JP2010068132A - フィルタ、デュープレクサ、および通信装置 - Google Patents

フィルタ、デュープレクサ、および通信装置 Download PDF

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Abstract

【課題】圧電薄膜共振子を用いたフィルタにおいて、圧電薄膜共振子の横モードの不要波による影響を抑制しつつ、中空構造をなす電極の機械強度を損なうことなく小型化を実現することができるフィルタを提供する。
【解決手段】基板上に形成された下部電極2と上部電極4とで圧電膜3を挟持した圧電薄膜共振子S1〜S4を複数備えたフィルタであって、圧電薄膜共振子S1〜S4は、上部電極4と下部電極2とが重なっている電極領域4a〜4dの外郭形状が曲線を含み、複数の圧電薄膜共振子S1〜S4のうち互いに隣接する圧電薄膜共振子は、隣接対向する電極領域の外郭形状が相補形状となっている。
【選択図】図4A

Description

本発明は、圧電薄膜による電気信号とバルク弾性波の変換作用を利用した圧電薄膜共振子を複数個用いて構成したフィルタに関する。また、そのようなフィルタを備えたデュープレクサ、通信装置に関する。
携帯電話に代表される無線機器の急速な普及により、小型で軽量な共振子を複数組み合わせて構成したフィルタの需要が増大している。これまでは主として誘電体フィルタと表面弾性波(SAW)フィルタが使用されてきたが、最近では、特に高周波領域で低損失、高耐電力性、ESD特性が良好で、かつ小型化とモノリシック化が可能な素子である圧電薄膜共振子を用いて構成されたフィルタが注目されつつある。
このような圧電薄膜共振子として、FBAR(Film Bulk Acoustic Resonator)タイプの共振子とSMR(Solidly Mounted Resonator)タイプの共振子がある。FBARは図15〜図17に示すように、基板上に、主構成要素として、上部電極、圧電膜、および下部電極を主要構成要素とする積層膜を有し、上部電極と下部電極が対向する領域の下部電極の下方に空隙が形成されている。図15〜図17は空隙の構造がそれぞれ異なっている。図15に示す空洞は、基板2の表面から裏面まで貫通孔26が設けられている。図16に示す空隙は、基板表面に窪みが設けられている。図17に示す空隙は、基板31の表面上に設けられている。また、SMRは図18に示すように、上記の空隙の代わりに、下部電極52の下方に音響インピーダンスが低い膜と高い膜を交互にλ/4(λ:弾性波の波長)の膜厚で積層した音響反射膜56を形成している。
上部電極と下部電極の間に高周波の電気信号を印加すると、上部電極と下部電極に挟まれた圧電膜内部に逆圧電効果によって弾性波が励振される。逆に、圧電効果によって弾性波による歪が電気信号に変換される。FBARでは、この弾性波は上部電極が空気に接している面と下部電極が空気に接している面で反射され、SMRでは、この弾性波は上部電極が空気に接している面と下部電極が音響反射膜に接している面で反射される。そのため、何れのタイプの共振子でも厚み方向の主変位を持つ厚み縦振動波が発生する。これらの構造では上部電極、圧電膜、および下部電極を主要構成要素とする積層膜部分の合計膜厚Hが、弾性波の1/2波長の整数倍(n倍)になる周波数において共振が起こる。材料によって決まる弾性波の伝搬速度をVとすると、共振周波数Fは、
F=nV/2H
となる。この共振現象を利用して、膜厚によって共振周波数を制御することにより、所望の周波数特性を有する圧電薄膜共振子が作製される。更に、共振周波数が異なる複数の圧電薄膜共振子を接続することによりフィルタが作製される。
ところで、圧電薄膜共振子を用いたフィルタにおいても、フィルタ素子の低コスト化が課題とされている。また、フィルタを搭載する機器の小型化に伴い、フィルタのさらなる小型化が要求されている。これらの要求を満たすために、フィルタ特性を損なうことなくチップ面積を縮小することが重要となる。フィルタ素子が形成されたチップの更なる小型化(小面積化)を鑑みると、フィルタを構成する圧電薄膜共振子の配置にも改善が必要となる。
フィルタを構成する圧電薄膜共振子の配置に関しては、従来例として、例えば非特許文献1が挙げられる。非特許文献1では、フィルタを構成する各々の圧電薄膜共振子において、圧電膜を挟む上部電極と下部電極の重なり形状(以下、電極形状と略記)が如何なる二辺も互いに平行でない非方形の不規則な多角形を有している。これは、圧電薄膜共振子では、上述した主に利用する厚み縦振動波の他に、電極面に平行に伝播し、電極または空隙の端部で反射する横モードの不要波が励起される結果、圧電薄膜共振子のインピーダンス特性に不要スプリアスが生じ、圧電薄膜共振子を複数用いたフィルタの通過帯域にリップルが発生する実用上の問題を回避するためである。
