JP2010143127A - 貴金属粒子が基材表面に存在する物、積層体およびそれらの製造方法 - Google Patents
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Abstract
粒子の一部が基材に埋まった多数の貴金属粒子が基材表面に存在する物であって、粒子の全ての部分が基材中に埋め込まれた状態の貴金属粒子は実質的に存在しない物、およびその物をより簡単に製造する方法を提供すること。また、前記貴金属粒子が基材表面に存在する物の貴金属粒子表面に厚さが10〜200nmの金属皮膜が配置された積層体を製造する方法を提供すること。
【解決手段】
基材を貴金属ゾル中に浸漬処理する工程、および前記基材のガラス転移点以上でかつ融点以下の温度で、空気中あるいは不活性ガス雰囲気下において前記基材を加熱処理する工程を経て貴金属粒子が基材表面に存在する物を製造する。
さらに、前記貴金属粒子面に無電解メッキ法にて金属皮膜を形成させて積層体を製造する。
【選択図】 なし
Description
例えば前記無電解メッキ前駆体の製造法として、まず基材表面の一部を溶解して粗化し、接着層として錫化合物などを塗布した上に貴金属イオンを固定し、さらに還元処理する方法が知られている(非特許文献1)。この製造方法からも明らかなように、従来から知られている前記貴金属粒子が基材表面に存在する物の製造法は操作が煩雑であり、そのうえ、貴金属粒子の粒度分布が広くなること、貴金属粒子の凝集を起こすなどの問題がある。これら従来から知られている製造法では、数ナノメートル(nm)の粒径の揃った貴金属粒子を基材表面上に一様に固定化することは極めて困難であった。
しかし、貴金属粒子の表面への結合が弱いため、無電解メッキの際に、容器壁に貴金属粒子が移って不要なメッキが生じたり、攪拌によりメッキ皮膜が剥がれ落ちるなどの困難があった。
本発明の請求項2記載の発明は、基材が熱可塑性ポリマーまたは加熱により軟化するポリマーであることを特徴とする請求項1記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物の発明である。
本発明の請求項3記載の発明は、貴金属粒子が白金、パラジウム、ロジウム、ルテニウム、金、銀、イリジウム、オスミウムの中から選ばれた少なくとも1種である請求項1または2記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物の発明である。
本発明の請求項4記載の発明は、請求項1〜3のいずれか記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物の表面に金属皮膜が配置されていることを特徴とする積層体の発明である。
本発明の請求項5記載の発明は、貴金属粒子が基材表面に存在する物の貴金属粒子表面に厚さが10〜200nmの金属皮膜が配置された請求項4記載の積層体の発明である。
本発明の請求項6記載の発明は、金属皮膜が金、銀、ニッケル、コバルト、銅の中から選ばれた少なくとも1種の皮膜である請求項4または5記載の積層体の発明である。
本発明の請求項8記載の発明は、基材を貴金属ゾル中に浸漬処理する工程、および前記基材のガラス転移点以上でかつ融点以下の温度で、不活性ガス雰囲気下において前記基材を加熱処理する工程を有することを特徴とする請求項1記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物の製造方法の発明である。
本発明の請求項9記載の発明は、基材を陽イオン性界面活性剤水溶液中に浸漬処理する工程をさらに有することを特徴とする請求項7または8記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物の製造方法の発明である。
本発明の請求項10記載の発明は、請求項7記載の方法により得られた貴金属粒子が基材表面に存在する物を還元剤水溶液で処理する工程、および前記処理工程物を無電解メッキ液に浸漬する工程を有することを特徴とする請求項4または5記載の積層体の製造方法の発明である。
