JP2003015050A - レーザー顕微鏡 - Google Patents
レーザー顕微鏡Info
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Abstract
反ストークスビームを安定して検出することができるレ
ーザー顕微鏡を提供する。 【解決手段】レーザー顕微鏡は、それぞれ異なる振動数
を有する基準レーザービームω1およびストークスビー
ムω2を出射するレーザー光源6,8と、反ストークス
ビームω3を試料34から得るためのこれら2つのビー
ムω1,ω2を対物レンズ32を介して試料34上に集
光して照射する照射手段と、試料34からの反ストーク
スビームω3を導き、かつ2つのビームω1,ω2を遮
断するビーム選択手段と、試料からの反ストークスビー
ムω3を検出する光検出器40とを有する。2つのビー
ムω1,ω2は、レーザー光源2と照射手段22〜32
との間に配設された共通の光ファイバー20の入射端2
0aに入射される。この光ファイバー20に入射された
2つのビームω1,ω2は、出射端20bから出射され
て、照射手段に導かれる。
Description
動数を有する基準レーザービームとストークスビームと
を試料に照射して、試料から得られる反ストークスビー
ムを検出して、像を得るレーザー顕微鏡に関する。
細胞機能の研究が盛んに行なわれてきた。近年では、細
胞機能だけを研究するのではなく、問題とする機能とタ
ンパク質分子構造との関係を直接観察する要求が高まり
つつある。
乱光を直接観察する方法は、広く用いられている。特
に、試料からの蛍光を容易に除去できる、CARS(C
oherent Anti−Stokes Raman
Scattering)分光が注目されている。これ
は、基準レーザービームとストークスビームとを試料に
照射し、試料から得られる反ストークスビーム(反スト
ークスラマン散乱光)を検出するものである。
784号特許公報には、レーザー計測装置100が開示
されている。このレーザー計測装置100は、レーザー
光源として、波長1064nmのレーザービームを発振
するパルスYAGレーザー102を備えている。このレ
ーザー102の前方には、レーザービームの波長を53
2nmに変換し、基準レーザービームω11(波長λ
11)を出射させる第2高調波発生器104が設けられ
ている。このビームω11の光路上には、ビームスプリ
ッタ106がビームω11を2方向に分割するように配
置されている。このビームスプリッタ106に入射され
たビームω11は、反射ビームω11と透過ビームω
11’とに分割される。
ビームω11を反射させる、ミラー108が設けられて
いる。前記透過ビームω11’の光路上には、このビー
ムω11’を振動数の異なるストークスビームω
22(波長607nm)に変換して出射させる、色素レ
ーザー110が設けられている。そして、ストークスビ
ームω22の光路上には、このストークスビームω22
の横断面パターンを半分遮断し、半円形にするナイフエ
ッジ112が配置されている。
とストークスビームω22との光路上の交叉したところ
には、基準レーザービーム(反射ビーム)ω11を透過
し、ストークスビームω22を反射して1本のビームω
11,ω22にする、ダイクロイックミラー114が設
けられている。このビームω11,ω22の光路上に
は、ビームω11,ω22を所定の距離で集光するレン
ズ116が設けられている。そして、この集光位置に
は、試料Mが配設されている。この試料Mには、ビーム
ω11,ω22が照射され、この試料Mから反ストーク
スビームω33が発生される。なお、試料Mを透過する
ビームには、反ストークスビームω33の他に、基準レ
ーザービームω11およびストークスビームω22が含
まれている。
路上には、これらビームω11,ω 22,ω33を平行
光にするレンズ118が設けられている。また、これら
ビームω11,ω22,ω33の光路上には、基準レー
ザービームω11およびストークスビームω22の混合
部のみを遮断するナイフエッジ120が設けられてい
る。そして、これらビームω11,ω33の光路上に
は、基準レーザービームω 11のみを遮断する適当な波
