JP2009281923A - レーザ顕微鏡装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】コヒーレントアンチストークスラマン散乱光および多光子励起の蛍光の観察を同一の装置において両立することを可能とし、種々の観察方法により標本を観察する。
【解決手段】標本A中の分子の特定の振動周波数Ωに略等しい周波数差Ω’を有する2つの異なる周波数を有するパルスレーザ光L1’,L2’を導光する2つの光路6,7と、該2つの光路6,7を導光されてきたパルスレーザ光L1’,L2’を合波する合波手段8と、前記2つの光路6,7の少なくとも一方に設けられ、前記2つの光路6,7を導光されるパルスレーザ光L1’,L2’の周波数分散量が略同等となるように調節可能な周波数分散調節手段9とを備えるレーザ顕微鏡装置1を提供する。
【選択図】図1

Description

本発明は、レーザ顕微鏡装置に関するものである。
標本中の分子の特定の振動を利用し、分子からのコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を発生させ、検出することで標本の観察を行うコヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡が知られている(例えば、特許文献1参照。)。このコヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡は、標本の分子の特定の振動を利用しているため、蛍光顕微鏡のように、観察対象を蛍光プローブであらかじめ標識する必要がない。また、利用する振動を変更することで観察する分子を変更することができる。
従来、このコヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡の光源には、比較的狭い周波数スペクトル帯域を有した2つの異なる周波数を有するピコ秒パルスレーザが用いられている。これら2つのピコ秒パルスレーザ光の周波数差が、標本の分子の特定の振動周波数に一致するように調節した状態で標本面に集光する。このとき、焦点面近傍に広がる光子密度が高い極めて狭い空間において、2つのピコ秒パルスレーザ光の周波数差が分子の特定の振動周波数に共鳴し、強いコヒーレントアンチストークスラマン散乱光が発生する。このコヒーレントアンチストークスラマン散乱光は、照射した2つのピコ秒パルスレーザ光の周波数よりも高い周波数を有する(つまり短い波長を有する)。したがって、このコヒーレントアンチストークスラマン散乱光だけを分光的に選択して検出することで標本の分子の観察を行うことができる。
また、フェムト秒パルスレーザ光を標本面に集光することで、焦点面近傍に広がる極めて狭い空間において光子密度を高めて蛍光物質を多光子励起し、鮮明な蛍光画像を得ることができる多光子励起型のレーザ顕微鏡が知られている(例えば、特許文献2参照。)。
特開2002−520612号公報 特開2002−243641号公報
しかしながら、コヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡において、標本の分子の特定の振動からのコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を効率的に発生させるためには、周波数帯域が狭い(または、パルス幅が比較的広い)ピコ秒パルスレーザ光を用いる必要がある。というのも、周波数スペクトル帯域が広いパルスレーザ光を用いてしまうことで、2つのパルスレーザ光の周波数差の中に、分子の特定の振動周波数に一致しない周波数差成分も生じてしまうからである。それら分子の特定の振動周波数に一致しない周波数差成分は、分子の特定の振動に共鳴せず、コヒーレントアンチストークスラマン散乱光の発生に寄与しない。結果として、2つのパルスレーザ光のエネルギーを分子の特定の振動からのコヒーレントアンチストークスラマン散乱光の発生に効率的に利用できなくなってしまう。
一方、多光子励起型のレーザ顕微鏡においては、蛍光の励起効率をより高め、かつ、標本に与えるダメージをより軽減して観察を行うことを目的として、周波数スペクトル帯域が広い(または、パルス幅が極端に狭い)フェムト秒レーザ光が使用され、加えて、フーリエ限界パルスに近い状態で使用される。上記理由から、コヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡と多光子励起型のレーザ顕微鏡の両観察方法は、使用するパルスレーザ光の仕様が相違するため、同一の顕微鏡装置によって達成することが困難である。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、コヒーレントアンチストークスラマン散乱光観察および多光子蛍光観察を同一の装置において両立することを可能とし、種々の観察方法により標本を観察することができるレーザ顕微鏡装置を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明は、標本中の分子の特定の振動周波数に略等しい周波数差を有する2つの異なる周波数を有するパルスレーザ光を導光する2つの光路と、該2つの光路を導光されてきたパルスレーザ光を合波する合波手段と、前記2つの光路の少なくとも一方に設けられ、前記2つの光路を導光されるパルスレーザ光の周波数分散量が略同等となるように調節可能な周波数分散調節手段とを備えるレーザ顕微鏡装置を提供する。
