JP2012094252A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 正(負)イオン分析時には、多重極ロッド電極を挟んで設けられた、イオンが導入される第1の電極の静電位が、イオンが排出される第2の電極の静電位よりも高く(低く)なるような静電圧と、第2の電極に交流電圧を印加する制御をし、交流電圧の印加制御に応じた検出部における出力値を用いてデータ処理を行う。
【選択図】 図1
Description
さて、これまで述べた質量分析器における検出器信号には、検出器の暗電流や電気ノイズなどのノイズ成分が必ず含まれる。そのため、極めて微量な成分を分析する場合、ノイズ成分が顕著であると、微弱成分の特に定量分析に支障をきたす結果となる。さらに、多くの場合、このノイズ成分に、LCの配管やインターフェース領域に存在する不純物由来の化学ノイズも含まれる。そのため、LCの配管やインターフェース領域のクリーニングは、高感度分析において重要視されている。一方、化学ノイズを低減させるために、SRMモード分析では前駆体イオンの単離(アイソレーション)範囲を1Da以下程度に狭く設定することが一般的に行われている。さらに、化学ノイズを積極的に低減させる手法が、特許文献1に記載されている。この手法では、化学ノイズ成分と優先的に反応する試薬を、質量分析器の真空領域に導入する。また、ノイズ成分だけの質量スペクトルを取得することにより、サンプルの分析結果からノイズ成分を差し引くことも有効である。(特許文献2)
このように、化学ノイズについては不純物由来のために積極的に取り除くための手法が取られている。ところが、検出器信号におけるノイズ成分は、検出器の暗電流や電気ノイズ、化学ノイズの他に、他のノイズ成分が含まれることがある。特に、イオン生成に起因する帯電したノイズ成分には注意が必要である。
交流電圧により形成されるポテンシャル障壁の大きさΦは、イオンのm/zや交流電圧Vと以下の関係にある。
2 入口電極
3 出口電極
4 コンバージョン電極
5 検出器
6 電極
7 電極
8 羽根電極
9 疑ポテンシャル
11 LCポンプ
12 オートサンプラー
13 LC分離部
14 イオン源
15 細孔
16 差動排気部
17 真空部
18 イオンガイド
21 ロッド電極
22 衝突セル
23 ロッド電極
24 入口電極
25 出口電極
Claims (19)
- イオンを生成するイオン源と、
多重極ロッド電極と、前記多重極ロッド電極を挟むように設けられ、前記多重極ロッド電極にイオンを導入する第1の電極と、前記多重極ロッド電極からイオンを排出する第2の電極とを備える多重極部と、
前記多重極部の電極に電圧を印加する電源部と、
前記多重極部から排出されたイオンを検出する検出部と、
前記検出部からの出力値の処理を行うデータ処理部と、
前記データ処理部の出力をする出力部と、
前記電源部を制御する制御部とを備え、
前記制御部は、前記電源部に対し、正(負)イオン分析時には、前記第1の電極の静電位が、前記第2の電極の静電位よりも高く(低く)なるような静電圧と、前記第2の電極に交流電圧を印加する制御をし、
前記データ処理部は、交流電圧の印加制御に応じた検出部における出力値を用いてデータ処理を行うことを特徴とする質量分析装置。 - 前記データ処理部は、前記交流電圧が第1の振幅値のときの出力値から、前記交流電圧が前記第1の振幅値よりも小さい第2の振幅値又は振幅値がゼロのときの出力値を差し引いて、測定対象のイオンのシグナル成分を算出することを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、前記第2の電極に対し、振幅が周期的に変化する交流電圧を印加するように制御することを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、前記第2の電極へ印加する交流電圧のONとOFFを繰り返すように制御することを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、前記第2の電極へ印加する交流電圧の振幅を周期的に変調するように制御することを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、前記第2の電極へ印加する交流電圧の振幅が周期的に単調減少するように制御することを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、前記第2の電極へ印加する交流電圧の振幅変化の周期に合わせて、前記多重極ロッド電極へ印加する高周波又は/及び前記第1,2の電極間の静電圧の大きさを変化させることを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記第2の電極のイオン通過部位は、細線で形成されていることを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記第2の電極と前記多重極ロッド電極の端との距離が、2mm以上、前記多重極ロッドの内接円半径以下であることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記多重極部はイオントラップであって、前記多重極ロッド電極の中心軸において単調減少する電位を形成する第3の電極を備えることを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記第3の電極は、前記中心軸からの距離が前記ロッド電極の一方の端側と他方の端側で相対的に異なるように、前記多重極ロッド電極間に設けられた羽根電極であることを特徴とする請求項10記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、第2の電極へ印加する交流電圧の振幅が、複数の異なる一定の大きさを有するように周期的に変化するように制御することを特徴とする請求項10記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、検出対象のイオンのm/zに依存して、前記交流電圧の振幅の大きさを変化させることを特徴とする請求項10記載の質量分析装置。
- 前記制御部は、前記第2の電極へ印加する交流電圧の振幅が周期的に単調減少するように制御することを特徴とする請求項10記載の質量分析装置。
- 前記第2の電極は、前記電源部から静電圧が印加される電極と、前記電源部から交流電圧が印加される電極の2つの電極を有することを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 請求項1記載の質量分析装置であって、さらに、試料を分離する液体クロマトグラフを有し、分離された試料が前記イオン源に導入されることを特徴とする質量分析装置。
- 前記イオン源は、液体の噴霧を伴ってイオンを発生させるイオン源であることを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 請求項1記載の質量分析装置であって、さらに、前記多重極部と前記イオン源との間に設けられたイオンガイドを備え、前記制御部は、前記イオンガイドの制御に伴い、前記多重極部の前記第1の電極に対し交流電圧を印加する制御をすることを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 請求項1記載の質量分析装置において、前記多重極部を複数備え、隣り合う多重極部の間で前記第1,2の電極が共有化され、前記制御部は、前記共有化された電極に対し、振幅が周期的に変化する交流電圧を印加するような制御をすることを特徴とする質量分析装置。
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