長選択器122が配設されている。そして、残された反
ストークスビームω33の光路上には、反ストークスビ
ームω33を反射する2つの反射ミラー124が設けら
れている。また、このビームω33の光路上には、反ス
トークスビームω33をスペクトルに分光する分光器1
26が設けられている。そして、この分光器の前方に
は、検出器128が設けられており、分光されたスペク
トルが検出される。さらに、この検出器128には、ミ
ニコンピュータ130が接続されている。また、このミ
ニコンピュータ130には、画像表示装置132が接続
され、検出器128で検出されたスペクトルは、ミニコ
ンピュータ130を用いて電気信号に変換され、この信
号が画像表示装置132で表示される。
合するための調整は、上記の構成からナイフエッジ12
0が除かれ、基準レーザービームω11の横断面パター
ンに含まれる全ての反ストークスビームω33が検出さ
れて、行なわれる。この調整が行なわれた後、ナイフエ
ッジ120によって、基準レーザービームω11とスト
ークスビームω22との混合部のみが遮断されて、空間
上の微小な交叉点から生じる空間分解能の高い反ストー
クスビームω33が容易に得られる。
基準レーザービームω11(波長λ 11)の横断面パタ
ーンの一部にストークスビームω22(波長λ22)が
混合されて、試料Mに入射される手段を備えている。ま
た、出射側では、基準レーザービームω11とストーク
スビームω22との混合部のみが遮断され、その他の基
準レーザービームω11の横断面パターンに含まれる反
ストークスビームω3 3が抽出される手段を備えてい
る。
間分解能の高い最小交叉角法を精度良く調整することに
関するものである。しかしながら、基本的に、光学軸の
ミスアライメントが生じる可能性を除くことができな
い。例えば、理想的な調整が行なわれたとしても、環境
温度の変化や振動などの影響でミスアライメントが生じ
る可能性がある。このため、基準レーザービームω11
とストークスビームω22との出射方位が一致していて
も、ミスアライメントが生じる可能性がある。
トークスビームの強度が弱められてしまうだけでなく、
反ストークスビームの発生に寄与しない基準レーザービ
ームとストークスビームとがノイズ成分として検出され
てしまう可能性がある。すなわち、反ストークスビーム
の検出において、SN比の低下をまねくという欠点を有
する。
生じると、反ストークスビームの発生に寄与しない基準
レーザービームとストークスビームとが試料に照射され
てしまうことがある。このため、試料が化学物質の場合
はまだ良いが、生きた細胞や組織の場合は、これら2つ
のビームで試料にダメージを与えてしまう可能性があ
る。
ミスアライメントの発生を抑えることができるととも
に、反ストークスビーム(反ストークスラマン散乱光)
を安定して高いSN比で検出することができる、レーザ
ー顕微鏡を提供することを目的とする。
成に寄与する基準レーザービームおよびストークスビー
ムのみが試料に照射され、生きた細胞や組織を観察する
のに最適なレーザー顕微鏡を提供することを目的とす
る。
に、本発明によるレーザー顕微鏡は、それぞれ異なる振
動数を有する基準レーザービームおよびストークスビー
ムを出射させるレーザー光源と、反ストークスビームを
試料から得るためのこれら2つのビームを、対物レンズ
を介して試料上に集光して照射する照射手段と、試料か
らの反ストークスビームを導き、かつ前記基準レーザー
ビームおよびストークスビームを遮断するビーム選択手
段と、試料からの反ストークスビームを検出する光検出
器とを備えている。そして、前記基準レーザービームお
よびストークスビームは、前記レーザー光源と照射手段
との間に配設された共通の光ファイバーの入射端に入射
され、この光ファイバーに入射された2つのビームは、
出射端から出射されて、前記照射手段に導かれることを
特徴とするものである。
て前記基準レーザービームおよびストークスビームを前
記試料上で集光して、試料上を走査させる走査手段を備
えていることを特徴とするものである。
ービームおよびストークスビームの一方または両方のビ
ームの一部を遮断する瞳変調手段を備えていることを特
徴とするものである。
