JP2010100758A - ケイ素含有硬化性組成物 - Google Patents

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Abstract

【課題】はじきが改善されてポリイミド系樹脂に対しても十分な密着性を有し、電気・電子材料、特に発光素子用封止剤として好適なケイ素含有硬化性組成物を提供すること。
【解決手段】一般式(1)で表される化合物(V-1)と、Si-H基を1分子中に2個以上有する化合物(H-1)とをヒドロシリル化反応させて得られる、Si-H基を1分子中に2個以上有する化合物(H-2);Si-H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に2個以上有する環状シロキサン化合物(V-2)、及び/又は化合物(V-2)とSi-H基を1分子中に2個以上有する化合物(H-3)とをヒドロシリル化反応させて得られる、Si-H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に2個以上有するプレポリマー(V-3);並びにヒドロシリル化触媒を含有するケイ素含有硬化性組成物。尚、R1はSi-H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を有するC2〜10有機基を表し、R2はC1〜10有機基を表す。
Figure 2010100758

【選択図】なし

Description

本発明は、ケイ素含有硬化性組成物、及びそれを硬化させてなる硬化物に関する。詳しくは、LED用封止材料等の電気・電子材料として好適なケイ素含有硬化性組成物及びその硬化物に関する。
液晶表示装置に用いられる各種保護コーティング剤、発光ダイオード(LED)の封止材やダイボンド剤、あるいは各種センサーのコーティング剤をはじめとした光学材料には、高い透明性とともに、高い接着性や高い靭性が求められる。
透明性については、製造工程や使用環境条件等における高温による着色がないだけでなく、自動車用ヘッドライトや照明等の高輝度が要求されるLEDの封止材では、光劣化による透明性低下がないことも求められる。
接着性については、接着性が低い場合、光学素子と封止樹脂との界面で剥離が発生し、剥離により輝度が低下したり光学素子が固定できなくなるために、製品の信頼性が低下する等の問題が発生する。例えば表面実装タイプのLEDではプラスチック、セラミックス、銀等のパッケージ構成材料との接着性が良好であることも望まれている。
靭性については、靭性が低い場合には、例えば光学素子の実装時のはんだリフロー時や使用環境の変化における急激な温度変化によるクラックが発生するといった問題が発生する。
シリコーン樹脂は、耐熱性に優れ、透明性が高く、青色から紫外領域の短波長の光に対しても劣化が少ないことから光学材料に使用されている(例えば、特許文献1及び2参照)。しかしながら、シリコーン樹脂は、アウトガス成分(揮発成分)が多いため電子部材の製造工程等では汚染問題から使用が限定されており、また、軟質で表面タック性を有しているため、表面に埃が容易に付着し光の透過性が低下するという欠点もあった。アウトガス成分が少ないシリコーン樹脂としては、1分子中に少なくとも2個のSi−H基を含有するプレポリマーと、Si−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個含有する環状シロキサン化合物とを反応させたシリコーン樹脂(例えば、特許文献3参照)が知られているが、接着性が不十分であった。
また、イソシアヌレート構造を含有するシリコーン樹脂も知られているが、(1)1分子中に少なくとも2個のSi−H基を含有する化合物と、(2)Si−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個含有する化合物とを反応させたシリコーン樹脂において、(1)及び/又は(2)がイソシアヌレート構造を有する場合に、(2)がシロキサン結合を有すると、はじきの問題(例えば、特許文献4、5参照)があることが知られている。このはじきのために塗膜の膜厚にムラが発生する場合があり、硬化物においても他の素材(特にポリアミド系樹脂)との親和性の問題から密着性が不足し、ポリアミド系樹脂基板の場合にはLED等の光学素子の封止剤として使用できなかった。
特開2002−088244号公報 特開2002−314142号公報 特開2006−232970号公報 特開2006−335947号公報 特開2007−009041号公報
従って、本発明の目的は、はじきが改善されてポリイミド系樹脂に対しても十分な密着性を有し、電気・電子材料、特に発光素子用封止剤として好適なケイ素含有硬化性組成物を提供することにある。
本発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、特定のケイ素含有化合物の構造とプレポリマーに着目し、本発明を完成するに至った。
即ち、本発明は、
(A)成分として、下記一般式(1)で表される化合物(V−1)とSi−H基を1分子中に少なくとも2個(化合物(V−1)の1分子中のSi−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合の数が1個である場合には、少なくとも3個)有する化合物(H−1)とをヒドロシリル化反応させて得られる、Si−H基を1分子中に少なくとも2個有する化合物(H−2)、
(B)成分として、Si−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個有する環状シロキサン化合物(V−2)、及び/又は化合物(V−2)とSi−H基を1分子中に少なくとも2個有する化合物(H−3)とをヒドロシリル化反応させて得られる、Si−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個有するプレポリマー(V−3)、並びに
(C)成分として、ヒドロシリル化触媒
を含有することを特徴とするケイ素含有硬化性組成物を提供するものである。
Figure 2010100758
また、本発明は、上記ケイ素含有硬化性組成物を加熱硬化させてなるケイ素含有硬化物を提供するものである。
本発明によれば、はじきが改善されてポリイミド系樹脂に対しても十分な密着性を有し、電気・電子材料、特に発光素子用封止剤として好適なケイ素含有硬化性組成物を提供できる。
以下、本発明のケイ素含有硬化性組成物について、好ましい実施形態に基づき詳細に説明する。
まず、本発明に係る(A)成分について説明する。
本発明に係る(A)成分は、上記一般式(1)で表される化合物(V−1)とSi−H基を1分子中に少なくとも2個(化合物(V−1)の1分子中のSi−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合の数が1個である場合には、少なくとも3個)有する化合物(H−1)とをヒドロシリル化反応させて得られる、Si−H基を1分子中に少なくとも2個有する化合物(H−2)である。