導光される各パルスレーザ光に、周波数分散調節手段によって、等しい周波数分散量を与えることができる。周波数分散を与えることで、各パルスレーザ光の周波数スペクトルの周波数成分を時間軸上に分散させることができる。このため、フェムト秒レーザ光のように比較的広い周波数スペクトル帯域を有するパルスレーザ光であっても、周波数分散量を調節することで、時間軸上の各時刻において、比較的狭い周波数スペクトル帯域を有しているとみなすことができる。また、導光される各パルスレーザ光の周波数分散量を調整することで、時間軸上の各時刻において、2つのパルスレーザ光の周波数差を常に一定に保つように調節することが可能である。
このように2つのパルスレーザ光の周波数差を時間軸上で一手に保った状態で、標本面上に集光することにより、標本中の分子のうち2つのパルスレーザ光の周波数差に等しい周波数を持つ分子の振動からコヒーレントアンチストークスラマン散乱光が発生する。このとき、2つのパルスレーザ光の周波数差は時間軸上で一定に保たれているため2つのパルスレーザ光のエネルギーを効率的にコヒーレントアンチストークスラマン散乱光の発生に用いることができる。
上記説明のとおり、フェムト秒レーザのような周波数帯域が比較的広いパルスレーザ光を用いた場合でも、効率的にコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を発生させることが可能となる。一方、フェムト秒レーザのような周波数帯域が比較的広いパルスレーザを利用した場合、2つのパルスレーザ光のうちいずれか一方のパルスレーザ光を標本に集光することにより、多光子励起光効果を発生させることが可能となる。すなわち、本発明により、1台のレーザ顕微鏡装置により、コヒーレントアンチストークスラマン散乱光観察および多光子蛍光観察を行うことが可能となる。
また、上記発明においては、さらに前記周波数分散調節手段が、標本面上におけるパルスレーザ光が略フーリエ限界パルスに近づくように周波数分散量を調節可能であることが望ましい。このようにすることで、周波数分散調節手段によって、パルスレーザ光の分散量を調節し、標本面上において略フーリエ限界パルスを達成することができる。これにより、多光子蛍光観察において多光子蛍光をより効率よく発生させて、鮮明な多光子蛍光観察を行うことができる。
上記発明においては、フェムト秒パルスレーザ光を発生するレーザ光源と、該レーザ光源から発せられたフェムト秒パルスレーザ光を前記2つの光路に分岐する分岐手段と、いずれか一方の光路に設けられ、2つの光路を導光されるフェムト秒パルスレーザ光に標本中の分子の特定の振動周波数に略等しい周波数差に相当する周波数差を与える周波数変換手段とを備えていてもよい。
このようにすることで、単一のレーザ光源から発生したフェムト秒パルスレーザ光を分岐し、一方の光路において、標本中の分子の特定の振動周波数に略等しい周波数差を与えるように、フェムト秒パルスレーザ光の周波数を周波数変換手段によって変換し、2つの異なる周波数をもつパルスレーザ光を得ることができる。これにより、2つの周波数の異なるパルスレーザ光のレーザ光源を共通化して装置構成を簡略化することができる。
また、上記発明においては、前記2つの光路の少なくとも一方に、2つの光路に導光されるパルスレーザ光の標本面上におけるパルスレーザ光の時間的タイミングを調節することができるパルスタイミング調節手段を備えていてもよい。一方のパルスレーザ光に対して、他方のパルスレーザ光の時間的タイミングを調整することで、2つのパルスレーザ光の周波数差を2つのパルスレーザ光の周波数帯域内において任意に調整することが可能となる。
これにより、標本面上において2つのパルスレーザ光のタイミングを調整し、標本中の分子の特定の振動周波数に一致させるように2つのパルスレーザ光のタイミングを調整することができる。これにより、効率的にコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を発生させることが可能となる。また、周波数差を任意に調整することができるため、標本中の分子の別の振動周波数に一致させることも可能となる。
