JP2009037927A - 半導体装置用ソケット - Google Patents

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    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes

Abstract

【課題】不具合の生じたICソケットだけを容易な作業で、かつ、短時間で交換することができること。
【解決手段】アダプタ10のセル10CA内に収容されるコンタクト端子20aiの固定側端子20Cが、プリント配線基板18の電極群18Eに所定の圧力で当接する接点部20tを有し、アダプタ10が、タッピングねじTBsで締結される固定用爪部10NA〜10NDを介してプリント配線基板18に固定されるもの。
【選択図】図1

Description

本発明は、試験に供される半導体装置をプリント配線基板に電気的に接続するための半導体装置用ソケットに関する。
電子機器などに実装される半導体装置において、一般に、実装される以前の段階でその潜在的欠陥を除去するために例えば、初期動作不良集積回路の除去に有効とされるバーンイン(burn in)試験が半導体装置用ソケットを介してなされる。
このような試験に供される半導体装置用ソケットは、一般に、ICソケットと称され、例えば、特許文献1にも示されるように、プリント配線基板(テストボード)上に配される。プリント配線基板は、所定の試験電圧が供給されるとともに被検査物としての半導体装置からの短絡等をあらわす異常検出信号を送出する入出力部を有するものとされる。その際、ICソケットのソケット本体部は、例えば、プリント配線基板に設けられる複数の取付孔を介して取付ビスおよびナットにより締結されている。また、ICソケットは、検査ラインにおける検査効率を向上させるために一枚のプリント配線基板に複数個、高密度に配置される場合がある。
このようなICソケットは、半導体装置の端子とプリント配線基板における入出力部とを電気的に接続するコンタクト端子群をソケット本体内部に内蔵している。このようなコンタクト端子群を構成する各コンタクト端子の固定端子部は、一般に、プリント配線基板の各めっきスルーホールに対し半田付け固定されている。
特開2004−355983号公報
上述のように複数個のICソケットが高密度に一枚のプリント配線基板に配置される場合、複数個のうちの一つのICソケットに何らかの不具合が生じたとき、その不具合が生じたICソケットの保守点検または交換作業のために一枚のプリント配線基板について所定期間、使用できなくなる事態が生じる虞がある。
このような場合、検査ラインの検査を比較的長期間中断させることなく、継続して検査を行なうために同様なICソケットが配置された予備のテストボードを備えておくことも考えられる。
しかしながら、予備のテストボードを備えておくことは、検査ラインにおける設備コストが嵩むので得策でない。また、コンタクト端子の固定端子部の半田付け作業は、交換作業に比較的長い時間を費やし、しかも、テストボードの破損による歩留まりの悪化に繋がるので半田付け作業を要することなく、不具合の生じたICソケットだけを容易な作業で、かつ、迅速に交換することが要望される。
以上の問題点を考慮し、本発明は、試験に供される半導体装置をプリント配線基板に電気的に接続するための半導体装置用ソケットであって、不具合の生じたICソケットだけを容易な作業で、かつ、短時間で交換することができる半導体装置用ソケットを提供することを目的する。
上述の目的を達成するために、本発明に係る半導体装置用ソケットは、半導体装置を着脱可能に収容する半導体装置収容部を有するソケット本体と、半導体装置収容部に配され、半導体装置の端子を選択的に挟持する弾性のある一対の接触片部と、接触片部に連なる固定側端子とを有する第1のコンタクト端子と、電極群が形成される電極面を有する配線基板上に着脱可能に配され、ソケット本体が着脱可能に連結されるソケット本体連結面を有し、ソケット本体を支持するアダプタ部材と、アダプタ部材内に配され、ソケット本体がソケット本体連結面に連結される場合、第1のコンタクト端子の固定側端子に当接される接触片部と、接触片部に連なって配線基板の電極面に対し直交する方向に弾性変位可能に形成され該電極面に当接する固定側端子とを有し、半導体装置収容部に収容された半導体装置の端子を、第1のコンタクト端子を介して配線基板の電極面に電気的に接続する第2のコンタクト端子と、を備えて構成される。
以上の説明から明らかなように、本発明に係る半導体装置用ソケットによれば、アダプタ部材が、電極群が形成される電極面を有する配線基板上に着脱可能に配され、ソケット本体が着脱可能に連結されるソケット本体連結面を有し、ソケット本体を支持するのでソケット本体をアダプタ部材から容易に取り外すことができ、従って、不具合の生じたICソケットだけを容易な作業で、かつ、短時間で交換することができる。
図2は、本発明に係る半導体装置用ソケットの一例を、テストボードとしてのプリント配線基板とともに示す。なお、図2においては、プリント配線基板上に複数個配置される半導体装置用ソケットのうちの1個を代表して示す。
