JP2009289503A - 質量分析計 - Google Patents
質量分析計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009289503A JP2009289503A JP2008138859A JP2008138859A JP2009289503A JP 2009289503 A JP2009289503 A JP 2009289503A JP 2008138859 A JP2008138859 A JP 2008138859A JP 2008138859 A JP2008138859 A JP 2008138859A JP 2009289503 A JP2009289503 A JP 2009289503A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion trap
- linear ion
- ions
- mass
- mass spectrometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/4295—Storage methods
Abstract
【解決手段】質量選択的な排出を行う第1のリニアイオントラップと、そこから排出されたイオンを蓄積後質量選択的に排出を行う第2のリニアイオントラップを有し、第1のリニアイオントラップと第2のリニアイオントラップとのイオンの振動励起方向が直交することを特徴とする質量分析装置。
【選択図】図1
Description
Claims (16)
- 試料をイオン化させるイオン源と、
前記イオン源の後段に配置されイオンのトラップ及び質量選択的な排出が行われる複数のリニアイオントラップ部と、
前記複数のリアイオントラップ部の後段に配置されイオンを検出する検出器と、
前記複数のリニアイオントラップ部を構成する電極への電圧を制御する制御部と、を有する質量分析装置であって、
前記制御部は、前記複数のリニアイオントラップ部のうち隣接するリニアイオントラップ部にトラップされたイオンの前記リニアイオントラップ部の軸方向と直行する径方向における振動励起方向が異なるように電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置において、
前記制御部は、前記複数のリニアイオントラップ部のうち隣接するリニアイオントラップ部にトラップされたイオンの前記リニアイオントラップ部の軸方向と直行する径方向における振動励起方向が略直交するように電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。 - 試料をイオン化させるイオン源と、
前記イオン源によりイオン化されたイオンをトラップする第一のリニアイオントラップ部と、
前記第一のリニアイオントラップ部より質量選択的に排出されたイオンをトラップする第二のリニアイオントラップ部と、
前記第二のリニアイオントラップ部の後段に配置されイオンを検出する検出器と、
前記第一のリニアイオントラップ部及び前記第二のリニアイオントラップ部を構成する電極への電圧を制御する制御部と、を有する質量分析装置であって、
前記制御部は、前記第一のリニアイオントラップ部にトラップされたイオンと前記第二のリニアイオントラップ部にトラップされたイオンとの前記リニアイオントラップ部の軸方向と直行する径方向における振動励起方向が異なるように電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項3に記載の質量分析装置において、
前記制御部は、前記第一のリニアイオントラップ部にトラップされたイオンと前記第二のリニアイオントラップ部にトラップされたイオンとの前記リニアイオントラップ部の軸方向と直行する径方向における振動励起方向が略直交する電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項3に記載の質量分析装置において、
前記第一のリニアイオントラップ部及び前記第二のリニアイオントラップ部のうち少なくとも一つのリニアイオントラップの四重極ロッド電極間に羽根電極を有し、
前記制御部は、羽根電極へ交流電圧を印加することでリニアイオントラップ部にトラップされたイオンを振動励起させることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項5に記載の質量分析装置において、
前記第一のリニアイオントラップ部及び前記第二のリニアイオントラップ部を構成する前記四重極ロッド電極が同一であることを特徴とする質量分析装置。 - )
請求項3に記載の質量分析装置において、
前記制御部は、前記第一のリニアイオントラップ部が有する第一の四重極ロッド電極へ交流電圧を印加することにより前記第一のリニアイオントラップ部にトラップされたイオンを振動励起させ、前記第二のリニアイオントラップ部が有する第二の四重極ロッド電極へ交流電圧を印加することにより前記第二のリニアイオントラップ部にトラップされたイオンを振動励起させることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項3に記載の質量分析装置において、
前記制御部は、振動励起したイオンを引き出し電場を形成することにより前記四重極ロッドの軸方向へ排出する電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項3に記載の質量分析装置において、
前記制御部は、振動励起したイオンを、フリンジングフィールドを用いることにより前記四重極ロッドの軸方向へ排出する電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。 - イオンを質量選択する第1の質量分析部と、
前記質量選択部により質量選択したイオンを解離する解離部と、
前記解離部により解離したイオンを質量選択する第2の質量分析部からなる質量分析装置において、
前記第1の質量分析部、前記第2の質量分析部のいずれかが請求項1又は3に記載の質量分析装置であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項10に記載の質量分析装置において、
前記第1の質量分析部は請求項1又は3に記載の質量分析装置であり、
前記第2の質量分析部は飛行時間型質量分析計であることを特徴とする質量分析装置。 - イオン源で生成したイオンを導入し、2以上のリニアイオントラップ部を有する質量分析計を用いた質量分析方法であって、
前記2以上のリニアイオントラップ部のうち第一のリニアイオントラップ部にトラップしたイオンを第1の振動励起方向で振動励起させ四重極ロッド電極の中心軸方向へ質量選択的に排出する工程と、
前記第1のリニアイオントラップ部より排出されたイオンを第2のリニアイオントラップ部にトラップし、トラップしたイオンを、前記第1の振動励起方向とリニアイオントラップ部の軸方向と直行する径方向において異なる第2の振動励起方向で振動励起させ質量選択的に排出する工程と、
前記第2のリニアイオントラップ部より排出されたイオンを検出プロセスへと導入する工程と、を有することを特徴とする質量分析方法。 - 請求項12に記載の質量分析方法において、
前記第1の振動励起方向と前記第2の振動励起方向とが前記リニアイオントラップ部の軸方向と直行する径方向において略直交することを特徴とする質量分析方法。 - 請求項12に記載の質量分析方法において、
イオンの振動励起が補助交流電界による共鳴振動により行われることを特徴とする質量分析方法。 - 請求項13に記載の質量分析方法において、
上記補助交流電界が前記リニアイオントラップ部が有する前記四重極ロッド電極間に挿入された羽根電極への交流電圧の印加により形成されることを特徴とする質量分析方法。 - 請求項13に記載の質量分析方法において、