また、上記発明においては、前記周波数変換手段が、フォトニッククリスタルファイバであってもよい。周波数変換手段としてフォトニッククリスタルファイバを用いることにより、簡易かつ安価に、周波数分散が与えられた広い周波数スペクトル帯域を有するパルスレーザ光を得ることが可能となる。また、用いるフォトニッククリスタルファイバの種類を選定することで、さまざまな周波数スペクトル成分および帯域を有するパルスレーザ光を得ることができる。このため、標本中の分子のさまざまな振動周波数に一致させるように、2つのパルスレーザ光の周波数差を調整することが可能となる。
また、上記発明においては、前記パルスレーザ光の光量を調節する光量調節手段が設けられていてもよい。このようにすることで、光量調節手段を作動させて、各光路のパルスレーザ光の光量を調節し、コヒーレントアンチストークスラマン散乱光および/または多光子蛍光を発生させる際の光量バランスを図ることができるとともに、最適な画像で観察を行うことができる。
本発明によれば、コヒーレントアンチストークスラマン散乱光および多光子蛍光の観察を同一の装置において両立することを可能とし、種々の観察方法により標本を観察することができるという効果を奏する。
本発明の一実施形態に係るレーザ顕微鏡装置1について、図1〜図4を参照して以下に説明する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置1は、図1に示されるように、レーザ光源装置2と、該レーザ光源装置2からのレーザ光を標本Aに照射して標本Aを観察するための顕微鏡本体3とを備えている。
レーザ光源装置2は、フェムト秒パルスレーザ光を出射する単一のレーザ光源4と、該レーザ光源4から発せられたフェムト秒パルスレーザ光を2つに分岐するビームスプリッタ(分岐手段)5と、該ビームスプリッタ5により分岐された2つのフェムト秒パルスレーザ光L1,L2をそれぞれ通過させる2つの光路6,7と、該2つの光路6,7を通過してきた2つのパルスレーザ光L1’,L2’を合波するレーザコンバイナ8とを備えている。
第1の光路6には、フェムト秒パルスレーザ光L1に与える周波数分散量を調節可能な周波数分散装置(周波数分散調節手段)9が設けられている。第2の光路7には、フェムト秒パルスレーザ光L2を通過させるフォトニッククリスタルファイバ(周波数変換手段)10と、フォトニッククリスタルファイバ10通過後のパルスレーザ光L2’の光路長を調節する光路調節装置(パルスタイミング調節手段)11とが設けられている。
周波数分散装置9は、例えば、相互の間隔を調節可能な一対のプリズム(図示略)と、ミラー(図示略)とを備えている。一対のプリズムを通過したフェムト秒パルスレーザ光L1は、ミラーによって折り返された後に再度プリズム対を通過し同一の光路6上に戻されるようになっている。この場合に、プリズムの間隔を調節することにより、周波数分散装置9を通過するパルスレーザ光L1’に与える周波数分散量を調節することができるようになっている。また、上記プリズムの代わりに回折格子(図示略)を用いてもよい。
また、周波数分散装置9は、例えば、板厚の変化する楔状のガラス板のように所定の周波数分散特性を有する材質からなる部材(図示略)であってもよい。部材が本来持つ周波数分散特性により、部材を通過するフェムト秒パルスレーザ光L1に所定の周波数分散を与えることができる。また、フェムト秒パルスレーザ光L1の通過する位置の部材の厚みを変化させることにより、与える周波数分散量が調整できる。また、周波数分散装置9は、所望の分散量を得るように調製された光ファイバであってもよい。
また、本実施形態においては、周波数分散装置9は、該周波数分散装置9を通過したパルスレーザ光L1’が、標本A面上において略フーリエ限界パルスに近づくような分散量を設定することができるようになっている。これにより、レーザ光源4から標本Aまでの全光路において生じる周波数分散によってフェムト秒パルスレーザ光L1のパルス幅の広がりを補償することができ、標本A上に集光される時点でのフェムト秒パルスレーザ光が、略フーリエ限界に近いパルス幅を達成することができるようになっている。
フォトニッククリスタルファイバ10は、通過させるフェムト秒パルスレーザ光L2の周波数帯域を変更または拡大させることができる。また、フォトニッククリスタルファイバ10を通過したパルスレーザ光L2’は、フォトニッククリスタルファイバの種類および通過させるフェムト秒パルスレーザ光の条件に応じた周波数分散をもった状態となっている。また、例えば、周波数変換手段としてフォトニッククリスタルファイバ10の代わりに、同様の機能・作用を持つ、バルク、薄膜、フィルム、フォトニック結晶構造体のいずれかを用いても良い。
パルスタイミング調節手段11は、例えば、ミラー(リフレクタ)により構成される(図示略)。少なくとも2組以上のリフレクタを用いてパルスレーザ光L2’の光路を折り返し、少なくとも2組以上のリフレクタの間隔を調節することでパルスレーザ光L2’の光路長を変化させることができる。これによって、パルスレーザ光L2’のパルスの時間的タイミングを調整することができる。
