JP2008541454A - 高フィルファクタ多方向共有ピクセル - Google Patents
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Abstract
共有されるピクセルセルコンポーネントを有する多数のピクセルセルを有するピクセルセルアレイアーキテクチャである。個々のピクセルセルアーキテクチャは、ピクセルセルのフィルファクタ及び量子効率を増加する。共通のピクセルセルコンポーネントは、アレイにおける多数のピクセルによって共有されてもよく、ピクセルセルからの信号の読み出しに関連するいくつかのコンポーネントを含んでいてもよい。アレイにおけるピクセルの改良されたフィルファクタを有するピクセルアレイアーキテクチャのその他の例は、角を成す転送ゲート、及び、効率的に配置され且つ共有されるキャパシタを含む。
【選択図】図4
【選択図】図4
Description
本発明は、広くデジタル画像センサに関し、特に、アレイのピクセルセル間で共有されるコンポーネントを有するピクセルセルアレイアーキテクチャに関する。
典型的には、デジタルイメージャアレイは、ピクセルセルの焦点面アレイを含み、当該セルの各々は、フォトセンサ、例えば、フォトゲート、フォトコンダクタ、又はフォトダイオードを含む。CMOSイメージャにおいて、読み出し回路は、典型的にソースフォロワ出力トランジスタを含む各ピクセルセルに接続される。フォトセンサは、光子を電子へと変換し、電子は、典型的に、ソースフォロワ出力トランジスタのゲートに接続された浮遊拡散領域へ転送される。電荷転送デバイス(例えば、トランジスタ)が含まれることが出来、フォトセンサから浮遊拡散領域へと電荷を転送する。加えて、そのようなイメージャセルは、典型的に、電荷転送に先立って所定の帯電レベルへ浮遊拡散領域をリセットするためのトランジスタを有する。ソースフォロワトランジスタの出力は、行選択トランジスタによってピクセル出力信号としてゲートで制御される。
模範的なCMOS撮像回路、その処理ステップ、及び撮像回路の様々なCMOS素子の機能の詳細な説明は、例えば、米国特許第6,140,630号、米国特許第6,376,868号、米国特許第6,310,366号、米国特許第6,326,652号、米国特許第6,204,524号、及び米国特許第6,333,205号に記述されており、これらの各特許は、マイクロン・テクノロジー社(Micron Technology,Inc.)に譲渡されている。前述の特許の各々の開示は、それらの全体を参照することによりここに含まれる。
図1、図2及び図3を参照するが、それらの図面は、従来のCMOSピクセルセンサセル100の、上面図、断面図、及び電気回路図を夫々表しており、入射光線187がフォトダイオードフォトセンサ120の表面に当たった際に、電子/ホールの対が、フォトダイオードのpn接合(n−蓄積領域122及びp+表面層123の境界に表される)において発生する。発生した電子(光電荷)は、フォトダイオード120のn−型蓄積領域122に集められる。光電荷は、初期電荷蓄積領域122から浮遊拡散領域110へ転送トランジスタ106を介して移動する。浮遊拡散領域110の電荷は、典型的に、ソースフォロワトランジスタ108によってピクセル出力電圧へ変換され、その次に、列出力ライン111へ行選択トランジスタ109を介して出力される。
ピクセルセル100のための図1及び図2に示すような、従来のCMOSイメージャの設計は、略50パーセントのフィルファクタ(fill factor)のみを提供し、これは、ピクセル100の半分のみが、光を電荷キャリアに変換する際に利用されることを意味する。図示のように、セル100のごく一部のみが、フォトセンサ(フォトダイオード)120を有する。ピクセルセル100の残りの部分は、基板101におけるSTI領域として示される分離領域102、転送トランジスタ106の転送ゲート106’に結合された浮遊拡散領域110、ならびに、夫々がゲート107’、108’、及び109’を有するリセットトランジスタ107、ソースフォロワトランジスタ108、及び行選択トランジスタ109のためのソース/ドレイン領域115、を含む。更に総ピクセル面積が(所望のスケーリングによって)減少し続けてゆくのにつれて、最少量の表面積を利用する高感度フォトセンサを開発すること、又は、ピクセルセルの非感光性コンポーネントのピクセルアレイ上のより効果的なレイアウトを発見し、増大したフォトセンサの面積を提供することは、ますます重要になる。
加えて、浮遊拡散領域110等の、従来の蓄積ノードは、限られた量の電荷蓄積容量を有する。一旦この容量に達すると、ピクセルセルは効率が悪くなる。一旦この電荷蓄積容量を超えると、望ましくない現象が発生し、それによって、“過剰容量の”電荷が、ピクセルセル100の望ましくない部分に漏れるか、又は隣接するピクセルセルに漏れる。この限られた電荷蓄積容量に対処するための一つの提案された解決策は、浮遊拡散領域と接続されたキャパシタを利用することである。しかしながら、この解決策の問題は、そうでなければ、そのスペースを使用して、フォトセンサの大きさを増大することができたピクセルセル上のキャパシタがスペースを取ってしまうことであり、それによってピクセルセル及び全体的なアレイのポテンシャルフィルファクタを減少してしまうということである。
