JP2010087343A - Substrate processing device and substrate placing method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve production efficiency by achieving reduction in tact time in a substrate processing device in which a substrate to be processed on a stage is placed via a lift pin provided so as to be elevatable/lowerable from the stage. <P>SOLUTION: A substrate processing device (1) includes: a stage (3) on which a substrate (K) is placed; a lift pin (41) provided so as to be elevatable/lowerable from an insertion hole (33) formed in the stage, and to support the substrate by its tip end portion; and pin drive control parts (43, 10) for drivingly controlling the lift pin so as to place the substrate supplied to a carrying-in position (P2) above the stage, on the stage. The pin drive control parts elevate the lift pin so as to allow the lift pin to hold the substrate located at the carrying-in position at a position (P3) higher than the carrying-in position while supporting the substrate by its tip end portion. Then, the pin drive control parts lower the lift pin, thereby drivingly controlling the lift pin so as to place the substrate on the stage. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は基板をステージ上に保持し、この保持された基板に対し所定の処理を行う基板処理装置、及びこの基板処理装置における基板載置方法に関する。特に、ステージ上への基板の載置を、ステージから昇降動作可能に設けられたリフトピンを介して行う基板処理装置、及びこの基板処理装置における基板載置方法に関する。基板としては、例えばガラス基板や半導体ウエハを挙げることができる。   The present invention relates to a substrate processing apparatus that holds a substrate on a stage and performs a predetermined process on the held substrate, and a substrate mounting method in the substrate processing apparatus. In particular, the present invention relates to a substrate processing apparatus that mounts a substrate on a stage through lift pins provided so as to be movable up and down from the stage, and a substrate mounting method in the substrate processing apparatus. Examples of the substrate include a glass substrate and a semiconductor wafer.

基板をステージ上に保持し、この保持された被処理基板に対し所定の処理を行う基板処理装置の例として、液晶パネルの製造に用いる装置の一つであるスリットノズルコータがある。スリットノズルコータは、ガラス基板にカラーフィルタやＴＦＴを形成するために、フォトレジスト液をガラス基板の表面に塗布するように構成されている（特許文献１参照）。   As an example of a substrate processing apparatus that holds a substrate on a stage and performs a predetermined process on the held substrate, there is a slit nozzle coater which is one of apparatuses used for manufacturing a liquid crystal panel. The slit nozzle coater is configured to apply a photoresist solution to the surface of the glass substrate in order to form color filters and TFTs on the glass substrate (see Patent Document 1).

図１０を参照して、従来のスリットノズルコータ１００の処理動作の概要について説明する。なお、図１０に示すスリットノズルコータ１００の構成要素のうち、後述する本発明の一実施形態のスリットノズルコータ１と同一の構成要素については、それらと同一符号を付してある。図１０（Ａ）に示すように、従来のスリットノズルコータ１００は、吸着ステージ３、リフトピン４１Ａ、口金６０及び制御装置１０Ａなどを備え、ロボットハンド９３を備えた基板搬送ロボット９によりガラス基板Ｋの受け渡しがされるようになっている。   The outline of the processing operation of the conventional slit nozzle coater 100 will be described with reference to FIG. Of the constituent elements of the slit nozzle coater 100 shown in FIG. 10, the same constituent elements as those of the slit nozzle coater 1 according to an embodiment of the present invention to be described later are denoted by the same reference numerals. As shown in FIG. 10A, the conventional slit nozzle coater 100 includes the suction stage 3, the lift pins 41A, the base 60, the control device 10A, and the like. Delivery is to be made.

従来のスリットノズルコータ１００は、図１０（Ａ）の初期状態にあるものとする。即ち、リフトピン４１Ａは吸着ステージ３の下方に埋没した状態であり、ロボットハンド９３はガラス基板Ｋを支持した状態で退避位置Ｐ１にある。以下、各ステップについて順を追って説明する。図中、白抜きの矢印はロボットハンド９３の動作方向を示し、黒色の太矢印はリフトピン４１Ａの動作方向を示す。   The conventional slit nozzle coater 100 is assumed to be in the initial state of FIG. That is, the lift pin 41A is buried under the suction stage 3, and the robot hand 93 is in the retracted position P1 while supporting the glass substrate K. Hereinafter, each step will be described in order. In the drawing, the white arrow indicates the operation direction of the robot hand 93, and the black thick arrow indicates the operation direction of the lift pin 41A.

〔ガラス基板受入れステップ〕
図１０（Ａ）の状態から、まず基板搬送ロボット９はロボットハンド９３を水平方向に駆動して、ガラス基板Ｋを搬入位置Ｐ２ａに供給する（図１０（Ｂ）参照）。搬入位置Ｐ２ａは吸着ステージ３の上方位置である。次いで制御装置１０Ａはリフトピン４１Ａを所定位置まで上昇させる（図１０（Ｃ）参照）。次いで基板搬送ロボット９は、ガラス基板Ｋを支持したロボットハンド９３を下降させ、ガラス基板Ｋの裏面をリフトピン４１Ａの先端部に当接させる（図１０（Ｄ）参照）。 [Glass substrate acceptance step]
From the state of FIG. 10A, the substrate transport robot 9 first drives the robot hand 93 in the horizontal direction to supply the glass substrate K to the carry-in position P2a (see FIG. 10B). The carry-in position P2a is an upper position of the suction stage 3. Next, the control device 10A raises the lift pin 41A to a predetermined position (see FIG. 10C). Next, the substrate transfer robot 9 lowers the robot hand 93 that supports the glass substrate K and brings the back surface of the glass substrate K into contact with the tip of the lift pin 41A (see FIG. 10D).

ガラス基板Ｋがリフトピン４１Ａに当接した後もロボットハンド９３は下降を続け、ガラス基板Ｋとロボットハンド９３とが所定間隔Ｄ離間した時点で、基板搬送ロボット９はロボットハンド９３の下降を停止させる（図１０（Ｅ）参照）。次いで基板搬送ロボット９は、ロボットハンド９３を水平方向に駆動して、退避位置Ｐ１に移動させる（図１０（Ｆ）参照）。次いで制御装置１０Ａは、ガラス基板Ｋを支持したリフトピン４１Ａを下降させ、吸着ステージ３上にガラス基板Ｋを載置した後、必要に応じてガラス基板Ｋの位置決めを行い、次いでガラス基板Ｋを吸着ステージ３に真空吸着する（図１０（Ｇ）参照）。吸着完了後、口金６０の移動により塗布が開始される（図１０（Ｈ）参照）。   Even after the glass substrate K comes into contact with the lift pins 41A, the robot hand 93 continues to descend, and when the glass substrate K and the robot hand 93 are separated by a predetermined distance D, the substrate transport robot 9 stops the descending of the robot hand 93. (See FIG. 10E). Next, the substrate transfer robot 9 drives the robot hand 93 in the horizontal direction and moves it to the retreat position P1 (see FIG. 10F). Next, the control device 10A lowers the lift pins 41A that support the glass substrate K, places the glass substrate K on the suction stage 3, performs positioning of the glass substrate K as necessary, and then sucks the glass substrate K. Vacuum adsorption is performed on the stage 3 (see FIG. 10G). After completion of the adsorption, application is started by moving the base 60 (see FIG. 10H).

〔ガラス基板引渡しステップ〕
塗布終了後、ガラス基板Ｋの引渡しは、基本的には上述したガラス基板受入れステップの逆の手順で行う。即ち、吸着ステージ３に吸着保持されたガラス基板Ｋの真空吸着の解除、リフトピン４１Ａによるガラス基板Ｋの支持上昇、搬入位置Ｐ２ａへのロボットハンド９３の進入、ロボットハンド９３の上昇、リフトピン４１の下降、及びロボットハンド９３によるガラス基板Ｋの支持・退避の順で行う。
特開２００８−５５３２２号公報 [Glass substrate delivery step]
After the application is finished, the glass substrate K is basically delivered in the reverse order of the glass substrate receiving step described above. That is, release of vacuum suction of the glass substrate K sucked and held on the suction stage 3, lifting and supporting of the glass substrate K by the lift pins 41A, entry of the robot hand 93 to the loading position P2a, lifting of the robot hand 93, and lowering of the lift pins 41 , And the support / retraction of the glass substrate K by the robot hand 93.
JP 2008-55322 A

従来のスリットノズルコータ１００では、リフトピン４１Ａを介してガラス基板Ｋを吸着ステージ３上に載置するにあたり、ロボットハンド９３が下降してガラス基板Ｋとリフトピン４１Ａの先端部とが当接するときのロボットハンド９３の下降速度は、非常に遅い値に設定される。その理由は、ガラス基板Ｋの裏面がリフトピン４１Ａの先端部に当接したときの衝撃により、ガラス基板Ｋに傷やひびができるのを防止するためである。また、ロボットハンド９３は一般に重量が重く、限られたスペースではその昇降速度の高速化が困難なためである。   In the conventional slit nozzle coater 100, when the glass substrate K is placed on the suction stage 3 via the lift pins 41A, the robot hand 93 is lowered and the robot when the glass substrate K and the tip of the lift pins 41A come into contact with each other. The descending speed of the hand 93 is set to a very slow value. The reason is to prevent the glass substrate K from being scratched or cracked by an impact when the back surface of the glass substrate K abuts against the tip of the lift pin 41A. In addition, the robot hand 93 is generally heavy and it is difficult to increase the lifting speed in a limited space.