上述した横モードの不要波による悪影響を抑制するための非方形の不規則な多角形の電極形状は特許文献1に開示されている。
Proc. IEEE Ultrasonics Symposium、2005年、101-104頁 特開2000−332568号公報
従来の技術に見られる圧電薄膜共振子を用いたフィルタおよびこれを用いた通信装置では、フィルタ構成要素である圧電薄膜共振子の横モードによる不要波の影響を低減すること、および、中空構造をなす電極の機械強度を向上させることに主眼が置かれていることにより、次の課題を有している。
非特許文献1、特許文献1に開示されている圧電薄膜共振子の電極形状は、如何なる二辺も互いに平行でない非方形の不規則な多角形であることから、隣り合う共振子の間隔を一定にできる配置と一定にできない配置が混在しており、小型化に対して課題が残る。
本発明の目的は、圧電薄膜共振子を用いたフィルタにおいて、圧電薄膜共振子の横モードの不要波による影響を抑制しつつ、小型化を実現することができるフィルタを提供することである。また、このようなフィルタを用いた通信装置の小型化を提案することを目的とする。
本発明のフィルタは、基板と、前記基板上に形成された下部電極と、前記基板上および前記下部電極上に形成された圧電膜と、前記圧電膜上に前記下部電極と対向する部分を有するように形成された上部電極とを積層して備えた圧電薄膜共振子を複数備えたフィルタであって、前記上部電極と前記下部電極とが重なっている電極領域の形状は、少なくとも一組の対向する非平行な外辺を有する形状であり、前記一組の外辺のうちいずれか一方の外辺が、隣接する他の圧電薄膜共振子の電極領域と対向し、前記一方の外辺に対向する前記他の圧電薄膜共振子の電極領域の外辺と、前記一方の外辺との間隔が一定であることが好ましい。
本発明によれば、圧電薄膜共振子の横モードの不要波による影響を抑制することができる。また、フィルタを小型化することができる。
本発明のフィルタにおいて、前記複数の圧電薄膜共振子のうち互いに隣接する圧電薄膜共振子は、隣接対向する電極領域の外郭形状が相補形状となっている構成とすることが好ましい。
本発明のフィルタにおいて、前記電極領域の外辺は、曲線を含む構成とすることが好ましい。このような構成とすることで、圧電薄膜共振子の機械的強度を向上させることができる。
本発明のフィルタにおいて、前記電極領域の形状は、略線対称である構成とすることが好ましい。このような構成とすることで、圧電薄膜共振子の機械的強度を向上させることができる。
(実施の形態)
〔1.圧電薄膜共振子の構成(第1の構成)〕
図1は、本実施の形態の圧電薄膜共振子を用いたフィルタを説明するための図である。図1に示すように、複数の圧電薄膜共振子(直列共振子S1〜S4、並列共振器P1〜P3)を直列腕と並列腕にラダー型に配置して相互に接続することによって、所定の通過帯域を有するバンドパスフィルタを構成することができる。このタイプのフィルタは、一般に「ラダー型フィルタ」と呼ばれている。図1に示すフィルタにおいて、様々な周波数成分からなるRF信号を入力端子Inに入力すると、所望の周波数成分だけを出力端子Outから出力させることができる。図1に示す構成では、圧電薄膜共振子は直列腕に4個(S1〜S4)、並列腕に3個(P1〜P3)それぞれ配置されている。尚、要求仕様に従ったフィルタ設計に応じて、直列腕、並列腕の圧電薄膜共振子の数は適宜変更できる。並列腕の圧電薄膜共振子P1〜P3については、上部電極の膜上にチタン(Ti)等の周波数調整膜が形成されており、並列腕の圧電薄膜共振子S1〜S4の共振周波数は直列腕の圧電薄膜共振子の共振周波数より低くなるように設定されている。
図2は、図1に示すフィルタにおいて、直列腕の圧電薄膜共振子S1〜S4の構成を説明するための断面図である。ここでは、基板1には平坦主面を持つSi基板で形成されている。また、下部電極2は、Ru膜(膜厚260nm)で形成されている。また、圧電膜3は、AlN膜(膜厚1200nm)で形成されている。また、上部電極4は、Ru膜(膜厚260nm)で形成されている。なお、基板1は、Si基板に替えて石英基板等を用いてもよく、貫通孔の形成が困難な基板も利用可能である。
なお、基板1としては、シリコン、ガラス、GaAs等を用いることができる他、他素子が形成された基板も用いることができることで、圧電薄膜共振子およびこれを用いたフィルタは集積化にも好適なデバイスである。
下部電極2および上部電極4としては、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、タンタル(Ta)、白金(Pt)、ルテニウム(Ru)、ロジウム(Rh)、イリジウム(Ir)、クロム(Cr)、チタン(Ti)等、あるいはこれらを組み合わせた積層材料を用いることができる。