従って、改良されたフィルファクタ及び電荷蓄積容量を有する効果的なピクセルセルアレイアーキテクチャへの要望が存在する。
本発明は、様々な実施形態において、共有されるピクセルセルコンポーネントを有する多数のピクセルセルを有するピクセルセルアレイアーキテクチャを提供する。当該ピクセルセルアーキテクチャは、ポテンシャルフィルファクタ、言い換えると、ピクセルセルアレイの量子効率を増大する。共通のピクセルセルコンポーネントは、アレイにおける多数のピクセルによって共有されてもよく、ピクセルセルからの信号の読み出しと関連するいくつかのコンポーネントを含んでもよい。
本発明の実施形態に従うと、ピクセルセルアーキテクチャは、ピクセルセルのフォトセンサに対して角を成す転送ゲートを含む。更に別の実施形態では、蓄積キャパシタを、適切に配置し、蓄積キャパシタが、多数のピクセルセルによって共有されて、ピクセルセルの電荷容量を増大し、一方で高フィルファクタを維持することが出来るようにする。
本発明の前述及びその他の様態は、本発明の以下の詳細な説明からより良く理解され、その詳細な説明は、添付の図面と関連して提供される。
以下の詳細な説明では、添付の図面に言及し、その図面は、詳細な説明の一部を形成し、本発明が実施される具体的な実施形態を例示する目的で示す。これらの実施形態は、十分に詳細に記述され、当業者が本発明を実施できるようにし、その他の実施形態を利用してもよいこと、及び、構造的、論理的、及び電気的変更が、本発明の精神及び範囲から逸脱することなく行われてもよいことは、理解されるべきである。記述された処理ステップの進行は、本発明の実施形態の模範であり;しかしながら、ステップのシーケンスは、ここで説明されたものに限定されず、当技術分野で周知のように、ある順序で必然的に起こるステップの例外をもって、変更されてもよい。
“ウエハ”及び“基板”という用語は、ここで使用されるように、シリコン、エピタキ
シャル、シリコンオンインシュレータ(SOI)又はシリコンオンサファイア(SOS)技術、ドープ又は非ドープ半導体、及びその他の半導体構造を含むものとして理解されるべきである。更に、以下の説明において“ウエハ”又は“基板”に言及する際、先行の処理ステップを利用して、領域、接合、又は材料層を、ベースの半導体構造又は基盤内に、又はその一面に形成してもよい。加えて、半導体は、シリコンベースである必要はないが、シリコンゲルマニウム、ゲルマニウム、砒化ガリウム、又はその他の半導体をベースとしてもよい。
シャル、シリコンオンインシュレータ(SOI)又はシリコンオンサファイア(SOS)技術、ドープ又は非ドープ半導体、及びその他の半導体構造を含むものとして理解されるべきである。更に、以下の説明において“ウエハ”又は“基板”に言及する際、先行の処理ステップを利用して、領域、接合、又は材料層を、ベースの半導体構造又は基盤内に、又はその一面に形成してもよい。加えて、半導体は、シリコンベースである必要はないが、シリコンゲルマニウム、ゲルマニウム、砒化ガリウム、又はその他の半導体をベースとしてもよい。
“ピクセル”という用語は、ここで使用されるように、光子を電気信号に変換するためのフォトセンサ及び関連するトランジスタを収容しているフォトエレメントユニットセルを指す。例示の目的で、少数の代表ピクセルが、ここにおいて図面及び説明で例示されるが;典型的には、多数の類似ピクセルの製造が、同時に進行する。従って、以下の詳細な説明は、限定する意味で受け取られるべきでなく、本発明の範囲は、添付の請求項によってのみ画定される。
“ある角度を成す”、“角を成す”、及び“傾斜した”という用語は、ここで使用されるように、いくつかの規定された基準点に対して、どんな角度でも、という意味として解釈されるべきであり、厳密に平行又は厳密に垂直ではない。従って、ある物体の少なくとも一部といくつかの基準点が交差して、0°、90°、又は180°ではない角度を形成した際、当該物体は、基準点に対して“角を成す”、“ある角度を成す”、又は“斜めになって”いると見なされる。
さて、図面を参照すると、同様の数字は同様の要素を指し、図4は、本発明の第1の実施形態に従う、ピクセルレイアウト設計のシリコン基板内及びその一面に構成されたピクセルアレイ450の一部の上面図を表す。図5は、図4のピクセルアレイ450の部分を表す回路図である。
ピクセルアレイ450の例示された部分において、アレイ450の一行における2個の隣接するピクセル412、413は、共通のピクセルコンポーネントを共有する。加えて、各ピクセルセル412、413は、それぞれ個別のフォトセンサ401、403を有する。フォトセンサ401、403は、光量子を電子(光電荷)に変換するためのどのような感光構造でもよく、好適な実施形態では、フォトセンサ401、403は、フォトダイオード領域である。ピクセルセル412は転送トランジスタ402'の部分としての転送ゲート402を、ピクセルセル413は転送トランジスタ404'の部分としての転送ゲート404をそれぞれ有してもよく、ここで転送トランジスタ402'、404'のそれぞれは、蓄積された光電荷を、フォトセンサ401、403から、浮遊拡散領域410として示される共通の蓄積ノードへ転送する。