本発明の請求項11記載の発明は、請求項8記載の方法により得られた貴金属粒子が基材表面に存在する物を無電解メッキ液に浸漬する工程を有することを特徴とする請求項4または5記載の積層体の製造方法の発明である。
本発明の請求項12記載の発明は、無電解メッキ液が、金、銀、ニッケル、コバルト、銅の無電解メッキ液の中から選ばれた少なくとも1種である請求項10または11記載の製造方法の発明である。
本発明で用いる基材としては熱可塑性ポリマーまたは加熱により軟化するポリマーであることが好ましいが、所期の目的を達成することができる材質のものであれば特に制限されない。熱可塑性ポリマーまたは加熱により軟化するポリマーの例としてはポリエステル、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリメチルメタアクリレート等のアクリル系樹脂、アクリロニトリルブタジエンスチレン樹脂(ABS樹脂)、ポリエチレン、ポリプロピレンなどのポリオレフィン、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル、ポリアセタール、ポリフェニレンスルフィド、熱可塑性ポリウレタン、熱可塑性を有するエポキシ樹脂、熱可塑性ポリイミドなどが挙げられるが、それらに何ら限定されない。
基材の形状については特に限定されないのであって、例えば、フィルム状物、板状物、線状物、繊維状物、任意の形状の成形物や積層体等を例示できる。また、例えば熱可塑性ポリマーのコーティング層など熱可塑性の塗膜を有する任意の形状の物も好ましい例として例示できる。前記基材の大きさも特に限定されない。
本発明においては、電子顕微鏡を用いて常法により当該粒子の粒径を測定する。より具体的には、貴金属粒子が基材表面に存在する物を樹脂に埋め込んだ後極めて薄い切片を作り、電子顕微鏡を用い常法により測定する。前記樹脂は特に制限されないのであって、用いた基材や貴金属粒子により最適な樹脂を使用すればよい。
貴金属粒子としては、白金、パラジウム、ロジウム、ルテニウム、金、銀、イリジウム、オスミウムの粒子を例示できるが、それらに何ら限定されない。
前記基材の表面に存在する貴金属粒子は、その粒子の一部が基材に埋まった状態で存在することが本発明の大きな特徴である。粒子の一部がどの程度基材に埋まっているかの点は、特に制限されない。また、本発明の特徴の一つに、粒子の全ての部分が基材に埋め込まれた貴金属粒子はないことも挙げられる。
本発明においては、電子顕微鏡を用いて常法により、粒子の一部が基材に埋まっている様子を確認することができる。具体的には前記のとおりである。粒子の全てが基材に埋まっているかの確認も上記方法と同様である。
本発明の貴金属粒子は強く基材に固定されていることも本発明の大きな特徴の一つである。
ここで、強く固定されているとは、市販のセロファンテープを本発明の貴金属粒子が基材表面に存在する物の貴金属粒子面に貼り付けた後、前記貴金属粒子面から剥がしたセロファンテープの粘着面に付着した貴金属粒子が付着していることが認められないことでもある。そこで、本発明の請求項1は、基材表面に粒径が10nm以下の貴金属粒子が存在する物であって、前記貴金属粒子はその粒子の一部分が前記基材中に埋まっており、粒子の全ての部分が基材に埋まっている貴金属粒子は存在せず、しかも粘着テープ試験等により前記貴金属粒子は剥離しないことを特徴とする貴金属粒子が基材表面に存在する物の発明でもある。
前記粘着テープ試験として、市販のセロファンテープを本発明の貴金属粒子が基材表面に存在する物の貴金属粒子面に所定圧にて貼り付け、室温下にて所定時間経過後、貴金属粒子面からセロファンテープを剥がす試験を例示できる。所定圧にて貼り付けるとは、例えば、自重数kgのローラーを用いて1往復又は数往復回付着したセロファンテープを押圧処理することを言い、所定時間は特に制限されないが、例えば、0.5〜5分間から適宜決定すればよい。貴金属粒子が剥離されたかどうかは、剥がしたセロファンテープの粘着面を観察することにより判断できる。例えば、前記剥がしたセロファンテープの粘着面の色が変化したと肉眼で認めることができたなら、粘着面に付着した貴金属粒子は基材表面から剥離したと知ることができる。