ところで、液晶パネルの用途拡大と普及に伴い、液晶パネルの生産拡大の要求が増している。このため、スリットノズルコータにおけるタクト時間の短縮化は重要な課題である。この課題は、当然ながらスリットノズルコータに特有のものではない。例えば、液晶パネルの製造に用いる露光装置、洗浄装置、乾燥装置及び検査装置においても当てはまる。更には、液晶パネル以外であっても、およそ基板搬送ロボットを利用して基板の受け渡しを行う基板処理装置全般に当てはまることであり、その解決が望まれている。本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、ステージ上への被処理基板の載置を、ステージから昇降動作可能に設けられたリフトピンを介して行う基板処理装置において、タクト時間の短縮化を図ることができ、生産効率を上げることができるようにすることを目的とする。   By the way, with the expansion and popularization of liquid crystal panels, there is an increasing demand for liquid crystal panel production expansion. For this reason, shortening the tact time in the slit nozzle coater is an important issue. This problem is naturally not unique to slit nozzle coaters. For example, the same applies to an exposure apparatus, a cleaning apparatus, a drying apparatus, and an inspection apparatus used for manufacturing a liquid crystal panel. Furthermore, even if it is other than a liquid crystal panel, it is applicable to all substrate processing apparatuses that transfer substrates using a substrate transfer robot, and a solution is desired. The present invention has been made in view of such problems, and in a substrate processing apparatus in which a substrate to be processed is placed on a stage via lift pins provided so as to be movable up and down from the stage. The purpose of this is to make it possible to shorten the production time and increase the production efficiency.

上記目的は、下記の本発明により達成される。なお「特許請求の範囲」及びこの「課題を解決するための手段」の欄において各構成要素に付した括弧書きの符号は、後述する実
施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。 The above object is achieved by the present invention described below. The reference numerals in parentheses attached to each component in the “Claims” and “Means for Solving the Problems” column indicate the correspondence with the specific means described in the embodiments described later. It is.

請求項１の発明は、基板（Ｋ）を載置するステージ（３）と、ステージ（３）に形成された貫通孔（３３）から昇降動作可能に設けられ且つ先端部で基板（Ｋ）を支持可能なリフトピン（４１）と、ステージ（３）の上方の搬入位置（Ｐ２）に供給された基板（Ｋ）をステージ（３）上に載置するようにリフトピン（４１）を駆動制御するピン駆動制御部（４３，１０）とを備える基板処理装置（１）において、ピン駆動制御部（４３，１０）は、リフトピン（４１）を上昇させることにより、搬入位置（Ｐ２）に位置する基板（Ｋ）を、その先端部で支持して、搬入位置（Ｐ２）よりも高い位置（Ｐ３）に保持させた後、リフトピン（４１）を下降させることにより、ステージ（３）上に載置するように駆動制御することを特徴とする。   According to the first aspect of the present invention, a stage (3) on which the substrate (K) is placed and a through hole (33) formed in the stage (3) are provided so as to be able to move up and down, and the substrate (K) is mounted at the tip portion. A lift pin (41) that can be supported and a pin that drives and controls the lift pin (41) so that the substrate (K) supplied to the carry-in position (P2) above the stage (3) is placed on the stage (3). In the substrate processing apparatus (1) including the drive control unit (43, 10), the pin drive control unit (43, 10) raises the lift pin (41) to raise the substrate (P2) located at the carry-in position (P2). K) is supported at the tip and held at a position (P3) higher than the loading position (P2), and then the lift pin (41) is lowered to be placed on the stage (3). It is characterized in that the drive is controlled.

請求項１の発明によると、搬入位置（Ｐ２）に位置する基板（Ｋ）を、リフトピン（４１）を上昇させることによりその先端部で支持して、搬入位置（Ｐ２）よりも高い位置に保持させた後、リフトピン（４１）を下降させる。このため、基板（Ｋ）を搬入位置（Ｐ２）に供給する手段として、例えばロボットハンド（９３）を用いた場合、ロボットハンド（９３）は水平移動のみを行えばよく、ロボットハンド（９３）を下降させる必要がない。従って、基板搬送ロボット９の動作ステップが少なくて済み、その分、タクト時間の短縮化を図ることができ、生産効率を上げることができる。   According to the first aspect of the present invention, the substrate (K) located at the carry-in position (P2) is supported at its tip by raising the lift pin (41) and held at a position higher than the carry-in position (P2). Then, the lift pin (41) is lowered. For this reason, for example, when the robot hand (93) is used as means for supplying the substrate (K) to the carry-in position (P2), the robot hand (93) only needs to move horizontally. There is no need to lower. Therefore, the operation steps of the substrate transfer robot 9 are reduced, and the tact time can be shortened accordingly, and the production efficiency can be increased.

請求項２の発明では、リフトピン（４１）は、その先端が基板（Ｋ）に当接したときに基板（Ｋ）に生じる衝撃を吸収する緩衝機構（４４）を備えている。   In the invention of claim 2, the lift pin (41) is provided with a buffer mechanism (44) that absorbs an impact generated on the substrate (K) when its tip abuts against the substrate (K).

請求項２の発明によると、緩衝機構（４４）は、リフトピン（４１）が基板（Ｋ）に当接したときにクッション作用を発揮するため、基板（Ｋ）がリフトピン（４１）の先端部から受ける衝撃が緩和・吸収される。従って、基板（Ｋ）に傷やひびが生じるのを抑えることができる。   According to the invention of claim 2, since the buffer mechanism (44) exhibits a cushioning action when the lift pin (41) contacts the substrate (K), the substrate (K) is separated from the tip of the lift pin (41). The impact is reduced and absorbed. Therefore, it is possible to prevent the substrate (K) from being scratched or cracked.

また、請求項３の発明は、基板（Ｋ）を載置するステージ（３）と、前記ステージ（３）に形成された貫通孔（３３）から昇降動作可能に設けられ且つ先端部で基板（Ｋ）を支持可能なリフトピン（４１）と、を有する基板処理装置（１）において、ステージ（３）の上方の搬入位置（Ｐ２）に供給された基板（Ｋ）をステージ（３）上に載置する基板載置方法であって、前記リフトピン（４１）を上昇させることにより、搬入位置（Ｐ２）に位置する基板（Ｋ）を、その先端部で支持して、前記搬入位置（Ｐ２）よりも高い位置（Ｐ３）に保持させた後、リフトピン（４１）を下降させることにより、ステージ（３）上に載置することを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, there is provided a stage (3) on which the substrate (K) is placed, and a through-hole (33) formed in the stage (3) so as to be movable up and down, and a substrate ( In a substrate processing apparatus (1) having lift pins (41) capable of supporting K), the substrate (K) supplied to the carry-in position (P2) above the stage (3) is placed on the stage (3). A substrate placing method for placing a substrate (K) positioned at the loading position (P2) by raising the lift pins (41), and supporting the substrate (K) at the tip thereof from the loading position (P2). After being held at the higher position (P3), the lift pin (41) is lowered to be placed on the stage (3).

本発明によると、ステージ上への被処理基板の載置を、ステージから昇降動作可能に設けられたリフトピンを介して行う基板処理装置において、タクト時間の短縮化を図ることができ、生産効率を上げることができるようになる。   According to the present invention, in the substrate processing apparatus in which the substrate to be processed is placed on the stage through the lift pins provided so as to be able to move up and down from the stage, the tact time can be shortened and the production efficiency can be reduced. Can be raised.

以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。図１は本発明に係るスリットノズルコータ１の外観斜視図、図２は吸着ステージ３及びセンタリングユニット５の外観斜視図、図３はリフトピンユニット４の構成概略図、図４は緩衝機構４４の詳細を示す正面断面図、図５は口金６０の側面一部断面図、図６は洗浄ユニット８の外観斜視図、図９は緩衝機構４４の作用を示す図である。図９において、Ａ図はリフトピン４１の先端部がガラス基板Ｋに当接していないときの状態を示し、Ｂ図はリフトピン４１の先端部がガラス基板Ｋに当接した直後の状態を示し、Ｃ図はリフトピン４１の先端部がガラス基板Ｋに当接してこのガラス基板Ｋを支持した状態を示す。各図において直交座標系の３軸をＸ、Ｙ、Ｚとし、ＸＹ平面を水平面、Ｚ方向を鉛直方向とする。また、ＸＹ各方向の向きを更に左右に区別して説明する必要がある場合は、先頭に「＋」または「−」の符号を付すことがある。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. 1 is an external perspective view of a slit nozzle coater 1 according to the present invention, FIG. 2 is an external perspective view of an adsorption stage 3 and a centering unit 5, FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a lift pin unit 4, and FIG. 5 is a partial cross-sectional side view of the base 60, FIG. 6 is an external perspective view of the cleaning unit 8, and FIG. 9 is a diagram illustrating the operation of the buffer mechanism 44. 9A shows a state when the tip of the lift pin 41 is not in contact with the glass substrate K, FIG. 9B shows a state immediately after the tip of the lift pin 41 contacts the glass substrate K, and FIG. The figure shows a state in which the tip of the lift pin 41 is in contact with the glass substrate K to support the glass substrate K. In each figure, the three axes of the orthogonal coordinate system are X, Y, and Z, the XY plane is the horizontal plane, and the Z direction is the vertical direction. In addition, when it is necessary to further distinguish the left and right directions in the XY directions, a sign “+” or “−” may be added to the head.

図１に示すように、本発明に係るスリットノズルコータ１は、機台２、吸着ステージ３、リフトピンユニット４、センタリングユニット５、塗布ユニット６、塗布液供給部７、洗浄ユニット８及び制御装置１０などを備え、カラーフィルタ形成のためのフォトレジスト液２０をガラス基板Ｋの表面に塗布するように構成される。また、吸着テージ３へのガラス基板Ｋの受け渡しは、ロボットハンド９３を備えた基板搬送ロボット９によりなされるようになっている。   As shown in FIG. 1, a slit nozzle coater 1 according to the present invention includes a machine base 2, a suction stage 3, a lift pin unit 4, a centering unit 5, a coating unit 6, a coating liquid supply unit 7, a cleaning unit 8, and a control device 10. Etc., and is configured to apply a photoresist solution 20 for forming a color filter to the surface of the glass substrate K. Further, the glass substrate K is transferred to the suction cottage 3 by a substrate transfer robot 9 provided with a robot hand 93.

機台２は、スリットノズルコータ１の主構成部（例えば吸着ステージ３や塗布ユニット６）を支持する台座として機能し、石材により構成される。石材としたのは、十分な剛性や平面精度を確保し且つ温度変化に伴う変形を最小限に抑えるためである。特に好適な石材はグラナイトである。   The machine base 2 functions as a pedestal that supports the main components (for example, the suction stage 3 and the coating unit 6) of the slit nozzle coater 1, and is made of stone. The reason for using the stone is to ensure sufficient rigidity and plane accuracy and to minimize deformation accompanying temperature change. A particularly suitable stone is granite.