好ましくは、転送ゲート402、403は、フォトセンサ401、403から角を成す。例えば、転送ゲート402、403の長手方向は、関連するフォトセンサ401、403の長さL及び幅Wに対して斜めになっているように示される。転送ゲート402のこの好適な角を成す配置が、転送ゲートの長さL及び幅Wの効果的なレイアウトを可能にし、ピクセル412(413)の漏出及び遅延性能を向上する。加えて、この角を成すレイアウトは、各ピクセル412(413)のフォトセンサ401の面積を最大化することによって、ピクセルセル412(413)のフィルファクタを最大化する際にも有益である。
残りのピクセルコンポーネントは、図4及び図5に示すように隣接するピクセル412、413間で共有される。これらのコンポーネントは、共有されるトランク490上にあるように例示され、このトランク490は、アレイの次のピクセル列における2個の行隣接したフォトセンサ401、403間に配置される。トランク490上の共有されるコンポーネントは、浮遊拡散領域410を含み、この浮遊拡散領域410は、転送ゲート402、404によってフォトセンサ401、403から電荷を受け取る、ピクセル412、413の共通蓄積ノードとして働く。ゲート407を有するリセットトランジスタが、浮遊拡散領域410のフォトセンサ401、403に対向する側に配置される。ソース/ドレイン領域406は、供給電圧Vaa−pixを受け取ることが可能なリセットトランジスタのゲート407の第2の側に配置される。浮遊拡散領域410は、ソースフォロワトランジスタのゲート409にも電気的に接続され、ソースフォロワトランジスタは、供給電圧Vaa−pixに結合されたドレインを有する。ソースフォロワトランジスタは、浮遊拡散領域410上の蓄積された電荷に基づいて電圧出力信号を生成する。ゲート411を有する行選択トランジスタは、ソースフォロワトランジスタのソースに接続されたドレインを有し、ピクセル信号を列ライン420へ選択的に読み出す。
図5における電気回路形態に示すように、共有キャパシタ408は、第1の電極408’を含み、第1の電極408’は、Vaa−pixに結合されてもよく、浮遊拡散領域410に対して第2の電極408”で電気的に接続される。キャパシタ408は、浮遊拡散領域410の電荷蓄積容量及びピクセル412、413の量子効率を増大する。キャパシタ408は、ピクセルアレイ450の表面の上方でメタライズ層(図示せず)を介して浮遊拡散領域410及びVaa−pixに電気的に接続されることが好ましい。或いは、キャパシタ408は、基板の表面の真下に配置される埋め込み導電相互接続層を介して拡散領域410及び/又はVaa−pixに接続されることができる。ピクセルアレイ450の好適なレイアウトは、例示されるように、2個の列隣接するフォトセンサ領域401、403の角部に配置される共有キャパシタ408を有する。フォトセンサの対401、403の角部491は、僅かに端折られた角度に形成されてこのアーキテクチャを可能にする。第1の対のフォトセンサ401、403に隣接する第2の対のフォトセンサ(図示せず)も、端折られたエッジを有し、それによってキャパシタ408は4個のフォトセンサの間のエリアに形成される。図に示すように、フォトセンサ401、403の角部は、フォトセンサ401、403の長さL及び幅Wが交差する直角とはならない。より正確に言えば、フォトセンサのエッジ491は、感光性エリアの狭いエリアを取り除いてキャパシタ408を割り当てる端折られた角度を成す。この好適な設計は、キャパシタの面積を最大化し、一方でフォトセンサ401(403)の面積の損失を最小化する。適切な分離方法、例えば、浅いトレンチ分離を使用して、分離領域493を形成し、キャパシタ408を4個のフォトセンサから分離する。図4に示される2個のキャパシタ408があるが、一方のキャパシタ408のみが、図5に示すように、ピクセル412、413によって共有され;他方のキャパシタ408は、アレイ450における2個のその他の行隣接するピクセル(図示せず)間で共有される。
図6を参照し、ピクセルアレイ450を作動する模範的方法を、更に図10を参照してここで記述するが、CMOSイメージャ300のブロック図は、模範的アレイ450に基づくピクセルアレイ200を組み込んでいる。模範的作動方法は、ローリングシャッタの機能を採用するが、本発明が、ここに記述されるような模範的作動方法には決して限定されないことは、理解されるべきである。図6において表される方法に関して、アレイ450の露光(積分)時間は5行である。従って、第1の行(Row000)の積分期間の終了時点及び第6の行(Row005)の積分期間の開始時点を、ローリングシャッタの行アドレスを示す破線によって分離して図6に示してある。
