JP2009526732A - 複数の高温帯域を備えるヒーター及びそのヒーターを備える光ファイバーの母材から光ファイバーを線引きするための溶解炉並びにそれを用いた光ファイバーの線引き方法 - Google Patents

複数の高温帯域を備えるヒーター及びそのヒーターを備える光ファイバーの母材から光ファイバーを線引きするための溶解炉並びにそれを用いた光ファイバーの線引き方法 Download PDF

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Abstract

本件発明は、大口径の母材から光ファイバーを線引きするための溶解炉に設置し、母材を加熱・溶融する環状の加熱素子に関する。加熱素子は、異なる加熱温度とした少なくとも2つの高温帯域を備え、高温帯域のうちの1つは、光ファイバーを線引きするのに十分な温度に母材を加熱するために母材のネックダウン領域に配置する。また、高温帯域は、母材から光ファイバーを線引きするのに十分な温度に母材を加熱するための第1加熱ユニットと、第1加熱ユニットに比べて相対的に低い温度に母材の表面を加熱するための第2加熱ユニットとを含む。
【選択図】図1

Description

本件発明は、光ファイバーの母材を用いて光ファイバーを線引きする技術に関するものであり、特に、光ファイバーの母材を溶融して線引きするための溶解炉に関する。
一般に、光ファイバーは光ファイバーの母材と呼ばれる透明なガラス焼結体を高温の溶解炉で線引きすることにより製造される。溶解炉には電気抵抗方式溶解炉と誘導方式溶解炉とがあることが知られている。
典型的な光ファイバー線引き溶解炉の構造を図3に示す。図3に示す光ファイバー線引き溶解炉は例えば、特許文献1や特許文献2に詳しく説明されている。
図3に示すように、ステンレススチール材質の炉体11には光ファイバーの母材12を加熱して溶融させるための環状のヒーター13が備えられている。前記ヒーター13の内側には、上部開口部を通じて供給される光ファイバーの母材12を収容するためのコアチューブ17が垂直に配置される。一般に、このコアチューブ17は炭素材質からなり、前記炉体11に固定される。また、コアチューブ17はヒーター13を中心にして上部シリンダー部と下部シリンダー部とに分けられる。上部シリンダー部の直径は少なくとも母材の直径よりは大きくなければならない。
また、ヒーター13から放出された熱の外部拡散を防止するために炉体11とヒーター13との間には断熱材16が充填される。上部開口部はキャップ部材18によってカバーされる。
コアチューブ17の上部シリンダー部には窒素やヘリウムのような不活性ガス20をコアチューブ17内に流入させるためのガス流入口17aが設けられる。ガス流入口17aを通じてコアチューブ内に流入した不活性ガス20は、母材12に沿って移動した後コアチューブ17の下部開口部を通じて外部に抜け出す。従って、溶解炉の内部は不活性ガス20雰囲気に維持され、外部空気の流入によるヒーター13やコアチューブ17の酸化を最小化することができる。
上部開口部を通じてコアチューブ17内に収容された光ファイバーの母材12は、ヒーター13により加熱溶融され、ヒーター13により高温帯域(加熱帯域)が形成されるネックダウン領域で微細直径の光ファイバー15に線引きされる。
そして、光ファイバーの母材の線引き技術が発達するにつれて、生産性向上のための方策として母材の直径を大きくしてきた。すなわち、1つの母材から最大長さの光ファイバーを線引きするために大口径の母材を使用することが一般化している。しかし、母材の大きさが増加すれば、母材の大きさに比例して光ファイバーの直径が大きくなるため、線引き速度を速めることが困難である。そのため、光ファイバーの母材を大きくしたとしても、光ファイバーの線引き速度は約1000mpm〜2000mpm以上に増加できないという問題点がある。