吸着ステージ３は、図２に示すように、フォトレジスト液２０の塗布対象となるガラス基板Ｋを載置可能な載置面３１を有している。吸着ステージ３は、機台２と同様に石材で構成される。載置面３１には、複数の真空吸着孔３２と複数のリフトピン孔３３とが穿設される。真空吸着孔３２は、載置面３１上に平面視格子状に複数個分散配置された微細孔であり、図示は省略したが、真空ポンプ等の真空発生手段により微細孔内に負圧が発生するようになっている。リフトピン孔３３は、真空吸着孔３２と所定間隔離間した状態で、載置面３１上に平面視格子状に複数個分散配置される。各リフトピン孔３３からは、次述するリフトピン４１が出没可能とされる。   As shown in FIG. 2, the suction stage 3 has a placement surface 31 on which a glass substrate K to be coated with the photoresist solution 20 can be placed. The suction stage 3 is made of a stone material like the machine base 2. A plurality of vacuum suction holes 32 and a plurality of lift pin holes 33 are formed in the mounting surface 31. The vacuum suction holes 32 are a plurality of fine holes dispersed and arranged in a lattice pattern on the mounting surface 31. Although not shown, a negative pressure is generated in the fine holes by a vacuum generating means such as a vacuum pump. It is supposed to be. A plurality of lift pin holes 33 are dispersedly arranged in a lattice pattern on the mounting surface 31 while being spaced apart from the vacuum suction holes 32 by a predetermined distance. From each lift pin hole 33, a lift pin 41 described below can be projected and retracted.

リフトピンユニット４は、塗布対象のガラス基板Ｋの受け入れ及び塗布済みのガラス基板Ｋの引き渡しを行う部位である。リフトピンユニット４は、図３に示すように、複数本のリフトピン４１、ピンフレーム４２及びフレーム駆動部４３などを備える。このようなリフトピンユニット４は、フレーム駆動部４３がピンフレーム４２を昇降駆動させることにより、吸着ステージ３に形成されたリフトピン孔３３からリフトピン４１を昇降動作可能とする。   The lift pin unit 4 is a part that receives the glass substrate K to be coated and delivers the coated glass substrate K. As shown in FIG. 3, the lift pin unit 4 includes a plurality of lift pins 41, a pin frame 42, a frame drive unit 43, and the like. In such a lift pin unit 4, the lift pins 41 can be moved up and down from the lift pin holes 33 formed in the suction stage 3 by the frame drive unit 43 driving the pin frame 42 up and down.

リフトピン４１は、その先端部でガラス基板Ｋに当接してこのガラス基板Ｋを支持可能なピン部材である。その詳細については後述する。   The lift pin 41 is a pin member capable of supporting the glass substrate K by abutting against the glass substrate K at the tip portion. Details thereof will be described later.

ピンフレーム４２は、複数本のリフトピン４１を取り付けるためのフレーム部材である。具体的には、ピンフレーム４２は、リフトピン孔３３の配列に沿って設けられており、リフトピン孔３３に対応する位置にリフトピン４１が取り付けられている。これにより、ピンフレーム４２を昇降駆動させると、リフトピン４１がリフトピン孔３３から出没できるようになっている。なお、より詳しくは、ピンフレーム４２はピンフレーム孔４２１（図４参照）を有し、リフトピン４１は、このピンフレーム孔４２１に取り付けられる。   The pin frame 42 is a frame member for attaching a plurality of lift pins 41. Specifically, the pin frame 42 is provided along the arrangement of the lift pin holes 33, and the lift pins 41 are attached at positions corresponding to the lift pin holes 33. As a result, when the pin frame 42 is driven up and down, the lift pins 41 can protrude and retract from the lift pin holes 33. More specifically, the pin frame 42 has a pin frame hole 421 (see FIG. 4), and the lift pin 41 is attached to the pin frame hole 421.

フレーム駆動部４３は、ピンフレーム４２を昇降駆動するように構成され、ボールネジ軸４３１、サーボモータ４３２及びボールナット４３３を備える。具体的には、ボールナット４３３は、ピンフレーム４２に取り付けられると共にボールネジ軸４３１に螺合されている。ボールネジ軸４３１は、Ｚ軸に沿って配設される。サーボモータ４３２は、ボールネジ軸４３１をその軸線回りに回転駆動するようにボールネジ軸４３１に取り付けられる。従って、サーボモータ４３２によりボールネジ軸４３１を回転駆動させることにより、ボールナット４３３がＺ方向に進退移動できる。これにより、ピンフレーム４２をＺ方向に昇降動作できるようになっている。   The frame driving unit 43 is configured to drive the pin frame 42 up and down, and includes a ball screw shaft 431, a servo motor 432, and a ball nut 433. Specifically, the ball nut 433 is attached to the pin frame 42 and screwed to the ball screw shaft 431. The ball screw shaft 431 is disposed along the Z axis. The servo motor 432 is attached to the ball screw shaft 431 so as to rotate the ball screw shaft 431 about its axis. Therefore, by rotating the ball screw shaft 431 by the servo motor 432, the ball nut 433 can move back and forth in the Z direction. Thereby, the pin frame 42 can be moved up and down in the Z direction.

リフトピン４１について詳述する。リフトピン４１は、図４に示すように、ピン上端部４１Ｓとピン基部４１Ｈとを有している。   The lift pin 41 will be described in detail. As shown in FIG. 4, the lift pin 41 has a pin upper end portion 41S and a pin base portion 41H.

ピン上端部４１Ｓは、リフトピン孔３３を挿通可能な部位である。ピン上端部４１Ｓは、リフトピン孔３３の内径よりも細いサイズの太さとされ、その先端部は先尖状とされる。また、その下部には、ピン基部４１Ｈに連結するための雄ねじ４１ａが形成される。   The pin upper end portion 41 </ b> S is a portion through which the lift pin hole 33 can be inserted. The pin upper end portion 41 </ b> S has a thickness smaller than the inner diameter of the lift pin hole 33, and the tip end portion has a pointed shape. In addition, a male screw 41a for connecting to the pin base 41H is formed at the lower part.

ピン基部４１Ｈは、ピン上端部４１Ｓを垂直に支持するための部位であり、ピン上端部４１Ｓの下部に連結している。ピン基部４１Ｈは、取付部４４Ａと緩衝機構４４とを有している。具体的に、ピン基部４１Ｈは、連結ロッド２３を有していて、連結ロッド２３に取付部４４Ａと緩衝機構４４とが設けられている。   The pin base portion 41H is a portion for vertically supporting the pin upper end portion 41S, and is connected to the lower portion of the pin upper end portion 41S. The pin base portion 41H has an attachment portion 44A and a buffer mechanism 44. Specifically, the pin base 41 </ b> H has a connecting rod 23, and an attachment portion 44 </ b> A and a buffer mechanism 44 are provided on the connecting rod 23.

連結ロッド２３は、円柱状の径大部２３１と、この径大部２３１と同心で且つその軸線方向下方に延設した径小部２３２とを備える。径大部２３１は、その中心軸線に沿った雌ねじ孔２３ｂ１を上部に備える。雌ねじ孔２３ｂ１にピン上端部４１Ｓの雄ねじ４１ａを螺合させることで、ピン上端部４１Ｓが連結ロッド２３に連結される。また、径小部２３２は、その中心軸に沿った雌ねじ孔２３ｂを下部に備える。この雌ねじ孔２３ｂには、下部ワッシャ２９を取り付けるためのボルト２７が螺合される。   The connecting rod 23 includes a cylindrical large-diameter portion 231 and a small-diameter portion 232 that is concentric with the large-diameter portion 231 and extends downward in the axial direction thereof. The large-diameter portion 231 includes a female screw hole 23b1 at the top along the central axis. The pin upper end 41S is connected to the connecting rod 23 by screwing the male screw 41a of the pin upper end 41S into the female screw hole 23b1. The small-diameter portion 232 includes a female screw hole 23b along the central axis at the lower portion. A bolt 27 for attaching the lower washer 29 is screwed into the female screw hole 23b.

取付部４４Ａは、ピンフレーム４２に対してピン上端部４１Ｓを垂直姿勢を維持するように取り付ける部位である。具体的には、径小部２３２は、中空の円筒カラー２６を嵌装した状態でフレーム孔４２１に挿通される。円筒カラー２６の上端は上部ワッシャ２８に当接していると共に、円筒カラー２６の下端は下部ワッシャ２９に当接し、下部ワッシャ２９はボルト２７により上記径小部２３２に固定されている。従って、円筒カラー２６を嵌装した径小部２３２は、上部ワッシャ２８と下部ワッシャ２９との間に垂直姿勢を維持するように取り付けられることになり、ピン上端部４１Ｓは、ピンフレーム４２に対して垂直姿勢を維持することができる。   The attachment portion 44A is a portion where the pin upper end portion 41S is attached to the pin frame 42 so as to maintain a vertical posture. Specifically, the small diameter portion 232 is inserted into the frame hole 421 in a state where the hollow cylindrical collar 26 is fitted. The upper end of the cylindrical collar 26 is in contact with the upper washer 28, the lower end of the cylindrical collar 26 is in contact with the lower washer 29, and the lower washer 29 is fixed to the small diameter portion 232 with a bolt 27. Accordingly, the small-diameter portion 232 fitted with the cylindrical collar 26 is attached so as to maintain a vertical posture between the upper washer 28 and the lower washer 29, and the pin upper end portion 41S is attached to the pin frame 42. Can maintain a vertical posture.