積分期間の終了時に、Row000におけるピクセルに対して読み出し動作を開始する。この読み出しプロセスを、模範的ピクセル412について記述するが、この読み出しプロセスは、この行における各ピクセルに対して同時に起こっていることは理解されるべきである。この読み出しは、リセット信号(RESET)をハイにパルス化してリセットトランジスタ407を活性化するタイミング及び制御回路250(図10)によって開始される。タイミング及び制御回路250は、行選択トランジスタのゲート411を起動する行選択信号(RS)ハイも送信する。サンプルホールドリセット信号(SHR)のパルス化は、ソースフォロワトランジスタ409及び起動された行選択トランジスタ411を介して列ライン上のサンプルホールド回路266(図10)でリセット電圧Vrstのサンプリング及びホールディングを開始する。結果的に、リセット電圧Vrstが、列ライン上にピクセル出力として現れる。次に、タイミング及び制御回路250は、転送信号(TX0)をパルス化して転送トランジスタ402‘を起動する。TX0がハイの間、積分期間中に、印加された光に応じてフォトセンサ401に蓄積するどの電荷も、転送トランジスタ402’を通って浮遊拡散領域410上へ転送される。従って、浮遊拡散領域410内(及び関連するキャパシタ408上)に蓄積された電荷量は、ピクセルセル412上に入射する外部光の量を表す。タイミング及び制御回路250は、サンプルホールド光信号(SHS)をハイにパルス化して、サンプルホールド回路265に、ピクセルセル412に対する結果として生じる光信号出力電圧Vsigを読み出させる。ピクセルセル412の差分(差動)信号(Vrst−Vsig)が、差動増幅器267(図10)によって発生され、以下に説明するようなその他の回路によって処理される。
この時の、第6の行、即ち、Row005におけるピクセルの動作は、積分期間の開始を含む。タイミング及び制御回路250(図10)は、適切な行選択信号を適用することによってこの第6の行(Row005)におけるピクセルを起動し、この行選択信号は、RSとして図6に示され、上記の第1の行の信号とは異なる信号であることが理解されるべきである。フォトセンサ401等の、フォトセンサで電荷をリセットするために、Row005におけるフォトセンサと関連する転送ゲートが、この行のTX1としてここに示される転送ゲート信号を送信するタイミング及び制御回路によってハイへ起動される。加えて、転送ゲート信号TX1がハイのままであるので、この行におけるリセットゲートも、制御回路250からの適切な信号(RESET)によって作動される。これによって、フォトセンサにおけるあらゆる残留電荷も、リセット電圧源に排出される。これらの信号(TX1及びRESET)はローに戻り、この行のピクセルの積分期間が開始する。
Row001の読み出しプロセスは、転送制御信号TX1がTX0の代わりにハイになること以外、図6に示すようなRow000の読み出しプロセスと同じであり、Row001の転送ゲートをオンにする。Row001のピクセルの読み出しが完了すると、積分期間を開始するためにRow006のピクセルをリセットすることが開始し、TX1の代わりに転送制御信号TX0がハイになりRow006のフォトセンサをリセットすること以外、これは、Row005に関して記述されたプロセスに倣う。
図7及び図8を参照して、本発明の第2の実施形態をここで記述する。図7は、ピクセルアレイ550の一部の上面図であり、一方、図8は、模範的な電子回路形態における模範的なピクセルアレイ550の部分を表す回路図である。本発明の第2の実施形態に従って、ピクセルアレイ550のアーキテクチャは、各フォトセンサ501、502、503、504を有する個別のピクセルセル間のピクセルコンポーネントを4方向で共有することを含む。これら4個のピクセルは、図7において点線のエリア710によって示される共有されるアーキテクチャを有する。共有されるアーキテクチャは、フォトセンサ501、503の対とフォトセンサ502、504の対との間のエリア内に配置される直線的に延出するトランクを含む。
図8に例示するように、各ピクセルセルは、関連するゲート505、506、507、508を有する転送トランジスタ505’、506’、507’、508’を有する。転送トランジスタゲート505、506、507、508の少なくとも一部は、図7において示されるようにフォトセンサ501、502、503、504に対してある角度481を成すことが好ましい。本実施形態の転送トランジスタゲート505、506、507、508は、夫々、一列における2個の隣接するピクセル間で共有されることも注意すべきである。例えば、列隣接するピクセルのフォトセンサ501、521は、それぞれ転送ゲート505を共有し、列隣接したピクセル503、523は転送トランジスタゲート507を共有する。しかしながら、転送トランジスタゲート(505)を共有する(関連するフォトセンサ501、521を有する)2個の例示されたピクセルは、浮遊拡散領域や読み出し回路を共有しない。より正確には、本実施形態は、第1の浮遊拡散領域510を共有するフォトセンサ501及び502を有する2個の行隣接ピクセル及び第2の浮遊拡散領域520を共有する2個の行隣接フォトセンサ503及び504を有する。2個の浮遊拡散領域510、520は、互いに電気的に接続され、且つ、ピクセルアレイ550の表面の上方に形成された第1のメタライズ層を介して関連するキャパシタ518の一つの電極518”に電気的に接続される。図7及び図8に示すように、各キャパシタ518は、第2のメタライズ層を介してソース/ドレイン領域513で、例えばVaa−pixの電源電圧を受け取る接点に他方側518’で接続される。