圧電膜3としては、窒化アルミニウム(AlN)、酸化亜鉛(ZnO)、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)、チタン酸鉛(PbTiO3)等を用いることができるが、実用的には、音速、温度特性、Q値および成膜技術の容易性の観点からAlNが用いられていることが多い。特に、c軸(下部電極表面に対して垂直方向)配向した結晶性の高いAlN膜の形成が共振特性を決める重要な要因の一つであり、結合係数やQ値に直接影響を及ぼしている。一方で、c軸配向した結晶性の高いAlN膜の形成には、その成膜時に高いエネルギーを印加する必要があり、例えばMOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)では1000℃以上、PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)でもプラズマの電力に加えて400℃以上の基板加熱を必要とし、また、スパッタ技術を用いても絶縁膜のスパッタによる基板温度上昇が知られている。このため、一般的にAlN膜は強い膜応力を有することとなる。
図2において、圧電膜3を挟み上部電極4と下部電極2とが重なり合う領域における、下部電極2の下側と基板1の表面との間には、ドーム形状の膨らみを有する空隙6が形成されている。この空隙6は、上部電極4と下部電極2とが重なりあった領域を包含し、周辺部は基板1に接している。この空隙6は、下部電極2の下に予めパターンニングされた犠牲層を除去することにより形成することができる。また、基板1または下部電極2には、犠牲層をエッチングして空隙6を形成するために用いる犠牲層エッチング用のエッチング液導入孔(不図示)が設けられる。
図3A〜図3Cは、図2に示した圧電薄膜共振子の製造工程を説明するための図であり、これらの図は何れも断面図として図示してある。先ず、図3Aに示すように、Si基板1(あるいは石英基板)上に、犠牲層膜9となるMgO(膜厚20〜100nm程度)をスパッタリング法または真空蒸着法により成膜する。犠牲層9としては、MgOの他にも、ZnO、Ge、Ti、SiO2など、エッチング液により容易に溶解できる材料であれば特に制限はない。次に、フォトリソグラフィー技術とエッチングにより、犠牲層9を所望の形状にパターニングする。ここでは、上部電極4と下部電極2とが重なりあう領域よりやや大きな形状にパターニングしている。
次に、図3Bに示すように、下部電極2、圧電膜3、および上部電極4を順次形成する。下部電極2は、0.6〜1.2Paの圧力下のArガス雰囲気中でスパッタリング成膜され、さらにフォトリソグラフィー技術とエッチングにより下部電極2を所望の形状にパターニングする。これに続いて、圧電膜3であるAlNを、約0.3Paの圧力のAr/N2混合ガス雰囲気中でAlターゲットを用いてスパッタリング成膜する。そして、上部電極4のRu膜を、0.6〜1.2Paの圧力のArガス雰囲気中でスパッタリング成膜する。ここで示したスパッタ条件は一例であり、下部電極2、圧電膜3、上部電極4からなる積層膜の応力が圧縮応力となるように設定されている。このようにして成膜された積層膜にフォトリソグラフィー技術とエッチング(ウェットエッチングまたはドライエッチング)を施し、上部電極4と圧電膜3とを所望の形状にパターニングする。ここで、図示のごとく、弾性波の横方向への漏洩を防ぎ共振特性を向上させるために、圧電膜の外周の少なくとも一部を、上部電極4と下部電極2とが対向する領域の外周より内側に設けている。
次に、図3Cに示すように、下部電極2に対して、レジストパターニングによるフォトリソグラフィー技術によりエッチング液導入孔(不図示)を形成し、このエッチング液導入孔からエッチング液を導入して犠牲層9をエッチング除去することで空隙6を形成する。エッチング液導入孔は、先に下部電極2をエッチングする際に同時に形成しておいてもよい。積層膜に付与した圧縮応力により犠牲層9のエッチング終了時点で、積層膜が膨れ上がり下部電極2と基板1との間にドーム形状の空隙6を形成することができ、積層膜は中空構造となる。なお、上述のスパッタ成膜条件では、積層膜の応力は概ね(マイナス)300MPaの圧縮応力であった。ここで示したスパッタリング条件は一例であり、積層膜の応力を圧縮応力とすることがドーム形状の空隙を形成する上で重要であり、スパッタリング条件は種々の組み合わせが可能である。その他の成膜方法を用いても、積層膜の応力を調整することでドーム形状の空隙を形成することが可能である。