本発明で用いる貴金属ゾルは本発明の所期の目的を達成することができる限り、何ら制限されないのであるが、例えば負電荷を持つ貴金属ナノ粒子を含む貴金属ゾルが好ましい。
前記貴金属ゾルは白金、パラジウム、ロジウム、ルテニウム、金、銀、イリジウム、オスミウムから選ばれる貴金属ゾルが好ましい。
貴金属ゾルとしては貴金属ヒドロゾルが好ましい。前記貴金属含有化合物としては、貴金属塩が好ましく、具体的には、塩化白金(VI)酸、塩化パラジウム(II)、塩化ロジウム(III)、塩化ルテニウム(III)、硝酸銀(I)等を例示できる。
前記還元剤としては、水素化ホウ素ナトリウム、水素化ホウ素カリウム、ジメチルアミンボラン、ヒドラジン、ホルムアルデヒド、クエン酸三ナトリウム
等を例示できる。前記保護物質として、水溶性ポリマー、蔗糖等を例示できる。
基材を貴金属ゾル中で処理する条件も特に限定されないのであって、用いる基材の種類や形状、用いる貴金属ゾルの種類や量に応じて最適な手段を選べばよく、例えば貴金属ゾル中に基材を室温下にて1分間程度以上浸漬すればよい。
前記陽イオン性界面活性剤は、水に溶けるときに疎水性基のついている部分がプラスイオンに電離する界面活性剤を意味する。陽イオン性界面活性剤はアミン塩型と第4級アンモニウム塩型に分類される。本発明では第4級アンモニウム塩型を用いることが有利であり、例えば、アルキルトリメチルアンモニウム塩、ジアルキルジメチルアンモニウム塩、アルキルジメチルベンジルアンモニウム塩、アルキルピリジニウム塩が有利である。その中でも炭素数が12〜22程度の長鎖4級アンモニウム化合物が好ましい。具体的には、塩化ステアリルトリメチルアンモニウム、臭化ヘキサデシルトリメチルアンモニウム、塩化ドデシルトリメチルアンモニウム等が好ましい。
前記陽イオン性界面活性剤の水溶液での陽イオン性界面活性剤の濃度は、0.001〜1重量%程度とすることが好ましい。前記範囲を外れると本発明の効果を達成しづらくなり、1重量%よりも高いとコストがかかり不利である。
前記陽イオン性界面活性剤の水溶液中に基材を浸漬する時間は特に制限されないが、例えば、室温下で数秒以下と短い時間で充分である。前記陽イオン性界面活性剤の水溶液中に基材を浸漬し、直ちに引き上げる操作でも充分である。さらに、基材を陽イオン性界面活性剤水溶液中に浸漬し、加熱してもよい。
ここで、ガラス転移点はすでに知られており、例えば非晶質の固体を加熱すると、流動性がなかった固体が、ある狭い温度範囲で急速に粘度が低下し流動性が増し、このときの温度をガラス転移点という。この測定法も広く知られている。
本発明の貴金属粒子が基材に強く固定されていることは、基材表面に傷が付かない程度に指でこすっても、当該貴金属粒子が脱落することはなかったことが観察されたことからも支持される。
メッキ皮膜を形成する金属としては、例えば、ニッケル、銅、金、白金、銀、パラジウムなどを例示できるが、本発明ではそれらに限定されない。
前記金属含有化合物としては、つぎのような化合物が知られている。例えば、塩化金(III)酸、臭化金(III)酸およびこれらのアルカリ金属(K,Na)塩等の金ハロゲン化塩、硫酸ニッケル(II)六水塩、硫酸銅(II)五水塩、硫酸コバルト(II)七水塩等が挙げられる。
その金属含有化合物のメッキ液中での濃度は用いる基材の種類や形状、形成させる貴金属の種類、形成されるメッキ皮膜の持たせる性状、機能等に応じて変動するので一概に規定することができないが、例えば、メッキ液に1〜100mMの濃度で存在させることが好ましい。
その金属含有化合物のメッキ液中での濃度は用いる基材の種類や形状、形成させる貴金属の種類、形成されるメッキ皮膜の持たせる性状、機能等に応じて変動するので一概に規定することができないが、例えば、メッキ液に1〜1000mMの濃度で存在させることが好ましい。