本実施形態においては、パルスタイミング調節手段11により、2つの光路6,7を通過してレーザコンバイナ8に入射されるパルスレーザ光L1’,L2’の時間的なタイミングを調節し、標本A面上において2つのパルスレーザ光L1’,L2’の周波数差Ω’を、標本Aの分子の特定の振動周波数Ωに一致させることができる。これにより、効率的にコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を発生させることが可能となる。また、周波数差Ω’を任意に調整することができるため、標本A中の分子の別の振動周波数に一致させることも可能となる。
顕微鏡本体3は、例えば、レーザ走査型顕微鏡であって、レーザ光源装置2から出射されたパルスレーザ光L3を2次元的に走査するスキャナ12およびレンズ群20と、前記スキャナ12により走査されたパルスレーザ光L3を標本A面に集光する集光レンズ13と、標本Aにおいて発生し、集光レンズ13によって集光された蛍光を検出する第1の光検出器14と、標本Aを透過する方向に発生するコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を集光する集光レンズ15と、該集光レンズ15により集光されたコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を検出する第2の光検出器16とを備えている。
図中、符号17はダイクロイックミラー、符号18はステージ、符号19はミラーである。また、標本Aにおいて発生した蛍光は、前記集光レンズ15により集光され第2の検出器16で検出されてもよい。また、標本Aにおいて発生したコヒーレントアンチストークスラマン散乱光は前記集光レンズ13により集光され第1の検出器14で検出されてもよい。
このように構成された本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置1の作用について以下に説明する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置1を使用して、コヒーレントアンチストークスラマン散乱光による標本Aの観察を行うには、レーザ光源4を作動させてフェムト秒パルスレーザ光を出射させる。レーザ光源4から発せられたフェムト秒パルスレーザ光は、ビームスプリッタ5により2つの光路6,7に分岐される。
第1の光路6に分岐されたフェムト秒パルスレーザ光L1は、第1の光路6上に配置されている周波数分散装置9を通過されることにより、初期の周波数分散量を与えられる。一方、第2の光路7に分岐されたフェムト秒パルスレーザ光L2は、ミラー19によって偏向された後、フォトニッククリスタルファイバ10を通過させられることにより、第1の光路6のフェムト秒パルスレーザ光L1に比べて周波数スペクトルが変更または拡大された広帯域光(パルスレーザ光L2’)となる。また、同時に、パルスレーザ光L2’にはフォトニッククリスタルファイバ10を追加することにより所定の周波数分散が与えられる。
周波数分散装置9によりパルスレーザ光L1’に与えられる初期の周波数分散量とフォトニッククリスタルファイバ10を通過することによりパルスレーザ光L2’に与えられる周波数分散量とが相違する場合、図2(a)に示されるように、時間軸上においてパルスレーザ光L1’,L2’の周波数分布の傾きが相違する。この場合、2つの光路6,7を通過してきたパルスレーザ光L1’,L2’の周波数差Ω’は時間軸上の各時刻において異なり、一定に保たれない。この状態においては、パルスレーザ光L1’,L2’のエネルギーを、標本A中の分子の特定の振動からのコヒーレントアンチストークスラマン散乱光の発生に効率よく利用することができない。
そこで、本実施形態においては、周波数分散装置9を作動させて、第1の光路6を通過するパルスレーザ光L1’に与える分散量が、第2の光路7のフォトニッククリスタルファイバ10を通過したパルスレーザ光L2’に与えられる分散量と標本A面上において略同等となるように調節する。すなわち、図2(a)の矢印P1に示されるように、時間軸方向の周波数分布の傾きを変化させる。
2つのパルスレーザ光L1’,L2’の周波数差Ω’を時間軸上で一定に保った状態でも、パルスレーザ光L1’,L2’のパルスの時間的タイミングによっては、図2(b)に示されるように、パルスレーザ光L1’,L2’の周波数差Ω’が標本A中の分子の特定の振動周波数Ωに一致しない場合がある。そこで、本実施形態においては、パルスタイミング調節手段11を作動させて、第2の光路7を通過するパルスレーザ光L2’を時間軸方向に遅延させる。すなわち、図2(b)に矢印P2で示されるように、パルスレーザ光L2’の時間的なパルスタイミングを調節する。