前記一般式(1)において、R1で表される、Si−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を有する炭素数2〜10の有機基としては、ビニル、アリル(2−プロペニル)、イソプロペニル、メタリル(2−メチル−2−プロペニル)、3−ブテニル、4−ペンテニル、3−メチル−3−ブテニル、5−ヘキセニル、6−ヘプテニル、7−オクテニル、8−ノネニル、9−デセニル等の末端不飽和アルケニル基;ビニルフェニル、ビニルフェニルメチル、イソプロペニルフェニル、2−(ビニルフェニル)エチル等のアルケニルフェニル基;2−プロペノイル、2−メチル−2−プロペノイル、3−ブテノイル、4−ペンテノイル、3−メチル−3−ブテノイル、5−ヘキセノイル、6−ヘプテノイル、7−オクテノイル、8−ノネノイル、9−デセノイル等の末端不飽和アルケノイル基;2,3−ジアリロキシプロピル、2−ヒドロキシ−3−アリロキシプロピル等のアリルエーテル置換(ヒドロキシ)アルキル基等が挙げられ、(A)成分の耐熱性が向上し、Si−H基との反応性にも優れることから、末端不飽和アルケニル基が好ましく、ビニル、アリル、イソプロペニル、メタリルが更に好ましく、アリルが最も好ましい。
また、R2で表される、炭素数1〜10の有機基としては、R1で例示したSi−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を有する炭素数2〜10の有機基に加え、メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、ブチル、イソブチル、2級ブチル、t−ブチル、ペンチル、イソペンチル、2級ペンチル、t−ペンチル、ヘキシル、2級ヘキシル、オクチル、2−エチルヘキシル、ノニル、デシル等のアルキル基;シクロペンチル、シクロヘキシル等のシクロアルキル基;フェニル、メチルフェニル、エチルフェニル、ジメチルフェニル、イソプロピルフェニル、t−ブチルフェニル、オクチルフェニル等のアルキルフェニル基;ベンジル、フェニルエチル、2−フェニル−2−プロピル等のアラルキル基;1,2−エポキシエチル、グリジジル(2,3−エポキシプロピル)、3,4−エポキシブチル、4,5−エポキシペンチル、5,6−エポキシヘキシル、2,3−エポキシクロヘキシル、3,4−エポキシクロヘキシル、3,4−エポキシクロヘキシルメチル、2−(3,4−エポキシクロヘキシル)エチル等のエポキシ基を含有する基等が挙げられ、(A)成分の耐熱性の点からは、末端不飽和アルケニル基、アルキル基及びアラルキル基が好ましく、末端不飽和アルケニル基が更に好ましく、本発明のケイ素含有硬化性組成物の密着性の点からは、エポキシ基を含有する基が好ましい。
前記一般式(1)で表される化合物(V−1)の具体的な例としては、トリアリルイソシアヌレート、ジアリルメチルイソシアヌレート、ジアリルエチルイソシアヌレート、ジアリルベンジルイソシアヌレート、ジアリルグリシジルイソシアヌレート、アリルジメチルイソシアヌレート、アリルジエチルイソシアヌレート、アリルジベンジルイソシアヌレート、アリルジグリシジルイソシアヌレート等が好ましく、ジアリルメチルイソシアヌレート、ジアリルエチルイソシアヌレート、ジアリルベンジルイソシアヌレート、ジアリルグリシジルイソシアヌレート、アリルジメチルイソシアヌレート、アリルジエチルイソシアヌレート、アリルジベンジルイソシアヌレート、アリルジグリシジルイソシアヌレートがより好ましく、ジアリルメチルイソシアヌレート、アリルジメチルイソシアヌレート、ジアリルエチルイソシアヌレート、アリルジエチルイソシアヌレート、ジアリルグリシジルイソシアヌレート、アリルジグリシジルイソシアヌレートが更に好ましく、ジアリルグリシジルイソシアヌレート、アリルジグリシジルイソシアヌレートが最も好ましい。化合物(V−1)は、単独で使用しても2種以上組み合わせて使用してもよい。
次に、前記一般式(1)で表される化合物(V−1)とヒドロシリル化反応させる、Si−H基を1分子中に少なくとも2個(化合物(V−1)の1分子中のSi−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合の数が1個である場合には、少なくとも3個)有する化合物(H−1)について説明する。
化合物(H−1)としては、例えば、下記の一般式(2)で表される直線状シロキサン化合物、下記の一般式(3)で表される環状シロキサン化合物等が挙げられ、下記の一般式(3)で表される環状シロキサン化合物がより好ましい。化合物(H−1)としては、一般式(2)で表される直線状シロキサン化合物と一般式(3)で表される環状シロキサン化合物とを組み合わせて使用してもよい。化合物(H−1)としては、これらの他、架橋構造を有するシロキサン化合物、例えばシルセスキオキサン型のシロキサン化合物等でもよい。
Figure 2010100758
Figure 2010100758
上記一般式(2)で表される直線状シロキサン化合物において、R4、R5及びR6は同一でも異なっていてもよい炭素数1〜6のアルキル基、炭素数5〜6のシクロアルキル基又はフェニル基を表す。炭素数1〜6のアルキル基としては、例えば、メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、ブチル、イソブチル、2級ブチル、t−ブチル、ペンチル、イソペンチル、2級ペンチル、t−ペンチル、ヘキシル、2級ヘキシル等が挙げられ、炭素数5〜6のシクロアルキル基としては、シクロペンチル、メチルシクロペンチル、シクロペンチルメチル、シクロヘキシル等が挙げられる。R4としては、ヒドロシリル化反応への影響が少ないことから、メチル及びエチルが好ましく、メチルが更に好ましく、R5及びR6としては、本発明のケイ素含有硬化性組成物の耐熱性の面からは、メチル、エチル及びフェニルが好ましく、メチル及びフェニルが更に好ましく、メチルが最も好ましい。aは0〜1000の数を表し、bは0〜1000の数を表す。Xは水素原子又はメチル基を表すが、aが0又は1の数の場合には水素原子を表す。
上記一般式(2)で表される直線状シロキサン化合物の分子量は、ハンドリング性の点から、質量平均分子量が800〜100000であることが好ましく、1000〜40000であることが更に好ましく、1500〜30000であることが最も好ましい。なお、本発明において、質量平均分子量とは、テトラヒドロフラン(以下、THFという)を溶媒としてGPC分析を行った場合のポリスチレン換算の質量平均分子量をいう。
上記一般式(3)で表される環状シロキサン化合物において、R7、R8及びR9は同一でも異なっていてもよい炭素数1〜6のアルキル基、炭素数5〜6のシクロアルキル基又はフェニル基を表す。炭素数1〜6のアルキル基及び炭素数5〜6のシクロアルキル基としては、上記一般式(2)のR4、R5及びR6で挙げたアルキル基及びシクロアルキル基が挙げられる。R7としては、ヒドロシリル化反応への影響が少ないことから、メチル及びエチルが好ましく、メチルが更に好ましく、R5及びR6としては、本発明のケイ素含有硬化性組成物の耐熱性の面からは、メチル、エチル及びフェニルが好ましく、メチル及びフェニルが更に好ましく、メチルが最も好ましい。cは2〜6の数を表し、dはc+dが3〜6となる数を表す。工業的に入手が容易であることから、c+dが4〜6であることが好ましく、4〜5であることが更に好ましく、4であることが最も好ましい。
