JP2010118620A - 発光装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】高温環境下での発光輝度の低下を抑制するとともに、大電流を安定して流せるようにした発光装置を提供することを目的とする。
【解決手段】光源保持部材100と、光源保持部材100の正面側fに配置された光源40と、光源40の正面側fに配置され、光源40からの発光により励起されて発光する蛍光体7と、からなる発光装置101であって、光源40が330〜500nmの発光ピーク波長の光を発するLEDチップ4であり、蛍光体7が、M(0)元素と、M(1)元素と、Siと、Alと、窒素とを少なくとも含み、α型サイアロン結晶構造を有するα型サイアロンであり、前記M(0)元素はSr、Laから選ばれる一種または二種の元素であり、前記M(1)元素はMn,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Ybから選ばれる一種以上の元素である発光装置101を用いることにより、上記課題を解決できる。
【選択図】図1
Description
これらのいずれの用途においても、蛍光体を発光させるためには、蛍光体を励起するためのエネルギーを蛍光体に供給する必要があり、蛍光体は真空紫外線、紫外線、電子線、青色光などの高いエネルギーを有した励起源により励起されて、可視光線を発する。
そのため、従来のケイ酸塩蛍光体、リン酸塩蛍光体、アルミン酸塩蛍光体、硫化物蛍光体などの蛍光体に代わり、輝度低下の少ない蛍光体として、サイアロン蛍光体が提案されている。
この製造プロセスで得られるEuイオンを固溶したαサイアロンは、450〜500nmの青色光で励起されて550〜600nmの黄色の光を発する蛍光体であり、青色LEDと蛍光体との組み合わせで作製される白色LED用途に好適に用いられることが報告されている。しかしながら、さらに高輝度の蛍光体が求められている。
特許文献2には、Ca単独又はSr又はMgの少なくとも1つと組み合わせたサイアロン蛍光体が開示されており、特に、Caに対するSr及び/又はMgの割合は高くても40モル%が好適であるとされている。また、Srのみからなるサイアロン蛍光体は、512nmの発光ピーク波長を有する青緑色発光蛍光体であることが記載されている。
特許文献3には、600〜650nmピーク発光波長範囲を有する、CaとSrからなるサイアロン蛍光体が開示されている。
特許文献4〜6に開示された発光ダイオードで、特によく用いられている蛍光体は一般式(Y、Gd)3(Al、Ga)5O12:Ce3+で表わされる、セリウムで付活したイットリウム・アルミニウム・ガーネット系蛍光体(以下、YAG系蛍光体)である。
なお、このような発光装置は、例えば、特許文献7、特許文献8などに記載されているような公知の方法により製造することができる。
また、前記発光装置において、基板とLEDとを金属または合金の共晶接合により接合することにより、大電流を流した場合に生ずるLEDチップの発熱を基板に放熱させることができ、安定して大電流を流して、高輝度で発光させることができることを見出した。
これらの知見についてさらに研究を進めた結果、以下の構成に示す本発明を完成するに至った。
(2) 前記LEDチップの発光層が井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有しており、前記井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sが、0<s<0.4とされたことを特徴とする(1)に記載の発光装置。
(5) 前記蛍光体が、Li、Na,Be,Mg,Ca、Ba,Sc,Y,Gd,Luから選ばれる一種以上の元素であるM(2)元素を更に含むことを特徴とする(1)〜(4)のいずれか1項に記載の発光装置。
(6) 前記蛍光体が、下記組成式(1)で表される材料であり、x,y,zは、0.01≦x≦4、0.001<y≦2、0≦z≦2であり、m、nは、me=x・v(0)+y・v(1)+z・v(2)(但し、v(0)はM(0)イオンの価数であり、v(1)はM(1)イオンの価数であり、v(2)はM(2)イオンの価数である)としたとき、0.8・me≦m≦1.2・me、0≦n<4であることを特徴とする(1)〜(5)のいずれかに記載の発光装置。
(8) 上記組成式(1)でxが、0.05≦x≦2であることを特徴とする(6)または(7)に記載の発光装置。
(10) 上記組成式(1)でnが、0≦n≦1.5であることを特徴とする(6)〜(9)のいずれか1項に記載の発光装置。
(11) 上記組成式(1)でnが、n=meであることを特徴とする(6)〜(10)のいずれか1項に記載の発光装置。
(13) 前記蛍光体が、平均粒径0.1〜50μmの粉体であることを特徴とする(1)〜(12)のいずれか1項に記載の発光装置。
(14) 前記蛍光体を構成する一次粒子の平均アスペクト比が3以下であることを特徴とする(13)に記載の発光装置。
(16) 前記蛍光体が、ホウ素を10〜3000ppm含有することを特徴とする(1)〜(15)のいずれか1項に記載の発光装置。
(18) 前記蛍光体が、少なくとも一部表面に、膜厚が0.5〜120nmの透明膜を有することを特徴とする(17)に記載の発光装置。
(20) 前記LEDチップの発光ピーク波長が450〜480nmであることを特徴とする(18)または(19)に記載の発光装置。
(22) 前記別の蛍光体が、580nmから660nmの波長にピークを持つ、赤色光を放射する蛍光体であることを特徴とする(21)に記載の発光装置。
(23) 砲弾型LEDデバイスまたは表面実装型LEDデバイスのいずれかであることを特徴とする(1)〜(22)のいずれか1項に記載の発光装置。
(24) 配線された基板上に前記LEDチップを直接実装したチップ・オン・ボード型デバイスであることを特徴とする(1)〜(23)のいずれか1項に記載の発光装置。
(26) 前記樹脂が、熱硬化性樹脂であることを特徴とする(25)に記載の発光装置。
(27) 前記基板および/またはリフレクタ部がセラミクス製部材を含むことを特徴とする(1)〜(26)のいずれか1項に記載の発光装置。
(29) 前記封止樹脂が、少なくとも一部の領域にシリコーン樹脂を含むことを特徴とする(28)に記載の発光装置。
(30) 前記封止樹脂が、少なくとも一部の領域にメチルシリコーン樹脂を含むことを特徴とする(28)または(29)に記載の発光装置。
(32) 前記蛍光体が、前記LEDチップの近傍で高密度になるように、前記封止樹脂中に分散されていることを特徴とする(28)〜(31)のいずれか1項に記載の発光装置。
(33) 前記封止樹脂を覆うように、別の封止樹脂が形成されていることを特徴とする(28)〜(32)のいずれか1項に記載の発光装置。
(35) 前記蛍光体が前記LEDチップの少なくとも一面を覆うように直接付着されていることを特徴とする(34)に記載の発光装置。
(36) 前記蛍光体が層状となっていることを特徴とする(35)に記載の発光装置。
(38) 前記LEDチップの一辺が350μmよりも大きいことを特徴とする(1)〜(37)のいずれか1項に記載の発光装置。
(39) 前記LEDチップが複数配置されてなることを特徴とする(1)〜(38)のいずれかに記載の発光装置。
(41) 前記LEDチップが、1パッケージ1個当りの平面面積密度にして1.5×104W/m2以上の電力を投入して使用されることを特徴とする(1)〜(40)のいずれか1項に記載の発光装置。
(42) 前記LEDチップが、1パッケージ1個当りの平面面積密度にして5×104W/m2以上の電力を投入して使用されることを特徴とする(41)に記載の発光装置。
「第一の実施形態」
<発光装置>
本発明の発光装置の第一の実施形態として、砲弾型白色発光ダイオードランプ(LED照明装置:LEDデバイス)について説明する。
図1は、本発明の実施形態である発光装置101の一例を示す断面模式図であって、砲弾型白色発光ダイオードランプ1の断面模式図である。
図1に示すように、本発明の実施形態である発光装置101(砲弾型白色発光ダイオードランプ1)は、第一のリードワイヤ2からなる光源保持部材100と、光源保持部材100の正面側fに配置された光源40である発光ダイオード素子(以下、LEDチップ)4と、前記光源40の正面側fに配置された蛍光体7と、を有している。
第一の樹脂6、第一のリードワイヤ2の先端部2b及び第二のリードワイヤ3の先端部3bを覆うように、第二の樹脂(別の封止樹脂)8が砲弾型に形成されている。第二の樹脂8は全体が略円柱形状であり、その先端部がレンズ形状の曲面となっているため、砲弾型と通称されている。
図2は、図1に示す光源40であるLEDチップ4の拡大断面図である。また、図3は、図2に示すLEDチップ4の化合物半導体層61の拡大断面図である。
図2に示すように、LEDチップ4は、基板51と、基板51上に積層されたバッファ層52と、バッファ層52上に積層された下地層53と、下地層53上に積層されたn型半導体層56と、n型半導体層56上に積層された発光層57と、発光層57上に積層されたp型半導体層58と、p型半導体層58上に積層された透光性電流拡散層63と、透光性電流拡散層63上に積層された正極のボンディングパッド55と、一部が切りかけられて露出されたn型半導体層56上に形成された負極のボンディングパッド59とから概略構成されている。ここで、n型半導体層56と、発光層57と、p型半導体層58とが順次積層されて化合物半導体層61が形成されている。また、基板51の下側には光源側接合部74が形成されている。
以下、LEDチップ4について、構成要素ごとに順次説明する。
基板1の材料としては、サファイア単結晶(Al2O3;A面、C面、M面、R面)、スピネル単結晶(MgAl2O4)、ZnO単結晶、LiAlO2単結晶、LiGaO2単結晶、MgO単結晶等の酸化物単結晶、Si単結晶、SiC単結晶、GaAs単結晶、AlN単結晶、GaN単結晶及びZrB2等のホウ化物単結晶、等の周知の基板材料を何ら制限なく用いることができる。これらの中でも、サファイア単結晶及びSiC単結晶が特に好ましい。なお、基板1の面方位は特に限定されない。また、ジャスト基板でも良いしオフ角を付与した基板であっても良い。