図4Aは、本実施の形態に係る圧電薄膜共振子を用いたフィルタの上面図である。図4Bは、図4AにおけるZ−Z部の断面図である。図4A及び図4Bは、図1に示したラダー型フィルタの直列腕の圧電薄膜共振子S1〜S4の構造を示している。各々の圧電薄膜共振子の断面図が図2に示す構成であり、図3A〜図3Cで示した製造工程に従って作製することができる。また、図4Aにおいて、上部電極4と下部電極2とが重なっている領域(以下「電極領域」と称し、電極領域の形状を「電極形状」と称する)4a〜4dにドットハッチングを付している。また、図4Aに示すように、個々の電極領域4a〜4dはその外辺に曲線を含む形状となっている。
また、互いに隣接する圧電薄膜共振子の電極形状は、対向する部分の一部が相補形状となっている。例えば、電極領域4aにおける電極領域4bに対向する外縁部4eは電極領域4aの中心に向かって凹状に湾曲し、電極領域4bにおける電極領域4aに対向する外縁部4fは電極領域4bの中心から離れる方向に湾曲し、外縁部4eと外縁部4fとは相補形状となっている。外縁部4eと外縁部4fとは略平行になっている。また、外縁部4eと外縁部4fとは、対向する領域において間隔が一定である。なお、符号の付与や詳しい説明は省略するが、電極領域4bと電極領域4cとの間、電極領域4cと電極領域4dとの間も同様に相補形状となっている。
また、図4Aに示すように、各圧電薄膜共振子は、点線L1、実線L2、および一点鎖線L3に対して、略線対称の形状をなしている。例えば、圧電薄膜共振子S1は点線L1と実線L2とに対して略線対称の形状をなしており、圧電薄膜共振子S2は一点鎖線L3と実線L1とに対して略線対称の形状をなしている。また、点線L1と一点鎖線L3で示した対称軸は、矢印AまたはBに示す方向に流れる電流の向きに対して略直交している。また、実線L2で示した対称軸は、矢印AまたはBに示す方向に流れる電流の向きに対して略平行となっている。
図5A〜図6Bは、本実施の形態の圧電薄膜共振子の共振特性を示す。図7A及び図7Bは、本実施の形態に対する比較例である圧電薄膜共振子の共振特性を示す。図5A、図6A、および図7Aは、共振特性をスミスチャートで示したものである。図5B、図6B、および図7Bは、共振特性を折れ線グラフで示したものである。図5A及び図5Bは、図4及び図4Bの圧電薄膜共振子S1、S3の共振特性を示す。図6A及び図6Bは、圧電薄膜共振子S2、S4の共振特性を示す。図7A及び図7Bは、電極領域の形状が長方形の圧電薄膜共振子の共振特性を示す。なお、比較例の圧電薄膜共振子における長方形状の電極領域の面積は162μm×135μmとし、本実施の形態の圧電薄膜共振子S1〜S4における電極領域の面積も等しくしている。
図5B、図6B、および図7Bに示すグラフは、1ポート特性の周波数に対するリターンロスを表し、0dBに近いほど損失が少なく共振子のクオリティファクタQが高いことを意味する。図5A、図6A、および図7Aに示すスミスチャートは、円の直径が大きくなるほど損失が少なく共振子のクオリティファクタQが高いことを意味する。本実施の形態の圧電薄膜共振子における電極領域の形状と比較例の電極領域の形状(長方形)とで共振特性を比較すると、全周波数域および特に共振周波数以下においてスプリアスに顕著な差が見られる。このスプリアスは、圧電薄膜共振子の横モードによる不要波が原因となっており、図示の如く電極領域の形状に強く依存している。特に、共振周波数以下のスプリアスは、これらの圧電薄膜共振子を直列腕に用いたフィルタの場合、通過帯域にリップルとして表れ、実用上好ましくない。圧電薄膜共振子の細密配置あるいは高密度実装を考えた場合、電極領域の形状を長方形とすると配置スペース効率が高いが、上述のように特性上の課題が残る。これに対し、図4A及び図4Bに示す圧電薄膜共振子S1〜S4は、スプリアスを抑制し、かつ配置スペース効率が高い。
本実施の形態の圧電薄膜共振子は、上部電極4、圧電膜3、および下部電極2からなる積層膜が中空構造をなし、機械的強度に対する配慮が素子の信頼性を論ずる上で重要となる。
図8A〜図8Dは、中空構造をなす圧電薄膜共振子の有限要素法による構造解析結果を示し、圧電膜を挟み上部電極と下部電極が対向している領域の残留応力分布を示したものである。図8A〜図8Dに示す構造解析結果は、積層膜に与える応力条件は共通とし、電極領域の形状による残留応力の差を明らかにしている。図8Aは、本実施の形態の圧電薄膜共振子S1、S3の残留応力の解析結果を示す。図8Bは、本実施の形態の圧電薄膜共振子S2、S4の残留応力の解析結果を示す。図8Cは、長方形の電極領域を持つ圧電薄膜共振子の残留応力の解析結果を示す。図8Dは、非特許文献1に開示された圧電薄膜共振子(如何なる二辺も互いに平行でない非方形の不規則な五角形の電極形状を持つ圧電薄膜共振子)の残留応力の解析結果を示す。