上記一般式(3)で表される環状シロキサン化合物の中で、硬化物の物性の点から、好ましい化合物の具体例としては、2,4,6−トリメチルシクロトリシロキサン、2,4,6−トリエチルシクロトリシロキサン、2,4,6−トリフェニルシクロトリシロキサン、2,4,6,8−テトラメチルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8−テトラエチルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8−テトラフェニルシクロテトラシロキサン、2−エチル−4,6,8−トリメチルシクロテトラシロキサン、2−フェニル−4,6,8−トリメチルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8,10−ペンタメチルシクロペンタシロキサン、2,4,6,8,10−ペンタエチルシクロペンタシロキサン、2,4,6,8,10−ペンタフェニルシクロペンタシロキサン、2,4,6,8,10,12−ヘキサメチルシクロヘキサシロキサン、2,4,6,8,10,12−ヘキサエチルシクロヘキサシロキサン、2,4,6,8,10,12−ヘキサフェニルシクロヘキサシロキサン等が挙げられ、工業的に入手が容易であることから、2,4,6,8−テトラメチルシクロテトラシロキサン及び2,4,6,8,10−ペンタメチルシクロペンタシロキサンが好ましく、2,4,6,8−テトラメチルシクロテトラシロキサンが更に好ましい。上記一般式(3)で表される環状シロキサン化合物は、単独で使用しても2種以上組み合わせて使用してもよい。
本発明に係る(A)成分である化合物(H−2)は、上記の化合物(V−1)と化合物(H−1)とをヒドロシリル化反応することによって得られる。化合物(V−1)と化合物(H−1)との反応比率は、得られる化合物(H−2)が1分子中に少なくとも2個のSi−H基を含有するようになる反応比率であれば、特に限定されないが、化合物(H−2)の粘度の点から、Si−H基との反応性を有する炭素―炭素二重結合に対する、Si−H基の数の当量比が2〜10であることが好ましく、2〜6であることが更に好ましく、2〜4であることが最も好ましい。また、化合物(H−2)中の化合物(V−1)の割合は10〜80質量%、特に30〜75質量%であることが好ましい。
また、化合物(H−2)のSi−H基の濃度は、硬化性及び保存安定性の点から、0.0001〜100mmol/gが好ましく、0.01〜40mmol/gが更に好ましく、0.1〜20mmol/gが最も好ましい。なお、Si−H基の濃度は、1H−NMR分析のピークの積分値の比から求めることができる。
化合物(H−2)は、耐熱性及びハンドリング性の点から、質量平均分子量が500〜50万であることが好ましく、1000〜30万が更に好ましく、5000〜5万が最も好ましい。
化合物(H−2)が有するSi−H基の数は、Si−H基の濃度と質量平均分子量との積から求めることができる。
化合物(V−1)と化合物(H−1)とのヒドロシリル化反応は、触媒を用いて行うことが好ましく、ヒドロシリル化触媒としては、例えば、白金系触媒、パラジウム系触媒、ロジウム系触媒等が挙げられる。白金系触媒としては、例えば、塩化白金酸、塩化白金酸とアルコール、アルデヒド、ケトン等との錯体、白金−オレフィン錯体、白金−カルボニルビニルメチル錯体(Ossko触媒)、白金−ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体(KaRstedt触媒)、白金−シクロビニルメチルシロキサン錯体、白金−オクチルアルデヒド錯体、白金−ホスフィン錯体(例えば、Pt[P(C6534、PtCl[P(C6533、Pt[P(C4934]、白金−ホスファイト錯体(例えば、Pt[P(OC6534)、Pt[P(OC4934)、ジカルボニルジクロロ白金等が挙げられる。パラジウム系触媒又はロジウム系触媒としては、例えば、上記白金系触媒において白金原子の代わりにパラジウム原子又はロジウム原子を含有する化合物が挙げられる。これらは1種で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。ヒドロシリル化触媒としては、反応性の点から、白金系触媒が好ましく、白金−ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体及び白金−カルボニルビニルメチル錯体が更に好ましく、白金−カルボニルビニルメチル錯体が最も好ましい。また、触媒の使用量は反応性の点から、化合物(V−1)と化合物(H−1)との合計量の5質量%以下が好ましく、0.0001〜1.0質量%が更に好ましく、0.001〜0.1質量%が最も好ましい。
化合物(V−1)と化合物(H−1)とのヒドロシリル化の反応条件は特に限定されず、上記触媒を使用して従来公知の条件で行なえばよいが、反応速度の点から、室温〜130℃で行なうのが好ましく、反応時にトルエン、ヘキサン、イソプロパノール、メチルイソブチルケトン、シクロペンタノン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等の従来公知の溶媒を使用してもよい。
本発明に係る(A)成分は、前記一般式(1)で表される化合物(V−1)とSi−H基を1分子中に少なくとも2個有する化合物(H−1)とをヒドロシリル化反応させて得られる、Si−H基を1分子中に少なくとも2個有する化合物(H−2)である。本発明では、化合物(V−1)と化合物(H−1)とをプレポリマー化してから、これを硬化性組成物の配合成分とすることで低沸点物を除去できるので、アウトガス成分が極めて少ない硬化組成物が得られる。また、本発明では、化合物(V−1)がイソシアヌレート構造であるのであることから、光学素子の封止剤とした場合に、密着性に優れる硬化物が得られる。さらに、化合物(H−1)が、環状シロキサン化合物である場合には、鎖状化合物の場合に比べて、硬化物の物理的強度(剛直性)、耐クラック性等を向上させることができる。
次に、本発明に係る(B)成分について説明する。
本発明に係る(B)成分は、Si−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個有する環状シロキサン化合物(V−2)、及び/又は化合物(V−2)とSi−H基を1分子中に少なくとも2個有する化合物(H−3)とをヒドロシリル化反応させて得られる、Si−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個有するプレポリマー(V−3)である。
化合物(V−2)において、二重結合の数は2〜10個が好ましく、硬化物の架橋密度の点から2〜6個がより好ましい。また、このSi−H基と反応性を有する炭素−炭素二重結合は、アルケニル基、ビニル基等が挙げられるが、特に反応性の点から、ケイ素原子に結合したビニル基(Si−CH=CH2基)であることが好ましい。また、硬化物の物性の点から好ましい化合物(V−2)としては、下記一般式(4)で表わされる化合物が挙げられる。
Figure 2010100758
上記一般式(4)において、R10、R11及びR12で表される炭素数1〜6のアルキル基及び炭素数5〜6のシクロアルキル基としては、前記一般式(2)のR4、R5及びR6で挙げたアルキル基及びシクロアルキル基が挙げられる。R10、R11及びR12は、工業的に入手が容易なことから、メチル基又はフェニル基が好ましい。尚、R10、R11及びR12が上記の範囲外である化合物も、化合物(V−2)として使用することができる。
上記一般式(4)において、eは2〜6の数を表わし、fはe+fが3〜6となる数を表す。工業的に入手が容易であることから、e+fが4〜6であることが好ましく、4〜5であることが更に好ましく、4であることが最も好ましい。
硬化物の物性の点から好ましい化合物(V−2)の具体例としては、2,4,6−トリメチル−2,4,6−トリビニルシクロトリシロキサン、2,4,6,6,8,8−ヘキサメチル−2,4−ジビニルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8,8−ペンタメチル−2,4,6−トリビニルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8−テトラメチル−2,4,6,8−テトラビニルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8−テトラメチル−8−フェニル−2,4,6−トリビニルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8−テトラメチル−6,8−ジフェニル−2,4−ジビニルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8−テトラフェニル−2,4,6,8−テトラビニルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8,10−ペンタメチル−2,4,6,8,10−ペンタビニルシクロペンタシロキサン、2,4,6,8,10,12−ヘキサメチル−2,4,6,8,10,12−ヘキサビニルシクロヘキサシロキサン等が挙げられ、工業的な入手の容易さから、2,4,6,8−テトラメチル−2,4,6,8−テトラビニルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8−テトラメチル−8−フェニル−2,4,6−トリビニルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8−テトラメチル−6,8−ジフェニル−2,4−ジビニルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8,10−ペンタメチル−2,4,6,8,10−ペンタビニルシクロペンタシロキサン、2,4,6,8,10,12−ヘキサメチル−2,4,6,8,10,12−ヘキサビニルシクロヘキサシロキサンが好ましく、2,4,6,8−テトラメチル−2,4,6,8−テトラビニルシクロテトラシロキサン、2,4,6,8,10−ペンタメチル−2,4,6,8,10−ペンタビニルシクロペンタシロキサン、2,4,6,8,10,12−ヘキサメチル−2,4,6,8,10,12−ヘキサビニルシクロヘキサシロキサンが更に好ましく、2,4,6,8−テトラメチル−2,4,6,8−テトラビニルシクロテトラシロキサンが最も好ましい。化合物(V−2)は、単独で使用しても2種以上組み合わせて使用してもよい。
本発明では、(B)成分として、Si−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個有する環状シロキサン化合物(V−2)を選択することにより、イソシアヌレート構造を含有するケイ素含有硬化性組成物において、はじきの問題を改善し、ポリアミド系基板への密着性も向上させることができる。
(B)成分としては、化合物(V−2)でも十分な性能が得られるが、さらに性能が向上することから、化合物(V−2)とSi−H基を1分子中に少なくとも2個有する化合物(H−3)とをヒドロシリル化反応させて得られる、Si−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個有するプレポリマー(V−3)であることが好ましい。
化合物(H−3)として好ましい化合物としては、前記一般式(2)で表される直線状シロキサン化合物、前記一般式(3)で表される環状シロキサン化合物、及び前記化合物(H−2)が挙げられ、中でも、化合物(H−2)が好ましい。化合物(H−3)としては、これら化合物又はプレポリマーのうち1種のみを使用しても、組み合わせて使用してもよい。
前記一般式(3)で表される環状シロキサン化合物のうち、化合物(H−3)として好ましい化合物の具体例としては、化合物(H−1)の場合と同様であり、2,4,6,8−テトラメチルシクロテトラシロキサン及び2,4,6,8,10−ペンタメチルシクロペンタシロキサンが好ましく、2,4,6,8−テトラメチルシクロテトラシロキサンが更に好ましい。前記一般式(3)で表される環状シロキサン化合物は、単独で使用しても2種以上組み合わせて使用してもよい。
化合物(H−3)が化合物(H−2)である場合、化合物(H−2)に用いられる化合物(V−1)の好ましい具体的な化合物は、(A)成分の化合物(V−1)と同様の化合物が好ましく、中でも、ジアリルグリシジルイソシアヌレート及びアリルジグリシジルイソシアヌレートが好ましい。また、化合物(H−3)が化合物(H−2)である場合、化合物(H−2)に用いられる化合物(H−1)としては、前記一般式(3)で表される環状シロキサン化合物が好ましく、中でも、2,4,6,8−テトラメチルシクロテトラシロキサン及び2,4,6,8,10−ペンタメチルシクロペンタシロキサンが好ましく、2,4,6,8−テトラメチルシクロテトラシロキサンが更に好ましい。
化合物(H−3)は、本発明のケイ素含有硬化性組成物の保存安定性が向上することから、(A)成分の化合物(H−2)又はその成分の化合物(H−1)と同一であることが好ましい。
プレポリマー(V−3)は、化合物(V−2)と化合物(H−3)とを、得られるプレポリマー(V−3)がSi−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個有するようになる割合で、ヒドロシリル化反応させて得られる化合物である。ヒドロシリル化反応の条件は、特に限定されず、化合物(V−1)と化合物(H−1)とのヒドロシリル化反応と同様の条件で反応することができる。
プレポリマー(V−3)中の化合物(V−2)の割合は、50質量%以上であることが好ましく、60質量%以上であることが更に好ましく、70質量%以上であることが最も好ましい。
本発明のケイ素含有硬化性組成物中、(A)成分と(B)成分の含有比率は、Si−H基と、Si−H基と反応性を有する炭素−炭素二重結合との比を考慮して適宜決めればよいが、Si−H基と反応性を有する炭素−炭素二重結合に対する、Si−H基の当量比が、0.9〜10が好ましく、1.0〜5.0が更に好ましく、1.1〜3.0が最も好ましい。