バッファ層52は、基板51と下地層53との格子定数の違いを緩和して、結晶性の高い下地層53を形成するための層である。使用する基板やエピタキシャル層の成長条件によっては、バッファ層52が不要である場合がある。
バッファ層52の厚みは、例えば、0.01〜0.5μmとする。これにより、上記格子定数の違いを緩和する効果が十分に得られるとともに、生産性を向上させることができる。
基板51上には、バッファ層52を介して、窒化ガリウム系化合物半導体からなる下地層53並びにn型半導体層56、発光層57およびp型半導体層58が積層されてなる化合物半導体層61が形成されている。
下地層53はバッファ層52上に積層されており、AlXGa1―XN層(0≦x≦1、好ましくは0≦x≦0.5、さらに好ましくは0≦x≦0.1)から構成されることが好ましい。下地層53の膜厚は0.1μm以上が好ましく、より好ましくは0.5μm以上であり、1μm以上が最も好ましい。膜厚を1μm以上とすることにより、結晶性の良好なAlXGa1―XN層が得られやすくなる。
図3に示すように、n型半導体層56は、nコンタクト層56aおよびnクラッド層56bが順次積層されて構成される。nコンタクト層56aは下地層53および/またはnクラッド層56bを兼ねることができる。
nコンタクト層56aは、下地層53と同様にAlXGa1―XN層(0≦x≦1、好ましくは0≦x≦0.5、さらに好ましくは0≦x≦0.1)で構成されることが好ましい。
また、n型不純物がドープされていることが好ましく、n型不純物を1×1017〜1×1019/cm3、好ましくは1×1018〜1×1019/cm3の濃度で含有すると、負極との良好なオーミック接触の維持、クラック発生の抑制、良好な結晶性の維持の点で好ましい。n型不純物としては、特に限定されないが、例えば、Si、Ge及びSn等が挙げられ、好ましくはSiおよびGeである。成長温度は下地層53と同様である。
また、nクラッド層56bのn型ドープ濃度は、1×1017〜1×1020/cm3の範囲が好ましく、より好ましくは1×1018〜1×1019/cm3の範囲である。ドープ濃度が前記範囲にある場合には、良好な結晶性を維持することができるとともに、半導体発光素子の動作電圧を低減することができる。
図3に示すように、n型半導体層56上に積層される発光層57としては、井戸層57bと障壁層57aとからなる多重量子井戸(MQW:Multi Quantum Well)構造が好ましい。
井戸層57bはGa1−sInsNからなり、Inの組成比sは、0<s<0.4とすることが好ましい。井戸層57bのインジウム(In)含有量を制御することにより、発光ピーク波長が430〜490nmの青色発光を呈するものとされている。
これにより、蛍光体7を効率よく励起することができる。また、発光ピーク波長を430〜490nmとすることにより、励起光である青色光と蛍光体7の黄色光とを混色させて白色光とすることができる。更に、発光ピーク波長を450〜480nmとすることにより、純白色に近い色が実現できる。
井戸層57bおよび障壁層57aには、不純物をドープしてもしなくてもよい。
井戸層57bの膜厚としては、量子効果の得られる程度の膜厚、例えば1〜10nmとすることができ、より好ましくは2〜6nmとすると発光出力の点で好ましい。
図3に示すように、p型半導体層58は、発光層57上に、pクラッド層58aおよびpコンタクト層58bが順次積層されて構成される。pコンタクト層58bはpクラッド層58aを兼ねることができる。
p型半導体層58の材料としては、発光層57のバンドギャップエネルギーより大きくなる組成の材料であって、発光層57へのキャリアの閉じ込めができるものであれば特に限定されない。たとえば、AldGa1−dN(0<d≦0.4、好ましくは0.1≦d≦0.3)が好ましい。p型半導体層58の材料としてAldGa1−dN(0<d≦0.4、好ましくは0.1≦d≦0.3)を用いた場合、発光層57へキャリアを効率的に閉じ込めることができる。
p型半導体層58のp型ドーパント(p型不純物)としては、例えば、Mgを用いることができる。p型半導体層58のドーパント濃度は、1×1019/cm3以上1×1020/cm3未満とすることが好ましい。ドーパント濃度が上記範囲であると、結晶性を低下させることなく良好なp型結晶を得ることができる。
図2に示すように、p型半導体層58上には、透光性電流拡散層63が積層されている。
透光性電流拡散層63の材料としては、例えば、ITO(In2O3−SnO2)、AZO(ZnO−Al2O3)、IZO(In2O3−ZnO)、GZO(ZnO−GeO2)、ICO(In2O3−CeO2)等の透明酸化物を用いることができる。
図2に示すように、正極のボンディングパッド55は、透光性電流拡散層63上に設けられる。正極のボンディングパッド55としては、例えば、Au、Al、NiおよびCu等の材料を用いた各種構造が周知であり、これら周知の材料、構造のものを何ら制限無く用いることができる。
図2に示すように、負極のボンディングパッド59は、n型半導体層56に接するように形成される。このため、負極のボンディングパッド59を形成する際は、発光層57およびp型半導体層58の一部を除去してn型半導体層56のnコンタクト層を露出させ、この上に負極のボンディングパッド59を形成する。
負極のボンディングパッド59としては、各種組成および構造の負極が周知であり、これら周知の負極を何ら制限無く用いることができ、この技術分野でよく知られた慣用の手段で設けることができる。
図4は、図1に示す光源40(LEDチップ4)と光源保持部材100(第一のリードワイヤ2)との間の接合部の拡大断面図である。図4に示すように、光源40と光源保持部材100は、光源側接合層74と光源保持部材側接合層73との共晶接合により接合されている。
なお、この共晶接合は、光源側接合層74と光源保持部材側接合層73の構成成分が単に混じっているのではなく,両方の結晶粒子間に結合力が働いているので、光源40と光源保持部材100とを強力に接合するとともに、光源40(LEDチップ4)で生じる発熱を、この共晶接合を介して、光源保持部材100(第一のリードワイヤ2)へ逃がすことができ、大電流を安定して流すことができる。
図1に示すように、蛍光体7はLEDチップ4を封止する第一の樹脂(封止樹脂)6の中に分散されている。第一の樹脂6を取り囲むように第二の樹脂(別の封止樹脂)8が形成されており、第一の樹脂6と第二の樹脂8とによって、LEDチップ4は完全に封止されている。
このように、蛍光体7は、LEDチップ4の周辺で高密度になるように分散されることが好ましい。これにより、蛍光体7に効率的に励起光を導入させることができる。なお、蛍光体7は他の蛍光体に比較して温度による発光特性の劣化が少ないので、LEDチップ4で発生する熱を受けて蛍光体7の温度が上がってしまったとしても、発光特性の劣化が小さくて済む。また、このような構成にすることにより、発光装置101を安易に、高速にかつ安価に製造することができる。なお、第一の樹脂6は耐熱性の高いシリコーン樹脂を含むことが望ましい。
第一の樹脂6及び第二の樹脂8は、ともに透明な樹脂が用いられており、発光ダイオード素子4の発光及び前記発光によって励起された蛍光体からの発光が外部に取り出すことができる。
第一の樹脂6及び第二の樹脂8の材質としては、シリコーン樹脂が好ましい。シリコーン樹脂は短波長の光に対して耐性を持つので、上記の青色発光のLEDチップ4を封止するのに好適であるためである。
第一の樹脂6及び第二の樹脂8の材質としては、メチルシリコーン樹脂でもよい。メチルシリコーン樹脂は柔軟性を持つので、ボンディングワイヤの断裂を回避することができる。さらに、第一の樹脂6及び第二の樹脂8の材質としては、フェニルシリコーン樹脂でもよい。フェニルシリコーン樹脂は剛性を持つので、湿気などがチップに貫通することを防止し、高湿などの厳しい環境においての使用に際して、好適である。
また、第一の樹脂6及び第二の樹脂8の材質としては、できるだけ紫外線光による劣化の少ない材料を選定することが好ましく、ポリカーボネート樹脂、エポキシ樹脂等の他の樹脂あるいはガラス等の透明材料であっても良い。
第一の樹脂6及び第二の樹脂8は、同じ樹脂を用いても良いし、異なる樹脂を用いても良いが、製造の容易さや接着性の良さなどから、同じ樹脂を用いるほうが好ましい。
第一の樹脂6は、高い屈折率を有するものが好ましい。これにより、2.4〜2.5程度の非常に高い屈折率を持つ窒化ガリウム系化合物半導体と第一の樹脂6との間の反射を抑制することができる。
この場合、蛍光体7を分散させた第一の樹脂6の外側に、第一の樹脂6よりも屈折率が低い第二の樹脂8を配置すると、LEDチップ4からの光の取り出し効率を高めて、更に高い輝度を有する発光装置とすることができる。
なお、蛍光体7として一部表面に透明膜を形成したものを用いる場合には、第一の樹脂6の屈折率は、前記透明膜の屈折率に近いものが好ましい。これにより、前記透明膜と第一の樹脂6との界面における反射を抑制することができる。
本発明の実施形態である発光装置101で用いる蛍光体7は、M(0)元素と、M(1)元素と、Siと、Alと、窒素とを少なくとも含み、α型サイアロン結晶構造を有するα型サイアロンであって、前記M(0)元素はSr、Laから選ばれる一種または二種の元素であり、前記M(1)元素はMn,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Ybから選ばれる一種以上の元素であることが好ましい。これにより、十分に高い発光強度の蛍光体7とすることができる。
また、蛍光体7の発光をその発光ピーク波長が590nm付近の黄色発光として、光源40の青色発光とを混ぜ合わせて、発光色が白色であり、かつ、色温度4500K以下の温暖色である電球色を得ることができる。
M(1)元素は、Mn,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Ybから選ばれる一種以上の元素であることが好ましく、Ce,Eu,Ybから選ばれる一種以上の元素であることがより好ましい。なお、M(1)元素がCeの場合は、蛍光体7は白青色発光を示し、Euの場合は黄色発光を示し、Ybの場合は緑色発光を示す。
Euの場合は黄色発光を示すので、光源として青色発光のLEDチップ4を用いると、白色の発光を示す発光装置を得ることができる。
