JP2010169637A - プローブカード - Google Patents

プローブカード Download PDF

Info

Publication number
JP2010169637A
JP2010169637A JP2009014520A JP2009014520A JP2010169637A JP 2010169637 A JP2010169637 A JP 2010169637A JP 2009014520 A JP2009014520 A JP 2009014520A JP 2009014520 A JP2009014520 A JP 2009014520A JP 2010169637 A JP2010169637 A JP 2010169637A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
probe
probes
positioning
tip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009014520A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010169637A5 (ja
JP5577040B2 (ja
Inventor
Keiji Matsuoka
敬二 松岡
Hideaki Shiga
秀明 志賀
Kazuma Komuro
一真 小室
Shingo Sato
新吾 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Electronic Materials Corp
Original Assignee
Japan Electronic Materials Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Electronic Materials Corp filed Critical Japan Electronic Materials Corp
Priority to JP2009014520A priority Critical patent/JP5577040B2/ja
Publication of JP2010169637A publication Critical patent/JP2010169637A/ja
Publication of JP2010169637A5 publication Critical patent/JP2010169637A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5577040B2 publication Critical patent/JP5577040B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【目的】 本発明の目的は、プローブを狭ピッチ間隔で容易に配列することができるプローブカードを提供する。
【構成】 溝420a、420bを有する基板400と、基板400の溝420aに嵌合するプレート700aと、基板400の溝420bに嵌合し且つプレート700aよりも背高なプレート700bと、先端部510aが折り曲げられたプローブ500aと、先端部510bが折り曲げられ且つ先端部510bの先端から折り曲げ部までの長さが先端部510aの先端から折り曲げ部までの長さよりも短いプローブ500bとを備える。プレート700aには、前記先端を下方に向けてプローブ500aを各々保持する凹部710aが設けられており、プレート700bには、プローブ500a、500bの先端同士が同一高さになるように当該プローブ500bを各々保持する凹部710bが設けられている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、半導体デバイスの電気的諸特性を測定するのに使用されるプローブカードに関する。
この種のプローブカードとしては、プリント基板と、このプリント基板の上面に取り付けられた補強板と、上段及び下段のプローブと、このプローブをプリント基板の下面に取り付ける固定樹脂とを備えたものがある(特許文献1参照)。
特開2008−205282号公報(特に、明細書の段落0009及び図1〜図3参照)
前記プローブカードは、近年の半導体デバイスの高集積化に伴って、プローブを微細化し且つ狭ピッチ間隔で配列することが要求されている。
ところが、微細化されたプローブを狭ピッチ間隔で配列することは非常に困難であった。
本発明は、上記事情に鑑みて創案されたものであって、その目的とするところは、プローブを狭ピッチ間隔で容易に配列することができるプローブカードを提供することにある。
上述の課題を解決するために、本発明の第1のプローブカードは、第1面に第1、第2の位置決め溝が略平行に設けられた第1の基板と、第1の基板の第1の位置決め溝に嵌合する第1の位置決め部材と、第1の基板の第2の位置決め溝に嵌合し且つ第1の位置決め部材よりも背高である第2の位置決め部材と、先端部が略L字状に折り曲げられた複数の第1のプローブと、先端部が略L字状に折り曲げられ且つ前記先端部の先端から折り曲げ部までの長さが第1のプローブの先端部の先端から折り曲げ部までの長さよりも短い複数の第2のプローブと、第1の基板に設けられ且つ第1、第2のプローブが接続される第1、第2の電極とを備えており、第1の位置決め部材には、前記先端を下方に向けた状態で第1のプローブを各々保持する複数の凹部が一列で設けられており、第2の位置決め部材には、第2のプローブの先端が第1のプローブの前記先端と略同一高さになるように当該第2のプローブを各々保持する複数の凹部が一列で設けられていることを特徴としている。
このような第1のプローブカードによる場合、第1の基板の第1面の第1、第2の位置決め溝に嵌合した第1、第2の位置決め部材の凹部により、第1、第2のプローブが第1の基板の第1面上で位置決め保持される構成となっている。すなわち、第1の基板の第1面の第1、第2の位置決め溝に嵌合した第1、第2の位置決め部材の凹部に第1、第2のプローブを各々保持させるだけで、第1、第2のプローブを第1の基板の第1面上に容易に狭ピッチ間隔で配列することができる。
前記第1のプローブカードが、第1の基板の第2面側に配置される第2の基板を更に備えている場合、第1、第2の電極は、第1の基板ではなく、第2の基板に設けられており、第1の基板には、複数の第1、第2の貫通孔が第1、第2の位置決め溝に沿って略平行に設けられており、第1、第2のプローブの中間部が前記先端部の折り曲げ方向に対して反対方向に向けて略L字状に折り曲げられ且つ第1の基板の第1、第2の貫通孔に挿入されており、第1、第2のプローブの後端部が第2の基板の第1、第2の電極に各々接続されていることが好ましい。