これにより、図3に示されるように、レーザコンバイナ8に到達する2つの光路6,7のパルスレーザ光L1’,L2’の周波数分散量と周波数差Ω’が調節される。その後、パルスレーザ光L1’,L2’は、レーザコンバイナ8によって合波され、パルスレーザ光L3となる。また、パルスレーザ光L1’,L2’の周波数差Ω’を任意に調整することが可能となる。このため、標本A面上において2つのパルスレーザ光L1’,L2’の時間的なパルスタイミングを調整し、標本A中の分子の特定の振動周波数Ωに一致させるように2つのパルスレーザ光の時間的なパルスタイミングを調節することができる。
このように合成されたパルスレーザ光L3は、顕微鏡本体3に入射させられ、スキャナ12によって2次元的に走査された後、レンズ群20と集光レンズ13を介して標本A面上に集光される。これにより、パルスレーザ光L3が集光された各位置において、標本A中の分子の特定の振動周波数Ωからコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を発生させることができる。
また、レーザコンバイナ8以降の光学系により、パルスレーザ光L1’,L2’の周波数分散量が変化した場合や時間的なパルスタイミングが変化した場合は、標本A面上において再度、パルスレーザ光L1’,L2’の周波数差Ω’が標本A中の分子の特定の振動周波数Ωに一致するように、周波数分散量と時間的なパルスタイミングを調節してもよい。
標本Aにおいて発生したコヒーレントアンチストークスラマン散乱光は、標本Aを挟んで集光レンズ13とは反対側に配置された集光レンズ15によって集光され、第2の光検出器16により検出される。そして、パルスレーザ光L3の標本A面上での集光位置の座標と、第2の光検出器16により検出されたコヒーレントアンチストークスラマン散乱光の光強度とを対応づけて記憶することにより、2次元的なコヒーレントアンチストークスラマン散乱光画像を得ることができる。また、標本Aにおいて発生したコヒーレントアンチストークスラマン散乱光は、集光レンズ13により集光され、ダイクロイックミラー17によって分岐されて第1の光検出器14により検出されてもよい。
この場合において、本実施形態によれば、2つの光路6,7のパルスレーザ光L1’,L2’の周波数差Ω’は、時間軸上の各時刻においても、標本A中の分子の特定の振動周波数Ωに一致しているので、パルスレーザ光L1’,L2’のエネルギーを効率的に標本A中の分子の特定の振動周波数Ωからのコヒーレントアンチストークスラマン散乱光の発生に利用することができる。このように発生したコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を時間積算することにより、明るいコヒーレントアンチストークスラマン散乱光画像を得ることができる。
また、本実施形態においては、周波数分散装置9を作動させることにより、図4(a)に矢印P3に示すように、第1の光路6を通過するパルスレーザ光L1’に与える周波数分散量を調節し、図4(b)に示すように、パルスレーザ光L1’が標本A面において略フーリエ限界パルスに近づくようにパルスレーザ光L1’の周波数分散量を設定することができる。その結果、このように設定されたパルスレーザ光L1’を集光レンズ13により標本Aに集光することで、標本Aにおける集光位置において多光子励起による蛍光を効率よく発生させることができる。
標本Aにおいて発生した蛍光は、集光レンズ13によって集光された後、ダイクロイックミラー17によって分岐されて第1の光検出器14により検出される。そして、パルスレーザ光L1’の標本A面上での集光位置の座標と、第1の光検出器14により検出された蛍光強度とを対応づけて記憶することにより、2次元的な多光子蛍光画像を得ることができる。また、標本Aにおいて発生した蛍光は、集光レンズ15によって集光され、第2の光検出器16により検出されてもよい。
また、多励起型の蛍光観察と同様の条件で、SHG光(第二高調波光)観察も行うことができる。
このように、本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置1によれば、コヒーレントアンチストークスラマン散乱光観察、多光子励起型の蛍光観察およびSHG光観察を切り替えて効率よく行うことができる。すなわち、1台のレーザ顕微鏡装置1により、3種類の観察を効率よく行うことができ、マルチモーダル観察を達成することができる。
また、多光子励起の蛍光またはSHG光の励起効率が多少悪くなっても良い場合は、上記の3種類の観察を切り替えることなく同時に観察することも可能である。また、第1,2の光検出器14,16をコヒーレントアンチストークスラマン散乱光、多光子励起の蛍光、SHG光のいずれかの光を検出する検出器として割り当ててもよい。また、光検出器が不足する場合は、第1,2の光検出器14,16のいずれかと同等の位置に光検出器を新たに追加してもよい。