蛍光体7は、さらに、M(2)元素を含み、前記M(2)元素は、Li、Na,Be,Mg,Ca、Ba,Sc,Y,Gd,Luから選ばれる一種以上の元素であることが好ましい。これにより、十分に高い発光強度の蛍光体7とすることができる。
蛍光体7は、α型サイアロン結晶構造を持つ蛍光体であることが好ましい。α型サイアロン結晶構造は、α型窒化珪素結晶と同一の結晶構造であるので、十分に高い発光強度の蛍光体7とすることができる。
前記蛍光体組成物(α−サイアロン)の他に、β―サイアロン、未反応の窒化ケイ素、酸窒化物ガラスまたはSrSi6N8から選ばれる一種の材料を含んでいても良い。なお、このβ―サイアロン、未反応の窒化ケイ素、酸窒化物ガラスまたはSrSi6N8から選ばれる一種の材料は、結晶相、アモルファス相のいずれでもよい。
このとき、前記蛍光体組成物(α−サイアロン)の含有率は90質量%以上であることが好ましい。これにより、十分に高い発光強度の蛍光体7とすることができる。前記蛍光体組成物の含有量が90質量%より少ないと、十分に高い発光強度が得られない。
蛍光体7は、上記組成式(1)で表される材料であり、上記組成式(1)で組成比を示すx,y,zは、0.01≦x≦4、0.001<y≦2、0≦z≦2であり、組成比を示すm、nは、me=x・v(0)+y・v(1)+z・v(2)(但し、v(0)はM(0)イオンの価数であり、v(1)はM(1)イオンの価数であり、v(2)はM(2)イオンの価数である)としたとき、0.8・me≦m≦1.2・me、0≦n<4であることが好ましい。これにより、十分に高い発光強度の蛍光体7とすることができる。
上記組成式(1)で組成比を示すx,y,x,m,nの値が上記記載の範囲からはずれると、発光強度が低下するため好ましくない。
nの値が、0.5・v(0)・x+0.5・v(1)・y+0.5・v(2)・zより小さくなると、α−サイアロン相がより安定となり、α−サイアロン相の含有率が増大し、発光強度が向上するからである。
一方、nの値が、0.5・v(0)・x+0.5・v(1)・y+0.5・v(2)・zより以上の場合には、β―サイアロン相あるいは未反応の窒化ケイ素の含有量が増大し、発光強度は低下する傾向が見られる。
xとyの比率のさらに好ましい範囲は、0≦z/x≦0.5であり、この範囲内であれば、十分に高い発光強度が得られる。
yの値の更に好ましい範囲は0.001<y/(x+y+z)≦0.2である。この範囲内であれば、より高い発光強度が得られる。
yの値が0.001より小さいと、発光する原子数が少なすぎるため十分な発光強度を得ることができず、また、0.3を超えると、濃度消光のため発光強度が低下し、何れも好ましくない。
蛍光体7の平均粒径は、0.1μm以上50μm以下の範囲にあることが好ましい。平均粒径が0.1μmより小さいと表面欠陥の影響が顕著となり、発光強度が低下するとともに、平均粒径が50μmより大きいと励起光の吸収が不十分となり、発光が低下するため、何れも好ましくない。尚、蛍光体7の粒度はレーザー回折・散乱法を用いて測定することができる。
平均アスペクト比が3より大きいと、樹脂への混練が困難となり、樹脂と蛍光体粒子との界面に空隙が生じやすくなるとともに、粒子が交絡したり、励起光と平行に配列した蛍光体粒子の励起光の吸収が不十分となったりして、十分に高い発光強度が得られないため好ましくない。
蛍光体7に含まれる微量添加元素としてフッ素を5〜300ppmあるいはホウ素を10〜3000ppm含有することが好ましい。これにより、一層良好な発光特性が得られる。この現象は、フッ素については5ppm以上、ホウ素については10ppm以上で顕著となるが、前者では300ppm、後者では3000ppmを越えた場合ではそれ以上の効果は得られない。
蛍光体7は、酸素を含むことが好ましい。これにより、十分に高い発光強度の蛍光体7とすることができる。
蛍光体7に含有される酸素量は、前記組成式(1)に基づいて計算される値より0.4質量%以下の範囲で多いことが好ましい。これにより、発光特性がより一層向上する。
ここに、0.4質量%以下の範囲で多い酸素は、α−サイアロン粉末粒子の少なくとも一部表面に形成された透明膜を構成する。この透明膜により、α−サイアロン粉末粒子の耐酸化性が向上するとともに、封止樹脂との屈折率の差が低減して、蛍光体と封止樹脂との界面における光の損失が低減される。更に、蛍光体粒子表面の不対電子や欠陥が低減して、発光強度を向上させる。
蛍光体7が、α−サイアロン粒子の少なくとも一部表面に透明膜を有することが好ましい。これにより、十分に高い発光強度の蛍光体7とすることができる。
前記透明膜の膜厚は、(10〜180)/n(単位:ナノメートル)とすることが好ましい。ここで、nは透明膜の屈折率であり、nは1.2〜2.5とすることが好ましく、1.5以上2.0以下とすることがより好ましい。
すなわち、前記透明膜の膜厚は、0.4〜150nmとすることが好ましく、0.5〜120nmとすることがより好ましい。
尚、一般に透明膜の適切な厚さは、透明膜の屈折率により規定される。屈折率の高い透明膜の場合は薄くても光の損失を低減させるという目的を達し、屈折率が低い場合は前記目的を達するのに厚くする必要が生ずる。
前記透明膜として好適な材質としては、シリカ、アルミナ、チタニア、マグネシア、フッ化マグネシウム等の無機物質、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリメチルスチレン等の樹脂を例示することができる。
また、α−サイアロン粒子の表面をカップリング処理することにより、樹脂と蛍光体との密着性や分散性を向上させることができる。カップリング剤としては、シランカップリング剤、チタネート系カップリング剤、アルミネート系カップリング剤等を用いることができる。カップリング処理は、必要に応じて透明膜形成後に行ってもよい。
蛍光体7を電子線で励起する用途に使用する場合は、導電性を持つ無機物質を混合することにより蛍光体に導電性を付与することができる。導電性を持つ無機物質としては、Zn、Al、Ga、In、Snから選ばれる1種または2種以上の元素を含む酸化物、酸窒化物、または窒化物、あるいはこれらの混合物を挙げることができる。
たとえば、蛍光体7にCaAlSiN3:Euを加えて用いることにより、CaAlSiN3:Euが発する赤色、光源40であるLEDチップ4の青色及び蛍光体7の黄色が混じり合って、赤み成分の強い温白色から橙色の発光を示す発光装置101を得ることができる。
更にβ―サイアロン蛍光体またはCa3Sc2Si3O12:Ce等の緑色発光の蛍光体、並びに、BaMgAl10O17:Eu等の青色に発光する蛍光体を加えると、より演色性が高い白色発光の発光装置101を得ることができる。
蛍光体7は、通常の酸化物蛍光体や既存のサイアロン蛍光体と比べて、電子線やX線、および紫外線から可視光までの幅広い励起範囲を持ち、特に、賦活剤としてEuを用いた場合は、560nmから610nmの黄色〜橙色を呈するので、照明器具、表示器具、画像表示装置、顔料、紫外線吸収剤等の発光器具等に好適である。これに加えて、高温にさらしても劣化しないことから耐熱性に優れており、酸化雰囲気および水分環境下での長期間の安定性にも優れている。
蛍光体7の製造方法は特に限定されず、例えば、M(0)元素(ただしM(0)は、Sr、Laから選ばれる一種または二種の元素である)とM(1)元素(ただし、M(1)は、Mn,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Ybから選ばれる一種以上の元素である。)と、Siと、Alと、窒素とを少なくとも含み、α型窒化珪素結晶と同一の結晶構造を持つ結晶、またはα型サイアロン結晶である蛍光体あるいはさらに酸素を含む蛍光体、あるいはさらに、M(2)元素(ただし、M(2)は、Li、Na,Be,Mg,Ca、Ba,Sc,Y,Gd,Luから選ばれる一種以上の元素である。)を含む蛍光体を構成しうる原料混合物を、0.1MPa以上100MPa以下の圧力の窒素雰囲気中において1500℃以上2200℃以下の温度範囲で焼成することで、発光強度の高い蛍光体7を得ることができる。
本発明の実施形態である発光装置101の形態としては、このような砲弾型LEDデバイスまたは後述する表面実装型LEDデバイスが好ましい。砲弾型LEDデバイス及び表面実装型LEDデバイスは、規格が確立されて一般に広く使用されているため、容易に産業的な使用することができる。
また、発光装置101のLEDチップ4に、パッケージ1個あたりの平面面積密度にして1.5×104W/m2以上の電力が投入される使用方法が好ましい。5×104W/m2以上の電力が投入される使用方法が更に好ましい。
なお、一般的に大電力を投入して使用する場合とは、発光装置101に含まれるLEDチップ4が一辺350μm角相当の面積よりも大きい場合、発光装置101に複数のLEDチップ4が含まれる場合またはLEDチップ4がフリップチップである場合などが想定される。
