JP2011523172A - タンデムイオントラップを操作する方法 - Google Patents
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- FTIZKYIBESTYIP-UHFFFAOYSA-N CC1C2C1C2CC1NC1 Chemical compound CC1C2C1C2CC1NC1 FTIZKYIBESTYIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JMPQQXWPKDTARU-UHFFFAOYSA-N CC1C2CCC1C2 Chemical compound CC1C2CCC1C2 JMPQQXWPKDTARU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CXOZQHPXKPDQGT-UHFFFAOYSA-N CC1C=CCC1 Chemical compound CC1C=CCC1 CXOZQHPXKPDQGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GDLAEJMCDBLXOU-UHFFFAOYSA-N CC1NC2C1CCC2 Chemical compound CC1NC2C1CCC2 GDLAEJMCDBLXOU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
Description
本発明は、概して、イオントラップに関し、より具体的には、空間電荷効果を制御または低減するための、タンデム質量分析計構成およびその操作方法に関する。
Claims (20)
- 第1のイオントラップと、第2のイオントラップとを有する、タンデム質量分析計システムを操作する方法であって、該方法は、
a)第1の時間において、該第1のイオントラップ内にイオンを蓄積することと、
b)第2の時間において、第1の複数のイオンを該第1のイオントラップから該第2のイオントラップ内へと通過させることであって、該第1の複数のイオンは、第1の質量範囲内の質量を有する、ことと、
c)該第2の時間において、該第1のイオントラップ内に第2の複数のイオンを留保することであって、該第2の複数のイオンは、該第1の質量範囲と異なる第2の質量範囲内の質量を有する、ことと、
d)第3の時間において、該第1の複数のイオンを該第2のイオントラップから通過させることと、
e)該第3の時間において、該第2の複数のイオンを該第1のイオントラップから該第2のイオントラップ内へと通過させることと
を備える、方法。 - (b)および(e)は、第1の滑動通過時間帯の間、前記第1のイオントラップから前記第2のイオントラップ内へとイオンを通過させることを含み、該第1の滑動通過時間帯の間に通過させられる該イオンは、第1の変動質量範囲内の質量を有し、該第1の変動質量範囲は、異なる操作時間における異なる質量範囲に対応することによって、該第1の変動質量範囲は、該第2の時間における該第1の質量範囲と、該第3の時間における該第2の質量範囲とに対応し、
(d)は、第2の滑動通過時間帯の間、該第2のイオントラップからイオンを通過させることを含み、該第2の滑動通過時間帯の間に通過させられるイオンは、第2の変動質量範囲内の質量を有し、該第2の変動質量範囲は、異なる操作時間における異なる質量範囲に対応することによって、該第2の変動質量範囲は、該第3の時間における該第1の質量範囲に対応する、請求項1に記載の方法。 - 操作時間間隔にわたって、操作質量範囲にわたる、前記第1の変動質量範囲と、前記第2の変動質量範囲とを走査することをさらに含む、請求項2に記載の方法。
- 前記操作時間間隔にわたって、前記第2の滑動通過時間帯は、遅延時間間隔だけ、前記第1の滑動通過時間帯に対して時間遅延されることによって、任意の操作時間における前記第1の変動質量範囲は、前記操作時間プラス前記遅延時間間隔における前記第2の変動質量範囲に実質的に対応する、請求項3に記載の方法。
- 前記操作時間間隔にわたって、前記第2の滑動通過時間帯は、遅延時間間隔だけ、前記第1の滑動通過時間帯に対して時間遅延されることによって、任意の操作時間における前記第1の変動質量範囲は、前記操作時間プラス前記遅延時間間隔における前記第2の変動質量範囲と同等である、請求項3に記載の方法。
- 前記第1の変動質量範囲は、第1の走査速度において変更され、前記第2の変動質量範囲は、第2の走査速度において変更され、該第1の走査速度と該第2の走査速度とは、実質的に同等である、請求項4に記載の方法。
- 前記第1のイオントラップに提供される第1のRF電圧を使用して、前記第1の走査速度を制御することと、前記第2のイオントラップに提供される第2のRF電圧を使用して、前記第2の走査速度を制御することとを含むことによって、前記操作時間の間、任意の操作時間における該第1のRF電圧は、該操作時間プラス前記遅延時間間隔における該第2のRF電圧に実質的に対応する、請求項6に記載の方法。
- 前記第1のRF電圧および第2のRF電圧は、前記第1のイオントラップおよび第2のイオントラップに別々に提供される、請求項7に記載の方法。
- 前記第1のイオントラップに提供される第1のRF電圧および第1の補助AC電圧を使用して、前記第1の走査速度を制御することと、前記第2のイオントラップに提供される第2のRF電圧および第2の補助AC電圧を使用して、前記第2の走査速度を制御することとを備えることによって、前記操作時間の間、該第1のRF電圧の該第2のRF電圧に対する第2の複数のイオンを比率は、実質的に一定である、請求項6に記載の方法。