そして、光ファイバーの母材の送り速度と光ファイバーの線引き速度との間には以下の数1の関係が成立する。
Figure 2009526732
すなわち、光ファイバーの母材の送り速度は母材の外径の二乗に反比例するので、母材の溶解炉の内部での滞留時間は、母材の外径の二乗に比例することになる。従って、光ファイバーの母材の外径を大きくすれば母材の溶解炉の内部での滞留時間が増加し、後述するような様々な問題が発生する。
光ファイバー線引き工程におけるヒーターの温度は、SiOの融点である1700℃以上とすべきであり、一般的には約1800℃ないし2300℃の温度とする。このような温度条件ではSiOが溶融しながら一定量のSiOが蒸発する。このようにして蒸発したSiOは母材のネックダウン領域よりも上の部分に付着する。
図4に示すように、ヒーター13の高温帯域で母材12を構成するSiOが溶融しながらネックダウン領域(A)を形成し、このネックダウン領域(A)から光ファイバー15が線引きされる。このとき、ネックダウン領域から微量のSiOが蒸発して母材の上の部分(B)に流れてゆく。このように、蒸発したSiOは熱泳動現象によって相対的に低温であるネックダウン領域よりも上の部分に付着して汚染帯域21を形成する。
母材の外径が小さいときには滞留時間が短いので図4のように蒸発したSiOが再付着する量が少なく、大きな問題にはならないが、母材の外径が大きくなれば再付着するSiOの量が多くなって問題が発生する。
そして母材が下降すると、蒸発したSiOが付着している汚染帯域21がネックダウン領域(A)に進入し、母材の表面に不均一に付着した付着物の存在により、母材のネックダウン領域には図4のような皺22が形成される。このように母材の表面に皺が形成されると、光ファイバーの非円率(ovality)が悪くなったり、線引き工程中に光ファイバーの断線が発生する。
特開平3−24421号公報 米国特許第5637130号
本件発明は、前記従来技術の問題点を解決するために創案されたものであって、大口径の光ファイバーの母材を線引きするに当って、蒸発したSiOの付着による汚染に起因する問題を解決できる新しいヒーター構造を提供することを目的としている。
本件発明の第1の態様は、大口径の母材から光ファイバーを線引きするために母材を加熱・溶融する溶解炉に配置する環状の加熱素子であり、加熱素子が異なる加熱温度を持つ少なくとも2つの高温帯域を備え、高温帯域のうちの1つは、光ファイバーを線引きするのに十分な温度に母材を加熱するために、母材のネックダウン領域に配置することを特徴としている。
そして高温帯域は、母材から光ファイバーを線引きするのに十分な温度に母材を加熱するための第1加熱ユニットと当該第1加熱ユニットに比べて相対的に低い温度で前記母材の表面を加熱するための第2加熱ユニットとを備え、第1加熱ユニットは母材のネックダウン領域に配置し、第2加熱ユニットはネックダウン領域よりも上の部分に配置する。
また、加熱素子はグラファイト又はカーボン材質の電気抵抗式ヒーターであり、第1加熱ユニットの厚さが第2加熱ユニットの厚さより相対的に薄いものである。
本件発明の第2の態様は、光ファイバーの母材を供給する上部開口部と当該母材から線引きされた光ファイバーを排出する下部開口部とを備える炉体と、この炉体の内部に不活性ガスを流入させて炉体の内部を不活性ガス雰囲気に維持するためのガス供給手段と、炉体の内部に設置した、光ファイバーを線引きするために光ファイバーの母材を加熱する加熱手段とを備える光ファイバー線引き溶解炉であり、加熱手段が、母材から光ファイバーを線引きするのに十分な温度に母材を加熱するための第1加熱ユニットと、第1加熱ユニットに比べて相対的に低い温度に母材の表面を加熱するための第2加熱ユニットとからなり、第1加熱ユニットは母材のネックダウン領域に配置し、第2加熱ユニットはネックダウン領域よりも上の部分に配置したことを特徴としている。