本発明の実施形態である発光装置101は、光源40と光源保持部材100とがAuSn共晶接合されている構成なので、光源40と光源保持部材100とを強力に接合するとともに、光源40からの発熱を、AuSn共晶接合を介して光源保持部材100に放熱させることができるので、耐熱性のある蛍光体7と組み合わせることにより、耐熱性のある発光装置101とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、蛍光体7が、酸素を含む構成なので、高効率の黄色発光を得ることができ、光源40の青色発光と混ぜ合わせて、高効率の電球色を得ることができるとともに、蛍光体7のサーマルクエンチング効果が小さくして、耐熱性に優れた発光装置とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、蛍光体7が、上記組成式(1)で表される材料であり、x,y,zは、0.01≦x≦4、0.001<y≦2、0≦z≦2であり、m、nは、me=x・v(0)+y・v(1)+z・v(2)(但し、v(0)はM(0)イオンの価数であり、v(1)はM(1)イオンの価数であり、v(2)はM(2)イオンの価数である)としたとき、0.8・me≦m≦1.2・me、0≦n<4である構成なので、高効率の黄色発光を得ることができ、光源40の青色発光と混ぜ合わせて、高効率の電球色を得ることができるとともに、蛍光体7のサーマルクエンチング効果が小さくして、耐熱性に優れた発光装置とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、蛍光体7が、M(0)元素と、M(1)元素と、Siと、Alと、窒素とを少なくとも含み、α型窒化珪素結晶と同一の結晶構造であるα型サイアロン結晶構造を有するα型サイアロンであり、前記α型サイアロンに含まれる酸素量が、上記組成式(1)に基づいて計算される値より0.4質量%以下の範囲で多い構成なので、高効率の黄色発光を得ることができ、光源40の青色発光と混ぜ合わせて、高効率の電球色を得ることができるとともに、蛍光体7のサーマルクエンチング効果が小さくして、耐熱性に優れた発光装置とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、上記組成式(1)でyが、0.001≦y≦1.2である構成なので、高効率の黄色発光を得ることができ、光源40の青色発光と混ぜ合わせて、高効率の電球色を得ることができるとともに、蛍光体7のサーマルクエンチング効果が小さくして、耐熱性に優れた発光装置とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、上記組成式(1)でnが、n=meである構成なので、高効率の黄色発光を得ることができ、光源40の青色発光と混ぜ合わせて、高効率の電球色を得ることができるとともに、蛍光体7のサーマルクエンチング効果が小さくして、耐熱性に優れた発光装置とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、蛍光体7が、平均粒径0.1〜50μmの粉体である構成なので、高効率の黄色発光を得ることができ、光源40の青色発光と混ぜ合わせて、高効率の電球色を得ることができるとともに、蛍光体7のサーマルクエンチング効果が小さくして、耐熱性に優れた発光装置とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、前記蛍光体が、フッ素を5〜300ppm含有する構成なので、高効率の黄色発光を得ることができ、光源40の青色発光と混ぜ合わせて、高効率の電球色を得ることができるとともに、蛍光体7のサーマルクエンチング効果が小さくして、耐熱性に優れた発光装置とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、前記蛍光体が、少なくとも一部表面に、膜厚が0.5〜120nmの透明膜を有する構成なので、高効率の黄色発光を得ることができ、光源40の青色発光と混ぜ合わせて、高効率の電球色を得ることができるとともに、蛍光体7のサーマルクエンチング効果が小さくして、耐熱性に優れた発光装置とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、LEDチップ4の発光ピーク波長が450〜480nmである構成なので、LEDチップ4の高効率の青色発光を、蛍光体7の黄色発光と混ぜ合わせて、高効率の電球色を得ることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、砲弾型LEDデバイスまたは表面実装型LEDデバイスのいずれかである構成なので、容易に産業的な使用することができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、封止樹脂6が、少なくとも一部の領域にシリコーン樹脂を含む構成なので、短波長の光に対して耐性を持つシリコーン樹脂により、青色発光のLEDチップ4を好適に封止することができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、封止樹脂6が、少なくとも一部の領域にフェニルシリコーン樹脂を含む構成なので、湿気などがチップに貫通することを防止し、高湿などの厳しい環境においても好適に使用することができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、封止樹脂6を覆うように、別の封止樹脂8が形成されている構成なので、蛍光体7に効率的に励起光を導入させることができる。また、上記構成の発光装置101を容易に製造できる。
本発明の実施形態である発光装置101は、LEDチップ4が複数配置されてなる構成なので、大電力を投入して高輝度とする発光装置とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、1パッケージ当り0.2W以上の電力を投入して使用される構成なので、大電力を投入して高輝度とする発光装置とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置101は、LEDチップ4が、1パッケージ1個当りの平面面積密度にして5×104W/m2以上の電力を投入して使用される構成なので、大電力を投入して高輝度とする発光装置とすることができる。
本発明の実施形態である発光装置の第二の実施形態として、基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ(LED照明装置:LEDデバイス)について説明する。
図5は、本発明の実施形態である発光装置102(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ112)の一例を示す断面模式図である。
図5に示すように、本発明の実施形態である発光装置102(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ112)は、可視光反射率の高い白色のアルミナセラミックスを用いた基板19に第一のリードワイヤ12と、第二のリードワイヤ13が固定されており、それらの端12a、端13aは基板19のほぼ中央部に位置し、反対側の端12b、端13bはそれぞれ外部に出ていて、電気基板への実装時にはんだ付けされる電極となっている。
LEDチップ4は、フリップチップ接続されており、上面の2つの電極に形成された2つの光源側接合部74が、光源保持部材100である基板19上の2つのリードワイヤ12、13上に形成された光源保持部材側接合部73に共晶接合されている。
共晶接合により、正極のボンディングパッド55が第一のリードワイヤ12と電気的に接続され、負極のボンディングパッド59が第二のリードワイヤ13と電気的に接続される。
穴20aの内部に配置されたLEDチップ4を、第一の樹脂(封止樹脂)16がドーム状に被覆している。第一の樹脂16は透明な樹脂であり、蛍光体17が分散されている。更に、第一の樹脂16を覆うように、透明な第二の樹脂(別の封止樹脂)18が穴20aに充填されている。
樹脂製の部材は、安価で、かつ、大量に製造することができるため、発光装置102の製造コストを低減することができる。前記樹脂は、熱硬化性樹脂であることが好ましい。熱硬化性樹脂は耐熱性が高いので、耐熱性に優れた発光装置102とすることができるとともに、比較的安価で大量に製造することができるため、発光装置102の製造コストを低減することができる。樹脂としては、耐熱性が高く、反射率も高いため、ナイロン樹脂、白色のシリコーン樹脂などを挙げることができる。
また、セラミクス製部材は、耐熱性に非常に優れているので、耐熱性に優れた発光装置102とすることができる。
第一の樹脂16と第二の樹脂18は、同じ樹脂を用いても良いし、異なる樹脂を用いても良いが、製造の容易さや接着性の良さなどから、同じ樹脂を用いるほうが好ましい。
LEDチップ4の発光によって、第一の樹脂16に分散された蛍光体17が励起される構成なので、発光強度を向上させることができる。また、様々な発光色を呈するようにすることができる。さらに、白色発光の場合には、演色性を高くすることができる。
本発明の実施形態である発光装置102(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ112)は、LEDチップ4を実装する基板19と、LEDチップ4を取り囲み、LEDチップ4の発光を正面側に取り出すように形成されたリフレクタ面20bを備えたリフレクタ部である壁面部材20と、を有する発光装置であって、基板19および/または壁面部材20が樹脂を含む構成なので、発光装置102の製造コストを低減することができる。
本発明の実施形態である発光装置102は、セラミクス製部材を含む構成なので、発光装置102の耐熱性を飛躍的に向上させることができる。
本発明の実施形態である発光装置102は、前記基板19および/または壁面部材20がセラミクス製部材を含む構成なので、発光装置102の製造コストを低減することができる。
本発明の実施形態である発光装置の第三の実施形態として、別の基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ(LED照明装置:LEDデバイス)について説明する。
図6は、本発明の実施形態である発光装置103(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ113)の一例を示す断面模式図である。
図6に示すように、本発明の実施形態である発光装置103(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ113)は、可視光反射率の高い白色のアルミナセラミックスを用いた基板19に第一のリードワイヤ12と、第二のリードワイヤ13が固定されており、それらの端12a、端13aは基板19のほぼ中央部に位置し、反対側の端12b、端13bはそれぞれ外部に出ていて、電気基板への実装時にはんだ付けされる電極となっている。
LEDチップ14の下部に設けられたボンディングパッド55は、第一のリードワイヤ12と共晶接合によって電気的に接続されている。また、LEDチップ14の上部に設けられたボンディングパッド59は、第二のリードワイヤ13とボンディングワイヤ(金細線)15によって電気的に接続されている。
本発明の発光装置の第四の実施形態として、別の基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ(LED照明装置:LEDデバイス)について説明する。