本発明のケイ素含有硬化性組成物は、(C)成分としてヒドロシリル化触媒を含有する。ヒドロシリル化触媒は、ヒドロシリル化反応の触媒活性があれば、特に限定されず、公知の化合物を用いることができる。このような触媒としては、例えば、白金系触媒、パラジウム系触媒、ロジウム系触媒等が挙げられる。白金系触媒としては、例えば、塩化白金酸、塩化白金酸とアルコール、アルデヒド、ケトン等との錯体、白金−オレフィン錯体、白金−カルボニルビニルメチル錯体(Ossko触媒)、白金−ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体(KaRstedt触媒)、白金−シクロビニルメチルシロキサン錯体、白金−オクチルアルデヒド錯体、白金−ホスフィン錯体(例えば、Pt[P(C6534、PtCl[P(C6533、Pt[P(C4934])、白金−ホスファイト錯体(例えば、Pt[P(OC6534、Pt[P(OC4934)、ジカルボニルジクロロ白金等が挙げられる。パラジウム系触媒又はロジウム系触媒としては、例えば、上記白金系触媒において白金原子の代わりにパラジウム原子又はロジウム原子を含有する化合物が挙げられる。これらは1種で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。ヒドロシリル化触媒としては、反応性の点から、白金系触媒が好ましく、白金−ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体及び白金−カルボニルビニルメチル錯体が更に好ましく、白金−カルボニルビニルメチル錯体が最も好ましい。また、触媒の使用量は、反応性の点から(A)成分と(B)成分との合計量の5質量%以下が好ましく、0.0001〜1.0質量%が更に好ましく、0.001〜0.1質量%が最も好ましい。
なお、本発明の(A)成分又は(B)成分の合成反応時に使用したヒドロシリル化触媒が失活しないで残存している場合には、残存している触媒を(C)成分として使用しても良い。
本発明のケイ素含有硬化性組成物は、上記の(A)〜(C)成分以外に、必要に応じて、耐候性付与剤、無機性フィラー、帯電防止剤等を含有してもよい。
上記耐候性付与剤としては、光安定剤、紫外線吸収剤、フェノール系酸化防止剤、硫黄系酸化防止剤、リン系酸化防止剤が挙げられる。光安定剤としては、ヒンダードアミン類が挙げられ、紫外線吸収剤としては、2−ヒドロキシベンゾフェノン類、ベンゾトリアゾール類、2−(2−ヒドロキシフェニル)トリアジン類、ベンゾエート類、シアノアクリレート類等が挙げられ、フェノール系酸化防止剤としては、トリエチレングリコール−ビス[3−(3−t−ブチル−5−メチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート]、2,6−ジ−t−ブチル−メチルフェノール(BHT又はDBPC)等が挙げられ、硫黄系酸化防止剤としては、ジアルキルチオジプロピオネート類、β―アルキルメルカプトプロピオン酸エステル類等が挙げられ、リン系酸化防止剤としては、有機ホスファイト類が挙げられる。本発明のケイ素含有硬化性組成物における耐候性付与剤の含有量は、透明性、耐熱性、電気特性、硬化性、力学特性、保存安定性及びハンドリングの点から、0.0001〜10質量%が好ましく、0.005〜5質量%が更に好ましく、0.05〜1質量%が最も好ましい。
上記無機性フィラーは、いわゆる充填剤、鉱物等の無機材料及びそれを有機変性処理等により改質したものを指す。具体的には、例えば、コロイダルシリカ、シリカフィラー、シリカゲル等の二酸化ケイ素類;酸化アルミニウム、酸化亜鉛、酸化チタン、酸化ベリリウム等の金属酸化物;マイカ、モンモリロナイト、けい石、珪藻土、セリサイト、カオリナイト、フリント、長石粉、蛭石、アタパルジャイト、タルク、ミネソタイト、パイロフィライト等の鉱物類;窒化ケイ素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素、炭化ケイ素等のセラミックス類;これらを有機変性処理等によって改質したものが挙げられる。これらの無機性フィラーの粒径は、耐熱性の点から100μm以下が好ましく、50μm以下がより好ましい。本発明のケイ素含有硬化性組成物における無機性フィラー含有量は、透明性を重視する場合には使用しない又はできる限り少ない使用が好ましいので0〜10質量%が好ましく、耐熱性向上、増粘、チクソ性付与を目的として使用する場合には10〜90質量%が好ましい。
次に、本発明のケイ素含有硬化性組成物を加熱硬化させてなる本発明の硬化物について述べる。
本発明のケイ素含有硬化性組成物は、加熱することにより硬化させることができ、硬化物とすることができる。この硬化反応は、本発明のケイ素含有硬化性組成物の配合成分を使用直前に混合する方法、あらかじめ全部を混合しておき硬化反応を行うときに加熱等により硬化する方法等、いずれの方法で行ってもよい。硬化させる場合の温度は35〜350℃が好ましく、50〜250℃が更に好ましく、100〜230℃が最も好ましい。硬化反応は一定の温度で行ってもよいが、必要に応じて多段階あるいは連続的に温度を変化させてもよい。硬化時間は0.01〜10時間が好ましく、0.05〜6時間がより好ましい。
硬化物の形状は、用途に応じて種々とりうるので特に限定されないが、例えば、フィルム状、シート状、チューブ状、ロッド状、塗膜状、バルク状等の形状とすることができる。成形する方法も従来の熱硬化性樹脂の成形方法をはじめとして種々の方法をとることができる。例えば、キャスト法、プレス法、注型法、トランスファー成形法、コーティング法、RIM法等の成形方法を適用することができる。成形型は研磨ガラス、硬質ステンレス研磨板、ポリカーボネート板、ポリエチレンテレフタレート板、ポリメチルメタクリレート板等を適用することができる。また、成形型との離型性を向上させるためポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、ポリエチレンフィルム、ポリテトラフルオロエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリイミドフィルム等を適用することができる。成形時に必要に応じ各種処理を施すこともできる。例えば、成形時に発生するボイドの抑制のために組成物あるいは一部反応させた組成物を遠心、減圧等により脱泡する処理、プレス時に一旦圧力を開放する処理等を適用することもできる。
本発明のケイ素含有硬化性組成物は、アウトガス成分が少なく、透明性に優れ、その硬化物は、耐熱性、耐クラック性、耐埃付着性に優れ、光劣化や熱劣化による着色が少ない。このため、本発明のケイ素含有硬化性組成物は、光学用材料をはじめ各種用途に使用できる。光学用材料とは、光をその材料中を通過させる用途に用いる材料一般をいい、LED用封止の他、例えば以下のものが挙げられる。
液晶ディスプレイ分野では、基板材料、導光板、プリズムシート、偏向板、位相差板、視野角補正フィルム、偏光子保護フィルム等の液晶用フィルム等;プラズマディスプレイ分野では、プラズマディスプレイの封止剤、反射防止フィルム、光学補正フィルム、ハウジング材、前面ガラスの保護フィルム、前面ガラス代替材料等;LED表示装置では、LEDのモールド材、LEDの封止剤、前面ガラスの保護フィルム、前面ガラス代替材料等;有機EL(エレクトロルミネッセンス)ディスプレイ分野では、前面ガラスの保護フィルム、前面ガラス代替材料等である。
光記録分野では、VD(ビデオディスク)、CD/CD−ROM、CD−R/RW、DVD−R/DVD−RAM、MO/MD、PD(相変化ディスク)、光カード用のディスク基板材料、ピックアップレンズ、保護フィルム、封止剤等である。
