JP2009163069A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2009163069A5
JP2009163069A5 JP2008001674A JP2008001674A JP2009163069A5 JP 2009163069 A5 JP2009163069 A5 JP 2009163069A5 JP 2008001674 A JP2008001674 A JP 2008001674A JP 2008001674 A JP2008001674 A JP 2008001674A JP 2009163069 A5 JP2009163069 A5 JP 2009163069A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polarizing plate
observation
optical axis
differential interference
prism
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008001674A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009163069A (ja
JP5065059B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2008001674A priority Critical patent/JP5065059B2/ja
Priority claimed from JP2008001674A external-priority patent/JP5065059B2/ja
Priority to EP09000049.8A priority patent/EP2078974B1/en
Priority to US12/350,368 priority patent/US8203783B2/en
Publication of JP2009163069A publication Critical patent/JP2009163069A/ja
Publication of JP2009163069A5 publication Critical patent/JP2009163069A5/ja
Priority to US13/473,286 priority patent/US20120224257A1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5065059B2 publication Critical patent/JP5065059B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (8)

  1. 標本を照明する照明光源と、
    前記標本を観察する対物レンズと、
    前記対物レンズの標本像を結像する結像レンズと、
    前記対物レンズと前記結像レンズの間の観察光軸に配置される第1の偏光板と、
    前記照明光源と前記標本の間の照明光軸上の照明光路中に配置されたコンデンサレンズと、
    前記コンデンサレンズにおけるレンズの照明光源側の照明光軸上に光学素子を配置するタレットと、
    前記タレットに配置された光学素子であるスリットおよび第2の偏光板と、
    前記タレットと前記照明光源の間に配置された第3の偏光板と、を備え、
    前記第2の偏光板と前記第3の偏光板、または前記第1の偏光板と前記第2の偏光板の振動方向がほぼ一致している状態で観察を切換える
    ことを特徴とする顕微鏡。
  2. 前記対物レンズと前記結像レンズの間の観察光軸に配置される微分干渉観察用の第1のプリズムと、
    前記タレットに配置された光学素子である微分干渉観察用の第2のプリズムと、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。
  3. 前記スリットの前記観察光学系側に配置されたデポライザ
    を備えることを特徴とする請求項2に記載の顕微鏡。
  4. 微分干渉観察の時は、前記観察光軸に前記微分干渉観察用の第1のプリズム及び前記第1の偏光板を配置し、前記照明光軸に前記第3の偏光板および前記タレットの微分干渉観察用の第2のプリズムを配置し、
    レリーフコントラスト観察の時は、前記観察光軸では前記微分干渉観察用の第1のプリズム及び前記第1の偏光板を外し、前記照明光軸に前記第3の偏光板、前記タレットのスリットおよび前記第2の偏光板を配置し、
    このとき前記第2の偏光板と前記第3の偏光板)の振動方向がほぼ一致している状態で観察を切換える
    ことを特徴する請求項2に記載の顕微鏡。
  5. 微分干渉観察の時は、前記観察光軸に前記微分干渉観察用の第1のプリズム及び前記第1の偏光板を配置し、前記照明光軸に前記第3の偏光板および前記タレットの微分干渉観察用の第2のプリズムを配置し、
    レリーフコントラスト観察の時は、前記観察光軸では前記微分干渉観察用の第1のプリズム及び前記第1の偏光板を配置し、前記照明光軸に前記第3の偏光板、前記タレットのスリットおよび前記第2の偏光板を配置し、
    前記微分干渉観察用の第1のプリズム及び前記第1の偏光板は観察の切換にかかわらず前記観察光軸に固定配置し、
    前記第2の偏光板と前記第3の偏光板の振動方向がほぼ一致している状態で観察を切換える
    ことを特徴とする請求項3に記載の顕微鏡。
  6. 微分干渉観察の時は、前記観察光軸に前記微分干渉観察用の第1のプリズム及び前記第1の偏光板を配置し、前記照明光軸に前記第3の偏光板および前記タレットの微分干渉観察用の第2のプリズムを配置し、
    レリーフコントラスト観察の時は、前記観察光軸では前記微分干渉観察用の第1のプリズム及び前記第1の偏光板を配置し、前記照明光軸の第3の偏光板、前記タレットのスリットおよび前記第2の偏光板を配置し、
    前記第1の偏光板と前記第2の偏光板の振動方向がほぼ一致している状態である
    ことを特徴とする請求項2に記載の顕微鏡。
  7. 前記スリットは、空穴スリット及び偏光スリットからなり、該偏光スリットと前記第2の偏光板とはクロスニコルから少しずれている
    ことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。
  8. 前記タレットは、空穴が配置されている
    ことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。
JP2008001674A 2008-01-08 2008-01-08 顕微鏡 Expired - Fee Related JP5065059B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008001674A JP5065059B2 (ja) 2008-01-08 2008-01-08 顕微鏡
EP09000049.8A EP2078974B1 (en) 2008-01-08 2009-01-05 Microscope
US12/350,368 US8203783B2 (en) 2008-01-08 2009-01-08 Microscope with switchable condenser arrangement for different observation methods
US13/473,286 US20120224257A1 (en) 2008-01-08 2012-05-16 Microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008001674A JP5065059B2 (ja) 2008-01-08 2008-01-08 顕微鏡

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012158419A Division JP5452675B2 (ja) 2012-07-17 2012-07-17 顕微鏡

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009163069A JP2009163069A (ja) 2009-07-23
JP2009163069A5 true JP2009163069A5 (ja) 2011-02-17
JP5065059B2 JP5065059B2 (ja) 2012-10-31

Family

ID=40548478

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008001674A Expired - Fee Related JP5065059B2 (ja) 2008-01-08 2008-01-08 顕微鏡

Country Status (3)

Country Link
US (2) US8203783B2 (ja)
EP (1) EP2078974B1 (ja)
JP (1) JP5065059B2 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5065059B2 (ja) * 2008-01-08 2012-10-31 オリンパス株式会社 顕微鏡
CN101995649B (zh) * 2010-12-22 2012-08-29 广州粤显光学仪器有限责任公司 落射式微分干涉相衬显微镜
JPWO2012150689A1 (ja) 2011-05-02 2014-07-28 オリンパス株式会社 顕微鏡、及び、顕微鏡を用いた顕微授精方法
DE102011108553B4 (de) * 2011-07-22 2021-05-06 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Einstellung von Beleuchtungseinrichtungen an Durchlichtmikroskopen
JP6531403B2 (ja) * 2015-01-27 2019-06-19 株式会社ニコン 顕微鏡
JP2017009905A (ja) 2015-06-25 2017-01-12 オリンパス株式会社 顕微鏡用照明装置および顕微鏡
KR101731498B1 (ko) 2015-09-08 2017-04-28 한국과학기술연구원 표면 검사 장치 및 방법
WO2017197524A1 (en) * 2016-05-19 2017-11-23 1323079 Alberta Ltd. Method and apparatus for monitoring fluid dynamic drag
KR101873966B1 (ko) 2016-11-10 2018-07-04 한양대학교 에리카산학협력단 타원해석기
JP6839439B2 (ja) * 2016-12-01 2021-03-10 国立大学法人山口大学 試料観察装置
JP7137422B2 (ja) 2018-09-28 2022-09-14 シスメックス株式会社 顕微鏡装置
JP6922955B2 (ja) * 2019-09-03 2021-08-18 株式会社島津製作所 偏光顕微鏡
EP4099078A1 (en) * 2021-06-01 2022-12-07 Leica Microsystems CMS GmbH Microscope for transmitted light contrasting