本件発明の第3の態様は、母材から光ファイバーを線引きするのに十分な温度に母材を加熱するための第1加熱ユニットと、第1加熱ユニットに比べて相対的に低い温度に母材の表面を加熱するための第2加熱ユニットとを含むグラファイト又は炭素材質の電気抵抗式ヒーターを備える溶解炉で母材を溶融して光ファイバーを線引きする方法であり、以下の(a)〜(e)を含むことを特徴としている。
(a)母材を溶解炉に供給する。
(b)母材のネックダウン領域が第1加熱ユニットに対応し、母材のネックダウン領域よりも上の部分が第2加熱ユニットに対応するように母材とヒーターとを配置する
(c)ヒーターに電源を供給することで第1加熱ユニットと第2加熱ユニットとを異なる温度で発熱させる。
(d)ネックダウン領域の母材の表面を第1温度に加熱して光ファイバーを線引きする。
(e)ネックダウン領域よりも上の部分の母材の表面を第1温度より低い第2温度に加熱する。
以下、添付図面を参照しながら本件発明の好ましい実施形態を詳しく説明する。説明に先立ち、本明細書及び請求範囲に使われた用語や単語は通常的や辞書的な意味に限定して解釈されるものではなく、発明者は自らの発明を最善の方法で説明するために用語の概念を適切に定義することができるという原則に則して、本件発明の技術的思想に合致する意味と概念とに解釈されるべきものであることを断っておく。従って、本明細書に記載された実施形態は、本件発明の最も好ましい1つの実施形態に過ぎず、本件発明の技術的思想の全てを代弁するものではなく、本出願時点においてこれらに代替できる多様な均等物と変形例があり得ることを理解しなければならない。
図1に、本件発明の好ましい1つの実施形態である新しい構造のヒーターを備える光ファイバー線引き溶解炉の構成の概略を示す。
図1に示すように、本件発明による光ファイバー線引き溶解炉は、通常はステンレススチール製の円筒状の炉体110を備える。炉体110の上端には光ファイバーの母材120が供給される上部開口部180が形成され、底部には母材120から線引きされた光ファイバー150が通過して排出される下部開口部141が形成されている。また、炉体100の上端部の片側には窒素やヘリウムガスのような不活性ガス121を溶解炉の内部に流入させるためのガス引入口171が形成されている。このガス引入口171から流入した不活性ガスは、母材120に沿って下降した後、下部開口部141から外部に排出される。これにより、溶解炉の内部は不活性ガス雰囲気に維持される。
炉体110の内部には、供給された母材120を溶融空間内に支持し、母材120を加熱・溶融させて光ファイバーとして線引きするための加熱手段130と、この加熱手段から放射される熱が外部に拡散することを防止するための断熱材160と、光ファイバーの母材を支持した状態で加熱手段からの熱を間接的に母材に伝達するための内筒140とを備えている。加熱手段130は電源(図示せず)から電気を供給され、抵抗によって発熱するグラファイトや炭素材質のヒーターであって、溶解炉の内部温度を約1800℃〜2300℃で維持して光ファイバーの母材120を溶融させる。また他の例として、加熱手段130は内筒140と炉体110との間の空間に設けたコイル(図示せず)を用い、誘導加熱方式で母材を加熱することもできる。
本件発明によれば、加熱手段130は、少なくとも2つの異なる高温帯域を備える。すなわち、図2に示すように、本件発明の加熱手段130は、母材120から光ファイバー150を線引きするのに十分な温度(T:1800℃〜2300℃)にネックダウン領域の母材を加熱するための溶融帯域130a(第1高温帯域)と、母材を1500℃〜1800℃の温度(T)に加熱して、母材の表面に付着した異物をファイアポリシング(fire polishing)効果を用いて除去するか、付着したSiO粒子を焼結させるための予熱帯域130b(第2高温帯域)とを備える。
溶融帯域130aは、母材から光ファイバーが線引きされるネックダウン領域(第1加熱領域)に対応し、予熱帯域130bはネックダウン領域よりも上の部分、すなわちネックダウン領域で蒸発したSiO粒子が熱泳動現象によって付着する部分(第2加熱領域)に対応する。