光学機器分野では、レンズ用材料、ファインダプリズム、ターゲットプリズム、ファインダーカバー、受光センサー部、ファインダー、保護フィルム等である。
光部品分野では、光ファイバー材料、レンズ、導波路、素子の封止剤、フェルール、光受動部品、光回路部品ではレンズ、導波路、素子の封止剤等である。
自動車・輸送機分野では、自動車用のランプリフレクタ、ベアリングリテーナー、ギア部分、耐蝕コート、スイッチ部分、ヘッドランプ、電装部品、各種内外装品、インテリアパネル、内装材、保護・結束用ワイヤーネス、ガラス代替品等である。
光学用材料以外の用途としては、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂が使用される一般の用途が挙げられ、例えば、接着剤、塗料、コーティング剤、成形材料(シート、フィルム、FRP等を含む)、絶縁材料(プリント基板、電線被覆等を含む)、封止剤の他、他樹脂等への添加剤等が挙げられる。
接着剤としては、土木用、建築用、自動車用、一般事務用、医療用の接着剤の他、電子材料用の接着剤が挙げられる。これらのうち電子材料用の接着剤としては、ビルドアップ基板等の多層基板の層間接着剤、ダイボンディング剤、アンダーフィル等の半導体用接着剤、BGA補強用アンダーフィル、異方性導電性フィルム(ACF)、異方性導電性ペースト(ACP)等の実装用接着剤等が挙げられる。
封止剤としては、コンデンサ、トランジスタ、ダイオード、発光ダイオード、IC、LSI等用のポッティング、ディッピング、トランスファーモールド封止、IC、LSI類のCOB、COF、TAB等用のといったポッティング封止、フリップチップ等の用のアンダーフィル、BGA、CSP等のICパッケージ類実装時の封止(補強用アンダーフィル)等を挙げることができる。
以下、実施例等により本発明を更に説明するが、本発明はこれらの実施例等によって限定されるものではない。尚、実施例中の「部」や「%」は質量基準によるものである。
[合成例1](A)成分:プレポリマーA−1の合成
窒素ガス導入管、温度計、冷却管、攪拌装置を備えた200mlのガラス製フラスコに化合物(H−1)成分として2,4,6,8−テトラメチルシクロテトラシロキサン36.0g(0.15モル)、化合物(V−1)としてモノアリルジグリシジルイソシアヌレート15.6g(0.05モル)、触媒として白金-ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体0.01g及び溶媒としてトルエン50gを仕込み、105℃で2時間反応させた。その後、70℃で溶媒を減圧留去しプレポリマーA−1を得た。プレポリマーA−1のGPC分析により求めた質量平均分子量は570であり、1H−NMR分析により求めた1gあたりのSi−H基の含有量は8.16mmolであり、質量平均分子量とSi−H基の濃度とから得られた1分子あたりのSi−H基の数は4.65である。
[合成例2](A)成分:プレポリマーA−2の合成
化合物(H−1)として1,1,3,3-テトラメチルジシロキサン20.2g(0.15モル)を使用し、化合物(V−1)としてジアリルモノグリシジルイソシアヌル酸15.9g(0.06モル)、を使用した以外は、合成例1と同様の操作を行いプレポリマーA−2を得た。プレポリマーA−2のGPC分析により求めた質量平均分子量は620であり、1H−NMR分析により求めた1gあたりのSi−H基の含有量は3.75mmolであり、質量平均分子量とSi−H基の含有量とから得られた1分子あたりのSi−H基の数は2.33である。
[合成例3](A)成分:プレポリマーA−3の合成
化合物(V−1)としてジアリルモノグリシジルイソシアヌル酸13.3g(0.05モル)を使用した以外は、合成例1と同様の操作を行いプレポリマーA−3を得た。プレポリマーA−3のGPC分析により求めた質量平均分子量は770であり、1H−NMR分析により求めた1gあたりのSi−H基の含有量は7.8mmolであり、質量平均分子量とSi−H基の濃度とから得られた1分子あたりのSi−H基の数は6.01である。
[合成例4](B)成分:プレポリマーB−1の合成
合成例1と同様のガラス製フラスコに化合物(V−2)として2,4,6,8−テトラメチル−2,4,6,8−テトラビニルシクロテトラシロキサン79.1g(0.23モル)、及び化合物(H−3)として合成例2で得られたプレポリマーA−2を32.2g(0.052モル)、溶媒としてトルエン50gを仕込み、105℃で2時間反応させた。その後、70℃で溶媒を減圧留去しプレポリマーB−1を得た。プレポリマーB−1のGPC分析により求めた質量平均分子量は1450であり、1H−NMR分析により求めた1gあたりのビニル基の含有量は5.34mmolであり、質量平均分子量とビニル基の濃度とから得られた1分子あたりのビニル基の数は7.74である。
[合成例5](B)成分:プレポリマーB−2の合成
合成例1と同様のガラス製フラスコに化合物(V−2)として2,4,6,8−テトラメチル−2,4,6,8−テトラビニルシクロテトラシロキサン38.4g(0.16モル)、及び化合物(H−3)として2,4,6,8−テトラメチルシクロテトラシロキサンを13.8g(0.04モル)、溶媒としてトルエン50gを仕込み、105℃で2時間反応させた。その後、70℃で溶媒を減圧留去しプレポリマーB−2を得た。プレポリマーB−2のGPC分析により求めた質量平均分子量は1270であり、1H−NMR分析により求めた1gあたりのビニル基の含有量は9.29mmolであり、質量平均分子量とビニル基の濃度とから得られた1分子あたりのビニル基の数は11.8である。
[参考例1]比較用のプレポリマーA’−1
合成例3において、ジアリルモノグリシジルイソシアヌル酸を、両末端にビニル基を有する直鎖状ポリジメチルシロキサン(分子量186、1分子あたりのSi−ビニル基の含有量は2個)9.3g(0.05モル)に変えたほかは、同様の操作を行いプレポリマーA’−1を得た。プレポリマーA’−1のGPC分析により求めた質量平均分子量は800、1H−NMR分析により求めた1gあたりのSi−H基の含有量は2.67mmol、質量平均分子量とSi−H基の含有量とから得られた1分子あたりのSi−H基の数は2.14である。
[参考例2]比較用のプレポリマーB’−1
合成例4において、2,4,6,8−テトラメチル−2,4,6,8−テトラビニルシクロテトラシロキサン79.1g(0.23モル)の代わりに、1,1,3,3−テトラメチル−1,3−ジビニルジシロキサン22.7g(0.122モル)を使用し、プレポリマーA−2を64.2g(0.104モル)に増やしたほかは、合成例4と同様の操作を行いプレポリマーB’−1を得た。プレポリマーB’−1のGPC分析により求めた質量平均分子量は1000であり、1H−NMR分析により求めた1gあたりのビニル基の含有量は2.18mmolであり、質量平均分子量とビニル基の含有量とから得られた1分子あたりのビニル基の数は2.18である。
[参考例3]比較用のプレポリマーB’−2