緩衝機構４４は、リフトピン４１の先端部がガラス基板Ｋに当接したときにクッション作用を発揮させる機構である。具体的には、コイルバネ２５、バネ収容筒２４及びロックナット２２を有する。緩衝機構４４において、バネ収容筒２４は、コイルバネ２５を収容するための内部空間を備える。また、バネ収容筒２４は、連結ロッド２３の雄ねじ２３ａと螺合可能な雌ねじ２４ｂを有し、雄ねじ２３ａと雌ねじ２４ｂとの螺合により、連結ロッド２３と一体化している。ロックナット２２は、バネ収容筒２４の上部でバネ収容筒２４に当接した状態で連結ロッド２３の雄ねじ２３ａに螺合される。このロックナット２２により、バネ収容筒２４が上下方向へ移動するのを規制している。   The buffer mechanism 44 is a mechanism that exerts a cushion action when the tip of the lift pin 41 contacts the glass substrate K. Specifically, it has a coil spring 25, a spring accommodating cylinder 24, and a lock nut 22. In the buffer mechanism 44, the spring accommodating cylinder 24 includes an internal space for accommodating the coil spring 25. The spring accommodating cylinder 24 has a female screw 24b that can be screwed with the male screw 23a of the connecting rod 23, and is integrated with the connecting rod 23 by screwing the male screw 23a and the female screw 24b. The lock nut 22 is screwed into the male screw 23 a of the connecting rod 23 in a state where the lock nut 22 is in contact with the spring accommodating cylinder 24 at the upper part of the spring accommodating cylinder 24. The lock nut 22 restricts the spring accommodating cylinder 24 from moving up and down.

コイルバネ２５は、バネ収容筒２４に収容された状態で、連結ロッド２３の径小部２３２のうち径大部２３１との付け根側に装着される。具体的には、コイルバネ２５は、その上端部を径大部２３１に当接し且つその下端部を上部ワッシャ２８に当接し、自然長よりも収縮した状態で設けられている。従って、径大部２３１が上向きに付勢されると共に、上部ワッシャ２８が下向きに付勢されるため、バネ収容筒２４と上部ワッシャ２８との間に隙間Ｌが形成される。これにより、リフトピン４１の先端部がガラス基板Ｋに当接して連結ロッド２３が下降したときに、コイルバネ２５が収縮して、クッション作用を発揮することができるようになっている。   The coil spring 25 is mounted on the root side of the small diameter portion 232 of the connecting rod 23 with the large diameter portion 231 while being accommodated in the spring accommodating cylinder 24. Specifically, the coil spring 25 is provided in a state in which the upper end portion thereof is in contact with the large diameter portion 231 and the lower end portion thereof is in contact with the upper washer 28 and contracted from the natural length. Accordingly, the large diameter portion 231 is urged upward and the upper washer 28 is urged downward, so that a gap L is formed between the spring accommodating cylinder 24 and the upper washer 28. Thus, when the tip of the lift pin 41 abuts on the glass substrate K and the connecting rod 23 is lowered, the coil spring 25 is contracted to exhibit a cushioning action.

即ち、リフトピン４１の先端部がガラス基板Ｋに当接すると、図９（Ａ）の状態から連結ロッド２３が下降することに伴い、コイルバネ２５が収縮する。このとき円筒カラー２６、下部ワッシャ２９及びボルト２７は、連結ロッド２３とともに下降する。即ち、下部ワッシャ２９はボルト２７により上記径小部２３２に一体的に取り付けられているため、径小部２３２の下降とともに、円筒カラー２６及び下部ワッシャ２９は下降する。従って、円筒カラー２６は上部ワッシャ２８から離れ、下部ワッシャ２９はピンフレーム４２から離れた状態となる（図９（Ｂ））。   That is, when the tip of the lift pin 41 contacts the glass substrate K, the coil spring 25 contracts as the connecting rod 23 descends from the state of FIG. At this time, the cylindrical collar 26, the lower washer 29 and the bolt 27 are moved down together with the connecting rod 23. That is, since the lower washer 29 is integrally attached to the small diameter portion 232 by the bolt 27, the cylindrical collar 26 and the lower washer 29 are lowered as the small diameter portion 232 is lowered. Accordingly, the cylindrical collar 26 is separated from the upper washer 28, and the lower washer 29 is separated from the pin frame 42 (FIG. 9B).

また、リフトピン４１の下方位置には、ガラス基板Ｋの支持を検出するためのセンサー４５が設けられる。センサー４５は、図４に示すように、押圧によりオンし、オン信号ＳＧ１を出力するスイッチ部４５１を備えたマイクロスイッチからなり、ブラケット４５２を介してピンフレーム４２の下部に取付けられる。その取付け位置は、ボルト２７から上記隙間Ｌの距離よりも短い距離だけ下方である。   A sensor 45 for detecting support of the glass substrate K is provided below the lift pins 41. As shown in FIG. 4, the sensor 45 is a micro switch including a switch unit 451 that is turned on by pressing and outputs an on signal SG <b> 1, and is attached to the lower portion of the pin frame 42 via a bracket 452. The mounting position is below the bolt 27 by a distance shorter than the distance of the gap L.

即ち、リフトピン４１の先端部がガラス基板Ｋに当接した後、図９（Ｂ）の状態から連結ロッド２３が更に下降することに伴い、円筒カラー２６、下部ワッシャ２９及びボルト２７が下降すると、図９（Ｃ）のように、ボルト２７がスイッチ部４５１を押すことでスイッチ部４５１がオン信号ＳＧ１を出力する。このオン信号ＳＧ１は、後述の制御装置１０に取り込まれるようになっている。なお、このようなセンサー４５は、各リフトピン４１に対して一つずつ設けてもよいが、特定の一部のリフトピン４１に対してだけ設けるようにして、ガラス基板Ｋの支持を検出するようにしてもよい。また、このときコイルバネ２５は、図９（Ｂ）の状態から更に収縮し、バネ収容筒２４と上部ワッシャ２８との隙間Ｌが無くなる。これにより、バネ収容筒２４と上部ワッシャ２８とが当接する。その結果、ガラス基板Ｋの荷重がピンフレーム４２で支持されるようになる。   That is, after the tip of the lift pin 41 comes into contact with the glass substrate K, the cylindrical collar 26, the lower washer 29 and the bolt 27 are lowered as the connecting rod 23 is further lowered from the state of FIG. As shown in FIG. 9C, when the bolt 27 pushes the switch unit 451, the switch unit 451 outputs the ON signal SG1. The on signal SG1 is captured by the control device 10 described later. One sensor 45 may be provided for each lift pin 41, but only for a specific part of the lift pins 41 to detect the support of the glass substrate K. May be. At this time, the coil spring 25 further contracts from the state of FIG. 9B, and the gap L between the spring accommodating cylinder 24 and the upper washer 28 disappears. Thereby, the spring accommodating cylinder 24 and the upper washer 28 come into contact with each other. As a result, the load of the glass substrate K is supported by the pin frame 42.

なお、ガラス基板Ｋの支持を検出するための手段には、上述したような押圧によりオンするタイプのセンサー４５以外にも、例えば透過型光電スイッチ、反射型光電スイッチ、近接センサー、マグネットスイッチなどを用いることができる。上記透過型光電スイッチを用いる場合は、例えばボルト２７の位置に透過型光電スイッチの透過光を遮光するためのドグ（遮光板）を設け、リフトピン４１がガラス基板Ｋを支持することにより下降したときに、上記ドグが過型光電スイッチの透過光を遮光するように透過型光電スイッチを設けることで、ガラス基板Ｋの支持を検出することができる。   The means for detecting the support of the glass substrate K includes, for example, a transmissive photoelectric switch, a reflective photoelectric switch, a proximity sensor, and a magnet switch in addition to the sensor 45 that is turned on by pressing as described above. Can be used. In the case of using the transmissive photoelectric switch, for example, when a dog (light shielding plate) for shielding the transmitted light of the transmissive photoelectric switch is provided at the position of the bolt 27 and the lift pin 41 is lowered by supporting the glass substrate K In addition, the support of the glass substrate K can be detected by providing the transmission type photoelectric switch so that the dog shields the transmitted light of the overtype photoelectric switch.

また、緩衝機構４４は、クッション作用の強弱を調節可能であり、これにより重さの異なるガラス基板Ｋについても、適切なクッション作用を与えることが可能となる。具体的には、第２ナット２２を緩め、バネ収容筒２４と連結ロッド２３とを締緩し、隙間Ｌの長さを変えることで、コイルバネ２５の付勢の強さを調節する。   Further, the buffer mechanism 44 can adjust the strength of the cushioning action, and thus, it is possible to give an appropriate cushioning action even for the glass substrates K having different weights. Specifically, the second nut 22 is loosened, the spring accommodating cylinder 24 and the connecting rod 23 are tightened, and the length of the gap L is changed to adjust the biasing strength of the coil spring 25.

また、吸着ステージ３に設けられたセンタリングユニット５は、図２に示すように、挟み込み部材５１及び駆動装置５２を備える。挟み込み部材５１は、吸着ステージ３におけるＹ方向両側に左右一対となるように設けられる。各挟み込み部材５１には、ガラス基板ＫのＹ方向両側端面を押圧するためのパッド５３が取り付けられている。パッド５３は、吸着ステージ３の載置面３１とのＺ方向の隙間が０．１ｍｍ〜０．３ｍｍとなるように予め高さが調整されている。駆動装置５２は、例えば互いに同期して±Ｙ方向に動く空気圧シリンダで構成され、それぞれのアクチュエータ部は各挟み込み部材５１に連結されている。   The centering unit 5 provided on the suction stage 3 includes a sandwiching member 51 and a driving device 52 as shown in FIG. The sandwiching members 51 are provided as a pair on the left and right sides of the suction stage 3 in the Y direction. Each sandwiching member 51 is provided with a pad 53 for pressing both side end surfaces of the glass substrate K in the Y direction. The height of the pad 53 is adjusted in advance so that the gap in the Z direction with the placement surface 31 of the suction stage 3 is 0.1 mm to 0.3 mm. The driving device 52 is constituted by, for example, a pneumatic cylinder that moves in the ± Y direction in synchronization with each other, and each actuator portion is connected to each sandwiching member 51.