この場合、第1、第2のプローブの後端部が、第1、第2のプローブが配列される第1の基板とは別の第2の基板の第1、第2の電極に各々接続されるため、前記後端部を第1、第2の電極に接続し易くなる。また、第1、第2のプローブは第1、第2の位置決め部材の凹部に支持されると共に、第1の基板の第1、第2の貫通孔に挿入される。すなわち、第1、第2のプローブは二点で支持されているので、第1、第2のプローブが第1、第2の貫通孔に挿入された状態で回転するのを防止することができる。
本発明の第2のプローブカードは、第1面に設けられた位置決め溝及びこの位置決め溝に沿って略平行に各々配設された複数の第1、第2の貫通孔を有する第1の基板と、先端部が略L字状に折り曲げられ、中間部が前記先端部の折り曲げ方向に対して反対方向に向けて略L字状に折り曲げられ且つ前記第1、第2の貫通孔に挿入された複数の第1、第2のプローブと、第1の基板の位置決め溝に嵌合した第1の位置決め部材と、第1の位置決め部材よりも背高であり且つ第1、第2の貫通孔に挿入された第1のプローブの中間部に当接して第1の基板の第1面上に位置決め配置される第2の位置決め部材と、第1の基板に設けられ且つ第1、第2のプローブが接続される第1、第2の電極とを備えており、第2のプローブの前記先端部の先端から折り曲げ部までの長さが第1のプローブの先端部の先端から折り曲げ部までの長さよりも短くなっており、第1の位置決め部材には、前記先端を下方に向けた状態で第1のプローブを各々保持する複数の凹部が一列で設けられており、第2の位置決め部材には、第2のプローブの先端が第1のプローブの前記先端と略同一高さになるように当該第2のプローブを各々保持する複数の凹部が一列で設けられていることを特徴としている。
このような第2のプローブカードによる場合、第1の基板の第1面の位置決め溝に嵌合した第1の位置決め部材の凹部により、第1のプローブが第1の基板の第1面上で位置決め保持され、該第1のプローブの中間部に当接する第2の位置決め部材の凹部により、第2のプローブが第1の基板の第1面上で位置決め保持される構成となっている。よって、第1の基板の第1面の位置決め溝に嵌合した第1の位置決め部材の凹部に第1のプローブを各々嵌合させ、該第1のプローブの中間部に第2の位置決め部材を当接させて第1の基板の第1面上に位置決め配置し、該第2の位置決め部材の凹部に第2のプローブを各々嵌合させるだけで、第1、第2のプローブを第1の基板の第1面上に容易に狭ピッチ間隔で配列することができる。しかも、第1、第2のプローブは、第1、第2の位置決め部材の凹部に支持されると共に、第1の基板の第1、第2の貫通孔に挿入される。すなわち、第1、第2のプローブは二点で支持されているので、第1、第2のプローブが第1、第2の貫通孔に挿入された状態で回転してしまうのを防止することができる。更に、第1の基板には一つの位置決め溝のみが設けられているだけであるので、第1の基板の加工工数を低減することができ、その結果、プローブカードの低コスト化を図ることが可能になる。
前記第2のプローブカードが、第1の基板の第2面側に配置される第2の基板を更に備えている場合、第1、第2の電極は、第1の基板ではなく、第2の基板に設けられており、第1、第2のプローブの後端部が第2の基板の第1、第2の電極に各々接続されていることが好ましい。この場合、第1、第2のプローブの後端部が、第1、第2のプローブが配列される第1の基板とは別の第2の基板の第1、第2の電極に各々接続されるため、前記後端部を第1、第2の電極に接続し易くなる。
前記第1の基板の第2面に第1、第2の貫通孔に連通する穴部が設けられている場合、第1、第2のプローブは、第1の基板の穴部に充填された絶縁性の樹脂により第1の基板に固定されるようになっていることが好ましい。この場合、前記樹脂で第1、第2のプローブを第1の基板に簡単に固定することができるので、第1、第2のプローブが第1の基板の第1面上に配置された状態で衝撃などが加わることにより動作してしまうのを防止することができる。
また、第1、第2のプローブカードは、第1、第2のプローブ及び第1、第2の位置決め部材を第1の基板の第1面上に固定する絶縁性の固定用樹脂を更に備えた構成とすることが可能である。この場合、固定用樹脂で第1、第2のプローブを第1の基板に簡単に固定することができるので、第1、第2のプローブが第1の基板の第1面上に配置された状態で衝撃などが加わることにより動作してしまうのを防止することができる。
前記第1、第2の位置決め部材は、第1の基板又は半導体デバイスと略同じ熱膨張係数を有する素材で構成されていることが好ましい。特に、第1、第2の位置決め部材は、液晶ポリマーフィルムであることが好ましい。この場合、本第1、第2のプローブカードが高温環境下で使用される際に、第1、第2の位置決め部材が第1の基板又は半導体デバイスと同様に熱膨張するため、第1、第2の位置決め部材と第1の基板又は半導体デバイスとが異なる熱膨張することにより、第1、第2の位置決め部材又は第1の基板が歪む等して第1、第2のプローブの先端位置の精度が低下するのを抑止することができる。
本発明の実施の形態に係るプローブカードの概略的断面図である。 同プローブカードの図1のX部分の拡大図である。 同プローブカードの第1、第2のプローブ及び位置決めプレートの概略的斜視図であって、(a)が正面上方から見た斜視図、(b)が背面下方から見た斜視図である。 同プローブカードの第1、第2の位置決めプレートの概略図であって、(a)が斜視図、(b)が正面図である。 同プローブカードの製造工程を示す模式図であって、(a)は第1、第2のプローブ及び第1、第2の位置決めプレートが取り付けられる前の状態のガイド基板を示す底面図及び断面図、(b)は第1の位置決めプレートがガイド基板に取り付けられた状態を示す底面図及び断面図、(c)は第1のプローブが第1の位置決めプレートに取り付けられた状態を示す図である。 同プローブのカードの図5の続きの製造工程を示す模式図であって、(a)は第1のプローブ及び第1の位置決めプレートがガイド基板の下面に樹脂固定された状態を示す図、(b)は第2の位置決めプレートがガイド基板に取り付けられた状態を示す図、(c)は第2のプローブが第2の位置決めプレートが取り付けられた状態を示す図である。 同プローブのカードの図6の続きの製造工程を示す模式図であって、(a)は第1、第2のプローブ及び第1、第2の位置決めプレートがガイド基板の下面に樹脂固定された状態を示す図、(b)は第1、第2のプローブがガイド基板の上面に樹脂固定された状態を示す図、(c)は第1、第2のプローブがメイン基板に接続された状態を示す図である。 プローブカードの設計変更例を示す概略的断面図であって、第1、第2、第3、第4のプローブ及び位置決めプレートが設けられた例を示す図である。 同プローブカードの別の設計変更例を示す概略的断面図であって、第2、第3、第4の位置決めプレートを第1、第2、第3のプローブで位置決めする例を示す図である。 同プローブカードの別の設計変更例を示す概略的断面図であって、第1、第2、第3、第4のプローブがガイド基板に接続される例を示す図である。 同プローブカードの別の設計変更例を示す概略図であって、(a)が中間部が折り曲げられていない第1、第2のプローブを備える同プローブカードの断面図、(b)が第2の位置決めプレートの斜視図である。 同プローブカードの位置決めプレートの設計変更例を示す概略的斜視図である。