の実施の形態について説明する。
形態について、図1ないし図3を用いて説明する。図1
に示すように、レーザー顕微鏡は、レーザー光源とし
て、出射口(図示せず)から所定の方向にレーザービー
ムを出射させるモードロックアルゴンレーザー2を備え
ている。このレーザー2の前方には、ビームスプリッタ
4が配設されている。このビームスプリッタ4は、入射
されたレーザービームを透過ビームと、このビームに対
して直角方向に反射される反射ビームとの2つのビーム
に分割する。
ームω1(波長570nm)を出射する第1の色素レー
ザー6が配設されている。また、前記反射ビームの光路
上には、ビームスプリッタ4に平行となるように傾斜さ
れた反射ミラー7が配設されている。反射ミラー7は、
入射されたビームを直角に反射させる。このビームの光
路上には、ストークスビームω2(波長620nm〜6
80nmに可変可能)を出射する第2の色素レーザー8
が配設されている。なお、前記第1および第2の色素レ
ーザー6,8は、それぞれモードロックアルゴンレーザ
ー2と同じ繰り返し周波数でパルス発振される。
は、プリズム10および反射ミラー12を有する光学遅
延装置14が設けられている。このプリズム10は、ス
トークスビームω2を反射させる。このストークスビー
ムω2の光路上には、ビームスプリッタ4と平行となる
ように傾斜された反射ミラー12が配設されている。こ
の反射ミラー12は、入射されたストークスビームω2
を直角に反射させる。また、第1の色素レーザー6から
出射された基準レーザービームω1と、このストークス
ビームω2との光路上の交叉したところには、ダイクロ
イックミラー16が基準レーザービームω1に対して1
35°、ストークスビームω2に対しては、45°傾け
られて配置されている。このダイクロイックミラー16
は、基準レーザービームω1を透過させ、ストークスビ
ームω2を基準レーザービームω1と同一方向に反射さ
せ、基準レーザービームω1とストークスビームω2と
を合成させる。
ω1およびストークスビームω2(以下、ビームω1,
ω2と称する)の光路上には、入射されたビームω1,
ω2を所定の焦点距離で集光させる、集光レンズ18が
設けられている。このビームω1,ω2が集光される集
光位置には、任意の長さを有する光ファイバー(例え
ば、シングルモードファイバー)20の一端(入射端)
20aが配設されている。また、このシングルモードフ
ァイバー20の他端には、出射端20bが配設され、入
射端20aに入射されたビームω1,ω2を出射端20
bに伝送して出射させる。この場合、このビームω1,
ω2(基準レーザービームω1およびストークスビーム
ω2)の出射位置は、完全に一致するので、光学軸のミ
スアライメントが発生する可能性を防止することができ
る。
は、後述する試料34にビームω1,ω2を導く照射手
段が設けられている。この照射手段は、まず、コリメー
トレンズ22を備えている。コリメートレンズ22は、
入射されたビームω1,ω2を平行ビームにする。そし
て、このコリメートレンズ22の前方には、例えばガラ
ス材からなる平行平面体24が配設されている。この平
行平面体24は、図示しないが、紙面に垂直な軸回りに
回転可能に保持されている。そして、この平行平面体2
4は、一方の側から入射されたビームω1,ω2を基準
レーザービームω1とストークスビームω2とに分光さ
せる。これら2つのビームω1,ω2を他方の側でそれ
ぞれ屈折させ、互いのビームω1,ω2に対して平行に
出射させる。
ビームω1,ω2の出射先には、ミラー26が配設され
ている。このミラー26は、これらビームω1,ω2を
試料34上に導くために設けられ、図1中の矢印の方向
に移動させることにより、入射されたビームω1,ω2
を所定距離だけ平行移動させる。
は、リレーレンズ28,30が配設されている。これら
リレーレンズ28,30は、入射されたビームω1,ω
2を中継させる。そして、リレーレンズ30を透過した
これら2つのビームω1,ω2の出射先には、図2の
(a)に示すようにそれぞれのビームω1,ω2が入射
される、対物レンズ32が配設されている。図1に示す
ように、対物レンズ32を透過したビームω1,ω2の