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3503662A (en) * 1964-05-07 1970-03-31 Jerzy Grzelak Device for optical microscope transformation into a polarizing interferometer microscope
JPS5341587B2 (ja) 1973-09-20 1978-11-04
JPS5129149A (ja) 1974-09-06 1976-03-12 Robert Hoffman Isobutsutaikansatsuyokenbikyoshisutemu
US4255014A (en) * 1977-07-20 1981-03-10 Research Corporation Edge enhancement of phase phenomena
DE2946927C2 (de) * 1979-11-21 1983-07-07 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Automatische Durchlichtbeleuchtung für Mikroskope
US4407569A (en) * 1981-07-07 1983-10-04 Carl Zeiss-Stiftung Device for selectively available phase-contrast and relief observation in microscopes
CA1223644A (en) * 1981-09-24 1987-06-30 James R. Morris Microsurgical laser
US4756611A (en) * 1984-08-31 1988-07-12 Olympus Optical Co., Ltd. Multiple-purpose microscope
JP2918938B2 (ja) * 1989-11-15 1999-07-12 オリンパス光学工業株式会社 顕微鏡用ターレットコンデンサー
JP3042090B2 (ja) 1991-10-31 2000-05-15 松下電器産業株式会社 薄膜コンデンサ
JPH05232384A (ja) * 1992-02-18 1993-09-10 Olympus Optical Co Ltd 干渉顕微鏡
JP3289941B2 (ja) * 1992-03-13 2002-06-10 オリンパス光学工業株式会社 システム顕微鏡
JP3293875B2 (ja) * 1992-04-27 2002-06-17 富士通株式会社 微分干渉顕微鏡
DE4231440A1 (de) * 1992-09-19 1994-03-24 Leica Mikroskopie & Syst Universal-Klappkondensor für Mikroskope
IL104708A (en) * 1993-02-12 1995-12-31 Orbotech Ltd Device and method for optical inspection of items
DE4404283A1 (de) * 1994-02-11 1995-08-17 Leica Mikroskopie & Syst Kondensorsystem für Mikroskope
JPH08190054A (ja) * 1995-01-11 1996-07-23 Olympus Optical Co Ltd 振幅変調コントラスト顕微鏡
JP3537205B2 (ja) * 1995-02-02 2004-06-14 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
US20020195548A1 (en) * 2001-06-06 2002-12-26 Dowski Edward Raymond Wavefront coding interference contrast imaging systems
US5706128A (en) * 1995-09-11 1998-01-06 Edge Scientific Instrument Company Llc Stereo microscope condenser
JP3612833B2 (ja) * 1995-12-06 2005-01-19 株式会社ニコン 透過型微分干渉顕微鏡
JP3708246B2 (ja) * 1996-09-19 2005-10-19 オリンパス株式会社 光制御部材を有する光学顕微鏡
US6323995B1 (en) * 1998-03-17 2001-11-27 Olympus Optical Co., Ltd. Optical element switching device and optical microscope loaded with the device
JP2000155266A (ja) * 1998-11-20 2000-06-06 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡光学系
US6741356B1 (en) * 1999-09-20 2004-05-25 Olympus Corporation Method for detecting physical amount of object and optical apparatus using the same
JP4027546B2 (ja) * 1999-10-21 2007-12-26 オリンパス株式会社 顕微鏡システム
US6891671B1 (en) * 2000-04-18 2005-05-10 Gary Greenberg Apparatus and methods for creating real-time 3-D images and constructing 3-D models of an object imaged in an optical system
JP2001264639A (ja) 2000-03-21 2001-09-26 Olympus Optical Co Ltd 光学素子スライダー
US6437912B2 (en) * 1999-12-08 2002-08-20 Olympus Optical Co., Ltd. Microscope, transillumination condenser therefor, and optical element slider
JP2003050353A (ja) * 2001-08-08 2003-02-21 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡用コンデンサー
JP2004109919A (ja) 2002-09-20 2004-04-08 Olympus Corp 倒立顕微鏡
DE10245974A1 (de) * 2002-10-02 2004-04-15 Leica Mikroskopie Und Systeme Gmbh Phasenschiebungs-Verfahren und Vorrichtung zur Realisierung von Phasenkontrast- bzw. Modulationskontrast-Beobachtung an Mikroskopen
JP2007041510A (ja) * 2005-06-28 2007-02-15 Olympus Corp 観察装置、及びそれを備えた観察システム
JP5028249B2 (ja) * 2007-12-25 2012-09-19 オリンパス株式会社 顕微鏡
JP5065059B2 (ja) * 2008-01-08 2012-10-31 オリンパス株式会社 顕微鏡

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009163069A5 (ja)
US20160202460A1 (en) 3D Microscopy With Illumination Engineering
CN102385151B (zh) 包括显微物镜和微距物镜的显微镜
JP2006154230A (ja) ズーム顕微鏡
JPWO2008069220A1 (ja) 結像装置及び顕微鏡
US9213174B2 (en) Microscope and controlling method
EP2078974A3 (en) Microscope
KR20200096238A (ko) 기능 모듈 및 기능 모듈이 장착된 현미경
JP6625626B2 (ja) 顕微鏡
JP2006301599A (ja) 微弱光撮像光学系、それを備えた顕微鏡装置、及びそれを備えた顕微鏡システム
JP2007041510A (ja) 観察装置、及びそれを備えた観察システム
ATE463756T1 (de) Interferometrisches konfokales mikroskop
JP2014059413A (ja) 顕微鏡
US9140886B2 (en) Inverted microscope including a control unit configured to synchronize a switching operation between absorption filters with a switching operation between excitation filters
US7764375B2 (en) Imaging device for imaging microscopic or macroscopic objects
JP5389390B2 (ja) 観察装置
US20060291048A1 (en) Multi-axis imaging system with single-axis relay
WO2008120167A3 (en) Optical biopsy device
JP2007219319A5 (ja)
JP6141067B2 (ja) 顕微鏡
JP2011102817A (ja) 顕微鏡装置
JP2006276663A (ja) 顕微鏡
US9405111B2 (en) Slider for sliding into the observation beam path of a microscope
JP2010020298A (ja) 結像装置及び顕微鏡
JP2009288528A (ja) 微分干渉顕微鏡装置