以下、本発明の実施の形態に係るプローブカードについて図1乃至図4を参照しつつ説明する。図1は本発明の実施の形態に係るプローブカードの概略的断面図、図2は同プローブカードの図1のX部分の拡大図、図3は同プローブカードの第1、第2のプローブ及び位置決めプレートの概略図であって、(a)が正面上方から見た斜視図、(b)が背面下方から見た斜視図、図4は同プローブカードの第1、第2の位置決めプレートの概略的斜視図であって、(a)が斜視図、(b)が正面図である。
図1に示すプローブカードは、メイン基板100(第2の基板)、補強板200、保持部材300、ガイド基板400(第1の基板)、複数の第1、第2のプローブ500a、500b、2つの固定用樹脂600及び2枚の第1、第2の位置決めプレート700a、700b(位置決め部材)を備えている。以下、プローブカードの各部について詳しく説明する。
なお、前記プローブカードは、複数の電極11が二列で配設された半導体デバイス10の電気的諸特性を測定するのに使用されるものである。
各第1のプローブ500aは、図2及び図3に示すように、タングステン等の円柱状の金属針を折り曲げて作成されたものである。この第1のプローブ500aは、下方に向けて略L字状に折り曲げられた先端部510aと、上方に向けて略L字状に折り曲げられた中間部520aと、直線状の後端部530aとを有する。
各第2のプローブ500bは、図2及び図3に示すように、タングステン等の円柱状の金属針を折り曲げて作成されたものである。この第2のプローブ500bは、下方に向けて略L字状に折り曲げられた先端部510bと、上方に向けて略L字状に折り曲げられた中間部520bと、直線状の後端部530bとを有する。
第1、第2のプローブ500a、500bは下記の点で相違している。先端部510bの先端から折り曲げ部511bまでの長さが先端部510aの先端から折り曲げ部511aまでの長さよりも短くなっている(本実施形態では、略半分)。先端部510bの折り曲げ部511bから中間部520bの折り曲げ部521bまでの長さが先端部510aの折り曲げ部511aから中間部520aの折り曲げ部521aまでの長さよりも長くなっている。中間部520bの折り曲げ部521bから後端部530bの端までの長さが中間部520aの折り曲げ部521aから後端部530aの端までの長さよりも長くなっている。
また、本実施形態では、中間部520a、520b及び後端部530a、530bの直径は0.09mmとなっている。先端部510a、510bは先細り形状になっており、先端が半導体デバイス10の電極11に接触可能になっている。
ガイド基板400はセラミックで構成された板状体である。このガイド基板400の中央部には図1に示すように略矩形状の孔部410が設けられている。
ガイド基板400の孔部410の両縁部の下面(第1面)には、図2及び後述する図5(a)に示すように、長溝である第1、第2の位置決め溝420a、420bが略平行に各々配設されている。また、ガイド基板400の前記両縁部には、複数の第1、第2の貫通孔430a、430bが第1、第2の位置決め溝420a、420bと略平行に各々配設されている。第1の貫通孔430aと第2の貫通孔430bとは、図5に示すように、平面位置的に千鳥配置されている。第1、第2の貫通孔430a、430bの外径は第1、第2のプローブ500a、500bの中間部520a、520bの直径よりも若干大きくなっている。すなわち、第1、第2の貫通孔430a、430bには、第1、第2のプローブ500a、500bの中間部520a、520bの折り曲げ部521a、521bの上側部が各々挿入される。
第1、第2の貫通孔430a、430bの各々のピッチ間隔は、5mmとなっている。また、第1の貫通孔430aと第2の貫通孔430bとの間の間隔D1は、図2に示すように、第1のプローブ500aの先端部510aの折り曲げ部511aから中間部520aの折り曲げ部521aまでの長さと第2のプローブ500bの先端部510bの折り曲げ部511bから中間部520bの折り曲げ部521bまでの長さとの差と同じに設定されている。このため、第1、第2のプローブ500a、500bの中間部520a、520bの前記上側部が第1、第2の貫通孔430a、430bに各々挿入されると、当該プローブ500a、500bの先端部510a、510bが交互に一列で配列される。
ガイド基板400の前記両縁部の上面(第2面)には穴部440が設けられている。この穴部440は第1、第2の位置決め溝420a、420bと同じ方向に延びる長穴であって、第1、第2の貫通孔430a、430bと連通している。また、穴部440には樹脂450が充填され、第1、第2の貫通孔430a、430bに挿入された第1、第2のプローブ500a、500bの中間部520a、520bの上側部が樹脂450によりガイド基板400に固定される。なお、樹脂450としては絶縁性の樹脂であるレジンを用いている。
第1の位置決めプレート700aは、図2乃至図4に示すように、ガイド基板400及び半導体デバイス10と熱膨張係数が略同じである素材で構成された板状体である。本実施形態では第1の位置決めプレート700aとしてLCP(液晶ポリマー)フィルムを用いている。なお、本実施形態では、第1の位置決めプレート700aは、高さ位置が約0.1mm、厚み寸法が00.5〜0.1mmとなっている。
第1の位置決めプレート700aの上端部はガイド基板400の第1の位置決め溝420aに嵌合する。第1の位置決めプレート700aの下端部には略U字状の複数の凹部710aが第1の貫通孔430aと同ピッチ間隔で一列で配設されている。
凹部710aの幅寸法は、第1のプローブ500aの中間部500aの直径と略同じである。すなわち、凹部710aには、第1のプローブ500aの中間部500aが嵌合するようになっている。なお、本実施形態では、凹部710aの幅寸法は、0.09mmとなっている。
第2の位置決めプレート700bは、図2乃至図4に示すように、ガイド基板400又は半導体デバイス10と熱膨張係数が略同じである素材で構成された板状体である。本実施形態では第2の位置決めプレート700bもLCP(液晶ポリマー)フィルムを用いている。第2の位置決めプレート700bの高さ寸法は第1の位置決めプレート700aの高さ寸法よりも大きい。なお、本実施形態では、第2の位置決めプレート700bは、高さ位置が約0.2〜0.5mm、厚み寸法が00.5〜0.1mmとなっている。
第2の位置決めプレート700bの上端部はガイド基板400の第2の位置決め溝420bに嵌合する。第2の位置決めプレート700bの下端部には複数の凹部710bが第2の貫通孔430bと同ピッチ間隔で一列で配設されている。