なお、本発明では、無電解メッキ用基材を無電解メッキ液中に浸漬し、基材のガラス転移点以上でかつ融点以下の温度において加熱処理することが特に好ましい。
このようにして形成されたメッキ皮膜は、当該皮膜が貴金属粒子に空隙無く密着しており、基材表面に強固に密着されている。
特に、本発明の物を無電解メッキ前駆体として用いると、金属皮膜が貴金属粒子に空隙無く密着している程度まで優れた密着性を有するメッキ皮膜が形成されるのであり、その点でも有利である。
20mM-塩化白金酸(IV)水溶液(2.5mL)を純水で94mLに希釈し、室温下で攪拌しながら、1%-ポリビニルピロリドンK-30水溶液(1mL)および40mL-水素化ホウ素ナトリウム水溶液(5mL)を順次加え、数日放置して、暗褐色透明な白金ヒドロゾル(Pt-PVP、100mL)を得た。
ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム(東レ(株)製、2cm×4cm、100μm厚)を0.1%-塩化ステアリルトリメチルアンモニウム水溶液中に数秒間浸漬したのち水洗し、さらに、実施例1aで調製されたPt-PVP中に1分間浸漬し水洗した。乾燥させた後、空気中、180℃において5分間加熱して、白金粒子が基材表面に存在するPETフィルムを得た。
前記白金粒子が基材表面に存在するPETフィルムを、光硬化性樹脂(JEOL Datum社製の D800)に埋め込み、ミクロトーム(RMC社 製のMTXL型)を用いて超薄切片を作製した。当該超薄切片を透過型電子顕微鏡(LEO社製の922型)により観察した。その結果、PETフィルム表面に、粒径10nm以下の白金粒子が一部をフィルム中に埋め込まれた状態で存在することが確認され、その白金粒子の多くはその粒径が2〜4nmであることも確認された。フィルム中に埋め込まれていない白金粒子は無かった。これらの白金粒子はフィルムに強く結合していて、下記粘着テープ試験によっても白金粒子の剥れを確認できなかった。
上記PETフィルムの白金粒子存在面に市販のセロファンテープを貼り付け、自重2kgのローラーを用いて3往復して前記セロファンテープを押圧処理し、次いで室温下3分間経過後、当該セロファンテープを引き剥がし、セロファンテープの粘着剤層の表面を観察し、未処理のセロファンテープの粘着剤層の表面と肉眼で対比判断して、セロファンテープに付着した白金粒子の有無を判断する(以下、同様)。
実施例1bで得られた表面に白金粒子が存在するPETフィルムを、40mM-水素化ホウ素ナトリウム水溶液中に1分間浸漬した後、水洗し、さらに、等体積の20mM-塩化金(III)酸水溶液と40mL-過酸化水素水溶液を使用直前に混合して得た無電解金メッキ液(4mL)中に室温下で5分間浸漬して金の皮膜を形成させ、水洗、乾燥して、金メッキされたPETフィルムを得た。
この金メッキ皮膜は良好な密着性を示し、粘着テープ試験による剥れは全く認められなかった。実施例1bと同様に操作し、超薄切片を透過型電子顕微鏡により観察した。その結果、PETフィルム表面に、粒径10nm以下の白金粒子が一部をフィルム中に埋め込まれた状態で存在することが確認され、その白金粒子の多くはその粒径が2〜4nmであることも確認された。また空隙なく白金粒子の露出部分に結合した厚さ40nmの一様な金メッキ皮膜が存在することが確認された。
上記金メッキ皮膜の密着性試験はJIS K5600-5-6に準拠した。具体的には上記6ナイロンフィルムのメッキ皮膜面にカッターナイフで軽く縦横6本づつの溝を入れ、セロファンテープを貼り付けた上で、当該セロファンテープを引き剥がし、セロファンテープと共に引き剥がされた小片の個数から金メッキ皮膜の密着性を知ることができる(以下、同様)。
PETフィルム(2cm×4cm、100μm厚)を0.1%-塩化ステアリルトリメチルアンモニウム水溶液中に数秒間浸漬したのち水洗し、さらに、Pt-PVP中に1分間浸漬し水洗した。乾燥させた後、窒素中、180℃において5分間加熱して、PETフィルムおよび白金粒子から成る貴金属粒子が基材表面に存在する物を得た。