この場合において、レーザ光源4としてフェムト秒パルスレーザ光を発生するレーザ光源を用意すれば足り、コヒーレントアンチストークスラマン散乱光を発生させるために新たにピコ秒パルスレーザ光を発生させるレーザ光源が不要なため、装置を簡易かつ安価に構成することができる。
また、周波数変換手段として、フォトニッククリスタルファイバ10を使用するので、装置をさらに簡易かつ安価に構成することができる。また、パルスタイミング調節手段11も、ミラー(リフレクタ)により構成されるため、装置をさらに簡易かつ安価に構成することができる。
また、本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置1によれば、パルスタイミング調節手段11によって、2つの光路6,7を通過するパルスレーザ光L1’,L2’の時間的なパルスタイミングを調節し、パルスレーザ光L1’,L2’それぞれの周波数スペクトル帯域内で周波数差Ω’を自由に調節することが可能である。このため、パルスレーザ光L1’,L2’の周波数差Ω’は、標本A中の分子の特定の振動周波数Ωに略一致する程度でよく正確な周波数差である必要はない。
つまり、フォトニッククリスタルファイバ10を通過することによるフェムト秒パルスレーザ光L2の周波数スペクトル帯域の変更または拡大も正確である必要はない。パルスタイミング調節手段11により、標本A中の分子の特定の振動周波数Ωに精度よく一致させることができ、最も効率よく標本A中の分子の特定の振動周波数Ωからのコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を発生させ、明るいコヒーレントアンチストークスラマン散乱光画像を得ることができる。
なお、本実施形態においては、フェムト秒パルスレーザ光を発生する単一のレーザ光源4と、光路6,7に分岐するビームスプリッタ5を用いたが、これに代えて、各光路6,7に1台ずつレーザ光源4を取り付けることにしてもよい。この場合、各レーザ光源4は互いにパルスタイミングの同期がとれている必要がある。
また、周波数分散装置9として、プリズム対とミラーとを備えて、周波数分散量を連続的に変更可能なものを例示したが、これに代えて、周波数分散量が固定のもの、それらを複数用意し、段階的に切り替える方式のものや、第1の光路6上に挿脱されてパルスレーザ光L1’に与える分散量を切り替える方式のものを採用してもよい。
また、周波数分散装置9は、第2の光路7に設けられていてもよいし、両光路6,7にそれぞれ設けられていてもよい。
また、少なくとも一方の光路6,7に、減光フィルタのような光量調節手段(図示略)を配置することにしてもよい。これにより、2つの光路6,7を通過してくるパルスレーザ光L1’,L2’の光量バランスを図ることができる。
また、第1の光路6を通過するパルスレーザ光L1’に与える周波数分散量を、標本A面上において略フーリエ限界パルスに近づくように設定して行われる多光子励起の蛍光観察の際には、第2の光路7をシャッタ等により制限することとしてもよい。多光子励起の蛍光観察時には第2の光路7への分岐は不要となるので、これを制限することによって、多光子蛍光画像に発生するノイズや標本Aに与えるダメージを低減することができる。
本発明の一実施形態に係るレーザ顕微鏡装置の全体構成を示すブロック図である。 図1のレーザ顕微鏡装置の2つの光路を伝達されるパルスレーザ光の周波数の時間分布を示すグラフであり、(a)調整前、(b)周波数分散量調整後をそれぞれ示している。 図1のレーザ顕微鏡装置の2つの光路を伝達されるパルスレーザ光のパルスの時間的タイミング調整後の周波数の時間分布を示すグラフである。 図1のレーザ顕微鏡装置の2つの光路を伝達されるパルスレーザ光の周波数の時間分布を示すグラフであり、多光子励起の蛍光観察時におけるパルスレーザ光の周波数分散量の(a)調整前、(b)調節後のそれぞれの状態を示している。
符号の説明
A 標本
L1,L2 フェムト秒パルスレーザ光
L1’,L2’ パルスレーザ光
Ω,Ω’ 周波数(差)
1 レーザ顕微鏡装置
4 レーザ光源
5 ビームスプリッタ(分岐手段)
6,7 光路
8 レーザコンバイナ(合波手段)
9 周波数分散装置(周波数分散調節手段)
10 フォトニッククリスタルファイバ(周波数変換手段)
11 パルスタイミング調節手段

Claims (6)

  1. 標本中の分子の特定の振動周波数に略等しい周波数差を有する2つの異なる周波数を有するパルスレーザ光を導光する2つの光路と、
    該2つの光路を導光されてきたパルスレーザ光を合波する合波手段と、
    前記2つの光路の少なくとも一方に設けられ、前記2つの光路を導光されるパルスレーザ光の周波数分散量が略同等となるように調節可能な周波数分散調節手段とを備えるレーザ顕微鏡装置。