凹部710bの幅寸法は、第2のプローブ500bの中間部500bの直径と略同じである。すなわち、凹部710bには、第2のプローブ500bの中間部500bが嵌合するようになっている。なお、本実施形態では、凹部710bの幅寸法は、0.09mmとなっている。
第1、第2の位置決めプレート700a、700bの上端部がガイド基板400の第1、第2の位置決め溝420a、420bに嵌合した状態(嵌合状態)で、図4(b)に示すように、凹部710a、710bは正面位置的に千鳥配置される。このため、凹部710a、710bに嵌合した第1、第2のプローブ500a、500bの中間部520a、520bも同正面位置的に千鳥配置される。
また、前記嵌合状態で、図2に示すように、凹部710aの底部の高さ位置から凹部710bの底部の高さ位置までの距離D2が、凹部710a、710bに嵌合した第1、第2のプローブ500a、500bの先端部510a、510bの先端の高さ位置が下向きで揃う距離に設定されている。
固定用樹脂600は、第1、第2の位置決めプレート700a、700b及び第1、第2の位置決めプレート700a、700bの凹部710a、710bに嵌合した第1、第2のプローブ500a、500bの中間部520a、520bの折り曲げ部521a、521bをガイド基板400の孔部410の縁部に固着する絶縁性の樹脂である。本実施形態では、固定用樹脂600としてはレジンを用いている。固定用樹脂600は、後述する図7(b)に示すように、第1、第2の固定用樹脂601、602が一体化されたものである。
メイン基板100は周知のプリント基板である。このメイン基板100の中央部には図1に示すように略矩形状の孔部110が設けられている。メイン基板100の孔部110の両縁部には、図2に示すように、複数の第1、第2のスルーホール120a、120b(第1、第2の電極)が略平行に間隔を空けて各々配設されている。第1、第2のスルーホール120a、120bの外径は第1、第2の貫通孔430a、430bの外径と同じであり、当該第1、第2のスルーホール120a、120bと同ピッチ間隔で同心円状に配置されている。すなわち、第1のスルーホール120aと第2のスルーホール120bは、平面位置的に千鳥配置されている。この第1、第2のスルーホール120a、120bには、第1、第2のプローブ500a、500bの後端部530a、530bが各々挿入され、半田接続される。
また、メイン基板100の両外縁部上には、複数の外部電極130が一列で各々配設されている。第1、第2のスルーホール120a、120bと外部電極130とは、メイン基板100の面上の外部配線又は内部配線により各々電気的に接続されている。
補強板200は、図1に示すように、メイン基板100の上面に取り付けられている。この補強板200としては、メイン基板100よりも硬い素材(例えば、ステンレス鋼)で構成された板状体を用いている。この補強板200によりメイン基板100の平面度が維持される。
また、補強板200の中央部には、孔部110に連通する略矩形状の孔部210が設けられている。この孔部210の外形は孔部110の外形よりも小さい。このため、孔部210からメイン基板100の前記両縁部が上方に露出する。
保持部材300は、図1に示すように、メイン基板100の下面に取り付けられている。この保持部材300はステンレス製の板体で構成されている。
保持部材300の中央部には孔部110に連通する略矩形状の孔部310が設けられている。孔部310の外形は孔部110及び孔部410の外形よりも大きい。このため、図1に示すように、ガイド基板400の孔部410の両縁部とメイン基板100の孔部110の両縁部とが孔部310を通じて対向する。ガイド基板400の第1、第2の貫通孔430a、430bに挿入された第1、第2のプローブ500a、500bの後端部530a、530bは、孔部310を通ってメイン基板100の第1、第2のスルーホール120a、120bに挿入される。
また、保持部材300の下面中央部には、ガイド基板400が嵌合する取付凹部320が設けられている。取付凹部320は孔部310に連通している。
以下、上述したプローブカードの製造方法について図5乃至図7を参照しつつ説明する。図5は本発明の実施の形態に係るプローブカードの製造工程を示す模式図であって、(a)は第1、第2のプローブ及び第1、第2の位置決めプレートが取り付けられる前の状態のガイド基板を示す底面図及び断面図、(b)は第1の位置決めプレートがガイド基板に取り付けられた状態を示す底面図及び断面図、(c)は第1のプローブが第1の位置決めプレートに取り付けられた状態を示す図、図6は同プローブのカードの図5の続きの製造工程を示す模式図であって、(a)は第1のプローブ及び第1の位置決めプレートがガイド基板の下面に樹脂固定された状態を示す図、(b)は第2の位置決めプレートがガイド基板に取り付けられた状態を示す図、(c)は第2のプローブが第2の位置決めプレートが取り付けられた状態を示す図、図7は同プローブのカードの図6の続きの製造工程を示す模式図であって、(a)は第1、第2のプローブ及び第1、第2の位置決めプレートがガイド基板の下面に樹脂固定された状態を示す図、(b)は第1、第2のプローブがガイド基板の上面に樹脂固定された状態を示す図、(c)は第1、第2のプローブがメイン基板に接続された状態を示す図である。
まず、図5(a)に示すガイド基板400の下面の第1の位置決め溝420aに、図5(b)に示すように、第1の位置決めプレート700aを嵌合させる。
その後、図5(c)に示すように、第1のプローブ500aの後端部530aをガイド基板400の第1の貫通孔430aに挿入する。そして、第1のプローブ500aの後端部530aをその挿入方向に直進させる。すると、第1のプローブ500aの中間部520aの上側部がガイド基板400の第1の貫通孔430aに挿入されると共に、第1のプローブ500aの中間部520aの折り曲げ部521aが第1の位置決めプレート700aの凹部710aに嵌合する。
その後、図6(a)に示すように、第1のプローブ500aの中間部520aの折り曲げ部521a及び第1の位置決めプレート700aに第1の固定用樹脂601を塗布し、当該第1の固定用樹脂601により第1のプローブ500aの中間部520aの折り曲げ部521a及び第1の位置決めプレート700aをガイド基板400の下面に固着させる。
その後、図6(b)に示すように、ガイド基板400の下面の第2の位置決め溝420bに第2の位置決めプレート700bを嵌合させる。
その後、図6(c)に示すように、第2のプローブ500bの後端部530bをガイド基板400の第2の貫通孔430bに挿入する。そして、第2のプローブ500bの後端部530bをその挿入方向に直進させる。すると、第2のプローブ500bの中間部520bの上側部がガイド基板400の第1の貫通孔430bに挿入されると共に、第2のプローブ500bの中間部520bの折り曲げ部521bが第2の位置決めプレート700bの凹部710bに嵌合する。