上記補助交流電界が前記四重極ロッド電極への補助交流電圧を印加により形成されることを特徴とする質量分析方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008138859A JP5449701B2 (ja) | 2008-05-28 | 2008-05-28 | 質量分析計 |
US12/472,899 US7982182B2 (en) | 2008-05-28 | 2009-05-27 | Mass spectrometer and mass spectrometry method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008138859A JP5449701B2 (ja) | 2008-05-28 | 2008-05-28 | 質量分析計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009289503A true JP2009289503A (ja) | 2009-12-10 |
JP5449701B2 JP5449701B2 (ja) | 2014-03-19 |
Family
ID=41378608
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008138859A Expired - Fee Related JP5449701B2 (ja) | 2008-05-28 | 2008-05-28 | 質量分析計 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7982182B2 (ja) |
JP (1) | JP5449701B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011523172A (ja) * | 2008-06-09 | 2011-08-04 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | タンデムイオントラップを操作する方法 |
JP2012094252A (ja) * | 2010-10-25 | 2012-05-17 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
JP2012521072A (ja) * | 2009-03-17 | 2012-09-10 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | イオン移動度に対するイオン光学ドレイン |
JP2015511708A (ja) * | 2012-03-13 | 2015-04-20 | エム ケー エス インストルメンツインコーポレーテッドMks Instruments,Incorporated | Art・msトラップにおける微量ガス濃度 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2950697B1 (fr) * | 2009-09-25 | 2011-12-09 | Biomerieux Sa | Procede de detection de molecules par spectrometrie de masse |
JP5600430B2 (ja) * | 2009-12-28 | 2014-10-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び質量分析方法 |
JP5950913B2 (ja) * | 2010-08-25 | 2016-07-13 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 有意な六重極および八重極成分を有する実質的に四重極の電場を提供するための方法およびシステム |
EP2798666B1 (en) | 2011-12-29 | 2018-07-04 | DH Technologies Development Pte. Ltd. | Ion extraction method for ion trap mass spectrometry |
WO2014075204A1 (zh) * | 2012-11-13 | 2014-05-22 | 北京理工大学 | 选择性离子弹射、传输和富集的装置和方法以及质量分析器 |
US10283335B2 (en) * | 2016-06-03 | 2019-05-07 | e-MSion, Inc. | Reflectron-electromagnetostatic cell for ECD fragmentation in mass spectrometers |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1021871A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Hitachi Ltd | イオントラップ質量分析装置 |
JP2002517888A (ja) * | 1998-06-01 | 2002-06-18 | エムディーエス インコーポレーテッド | 多重極質量分析計における軸方向射出 |
US20040135080A1 (en) * | 2003-01-10 | 2004-07-15 | Zheng Ouyang | Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method |
JP2005183022A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
JP2007213944A (ja) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
JP2010505218A (ja) * | 2006-09-28 | 2010-02-18 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン | 多重極質量分析計において補助電極を用いた軸方向の放出およびイントラップフラグメント化の方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5420425A (en) | 1994-05-27 | 1995-05-30 | Finnigan Corporation | Ion trap mass spectrometer system and method |
US5783824A (en) | 1995-04-03 | 1998-07-21 | Hitachi, Ltd. | Ion trapping mass spectrometry apparatus |
JP3951741B2 (ja) * | 2002-02-27 | 2007-08-01 | 株式会社日立製作所 | 電荷調整方法とその装置、および質量分析装置 |
US6794642B2 (en) * | 2002-08-08 | 2004-09-21 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
JP4659395B2 (ja) | 2004-06-08 | 2011-03-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び質量分析方法 |
WO2007052372A1 (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-10 | Hitachi, Ltd. | 質量分析計及び質量分析方法 |
US7709786B2 (en) * | 2006-02-07 | 2010-05-04 | The University Of British Columbia | Method of operating quadrupoles with added multipole fields to provide mass analysis in islands of stability |
-