  2. 前記周波数分散調節手段が、標本面上におけるパルスレーザ光が略フーリエ限界パルスに近づくように周波数分散量を調節可能である請求項1に記載のレーザ顕微鏡装置。
  3. フェムト秒パルスレーザ光を発生するレーザ光源と、
    該レーザ光源から発せられたフェムト秒パルスレーザ光を前記2つの光路に分岐する分岐手段と、
    いずれか一方の光路に設けられ、2つの光路を導光されるフェムト秒パルスレーザ光に標本中の分子の特定の振動周波数に略等しい周波数差に相当する周波数差を与える周波数変換手段とを備える請求項1または請求項2に記載のレーザ顕微鏡装置。
  4. 前記2つの光路の少なくとも一方に、2つの光路に導光されるパルスレーザ光の標本面上におけるパルスレーザ光の時間的タイミングを調節することができるパルスタイミング調節手段を備える請求項1から請求項3のいずれかに記載のレーザ顕微鏡装置。
  5. 前記周波数変換手段が、フォトニッククリスタルファイバである請求項3に記載のレーザ顕微鏡装置。
  6. 前記2つの光路に、前記パルスレーザ光の光量を調節する光量調節手段が設けられている請求項1から請求項4のいずれかに記載のレーザ顕微鏡装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011158413A (ja) * 2010-02-03 2011-08-18 Olympus Corp レーザ顕微鏡装置
JP2011180504A (ja) * 2010-03-03 2011-09-15 Olympus Corp レーザ顕微鏡装置
JP2011191496A (ja) * 2010-03-15 2011-09-29 Olympus Corp 光源装置およびレーザ走査型顕微鏡装置
JP2011197578A (ja) * 2010-03-23 2011-10-06 Olympus Corp Cars光用ユニットおよび顕微鏡システム
JP2012211977A (ja) * 2011-03-31 2012-11-01 Nisca Corp 光量調整装置及びこれを備えた光学機器
JP2013083970A (ja) * 2011-09-30 2013-05-09 Olympus Corp レーザ光源装置およびレーザ顕微鏡

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009029831A1 (de) * 2009-06-17 2011-01-13 W.O.M. World Of Medicine Ag Vorrichtung und Verfahren für die Mehr-Photonen-Fluoreszenzmikroskopie zur Gewinnung von Informationen aus biologischem Gewebe
WO2011099938A1 (en) * 2010-02-12 2011-08-18 National University Of Singapore Method for supplying light beams for integrated cars and multiphoton microscopy
DE102010015963A1 (de) * 2010-03-15 2011-09-15 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur simultanen Fluoreszenzanregung (2-Wellenlängen-IR)
JP2011200367A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Fujifilm Corp 画像撮像方法および装置
DE102011005432A1 (de) 2011-03-11 2012-09-13 Hellma Gmbh & Co. Kg Vorrichtung für die Analyse einer kleinen Flüssigkeitsmenge
CN104237199A (zh) * 2014-08-28 2014-12-24 中国农业大学 一种基于扩散方式的拉曼检测系统和方法
DE102016109303A1 (de) 2016-05-20 2017-11-23 Friedrich-Schiller-Universität Jena Lasermikroskop mit Ablationsfunktion

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002107301A (ja) * 2000-10-03 2002-04-10 Univ Osaka コヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡
JP2002520612A (ja) * 1998-07-20 2002-07-09 バッテル・メモリアル・インスティチュート 非線形振動顕微鏡法