その後、図7(a)に示すように、第2のプローブ500bの中間部520bの折り曲げ部521b及び第2の位置決めプレート700bに第2の固定用樹脂602を塗布し、当該第2の固定用樹脂602により第2のプローブ500bの中間部520bの折り曲げ部521b及び第2の位置決めプレート700bをガイド基板400の下面に固着させる。このとき、第2の固定用樹脂602が第1の固定用樹脂601と一体化し、固定用樹脂600となる。
その後、図7(b)に示すように、ガイド基板400を裏返す。そして、ガイド基板400の穴部440に樹脂450を充填し、第1、第2のプローブ500a、500bをガイド基板400の上面に固着させる。
その後、図7(c)に示すように、メイン基板100の上面に補強板200を、メイン基板100の下面に保持部材300を取り付け、保持部材300の取付凹部320に上述のように第1、第2のプローブ500a、500b及び第1、第2の位置決めプレート700a、700bが固着されたガイド基板400を嵌合させる。
このとき、第1、第2のプローブ500a、500bの後端部530a、530bが保持部材300の孔部310に挿入され、メイン基板100の第1、第2のスルーホール120a、120bに各々挿入される。
その後、第1、第2のプローブ500a、500bの後端部530a、530bをメイン基板100の第1、第2のスルーホール120aに各々半田接続する。
このように製造されるプローブカードによる場合、ガイド基板400の第1の貫通孔430aに第1のプローブ500aの中間部520aの上記上側部を挿入すると共に、ガイド基板400の第1の位置決め溝420aに嵌合した第1の位置決め部材700aの凹部710aに第1のプローブ500aの中間部520aの折り曲げ部521aを各々嵌合させ、その後、ガイド基板400の第2の貫通孔430bに第2のプローブ500bの中間部520bの上記上側部を挿入すると共に、ガイド基板400の第2の位置決め溝420bに嵌合した第2の位置決め部材700bの凹部710bに第2のプローブ500bの中間部520bの折り曲げ部521aを各々嵌合させるだけで、ガイド基板400の下面上に第1、第2のプローブ500a、500bを容易に交互に狭ピッチ間隔で配列することができる。
しかも、第1、第2のプローブ500a、500bの中間部520a、520bの折り曲げ部521a、521bが第1、第2の位置決めプレート700a、700bに保持されると共に、第1、第2のプローブ500a、500bの中間部520a、520bの上側部がガイド基板400の第1、第2の貫通孔430a、430bに挿入され保持される。すなわち、第1、第2のプローブ500a、500bは、第1、第2の位置決めプレート700a、700b及びガイド基板400の第1、第2の貫通孔430a、430bの二点で保持されるので、第1、第2のプローブ500a、500bがガイド基板400の第1、第2の貫通孔430a、430bに挿入された状態で周方向に回転するのを防止することができる。また、第1、第2の位置決めプレート700a、700bとして厚みの薄いLCP(液晶ポリマー)フィルムを用いていることから、凹部710a、710bを狭ピッチ間隔で開設し易く、下降コストの低減を図ることができるというメリットも奏する。
更に、第1、第2の位置決めプレート700a、700bとしてガイド基板400及び半導体デバイス10と略同じ熱膨張係数が同じであるLCPフィルムを用いている。このため、本プローブカードが高温環境下で半導体デバイス10の電気的諸特性を測定するのに使用されたとしても、第1、第2の位置決めプレート700a、700bがガイド基板400及び半導体デバイス10と同様に熱膨張するので、第1、第2の位置決めプレート700a、700bとガイド基板400及び半導体デバイス10とが異なる熱膨張をすることにより、第1、第2の位置決めプレート700a、700bに取り付けられた第1、第2のプローブ500a、500bの先端部510a、510bの先端位置が半導体デバイス10の電極11に接触しない位置に位置ズレしてしまうのを抑止することができる。
なお、上述したプローブカードは上記実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲の範囲において任意に設計変更することが可能である。以下、詳しく述べる。図8は本発明の実施の形態に係るプローブカードの設計変更例を示す模式的断面図であって、第1、第2、第3、第4のプローブ及び位置決めプレートが設けられた例を示す図、図9は同プローブカードの別の設計変更例を示す模式的断面図であって、第2、第3、第4の位置決めプレートを第1、第2、第3のプローブで位置決めする例を示す図、図10は同プローブカードの別の設計変更例を示す模式的断面図であって、第1、第2、第3、第4のプローブがガイド基板に接続される例を示す図、図11は同プローブカードの別の設計変更例を示す模式図であって、(a)が中間部が折り曲げられていない第1、第2のプローブを備える同プローブカードの断面図、(b)が第2の位置決めプレートの斜視図、図12は同プローブカードの位置決めプレートの設計変更例を示す模式的斜視図である。
上記プローブカードは、第1、第2のプローブ500a、500bを備えるとしたが、先端部の先端から折り曲げ部までの長さが異なる3種以上のプローブを備えることも可能である。例えば、図8に示すように、前記プローブカードが第1、第2、第3、第4のプローブ500a、500b、500c、500dを備えるように設計変更することも可能である。この場合、第1、第2、第3、第4のプローブ500a、500b、500c、500dの種類の数(ここでは4)に応じて第1、第2、第3、第4の位置決めプレート700a、700b、700c、700dを備えるようにすれば良い。第1、第2、第3、第4の位置決めプレート700a、700b、700c、700dの高さ寸法は、第1、第2、第3、第4のプローブ500a、500b、500c、500dの先端部510a、510b、510c、510dの先端から折り曲げ部511a、511b、511c、511dまでの長さに応じて適宜選択設定すれば良い。
上記実施の形態では、第1、第2の位置決めプレート700a、700bを第1、第2の位置決め溝420a、420bに嵌合させた後、第1、第2の位置決めプレート700a、700bに第1、第2のプローブ500a、500bを取り付けるとしたが、第1、第2の位置決めプレート700a、700bに第1、第2のプローブ500a、500bを取り付けた状態で、当該第1、第2の位置決めプレート700a、700bを第1、第2の位置決め溝420a、420bに嵌合させるようにしても良い。この場合には、全ての第1、第2のプローブ500a、500bをガイド基板400の第1、第2の貫通孔430a、430bに一度に挿入することができる。