ゲート512を有する一つのリセットトランジスタ512’を利用して、両浮遊拡散領域510、520及び関連するキャパシタ518の電荷をリセットする。リセットゲート512の一方の側には、供給電圧Vaa−pixを受け取ることが可能なソース/ドレイン領域513がある。関連するフォトセンサ501、502、503、504を有する4個のピクセルセルは、ゲート514を有するソースフォロワトランジスタ及びゲート516を有する行選択トランジスタを含む共通の読み出し回路を共有する。4個のピクセルは、2個の関連する浮遊拡散領域510、520の蓄積容量を増加することが出来るキャパシタ518も共有する。
ここに例示として記述された4方向に共有されるピクセルレイアウトは、各フォトセンサ501、502(図7)を有する2個の行隣接するピクセル、及び一組の読み出し回路710を共有する各フォトセンサ503、504を有する2個の列隣接するピクセルを有する。従って、その他の列毎に、本実施形態に従って、列出力ライン711のみが必要である。加えて、2個の列隣接するピクセルは、図8において見られるように、共通の転送ゲート信号を共有するので、隣接する行の2個の列隣接するピクセルは、略同時に同一の出力ライン711上に読み出される。これらのピクセルからの夫々の信号は、ピクセルアレイ550の最高分解能を維持するために別々に扱われる必要がある。図8に示すように、これは、各列出力ライン711が、2組のサンプルホールドキャパシタ715、716、又は合計で4個のキャパシタを利用することを意味する。in_sel信号(図9)によって作動されるスイッチ712を利用して、入力信号Vrst又はVsigが第1の組のキャパシタ715の内の一つ又は第2の組のキャパシタ716の内の一つに入るべきか否かを決定する。残りの制御回路(図10を参照して以下に詳細に記述される)は、次に更なる処理へ出力される2組のキャパシタ715、716に格納された信号から、各ピクセルに対して、異なる信号を生成する。
例示された、4方向に共有されるピクセルアレイ構成は、少なくとも2個の明確な利点を有する:当該構造は、列方向の周囲におけるより大きなピッチ回路を可能にし、当該構造は、ピクセルアレイ550の表面の上方の層において必要なメタライズ層を減少し、一方で、従来のピクセルアレイ以上に感光領域面積ひいては量子効率を増大する。加えて、各キャパシタ518は、フォトセンサ502、504の端折られたエッジ711に示されるように、4個のフォトセンサの角部に効率的に配置される。この配置が、感光性面積を犠牲にすることなく最大化されたキャパシタ面積を可能にし、それによって、ピクセルアレイ550のフィルファクタを減少する。
図9を参照して、ピクセルアレイ550を作動する模範的方法を、更に図8及び図10を参照してここで記述するが、CMOSイメージャ300のブロック図は、模範的なアレイ550に基づくピクセルアレイ200を有する。図9は、図6を参照して上述されたようなローリングシャッタ動作を使用する模範的アレイ550を作動するための模範的方法の一部を実行するためのタイミング図を例示する。具体的には、図9は、ピクセルアレイ550の2行(Row〈001〉及びRow〈002〉)からの信号の読み出しを例示しており、各行は、4行の積分時間を有する。加えて、図9は、アレイ550におけるその他の2行の積分期間の開始を示す。図8に示す、転送ゲート信号ラインTX_ODD〈0〉、TX_EVEN〈0〉、TX_ODD〈1〉、TX_EVEN〈1〉等は、ODD又はEVENが、アレイにおける奇数又は偶数のピクセル列を表し、一方、指定“〈番号〉”は、アレイにおける特定の信号ライン行番号を表すという命名法を使用する。
図9では左から右へと読み、読み出し動作は、Row001におけるピクセルに対して行われ、この行の適切な積分期間の後に行われていることが理解されるべきである。タイミング及び制御回路250(図10)は、適切な行選択信号(RS)をハイにパルス化して特定の行の行選択トランジスタを使用可能にする、例えば、Row〈000〉又はRow〈001〉のどちらかの行選択信号RSが行選択ゲート516(図8)を“オン”する。Row001における、浮遊拡散領域520等の、浮遊拡散領域は、ハイにパルス化されて当該行におけるリセットトランジスタのリセットゲート512を起動するリセット信号(RESET)の活性化によってリセットされる。ハイにパルス化された行選択信号(RS)によって、サンプルホールドリセット信号(SHR)は、パルス化されて、リセット条件、即ち、Vrstを表すピクセル信号の読み出しを開始するが、Vrstは、ソースフォロワトランジスタ(514)及び行選択トランジスタ(516)を介して浮遊拡散領域(520)から取られる。追加信号“in_sel”は、奇数と偶数の行のどちらが読み出されているかによって、活性化、言い換えれば、ハイにパルス化されるか、又は、活性化されないで、上記されたように、適切なサンプルホールド回路715、716における当該信号の格納を制御する。Row〈001〉の各活性化された信号は、ローにまで戻る。