JP2003015050A (ja) * 2001-07-03 2003-01-15 Olympus Optical Co Ltd レーザー顕微鏡
WO2006104237A1 (ja) * 2005-03-29 2006-10-05 Osaka University 空間情報検出装置
JP2008076361A (ja) * 2006-09-25 2008-04-03 Toshiba Corp 顕微鏡装置及び分析装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4845279B2 (ja) 2001-02-09 2011-12-28 オリンパス株式会社 生体機能測定方法
US7623908B2 (en) * 2003-01-24 2009-11-24 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Nonlinear interferometric vibrational imaging
US7586618B2 (en) * 2005-02-28 2009-09-08 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Distinguishing non-resonant four-wave-mixing noise in coherent stokes and anti-stokes Raman scattering
JP4869734B2 (ja) * 2005-04-25 2012-02-08 オリンパス株式会社 多光子励起走査型レーザ顕微鏡
US7525724B2 (en) * 2006-03-16 2009-04-28 The University Of Kansas Laser system for photonic excitation investigation
US7542137B2 (en) * 2006-07-24 2009-06-02 University Of Ottawa Pathogen detection using coherent anti-stokes Raman scattering microscopy
CN101617407A (zh) * 2006-10-27 2009-12-30 阿里戴斯公司 使用量子系统识别和量子控制技术用于医疗诊断和治疗目的
JP4992083B2 (ja) * 2006-11-07 2012-08-08 国立大学法人大阪大学 屈折率測定方法および屈折率測定装置、光学部材の製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002520612A (ja) * 1998-07-20 2002-07-09 バッテル・メモリアル・インスティチュート 非線形振動顕微鏡法
JP2002107301A (ja) * 2000-10-03 2002-04-10 Univ Osaka コヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡
JP2003015050A (ja) * 2001-07-03 2003-01-15 Olympus Optical Co Ltd レーザー顕微鏡
WO2006104237A1 (ja) * 2005-03-29 2006-10-05 Osaka University 空間情報検出装置
JP2008076361A (ja) * 2006-09-25 2008-04-03 Toshiba Corp 顕微鏡装置及び分析装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011158413A (ja) * 2010-02-03 2011-08-18 Olympus Corp レーザ顕微鏡装置
JP2011180504A (ja) * 2010-03-03 2011-09-15 Olympus Corp レーザ顕微鏡装置
JP2011191496A (ja) * 2010-03-15 2011-09-29 Olympus Corp 光源装置およびレーザ走査型顕微鏡装置
JP2011197578A (ja) * 2010-03-23 2011-10-06 Olympus Corp Cars光用ユニットおよび顕微鏡システム
JP2012211977A (ja) * 2011-03-31 2012-11-01 Nisca Corp 光量調整装置及びこれを備えた光学機器
JP2013083970A (ja) * 2011-09-30 2013-05-09 Olympus Corp レーザ光源装置およびレーザ顕微鏡

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