ジクロロジメチルシラン100部を100部のイオン交換水と50部のトルエンと450部の48%水酸化ナトリウム水溶液中に滴下し、105℃で5時間重合させた。得られた反応溶液を500部のイオン交換水で水洗した後にトルエン溶液を脱水し、ピリジンを20部加え、これにさらにジメチルビニルクロロシラン20部を加えて70℃で30分間攪拌した。その後、100部のイオン交換水で水洗した後に溶液を150℃で溶媒を減圧留去した。次に100部のアセトニトリルで洗浄し、その後、70℃で溶媒を減圧留去し、不飽和結合を有する非環状ポリシロキサン化合物であるプレポリマーB’−2を得た。プレポリマーB’−2のGPC分析により求めた質量平均分子量は40000であり、1H−NMR分析により求めた1gあたりのビニル基の含有量は0.07mmolであり、質量平均分子量とビニル基の含有量とから得られた1分子あたりのビニル基の数は2.8である。
[参考例4]比較用のプレポリマーA’−2
比較用のプレポリマーB’−2の100部をトルエン200部に溶かし、白金触媒0.003部と環状ポリシロキサン化合物である2,4,6,8−テトラメチルシクロテトラシロキサン10部を加え、105℃で2時間反応させた。70℃で溶媒を減圧留去した後にアセトニトリル100部で洗浄した。その後、70℃で溶媒を減圧留去し、ケイ素含有化合物プレポリマーA’−2を得た。プレポリマーA’−2のGPC分析により求めた質量平均分子量は50000であり、1H−NMR分析により求めた1gあたりのSi−H基の含有量は0.20mmolであり、質量平均分子量とSi−H基の含有量とから得られた1分子あたりのSi−H基の数は10.0である。
[実施例1]
(A)成分として合成例1で得られたプレポリマーA−1を100部、(B)成分として合成例4で得られたプレポリマーB−1を60部配合して、実施例1のケイ素含有硬化性組成物を得た。なお、100部の実施例1のケイ素含有硬化性組成物には、プレポリマーA−1及びプレポリマーB−1由来の白金-ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体((C)成分に相当)が0.003部含まれている。
ガラス板に縦20mm、横20mmの正方形の穴のあいた3mm厚のシリコーンシートをのせ、軽く減圧して気泡を除いた実施例1のケイ素含有硬化性組成物を、その穴に流し込んだ後、ガラス板を載せた。これを、恒温槽に入れて150℃で3時間加熱して実施例1の硬化物試験片を得た。
[実施例2〜5、比較例1〜3]
表1に示す配合とした以外は実施例1と同様にして、実施例2〜5及び比較例1〜3のケイ素含有硬化性組成物を調製し、ケイ素含有硬化性組成物から硬化物試験片を得た。なお、下記表1において、B−3及びC−1は、それぞれ以下の化合物である。
B−3:2,4,6,8−テトラメチル−2,4,6,8−テトラビニルテトラシクロシロキサン
C−1:白金-ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体
Figure 2010100758
[熱着色性試験方法]
厚さ3mmの硬化物試験片を200℃恒温槽に24時間加熱保存し、加熱前後の400nm及び700nmの光の透過率を測定することにより熱着色性を評価した。加熱前後の透過率の低下が大きいほど着色が大きく耐熱性が劣ることを示す。
[耐光性試験方法]
硬化物試験片に、5mmの距離から照度5000mW/cm2の光線を、温度100℃で24時間照射した後、外観を目視し、下記の評価基準にて耐光性を評価した。なお、照射には、光源に超高圧水銀ランプ(三永電機社製、商品名UVF352S)を用い分光フィルタ(旭テクノガラス社製、商品名UV−33)で300nm以下の波長成分をカットした光線を用いた。
(評価基準)
○:試験片が透明で、変化がない。
△:試験片にやや濁りが見られる。
×:試験片が明らかな濁りが見られる。
[硬さ試験方法]
JIS K6253(加硫ゴム及び熱可塑性ゴム―硬さの求め方)に準拠し、硬化物試験片のデュロメータ硬さ(ショア硬さ)を測定した。表中、AはタイプAデュロメータ、DはタイプDデュロメータの値であることを示す。
[はじき試験方法]
ポリフタルアミド樹脂(ソルベイ・アドバンシト・ポリマーズ社製、商品名:アモデルA1145 HS BK324)の表面に、ケイ素含有硬化性組成物を厚さ0.3mmで塗布した後、平面上に室温で1時間静置し、静置前後の塗膜の形状の変化により、はじきを下記の評価基準により判定した。
(評価基準)
○:塗膜の形状に変化がなくはじきがない。
△:塗膜の形状にやや変化があり、はじきがややある。
×:塗膜の形状に変化があり、はじきがある。
[接着性試験方法]
JIS K6850(接着剤−剛性被着材の引張せん断接着強さ試験方法)に準拠し、はじき試験と同様のポリフタルアミド樹脂の試験片を用いて、ケイ素含有硬化性組成物の接着性を評価した。なお、ケイ素含有硬化性組成物を塗布した試験片は150℃の恒温槽で3時間加熱してケイ素含有硬化性組成物を硬化させ、島津製作所製の試験機名オートグラフAG−Xにて、接着力(引張りせん断接着強さ)を測定した。
Figure 2010100758

Claims (6)

  1. (A)成分として、下記一般式(1)で表される化合物(V−1)とSi−H基を1分子中に少なくとも2個(化合物(V−1)の1分子中のSi−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合の数が1個である場合には、少なくとも3個)有する化合物(H−1)とをヒドロシリル化反応させて得られる、Si−H基を1分子中に少なくとも2個有する化合物(H−2)、
    (B)成分として、Si−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個有する環状シロキサン化合物(V−2)、及び/又は化合物(V−2)とSi−H基を1分子中に少なくとも2個有する化合物(H−3)とをヒドロシリル化反応させて得られる、Si−H基との反応性を有する炭素−炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個有するプレポリマー(V−3)、並びに
    (C)成分として、ヒドロシリル化触媒
    を含有することを特徴とするケイ素含有硬化性組成物。
    Figure 2010100758
  2. 上記化合物(H−1)が、下記一般式(2)で表される直線状シロキサン化合物である請求項1に記載のケイ素含有硬化性組成物。
    Figure 2010100758
  3. 上記化合物(H−1)が、下記一般式(3)で表される環状シロキサン化合物である請求項1に記載のケイ素含有硬化性組成物。
    Figure 2010100758
  4. 上記化合物(V−2)が、下記一般式(4)で表される環状シロキサン化合物である請求項1乃至3の何れか1項に記載のケイ素含有硬化性組成物。
    Figure 2010100758
  5. 上記化合物(H−3)が、上記化合物(H−2)である請求項1乃至4の何れか1項に記載のケイ素含有硬化性組成物。
  6. 請求項1乃至5の何れか1項に記載のケイ素含有硬化性組成物を加熱硬化させてなるケイ素含有硬化物。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010202801A (ja) * 2009-03-04 2010-09-16 Nitto Denko Corp 熱硬化性シリコーン樹脂用組成物
JP2010254814A (ja) * 2009-04-24 2010-11-11 Chisso Corp 有機ケイ素化合物及びそれを含む熱硬化性樹脂組成物