Row〈002〉に対し、同様な読み出し動作が行われる。具体的には、適切な行選択信号(RS)は、タイミング及び制御回路250(図10)によってハイに変化し、この行の行選択トランジスタ549を作動する。浮遊拡散領域530、540(図8)等の、行002における浮遊拡散領域は、ハイにパルス化されて当該行におけるリセットトランジスタのリセットゲート547を活性化するリセット信号(Reset)の活性化によってリセットされる。行選択信号(RS)のハイによって、サンプルホールドリセット信号(SHR)は、パルス化されて、ソースフォロワトランジスタ548及び行選択トランジスタ549を介して浮遊拡散領域540から取られるリセット条件、即ち、Vrstを表すピクセル信号の読み出しを開始する。もし“in_sel”信号が、行〈001〉の前回の読み出し中にローであれば、“in_sel”信号は、この読み出し中にハイに切替えられるべきであり、逆の場合も同じである。リセット信号(Reset)及びリセットされたサンプルホールド信号(SHR)は、行選択ゲート活性化信号(RS)と同様に、ローになる。
次に、Row〈001〉及びRow〈002〉における適切な転送トランジスタの転送ゲートは、適切な転送ゲート信号(ROWoddTX)をハイにパルス化することによって、全ての奇数列について“オン”にされる。図8に示すように、ラインTX_odd〈1〉上の信号がパルス化されると、転送ゲート506及び526は、“オン”に変わり、フォトセンサ502、522からの電荷を浮遊拡散領域510、540に夫々転送する。
図9における第2の破線を参照し、ピクセルセルは、ここで、Row〈001〉において各奇数列のピクセルから読み出される。適切な行選択トランジスタ信号(RS)がハイである間、サンプルホールド信号(SHS)は、パルス化されて、ピクセル信号Vsigを、浮遊拡散領域510からソースフォロワ514及び行選択トランジスタ516を介して列ライン711上に読み出す。上述したように、“in_sel”信号を活性化するか或いはしないことにより、適切なサンプルホールド回路のキャパシタ715、716(図8)によってピクセル信号の格納を制御する。Row〈002〉に対し、同一の読み出しステップを次に行い、サンプルホールド信号(SHS)及び行選択信号(RS)を活性化し、行における一つ置きのピクセルからピクセル信号Vsigを読み出す。しかしながら、Row〈002〉に対し、“in_sel”信号が、そのまま反対の位置にあり、Row〈001〉において浮遊拡散領域510から列ライン711上に信号を読み出す。この時点で、奇数列におけるRow〈001〉及びRow〈002〉におけるフォトセンサ502及び522によって発生するピクセル信号が読み出されている。
今記述されたステップを繰り返すことにより、Row〈001〉及び〈002〉において偶数列のピクセルから一対の信号Vrst及びVsigを読み出すことが理解されるべきである。具体的には、信号Vrst及びVsigは、次に列ライン711上に読み出されて、フォトセンサ504、542及び各浮遊拡散領域520、530のサンプルホールドキャパシタ715、716に別々に蓄積される。フォトセンサ504、542の読み出し動作は、移送ゲート508、536が、Row〈001〉及びRow〈002〉の偶数列の転送ゲート信号によって作動されることは除いて、フォトセンサ502、522に対する今記述されたステップと等しい。
最後に、図9上の第4の破線の後に示すように、Row〈001〉及び〈002〉の読み出しプロセスが完了したと仮定すれば、新たな積分期間が、Row〈005〉及び〈006〉に対して開始される。具体的には、これらの行におけるフォトセンサ及び浮遊拡散領域は、両方とも、リセット信号(Reset)を抑制してリセットトランジスタのゲートを起動することによって、及び、適切な転送ゲート信号(奇数列のピクセルのRowoddTX及び偶数列のピクセルのRowevenTX)をパルス化することによって転送トランジスタの関連する転送ゲートを“オン”にすることによって、リセットされる。これらの行の積分期間の後に、Row〈005〉及び〈006〉における光トランジスタによって発生される信号を、上述のように読み出してもよい。
今述べた動作方法は、アレイの行及び列の各々に対して繰り返すことが可能であって、また、当該方法は個別のピクセルに対してのみ記述されているが、これは単純化のためであり、これらのステップは、行における一つ置きのピクセルに対して同時に発生し、次に、行の対毎のローリング方法によってアレイにおけるピクセルの残りに対して繰り返すことができる、ということは理解されるべきである。加えて、この方法は、単に模範であり、本発明は、記述された方法による動作に決して限定されない。
図10は、上述された実施形態の一つに従って構成されているピクセルアレイ200を有する模範的CMOSイメージャ300のブロック図を例示する。ピクセルアレイ200は、所定数の列及び行(図示せず)に配置された複数のピクセルからなる。信号処理回路は、ここに記述するように、アレイ200へ取り付けられ、その信号処理回路の少なくとも一部は、基板に形成されてもよい。アレイ200における各行のピクセルは、全て行選択ラインによって同時にオンにされ、各列のピクセルは、各列選択ラインによって選択的に出力される。複数の行及び列のラインが、アレイ200の全体に対して提供される。行ラインは、行アドレスデコーダ220に応答して行ドライバ210によって選択的に起動される。列選択ラインは、列アドレスデコーダ270に応答して列ドライバ260によって選択的に起動される。このように、行及び列アドレスは、各ピクセルに対して提供される。