出射先には、図示しない電動ステージに配設された試料
34が配置されている。この対物レンズ32は、入射さ
れた基準レーザービームω1およびストークスビームω
2を試料34上に集光、照射して、反ストークスビーム
(反ストークスラマン散乱光)ω3を試料から発生させ
る。
ムω1およびストークスビームω2と反ストークスビー
ムω3との光路上には、入射された各種ビームω1,ω
2,ω3を所定の焦点距離で集光する、集光レンズ36
が配設されている。この集光レンズ36を透過した各種
ビームω1,ω2,ω3の出射先には、基準レーザービ
ームω1とストークスビームω2とを遮断し、反ストー
クスビームω3のみを透過させる、波長選択フィルタ
(ビーム選択手段)38が設けられている。また、透過
された反ストークスビームω3の光路上には、光検出器
40が設けられている。電動ステージの位置信号と、光
検出器40で検出される反ストークスビームω 3の光信
号とは、信号処理器(図示せず)で処理されて電気信号
に変換され、試料34の反ストークスラマン散乱画像を
得ることができる。
ザービームω1との角振動数の差(ω2−ω1)がラマ
ン活性な分子振動の角振動数と一致するように、620
nm〜680nmの間でチューニングされる。また、ス
トークスビームω2と基準レーザービームω1とは、共
にパルス発振されるので、これらのパルスが同時に試料
34に照射されるように光学遅延装置14を調整する。
体24が回転可能に保持されているので、基準レーザー
ビームω1とストークスビームω2との光軸間隔を自由
に変えることができる。このため、使用される対物レン
ズ32に合わせてミラー26の位置を調整し、瞳を合わ
せることができる。
例を記す。コリメートレンズ22は、図示しないズーム
光学系を備え、焦点距離が可変にされていてもよい。こ
のため、対物レンズ32へ入射される、基準レーザービ
ームω1およびストークスビームω2のビーム径は、使
用される対物レンズ32の瞳径に合わせて調整され得
る。
も大きい瞳径の対物レンズ32に対しても、最適なビー
ム径で入射され得る。また、図3に示すように、2つの
ビームω1,ω2の一部は、光路の途中に部分的に設け
られた瞳変調手段として機能する遮断部材42で遮断さ
れ、図2の(b)に示すように対物レンズ32の瞳に入
射される。この場合、対物レンズ32の焦点位置以外で
は、基準レーザービームω1とストークスビームω2と
が交叉しないので、空間分解能の高い反ストークスビー
ムω3を得ることができる。
ーザービームω1とストークスビームω2とのほぼ中央
に遮断部材42が設けられて、両方のビームの一部が遮
断されることを示している。この遮断部材42を基準レ
ーザービームω1およびストークスビームω2のどちら
かに偏らせて、どちらか一方のビームのみを遮断する瞳
変調手段を行なってもよい。
ーのパワーが十分でなくともこの顕微鏡を有効に使用す
ることができる。
形態について、図4を用いて説明する。以下、同様な作
用および機能を有する部材には、第1の実施の形態で用
いた符号と同じ符号を使用して、詳しい説明を省略す
る。図4に示すように、レーザー顕微鏡は、レーザー光
源として、モードロックチタンサファイアレーザー50
と光パラメトリックオシレータ52とを備えている。
0は、出射口(図示せず)から所定の方向に、所定の振
動数を有する基準レーザービームω1(波長850n
m)を出射させる。また、光パラメトリックオシレータ
52には、図示しないモードロックチタンサファイアレ
ーザーが接続されており、当該光パラメトリックオシレ
ータ52の出射口(図示せず)から基準レーザービーム
ω1と振動数が異なるストークスビームω2(波長11
00nm〜1350nmに変調可能)を所定の方向に出
射させる。
は、共に82MHzの繰り返し周波数でパルスを発振す
る。なお、これらレーザー50およびオシレータ52
は、パルス幅が100〜150fs程度の超短パルスを
発振する。これらレーザー50およびオシレータ52を
出射されたそれぞれ基準レーザービームω1およびスト
ークスビームω2の光路上には、それぞれ4つのプリズ
ム54,56が設けられ、分散補償光学系58を形成し