塗布ユニット６は、図１に示すように、吸着ステージ３の幅よりも若干広い間隔をあけて対向立設した２本の可動支柱部６６と、これら２本の可動支柱部６６間に架設した口金６０とを備え、吸着ステージ３を跨ぐように設けられた門型形状体である。２本の可動支柱部６６は、リニアモータ６７Ｘにより、Ｘ方向に駆動可能とされる。リニアモータ６７Ｘは、基台２にＸ方向に沿って互いに平行配設される。口金６０は、リニアモータ６７Ｚにより、Ｚ方向に駆動可能とされる。リニアモータ６７Ｚは、２本の可動支柱部６６にそれぞれＺ方向に沿って配設される。   As shown in FIG. 1, the coating unit 6 is installed between two movable struts 66 that are opposed to each other with an interval slightly wider than the width of the suction stage 3, and between the two movable struts 66. A portal-shaped body provided with a base 60 and provided across the suction stage 3. The two movable struts 66 can be driven in the X direction by a linear motor 67X. The linear motors 67X are arranged on the base 2 in parallel with each other along the X direction. The base 60 can be driven in the Z direction by a linear motor 67Z. The linear motor 67Z is disposed on each of the two movable support columns 66 along the Z direction.

口金６０は、Ｙ方向を長手方向として配設された略柱状体であり、図５に示すように、進行方向側のバックアップリップ６１と、その逆側のドクタ−リップ６２とが組み合わされてなる。ガラス基板Ｋに対向する下面には、フォトレジスト液２０を滲出させるためのスリット状の吐出口６３が形成される。口金６０の内部には、スリット状の吐出口６３に連通する内部流路であるマニホールド６４、及び間隙が通常数十μｍに設定されるランド６５が形成される。ランド部６５を経て押し出されたフォトレジスト液２０は、塗料接触面であるリップ先端面６０ａ，６０ｂを濡らしながらガラス基板Ｋに塗布される。   The base 60 is a substantially columnar body arranged with the Y direction as the longitudinal direction, and as shown in FIG. 5, a backup lip 61 on the traveling direction side and a doctor-lip 62 on the opposite side are combined. . On the lower surface facing the glass substrate K, a slit-like discharge port 63 for allowing the photoresist solution 20 to exude is formed. Inside the base 60, a manifold 64 which is an internal flow path communicating with the slit-like discharge port 63 and a land 65 whose gap is normally set to several tens of μm are formed. The photoresist solution 20 extruded through the land portion 65 is applied to the glass substrate K while wetting the lip tip surfaces 60a and 60b, which are paint contact surfaces.

口金６０は、リニアモータ６７Ｚによる昇降動作により、塗布高さＨ２と退避高さＨ１とに選択的に配置可能とされる。塗布高さＨ２は、載置面３１上に保持されたガラス基板Ｋの表面と口金６１の吐出口６３との間隙が１００μｍ〜２００μｍ程度となる高さである。退避高さＨ１は、載置面３１に保持されたガラス基板Ｋの表面と口金６０の吐出口６３とが十分に離間する高さである。   The base 60 can be selectively disposed at the coating height H2 and the retreat height H1 by the lifting / lowering operation by the linear motor 67Z. The coating height H2 is a height at which the gap between the surface of the glass substrate K held on the placement surface 31 and the discharge port 63 of the base 61 is about 100 μm to 200 μm. The retreat height H1 is a height at which the surface of the glass substrate K held on the placement surface 31 and the discharge port 63 of the base 60 are sufficiently separated.

塗布液供給部７は、図１に示すように、塗布液貯留タンク７１、塗布液移送ポンプ７２及びチェックバルブ７３，７４を備える。   As shown in FIG. 1, the coating liquid supply unit 7 includes a coating liquid storage tank 71, a coating liquid transfer pump 72, and check valves 73 and 74.

塗布液貯留タンク７１は、塗布液となる所定量（例えば、複数枚のガラス基板Ｋに塗布することができる量）のフォトレジスト液２０を一時的に貯留するための槽であり、チェックバルブ７３を介して塗布液移送ポンプ７２に配管接続される。   The coating liquid storage tank 71 is a tank for temporarily storing a predetermined amount (for example, an amount that can be applied to a plurality of glass substrates K) of the photoresist liquid 20 as the coating liquid, and a check valve 73. Is connected to the coating liquid transfer pump 72 via a pipe.

塗布液移送ポンプ７２は、チェックバルブ７４を介して口金６０に配管接続される。液晶ディスプレイやプラズマディスプレイのようなフラットパネルディスプレイの製造に用いるガラス基板や、半導体の製造に係わるウェハ等の平坦且つ枚葉形態の基板に塗布を行う装置では、塗布方向の膜厚分布を均一にし且つ気泡や不純物を含まない塗布膜を形成できることが要求される。このため、塗布液移送ポンプ７２は、脈動が微小であると共に供給開始時の立上げ時間が短いもの、更に耐溶剤性に優れると共にポンプ内での液の凝集や発泡が起きず気密性及び耐久性に富むものが望ましく、例えばシリンジ（ピストン）ポンプまたはベローズポンプなどが好適である。特にシリンジポンプは、ピストンにより内液を直接的に送り出す方式であるため、応答性及び定流量特性に優れる。一方、ベローズポンプは、内液を間接的に送り出す方式であるため、空気の混入などを防止できる。   The coating liquid transfer pump 72 is connected to the base 60 via a check valve 74. For glass substrates used for manufacturing flat panel displays such as liquid crystal displays and plasma displays, and for devices that apply to flat and single-wafer substrates such as wafers related to semiconductor manufacturing, the film thickness distribution in the coating direction should be uniform. In addition, it is required that a coating film free from bubbles and impurities can be formed. For this reason, the coating liquid transfer pump 72 has a small pulsation and a short start-up time at the start of supply. Further, the coating liquid transfer pump 72 is excellent in solvent resistance and does not cause aggregation or foaming of the liquid in the pump. A thing rich in property is desirable, for example, a syringe (piston) pump or a bellows pump is suitable. In particular, since the syringe pump is a system in which the internal liquid is directly sent out by a piston, it is excellent in responsiveness and constant flow characteristics. On the other hand, since the bellows pump is a system for indirectly sending out the internal liquid, it is possible to prevent air from entering.

洗浄ユニット８は、図６に示すように、スクレーパ８１、スクレーパ駆動装置８２及び汚液受けバット８３などを備える。スクレーパ８１は、合成ゴム等の弾性体を材質としており、口金６０におけるスリット状の吐出口６３側の外形と略相似なＶ字形溝を備えたブロック体である。その内部には、洗浄液噴射ノズル８１ａ及び乾燥用エアー噴射ノズル８１ｂを備える。図示は省略するが、洗浄液噴射ノズル８１ａは、洗浄液を充填した洗浄液貯留タンクに、制御バルブを介して配管接続される。乾燥用エアー噴射ノズル８１ｂは、乾燥用の圧縮エアーを充填した乾燥用エアー貯留タンクに、制御バルブを介して配管接続される。スクレーパ駆動装置８２は、スクレーパ８１を±Ｙ方向に移動可能な構成とされ、例えば駆動側プーリ、従動側プーリ、これら２つのプーリに掛け渡された無端ベルト、及び駆動側プーリを回転駆動するための回転式サーボモータなどで構成される。汚液受けバット８３は、Ｙ方向を長手方向とし口金６０よりも若干大きな平面視面積（Ｚ方向から視た面積）を備える金属性の長尺有壁皿で構成される。なお、洗浄動作と併せてスリット状の吐出口６３の濡れ状態などを一定状態に戻すための初期化装置を併設してもよい。   As shown in FIG. 6, the cleaning unit 8 includes a scraper 81, a scraper driving device 82, a sewage receiving bat 83, and the like. The scraper 81 is made of an elastic body such as synthetic rubber, and is a block body having a V-shaped groove substantially similar to the outer shape of the base 60 on the slit-like discharge port 63 side. Inside, a cleaning liquid spray nozzle 81a and a drying air spray nozzle 81b are provided. Although not shown, the cleaning liquid injection nozzle 81a is connected to a cleaning liquid storage tank filled with the cleaning liquid through a control valve. The drying air injection nozzle 81b is connected to a drying air storage tank filled with compressed air for drying via a control valve. The scraper driving device 82 is configured to be able to move the scraper 81 in the ± Y direction. For example, the scraper driving device 82 rotationally drives a driving pulley, a driven pulley, an endless belt spanned between these two pulleys, and a driving pulley. It consists of a rotary servo motor. The waste liquid receiving bat 83 is formed of a metallic long-walled dish having a Y-direction as a longitudinal direction and a plan view area (area viewed from the Z direction) slightly larger than the base 60. In addition, an initialization device for returning the wet state of the slit-like discharge port 63 to a certain state may be provided together with the cleaning operation.

制御装置１０は、タッチパネル等の入出力装置、メモリ装置やマイクロプロセッサなどを主体とした適当なハードウエア、このハードウエアを動作させるためのコンピュータプログラムを組み込んだハードディスク装置、並びにスリットノズルコータ１における各駆動装置等の構成部及び基板搬送ロボット９とデータ通信を行う適当なインターフェイス回路などから構成され、スリットノズルコータ１が一連の塗布動作を行なうように各構成部に適当な制御信号を出力するように構成される。制御装置１０は、具体的には、次のようにしてフレーム駆動部４３を駆動制御する。   The control device 10 includes an input / output device such as a touch panel, appropriate hardware mainly including a memory device and a microprocessor, a hard disk device incorporating a computer program for operating the hardware, and each of the slit nozzle coater 1. It is composed of components such as a driving device and an appropriate interface circuit that performs data communication with the substrate transfer robot 9 and outputs appropriate control signals to each component so that the slit nozzle coater 1 performs a series of coating operations. Configured. Specifically, the control device 10 controls the drive of the frame driving unit 43 as follows.