半導体装置用ソケットは、所定の板厚を有するプリント配線基板18に形成される導体パターンにおける所定位置にそれぞれ配されている。その導体パターンにおける所定位置には、図1に拡大されて示されるように、後述するコンタクト端子の固定側端子の接点部が当接される電極群18Eが形成されている。また、導体パターンの周囲には、後述する各固定用爪部が挿入される略矩形状の孔18aが形成されている(図1参照)。なお、孔18aの形状は、斯かる例に限られることなく、例えば、丸孔、或いは他の形状であってもよい。
半導体装置用ソケットは、図2および図4に示されるように、被検査物としての半導体装置DVが着脱可能に配される後述する半導体装置収容部14Aを備えるソケット本体30と、ソケット本体30内の中央のコンタクト収容部に配される複数のコンタクト端子40ai(i=1〜n,nは正の整数)と、ソケット本体30に昇降動可能に支持され後述するラッチ機構に操作力を伝達するカバー部材12と、半導体装置DVを着脱可能に収容するとともに半導体装置DVの電極部のコンタクト端子40aiに対する相対位置を位置決めする位置決め部14を有するスライダ部材22と(図8参照)、位置決め部14内に収容された半導体装置DVの各電極部を複数のコンタクト端子に向けて押圧するとともに半導体装置DVを保持する押え部材16Aおよび16Bを含んでなるラッチ機構と,上述のソケット本体30をプリント配線基板18に対し着脱可能に支持するアダプタ10と、を主な要素として含んで構成されている。
斯かる半導体装置用ソケットに供される半導体装置DVは、例えば、BGA型の略正方形の半導体装置とされ、複数の球状の電極部が縦横に形成される電極面を有している。
樹脂製のソケット本体30は、後述するカバー部材12が下降せしめられるとき、そのアーム部の下端、押え部材16Aおよび16Bの基端部が侵入する凹部(不図示)を相対向する端部にそれぞれ、有している。また、図8に示されるように、ソケット本体30の内部の中央には、複数のコンタクト端子40aiが半導体装置DVの電極部に対応して配されるコンタクト収容部が形成されている。
コンタクト収容部は、各コンタクト端子40aiをそれぞれ、収容する複数のセルを有している。各セルは、所定の間隔で縦横に形成されている。隣接するセル相互間は、仕切壁30Pai(i=1〜n,nは正の整数)により仕切られている。各セルの内部には、コンタクト端子40aiの固定部40Bを内壁面で支持する圧入部が形成されている。そのセルの開口端が開口するコンタクト収容部の上面部には、後述するスライダ部材22が移動可能に配されている平坦面が形成されている。
第1のコンタクト端子としてのコンタクト端子40aiは、弾性のある薄板状の金属材料でプレス加工により一体成形され、上述のプリント配線基板18の表面に対し略直交する方向に延びている。コンタクト端子40aiは、上述の半導体装置DVの球状の電極部を選択的に挟持する一対の可動側接触片部40mおよび固定側接触片部40fと、後述するアダプタ10のコンタクト20aiに電気的に接続される接点部40tを有する固定側端子40Cと、可動側接触片部40mおよび固定側接触片部40fと固定側端子40Cとを連結する固定部40Bとを含んで構成されている。
図8において、可動側接触片部40mは、固定側接触片部40fに対し近接または離隔可能となるように弾性を有している。可動側接触片部40mおよび固定側接触片部40fにおける上端部には、それぞれ、半導体装置DVの球状の電極部DVaに当接する接点部が形成されている。各接点部は、後述するスライダ部材22のスリット22bを通じて位置決め部14近傍の位置まで突出している。
また、図8において、スライダ部材22が矢印Fの示す方向に移動せしめられる場合、可動側接触片部40mの接点部は、二点鎖線で示されるように、スライダ部材22の押圧部22aにより押圧され、固定側接触片部40fの接点部に対し離隔せしめられる。一方、スライダ部材22が矢印Rの示す方向に移動され、その離隔した位置から初期位置に戻される場合、可動側接触片部40mの接点部は、固定側接触片部40fの接点部に対し近接せしめられる。
直線状に形成される固定側端子40Cは、その一端で固定部40Bに結合されており、また、固定側端子40Cの他端に形成される接点部40tは、図9に示されるように、後述するアダプタ10に設けられるコンタクト端子20aiの接点部20bcに当接するものとされる。
従って、コンタクト端子40aiの固定側端子40Cにおけるプリント配線基板18の電極群18Eに対する半田付け作業が不要とされる。
スライダ部材22は、カバー部材12の下降動作に応じてカム機構(不図示)により図8における矢印Fの示す方向に移動せしめられる。そのカム機構は、例えば、特開2003−17207号公報にも示されるような、レバー部材およびコイルスプリングを含んで構成されている。
また、スライダ部材22は、コンタクト端子40aiにおける一対の可動側接触片部40mおよび固定側接触片部40fが通過するスリット22bを縦横に有している。同一列における隣接するスリット22b相互間は、押圧部22aにより仕切られている。隣接する異なる列におけるスリット22b相互間は、隔壁により仕切られている。
スライダ部材22と一体に形成される位置決め部14は、図3に示されるように、半導体装置DVを収容するとともに、半導体装置DVの電極部のコンタクト端子40aiの各接点部に対する位置決めを行うガイド部を有する半導体装置収容部14Aを備えている。その半導体装置収容部14A内には、上述のコンタクト端子40aiの接点部が突出している。半導体装置収容部14Aを形成する相対向する壁部には、それぞれ、押え部材16Aおよび16Bがそれぞれ通過する開口部が形成されている。
カバー部材12は、上述のスライダ部材22の位置決め部14が移動可能に配される開口部を中央に有している。半導体装置DVが位置決め部14に対し着脱されるとき、半導体装置DVがその開口部を通過することとなる。
カバー部材12は、図2に示されるように、その複数の脚部12gがそれぞれ、ソケット本体10の外周部に形成される各溝に案内されて昇降動可能に支持されている。図2においては、複数の脚部12gのうちの一方のみを示す。
また、カバー部材12における各スプリング受け部12dとソケット本体10との間には、それぞれ、カバー部材12を上方に、即ち、カバー部材12をソケット本体10に対し離隔する方向に付勢するコイルスプリング16が設けられている。その際、カバー部材12の脚部12gの先端に設けられる爪部が溝の端部に係合されることにより、図2に示されるように、カバー部材12が最上端位置に保持されることとなる。なお、図2および図4は、それぞれ、カバー部材12が最上端位置に保持された状態を示す。
カバー部材12は、図2において二点鎖線で示されるように、下降せしめられる場合、ラッチ機構を構成する押え部材16Aおよび16Bの基端部を押圧するアーム部(不図示)を有している。
押え部材16Aおよび16Bは、それぞれ、ソケット本体30における位置決め部14の各長辺に対向する位置に回動可能に支持されている。また、押え部材16Aおよび16Bの基端部は、それぞれ、図2に示されるように、コイルスプリング17により、位置決め部14に装着された半導体装置DVをその先端部で押さえ付ける方向に付勢されているので押え部材16Aおよび16Bの先端部は、位置決め部14の上方となる位置に配される。一方、カバー部材12のアーム部により押え部材16Aおよび16Bの基端部がコイルスプリング17の付勢力に抗して押圧される場合、押え部材16Aおよび16Bの先端部は、位置決め部14から離隔して所定の待機位置に配される。
ソケット本体30における底面部には、図11に示されるように、後述するアダプタ10の連結面のスリット10Sa,10SBにそれぞれ、選択的に挿入され着脱可能に連結部に連結される爪部30Nが複数個形成されている。なお、図11においては、複数個の爪部30Nのうちの1個の爪部30Nを示す。
爪部30Nは、その底面部に対し略垂直となるように突出している。爪部30Nの先端は、その厚さ方向に弾性変位可能とされる。
さらに、図2および図4に示されるように、ソケット本体30の底部とプリント配線基板18の電極面との間には、アダプタ10が配置されている。
アダプタ10は、例えば、樹脂材料で成形され、図5および図6に示されるように、上部にソケット本体30の底面部が載置され連結されるソケット本体連結面10CSAを有している。ソケット本体連結面10CSAの中央部には、上述のソケット本体30の底面部がソケット本体連結面10CSAに連結される場合、上述のコンタクト端子40aiの固定側端子40Cが挿入される透孔10hi(i=1〜n,nは正の整数)群が形成されている。各透孔10hiは、所定の間隔をもって上述のコンタクト端子40aiの配列に対応して形成されている。各透孔10hiは、図9に拡大されて示されるように、アダプタ10のコンタクト収容部における各セル10CA内に連通している。各セル10CAは、それぞれ、アダプタ10の内側において各透孔10hiの真下となる位置に形成されている。
隣接するセル10CA相互間は、隔壁10Paiにより仕切られている。各セル10CA内には、図9に拡大されて示されるように、コンタクト端子20aiが収容されている。
第2のコンタクト端子としてのコンタクト端子20aiは、弾性のある薄板状の金属材料でプレス加工により一体成形され、プリント配線基板18の表面に対し略直交する方向に延びている。所定の幅および厚さを有する帯状のコンタクト端子20aiは、上述のコンタクト端子40aiの固定側端子40Cを選択的に隔壁10Paiの表面と協働して挟持する接触片部20BCと、プリント配線基板18の電極群18Eに当接する接点部20tを有する固定側端子20Cと、接触片部20BCと固定側端子20Cとを連結する固定部20Bとを含んで構成されている。
図9において、接触片部20BCは、セル10CA内に透孔10hiを通じて挿入された上述の固定側端子40Cを隔壁10Paiの表面に向けて付勢するように弾性を有している。所定の幅を有する帯状の接触片部20BCは、その先端がプリント配線基板18の電極群18E側に向くように折り曲げられている。接触片部20BCにおける先端部には、コンタクト端子40aiの固定側端子40Cの接点部40tに当接する接点部20bcが形成されている。これにより、接点部20bcおよび接点部40tの接触面積が確実に確保される。
湾曲状に形成される固定側端子20Cは、弾性を有し、その一端で固定部20Bに結合されている。固定側端子20Cの接点部20tが形成される他端の部分と湾曲部との間の部分には、その湾曲部よりも小さい円弧の折り曲げ部20ctが形成されている。また、固定側端子20Cの他端に形成される接点部20tは、プリント配線基板18の電極群18Eに所定の圧力で当接している。従って、コンタクト端子20aiの固定側端子20Cにおけるプリント配線基板18の電極群18Eに対する半田付け作業が不要とされる。
ソケット本体連結面10CSAには、上述の爪部30Nがそれぞれ、挿入されるスリット10SAおよび10SBが形成されている。スリット10SAは、ソケット本体連結面10CSAの中央部に形成される透孔10hi(i=1〜n,nは正の整数)群を挟んで相対向し、その長辺に沿って2箇所づつ所定の間隔で形成され、合計4箇所に形成されている。スリット10SBは、透孔10hiを挟んで短辺にそれぞれ相対向して形成されている。スリット10SAおよび10SBは、それぞれ、図5および図7に示されるように、アダプタ10における長辺側の側面、および、短辺側の側面に形成される開口部10HAおよび10HBに連通している。
ソケット本体30の底面部をソケット本体連結面10CSAに連結するにあたっては、先ず、図13に示されるように、ソケット本体30の爪部30Nがスリット10SAおよび10SBの上方の位置となるように位置合わせされた後、矢印の示す方向に沿ってソケット本体30の底面部がソケット本体連結面10CSAに載置される。これにより、コンタクト端子40aiの固定側端子40Cの先端が透孔10hiを通じてセル10CA内に挿入される。また、爪部30Nがスリット10SAおよび10SB内に挿入されることにより、爪部30Nの先端における係止部が、スリット10SAおよび10SB、開口部10HAおよび10HBの周縁に形成される連結部10EWに係止される。従って、固定側端子40Cの接点部40tがコンタクト端子20aiの接点部20bcに電気的に接続されることとなる。
一方、ソケット本体30をアダプタ10のソケット本体連結面10CSAから取り外すにあたっては、図14(A)に示されるように、先ず、各爪部30Nの係止部が連結部10EWから離隔するように各開口部10HAおよび10HBを通じて挿入される治具JIGの先端で爪部30Nの係止部が押圧された状態で、次に、図14(B)において、矢印の示す方向に、ソケット本体30が引き離される。これにより、各爪部30Nがスリット10SAおよび10SBを通じて引き抜かれ、また、固定側端子40Cが透孔10hiを通じて引き抜かれるのでソケット本体30がアダプタ10のソケット本体連結面10CSAから取り外されることとなる。
アダプタ10における底部には、図2および図4に示されるように、固定用爪部10NA,10NB,10NC,および、10NDが4箇所に所定の間隔で一体に成形されている。固定用爪部10NA,10NB,10NC,および、10NDは、互いに同一の構造を有するので固定用爪部10NCについて説明し、他の固定用爪部10NA,10NB,および、10NDについての説明を省略する。
固定用爪部10NCは、図1に拡大されて示されるように、アダプタ10の短辺に沿って互いに離隔した二股状のロック片10N1および10N2を有している。ロック片10N1および10N2の相互間には、テーパ状の孔10Nsが形成されている。
ロック片10N1および10N2における先端から外方に向けて張り出した各係止部10nは、それぞれ、互いに近接する方向または離隔する方向に弾性変位可能とされる。即ち、各係止部10nは、各係止部10nが孔18aを通過するように互いに近接し、また、各係止部10nが下面側の孔18aの開口端周縁に係止されるように互いに離隔可能とされる。
各係止部10nには、所定の勾配を有する斜面部10Sが、ロック片N1の先端の外面から張り出し下方に向けて傾斜するように形成されている。ロック片10N1および10N2がプリント配線基板18に固定される場合、各斜面部10Sは、図1に拡大されて示されるように、プリント配線基板18における下面に形成される孔18aの開口端の周縁に当接している。
斯かる固定用爪部10NCをプリント配線基板18における孔18aに固定するにあたっては、先ず、ロック片10N1および10N2が孔18aに対し位置合わせされた後、
アダプタ10の底部から突出したコンタクト端子20aiの固定側端子20Cの弾性力に抗してアダプタ10が押圧される。これにより、ロック片10N1および10N2の係止部10nの端面が、その上面における孔18aの開口端の周縁に当接しさらに押圧されるとき、互いに近接する方向に一旦、弾性変位した後、孔18aを通過し、互いに離隔する方向に復元力により弾性変位する。従って、図12に拡大されて示されるように、各斜面部10Sは、プリント配線基板18における下面に形成される孔18aの開口端の周縁に当接する。その際、タッピングねじTBsが孔10Nsにねじ込まれる。
次に、図1に拡大して示されるように、タッピングねじTBsが孔10Nsにさらにねじ込まれる。これにより、ロック片10N1および10N2の係止部10nは、互いに離隔する方向にさらに弾性変位するので各斜面部10Sに摺接しながらアダプタ10がプリント配線基板18に引き寄せられることとなる。従って、プリント配線基板18の板厚のばらつきに起因した各斜面部10Sと孔18aの周縁との隙間が生じることがないのでコンタクト端子20aiの固定側端子20Cの接触圧力が所定値以下に低減することが回避される。
斯かる構成において、半導体装置DVの試験を行うにあたっては、先ず、図示が省略される搬送ロボットに設けられる押圧部材の押圧面部がカバー部材12の上面に当接されて上述のコイルスプリング16の付勢力に抗して下方に向けて所定のストロークで押圧される。
これにより、押え部材16Aおよび16Bが互いに離隔し待機位置とされる。また、例えば、被検査物としての半導体装置DVが、図示が省略される搬送ロボットの搬送アームにより吸引保持されてカバー部材12の開口部および位置決め部14の真上となる位置まで搬送される。
次に、搬送アームにより吸引保持された半導体装置DVは、カバー部材12の開口部を通じて下降せしめられて位置決め部14の半導体装置収容部14Aに位置決めされ装着される。
続いて、カバー部材12は、上述の押圧部材の押圧面部がカバー部材12の上面に当接された状態で上昇されるとき、上述のコイルスプリング16の付勢力等により最上端位置まで上昇せしめられる。その際、押え部材16Aおよび16Bの先端の当接部は、それぞれ、略同一のタイミングで、回動され、半導体装置DVをコンタクト端子40aiに向けて押圧することとなる。また、図10に拡大して示されるように、装着された半導体装置DVの各電極部Dvaがコンタクト端子40aiの一対の可動側接触片部40mおよび固定側接触片部40fにより挟持される。
そして、カバー部材12が最上端位置に維持されるもとでプリント配線基板18の入出力部に検査信号が供給されるとき、コンタクト端子40aiおよびコンタクト端子20aiを通じてその検査信号が半導体装置DVに供給されるとともにその回路の異常が検出される場合、半導体装置DVからの異常検出信号が入出力部を通じて外部の故障診断装置に供給されることとなる。
図15は、上述のアダプタ10の変形例を示す。
図9に示される例におけるコンタクト端子40aiの固定側端子40Cは、アダプタ10のセル10CA内に配置されるコンタクト端子20aiにおける接触片部20BCの接点部20bcと隔壁部10Paiの壁面とにより挟持されているが、一方、図15に示される例においては、コンタクト端子40aiの固定側端子40Cは、一対の接触片部32BCおよび32ACの接点部32acおよび32bcに挟持されるものとされる。
なお、図15に示されるアダプタ10’においても、上述のアダプタ10における他の構造は同様な構造を有するものとされるのでその重複説明を省略する。
アダプタ10’は、例えば、樹脂材料で成形され、上部にソケット本体30の底面部が載置され連結されるソケット本体連結面10’CSAを有している。ソケット本体連結面10’CSAの中央部には、上述のソケット本体30の底面部がソケット本体連結面10’CSAに連結される場合、上述のコンタクト端子40aiの固定側端子40Cが挿入される透孔10’hi(i=1〜n,nは正の整数)群が形成されている。各透孔10’hiは、所定の間隔をもって上述のコンタクト端子40aiの配列に対応して形成されている。各透孔10’hiは、図9に拡大されて示されるように、アダプタ10のコンタクト収容部における各セル10’CA内に連通している。各セル10’CAは、それぞれ、アダプタ10’の内側において各透孔10’hiの真下となる位置に形成されている。
隣接するセル10’CA相互間は、隔壁10’Paiにより仕切られている。各セル10’CA内には、図15に拡大されて示されるように、コンタクト端子32aiが収容されている。
コンタクト端子32aiは、弾性のある薄板状の金属材料でプレス加工により一体成形され、プリント配線基板18の表面に対し略直交する方向に延びている。所定の幅および厚さを有する帯状のコンタクト端子32aiは、上述のコンタクト端子40aiの固定側端子40Cを協働して挟持する接触片部32BCおよび32ACと、プリント配線基板18の電極群18Eに当接する接点部32tを有する固定側端子32Cと、接触片部32BCと固定側端子32Cとを連結する固定部32Bとを含んで構成されている。
相対向して形成される接触片部32ACおよび32BCは、それぞれ、セル10’CA内に透孔10’hiを通じて挿入された上述の固定側端子40Cを互いに向けて付勢するように弾性を有している。接触片部32ACおよび接触片部32BCは、それぞれ、その先端がプリント配線基板18の電極群18E側に向くように折り曲げられている。接触片部32ACおよび接触片部32BCにおける先端部には、それぞれ、コンタクト端子40aiの固定側端子40Cの接点部40tに当接する接点部32acおよび32bcが形成されている。
湾曲状に形成される固定側端子32Cは、弾性を有し、その一端で固定部32Bに結合されている。固定側端子32Cの接点部32tが形成される他端の部分と湾曲部との間の部分には、その湾曲部よりも小さい円弧の折り曲げ部32ctが形成されている。また、固定側端子32Cの他端に形成される接点部32tは、プリント配線基板18の電極群18Eに所定の圧力で当接している。従って、コンタクト端子32aiの固定側端子32Cにおけるプリント配線基板18の電極群18Eに対する半田付け作業が不要とされる。
図17(A)は、上述のアダプタ10に用いられるコンタクト端子の他の一例が適用された本発明に係る半導体装置用ソケットの一例を示す。なお、図17(A)および17(B)に示される例においては、それぞれ、図2に示される例における同一とされる構成要素について同一の符号を付して示し、その重複説明を省略する。
図9に示されるコンタクト端子20aiにおいて、固定側端子20Cの接点部20tが形成される他端の部分と湾曲部との間の部分には、その湾曲部よりも小さい円弧の折り曲げ部20ctが形成されているのに対し、一方、図17(A)に示されるコンタクト端子34aiにおいては、そのような折り曲げ部が形成されないものとされる。
コンタクト端子34aiは、弾性のある薄板状の金属材料でプレス加工により一体成形され、プリント配線基板18の表面に対し略直交する方向に延びている。
コンタクト端子34aiは、図16(A)および16(B)に拡大されて示されるように、上述のコンタクト端子40aiの固定側端子40Cを選択的に隔壁10Paiの表面と協働して挟持する接触片部34BCと、プリント配線基板18の電極群18Eに当接する接点部34tを有する固定側端子34Cと、接触片部34BCと固定側端子34Cとを連結する固定部34Bとを含んで構成されている。
図16(A)および16(B)において、接触片部34BCは、セル10CA内に透孔10hiを通じて挿入された上述の固定側端子40Cを隔壁10Paiの表面に向けて付勢するように弾性を有している。接触片部34BCは、その先端がプリント配線基板18の電極群18E側に向くように打ち抜かれている。これにより、開口34aが、固定部34Bに形成されることとなる。
接触片部34BCにおける先端部には、コンタクト端子40aiの固定側端子40Cの接点部40tに当接する接点部34bcが形成されている。
湾曲状に形成される固定側端子34Cは、弾性を有し、その一端で固定部34Bに結合されている。固定側端子34Cの他端に形成される接点部34tは、プリント配線基板18の電極群18Eに所定の圧力で当接している。従って、コンタクト端子34aiの固定側端子34Cにおけるプリント配線基板18の電極群18Eに対する半田付け作業が不要とされる。
斯かる例においても、ソケット本体30は、アダプタ10に対し着脱可能とされるので
ソケット本体30をアダプタ10のソケット本体連結面10CSAから取り外すにあたっては、図17(B)に示されるように、先ず、各爪部30Nの係止部が連結部10EWから離隔するように各開口部10HAおよび10HBを通じて挿入される治具JIGの先端で爪部30Nの係止部が押圧された状態で、次に、矢印の示す方向に、ソケット本体30が引き離される。これにより、各爪部30Nがスリット10SAおよび10SBを通じて引き抜かれ、また、固定側端子40Cが透孔10hiを通じて引き抜かれるのでソケット本体30がアダプタ10のソケット本体連結面10CSAから取り外されることとなる。
なお、アダプタ10のセル10CA内に収容されるコンタクト端子は、斯かる例に限られることなく、例えば、図18(A)および18(B)に示されるようなコンタクト端子36aiでもよい。
コンタクト端子36aiは、弾性のある薄板状の金属材料でプレス加工により一体成形され、プリント配線基板18の表面に対し略直交する方向に延びている。コンタクト端子36aiは、上述のコンタクト端子40aiの固定側端子40Cを選択的に隔壁10Paiの表面と協働して挟持する接触片部36BCと、プリント配線基板18の電極群18Eに当接する接点部36tを有する固定側端子36Cと、接触片部36BCと固定側端子36Cとを連結する固定部36Bとを含んで構成されている。
接触片部36BCは、セル10CA内に透孔10hiを通じて挿入された上述の固定側端子40Cを隔壁10Paiの表面に向けて付勢するように弾性を有している。接触片部36BCは、その先端がプリント配線基板18の電極群18E側に向くように折り曲げられている。接触片部36BCにおける先端部には、コンタクト端子40aiの固定側端子40Cの接点部40tに当接する接点部36bcが形成されている。
湾曲状に形成される固定側端子36Cは、弾性を有し、その一端で固定部36Bに結合されている。固定側端子36Cの他端に形成される接点部36tは、プリント配線基板18の電極群18Eに所定の圧力で当接するものとされる。
また、アダプタ10のセル10CA内に収容されるコンタクト端子の他の一例としては、図19(A)および19(B)に示されるようなコンタクト端子38aiでもよい。
コンタクト端子38aiは、弾性のある薄板状の金属材料でプレス加工により一体成形され、プリント配線基板18の表面に対し略直交する方向に延びている。コンタクト端子38aiは、上述のコンタクト端子40aiの固定側端子40Cを協働して挟持する接触片部38BCおよび38ACと、プリント配線基板18の電極群18Eに当接する接点部38tを有する固定側端子38Cと、接触片部38BCと固定側端子38Cとを連結する固定部32Bとを含んで構成されている。
相対向して形成される接触片部38ACおよび38BCは、それぞれ、セル10CA内に透孔10hiを通じて挿入された上述の固定側端子40Cを互いに向けて付勢するように弾性を有している。接触片部38ACおよび接触片部38BCは、それぞれ、その先端がプリント配線基板18の電極群18E側に向くように折り曲げられている。接触片部38ACおよび接触片部38BCにおける先端部には、それぞれ、コンタクト端子40aiの固定側端子40Cの接点部40tに当接する接点部38acおよび38bcが形成されている。
湾曲状に形成される固定側端子38Cは、弾性を有し、その一端で固定部38Bに結合されている。固定側端子38Cの他端に形成される接点部38tは、プリント配線基板18の電極群18Eに所定の圧力で当接するものとされる。
従って、図18(A)および(B)、図19(A)および(B)に示されるコンタクト端子20の固定側端子におけるプリント配線基板18の電極群18Eに対する半田付け作業が不要とされる。
上述の例においては、本発明の一例が、コンタクト収容部の上面部における平坦面に摺動されるスライダ部材22が、所定の方向に移動せしめられる場合、可動側接触片部40mの接点部は、スライダ部材22の押圧部22aにより押圧され、固定側接触片部40fの接点部に対し離隔せしめられる構成を備える半導体装置用ソケットに適用されているが、斯かる例に限られることなく、例えば、特開2004−111215号公報にも示されるように、一対の接触片部の相互間に配される仕切壁を備える移動板がソケット本体における上下方向に沿って移動せしめられることにより、一対の接触片部双方が互いに離隔するように移動せしめられる構成を備える半導体装置用ソケットに適用されてもよいことは勿論である。
本発明に係る半導体装置用ソケットの一例における要部を部分的に拡大して示す部分断面図である。 本発明に係る半導体装置用ソケットの一例の外観を示す正面図である。 図2に示される例における平面図である。 図2に示される例における側面図である。 本発明に係る半導体装置用ソケットの一例に用いられるアダプタを示す正面図である。 図5に示される例における平面図である。 図5に示される例における側面図である。 図2に示される例におけるコンタクト端子の構成を示す部分断面図である。 図5に示されるアダプタにおけるコンタクト端子の構成を示す部分断面図である。 図2に示される例におけるコンタクト端子の動作説明に供される部分断面図である。 図2に示されるソケット本体と図5に示されるアダプタとの連結構造の要部を部分的に拡大して示す部分断面図である。 図2に示される例におけるロック用爪部の締結作業の説明に供される部分拡大断面図である。 ソケット本体のアダプタへの取付け手順の説明に供される部分拡大断面図である。 (A)および(B)は、それぞれ、ソケット本体をアダプタから取り外す手順の説明に供される部分拡大断面図である。 本発明に係る半導体装置用ソケットの一例に用いられるアダプタの変形例を示す部分断面図である。 (A)は、本発明に係る半導体装置用ソケットの一例に用いられるアダプタに収容されるコンタクト端子の他の一例を示す正面図であり、(B)は、(A)の側面図である。 (A)は、アダプタに用いられるコンタクト端子の他の一例が適用された本発明に係る半導体装置用ソケットの一例を示す部分断面図であり、(B)は、(A)に示される例における動作説明に供される部分断面図である。 (A)は、本発明に係る半導体装置用ソケットの一例に用いられるアダプタに収容されるコンタクト端子におけるさらなる他の一例を示す正面図であり、(B)は、(A)の側面図である。 (A)は、本発明に係る半導体装置用ソケットの一例に用いられるアダプタに収容されるコンタクト端子におけるさらなる他の一例を示す正面図であり、(B)は、(A)の側面図である。
符号の説明
10 アダプタ
10NA,10NB,10NC,10ND 固定用爪部
10N1,10N2 ロック片部
10n 係止部
10S 斜面部
18 プリント配線基板
18a 孔
20ai,30ai、32ai,34ai,36ai,38ai コンタクト端子
TBs タッピングねじ
30 ソケット本体

Claims (5)

  1. 半導体装置を着脱可能に収容する半導体装置収容部を有するソケット本体と、
    前記半導体装置収容部に配され、前記半導体装置の端子を選択的に挟持する弾性のある一対の接触片部と、該接触片部に連なる固定側端子とを有する第1のコンタクト端子と、
    電極群が形成される電極面を有する配線基板上に着脱可能に配され、前記ソケット本体が着脱可能に連結されるソケット本体連結面を有し、該ソケット本体を支持するアダプタ部材と、
    前記アダプタ部材内に配され、前記ソケット本体が前記ソケット本体連結面に連結される場合、前記第1のコンタクト端子の固定側端子に当接される接触片部と、該接触片部に連なって前記配線基板の電極面に対し直交する方向に弾性変位可能に形成され該電極面に当接する固定側端子とを有し、前記半導体装置収容部に収容された半導体装置の端子を、前記第1のコンタクト端子を介して該配線基板の電極面に電気的に接続する第2のコンタクト端子と、
    を具備して構成される半導体装置用ソケット。
  2. 前記アダプタ部材の底部に一体に形成され、前記配線基板の固定用孔に係合状態または非係合状態とされる弾性変位可能な一対のロック片部を有し、該アダプタ部材を該配線基板に係止する複数の固定用爪部と、
    前記固定用爪部のロック片部を前記配線基板の固定用孔の周縁に対し付勢するねじ部材と、をさらに備えることを特徴とする請求項1記載の半導体装置用ソケット。
  3. 二股状に形成される前記一対のロック片部における係止部は、前記配線基板の固定用孔の周縁に係合される斜面部を有し、前記ねじ部材は、前記一対のロック片部相互間に形成される円錐状の孔にねじ込まれることを特徴とする請求項2記載の半導体装置用ソケット。
  4. 前記ソケット本体の底部に一体に弾性変位可能に形成され、前記アダプタ部材のソケット本体連結面に形成されるスリットの周縁に係合状態または非係合状態とされる爪部と、
    前記アダプタ部材に形成され、前記スリットの周縁に連通する開口部と、をさらに備え、
    前記開口部を通じて挿入される所定の治具の先端により、前記爪部が非係合状態とされることを特徴とする請求項1記載の半導体装置用ソケット。
  5. 前記第2のコンタクト端子における接触片部および固定側端子は、所定の幅および厚さを有する帯状の薄板金属材料でプレス加工により一体成形されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置用ソケット。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016511513A (ja) * 2013-06-28 2016-04-14 ハイコン カンパニー リミテッド 半導体素子テスト用ソケット装置
CN112128199A (zh) * 2019-06-24 2020-12-25 施耐德电器工业公司 具有附接面板的电气外壳

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61146880U (ja) * 1985-03-05 1986-09-10
JPH10177038A (ja) * 1996-12-19 1998-06-30 Sony Corp 電子部品の試験用の電気的接続装置
JP2000195634A (ja) * 1998-12-26 2000-07-14 Enplas Corp Icソケット及びicソケットのコンタクトピン
JP2001060483A (ja) * 1999-08-23 2001-03-06 Japan Aviation Electronics Industry Ltd コネクタ構造
JP2003086315A (ja) * 2001-09-14 2003-03-20 Texas Instr Japan Ltd ソケット
JP2007141869A (ja) * 2007-02-28 2007-06-07 3M Co コンタクト及びそれを用いた集積回路用ソケット

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000331733A (ja) 1999-05-21 2000-11-30 S Ii R:Kk Icソケット取付構造
JP3797467B2 (ja) 2000-05-17 2006-07-19 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
JP2004355983A (ja) 2003-05-29 2004-12-16 Yamaichi Electronics Co Ltd Icソケット
JP2007048576A (ja) 2005-08-09 2007-02-22 Yamaichi Electronics Co Ltd アダプタソケット

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61146880U (ja) * 1985-03-05 1986-09-10
JPH10177038A (ja) * 1996-12-19 1998-06-30 Sony Corp 電子部品の試験用の電気的接続装置
JP2000195634A (ja) * 1998-12-26 2000-07-14 Enplas Corp Icソケット及びicソケットのコンタクトピン
JP2001060483A (ja) * 1999-08-23 2001-03-06 Japan Aviation Electronics Industry Ltd コネクタ構造
JP2003086315A (ja) * 2001-09-14 2003-03-20 Texas Instr Japan Ltd ソケット
JP2007141869A (ja) * 2007-02-28 2007-06-07 3M Co コンタクト及びそれを用いた集積回路用ソケット

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016511513A (ja) * 2013-06-28 2016-04-14 ハイコン カンパニー リミテッド 半導体素子テスト用ソケット装置
US9494616B2 (en) 2013-06-28 2016-11-15 Hicon Co., Ltd. Socket device for testing semiconductor device
CN112128199A (zh) * 2019-06-24 2020-12-25 施耐德电器工业公司 具有附接面板的电气外壳

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