図7は、本発明の発光装置の第四の実施形態である発光装置104(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ114)の断面図である。
図7に示すように、本発明の実施形態である発光装置104(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ114)は、ナイロン樹脂で成型したセラミックスを用いた基板19に第一のリードワイヤ12と、第二のリードワイヤ13が固定されており、それらの端12a、端13aは基板19のほぼ中央部に位置し、反対側の端12b、端13bはそれぞれ外部に出ていて、電気基板への実装時にはんだ付けされる電極となっている。
なお、第一のリードワイヤ12と、第二のリードワイヤ13としては、銀メッキを施された銅製のリードフレームが用いられている。
本発明の実施形態である発光装置104は、分散させる蛍光体17の量を増やすことにより、蛍光体17からの発光強度を向上させることができる。また、別の封止樹脂を形成しないので、製造工程を簡略化することができる。
本発明の発光装置の第五の実施形態として、更に別の基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ(LED照明装置:LEDデバイス)について説明する。
図8は、本発明の発光装置の第四の実施形態である発光装置105(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ115)の断面図である。
図8に示すように、本発明の実施形態である発光装置105(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ115)は、蛍光体17が分散された第一の樹脂16がLEDチップ4を覆うようにドーム状に形成され、第一の樹脂16を覆うように、蛍光体が分散されていない第二の樹脂18が設けられた他は第四の実施形態の発光装置104と同一の構成とされている。なお、同一の部材については同一の符号を付して示している。
本発明の発光装置の第六の実施形態として、更に別の基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ(LED照明装置:LEDデバイス)について説明する。
図9は、本発明の発光装置の第六の実施形態である発光装置106(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ116)の断面図である。
図9に示すように、発光装置106(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ116)は、蛍光体23が発光ダイオード素子(LEDチップ)4の一面を覆うように直接付着されており、蛍光体が分散されていない第二の樹脂(別の封止樹脂)18が発光ダイオード素子4を覆うように、かつ、壁面部材20の穴20aを埋めるように形成されている他は、第四の実施形態の発光装置104と同一の構成とされている。なお、同一の部材については同一の符号を付して示している。
また、蛍光体23の層の膜厚を1〜100μmと薄くすることにより、蛍光体23の層に効率的にLEDチップ4からの光を照射することができ、好適に混色して白色光を作り出すことができる。
本発明の実施形態である発光装置106(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ116)は、蛍光体23がLEDチップ4に直接付着されている構成なので、膜厚を精密に制御して、蛍光体23からなる層を均一となるように形成させることができるとともに、蛍光体23の層に効率的にLEDチップ4からの光を照射することができ、好適に混色して白色光を作り出すことができる。
<実施例1〜10>
本発明の蛍光体の実施例1〜10について説明する。
原料粉末は、平均粒径0.5μm、酸素含有量0.93質量%、α型含有量92%の窒化ケイ素粉末、窒化アルミニウム粉末、珪窒化ストロンチウム(Sr2Si5N8)粉末、酸化ユーロピウム粉末を用いた。
一般式SrxM(1)yM(2)zSi12−(m+n)Al(m+n)OnN16−nにおいて、表1に示すx,y,z,m,nの値となるように、表2に示す配合で、酸化ユーロピウム粉末、珪窒化ストロンチウム(Sr2Si5N8)粉末、窒化アルミニウム粉末、窒化ケイ素粉末を秤量し、メノウ乳棒と乳鉢で30分間混合を行なった。尚、M(1)はEuとした。
実施例3と同一の組成比となるよう、原料粉末を合計100g秤取し、エタノールを混合溶媒として、湿式ボールミルで2時間の混合を行い、300cps程度の粘度を持つスラリーを得た。尚、混合溶媒としては、ヘキサン等を用いても差し支えない。
続いて、得られたスラリーを、有機溶媒に対応したスプレードライヤーを用いて噴霧乾燥し、顆粒状の混合粉末とした。
実施例11で得られた蛍光体粉末5.0gを、テトラエトキシシラン1.0gを溶解したイソプロピルアルコール50mlと蒸留水20mlの混合液に良く分散させた。分散液を良く撹拌しながら、15%アンモニア水溶液50mlを滴下し、その後、撹拌しながら加熱還流を2時間行った。得られたスラリーを濾過、洗浄、乾燥し、窒素雰囲気中、600℃で1仮焼し、アモルファスシリカ被膜付き蛍光体を得た。
得られたアモルファスシリカ被膜付き蛍光体を透過型電子顕微鏡で観察したところ、シリカ膜の厚さは、およそ70nmであった。この蛍光体の発光強度は、実施例11の発光強度を100として規格化した場合、114だった。
本実施例で得られたアモルファスシリカ被膜付き蛍光体の酸素量は、実施例11から理論的に求められる酸素量よりも、0.2質量%多かった。
次に、本発明の発光装置の実施例13〜23について説明する。
図1に示すような発光装置101(砲弾型白色発光ダイオードランプ1)を製作した。
まず、所定のLED製造工程を用いて、井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有するLEDチップの発光層の井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sを0.06となるようにして、青色発光ダイオード素子(LEDチップ)を製造した。
次に、第一のリードワイヤにある素子蔵置用の凹部に共晶接合を用いてボンディングして、青色LEDチップを固定した。
次に、第一のリードワイヤと青色LEDチップの正極のボンディングパッドとをボンディングワイヤによって接続するとともに、第二のリードワイヤと負極のボンディングパッドとを別のボンディングワイヤによって接続した。
最後に、キャスティング法により凹部を含む第一のリードワイヤの先端部、青色LEDチップ、蛍光体を分散した第一の樹脂の全体を、屈折率1.36のエポキシ樹脂からなる第二の樹脂で封止した。
この砲弾型白色発光ダイオードランプの色温度は、0℃から95℃までの環境温度で、ほとんど変化しなかった。また、この砲弾型白色発光ダイオードランプは、85℃の環境温度で、30mAの通電下1000hrの加速エージング試験を行っても、色温度や出力の変化を生じなかった。
図1に示すような砲弾型白色発光ダイオードランプ1を製作した。
まず、所定のLED製造工程を用いて、井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有するLEDチップの発光層の井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sを0.06となるようにして、青色発光ダイオード素子(LEDチップ)を製造した。
次に、第一のリードワイヤにある素子蔵置用の凹部に共晶接合を用いてボンディングして、青色LEDチップを固定した。
次に、第一のリードワイヤと青色LEDチップの正極のボンディングパッドとをボンディングワイヤによって接続するとともに、第二のリードワイヤと負極のボンディングパッドとを別のボンディングワイヤによって接続した。
最後に、キャスティング法により凹部を含む第一のリードワイヤの先端部、青色LEDチップ、蛍光体を分散した第一の樹脂の全体を、屈折率1.41のシリコーン樹脂からなる第二の樹脂で封止した。
この砲弾型白色発光ダイオードランプの色温度は、0℃から95℃までの環境温度で、ほとんど変化しなかった。また、この砲弾型白色発光ダイオードランプは、85℃の環境温度で、30mAの通電下1000hrの加速エージング試験を行っても、色温度や出力の変化を生じなかった。
図1に示すような砲弾型白色発光ダイオードランプ1を製作した。
まず、所定のLED製造工程を用いて、井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有するLEDチップの発光層の井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sを0.06となるようにして、青色発光ダイオード素子(LEDチップ)を製造した。
次に、第一のリードワイヤにある素子蔵置用の凹部に共晶接合を用いてボンディングして、青色LEDチップを固定した。
次に、第一のリードワイヤと青色LEDチップの正極のボンディングパッドとをボンディングワイヤによって接続するとともに、第二のリードワイヤと負極のボンディングパッドとを別のボンディングワイヤによって接続した。
最後に、キャスティング法により凹部を含む第一のリードワイヤの先端部、青色LEDチップ、蛍光体を分散した第一の樹脂の全体を、屈折率1.41のシリコーン樹脂からなる第二の樹脂で封止した。
また、得られた砲弾型白色発光ダイオードランプは温白色の発光を示し、3000K程度の色温度を示した。
この砲弾型白色発光ダイオードランプの色温度は、0℃から95℃までの環境温度で、ほとんど変化しなかった。また、この砲弾型白色発光ダイオードランプは、85℃の環境温度で、30mAの通電下1000hrの加速エージング試験を行っても、色温度や出力の変化を生じなかった。
図1に示すような砲弾型白色発光ダイオードランプ1を製作した。
まず、所定のLED製造工程を用いて、井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有するLEDチップの発光層の井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sを0.06となるようにして、青色発光ダイオード素子(LEDチップ)を製造した。