即ち、基板搬送ロボット９によりガラス基板Ｋが搬入位置Ｐ２に搬入されると（図８（Ｂ）参照）、制御装置１０は、フレーム駆動部４３を駆動制御して、ガラス基板Ｋを基板待機位置Ｐ３まで上昇させ、その位置で停止させる。具体的には、制御装置１０における上記メモリ装置は、ガラス基板Ｋの搬入位置Ｐ２（図８（Ｂ）参照）よりも高い位置である基板待機位置Ｐ３（図８（Ｃ）参照）についての高さデータを予め記憶している。ガラス基板Ｋが基板待機位置Ｐ３に保持されると（図８（Ｃ）参照）、制御装置１０は、当該保持が完了したことの信号である基板保持完了信号を基板搬送ロボット９に出力する。また、制御装置１０は、基板搬送ロボット９からロボットハンド９３が退避したことの信号であるハンド退避完了信号を受信すると、基板待機位置Ｐ３にガラス基板Ｋを保持したリフトピン４１が下降するようにフレーム駆動部４３を駆動制御する。このときの駆動制御は、ガラス基板Ｋが吸着ステージ３の載置面３１に載置されるまで行う。なお、ガラス基板Ｋが支持された時点で、センサー４５からオン信号ＳＧ１が出力されるが、もし、このオン信号ＳＧ１が出力されていない場合には、制御装置１０は、リフトピン４１によるガラス基板Ｋの支持に何らかの問題があったと判断して、エラー信号を出力する。   That is, when the glass substrate K is carried into the carry-in position P2 by the substrate carrying robot 9 (see FIG. 8B), the control device 10 drives and controls the frame driving unit 43 to bring the glass substrate K into the substrate standby position. Raise to P3 and stop at that position. Specifically, the memory device in the control device 10 is higher than the substrate standby position P3 (see FIG. 8C) which is higher than the glass substrate K loading position P2 (see FIG. 8B). Data is stored in advance. When the glass substrate K is held at the substrate standby position P3 (see FIG. 8C), the control device 10 outputs a substrate holding completion signal, which is a signal indicating that the holding has been completed, to the substrate transport robot 9. When the control device 10 receives a hand retraction completion signal, which is a signal indicating that the robot hand 93 has retreated from the substrate transfer robot 9, the frame is set so that the lift pins 41 holding the glass substrate K at the substrate standby position P3 are lowered. Drive control of the drive part 43 is carried out. The drive control at this time is performed until the glass substrate K is placed on the placement surface 31 of the suction stage 3. Note that when the glass substrate K is supported, the ON signal SG1 is output from the sensor 45. If the ON signal SG1 is not output, the control device 10 causes the glass substrate K by the lift pins 41 to be output. It is determined that there was some problem in supporting the output, and an error signal is output.

基板搬送ロボット９は、図１に示すように、モータ９１、アーム９２及びロボットハンド９３を備える。ロボットハンド９３は、ガラス基板Ｋを支持可能なフォーク形状体とされ、モータ９１の駆動によりアーム９２を介してＸＹＺθ各方向に移動自在に構成され、次述する退避位置Ｐ１と搬入位置Ｐ２とに水平移動により選択的に配置可能とされる。即ち、退避位置Ｐ１は、吸着ステージ３の外方であり、Ｚ方向から視たときに吸着ステージ３とロボットハンド９３とに共有領域がない位置である。また、搬入位置Ｐ２は、吸着ステージ３の真上であり、このときのロボットハンド９３の高さは、退避位置Ｐ１の高さと一致する。なお、ロボットハンド９３の制御は、制御装置１０とは別の基板搬送ロボット９自体が持つ制御装置により行われる。   As shown in FIG. 1, the substrate transport robot 9 includes a motor 91, an arm 92, and a robot hand 93. The robot hand 93 is a fork-shaped body capable of supporting the glass substrate K, and is configured to be movable in each direction of XYZθ by driving the motor 91. The robot hand 93 is moved to a retreat position P1 and a carry-in position P2 described below. It can be selectively arranged by horizontal movement. That is, the retracted position P1 is outside the suction stage 3, and is a position where there is no shared area between the suction stage 3 and the robot hand 93 when viewed from the Z direction. Further, the carry-in position P2 is directly above the suction stage 3, and the height of the robot hand 93 at this time coincides with the height of the retreat position P1. The robot hand 93 is controlled by a control device of the substrate transport robot 9 itself that is different from the control device 10.

次に、図７，８，９を参照して、本発明に係るスリットノズルコータ１の塗布動作について説明する。図７は本発明に係るスリットノズルコータ１の塗布動作のフローチャート、図８は本発明に係るスリットノズルコータ１の塗布動作を時系列的に示す図、図８において、白抜きの矢印はロボットハンド９３の動作方向を示し、黒色の太矢印はリフトピン４１の動作方向を示す。   Next, the coating operation of the slit nozzle coater 1 according to the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a flowchart of the coating operation of the slit nozzle coater 1 according to the present invention, FIG. 8 is a diagram showing the coating operation of the slit nozzle coater 1 according to the present invention in time series, and in FIG. 93 indicates the operation direction, and the black thick arrow indicates the operation direction of the lift pin 41.

図７に示すように、スリットノズルコータ１の塗布動作は、ガラス基板受入れステップＳ１、センタリングステップＳ２、塗布ステップＳ３、スクレープステップＳ４、ガラス基板引渡しステップＳ５を経て行われる。図８において、スリットノズルコータ１は、次の初期状態にあるものとして説明する。即ち、リフトピン４１は載置面３１の下方に埋没した状態であり、ロボットハンド９３はガラス基板Ｋを支持した状態で退避位置Ｐ１にある（図８（Ａ）参照）。また、口金６０は退避高さＨ１及び待機位置Ｑ１（図５参照）にある。   As shown in FIG. 7, the coating operation of the slit nozzle coater 1 is performed through a glass substrate receiving step S1, a centering step S2, a coating step S3, a scraping step S4, and a glass substrate delivery step S5. In FIG. 8, the slit nozzle coater 1 will be described as being in the following initial state. That is, the lift pin 41 is buried below the placement surface 31, and the robot hand 93 is in the retracted position P1 while supporting the glass substrate K (see FIG. 8A). The base 60 is at the retreat height H1 and the standby position Q1 (see FIG. 5).

〔ガラス基板受入れステップＳ１〕
ガラス基板受入れ動作は次のようにして行う。まず基板搬送ロボット９は、ガラス基板Ｋを支持したロボットハンド９３を水平方向に駆動して、退避位置Ｐ１から搬入位置Ｐ２に移動させる（図８（Ｂ）参照）。退避位置Ｐ１から搬入位置Ｐ２へガラス基板Ｋを移動させるに際し、ロボットハンド９３は水平移動だけを行う。 [Glass substrate receiving step S1]
The glass substrate receiving operation is performed as follows. First, the substrate transport robot 9 drives the robot hand 93 supporting the glass substrate K in the horizontal direction to move it from the retracted position P1 to the carry-in position P2 (see FIG. 8B). When moving the glass substrate K from the retreat position P1 to the carry-in position P2, the robot hand 93 performs only horizontal movement.

次いで、制御装置１０は、フレーム駆動部４３を駆動制御することでピンフレーム４２を上昇駆動させることにより、載置面３１の下方に埋没しているリフトピン４１を上昇させる。これによりリフトピン４１の先端部は、載置面３１から突出し、搬入位置Ｐ２にあるガラス基板Ｋの裏面に当接する。その後、リフトピン４１を更に上昇させることにより、緩衝機構４４におけるコイルバネ２５は収縮し、図９（Ｂ）に示すようにリフトピン４１を上向きに付勢する。つまり、緩衝機構４４は、リフトピン４１の先端部がガラス基板Ｋに当接したときにクッション作用を発揮する。   Next, the control device 10 raises the lift pin 41 buried below the placement surface 31 by driving and driving the frame drive unit 43 to raise the pin frame 42. Thereby, the front-end | tip part of the lift pin 41 protrudes from the mounting surface 31, and contact | abuts to the back surface of the glass substrate K in the carrying-in position P2. Thereafter, when the lift pin 41 is further raised, the coil spring 25 in the buffer mechanism 44 contracts and urges the lift pin 41 upward as shown in FIG. 9B. That is, the buffer mechanism 44 exhibits a cushioning action when the tip end portion of the lift pin 41 contacts the glass substrate K.

リフトピン４１がガラス基板Ｋを支持したとき、図９（Ｃ）に示すようにスイッチ部４５１がオンする。そして各スイッチ部４５１のオン信号ＳＧ１が発せられる。その後、リフトピン４１はガラス基板Ｋをその先端部で支持しながら上昇し、ガラス基板Ｋが基板待機位置Ｐ３に保持される（図８（Ｃ）参照）。このようにして、ガラス基板Ｋの支持は、ロボットハンド９３からリフトピン４１へと移される。   When the lift pins 41 support the glass substrate K, the switch unit 451 is turned on as shown in FIG. Then, an ON signal SG1 of each switch unit 451 is issued. Thereafter, the lift pins 41 are lifted while supporting the glass substrate K at the tip thereof, and the glass substrate K is held at the substrate standby position P3 (see FIG. 8C). In this way, the support of the glass substrate K is transferred from the robot hand 93 to the lift pins 41.

ガラス基板Ｋが基板待機位置Ｐ３に保持されると、制御装置１０は、基板保持完了信号を基板搬送ロボット９に出力する。この基板保持完了信号により基板搬送ロボット９は、ガラス基板Ｋの離脱したロボットハンド９３を水平方向に駆動して、退避位置Ｐ１まで移動させる（図８（Ｄ）参照）。基板搬送ロボット９が退避位置Ｐ１に退避すると、基板搬送ロボット９は、ハンド退避完了信号を制御装置１０に出力する。   When the glass substrate K is held at the substrate standby position P <b> 3, the control device 10 outputs a substrate holding completion signal to the substrate transport robot 9. In response to the substrate holding completion signal, the substrate transport robot 9 drives the robot hand 93 from which the glass substrate K has been detached in the horizontal direction to move it to the retracted position P1 (see FIG. 8D). When the substrate transport robot 9 is retracted to the retract position P <b> 1, the substrate transport robot 9 outputs a hand retract completion signal to the control device 10.