前記貴金属粒子が基材表面に存在する物を実施例1bと同様に操作し、作製された超薄切片を透過型電子顕微鏡により観察した。その結果、PETフィルム表面に、粒径10nm以下の白金粒子が一部をフィルム中に埋め込まれた状態で存在することが確認され、その白金粒子の多くはその粒径が2〜4nmであることも確認された。これらの白金粒子はフィルムに強く結合していて、粘着テープ試験によっても剥れなかった。
実施例3で得られた白金粒子を含むPETフィルムを、等体積の20mM-塩化金(III)酸水溶液と40mM-過酸化水素水溶液を使用直前に混合して得た無電解金メッキ液(4mL)中に室温下で5分間浸漬して金の皮膜を形成させ、水洗、乾燥して、金メッキしたPETフィルムを得た。
この金メッキ皮膜は良好な密着性を示し、実施例2に示した粘着テープ試験による剥れは全く認められなかった。実施例1bと同様に操作し、超薄切片を透過型電子顕微鏡により観察した。その結果、PETフィルム表面に、粒径10nm以下の白金粒子が一部をフィルム中に埋め込まれた状態で存在することが確認され、その白金粒子の多くはその粒径が2〜4nmであることも確認された。また空隙なく白金粒子の露出部分に結合した厚さ40nmの一様な金メッキ皮膜が存在することが確認された。
蔗糖(1g)の水溶液(92.5mL)に、室温下で攪拌しながら20mM-塩化パラジウム(II)水溶液(100mMの塩化ナトリウムを含む、2.5mL)および40mM-水素化ホウ素ナトリウム水溶液(5mL)を順次加え、1日放置して、暗褐色透明なパラジウムヒドロゾル(Pd-suc、100mL)を得た。
ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム(東レ(株)製、2cm×4cm、100μm厚)を0.1%-塩化ステアリルトリメチルアンモニウム水溶液中に数秒間浸漬したのち水洗し、さらに、実施例5aで調製されたPd-suc中に30分間浸漬し水洗した。これを乾燥させた後、空気中、180℃において5分間加熱して、パラジウム粒子が基材表面に存在するPETフィルムを得た。
前記パラジウム粒子が基材表面に存在するPETフィルムを、実施例1bと同様に操作し、超薄切片を透過型電子顕微鏡により観察した。その結果、PETフィルム表面には、粒径10nm以下のパラジウム粒子が一部をフィルム中に埋め込まれた状態で存在することが確認され、そのパラジウム粒子の多くはその粒径が3〜5nmであることも確認された。そのパラジウム粒子はフィルムに強く結合していて、実施例1bに示した粘着テープ試験によっても脱落することはなかった。
硫酸ニッケル(II)六水塩(8mmol)、乳酸(30mmol)およびプロピオン酸(3mmol)を純水(約70mL)中に溶解し、次に、次亜リン酸ナトリウム(24mmol)を溶解した。さらに、1規定水酸化ナトリウム水溶液を加えてpHを4.5に調節し、総体積が100mLとなるまで純水を加えて無電解ニッケルメッキ液を得た(Thin Solid Films, 2007年、515巻、7798-7804ページの記載に準じた)。
実施例5bで調製されたパラジウム粒子が表面に存在するPETフィルムを、上記の無電解ニッケルメッキ液(5mL)中に70℃で10分間浸漬してニッケルの皮膜を形成させ、水洗、乾燥後して、ニッケルメッキされたPETフィルムを得た。
このニッケルメッキ皮膜は良好な密着性を示し、実施例2に示した密着性試験での粘着テープによる剥れは全く認められなかった。実施例1bと同様に操作して作製した超薄切片を透過型電子顕微鏡により観察した結果、PETフィルム表面に、粒径10nm以下のパラジウム粒子が一部をフィルム中に埋め込まれた状態で存在することが確認され、そのパラジウム粒子の多くはその粒径が3〜5nmであることも確認され、空隙なくそのパラジウム粒子の露出部分に結合した厚さ100nmの一様なニッケルメッキ皮膜が存在することが確認された。