次に、第一のリードワイヤにある素子蔵置用の凹部に青色LEDチップを、共晶接合を用いてボンディングして、青色LEDチップを固定した。
次に、第一のリードワイヤと青色LEDチップの正極のボンディングパッドとをボンディングワイヤによって接続するとともに、第二のリードワイヤと負極のボンディングパッドとを別のボンディングワイヤによって接続した。
最後に、キャスティング法により凹部を含む第一のリードワイヤの先端部、青色LEDチップ、蛍光体を分散した第一の樹脂の全体を、屈折率1.41のシリコーン樹脂からなる第二の樹脂で封止した。
また、得られた砲弾型白色発光ダイオードランプは温白色の発光を示し、3000K程度の色温度を示した。
この砲弾型白色発光ダイオードランプの色温度は、0℃から95℃までの環境温度で、ほとんど変化しなかった。また、この砲弾型白色発光ダイオードランプは、85℃の環境温度で、30mAの通電下1000hrの加速エージング試験を行っても、色温度や出力の変化を生じなかった。
図5に示すような、発光素子(青色LEDチップ)をフリップチップ式にマウントした表面実装型の白色発光ダイオードパッケージ(基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ112)を製作した。
まず、所定のLED製造工程を用いて、井戸層と障壁層とからなるLEDチップの発光層の井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sを0.06となるようにして、p電極として反射型の電極を用いたフリップチップ用の青色発光ダイオード素子(LEDチップ)を作製した。
そして、予め作製しておいた実施例11の蛍光体を30質量%の濃度でシリコーン樹脂に分散して、これを青色LEDチップを被覆するようにしてディスペンサで適量塗布し硬化させ、蛍光体を分散した第一の樹脂をドーム状に形成した。
次に、前記第一の樹脂の全体をシリコーン樹脂からなる第二の樹脂で封止した。
この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプの色温度は、0℃から95℃までの環境温度で、ほとんど変化しなかった。また、この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプは、85℃の環境温度で、30mAの通電下1000hrの加速エージング試験を行っても、色温度や出力の変化を生じなかった。
図6に示すような基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ113を製作した。
まず、所定のLED製造工程を用いて、井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有するLEDチップの発光層の井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sを0.06となるようにして、上下電極構造の青色発光ダイオード素子(LEDチップ)を製造した。
次に、第一のリードワイヤ上に青色LEDチップを、共晶接合を用いてボンディングして、下部のボンディングパッドを第一のリードワイヤに接続した。また、上部のボンディングパッドは第二のリードワイヤとボンディングワイヤによって接続した。
次に、実施例11の蛍光体を含有させたエポキシ樹脂を適量滴下して硬化させた。
そして、予め作製しておいた実施例11の蛍光体をエポキシ樹脂に分散して、これを青色LEDチップを被覆するようにしてディスペンサで適量塗布し硬化させ、蛍光体を分散した第一の樹脂をドーム状に形成した。
次に、前記第一の樹脂の全体を、前記第一の樹脂と同一のエポキシ樹脂からなる第二の樹脂で封止した。
この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプの色温度は、0℃から95℃までの環境温度で、ほとんど変化しなかった。また、この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプは、85℃の環境温度で、30mAの通電下1000hrの加速エージング試験を行っても、色温度や出力の変化を生じなかった。
図7に示すような基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ114を製作した。
まず、所定のLED製造工程を用いて、井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有するLEDチップの発光層の井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sを0.06となるようにして、450nmに発光ピークを持つ青色発光ダイオード素子(LEDチップ)を製造した。
次に、実施例11の蛍光体を含有させたメチルシリコーン樹脂を適量滴下して硬化させた。
硬化後、一体化された部材から、発光装置パッケージをトリムした。個片とした発光装置パッケージを色調、発光強度で選別し、製品とした。
また、得られた基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプは温白色の発光を示し、4000K程度の色温度を示した。
この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプの色温度は、0℃から95℃までの環境温度で、ほとんど変化しなかった。また、この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプは、85℃の環境温度で、30mAの通電下1000hrの加速エージング試験を行っても、色温度や出力の変化を生じなかった。
図7に示すような基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ114を製作した。
まず、所定のLED製造工程を用いて、井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有するLEDチップの発光層の井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sを0.05となるようにして、440nmに発光ピークを持つ青色発光ダイオード素子(LEDチップ)を製造した。
次に、実施例11の蛍光体を含有させたメチルシリコーン樹脂を適量滴下して硬化させた。
硬化後、一体化された部材から、発光装置パッケージをトリムした。個片とした発光装置パッケージを色調、発光強度で選別し、製品とした。
また、得られた基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプは温白色の発光を示し、4200K程度の色温度を示した。
この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプの色温度は、0℃から95℃までの環境温度で、ほとんど変化しなかった。また、この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプは、85℃の環境温度で、30mAの通電下1000hrの加速エージング試験を行っても、色温度や出力の変化を生じなかった。
図8に示すような基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ115を製作した。
まず、所定のLED製造工程を用いて、井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有するLEDチップの発光層の井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sを0.07となるようにして、470nmに発光ピークを持つ青色発光ダイオード素子(LEDチップ)を製造した。
そして、予め作製しておいた実施例11の蛍光体をメチルシリコーン樹脂に分散して、これを青色LEDチップを被覆するようにしてディスペンサで適量塗布し硬化させ、蛍光体を分散した第一の樹脂をドーム状に形成した。
次に、前記第一の樹脂の全体を、フェニルシリコーン樹脂からなる第二の樹脂で封止した。
硬化後、一体化された部材から、発光装置パッケージをトリムした。個片とした発光装置パッケージを色調、発光強度で選別し、製品とした。
また、得られた基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプは温白色の発光を示し、4500K程度の色温度を示した。
この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプの色温度は、0℃から95℃までの環境温度で、ほとんど変化しなかった。また、この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプは、85℃の環境温度で、30mAの通電下1000hrの加速エージング試験を行っても、色温度や出力の変化を生じなかった。
図9に示すような基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプ116を製作した。
まず、所定のLED製造工程を用いて、井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有するLEDチップの発光層の井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sを0.06となるようにして、450nmに発光ピークを持つ青色発光ダイオード素子(LEDチップ)を製造した。
次に、本実施例で使用した青色LEDチップのp側の透明電極の上に、スパッタ法によって、実施例11の蛍光体からなる層を10μm成膜した。最後に、メチルシリコーン樹脂を適量滴下して硬化させた。
硬化後、一体化された部材から、発光装置パッケージをトリムした。個片とした発光装置パッケージを色調、発光強度で選別し、製品とした。
また、得られた基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプは温白色の発光を示し、3200K程度の色温度を示した。