また、上記実施の形態では、ガイド基板400に第1、第2の位置決めプレート700a、700bが嵌合する第1、第2の位置決め溝420a、420bが設けられているとしたが、これに限定されるものではない。例えば、図9に示すように、第1の位置決めプレート700aのみをガイド基板400の位置決め溝420に嵌合させた後、当該第1の位置決めプレート700aに第1のプローブ500aを取り付け、その後、第2の位置決めプレート700bを第1のプローブ500aの中間部520aに当接させてガイド基板400の下面上を位置決めし、この状態で第2の位置決めプレート700bに第2のプローブ500bを取り付けることができる。なお、第3、第4の位置決めプレート700c、700dについては、第2の位置決めプレート700bと同様に、第2、第3のプローブ500b、500cの中間部520b、520bに当接させてガイド基板400の下面上を位置決めした後、第3、第4のプローブ500c、500dを取り付けるようにすれば良い。この場合、ガイド基板400に一つの位置決め溝420を設けるだけで良いので、ガイド基板400の加工工数を低減することができる。また、この場合においても、前述のように、位置決めプレートにプローブを取り付けた後、前段のプローブの中間部に当接させてガイド基板の下面上で位置決めすることができる。
また、上記実施の形態では、第1、第2のプローブ500a、500bは、メイン基板100の第1、第2のスルーホール120a、120bに接続されるとしたが、これに限定されるものではない。例えば、図10に示すように、ガイド基板400の第1、第2の貫通孔430a、430b、430c、430dをスルーホールメッキし、第1、第2の貫通孔430a、430b、430c、430dに第1、第2のプローブ500a、500b、500c、500dの後端部530a、530bを接続するようにしても構わない。この場合には、ガイド基板400がメイン基板100を兼ねることになるので、メイン基板100を省略することができる。なお、本段落の設計変更は、段落0062で記述した例についても適応可能である。
このようにガイド基板がメイン基板を兼ねる場合には、図11(a)に示すように、第1、第2のプローブ500a’、500’bは、先端部510a’、510b’のみが略L字状に折り曲げられたものを使用することができる。この場合、第2の位置決めプレート700b’の上端部には、第1のプローブ500a’を通すための開口720b’が設けられており、第1、第2のプローブ500a’、500’bの後端部530a’、530b’がガイド基板400’の第1、第2の電極460a’、460b’に接続される。なお、本段落の設計変更は、段落0062で記述した例についても適応可能である。
また、上記実施の形態では、第1、第2のプローブ500a、500bは、先端が一列に並ぶように配置されるとしたが、第1、第2のプローブ500a、500bの先端が各々一列に並ぶように配置することも可能である。換言すると、第1、第2のプローブ500a、500bは、その先端が2列に並ぶように配置することも可能である。
メイン基板100については、第1、第2のスルーホール120a、120bが設けられているとしたが、これに代えてメイン基板100の面上に印刷された電極パターン等を設けることが可能である。
保持部材300については、前述したガイド基板400がメイン基板100を兼ねる場合等では、省略することが可能である。補強板200についても、メイン基板100を補強する必要がない場合には省略可能である。また、ガイド基板400がメイン基板100を兼ねる場合には、補強板200をガイド基板400に取り付けることも可能である。
なお、本段落の設計変更は、段落0074で記述したプローブカードについても適応可能である。
第1、第2の位置決めプレート700a、700bについては、少なくとも第1、第2のプローブを保持することができる凹部が一列で各々設けられている限り、任意に設計変更することが可能である。従って、第1、第2の位置決めプレートは板状体である必要もない。当然、第1、第2の位置決めプレートとして液晶ポリマーフィルム以外のフィルムを用いることが可能である。また、凹部710a、710bについては、略U字状であるとしたが、プローブを保持することができる形状であれば良い。例えば、図12に示すように、略V字状等とすることもできる。
上記実施の形態では、固定用樹脂600は第1、第2の固定用樹脂601、602が一体化されたものであるとしたが、これに限定されるものではない。第1、第2のプローブ500a、500bを第1、第2の位置決めプレート700a、700bに取り付けた後、固定用樹脂600で一度にガイド基板400に固着するようにしても良い。勿論、第1、第2の固定用樹脂601、602を一体化せず、第1、第2の固定用樹脂601で第1のプローブ500a及び第1の位置決めプレート700aを、第2の固定用樹脂602で第2のプローブ500b及び第2の位置決めプレート700bをガイド基板400に固着するようにしても良い。
上記実施の形態では、樹脂450は第1、第2のプローブ500a、500bがガイド基板400に固定用樹脂600で固着された後、ガイド基板400の穴部440に充填されるとしたが、これに限定されるものではない。例えば、第2のプローブの中間部をガイド基板の第2の貫通孔に各々挿入した後に、樹脂450をガイド基板の穴部に充填して第1、第2のプローブをガイド基板に固着するようにしても良いし、第1のプローブの中間部をガイド基板の第1の貫通孔に各々挿入した後に、樹脂450をガイド基板の孔部に充填して第1のプローブをガイド基板に固着し、第2のプローブの中間部をガイド基板の第2の貫通孔に各々挿入した後に、樹脂450をガイド基板の穴部に充填して第2のプローブをガイド基板に固着するようにしても良い。後者の場合には、ガイド基板に第1、第2の貫通孔に各々連通する2つの穴部を設け、各々充填するようにしても良い。
なお、固定用樹脂600及び樹脂450については、第1、第2のプローブが第1、第2の位置決めプレートの凹部に嵌合し且つ当該第1、第2の位置決めプレートがガイド基板の第1、第2の位置決め溝に嵌合することにより、ガイド基板に強固に取り付けられる場合には、省略可能である。
なお、上記実施の形態では、プローブカードの各部を構成する素材、形状や寸法等はその一例を説明したものであって、同様の機能を実現し得る限り任意に設計変更することが可能である。
100 メイン基板(第2の基板)
120a、120b 第1、第2のスルーホール(第1、第2の電極)
400 ガイド基板(第1の基板)
420a、420b 第1、第2の位置決め溝
430a、430b 第1、第2の貫通孔
440 穴部
450 樹脂
500a、500b 第1、第2の プローブ
510a、510b 先端部
520a、520b 中間部
530a、530b 後端部
600 固定用樹脂
601、602 第1、第2の固定用樹脂
700a、700b 第1、第2の位置決めプレート
710a、710b 凹部