CMOSイメージャ300は、タイミング及び制御回路250によって作動されるが、タイミング及び制御回路250は、ピクセル読み出しのための適切な行及び列ラインを選択するためのアドレスデコーダ220、270を制御する。また、制御回路250は、行及び列駆動回路210、260が選択された行及び列のラインの駆動トランジスタに駆動電圧を印加するように行及び列駆動回路210、260を制御する。典型的にはピクセルリセット信号(Vrst)及びピクセル画像信号(Vsig)を含むピクセル列信号は、列デバイス260と関連するサンプルホールド回路265によって読み出される。差分(差動)信号(Vrst−Vsig)は、アナログ/デジタル変換器275(ADC)によってデジタル化される各ピクセルに対して差動増幅器267によって生成される。アナログ/デジタル変換器275は、デジタル画像を形成する画像処理プロセッサ280に、デジタル化されたピクセル信号を供給する。
図11は、プロセッサシステム308を示し、そのプロセッサシステム308は、本発明の実施形態に従って構成されたイメージャ300を含む。プロセッサシステム308は、デジタルカメラ又はその他のイメージングシステムの一部であってもよい。イメージャ300は、システム308から制御又はその他のデータを受け取ってもよい。システム308は、画像処理又は他の画像処理動作のための中央演算処理装置(CPU)を有するプロセッサ302を含む。プロセッサ302は、バス304を介して様々なデバイスと通信を行う。バス304に接続されたデバイスのいくつかは、システム308への、及びシステム308からの通信を提供し;入力/出力(I/O)デバイス306及びイメージャ300は、そのような通信デバイスである。バス304に接続された他のデバイスは、メモリ、例えば、ランダムアクセスメモリ(RAM)310又は取り外し可能メモリ315を提供する。
上述したプロセス及びデバイスは、使用され且つ生成されることが可能な多くのものの内の好適な方法及び典型的なデバイスを例示する。上記の説明及び図面は、実施形態を例示し、それは、本発明の目的、特徴、及び利益を達成する。しかしながら、本発明は、上述及び例示された実施形態に厳密に制限されることは意図していない。例えば、本発明は、コンポーネント部品の2方向又は4方向の共有を有するピクセルアレイを参照するだけで記述されるが、その他の多方向共有ピクセルアレイも、本発明の範囲内であることが意図される。加えて、本発明の、現在は予測不可能ではあっても、以下の請求項の本質及び範囲内に入るあらゆる変形例についても、本発明の一部として見なされるべきである。
好ましくは、転送ゲート402、404は、フォトセンサ401、403から角を成す。例えば、転送ゲート402、404の長手方向は、関連するフォトセンサ401、403の長さL及び幅Wに対して斜めになっているように示される。転送ゲート402のこの好適な角を成す配置が、転送ゲートの長さL及び幅Wの効果的なレイアウトを可能にし、ピクセル412(413)の漏出及び遅延性能を向上する。加えて、この角を成すレイアウトは、各ピクセル412(413)のフォトセンサ401の面積を最大化することによって、ピクセルセル412(413)のフィルファクタを最大化する際にも有益である。
積分期間の終了時に、Row000におけるピクセルに対して読み出し動作を開始する。この読み出しプロセスを、模範的ピクセル412について記述するが、この読み出しプロセスは、この行における各ピクセルに対して同時に起こっていることは理解されるべきである。この読み出しは、リセット信号(RESET)をハイにパルス化してリセットトランジスタ407を活性化するタイミング及び制御回路250(図10)によって開始される。タイミング及び制御回路250は、行選択トランジスタのゲート411を起動する行選択信号(RS)ハイも送信する。サンプルホールドリセット信号(SHR)の脈動は、ソースフォロワトランジスタ409及び起動された行選択トランジスタ411を介して列ライン上のサンプルホールド回路265(図10)でリセット電圧Vrstのサンプリング及びホールディングを開始する。結果的に、リセット電圧Vrstが、列ライン上にピクセル出力として現れる。次に、タイミング及び制御回路250は、転送信号(TX0)を脈動して転送トランジスタ402’を起動する。TX0がハイの間、適用された光に応じてフォトセンサ401に蓄積するどの電荷も、積分期間中に、転送トランジスタ402’を通って浮遊拡散領域410上へ転送される。従って、浮遊拡散領域410内(及び関連するキャパシタ408上)に蓄積された電荷量は、ピクセルセル412上に入射する外部光の量を表す。タイミング及び制御回路250は、サンプルホールド光信号(SHS)をハイにパルス化して、サンプルホールド回路265に、ピクセルセル412に対する結果として生じる光信号出力電圧Vsigを読み出させる。ピクセルセル412の差分(差動)信号(Vrst−Vsig)が、差動増幅器267(図10)によって発生され、以下に説明するようなその他の回路によって処理される。