図8A〜図8Dにおいて、圧電膜3を挟み上部電極4と下部電極2が重なり合っている領域の周辺に見られる残留応力に着目すると、この残留応力が強く残っている部位ほど、破壊に対する余裕度は小さくなると考えられる。まず、図8C、図8Dに示すように、外縁が直線で構成された電極領域を備えた圧電薄膜共振子では、何れも角部近傍の領域81〜85に強い残留応力が見られる。これに対して、図8A、図8Bに示すように、外縁が曲線を含む形状で形成された電極領域を備えた本実施の形態の圧電薄膜共振子では、図8Cや図8Dに示すような応力集中も見られず、絶対値も低くなっている。このように、外縁が曲線を含む形状で形成された電極領域を備えた本実施の形態の圧電薄膜共振子では、応力集中が生じないので、従来例に対して本実施の形態の方が積層膜にかかる応力の許容範囲が広くとれ、製造性を向上することができる。
また、図8A〜図8Cに示すように、電流の流れる方向に対して略直交する対称軸を持つ圧電薄膜共振子に対して、図8Dに示すように対称軸を持たない圧電薄膜共振子では、残留応力に対称性が見られない。図8Dに示す圧電薄膜共振子のように残留応力に対称性がない場合、中空構造において不均一な強度分布を持つことになり、機械的強度の観点から望ましくない。さらに、電極形状に対称軸があったとしても、この対称軸が電流の向きに対して略直交あるいは略平行となっていない場合は、圧電膜3を挟み上部電極4と下部電極2が重なり合っている領域の周辺における残留応力は不均一な分布となり、機械的強度の観点から望ましくない。
図9Aは、電極領域の対称軸が電流の流れる方向に対して略直交する場合の残留応力の解析結果を示す。図9Bは、電極領域の対称軸が電流の流れる方向に対して直交していない場合の残留応力の解析結果を示す。図9Aは、本実施の形態の圧電薄膜共振子S2,S4の電極領域における残留応力の解析結果を示し、その対称軸L11が電流の向きに対して略直角となり、対称軸L12が略平行となっている。一方、図9Bは、圧電薄膜共振子S2,S4を電流の向き(矢印AまたはBに示す方向)に対して傾けたものである。圧電薄膜共振子をその対称軸を電流の向きに対して傾けて配置した場合、図9Bに示すように、残留応力に偏りが生じる。また、圧電薄膜共振子をその対称軸を電流の向きに対して傾けて配置した場合、隣接する他の圧電薄膜共振子との間に無駄な空間が生じ、細密配置または高密度実装する観点からも望ましくない。
また、図3A〜図3Bに示す製造工程は、基板1の表面に加工を施していない平坦基板を用いていることから、従来例の図16に示す断面構造を持つ圧電薄膜共振子の製造工程と比較しても、製造工程を削減でき低コスト化に好適である。本実施の形態の製造余裕度向上に好適な圧電薄膜共振子の設計により、生産性の向上が図れる。
本実施の形態では、直列腕の圧電薄膜共振子に対して言及しているが、並列腕の圧電薄膜共振子に対しても、同様の実施形態が可能である。ラダー型フィルタの設計では、図1に示した様に、複数の圧電薄膜共振子を直列および並列に接続するが、フィルタサイズの小型化の観点からは、並列接続された方向の長さを短縮させることも重要であるが、複数の圧電薄膜共振子が直列接続された方向の長さを短縮させることがより効果的である。この方向の長さの短縮には、圧電薄膜共振子の細密配置と共振器形状の扁平化が有効である。「扁平化」とは、図4A及び図4Bに示す圧電薄膜共振子を例にとると、圧電薄膜共振子を点線L1や一点鎖線L3で示す対称軸の軸方向(圧電薄膜共振子の電流の向きに略直交する方向)に伸張し、実線L2で示す対称軸の軸方向に縮めることを意味する。
また、本実施の形態のフィルタでは、圧電薄膜共振子間の間隔幅を短縮することにより、素子サイズの縮小が図れるだけでなく、圧電薄膜共振子間の配線抵抗を低減できることからフィルタの低損失化が可能となる。図10は、直列腕の圧電薄膜共振子間隔を変化させた場合のフィルタ通過特性の最低損失の変化を示す。図10に示すように、圧電薄膜共振子の間隔が減少するのに従い、最低損失が低減していることが分かる。圧電薄膜共振子の間隔を小さくする目的からも、実施の形態に示すように隣接する圧電薄膜共振子の電極形状を各々が対向する部分の一部が相補形状とすることで、各々の圧電薄膜共振子を細密に配置することが有効となる。
〔2.圧電薄膜共振子の構成(第2の構成)〕
図11は、本実施の形態に係るフィルタを構成する圧電薄膜共振子の第2の構成を示す。図11に示す圧電薄膜共振子は、図1に示したラダー型フィルタの直列腕の圧電薄膜共振子S1〜S4を示している。また、Z−Z部における断面図は、前述した図4Bと同等である。また、本実施の形態の圧電薄膜共振子は、図3A〜図3Cに示した製造工程に従って作製することができる。また、上部電極14と下部電極の12とが重なっている領域(電極領域)14a〜14dにドットハッチングを付与している。個々の電極領域の形状は、対向する二辺(電極領域14aの場合、外縁部14eと外縁部14f)が非平行の形状をなし、隣接する圧電薄膜共振子の上部電極と下部電極の重なり領域の間隔(例えば、電極領域14aの外縁部14fと電極領域14bの外縁部14gとの間隔)が略一定となっている。各々の圧電薄膜共振子は、図11に示す点線L21または一点鎖線L22に対して略線対称の形状をなしている。また、点線L21と一点鎖線L22で示した対称軸は、矢印AまたはBに示す方向に流れる電流の向きに対して略直交している。