WO2012117929A1 (ja) * 2011-02-28 2012-09-07 新日鐵化学株式会社 エポキシシリコーン樹脂及びそれを用いた硬化性樹脂組成物
CN102971383A (zh) * 2010-06-11 2013-03-13 株式会社艾迪科 含硅固化性组合物、该含硅固化性组合物的固化物及由该含硅固化性组合物形成的引线框基板
WO2013157551A1 (ja) * 2012-04-18 2013-10-24 株式会社Adeka ケイ素含有硬化性組成物及びその硬化物
JP2013256587A (ja) * 2012-06-12 2013-12-26 Adeka Corp 硬化性組成物
WO2017122712A1 (ja) * 2016-01-15 2017-07-20 株式会社ダイセル 硬化性樹脂組成物、硬化物、封止材、及び半導体装置
US9994681B2 (en) 2015-01-13 2018-06-12 Henkel Ag & Co. Kgaa Organopolysiloxane prepolymer and a curable organopolysiloxane composition comprising the same

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003073552A (ja) * 2001-09-06 2003-03-12 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 硬化性組成物、硬化物、その製造方法およびその硬化物により封止された発光ダイオード
JP2004131518A (ja) * 2002-10-08 2004-04-30 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 硬化性組成物、硬化物および硬化物の製造方法
JP2005272492A (ja) * 2004-03-22 2005-10-06 Shin Etsu Chem Co Ltd 硬化性シリコーン組成物
JP2006232970A (ja) * 2005-02-24 2006-09-07 Adeka Corp ケイ素含有硬化性組成物及びその硬化物
JP2006335947A (ja) * 2005-06-03 2006-12-14 Kaneka Corp SiH基含有化合物、その製造方法、並びに、SiH基含有化合物を用いた硬化性組成物、その硬化物
JP2008201851A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Kaneka Corp 硬化性組成物およびこれを用いた光学材料

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003073552A (ja) * 2001-09-06 2003-03-12 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 硬化性組成物、硬化物、その製造方法およびその硬化物により封止された発光ダイオード
JP2004131518A (ja) * 2002-10-08 2004-04-30 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 硬化性組成物、硬化物および硬化物の製造方法
JP2005272492A (ja) * 2004-03-22 2005-10-06 Shin Etsu Chem Co Ltd 硬化性シリコーン組成物
JP2006232970A (ja) * 2005-02-24 2006-09-07 Adeka Corp ケイ素含有硬化性組成物及びその硬化物
JP2006335947A (ja) * 2005-06-03 2006-12-14 Kaneka Corp SiH基含有化合物、その製造方法、並びに、SiH基含有化合物を用いた硬化性組成物、その硬化物
JP2008201851A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Kaneka Corp 硬化性組成物およびこれを用いた光学材料

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010202801A (ja) * 2009-03-04 2010-09-16 Nitto Denko Corp 熱硬化性シリコーン樹脂用組成物
JP2010254814A (ja) * 2009-04-24 2010-11-11 Chisso Corp 有機ケイ素化合物及びそれを含む熱硬化性樹脂組成物
CN102971383A (zh) * 2010-06-11 2013-03-13 株式会社艾迪科 含硅固化性组合物、该含硅固化性组合物的固化物及由该含硅固化性组合物形成的引线框基板
US8809478B2 (en) 2010-06-11 2014-08-19 Adeka Corporation Silicon-containing curable composition, cured product of the silicon-containing curable composition and lead frame substrate formed of the silicon-containing curable composition
CN102971383B (zh) * 2010-06-11 2014-11-12 株式会社艾迪科 含硅固化性组合物、该含硅固化性组合物的固化物及由该含硅固化性组合物形成的引线框基板
WO2012117929A1 (ja) * 2011-02-28 2012-09-07 新日鐵化学株式会社 エポキシシリコーン樹脂及びそれを用いた硬化性樹脂組成物
WO2013157551A1 (ja) * 2012-04-18 2013-10-24 株式会社Adeka ケイ素含有硬化性組成物及びその硬化物
JP2013221134A (ja) * 2012-04-18 2013-10-28 Adeka Corp ケイ素含有硬化性組成物及びその硬化物
TWI582167B (zh) * 2012-04-18 2017-05-11 Adeka Corp Containing silicon hardened composition and hardened material
JP2013256587A (ja) * 2012-06-12 2013-12-26 Adeka Corp 硬化性組成物
US9994681B2 (en) 2015-01-13 2018-06-12 Henkel Ag & Co. Kgaa Organopolysiloxane prepolymer and a curable organopolysiloxane composition comprising the same
WO2017122712A1 (ja) * 2016-01-15 2017-07-20 株式会社ダイセル 硬化性樹脂組成物、硬化物、封止材、及び半導体装置

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