JP2009135129A - 基板処理装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】液ナイフから基板上に不要な処理液が滴下するのを防止し、これによって基板の品質向上を図る。
【解決手段】基板処理装置1は、搬送中の基板Sの上面に、その搬送方向上流側から下流側に向かって斜め方向にリンス液を吐出する液ナイフ16を備える。液ナイフ16の下方には、当該液ナイフ16から滴下するリンス液を捕液する液受け部材32が設けられている。
【選択図】図1

Description

本発明は、LCD、PDP用ガラス基板および半導体基板等の基板に処理液を供給して各種処理を施す基板処理装置に関するものである。
従来から、基板を搬送しながらその表面に各種処理液を供給することにより所定のプロセス処理を基板に施すことが行われており、例えば特許文献1には、薬液処理後の基板を搬送しながら、液ナイフ(スリットノズル)およびシャワーノズルにより順次基板に洗浄液を供給して洗浄処理を施すものが開示されている。
この装置では、搬入されて来る基板に対し、まず液ナイフにより搬送方向上流側から下流側に向かって斜め方向に帯状の洗浄液を吐出させ、これにより基板の先端側から順に、薬液反応を迅速に、かつ基板の幅方向に均一に終息させ、その後、シャワーノズルから吐出される洗浄液により基板に仕上げ洗浄を施す構成となっている。
特開2004−273984号公報
上記のような装置では、搬送中の基板をセンサで検知し、基板先端が液ナイフによる洗浄液の供給地点に到達する少し前に洗浄液の吐出を開始し、基板後端が前記供給地点を通過した後に洗浄液の吐出が停止するように、洗浄液供給用の開閉バルブがON/OFF制御される。その場合、バルブOFFからONへの切換え直後は洗浄液の流量が安定せず吐出口から液垂れが生じることが多い。また、バルブONからOFFへの切換え直後にも液ナイフ内に残った洗浄液が吐出口から流出して液垂れが生じることもある。
このように洗浄液の液垂れが生じると、これが搬送中の基板上に滴下して基板の品質を低下させることが考えられる。すなわち、液ナイフから基板上に洗浄液が滴下することにより、本来の液供給地点よりも上流側の位置で薬液の一部が早期に置換され、その結果、基板面内での薬液反応時間の均一性が損なわれることが考えられる。従って、このような不都合を未然に回避することが求められる。
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであって、液ナイフ等のノズル部材から基板上に不要な処理液が滴下するのを防止し、これによって基板の品質向上を図ることを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の基板処理装置は、搬送中の基板の上面に、その搬送方向上流側から下流側に向かって斜め方向に処理液を吐出するノズル部材を備えた基板処理装置において、前記ノズル部材の下方に、当該ノズル部材から滴下する処理液を捕液する液受け部材を備えているものである。
この装置によれば、ノズル部材から滴下する処理液は液受け部材によって捕液されるので、液垂れによる基板上への処理液の滴下を未然に防止することができる。
上記構成において、前記ノズル部材が、搬送方向と直交する幅方向に沿って連続的に処理液を吐出する液ナイフである場合には、前記液受け部材は、前記液ナイフに沿って設けられ、長手方向両端が基板の同両端よりも外側に位置する樋型の構造とされる。
この構成によれば、液ナイフから基板上への処理液の滴下を、当該基板の幅方向全体に亘って防止することができる。
なお、その場合、前記液受け部材は、その長手方向両端の少なくとも一方側に処理液を放流可能な開放部を有しているのが好適である。
この構成によれば、液受け部材に溜まった処理液を、基板に影響を与えることなく排液することができる。
また、その場合、前記液受け部材は、その内底面が長手方向に傾斜して設けられているのが好適である。
この構成によれば、液受け部材で受けた処理液を円滑に開放部に案内して排液することが可能となり、処理液の溢流を防止する上で有利となる。
本発明に係る基板処理装置によると、ノズル部材から基板上に不要な処理液が滴下するのを有効に防止することができ、これによって基板の品質向上を図ることができる。
本発明の好ましい実施の形態について図面を用いて説明する。
図1は、本発明に係る基板処理装置を断面図で概略的に示している。この図に示す基板処理装置1は、基板Sを図中の矢印方向に水平姿勢で搬送しながら、前工程で薬液処理(例えばエッチング処理)が施された当該基板Sに対して洗浄処理を施すものである。
基板処理装置1は、同図に示すように略密閉された処理室10を有している。この処理室10には、複数の搬送ローラ14が所定間隔で配備されており、これら搬送ローラ14によって構成される搬送路に沿って基板Sが水平姿勢で搬送されるようになっている。なお、図中符号12aは、処理室10の側壁に形成される基板Sの搬入口を示し、また、符号12bは、同搬出口を示している。
