作端へ到達すると判定されない場合に比べて低く設定することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の光学機器。
- 前記制御手段は、前記操作手段が前記操作端へ到達すると判定された場合、前記振れ信号に掛ける積分フィルタのゲインを前記操作手段が前記操作端へ到達すると判定されない場合に比べて低く設定することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の光学機器。
- 前記光学ユニット及び前記操作手段及び前記操作量検出手段の組は複数存在することを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の光学機器。
- 前記制御手段は、前記光学機器が支持状態であるか否かを判定し、
前記操作手段が、前記操作端へ到達すると判定された場合には、前記衝撃によって前記支持状態を判定しないようにすることを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の光学機器。 - 前記制御手段は、前記振れ信号の周波数が所定周波数未満及び前記振れ信号の振幅が所定振幅未満であった場合に前記光学機器が支持状態であると判定し、
前記操作手段が前記操作端へ到達すると判定された場合、前記操作端へ到達すると判定されない場合に比べて前記所定周波数及び前記所定振幅の値を高く設定することを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の光学機器。 - 前記制御手段は、前記操作量検出手段の出力の時間変化に基づいて、前記操作手段の前記操作端への到達を予測することを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載の光学機器。
- 前記操作量検出手段は前記光学ユニットの位置を検出することを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項に記載の光学機器。
- 前記光学機器は、撮像素子を有する撮像装置であることを特徴とする請求項1乃至10の何れか一項に記載の光学機器。
- 前記光学機器は、カメラに着脱可能な交換レンズであることを特徴とする請求項1乃至10の何れか一項に記載の光学機器。
- 前記光学機器は、前記交換レンズと前記交換レンズを着脱可能な前記カメラが一体となったカメラシステムであることを特徴とする請求項12に記載の光学機器。
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