- 前記第1のイオントラップおよび第2のイオントラップは、1つ以上の結合コンデンサを使用して、容量結合され、前記第1のRF電圧の前記第2のRF電圧に対する比率は、該1つ以上の結合コンデンサの静電容量を選択することによって制御される、請求項9に記載の方法。
- 前記第1の補助AC電圧および前記第2の補助AC電圧は、前記第1のRF電圧の前記第2のRF電圧に対する比率に基づいて決定されることによって、前記第1の走査速度は、前記第2の走査速度と実質的に同等である、請求項10に記載の方法。
- 前記第1のRF電圧および第2のRF電圧は、前記第1のイオントラップおよび第2のイオントラップに別々に提供される、請求項9に記載の方法。
- 前記第2のイオントラップのための第2の空間電荷レベルを選択することと、次いで、該第2のイオントラップ内にイオンを留保し、前記空間電荷レベルを提供するための冷却時間間隔を判定することとをさらに備え、前記遅延時間間隔は、前記冷却時間間隔と実質的に同等である、請求項4に記載の方法。
- 前記第1のイオントラップは、第1の空間電荷で動作し、前記第2のイオントラップは、第2の空間電荷で動作し、該第1の空間電荷は、該第2の空間電荷より高い電荷である、請求項4に記載の方法。
- 第1の分解能で前記第1のイオントラップからイオンを射出することと、第2の分解能で前記第2のイオントラップから射出されるイオンを検出することとを含む、該第2の分解能は、該第1の分解能より高い、請求項14に記載の方法。
- 前記第1のイオントラップ内のイオンは、開始質量範囲を有し、
前記第2のイオントラップ内のイオンは、変動操作質量範囲を有し、前記遅延時間間隔後の任意の操作時間における前記変動操作質量範囲は、該遅延時間間隔を乗じられた前記第1の走査速度と実質的に同等であり、
該変動操作質量範囲は、該開始質量範囲の半分未満である、請求項6に記載の方法。 - 前記変動操作質量範囲は、前記開始質量範囲の5分の1未満である、請求項16に記載の方法。
- 前記変動操作質量範囲は、前記開始質量範囲の10分の1未満である、請求項16に記載の方法。
- 前記第1のイオントラップは、前記第2の時間において、第1の空間電荷密度で動作し、
前記第2のイオントラップは、該第2の時間において、第2の空間電荷密度で動作し、
該第1の空間電荷密度は、該第2の空間電荷密度の少なくとも5倍である、請求項1に記載の方法。 - 前記第1の空間電荷密度は、前記第2の空間電荷密度の少なくとも10倍である、請求項19に記載の方法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US5996208P | 2008-06-09 | 2008-06-09 | |
US61/059,962 | 2008-06-09 | ||
US12067408P | 2008-12-08 | 2008-12-08 | |
US61/120,674 | 2008-12-08 | ||
PCT/CA2009/000805 WO2009149546A1 (en) | 2008-06-09 | 2009-06-08 | Method of operating tandem ion traps |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011523172A true JP2011523172A (ja) | 2011-08-04 |
JP5777214B2 JP5777214B2 (ja) | 2015-09-09 |
Family
ID=41399445
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011511950A Active JP5777214B2 (ja) | 2008-06-09 | 2009-06-08 | タンデムイオントラップを操作する方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8766170B2 (ja) |
EP (1) | EP2308077B1 (ja) |
JP (1) | JP5777214B2 (ja) |
CA (1) | CA2720248C (ja) |
WO (1) | WO2009149546A1 (ja) |
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- 2009-06-08 US US12/480,160 patent/US8766170B2/en active Active
- 2009-06-08 WO PCT/CA2009/000805 patent/WO2009149546A1/en active Application Filing
- 2009-06-08 CA CA2720248A patent/CA2720248C/en not_active Expired - Fee Related
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EP2308077A4 (en) | 2017-01-18 |
CA2720248A1 (en) | 2009-12-17 |
WO2009149546A1 (en) | 2009-12-17 |
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