Claims (8)

  1. 第1面に第1、第2の位置決め溝が略平行に設けられた第1の基板と、
    第1の基板の第1の位置決め溝に嵌合する第1の位置決め部材と、
    第1の基板の第2の位置決め溝に嵌合し且つ第1の位置決め部材よりも背高である第2の位置決め部材と、
    先端部が略L字状に折り曲げられた複数の第1のプローブと、
    先端部が略L字状に折り曲げられ且つ前記先端部の先端から折り曲げ部までの長さが第1のプローブの先端部の先端から折り曲げ部までの長さよりも短い複数の第2のプローブと、
    第1の基板に設けられ且つ第1、第2のプローブが接続される第1、第2の電極とを備えており、
    第1の位置決め部材には、前記先端を下方に向けた状態で第1のプローブを各々保持する複数の凹部が一列で設けられており、
    第2の位置決め部材には、第2のプローブの先端が第1のプローブの先端と略同一高さになるように当該第2のプローブを各々保持する複数の凹部が一列で設けられていることを特徴とするプローブカード。
  2. 請求項1記載のプローブカードにおいて、
    第1の基板の第2面側に配置される第2の基板を更に備えており、
    第1、第2の電極は、第1の基板ではなく、第2の基板に設けられており、
    第1の基板には、複数の第1、第2の貫通孔が第1、第2の位置決め溝に沿って略平行に設けられており、
    第1、第2のプローブの中間部が前記先端部の折り曲げ方向に対して反対方向に向けて略L字状に折り曲げられ且つ第1の基板の第1、第2の貫通孔に挿入されており、
    第1、第2のプローブの後端部が第2の基板の第1、第2の電極に各々接続されることを特徴とするプローブカード。
  3. 第1面に設けられた位置決め溝及びこの位置決め溝に沿って略平行に各々配設された複数の第1、第2の貫通孔を有する第1の基板と、
    先端部が略L字状に折り曲げられ、中間部が前記先端部の折り曲げ方向に対して反対方向に向けて略L字状に折り曲げられ且つ前記第1、第2の貫通孔に挿入された複数の第1、第2のプローブと、
    第1の基板の位置決め溝に嵌合した第1の位置決め部材と、
    第1の位置決め部材よりも背高であり且つ第1、第2の貫通孔に挿入された第1のプローブの中間部に当接して第1の基板の第1面上に位置決め配置される第2の位置決め部材と、
    第1の基板に設けられ且つ第1、第2のプローブが接続される第1、第2の電極とを備えており、
    第2のプローブの前記先端部の先端から折り曲げ部までの長さが第1のプローブの先端部の先端から折り曲げ部までの長さよりも短くなっており、
    第1の位置決め部材には、前記先端を下方に向けた状態で第1のプローブを各々保持する複数の凹部が一列で設けられており、
    第2の位置決め部材には、第2のプローブの先端が第1のプローブの前記先端と略同一高さになるように当該第2のプローブを各々保持する複数の凹部が一列で設けられていることを特徴とするプローブカード。
  4. 請求項3記載のプローブカードにおいて、
    第1の基板の第2面側に配置される第2の基板を更に備えており、
    第1、第2の電極は、第1の基板ではなく、第2の基板に設けられており、
    第1、第2のプローブの後端部が第2の基板の第1、第2の電極に各々接続されることを特徴とするプローブカード。
  5. 請求項2、3又は4記載のプローブカードにおいて、
    第1の基板の第2面には、第1、第2の貫通孔に連通する穴部が設けられており、
    第1、第2のプローブは、第1の基板の穴部に充填された絶縁性の樹脂により第1の基板に固定されることを特徴とするプローブカード。
  6. 請求項1、2、3、4又は5記載のプローブカードにおいて、
    第1、第2のプローブ及び第1、第2の位置決め部材を第1の基板の第1面上に固定する絶縁性の固定用樹脂を更に備えていることを特徴とすることを特徴とするプローブカード。
  7. 請求項1、2、3、4、5又は6記載のプローブカードにおいて、
    第1、第2の位置決め部材は、第1の基板又は半導体デバイスと略同じ熱膨張係数を有する素材で構成されていることを特徴とするプローブカード。
  8. 請求項7記載のプローブカードにおいて、
    第1、第2の位置決め部材は、液晶ポリマーフィルムからなることを特徴とするプローブカード。
JP2009014520A 2009-01-26 2009-01-26 プローブカード Active JP5577040B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009014520A JP5577040B2 (ja) 2009-01-26 2009-01-26 プローブカード