この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプの色温度は、0℃から95℃までの環境温度で、ほとんど変化しなかった。また、この基板実装用チップ型白色発光ダイオードランプは、85℃の環境温度で、30mAの通電下1000hrの加速エージング試験を行っても、色温度や出力の変化を生じなかった。
続いて、プリント配線したガラス入りエポキシ基板(以下、配線基板)上に直接チップを実装し、これを樹脂封止したチップ・オン・ボード形式と呼ぶ白色発光ダイオードを製作した。
まず、所定のLED製造工程を用いて、井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有するLEDチップの発光層の井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sを0.06となるようにして、青色発光ダイオード素子(LEDチップ)を製造した。
この上から、実施例11の蛍光体を含有させたメチルシリコーン樹脂を適量滴下して硬化させた。
また、得られた発光装置は温白色の発光を示し、4000K程度の色温度を示した。
この発光装置の色温度は、0℃から200℃までの環境温度で、ほとんど変化しなかった。また、この発光装置は、85℃の環境温度で、30mAの通電下1000hrの加速エージング試験を行っても、色温度や出力の変化を生じなかった。
Claims (42)
- 光源保持部材と、前記光源保持部材の正面側に配置された光源と、前記光源の正面側に配置され、前記光源からの発光により励起されて発光する蛍光体と、からなる発光装置であって、
前記光源が330〜500nmの発光ピーク波長の光を発するLEDチップであり、前記蛍光体が、M(0)元素と、M(1)元素と、Siと、Alと、窒素とを少なくとも含み、α型サイアロン結晶構造を有するα型サイアロンであり、前記M(0)元素はSr、Laから選ばれる一種または二種の元素であり、前記M(1)元素はMn,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Ybから選ばれる一種以上の元素であることを特徴とする発光装置。 - 前記LEDチップの発光層が井戸層と障壁層とからなる多重量子井戸構造を有しており、
前記井戸層を構成するGa1−sInsNのInの組成比sが、0<s<0.4とされたことを特徴とする請求項1に記載の発光装置。 - 前記光源と前記光源保持部材とがAuSn共晶接合されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が、酸素を含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が、Li、Na,Be,Mg,Ca、Ba,Sc,Y,Gd,Luから選ばれる一種以上の元素であるM(2)元素を更に含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が、M(0)元素と、M(1)元素と、Siと、Alと、窒素とを少なくとも含み、α型窒化珪素結晶と同一の結晶構造であるα型サイアロン結晶構造を有するα型サイアロンであり、
前記α型サイアロンに含まれる酸素量が、上記組成式(1)に基づいて計算される値より0.4質量%以下の範囲で多いことを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の発光装置。 - 上記組成式(1)でxが、0.05≦x≦2であることを特徴とする請求項6または請求項7に記載の発光装置。
- 上記組成式(1)でyが、0.001≦y≦1.2であることを特徴とする請求項6〜8のいずれか1項に記載の発光装置。
- 上記組成式(1)でnが、0≦n≦1.5であることを特徴とする請求項6〜9のいずれか1項に記載の発光装置。
- 上記組成式(1)でnが、n=meであることを特徴とする請求項6〜10のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体のα型サイアロンの含有率が90質量%以上であり、残部がβ型サイアロン、未反応の窒化ケイ素、酸窒化物ガラスまたはSrSi6N8から選ばれる一種であることを特徴とする請求項1〜11のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が、平均粒径0.1〜50μmの粉体であることを特徴とする請求項1〜12のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体を構成する一次粒子の平均アスペクト比が3以下であることを特徴とする請求項13に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が、フッ素を5〜300ppm含有することを特徴とする請求項1〜14のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が、ホウ素を10〜3000ppm含有することを特徴とする請求項1〜15のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が、少なくとも一部表面に、膜厚が0.4〜150nmの透明膜を有することを特徴とする請求項1〜16のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が、少なくとも一部表面に、膜厚が0.5〜120nmの透明膜を有することを特徴とする請求項17に記載の発光装置。
- 前記LEDチップの発光ピーク波長が430〜490nmであることを特徴とする請求項18に記載の発光装置。
- 前記LEDチップの発光ピーク波長が450〜480nmであることを特徴とする請求項18または請求項19に記載の発光装置。
- 前記蛍光体に加えて、更に別の蛍光体が前記光源の正面側に配置されたことを特徴とする請求項1〜20のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記別の蛍光体が、580nmから660nmの波長にピークを持つ、赤色光を放射する蛍光体であることを特徴とする請求項21に記載の発光装置。
- 砲弾型LEDデバイスまたは表面実装型LEDデバイスのいずれかであることを特徴とする請求項1〜22のいずれか1項に記載の発光装置。
- 配線された基板上に前記LEDチップを直接実装したチップ・オン・ボード型デバイスであることを特徴とする請求項1〜23のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記LEDチップを実装する基板と、前記LEDチップを取り囲み、前記LEDチップの発光を正面方向に取り出すように形成されたリフレクタ面を備えたリフレクタ部と、を有する発光装置であって、前記基板および/またはリフレクタ部が樹脂を含むことを特徴とする請求項1〜24のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記樹脂が、熱硬化性樹脂であることを特徴とする請求項25に記載の発光装置。
- 前記基板および/またはリフレクタ部がセラミクス製部材を含むことを特徴とする請求項1〜26のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が、前記LEDチップを取り囲んで形成された封止樹脂中に分散されていることを特徴とする請求項1〜27のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記封止樹脂が、少なくとも一部の領域にシリコーン樹脂を含むことを特徴とする請求項28に記載の発光装置。
- 前記封止樹脂が、少なくとも一部の領域にメチルシリコーン樹脂を含むことを特徴とする請求項28または請求項29に記載の発光装置。
- 前記封止樹脂が、少なくとも一部の領域にフェニルシリコーン樹脂を含むことを特徴とする請求項28〜30のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が、前記LEDチップの近傍で高密度になるように、前記封止樹脂中に分散されていることを特徴とする請求項28〜31のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記封止樹脂を覆うように、別の封止樹脂が形成されていることを特徴とする請求項28〜32のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が前記LEDチップに直接付着されていることを特徴とする請求項1〜27のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が前記LEDチップの少なくとも一面を覆うように直接付着されていることを特徴とする請求項34に記載の発光装置。
- 前記蛍光体が層状となっていることを特徴とする請求項35に記載の発光装置。
- 前記蛍光体の厚みが、1〜100μmであることを特徴とする請求項34〜36のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記LEDチップの一辺が350μmよりも大きいことを特徴とする請求項1〜37のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記LEDチップが複数配置されてなることを特徴とする請求項1〜38のいずれかに記載の発光装置。
- 1パッケージ当り0.2W以上の電力を投入して使用されることを特徴とする請求項1〜39のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記LEDチップが、1パッケージ1個当りの平面面積密度にして1.5×104W/m2以上の電力を投入して使用されることを特徴とする請求項1〜40のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記LEDチップが、1パッケージ1個当りの平面面積密度にして5×104W/m2以上の電力を投入して使用されることを特徴とする請求項41に記載の発光装置。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012199502A (ja) * | 2011-03-07 | 2012-10-18 | Toyohashi Univ Of Technology | 窒化物半導体及びその製造方法、並びに、窒化物半導体発光素子及びその製造方法 |