(1)基材表面に粒径が10nm以下の貴金属粒子が存在する物であって、前記貴金属粒子はその粒子の一部分が前記基材中に埋まっており、粒子の全ての部分が基材に埋まっている貴金属粒子は存在せず、しかも下記粘着テープ試験により前記貴金属粒子は剥離しないことを特徴とする貴金属粒子が基材表面に存在する物。セロファンテープを前記貴金属粒子が基材表面に存在する物の貴金属粒子面に貼り付け、室温下にて所定時間経過後、貴金属粒子面からセロファンテープを剥がす試験。
(2)基材を貴金属ゾル中に浸漬処理する工程、および前記基材のガラス転移点以上でかつ融点以下の温度で、空気中において前記基材を加熱処理する工程を有する方法により得られることを特徴とする請求項1記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物。
(3)基材と該基材表面の貴金属ゾルとを加熱して得られることを特徴とする基材層と貴金属粒子層の積層体。
(4)貴金属粒子層を構成する貴金属粒子の一部が基材層に埋め込まれている上記3記載の積層体。
(5)上記1記載の構成物の貴金属粒子面に金属皮膜層が配置されたことを特徴とする積層体。
(6)上記3または4記載の積層体の貴金属粒子層の表面に金属皮膜層が配置されたことを特徴とする積層体。
Claims (12)
- 基材表面に粒径が10nm以下の貴金属粒子が存在する物であって、前記貴金属粒子はその粒子の一部分が前記基材中に埋まっており、粒子の全ての部分が基材に埋まっている貴金属粒子は存在しないことを特徴とする貴金属粒子が基材表面に存在する物。
- 基材が熱可塑性ポリマーまたは加熱により軟化するポリマーであることを特徴とする請求項1記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物。
- 貴金属粒子が白金、パラジウム、ロジウム、ルテニウム、金、銀、イリジウム、オスミウムの中から選ばれた少なくとも1種である請求項1または2記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物。
- 請求項1〜3のいずれか記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物の表面に金属皮膜が配置されていることを特徴とする積層体。
- 貴金属粒子が基材表面に存在する物の貴金属粒子表面に厚さが10〜200nmの金属皮膜が配置された請求項4記載の積層体。
- 金属皮膜が金、銀、ニッケル、コバルト、銅の中から選ばれた少なくとも1種の皮膜である請求項4または5記載の積層体。
- 基材を貴金属ゾル中に浸漬処理する工程、および前記基材のガラス転移点以上でかつ融点以下の温度で、空気中において前記基材を加熱処理する工程を有することを特徴とする請求項1記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物の製造方法。
- 基材を貴金属ゾル中に浸漬処理する工程、および前記基材のガラス転移点以上でかつ融点以下の温度で、不活性ガス雰囲気下において前記基材を加熱処理する工程を有することを特徴とする請求項1記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物の製造方法。
- 基材を陽イオン性界面活性剤水溶液中に浸漬処理する工程をさらに有することを特徴とする請求項7または8記載の貴金属粒子が基材表面に存在する物の製造方法。
- 請求項7記載の方法により得られた貴金属粒子が基材表面に存在する物を還元剤水溶液で処理する工程、および前記処理工程物を無電解メッキ液に浸漬する工程を有することを特徴とする請求項4または5記載の積層体の製造方法。
- 請求項8記載の方法により得られた貴金属粒子が基材表面に存在する物を無電解メッキ液に浸漬する工程を有することを特徴とする請求項4または5記載の積層体の製造方法。
- 無電解メッキ液が、金、銀、ニッケル、コバルト、銅の無電解メッキ液の中から選ばれた少なくとも1種である請求項10または11記載の製造方法。
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