前記処理室10の内部には、基板Sに対してリンス液(当例では純水;本発明の処理液に相当する)を供給するための2種類の液ノズルが配備されている。具体的には、搬入口12aの直ぐ近傍に液ナイフ16(本発明に係るノズル部材)が配備され、この液ナイフ16の下流側(同図では右側)にシャワーノズル18a,18bが配備されている。
前記液ナイフ16は、処理室10の壁面等に図外の取付け用アームを介して固定されている。この液ナイフ16は、基板Sの搬送路の幅方向(基板Sの搬送方向と直交する方向;同図では紙面に直交する方向)に細長で、かつ、その長手方向に連続的に延びる細長の吐出口16a(図2に示す)をもつ所謂スリットノズルからなり、吐出口16aを斜め下向きにした状態で搬送ローラ14の上部に配置されている。これによって、図2及び図3中に符号Wで示すように、液ナイフ16から基板Sに対して、その搬送方向上流側から下流側に向かって斜め下向きにリンス液を帯状(層状)に吐出する構成となっている。
なお、液ナイフ16の下方には、液受け部材32が設けられている。この液受け部材32は、吐出口16aからの液垂れにより液ナイフ16から滴下するリンス液を捕液するための部材である。この液受け部材32は、略V字型の断面を有し、かつ基板Sの搬送路の幅方向に延びる樋型の長尺部材で、少なくとも幅方向両端が基板Sの同両端よりも外側に位置するように液ナイフ16に沿って配置されている。当実施形態では、液受け部材32は、その両端が処理室10内の側壁10aにそれぞれ固定されており、これによって搬送路を横断するように処理室10内に支持されている。
液受け部材32はその両端の一部が切欠かれており、これによってリンス液を放流するための開放部33が液受け部材32の両端に設けられている。なお、これら開放部33の位置は、図3に示すように側壁10aの側近であって基板Sの幅方向両端から十分に離間した位置であるため、リンス液が基板S上に流下することはない。
一方、前記シャワーノズル18a,18bは、搬送ローラ14を挟んで上下両側に配置されており、例えばマトリクス状に配備されたノズル口からそれぞれ液滴状にリンス液を吐出して基板Sに吹き付ける構成となっている。
なお、リンス液は、同図に示すように処理室10の下方に配置されたタンク20に貯溜されており、ポンプ22の作動により導出管24を通じてタンク20から導出され、この導出管24から分岐する供給管26〜28を通じてそれぞれ液ナイフ16および各シャワーノズル18a,18bに供給される構成となっている。各供給管26〜28にはそれぞれ、開閉バルブV1〜V3が介設されており、これら開閉バルブV1〜V3の操作により液ナイフ16等によるリンス液の供給・停止、あるいは供給量が制御される。
また、前記処理室10には、その内底部に漏斗状の回収パン(図示省略)が設けられており、使用済みのリンス液がこの回収パンにより収集されながら回収管30を通じて前記タンク20に戻されるようになっている。つまり、この基板処理装置1では、タンク20と液ナイフ16等との間でリンス液を循環使用するようにリンス液の給排系統が構成されている。
この基板処理装置1にはコントローラ40が設けられており、搬送ローラ14の駆動や前記開閉バルブV1〜V3の切換え操作がこのコントローラ40により統括的に制御されるように構成されている。例えばこの装置1では、図1に示すように、処理室10外の前記搬入口12aよりもやや上流側と、処理室10内の前記搬出口12bの近傍とにそれぞれ基板Sを検知するセンサ(第1センサ42,第2センサ44という)が配置されおり、コントローラ40は、これらセンサ42,44による基板Sの検知に基づき開閉バルブV1〜V3を開閉制御するように構成されている。
次に、この基板処理装置1による基板Sの洗浄処理についてその作用効果と共に説明する。
この基板処理装置1では、第1センサ42により基板Sが検出されるまでは、各開閉バルブV1〜V4が閉止(OFF)され、従って、液ナイフ16及びシャワーノズル18a,18bによるリンス液の供給は停止されている。
そして、基板Sが搬送され、その先端が第1センサ42により検出されると、開閉バルブV1〜V3が閉止(OFF)から開放(ON)に切換えられ、これにより液ナイフ16およびシャワーノズル18a,18bからのリンス液の吐出が開始される。
この際、開閉バルブV1〜V3の開放(ON)直後は、リンス液の流量が安定しないため、液ナイフ16に液垂れが生じ、液ナイフ16の先端下部を伝ってリンス液が滴下する場合がある。また、前回の洗浄処理後(バルブV1が開放(ON)から閉止(OFF)に切換えられ後)、吐出口16aから流出して液ナイフ16の先端部分に付着していたリンス液が滴下する場合がある。しかし、液ナイフ16の下方には上記の通り前記液受け部材32が設けられているため、液ナイフ16から滴下するリンス液は全て液受け部材32によって捕液され、この液受け部材32に沿って搬送路両端に案内されつつ開放部33から流下することとなる。従って、図2に示すように、リンス液の本来の供給位置P1よりも上流側の位置P2にリンス液が滴下することが有効に防止される。
こうして基板Sがリンス液の供給位置P1に達すると、液ナイフ16から吐出されるリンス液が、基板Sの搬送に伴いその先端側がら順に幅方向全体に亘って供給され、これによって、薬液反応が迅速に、かつ基板Sの幅方向に均一に終息することとなる。