加熱手段130に異なる高温帯域を形成するためには様々な方法が採択できる。すなわち、それぞれ個別に温度制御が可能な2つの加熱手段を連結するか、ターン数が異なるコイルを用いて異なる温度を備える加熱手段とすることもできる。
もし、加熱手段130がグラファイト又は炭素材質の抵抗式ヒーターである場合には、図2のようにヒーターの厚さを異なる設計とすれば良い。第2高温帯域130bの厚さ(d)を第1高温帯域130aの厚さ(d)より大きく設定(d>d)すれば、全帯域で異なる温度を達成できる。すなわち、厚さが相対的に厚い第2高温帯域の加熱温度(T)が第1高温帯域の加熱温度(T)より低くなる。
単一の高温帯域を持つ既存のヒーターと、異なる複数の高温帯域を持つ本件発明のヒーターとを使用して母材から光ファイバーを線引きした後、線引きされた光ファイバーに対して非円率と断線品質とを測定した。結果を以下の表1に示す。
Figure 2009526732
表1から分かるように、本件発明によるヒーターでは、ヒーターの帯域を溶融帯域と予熱帯域とに分割し、蒸発したSiO粒子が付着する帯域を所定の温度(T)に予熱しているため、光ファイバーの非円率と断線率とが著しく向上している。
以下、上記構成を備えるヒーターを配置した本件発明の溶解炉を用いて母材から光ファイバーを線引きする工程について詳しく説明する。
炉体110の上部開口部180を通じて公知の供給装置(図示せず)を用いて母材120を溶解炉の内部に供給する。次いで、電源(図示せず)から加熱手段130に電流を供給する。その結果、加熱手段130の第1高温帯域130aは温度T(1800℃〜2300℃)で発熱し、第2高温帯域130bは温度T(1500℃〜1800℃)で発熱する。
これによって、ネックダウン領域(第1加熱領域)に該当する母材の帯域を加熱・溶融し、その下端から光ファイバー150を線引きする。一方、ネックダウン領域の母材の表面で蒸発したSiO粒子は、ネックダウン領域よりも上の部分(第2加熱領域)に移動して温度T(1500℃〜1800℃)に加熱されて除去されるか母材の表面に焼結される。このようにして、蒸発したSiO粒子が熱泳動現象によってネックダウン領域よりも上の部分に再付着することが防止され、又は異物が不均一に形成されることが防止される。
以上、本件発明の好ましい実施形態を以下に示す図面とともに具体的に説明したが、これら図面は本件発明の好ましい実施形態を例示するものである。従って、本件発明の技術思想はその図面のみに限定されて解釈されるものではない。
本件発明に係る光ファイバーは、光ファイバーの母材の表面を異物の付着の無いきれいな状態に維持できるので、非円率と断線率とが著しく小さいものである。
本件発明に係る1つの好ましい実施形態における光ファイバー線引き溶解炉を示す断面図である。 本件発明に係る1つの好ましい実施形態におけるヒーターの温度分布を示すグラフである。 従来の光ファイバー線引き溶解炉の構造を示す断面図である。 蒸発したSiOによってネックダウン領域よりも上の部分に汚染帯域が形成された状態を示す図である。
符号の説明
11、110 炉体
12、120 母材
13、130 ヒーター(加熱手段)
15、150 光ファイバー
16、160 断熱材
17 コアチューブ
17a ガス流入口
18 キャップ部材
20、121 不活性ガス
21 汚染帯域
22 皺
130a 溶融帯域(第1高温帯域)
130b 予熱帯域(第2高温帯域)
140 内筒
141 下部開口部
171 ガス引入口
180 上部開口部
A ネックダウン領域
B 母材の上の部分

Claims (11)

  1. 大口径の母材から光ファイバーを線引きするための溶解炉に設置して当該母材を加熱・溶融するための環状の加熱素子であって、