ている。これらプリズム54,56は、それぞれ所定の
間隔で、隣接するプリズムに対してそれぞれ所定の角度
傾けられて設置されている。そして、これらプリズム5
4,56は、それぞれのビームω1,ω2に対して負の
分散を発生させる。この分散補償光学系58について
は、後述する。
ームω2は、それぞれプリズム10の直角を挟む面に入
射され、反射される。そして、反射ミラー12に入射さ
れ、ストークスビームω2が直角に反射される。そし
て、基準レーザービームω1およびストークスビームω
2をダイクロイックミラー16に入射し、基準レーザー
ビームω1を透過させ、ストークスビームω2を基準レ
ーザービームω1と同一方向に反射させ、基準レーザー
ビームω1とストークスビームω2とを合成させる。
れたビームω1,ω2をその集光位置で、光ファイバー
(例えば、シングルモードファイバー)20の入射端2
0aに入射させる。シングルモードファイバー20は、
入射されたビームω1,ω2を出射端20bに伝送し
て、出射させる。
する試料34にビームω1,ω2を導く照射手段が設け
られている。この照射手段は、まず、コリメートレンズ
22を介して入射されたビームω1,ω2を平行ビーム
にする。そして、このコリメートレンズ22の前方に
は、例えば、SF10のような高分散ガラス60が設け
られている。この高分散ガラス60は、正の分散を発生
させる分散補償光学系として作用される。この分散補償
光学系については、後述する。
体24に入射させる。一方の側から入射されたビームω
1,ω2は、任意の角度で基準レーザービームω1およ
びストークスビームω2の2つのビームに分光され、そ
れぞれ屈折された後、他方の側より互いのビームω1,
ω2に対して平行に出射される。
は、ミラー61が設けられており、当該ミラー61を図
4中の矢印の方向に移動させることにより、これらビー
ムω 1,ω2を試料34上で所定距離だけ平行移動させ
ることができる。
のビームω1,ω2の光路上には、走査ミラー62a,
62cを備えたX−Y走査装置62が設けられており、
走査ミラー62aをX方向に揺動させてミラー61から
の2つのビームω1,ω2を試料34上でX方向に走査
させ、同様に、走査ミラー62cを走査ミラー62aの
揺動に直交する方向、すなわちY方向に揺動させてミラ
ー61からの2つのビームω1,ω2を試料34上でY
方向に走査させる。
との間におけるこれら2つのビームω1,ω2の光路上
には、1組のリレーレンズ62bが設けられており、こ
れらリレーレンズ62bによって、走査ミラー62cか
らのX方向に走査された2つのビームω1,ω2を走査
ミラー62cに中継する。
−Y方向に光偏向されたこれらビームω1,ω2をリレ
ーレンズ28,30を介して対物レンズ32に入射させ
る。なお、ミラー62cの像は、リレーレンズ28,3
0により、対物レンズ32のほぼ瞳位置に投影される。
対物レンズ32の瞳には、図2の(a)に示すように、
これら2つのビームω1,ω2が入射される。
レーザービームω1とストークスビームω2とを試料3
4上に集光、照射することによって、反ストークスビー
ム(反ストークスラマン散乱光)ω3を試料34から発
生させる。この試料34を透過した基準レーザービーム
ω1およびストークスビームω2と、反ストークスビー
ムω3との光路上には、集光レンズ36が配設され、入
射されたビームω1,ω2,ω3を集光させる。集光レ
ンズ36を透過した各ビームω1,ω2,ω3の出射先
には、波長選択フィルタ38が設けられ、この波長選択
フィルタ38で、基準レーザービームω1とストークス
ビームω2とが遮断され、反ストークスビームω3のみ
が透過される。
の光路上の集光レンズ36に入射されたビームω3を集
光させる位置に好ましくは設けられている。そして、X
−Y走査装置62の走査信号と、光検出器40で検出さ
れる反ストークスビームω3の光信号とは、信号処理器
(図示せず)で処理されて電気信号に変換され、試料3
4の反ストークスラマン散乱画像を得ることができる。
ザービームω1との角振動数の差(ω2−ω1)がラマ
ン活性な分子振動の角振動数と一致するように、110
0nm〜1350nmの間でチューニングされる。ま