図12A及び図12Bは、本実施の形態の圧電薄膜共振子の共振特性を示す。図12A及び図12Bに示す共振特性が得られた圧電薄膜共振器の電極領域の形状は、図11に示す形状であり、面積は図7A及び図7Bに示した電極形状が長方形の圧電薄膜共振子と同じ面積としている。図12A及び図12Bは、1ポート特性の周波数に対するリターンロスを示す。本実施の形態の電極領域を有する圧電薄膜共振器の共振特性を図7A及び図7Bと比較すると、全周波数域および特に共振周波数以下でスプリアスに顕著な差が見られる。
本実施の形態の圧電薄膜共振子をフィルタに用いることにより、圧電薄膜共振子間の間隔を短縮でき、各々の圧電薄膜共振子を細密に配置することが可能となる。よって、フィルタを小型化することができるとともに、圧電薄膜共振子間の配線抵抗を低減できることからフィルタの低損失化が可能となる。
〔3.デュープレクサの構成〕
図13は、本実施の形態の圧電薄膜共振子または上記フィルタを備えたデュープレクサの一例を示す。図13に示すように、デュープレクサ62は、受信フィルタ62aと送信フィルタ62bとを備えている。また、受信フィルタ62aには、例えばバランス出力に対応した受信端子63a及び63bが接続されている。また、送信フィルタ62bは、パワーアンプ64を介して送信端子65に接続している。アンテナ端子と各フィルタ間には、インピーダンス調整のために、必要に応じ整合回路(例えば位相器)が付加された構成となる場合もある。ここで、受信フィルタ62a及び送信フィルタ62bには、本実施の形態における圧電薄膜共振子が含まれている。
受信動作を行う際、受信フィルタ62aは、アンテナ端子61を介して入力される受信信号のうち、所定の周波数帯域の信号のみを通過させ、受信端子63a及び63bから外部へ出力する。また、送信動作を行う際、送信フィルタ62bは、送信端子65から入力されてパワーアンプ64で増幅された送信信号のうち、所定の周波数帯域の信号のみを通過させ、アンテナ端子61から外部へ出力する。
以上のように本実施の形態の圧電薄膜共振子またはフィルタを、デュープレクサの受信フィルタ62a及び送信フィルタ62bに備えることで、圧電薄膜共振子の横モードの不要波による影響を抑制し、中空構造をなす電極の機械強度を損なうことなく、生産性に優れた小型のデュープレクサを実現することができる。
なお、図13に示すデュープレクサの構成は一例であり、他の形態のデュープレクサを含む通信モジュールに本発明の圧電薄膜共振子を用いたフィルタを搭載しても、同様の効果が得られる。
〔4.通信装置の構成〕
図14は、本実施の形態の通信モジュールを備えた通信装置の一例として、携帯電話端末のRFブロックを示す。また、図14に示す構成は、GSM(Global System for Mobile Communications)通信方式及びW−CDMA(Wideband Code Divition Multiple Access)通信方式に対応した携帯電話端末の構成を示す。また、本実施の形態におけるGSM通信方式は、850MHz帯、950MHz帯、1.8GHz帯、1.9GHz帯に対応している。また、携帯電話端末は、図14に示す構成以外にマイクロホン、スピーカー、液晶ディスプレイなどを備えているが、本実施の形態における説明では不要であるため図示を省略した。ここで、受信フィルタ73a、77、78、79、80、および送信フィルタ73bには、本実施の形態における圧電薄膜共振子またはフィルタが含まれている。
まず、アンテナ71を介して入力される受信信号は、その通信方式がW−CDMAかGSMかによってアンテナスイッチ回路72で、動作の対象とするLSIを選択する。入力される受信信号がW−CDMA通信方式に対応している場合は、受信信号をデュープレクサ73に出力するように切り換える。デュープレクサ73に入力される受信信号は、受信フィルタ73aで所定の周波数帯域に制限されて、バランス型の受信信号がLNA74に出力される。LNA74は、入力される受信信号を増幅し、LSI76に出力する。LSI76では、入力される受信信号に基づいて音声信号への復調処理を行ったり、携帯電話端末内の各部を動作制御する。
一方、信号を送信する場合は、LSI76は送信信号を生成する。生成された送信信号は、パワーアンプ75で増幅されて送信フィルタ73bに入力される。送信フィルタ73bは、入力される送信信号のうち所定の周波数帯域の信号のみを通過させる。送信フィルタ73bから出力される送信信号は、アンテナスイッチ回路72を介してアンテナ71から外部に出力される。
また、入力される受信信号がGSM通信方式に対応した信号である場合は、アンテナスイッチ回路72は、周波数帯域に応じて受信フィルタ77〜80のうちいずれか一つを選択し、受信信号を出力する。受信フィルタ77〜80のうちいずれか一つで帯域制限された受信信号は、LSI83に入力される。LSI83は、入力される受信信号に基づいて音声信号への復調処理を行ったり、携帯電話端末内の各部を動作制御する。一方、信号を送信する場合は、LSI83は送信信号を生成する。生成された送信信号は、パワーアンプ81または82で増幅されて、アンテナスイッチ回路72を介してアンテナ71から外部に出力される。
以上のように本実施の形態の圧電薄膜共振子を用いたフィルタ、または通信モジュールを通信装置に備えることで、圧電薄膜共振子の横モードの不要波による影響を抑制し、中空構造をなす電極の機械強度を損なうことなく、生産性に優れた小型のデュープレクサを実現することができる。
以上、本発明の実施の形態について詳述したが、本発明は係る特定の実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
例えば、基板の材料としては、シリコン、ガラス、GaAs等を用いることができる他、他素子が形成された基板も用いることができる。また、電極の材料としては、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、タンタル(Ta)、白金(Pt)、ルテニウム(Ru)、ロジウム(Rh)、イリジウム(Ir)、クロム(Cr)、チタン(Ti)等、あるいはこれらを組み合わせた積層材料を用いることができる。また、圧電膜の材料としては、窒化アルミニウム(AlN)、酸化亜鉛(ZnO)、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)、チタン酸鉛(PbTiO3)等を用いることができるが、実用的には、音速、温度特性、Q値および成膜技術の容易性の観点からAlNが用いられていることが多い。
また、上記実施の形態の膜構成は圧電薄膜共振子の主要構成要素のみを記しており、例えば、上部電極の上に誘電体膜が設けられていてもよい。上部電極の上の誘電体膜は、例えば、パシベーション膜あるいは周波数調整用としての役割を担う。また、フィルタの入出力端子や接地端子には、外部回路とワイヤ接続やバンプ接続を行う場合の下地層となるAu等を主成分としたパッド部が設けられていてもよく、パット部を形成する時に同時に圧電薄膜共振子間にAuパターンを形成していてもよい。
〔5.実施の形態の効果、他〕
本実施の形態によれば、圧電薄膜共振子の横モードの不要波による影響を抑制しつつ、中空構造をなす電極の機械強度を損なうことなく、生産性に優れた圧電薄膜共振子を実現することができる。また、そのような圧電薄膜共振子を搭載することで、フィルタ、デュープレクサ、通信装置を小型化することができる。
なお、本実施の形態では、互いに隣接する2つの圧電薄膜共振子の外辺の形状に特徴を有する構成について説明したが、隣接する3つの圧電薄膜共振子の外辺の形状を本実施の形態の構成と同様の形状とすることで、本実施の形態と同様の効果を得ることができる。
(付記1)
基板と、前記基板上に形成された下部電極と、前記基板上および前記下部電極上に形成された圧電膜と、前記圧電膜上に前記下部電極と対向する部分を有するように形成された上部電極とを積層して備えた圧電薄膜共振子を複数備えたフィルタであって、
前記上部電極と前記下部電極とが重なっている電極領域の形状は、少なくとも一組の対向する非平行な外辺を有する形状であり、
前記一組の外辺のうちいずれか一方の外辺が、隣接する他の圧電薄膜共振子の電極領域と対向し、
前記一方の外辺に対向する前記他の圧電薄膜共振子の電極領域の外辺と、前記一方の外辺との間隔が一定である、フィルタ。
(付記2)
前記複数の圧電薄膜共振子のうち互いに隣接する圧電薄膜共振子は、隣接対向する電極領域の外郭形状が相補形状となっている、付記1記載のフィルタ。
(付記3)
前記電極領域の外辺は、曲線を含む、付記1または2に記載のフィルタ。
(付記4)
前記電極領域の形状は、略線対称である、付記1から3のいずれか一項に記載のフィルタ。
(付記5)
少なくとも隣り合う3つの圧電薄膜共振子の電極領域の間隔が略一定となって配置されている、付記1記載のフィルタ。
(付記6)
前記電極領域の略線対称軸が電流が流れる向きと略平行あるいは略直角になっている、付記1に記載のフィルタ。
(付記7)
基板と、前記基板上に形成された下部電極と、前記基板上および前記下部電極上に形成された圧電膜と、前記圧電膜上に前記下部電極と対向する部分を有するように形成された上部電極とを積層して備えた圧電薄膜共振子を複数備えたフィルタであって、