    前記加熱素子は異なる加熱温度を持つ少なくとも2つの高温帯域を備え、当該高温帯域のうちの1つは光ファイバーを線引きするのに十分な温度に前記母材を加熱するために当該母材のネックダウン領域に配置したことを特徴とする加熱素子。
  2. 前記高温帯域は、前記母材から光ファイバーを線引きするのに十分な温度に当該母材を加熱するための第1加熱ユニットと当該第1加熱ユニットに比べて相対的に低い温度で当該母材の表面を加熱するための第2加熱ユニットとを備え、当該第1加熱ユニットは当該母材のネックダウン領域に配置し、当該第2加熱ユニットは当該ネックダウン領域よりも上の部分に配置したことを特徴とする請求項1に記載の加熱素子。
  3. 前記加熱素子はグラファイト又はカーボン材質の電気抵抗式ヒーターであることを特徴とする請求項2に記載の加熱素子。
  4. 前記第1加熱ユニットの厚さは前記第2加熱ユニットの厚さより相対的に薄いことを特徴とする請求項3に記載の加熱素子。
  5. 前記第1加熱ユニットの加熱温度は1800℃〜2300℃であり、前記第2加熱ユニットの加熱温度は1500℃〜1800℃であることを特徴とする請求項3に記載の加熱素子。
  6. 光ファイバーの母材を供給する上部開口部と当該母材から線引きされた光ファイバーを排出する下部開口部とを備える炉体と、当該炉体の内部に不活性ガスを流入させて当該炉体の内部を不活性ガス雰囲気に維持するためのガス供給手段と、当該炉体の内部に設置した、光ファイバーを線引きするために光ファイバーの当該母材を加熱する加熱手段とを備える光ファイバー線引き溶解炉であって、
    前記加熱手段が、前記母材から光ファイバーを線引きするのに十分な温度に当該母材を加熱するための第1加熱ユニットと、当該第1加熱ユニットに比べて相対的に低い温度に当該母材の表面を加熱するための第2加熱ユニットとからなり、当該第1加熱ユニットは当該母材のネックダウン領域に配置し、当該第2加熱ユニットは前記ネックダウン領域よりも上の部分に配置したことを特徴とする光ファイバー線引き溶解炉。
  7. 前記加熱手段がグラファイト又はカーボン材質の電気抵抗式ヒーターであることを特徴とする請求項6に記載の光ファイバー線引き溶解炉。
  8. 前記第1加熱ユニットの厚さが前記第2加熱ユニットの厚さより相対的に薄いことを特徴とする請求項7に記載の光ファイバー線引き溶解炉。
  9. 前記第1加熱ユニットの加熱温度が1800℃〜2300℃であり、前記第2加熱ユニットの加熱温度が1500℃〜1800℃であることを特徴とする請求項8に記載の光ファイバー線引き溶解炉。
  10. 前記母材から光ファイバーを線引きするのに十分な温度に当該母材を加熱するための第1加熱ユニットと、当該第1加熱ユニットに比べて相対的に低い温度に当該母材の表面を加熱するための第2加熱ユニットとを含むグラファイト又は炭素材質の電気抵抗式ヒーターを設置した前記溶解炉の内部で当該母材を溶融して光ファイバーを線引きする方法であって、
    以下の(a)〜(e)を含むことを特徴とする光ファイバー線引き方法。
    (a)前記母材を前記溶解炉の内部に供給する。
    (b)前記母材のネックダウン領域が前記第1加熱ユニットに対応し、当該母材のネックダウン領域よりも上の部分が前記第2加熱ユニットに対応するように、当該母材と前記ヒーターとを配置する。
    (c)前記ヒーターに電源を供給することで前記第1加熱ユニットと前記第2加熱ユニットとを異なる温度で発熱させる。
    (d)前記ネックダウン領域の前記母材の表面を第1温度に加熱して光ファイバーを線引きする。
    (e)前記ネックダウン領域よりも上の部分の前記母材の表面を前記第1温度より低い第2温度に加熱する。
  11. 前記第1温度が1800℃〜2300℃であり、前記第2温度が1500℃〜1800℃であることを特徴とする請求項10に記載の光ファイバー線引き方法。
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