次いで、制御装置１０は、上記ハンド退避完了信号に基づき、フレーム駆動部４３を駆動制御することでピンフレーム４２を下降駆動することにより、リフトピン４１を下降させる。リフトピン４１はガラス基板Ｋを支持しながら下降し、載置面３１の下に完全に埋没したところで停止する。これによりガラス基板Ｋは載置面３１に載置される（図８（Ｅ）参照）。   Next, the control device 10 lowers the lift pin 41 by driving the pin frame 42 downward by drivingly controlling the frame drive unit 43 based on the hand retraction completion signal. The lift pins 41 descend while supporting the glass substrate K, and stop when they are completely buried under the placement surface 31. Thereby, the glass substrate K is mounted on the mounting surface 31 (see FIG. 8E).

このようにガラス基板受入れステップＳ１によると、ロボットハンド９３により搬入位置Ｐ２に搬入されたガラス基板Ｋを載置面３１に載置するに際し、次の点で従来と異なる。即ち、ガラス基板Ｋを支持したロボットハンド９３を下降させるのでなく、リフトピン４１を上昇させることによりその先端部でガラス基板Ｋを支持して、搬入位置Ｐ２よりも高い位置である基板待機位置Ｐ３に保持させた後、リフトピン４１を下降させる。従って、ロボットハンド９３は水平移動のみを行えばよく、ロボットハンド９３を下降させる必要がない。従って、基板搬送ロボット９の動作ステップが少なくて済み、その分、タクト時間の短縮化を図ることができ、生産効率を上げることができる。また、基板搬送ロボット９とスリットノズルコータ１とは、制御装置を別にしているが、基板搬送ロボット９の動作ステップが少ない分、両制御装置間におけるロボットハンド９３とリフトピン４１と間でのガラス基板Ｋの受け渡しに関する制御データのやり取りが少なくて済み、この点からもタクト時間の短縮化を図ることができる。また、緩衝機構４４は、リフトピン４１がガラス基板Ｋに当接したときにクッション作用を発揮するので、ガラス基板Ｋがリフトピン４１の先端部から受ける衝撃が緩和・吸収される。従って、ガラス基板Ｋに傷やひびが生じるのを抑えることができる。   As described above, according to the glass substrate receiving step S <b> 1, when the glass substrate K carried into the loading position P <b> 2 by the robot hand 93 is placed on the placement surface 31, the following points are different. That is, instead of lowering the robot hand 93 that supports the glass substrate K, the lift pin 41 is lifted to support the glass substrate K at the tip thereof and to the substrate standby position P3 that is higher than the loading position P2. After the holding, the lift pin 41 is lowered. Therefore, the robot hand 93 only needs to move horizontally, and there is no need to lower the robot hand 93. Therefore, the operation steps of the substrate transfer robot 9 are reduced, and the tact time can be shortened accordingly, and the production efficiency can be increased. The substrate transfer robot 9 and the slit nozzle coater 1 have separate control devices. However, since the operation steps of the substrate transfer robot 9 are small, the glass between the robot hand 93 and the lift pins 41 between the control devices is small. The exchange of control data relating to the transfer of the substrate K can be reduced, and the tact time can also be shortened from this point. Further, since the buffer mechanism 44 exhibits a cushioning action when the lift pin 41 comes into contact with the glass substrate K, the impact received by the glass substrate K from the tip portion of the lift pin 41 is relieved and absorbed. Therefore, it is possible to prevent the glass substrate K from being scratched or cracked.

〔センタリングステップＳ２〕
センタリング動作は次のようにして行う。センタリングユニット５は、駆動装置５２（図５参照）で挟み込み部材５１を駆動することにより、載置面３１上に載置されたガラス基板ＫをＹ方向両側から挟みつける。これによりガラス基板Ｋは、吸着ステージ３のＹ方向両端からそれぞれ等間隔の位置となり、ガラス基板ＫのＸ方向中心線を載置面３１のＸ方向中心線（Ｙ方向幅の中心を通りＸ方向に平行な中心線）に一致させる、いわゆるセンタリングが行われる。その後、駆動装置５２は挟み込み部材５１を元の位置に戻す。 [Centering step S2]
The centering operation is performed as follows. The centering unit 5 sandwiches the glass substrate K placed on the placement surface 31 from both sides in the Y direction by driving the sandwiching member 51 with the driving device 52 (see FIG. 5). As a result, the glass substrate K is positioned at equal intervals from both ends of the suction stage 3 in the Y direction. So-called centering is performed. Thereafter, the driving device 52 returns the sandwiching member 51 to the original position.

〔塗布ステップＳ３〕
塗布動作は次のようにして行う。センタリング終了後、まず、吸着ステージ３の真空吸着孔３２に真空圧を発生させ、ガラス基板Ｋを載置面３１上に真空吸着保持する。次いで、リニアモータ６７Ｘを駆動することで、口金６０を待機位置Ｑ１から塗布開始位置Ｑ２に移動させる（図５参照）。次いで、リニアモータ６７Ｚを駆動することで口金６０を退避高さＨ１から塗布高さＨ２に移動させる。 [Coating step S3]
The coating operation is performed as follows. After the centering is finished, first, a vacuum pressure is generated in the vacuum suction hole 32 of the suction stage 3 to hold the glass substrate K on the placement surface 31 by vacuum suction. Next, the base 60 is moved from the standby position Q1 to the application start position Q2 by driving the linear motor 67X (see FIG. 5). Next, the base 60 is moved from the retracted height H1 to the coating height H2 by driving the linear motor 67Z.

次いで塗布液移送ポンプ７２は、フォトレジスト液２０を口金６０に送り、スリット状の吐出口６３からフォトレジスト液２０を滲出させる。このとき、スリット状の吐出口６３とガラス基板Ｋの表面との間にこれら双方に接するビード２０Ｂ（図５参照）が形成される。この状態でリニアモータ６７Ｘを駆動することで口金６０を＋Ｘ方向に移動させる（図８（Ｆ）参照）。口金６０の移動に伴いガラス基板Ｋの表面には、＋Ｘ方向に向けてフォトレジスト液２０が塗布されていく。口金６０が塗布終了位置Ｑ３に到達したら、塗布液移送ポンプ７２はフォトレジスト液２０の供給を停め、リニアモータ６７Ｘは可動支柱部６１の駆動を停めることで口金６０の移動を停める。次いでリニアモータ６７Ｚを駆動し、口金６０を退避高さＨ１まで上昇させる。次いでリニアモータ６７Ｘを−Ｘ方向に反転駆動し、口金６０におけるスリット状の吐出口６３が洗浄ユニット８の上方に来たところで停める。   Next, the coating liquid transfer pump 72 sends the photoresist liquid 20 to the base 60 and causes the photoresist liquid 20 to exude from the slit-like discharge port 63. At this time, a bead 20B (see FIG. 5) is formed between the slit-like discharge port 63 and the surface of the glass substrate K. In this state, the base 60 is moved in the + X direction by driving the linear motor 67X (see FIG. 8F). As the die 60 moves, the photoresist solution 20 is applied to the surface of the glass substrate K in the + X direction. When the base 60 reaches the coating end position Q3, the coating liquid transfer pump 72 stops the supply of the photoresist liquid 20, and the linear motor 67X stops the movement of the base 60 by stopping the driving of the movable column 61. Next, the linear motor 67Z is driven to raise the base 60 to the retreat height H1. Next, the linear motor 67X is driven reversely in the −X direction and stopped when the slit-like discharge port 63 in the base 60 comes above the cleaning unit 8.

〔スクレープステップＳ４〕
スクレープ動作は次のようにして行う。まずリニアモータ６７Ｚを駆動して、口金６０におけるスリット状の吐出口６３とスクレーパ８１のＶ字形溝（図６参照）とを近接配置させる。次いで洗浄液噴射ノズル８１ａが洗浄液を噴射する。洗浄液の噴射と共に、スクレーパ駆動装置８２はスクレーパ８１を＋Ｙ方向に駆動する。これによりスリット状の吐出口６３が洗浄される。スクレーパ８１が＋Ｙ方向の端部に到達したら、スクレーパ駆動装置８２はスクレーパ８１の駆動を停める。それと共に洗浄液の噴射も停める。その後、スクレーパ駆動装置８２はスクレーパ８１を−Ｙ方向に反転駆動する。このとき乾燥用エアー噴射ノズル８１ｂが乾燥用エアーを噴射し、洗浄されたスリット状の吐出口６３を乾かす。スクレーパ８１が−Ｙ方向の端部に到達したらスクレーパ駆動装置８２はスクレーパ８１の駆動を停める。それと共に乾燥用エアーの噴射も停める。 [Scraping step S4]
The scraping operation is performed as follows. First, the linear motor 67Z is driven, and the slit-like discharge port 63 in the base 60 and the V-shaped groove (see FIG. 6) of the scraper 81 are arranged close to each other. Next, the cleaning liquid spray nozzle 81a sprays the cleaning liquid. Along with the spraying of the cleaning liquid, the scraper driving device 82 drives the scraper 81 in the + Y direction. Thereby, the slit-like discharge port 63 is cleaned. When the scraper 81 reaches the end in the + Y direction, the scraper driving device 82 stops driving the scraper 81. At the same time, the spraying of the cleaning liquid is stopped. Thereafter, the scraper driving device 82 drives the scraper 81 to be reversed in the −Y direction. At this time, the drying air spray nozzle 81b sprays the drying air and dries the cleaned slit-shaped discharge port 63. When the scraper 81 reaches the end in the −Y direction, the scraper driving device 82 stops driving the scraper 81. At the same time, the spray of drying air is stopped.