前記圧電薄膜共振子は、前記上部電極と前記下部電極とが重なった電極領域において、電流が流れる向きに対して平行な方向の長さが電流が流れる向きに対して垂直な方向の長さより短く、
少なくとも2つの隣接する圧電薄膜共振子の電極領域の間隔が略一定となっている、フィルタ。
(付記8)
前記電極領域に対応する部位における前記下部電極の下方に、前記電極領域を包含する空隙を備えた、付記1〜7の何れか一項記載のフィルタ。
(付記9)
圧電膜と上部電極と下部電極とを備えた積層膜は、前記基板の平坦主面上に形成され、
前記電極領域に対応する部位における前記下部電極の下方に、前記電極領域を包含する略ドーム形状の空隙を備えた、付記1〜7の何れか一項記載のフィルタ。
(付記10)
圧電膜と上部電極と下部電極とを備えた積層膜の応力が圧縮応力である、付記1〜7の何れか一項記載のフィルタ。
(付記11)
前記圧電膜は、窒化アルミニウムまたは酸化亜鉛を主成分とする材料で形成されている、付記1〜10の何れか一項記載のフィルタ。
(付記12)
前記下部電極および上部電極の少なくとも一方は、ルテニウム膜を含む、付記1〜11の何れか一項記載のフィルタ。
(付記13)
前記圧電膜の外周の少なくとも一部は、前記電極領域の外周より内側に設けられている、付記1〜12の何れか一項記載のフィルタ。
(付記14)
前記圧電薄膜共振子がラダー型に接続されている、付記1〜13の何れか一項記載のフィルタ。
(付記15)
付記1〜14の何れか一項記載のフィルタを備えた、デュープレクサ。
(付記16)
付記1〜14の何れか一項記載のフィルタを備えた、通信装置。
本発明の圧電薄膜共振子は、携帯電話端末などのように各種通信装置に搭載されているフィルタやデュープレクサに有用である。
本実施の形態の圧電薄膜共振子を用いたラダー型フィルタの構成を示す回路図 圧電薄膜共振子の断面図 圧電薄膜共振子の製造工程を説明するための図であり、基板上に犠牲層が形成された状態を示す断面図 圧電薄膜共振子の製造工程を説明するための図であり、基板上に積層膜が形成された状態を示す断面図 圧電薄膜共振子の製造工程を説明するための図であり、犠牲層が除去された状態を示す断面図 本実施の形態の圧電薄膜共振子の上面図 図4AにおけるZ−Z部の断面図 本実施の形態の圧電薄膜共振子の共振特性を示すスミスチャート 本実施の形態の圧電薄膜共振子の共振特性を示す特性図 本実施の形態の圧電薄膜共振子の共振特性を示すスミスチャート 本実施の形態の圧電薄膜共振子の共振特性を示す特性図 従来の圧電薄膜共振子の共振特性を示すスミスチャート 従来の圧電薄膜共振子の共振特性を示す特性図 本実施の形態の圧電薄膜共振子の応力分布を示す模式図 本実施の形態の圧電薄膜共振子の応力分布を示す模式図 角部を有する圧電薄膜共振子の応力分布を示す模式図 従来の圧電薄膜共振子の応力分布を示す模式図 本実施の形態の圧電薄膜共振子の応力分布を示す模式図 対称軸を傾けた圧電薄膜共振子の応力分布を示す模式図 圧電薄膜共振子の間隔と最低損失の関係を示す特性図 本実施の形態の圧電薄膜共振子の他の構成例を示す上面図 図11に示す圧電薄膜共振子の共振特性を示すスミスチャート 図11に示す圧電薄膜共振子の共振特性を示す特性図 デュープレクサの構成を示すブロック図 通信装置の構成を示すブロック図 従来の圧電薄膜共振子の構成を示す断面図 従来の圧電薄膜共振子の構成を示す断面図 従来の圧電薄膜共振子の構成を示す断面図 従来の圧電薄膜共振子の構成を示す断面図
符号の説明
1 基板
2 下部電極
3 圧電膜
4 上部電極
6 空隙

Claims (6)

  1. 基板と、前記基板上に形成された下部電極と、前記基板上および前記下部電極上に形成された圧電膜と、前記圧電膜上に前記下部電極と対向する部分を有するように形成された上部電極とを積層して備えた圧電薄膜共振子を複数備えたフィルタであって、
    前記上部電極と前記下部電極とが重なっている電極領域の形状は、少なくとも一組の対向する非平行な外辺を有する形状であり、
    前記一組の外辺のうちいずれか一方の外辺が、隣接する他の圧電薄膜共振子の電極領域と対向し、
    前記一方の外辺に対向する前記他の圧電薄膜共振子の電極領域の外辺と、前記一方の外辺との間隔が一定である、フィルタ。
  2. 前記複数の圧電薄膜共振子のうち互いに隣接する圧電薄膜共振子は、対向する電極領域の形状が相補形状となっている、請求項1記載のフィルタ。
  3. 前記電極領域の外辺は、曲線を含む、請求項1または2に記載のフィルタ。
  4. 前記電極領域の形状は、略線対称である、請求項1から3のいずれか一項に記載のフィルタ。
  5. 請求項1から4のいずれか一項に記載のフィルタを備えた、デュープレクサ。
  6. 請求項1から4のいずれか一項に記載のフィルタを備えた、通信装置。
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