2008
- 2008-05-28 JP JP2008138859A patent/JP5449701B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-05-27 US US12/472,899 patent/US7982182B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1021871A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Hitachi Ltd | イオントラップ質量分析装置 |
JP2002517888A (ja) * | 1998-06-01 | 2002-06-18 | エムディーエス インコーポレーテッド | 多重極質量分析計における軸方向射出 |
US20040135080A1 (en) * | 2003-01-10 | 2004-07-15 | Zheng Ouyang | Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method |
JP2005183022A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
JP2007213944A (ja) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
JP2010505218A (ja) * | 2006-09-28 | 2010-02-18 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン | 多重極質量分析計において補助電極を用いた軸方向の放出およびイントラップフラグメント化の方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011523172A (ja) * | 2008-06-09 | 2011-08-04 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | タンデムイオントラップを操作する方法 |
JP2012521072A (ja) * | 2009-03-17 | 2012-09-10 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | イオン移動度に対するイオン光学ドレイン |
JP2012094252A (ja) * | 2010-10-25 | 2012-05-17 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
JP2015511708A (ja) * | 2012-03-13 | 2015-04-20 | エム ケー エス インストルメンツインコーポレーテッドMks Instruments,Incorporated | Art・msトラップにおける微量ガス濃度 |
US9714919B2 (en) | 2012-03-13 | 2017-07-25 | Mks Instruments, Inc. | Trace gas concentration in ART MS traps |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5449701B2 (ja) | 2014-03-19 |
US20090294661A1 (en) | 2009-12-03 |
US7982182B2 (en) | 2011-07-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5449701B2 (ja) | 質量分析計 | |
JP5001965B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP5603246B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP5081436B2 (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
JP5158196B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP4312708B2 (ja) | 衝突エネルギーを変化させることによる質量分析における広いイオンフラグメント化範囲を得る方法 | |
JP4692310B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP4690641B2 (ja) | 質量分析計 | |
JP4687787B2 (ja) | 質量分析方法及び質量分析装置 | |
US8164053B2 (en) | Mass analyzer and mass analyzing method | |
JP5542055B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP5481115B2 (ja) | 質量分析計及び質量分析方法 | |
JP2009146905A (ja) | 質量分析計 | |
JP2008130401A (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
JP2005183022A (ja) | 質量分析装置 | |
JP2010505218A (ja) | 多重極質量分析計において補助電極を用いた軸方向の放出およびイントラップフラグメント化の方法 | |
JP2007207689A (ja) | 反応装置及び質量分析装置 | |
WO2019021338A1 (ja) | イオン光学素子の設計方法及び質量分析装置 | |
JP5206605B2 (ja) | イオントラップ質量分析装置 | |
JP2004335417A (ja) | イオントラップ質量分析方法及び装置 | |
JP2008091199A (ja) | 質量分析装置 | |
JP2009146913A (ja) | 質量分析計 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110304 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110304 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120523 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120529 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120713 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130315 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130717 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130823 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130823 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20130918 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131126 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131225 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5449701 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |