JP2009009652A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板上に磁気記録層および犠牲層を形成し、前記犠牲層および磁気記録層をパターニングして凸状の磁気記録層パターンおよび犠牲層パターンを形成し、前記磁気記録層パターンおよび犠牲層パターンの間の凹部ならびに犠牲層パターン上に非磁性体を成膜し、前記非磁性体をエッチバックすることを含む磁気記録媒体の製造方法。
【選択図】 図3
Description
基板としては、たとえばガラス基板、Al系合金基板、セラミック基板、カーボン基板、酸化表面を有するSi単結晶基板などを用いることができる。ガラス基板としては、アモルファスガラスおよび結晶化ガラスが用いられる。アモルファスガラスとしては、汎用のソーダライムガラス、アルミノシリケートガラスが挙げられる。結晶化ガラスとしては、リチウム系結晶化ガラスが挙げられる。セラミック基板としては、汎用の酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、窒化珪素などを主成分とする焼結体や、これらの繊維強化物などが挙げられる。基板としては、上述した金属基板や非金属基板の表面にメッキ法やスパッタ法を用いてNiP層が形成されたものを用いることもできる。
軟磁性下地層(SUL)は、垂直磁磁気記録層を磁化するための単磁極ヘッドからの記録磁界を水平方向に通して、磁気ヘッド側へ還流させるという磁気ヘッドの機能の一部を担っており、磁界の記録層に急峻で充分な垂直磁界を印加させ、記録再生効率を向上させる作用を有する。軟磁性下地層には、Fe、NiまたはCoを含む材料を用いることができる。このような材料として、FeCo系合金たとえばFeCo、FeCoVなど、FeNi系合金たとえばFeNi、FeNiMo、FeNiCr、FeNiSiなど、FeAl系合金、FeSi系合金たとえばFeAl、FeAlSi、FeAlSiCr、FeAlSiTiRu、FeAlOなど、FeTa系合金たとえばFeTa、FeTaC、FeTaNなど、FeZr系合金たとえばFeZrNなどを挙げることができる。Feを60at%以上含有するFeAlO、FeMgO、FeTaN、FeZrNなどの微結晶構造または微細な結晶粒子がマトリクス中に分散されたグラニュラー構造を有する材料を用いることもできる。軟磁性下地層の他の材料として、Coと、Zr、Hf、Nb、Ta、TiおよびYのうち少なくとも1種とを含有するCo合金を用いることもできる。Co合金には80at%以上のCoが含まれることが好ましい。このようなCo合金は、スパッタ法により製膜した場合にアモルファス層が形成されやすい。アモルファス軟磁性材料は、結晶磁気異方性、結晶欠陥および粒界がないため、非常に優れた軟磁性を示すとともに、媒体の低ノイズ化を図ることができる。好適なアモルファス軟磁性材料としては、たとえばCoZr、CoZrNbおよびCoZrTa系合金などを挙げることができる。
垂直磁気記録層としては、Coを主成分とし、少なくともPtを含み、さらに酸化物を含む材料を用いることが好ましい。垂直磁気記録層は、必要に応じて、Crを含んでいてもよい。酸化物としては、特に酸化シリコン、酸化チタンが好適である。垂直磁気記録層は、層中に磁性粒子(磁性を有した結晶粒子)が分散していることが好ましい。この磁性粒子は、垂直磁気記録層を上下に貫いた柱状構造であることが好ましい。このような構造を形成することにより、垂直磁気記録層の磁性粒子の配向および結晶性を良好なものとし、結果として高密度記録に適した信号ノイズ比(SN比)を得ることができる。このような構造を得るためには、含有させる酸化物の量が重要となる。
保護層は、垂直磁気記録層の腐食を防ぐとともに、磁気ヘッドが媒体に接触したときに媒体表面の損傷を防ぐ目的で設けられる。保護層の材料としては、たとえばC、SiO2、ZrO2を含むものが挙げられる。保護層の厚さは1ないし10nmとすることが好ましい。これにより、ヘッドと媒体の距離を小さくできるので、高密度記録に好適である。カーボンは、sp2結合炭素(グラファイト)とsp3結合炭素(ダイヤモンド)に分類できる。耐久性、耐食性はsp3結合炭素のほうが優れるが、結晶質であることから表面平滑性はグラファイトに劣る。通常、カーボンの成膜はグラファイトターゲットを用いたスパッタリング法で形成される。この方法では、sp2結合炭素とsp3結合炭素が混在したアモルファスカーボンが形成される。sp3結合炭素の割合が大きいものはダイヤモンドライクカーボン(DLC)と呼ばれ、耐久性、耐食性に優れ、アモルファスであることから表面平滑性にも優れるため、磁気記録媒体の表面保護層として利用されている。CVD(chemical vapor deposition)法によるDLCの成膜は、原料ガスをプラズマ中で励起、分解し、化学反応によってDLCを生成させるため、条件を合わせることで、よりsp3結合炭素に富んだDLCを形成することができる。
基板の表面にレジストをスピンコート法で塗布し、スタンパを押し付けることにより、レジストにスタンパのパターンを転写する。レジストとしては、たとえば一般的なノボラック系のフォトレジストや、スピンオングラス(SOG)を用いることができる。サーボ情報と記録トラックに対応する凹凸パターンが形成されたスタンパの凹凸面を、基板のレジストに対向させる。このとき、ダイセットの下板にスタンパ、基板、バッファ層を積層し、ダイセットの上板で挟み、たとえば2000barで60秒間プレスする。インプリントによってレジストに形成されるパターンの凹凸高さはたとえば60〜70nmである。この状態で約60秒間保持することにより、排除すべきレジストを移動させる。また、スタンパにフッ素系の剥離材を塗布することで、スタンパをレジストから良好に剥離することができる。
RIE(反応性イオンエッチング)により、レジストの凹部の底に残存している残差を除去する。このとき、レジストの材料に応じて適切なプロセスガスを用いる。プラズマソースは、低圧で高密度プラズマを生成可能なICP(Inductively Coupled Plasma)が好適であるが、ECR(Electron Cyclotron Resonance)プラズマや、一般的な並行平板型RIE装置を用いてもよい。
残渣を除去した後、レジストパターンをエッチングマスクとして用い、磁気記録層を加工する。磁気記録層の加工には、Arイオンビームを用いたエッチング(Arイオンミリング)が好適であるが、Clガス、またはCOとNH3の混合ガスを用いたRIEでもよい。COとNH3の混合ガスを用いたRIEの場合、エッチングマスクにはTi、Ta、Wなどのハードマスクを用いる。RIEを用いた場合、凸状の磁性パターンの側壁にテーパが付きにくい。いかなる材料でもエッチング可能なArイオンミリングで磁気記録層を加工する場合、たとえば加速電圧を400Vとし、イオン入射角度を30°から70°まで変化させてエッチングを行うと、凸状の磁性パターンの側壁にテーパが付きにくい。ECRイオンガンを用いたミリングにおいては、静止対向型(イオン入射角90°)でエッチングすると、凸状の磁性パターンの側壁にテーパが付きにくい。
磁気記録層をエッチングした後、レジストを剥離する。レジストとして一般的なフォトレジストを用いた場合、酸素プラズマ処理を行うことによって容易に剥離することができる。具体的には、酸素アッシング装置を用い、たとえばチャンバー圧を1Torr、パワーを400Wとし、処理時間を5分としてフォトレジストを剥離する。レジストとしてSOGを用いた場合、フッ素系ガスを用いたRIEでSOGを剥離する。フッ素系ガスとしてはCF4やSF6が好適である。なお、フッ素系ガスが大気中の水と反応してHF、H2SO4などの酸が生じることがあるため、水洗を行うことが好ましい。
磁気記録層(またはその上のカーボン保護膜)が露出するまでエッチバックを行う。このエッチバックプロセスは、ArイオンミリングまたはECRイオンガンを用いたエッチングが好ましい。
エッチバック後、カーボン保護層を形成する。カーボン保護層は、CVD法、スパッタ法、または真空蒸着法により成膜することができる。CVD法によれば、sp3結合炭素を多く含むDLC膜が形成される。カーボン保護層の膜厚が2nm未満だとカバレッジが悪くなり、10nmを超えると記録再生ヘッドと媒体との磁気スペーシングが大きくなってSNRが低下するので好ましくない。保護層上に潤滑剤を塗布する。潤滑剤としては、たとえばパーフルオロポリエーテル、フッ化アルコール、フッ素化カルボン酸などを用いることができる。
図1に示したようなサーボパターン(プリアンブル、アドレス、バースト)と記録トラックの凹凸パターンが形成されたスタンパを用い、図2および図3に示した方法でDTR媒体を作製した。犠牲層55にはRuを用い、非磁性体57にはNiNbTiを用いた。犠牲層(Ru)の膜厚は5nmとした。図3FにおいてDCスパッタ法により、Ar流量100sccm、チャンバー圧力0.52PaでNiNbTiを50nm成膜した。図3GにおいてECRイオンガンを用い、マイクロ波パワーを800W、加速電圧を500Vに設定し、Arイオンを3分間照射してエッチバックを行った。図3Fおよび図3Gの工程をもう1回ずつ繰り返した(非磁性体成膜および非磁性体エッチバックの繰り返し回数2回)。図3Hにおいて犠牲層55を含むエッチバックを行い、表面を平坦化した。その後、CVD法により4nmのDLCを成膜して保護層58を形成し、DTR媒体を得た。
犠牲層を設けない以外は実施例1と同様にしてDTR媒体を作製した。このDTR媒体について、中周トラック領域の断面TEMを観測したところ、表面に深さ約4nmの微小な凹部が残っていたが、ほぼ平坦化されていることが確認された。しかし、AFM(原子間力顕微鏡)で凸部幅が広い外周側アドレス領域(凸部幅:約700nm)の表面粗さを観測したところ、Rmaxは約10nmであった。また、スピンスタンドで再生信号を確認したところ、外周側の信号強度が内周側に比べて弱く、外周側の表面が平滑になっていないことが確認できた。このような状態ではHDDとして使用することはできない。したがって、犠牲層を用いない場合には、非磁性体の成膜およびエッチバックの繰り返し回数をさらに増やす必要がある。
犠牲層の膜厚を10nm,20nmまたは30nmとした以外は実施例1と同様にしてDTR媒体を作製した。各々のDTR媒体について、中周トラック領域の断面TEMを観測した。膜厚10nmの犠牲層を用いて作製された媒体は表面が非常に平坦であった。膜厚20nmの犠牲層を用いて作製された媒体は表面に深さ約4nmの微小な凹部が残っていたが、ほぼ平坦化されていることが確認された。膜厚30nmの犠牲層を用いて作製された媒体は表面に深さ約13nmの凹部が残っていた。
犠牲層にSiO2を用いた以外は実施例1と同様にしてDTR媒体を作製した。このDTR媒体について、中周トラック領域の断面TEM(透過型電子顕微鏡)を観測したところ、表面に深さ約4nmの微小な凹部が残っていたが、ほぼ平坦化されていることが確認された。
Claims (5)
- 基板上に磁気記録層および犠牲層を形成し、
前記犠牲層および磁気記録層をパターニングして凸状の磁気記録層パターンおよび犠牲層パターンを形成し、
前記磁気記録層パターンおよび犠牲層パターンの間の凹部ならびに犠牲層パターン上に非磁性体を成膜し、
前記非磁性体をエッチバックする
ことを含むことを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。 - 前記犠牲層は前記非磁性体よりエッチングレートが速いことを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体の製造方法。
- 前記犠牲層は金属であることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体の製造方法。
- 前記犠牲層は3nm以上20nm以下の膜厚を有することを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体の製造方法。
- 前記非磁性体の成膜および前記非磁性体のエッチバックを複数回繰り返すことを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007171076A JP2009009652A (ja) | 2007-06-28 | 2007-06-28 | 磁気記録媒体の製造方法 |
PCT/JP2008/061688 WO2009001914A1 (en) | 2007-06-28 | 2008-06-20 | Method of manufacturing magnetic recording medium |
CNA2008800006532A CN101542608A (zh) | 2007-06-28 | 2008-06-20 | 制造磁记录介质的方法 |
US12/400,288 US20090166323A1 (en) | 2007-06-28 | 2009-03-09 | Method of manufacturing magnetic recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007171076A JP2009009652A (ja) | 2007-06-28 | 2007-06-28 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009009652A true JP2009009652A (ja) | 2009-01-15 |
Family
ID=40185723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007171076A Pending JP2009009652A (ja) | 2007-06-28 | 2007-06-28 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20090166323A1 (ja) |
JP (1) | JP2009009652A (ja) |
CN (1) | CN101542608A (ja) |
WO (1) | WO2009001914A1 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8820555B2 (en) | 2009-10-29 | 2014-09-02 | Yoshino Kogyosho Co., Ltd. | Synthetic resin round bottle |
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JP2007012119A (ja) * | 2005-06-28 | 2007-01-18 | Toshiba Corp | 磁気記録媒体の製造方法及び製造装置 |
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JP4441413B2 (ja) * | 2005-02-02 | 2010-03-31 | 昭和電工株式会社 | 磁気記録媒体、その初期化方法及びその製造方法 |
JP2007257801A (ja) * | 2006-03-24 | 2007-10-04 | Toshiba Corp | パターンド媒体の製造方法 |
JP4510796B2 (ja) * | 2006-11-22 | 2010-07-28 | 株式会社アルバック | 磁気記憶媒体の製造方法 |
-
2007
- 2007-06-28 JP JP2007171076A patent/JP2009009652A/ja active Pending
-
2008
- 2008-06-20 WO PCT/JP2008/061688 patent/WO2009001914A1/en active Application Filing
- 2008-06-20 CN CNA2008800006532A patent/CN101542608A/zh active Pending
-
2009
- 2009-03-09 US US12/400,288 patent/US20090166323A1/en not_active Abandoned
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090166323A1 (en) | 2009-07-02 |
WO2009001914A1 (en) | 2008-12-31 |
CN101542608A (zh) | 2009-09-23 |
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