そして基板Sが液ナイフ16の位置を通過すると、次いでシャワーノズル18a,18bから吐出される大量のリンス液が基板Sの上面および下面に対して供給され、これにより基板Sが仕上げ洗浄される。そしてさらに基板Sが搬送され、第2センサ44により基板Sの先端が検知されると、開閉バルブV1が開放(ON)から閉止(OFF)に切換えられ、これにより液ナイフ16からのリンス液の吐出が停止し、さらに、基板Sの後端が第2センサ44により検知されると、開閉バルブV2,V3がそれぞれ開放(ON)から閉止(OFF)に切換え、これによりシャワーノズル18a,18bからのリンス液の吐出を停止する。以上により、基板Sの一連の洗浄処理が終了する。
このように、この基板処理装置1では、液ナイフ16の下方に液受け部材32が設けられ、液垂れにより液ナイフ16から滴下するリンス液をこの液受け部材32で受けることによって液ナイフ16から基板S上に不要なリンス液が滴下するのを防止する構成となっているので、リンス液の本来の供給位置P1に到達する以前に、基板S上にリンス液が滴下し、これによって薬液反応が部分的に早期に終息して薬液処理の均一性が損なわれるといった不都合が生じるのを有効に防止することができる。従って、このような不都合を回避できる分、基板Sに対して薬液処理をより均一に施すことが可能となり、基板の品質をより一層高めることができる。
なお、上述した基板処理装置1は、本発明に係る基板処理装置の好ましい実施形態の例示であって、その具体的な構成は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
例えば、液受け部材32の形状や配置等は、液ナイフ16から滴下するリンス液を良好に受けることができるように適宜選定可能である。液受け部材32の断面形状を円弧状に形成し、又液受け部材32の長手方向寸法を液ナイフ16の幅寸法と同適度に設定することも可能である。液受け部材32の長手方向において液だれが生じる部分が特定的な場合には、その部分にだけ液受け部材32を設けるようにしてもよい。
また、リンス液を放流するための開放部33は、必ずしも液受け部材32の両端部分に設ける必要はなく、一方側にだけ設ける構成であっても構わない。但し、両側に設ける方がリンス液をより円滑に排液することができるため、リンス液の滴下量が多いような場合には、溢流防止の観点から実施形態のような構成を採用するのが望ましい。また、開放部33に向かってリンス液が円滑に流動するように、水平面に対して液受け部材32を傾けた状態で側壁10aに固定し、あるいは液受け部材32は水平で、その内底面だけが長手方向に傾斜するような構成としてもよい。例えば、液受け部材32の長手中間部分からそれぞれ開放部33側に向かって先下がりとなるように勾配を持たせた構成とすれば、非常に円滑にリンス液を排液することができる。
また、実施形態のように液受け部材32に開放部33を設け、液受け部材32で受けたリンス液を放流することにより排液する以外に、液受け部材32に排液管を接続し、この排液管を通じてリンス液を排液するように構成してもよい。
また、実施形態では、液受け部材32は、処理槽10の側壁10aに固定しているが、液受け部材32を液ナイフ16に一体に設けるように構成してもよい。
なお、上記の実施形態では、基板Sに洗浄処理を施す基板処理装置1について本発明を適用した例について説明したが、勿論、本発明は、洗浄処理に限らず薬液処理を行う基板処理装置についても適用可能である。また、実施形態では、基板Sを水平搬送しながら処理を施す基板処理装置1に本発明を適用した場合について説明したが、勿論、基板Sを傾斜搬送しながら基板Sに処理を施す基板処理装置についても本発明は適用可能である。
本発明に係る基板処理装置を示す断面図である。 液ナイフと、液受け部材と、リンス液の供給位置との関係を示す基板処理装置の要部拡大断面図である。図である。 基板処理装置(液ナイフの配設位置の近傍)を示す平断面図である。
符号の説明
1 基板処理装置
10 処理室
14 搬送ローラ
16 液ナイフ
18a,18b シャワーノズル
32 液受け部材
S 基板

Claims (4)

  1. 搬送中の基板の上面に、その搬送方向上流側から下流側に向かって斜め方向に処理液を吐出するノズル部材を備えた基板処理装置において、
    前記ノズル部材の下方に、当該ノズル部材から滴下する処理液を捕液する液受け部材を備えていることを特徴とする基板処理装置。
  2. 請求項1に記載の基板処理装置において、
    前記ノズル部材は、前記搬送方向と直交する幅方向に沿って連続的に処理液を吐出する液ナイフであって、前記液受け部材は、前記液ナイフに沿って設けられ、長手方向両端が基板の同両端よりも外側に位置する樋型の構造を有していることを特徴とする基板処理装置。
  3. 請求項2に記載の基板処理装置において
    前記液受け部材は、その長手方向両端の少なくとも一方側に処理液を放流可能な開放部を有していることを特徴とする基板処理装置。
  4. 請請求項2又は3に記載の基板処理装置において、
    前記液受け部材は、その内底面が長手方向に傾斜して設けられていることを特徴とする基板処理装置。
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