KR20140059992A (ko) * | 2012-11-09 | 2014-05-19 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 패키지 |
US9202996B2 (en) | 2012-11-30 | 2015-12-01 | Corning Incorporated | LED lighting devices with quantum dot glass containment plates |
US10158057B2 (en) | 2010-10-28 | 2018-12-18 | Corning Incorporated | LED lighting devices |
Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002314142A (ja) * | 2001-04-09 | 2002-10-25 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光装置 |
JP2003206481A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-07-22 | Patent Treuhand Ges Elektr Gluehlamp Mbh | 光源として少なくとも1つのledを備えた照明ユニット |
JP2004067837A (ja) * | 2002-08-06 | 2004-03-04 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | α−サイアロン蛍光体 |
JP2004186278A (ja) * | 2002-11-29 | 2004-07-02 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光装置及び発光方法 |
JP2005159311A (ja) * | 2003-10-30 | 2005-06-16 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体素子用の支持体及びその製造方法並びに半導体装置 |
JP2005302920A (ja) * | 2004-04-09 | 2005-10-27 | Shoei Chem Ind Co | 発光装置 |
JP2005340748A (ja) * | 2003-09-18 | 2005-12-08 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
JP2006265506A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-10-05 | Denki Kagaku Kogyo Kk | 蛍光体とその製造方法、およびそれを用いた発光素子 |
WO2007004493A1 (ja) * | 2005-07-01 | 2007-01-11 | National Institute For Materials Science | 蛍光体とその製造方法および照明器具 |
JP2007042668A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-15 | Toyoda Gosei Co Ltd | Led発光装置 |
JP2007113019A (ja) * | 2004-02-18 | 2007-05-10 | National Institute For Materials Science | 蛍光体の製造方法 |
JP2007235183A (ja) * | 2001-09-03 | 2007-09-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体発光デバイス |
JP2007308345A (ja) * | 2006-05-19 | 2007-11-29 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 高屈折率透明粒子及びそれを用いた高屈折率透明複合体並びに発光素子 |
JP2007332324A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Denki Kagaku Kogyo Kk | サイアロン蛍光体とその製造方法、およびそれを用いた発光素子 |
-
2008
- 2008-11-14 JP JP2008292559A patent/JP5360370B2/ja active Active
Patent Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002314142A (ja) * | 2001-04-09 | 2002-10-25 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光装置 |
JP2007235183A (ja) * | 2001-09-03 | 2007-09-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体発光デバイス |
JP2003206481A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-07-22 | Patent Treuhand Ges Elektr Gluehlamp Mbh | 光源として少なくとも1つのledを備えた照明ユニット |
JP2004067837A (ja) * | 2002-08-06 | 2004-03-04 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | α−サイアロン蛍光体 |
JP2004186278A (ja) * | 2002-11-29 | 2004-07-02 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光装置及び発光方法 |
JP2005340748A (ja) * | 2003-09-18 | 2005-12-08 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
JP2005159311A (ja) * | 2003-10-30 | 2005-06-16 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体素子用の支持体及びその製造方法並びに半導体装置 |
JP2007113019A (ja) * | 2004-02-18 | 2007-05-10 | National Institute For Materials Science | 蛍光体の製造方法 |
JP2005302920A (ja) * | 2004-04-09 | 2005-10-27 | Shoei Chem Ind Co | 発光装置 |
JP2006265506A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-10-05 | Denki Kagaku Kogyo Kk | 蛍光体とその製造方法、およびそれを用いた発光素子 |
WO2007004493A1 (ja) * | 2005-07-01 | 2007-01-11 | National Institute For Materials Science | 蛍光体とその製造方法および照明器具 |
JP2007042668A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-15 | Toyoda Gosei Co Ltd | Led発光装置 |
JP2007308345A (ja) * | 2006-05-19 | 2007-11-29 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 高屈折率透明粒子及びそれを用いた高屈折率透明複合体並びに発光素子 |
JP2007332324A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Denki Kagaku Kogyo Kk | サイアロン蛍光体とその製造方法、およびそれを用いた発光素子 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10158057B2 (en) | 2010-10-28 | 2018-12-18 | Corning Incorporated | LED lighting devices |
JP2012199502A (ja) * | 2011-03-07 | 2012-10-18 | Toyohashi Univ Of Technology | 窒化物半導体及びその製造方法、並びに、窒化物半導体発光素子及びその製造方法 |
KR20140059992A (ko) * | 2012-11-09 | 2014-05-19 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 패키지 |
KR101979845B1 (ko) * | 2012-11-09 | 2019-05-17 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 패키지 |
US9202996B2 (en) | 2012-11-30 | 2015-12-01 | Corning Incorporated | LED lighting devices with quantum dot glass containment plates |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JP5360370B2 (ja) | 2013-12-04 |
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