た、ストークスビームω2と基準レーザービームω1と
は、共にパルス発振されるので、これらのパルスが同時
に試料34に照射されるように光学遅延装置14を調整
する。
について説明する。シングルモードファイバー20にパ
ルス幅が100〜150fs程度の高密度の光が伝送さ
れると、自己位相変調が生じる。このため、ファイバー
20からビームω1,ω2が出射された後に適当な分散
補償が行われても元のパルス幅を再現できない可能性が
ある。これは、レーザー出力を強めるほど顕著に現れ
る。
ドファイバー20から出射されるビームω1,ω2がピ
コ秒レベルのパルス幅で出射されるように、大きな負の
分散が与えられる分散補償光学系58が基準レーザービ
ームω1およびストークスビームω2に対してそれぞれ
配置されている。そして、この負の分散補償光学系58
の分散量は、それぞれ光路中に配置されている光学素子
の分散量の総和を相殺する値が選択されるのが好まし
い。
8からコリメートレンズ22までと、平行平面体24か
ら対物レンズ32までとの分散量の合計が、分散補償光
学系58の分散を相殺するまでには至らない。このた
め、正の分散を与えることができる、例えばSF10の
ような高分散ガラス60が光路に配置されている。
52からそれぞれ出射される、基準レーザービームω1
およびストークスビームω2が有するレーザーパルス幅
は、広がることなく対物レンズ32から出射され、試料
34上に照射される。
償光学系58は、2つのレーザービームω1,ω2に対
してそれぞれ配置されている。シングルモードファイバ
ー20には、ピコ秒レベルに広がる光パルスが伝送され
るので、自己位相変調の問題が生じ難い。このため、対
物レンズ32から出射されるレーザービームのパルス幅
は、それぞれレーザー50およびオシレータ52から出
射されるパルス幅としてほぼ再現される。
程なので、上記に示すような超短パルスレーザービーム
を使用することにより、高い光子密度で試料34上に照
射されるので、強い反ストークスビームω3が試料34
から得られる。従って、SN比の良いデータが得られ
る。これは、平均出力が低いレーザーを使用しても、デ
ータ取得が可能であることを示している。ゆえに、試料
34が生きた生物標本などの場合に極めて有利である。
例を記す。分散補償光学系には、いくつかの変形例が挙
げられる。シングルモードファイバー20に2つのビー
ムω1,ω2が入射される前に、正の分散が発生される
分散部材(例えば、SF10のような高分散ガラス)が
配置されてもよい。そして、シングルモードファイバー
20からこのビームω1,ω2が出射された後に、負の
分散が発生される、例えば、4つのプリズムのような光
学系が配置されてもよい。また、プリズムの代わりに回
折格子が用いられてもよい。
グルモードファイバーの自己位相変調が問題にならない
場合には、正の分散が発生される部材を除いてもよい。
そして、集光レンズ18から対物レンズ32までの分散
量の合計を相殺する負の分散が与えられる分散補償光学
系がそれぞれのレーザーに対して配置されてもよい。
は、光ファイバーとしてシングルモードファイバー20
を用いて説明したが、このファイバーは、シングルモー
ドの範囲内だけでなく、ほぼシングルモードとして扱え
る範囲内であれば、第1および第2の実施の形態で使用
したもの以外のものも用いることができる。
偏波面が保存されるファイバーが用いられてもよい。こ
のため、レーザービームが直線偏光の場合には、偏光が
保持され、ファイバーの屈曲状態が変わっても出力の変
動が少なく、安定してデータの取得を行なうことができ
る。
それぞれ図1および図4に示すような光学系を説明した
が、このような光学系は一例であって、要旨を逸脱しな
い範囲であれば、他の光学系を用いてももちろん構わな
い。
それぞれ図1および図4に示すような照射手段を説明し
たが、このような照射手段は、一例であって、要旨を逸
脱しない範囲であれば、他の照射手段を用いてももちろ
ん構わない。
とストークスビームとが光ファイバーを介して出射され
るので、対物レンズの集光位置で、これらビームの位置
の重合性が保証される。従って、反ストークスビームを
得るのに寄与する基準レーザービームおよびストークス