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009014520A JP5577040B2 (ja) 2009-01-26 2009-01-26 プローブカード

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2010169637A true JP2010169637A (ja) 2010-08-05
JP2010169637A5 JP2010169637A5 (ja) 2011-08-18
JP5577040B2 JP5577040B2 (ja) 2014-08-20

Family

ID=42701916

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009014520A Active JP5577040B2 (ja) 2009-01-26 2009-01-26 プローブカード

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5577040B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015025813A (ja) * 2012-07-13 2015-02-05 旺▲夕▼科技股▲分▼有限公司 プローブ固定構造およびその光学測定装置
JP2018091677A (ja) * 2016-12-01 2018-06-14 エス・ブイ・プローブ・プライベート・リミテッドSv Probe Pte Ltd. プローブカード
CN113721045A (zh) * 2021-07-26 2021-11-30 湖北汉丹机电有限公司 一种引信电路功能检测仪
KR102586832B1 (ko) * 2023-07-12 2023-10-11 김왕균 프로브 카드의 제조방법

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05267405A (ja) * 1992-03-19 1993-10-15 Data Puroobu:Kk プローブカード
JPH05307049A (ja) * 1992-04-30 1993-11-19 Nec Kansai Ltd 半導体ウェーハ特性測定装置
JPH07167892A (ja) * 1993-12-15 1995-07-04 Sony Corp プローブ集合体、その製造方法及びそれを用いたic測定用プローブカード
JPH10185954A (ja) * 1996-12-19 1998-07-14 Micronics Japan Co Ltd 検査用ヘッド
JP2004047648A (ja) * 2002-07-10 2004-02-12 Japan Electronic Materials Corp 縦型プローブカード
JP2007263805A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Kyocera Corp 貫通孔を有する配線基板、その製造方法、ならびに該配線基板を有するプローブカード。

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05267405A (ja) * 1992-03-19 1993-10-15 Data Puroobu:Kk プローブカード
JPH05307049A (ja) * 1992-04-30 1993-11-19 Nec Kansai Ltd 半導体ウェーハ特性測定装置
JPH07167892A (ja) * 1993-12-15 1995-07-04 Sony Corp プローブ集合体、その製造方法及びそれを用いたic測定用プローブカード
JPH10185954A (ja) * 1996-12-19 1998-07-14 Micronics Japan Co Ltd 検査用ヘッド
JP2004047648A (ja) * 2002-07-10 2004-02-12 Japan Electronic Materials Corp 縦型プローブカード
JP2007263805A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Kyocera Corp 貫通孔を有する配線基板、その製造方法、ならびに該配線基板を有するプローブカード。

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN1093030446; *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015025813A (ja) * 2012-07-13 2015-02-05 旺▲夕▼科技股▲分▼有限公司 プローブ固定構造およびその光学測定装置
JP2018091677A (ja) * 2016-12-01 2018-06-14 エス・ブイ・プローブ・プライベート・リミテッドSv Probe Pte Ltd. プローブカード
CN113721045A (zh) * 2021-07-26 2021-11-30 湖北汉丹机电有限公司 一种引信电路功能检测仪
CN113721045B (zh) * 2021-07-26 2024-01-26 湖北汉丹机电有限公司 一种引信电路功能检测仪
KR102586832B1 (ko) * 2023-07-12 2023-10-11 김왕균 프로브 카드의 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP5577040B2 (ja) 2014-08-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6654061B2 (ja) プローブガイド、プローブカード及びプローブガイドの製造方法
JP6149060B2 (ja) 垂直型プローブモジュールおよびその柱状支持部
US20180011126A1 (en) Testing head comprising vertical probes
JP5113392B2 (ja) プローブおよびそれを用いた電気的接続装置
JP5868239B2 (ja) プローブ及びプローブカード
TWI451093B (zh) 多重偏移晶粒頭
TWI396846B (zh) 探針卡
TWI375039B (ja)
JP5577040B2 (ja) プローブカード
JP2010091349A (ja) 垂直型プローブカード
US7688089B2 (en) Compliant membrane thin film interposer probe for intergrated circuit device testing
TWI677687B (zh) 電性連接裝置
JP2009139104A (ja) プローブカード
JP2008275488A (ja) 導電接触ピンおよびピン保持具、電気部品検査装置ならびに電気部品の製造方法
JP2005055343A (ja) フラットパネルディスプレイ検査用プローブ装置
JP2010175507A (ja) 電気的接続装置
KR20070117974A (ko) 마이크로 프로브 제조
JP2006337229A (ja) 通電試験用プローブ
JP2007278799A (ja) マイクロプローブガイドの製造方法、マイクロプローブガイドを用いるマイクロプローブユニット及び千鳥配置型マイクロプローブユニット
JP5124877B2 (ja) 電気的接続装置
JP2010032226A (ja) プローブカード
JP6727988B2 (ja) プローブカードの製造方法
JP2006162422A (ja) プローブカード
JP4781938B2 (ja) 導電性接触子ユニット
US20200116758A1 (en) Probe module having microelectromechanical probe and method of manufacturing the same

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110704

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110704

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121212

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121225

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130225

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130507

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130806

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131002

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140624

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140707

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5577040

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250