〔ガラス基板引渡しステップＳ５〕
ガラス基板引渡し動作は次のようにして行う。まず、吸着ステージ３の真空吸着孔３２に生じていた真空圧を破壊する。次いで、制御装置１０は、フレーム駆動部４３を駆動制御することでピンフレーム４２を上昇駆動させることにより、リフトピン４１を吸着ステージ３から突出させ、ガラス基板Ｋに当接させる。その後、ガラス基板Ｋを支持した状態で基板待機位置Ｐ３まで上昇させる。このときも、ガラス基板Ｋの受入れ時と同様に、リフトピン４１はガラス基板Ｋに当接したときにクッション作用を発揮する。これにより、ガラス基板Ｋに傷やひびができるのを抑えることができる。次いで、基板搬送ロボット９は、退避位置Ｐ１にあるロボットハンド９３を水平方向に駆動して、搬入位置Ｐ２まで移動させる。次いで、制御装置１０は、フレーム駆動部４３を駆動制御することで、ガラス基板Ｋを支持したリフトピン４１を下降させる。ガラス基板Ｋが下降することにより、ロボットハンド９３は塗布済みのガラス基板Ｋを受取る。次いで、基板搬送ロボット９は、搬入位置Ｐ２でガラス基板Ｋを受取ったロボットハンド９３を水平方向に駆動して、次工程である例えば減圧乾燥工程へと引き渡す。 [Glass substrate delivery step S5]
The glass substrate delivery operation is performed as follows. First, the vacuum pressure generated in the vacuum suction hole 32 of the suction stage 3 is broken. Next, the control device 10 drives and controls the frame driving unit 43 to drive the pin frame 42 upward so that the lift pins 41 protrude from the suction stage 3 and come into contact with the glass substrate K. Thereafter, the glass substrate K is raised to the substrate standby position P3 while being supported. Also at this time, the lift pin 41 exhibits a cushioning action when it comes into contact with the glass substrate K, as in the case of receiving the glass substrate K. Thereby, it is possible to suppress the glass substrate K from being scratched or cracked. Next, the substrate transfer robot 9 drives the robot hand 93 at the retreat position P1 in the horizontal direction to move it to the carry-in position P2. Next, the control device 10 controls the frame driving unit 43 to lower the lift pins 41 that support the glass substrate K. As the glass substrate K descends, the robot hand 93 receives the coated glass substrate K. Next, the substrate transfer robot 9 drives the robot hand 93 that has received the glass substrate K at the carry-in position P2 in the horizontal direction, and delivers it to the next step, for example, the reduced pressure drying step.

なお、上述した実施形態では、スリットノズルコータ１の初期状態として、リフトピン４１が載置面３１の下方に埋没している場合を示したが、リフトピン４１を所定高さまで予め突出させておき、この所定高さをリフトピン４１の上昇開始位置としてもよい。即ち、搬入位置Ｐ２に搬入されたガラス基板Ｋとリフトピン４１とが干渉しない高さ、例えば搬入位置Ｐ２に搬入されたガラス基板Ｋよりもリフトピン４１の先端部が低い位置を所定高さとし、この所定高さをリフトピン４１の上昇開始位置とする。これにより、ガラス基板受入れステップＳ１において、ガラス基板Ｋを基板待機位置Ｐ３まで上昇させるのに要するリフトピン４１の上昇距離が短くなるため、ガラス基板Ｋを基板待機位置Ｐ３まで上昇させるのに要する時間を短縮することができる。   In the above-described embodiment, as an initial state of the slit nozzle coater 1, the case where the lift pin 41 is buried below the placement surface 31 is shown. However, the lift pin 41 is projected in advance to a predetermined height, The predetermined height may be the lift start position of the lift pin 41. That is, a height at which the glass substrate K carried into the carry-in position P2 does not interfere with the lift pins 41, for example, a position where the tip of the lift pin 41 is lower than the glass substrate K carried into the carry-in position P2 is set to a predetermined height. The height is set as the rising start position of the lift pin 41. Thereby, in the glass substrate receiving step S1, the lift distance of the lift pins 41 required to raise the glass substrate K to the substrate standby position P3 is shortened, and therefore the time required to raise the glass substrate K to the substrate standby position P3 is reduced. It can be shortened.

以上、本発明の実施形態について説明を行ったが、上に開示した実施形態は、あくまで例示であって、本発明の範囲はこの実施の形態に限定されるものではない。本発明の範囲は、特許請求の範囲の記載によって示され、更に特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更を含むことが意図される。即ち、スリットノズルコータ１の全体または一部の構造、形状、寸法、材質、個数などは、本発明の趣旨に沿って種々に変更することができる。また、本実施形態では、基板処理装置はスリットノズルコータとしたが、これ以外にも、例えば露光装置、洗浄装置、乾燥装置及び検査装置などに適用することもできる。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described, embodiment disclosed above is an illustration to the last, Comprising: The scope of the present invention is not limited to this embodiment. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims. That is, the structure, shape, dimensions, material, number, etc. of the whole or part of the slit nozzle coater 1 can be variously changed in accordance with the spirit of the present invention. In this embodiment, the substrate processing apparatus is a slit nozzle coater. However, the present invention can be applied to, for example, an exposure apparatus, a cleaning apparatus, a drying apparatus, and an inspection apparatus.

本発明に係るスリットノズルコータの外観斜視図である。1 is an external perspective view of a slit nozzle coater according to the present invention. リフトピンユニットの構成概略図である。It is a structure schematic diagram of a lift pin unit. 緩衝機構の詳細を示す正面断面図である。It is front sectional drawing which shows the detail of a buffer mechanism. 吸着ステージ及びセンタリングユニットの外観斜視図である。It is an external appearance perspective view of a suction stage and a centering unit. 口金の側面一部断面図である。It is side surface partial sectional drawing of a nozzle | cap | die. 洗浄ユニットの外観斜視図である。It is an external appearance perspective view of a washing unit. 本発明に係るスリットノズルコータの塗布動作のフローチャートである。It is a flowchart of the application | coating operation | movement of the slit nozzle coater which concerns on this invention. 本発明に係るスリットノズルコータの塗布動作を時系列的に示す図である。It is a figure which shows the application | coating operation | movement of the slit nozzle coater which concerns on this invention in time series. 緩衝機構の作用を示す図である。It is a figure which shows the effect | action of a buffer mechanism. 従来のスリットノズルコータの塗布動作を時系列的に示す図である。It is a figure which shows the application | coating operation | movement of the conventional slit nozzle coater in time series.

符号の説明Explanation of symbols

１ スリットノズルコータ（基板処理装置）
３ 吸着ステージ（ステージ）
１０ 制御装置（ピン駆動制御部）
３３ リフトピン孔（貫通孔）
４１ リフトピン
４３ フレーム駆動部（ピン駆動制御部）
４４ 緩衝機構
Ｋ ガラス基板（基板）
Ｐ２ 搬入位置
Ｐ３ 基板待機位置（搬入位置よりも高い位置） 1 Slit nozzle coater (substrate processing equipment)
3 Adsorption stage (stage)
10 Control device (pin drive controller)
33 Lift pin hole (through hole)
41 lift pin 43 frame drive unit (pin drive control unit)
44 Buffer mechanism K Glass substrate (substrate)
P2 Loading position P3 Substrate standby position (position higher than loading position)

Claims (3)

基板（Ｋ）を載置するステージ（３）と、
ステージ（３）に形成された貫通孔（３３）から昇降動作可能に設けられ且つ先端部で基板（Ｋ）を支持可能なリフトピン（４１）と、
ステージ（３）の上方の搬入位置（Ｐ２）に供給された基板（Ｋ）をステージ（３）上に載置するようにリフトピン（４１）を駆動制御するピン駆動制御部（４３，１０）と
を備える基板処理装置（１）において、
ピン駆動制御部（４３，１０）は、リフトピン（４１）を上昇させることにより、搬入位置（Ｐ２）に位置する基板（Ｋ）を、その先端部で支持して、搬入位置（Ｐ２）よりも高い位置（Ｐ３）に保持させた後、リフトピン（４１）を下降させることにより、ステージ（３）上に載置するように駆動制御することを特徴とする基板処理装置。 A stage (3) on which a substrate (K) is placed;
A lift pin (41) provided so as to be able to move up and down from a through hole (33) formed in the stage (3) and capable of supporting the substrate (K) at the tip;
A pin drive control unit (43, 10) for driving and controlling the lift pins (41) so that the substrate (K) supplied to the carry-in position (P2) above the stage (3) is placed on the stage (3); In a substrate processing apparatus (1) comprising:
The pin drive control unit (43, 10) raises the lift pin (41), thereby supporting the substrate (K) located at the carry-in position (P2) at the tip thereof, and moving the pin drive control unit (43, 10) from the carry-in position (P2). A substrate processing apparatus, wherein the substrate is controlled to be placed on the stage (3) by lowering the lift pin (41) after being held at a high position (P3). リフトピン（４１）は、その先端が基板（Ｋ）に当接したときに基板（Ｋ）に生じる衝撃を吸収する緩衝機構（４４）を備えていることを特徴とする請求項１に記載の基板処理装置。   The substrate according to claim 1, wherein the lift pin (41) includes a buffer mechanism (44) that absorbs an impact generated on the substrate (K) when a tip thereof abuts on the substrate (K). Processing equipment. 基板（Ｋ）を載置するステージ（３）と、前記ステージ（３）に形成された貫通孔（３３）から昇降動作可能に設けられ且つ先端部で基板（Ｋ）を支持可能なリフトピン（４１）と、を有する基板処理装置（１）において、ステージ（３）の上方の搬入位置（Ｐ２）に供給された基板（Ｋ）をステージ（３）上に載置する基板載置方法であって、
前記リフトピン（４１）を上昇させることにより、搬入位置（Ｐ２）に位置する基板（Ｋ）を、その先端部で支持して、前記搬入位置（Ｐ２）よりも高い位置（Ｐ３）に保持させた後、リフトピン（４１）を下降させることにより、ステージ（３）上に載置することを特徴とする基板載置方法。 A stage (3) on which the substrate (K) is placed, and a lift pin (41) that can be moved up and down from a through hole (33) formed in the stage (3) and can support the substrate (K) at the tip. ) In the substrate processing apparatus (1), the substrate (K) supplied to the carry-in position (P2) above the stage (3) is placed on the stage (3). ,
By raising the lift pin (41), the substrate (K) located at the carry-in position (P2) is supported at its tip and held at a position (P3) higher than the carry-in position (P2). Thereafter, the substrate is placed on the stage (3) by lowering the lift pins (41).
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