ビームのみが試料に照射される。このため、試料に余計
なレーザービームが照射されることを防ぐので、生きた
生物細胞や組織を観察する場合に極めて有利である。ま
た、検出信号が安定した高いSN比で検出される。
で、ミスアライメントが生じたとしても、光ファイバー
へのレーザービームの入射効率に影響を及ぼすのみであ
る。これは、対物レンズの集光位置でのビームの位置重
合性に影響を及ぼすことを防ぐものである。従って、検
出信号を高いSN比で安定して検出することができる。
図面を参照しながら具体的に説明したが、本発明は、上
述した実施の形態に限定されるものではなく、その要旨
を逸脱しない範囲で行なわれるすべての実施を含む。
られる。また、各項の組み合わせも可能である。
およびストークスビームを出射させるレーザー光源と、
反ストークスビームを試料から得るためのこれら2つの
ビームを、対物レンズを介して試料上に集光して照射す
る照射手段と、試料からの反ストークスビームを導き、
かつ前記基準レーザービームおよびストークスビームを
遮断するビーム選択手段と、試料からの反ストークスビ
ームを検出する光検出器と、を具備するレーザー顕微鏡
において、前記基準レーザービームおよびストークスビ
ームは、前記レーザー光源と照射手段との間に配設され
た共通の光ファイバーの入射端に入射され、この光ファ
イバーに入射された2つのビームは、出射端から出射さ
れて、前記照射手段に導かれることを特徴とするレーザ
ー顕微鏡。
前記基準レーザービームおよびストークスビームを前記
試料上で集光して、試料上を走査させる走査手段を備え
ていることを特徴とする付記項1に記載のレーザー顕微
鏡。
ームおよびストークスビームの一方または両方のビーム
の一部を遮断する瞳変調手段を備えていることを特徴と
する付記項1もしくは2に記載のレーザー顕微鏡。
ドファイバーが用いられていることを特徴とする付記項
1ないし3のいずれか1に記載のレーザー顕微鏡。
ミスアライメントの発生を抑えることができるととも
に、反ストークスビームを安定して高いSN比で検出す
ることができる、レーザー顕微鏡を提供することができ
る。
ムの生成に寄与する基準レーザービームおよびストーク
スビームのみが試料に照射され、生きた細胞や組織を観
察するのに最適なレーザー顕微鏡を提供することができ
る。
構成を示す概略図。
射されたときの概略的な説明図、(b)は図3に示す遮
断部材が設けられた場合に、対物レンズの瞳にレーザー
ビームが入射されたときの概略的な説明図。
材が設けられた場合の概略図。
構成を示す概略図。
略図。
ω3…反ストークスビーム、2…モードロックアルゴン
レーザー、20…シングルモードファイバー、32…対
物レンズ、34…試料、38…波長選択フィルタ、40
…光検出器
Claims (3)
- 【請求項1】 それぞれ異なる振動数を有する基準レー
ザービームおよびストークスビームを出射させるレーザ
ー光源と、 反ストークスビームを試料から得るためのこれら2つの
ビームを、対物レンズを介して試料上に集光して照射す
る照射手段と、 試料からの反ストークスビームを導き、かつ前記基準レ
ーザービームおよびストークスビームを遮断するビーム
選択手段と、 試料からの反ストークスビームを検出する光検出器と、 を具備するレーザー顕微鏡において、 前記基準レーザービームおよびストークスビームは、前
記レーザー光源と照射手段との間に配設された共通の光
ファイバーの入射端に入射され、 この光ファイバーに入射された2つのビームは、出射端
から出射されて、前記照射手段に導かれることを特徴と
するレーザー顕微鏡。 - 【請求項2】 前記照射手段は、対物レンズを介して前
記基準レーザービームおよびストークスビームを前記試
料上で集光して、試料上を走査させる走査手段を備えて
いることを特徴とする請求項1に記載のレーザー顕微
鏡。 - 【請求項3】 前記照射手段は、前記基準レーザービー
ムおよびストークスビームの一方または両方のビームの
一部を遮断する瞳変調手段を備えていることを特徴とす
る請求項1もしくは2に記載のレーザー顕微鏡。
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