Claims (48)
- 複数の行及び複数の列に配列された複数のピクセルを含むピクセルアレイであって:
光電荷を発生するための、第1のフォトセンサを有する第1のピクセル、第2のフォトセンサを有する第2のピクセル、第3のフォトセンサを有する第3のピクセル、及び第4のフォトセンサを有する第4のピクセル;
前記第1、第2、第3、及び第4のピクセルによって共有される、発生した前記光電荷を蓄積するための共通蓄積ノード;
キャパシタのキャパシタンスを増大するために、前記共通蓄積ノードに結合された当該キャパシタ;及び
前記共通蓄積ノードに接続された共有される読み出し回路
を備える、ピクセルアレイ。 - 前記共通蓄積ノードで蓄積された電荷をリセットするためのリセットトランジスタを更に備える、請求項1に記載のピクセルアレイ。
- 前記読み出し回路は、前記共通蓄積ノードに接続されたゲートを有する共通ソースフォロワトランジスタ、及び前記ソースフォロワトランジスタの出力をゲートで制御するための共通行選択トランジスタ、の内の少なくとも一つを含む、請求項1に記載のピクセルアレイ。
- 前記読み出し回路は、前記第1、第2、第3、及び第4のフォトセンサによって発生される夫々の電荷の量を表す第1、第2、第3、及び第4の出力信号を生成するように構成される、請求項3に記載のピクセルアレイ。
- 前記第1、第2、第3、及び第4のピクセルの内の2個は、アレイの行における2個の隣接するピクセルである、請求項1に記載のピクセルアレイ。
- 前記第1、第2、第3、及び第4のピクセルの内の2個は、アレイの列における隣接するピクセルである、請求項5に記載のピクセルアレイ。
- 前記共有される読み出し回路は、第1のフォトセンサ対と第2のフォトセンサ対との間に配置される活性領域内に配置される、請求項1に記載のピクセルアレイ。
- 前記第1のフォトセンサ対は、前記第1及び第2のフォトセンサを備え、第2のフォトセンサ対は、前記第3及び第4のフォトセンサを備える、請求項7に記載のピクセルアレイ。
- 前記キャパシタは、前記フォトセンサ対の内の一方の端折られたエッジに配置される、請求項7に記載のピクセルアレイ。
- 前記第1、第2、第3、及び第4のフォトセンサの夫々から前記共通蓄積ノードへと電荷を転送するための各第1、第2、第3、及び第4の転送トランジスタを更に備える、請求項1に記載のピクセルアレイ。
- 前記第1、第2、第3、及び第4の転送トランジスタの各々は、関連するフォトセンサに対して少なくとも部分的にある角度を成す転送ゲートを備える、請求項10に記載のピクセルアレイ。
- 複数の行及び複数の列に配列された複数のピクセルを含むピクセルアレイであって:
光電荷を発生するための第1のフォトセンサを有する第1のピクセル、及び光電荷を発生するための第2のフォトセンサを有する第2のピクセル;
前記第1の及び第2のピクセルから発生した光電荷を蓄積するための第1の浮遊拡散領域;
光電荷を発生するための第3のフォトセンサを有する第3のピクセル、及び光電荷を発生するための第4のフォトセンサを有する第4のピクセル;
前記第3の及び第4のフォトセンサによって発生した光電荷を蓄積し、前記第1の浮遊拡散領域に相互接続される、第2の浮遊拡散領域;及び
前記第1、第2、第3、又は第4のフォトセンサのうちの少なくとも一つに隣接して配置され、前記第1及び第2の浮遊拡散領域に電気的に接続される、キャパシタ
を備える、ピクセルアレイ。 - 前記第1及び第2の浮遊拡散領域で電荷をリセットするための共通リセットトランジスタを更に備える、請求項12に記載のピクセルアレイ。
- 前記キャパシタは、前記フォトセンサの内の一つの端折られたエッジに隣接して配置される、請求項12に記載のピクセルアレイ。
- 前記キャパシタは、金属の相互接続層によって前記第1及び第2の浮遊拡散領域に接続される、請求項12に記載のピクセルアレイ。
- 前記第1、第2、第3、及び第4のピクセルから少なくとも1個の信号を読み出すための共通出力回路を更に備える、請求項12に記載のピクセルアレイ。
- 前記出力回路は、前記第1及び第2の浮遊拡散領域にそれぞれ転送される電荷の量を表す少なくとも2個の読み出し信号を発生するように構成される、請求項16に記載のピクセルアレイ。
- 前記出力回路は、前記第1、第2、第3、及び第4のフォトセンサの各々によって発生する電荷の量を表す4個の読み出し信号を発生するように構成される、請求項17に記載のピクセルアレイ。
- 前記出力回路は、第1のフォトセンサ対と第2のフォトセンサ対との間に配置されるリニアトランク上に少なくとも部分的に配置される、請求項16に記載のピクセルアレイ。
- 複数の行及び複数の列に配列された複数のピクセルを備え、
印加された光に応じて光電荷を発生するための、第1、第2、第3、及び第4のフォトセンサ;
前記第1、第2、第3、及び第4のフォトセンサによって共有される共通蓄積ノード;
前記共通蓄積ノードで電荷をリセットするための共通リセットトランジスタ;及び
前記共通蓄積ノードで蓄積された電荷量を表す少なくとも1個の信号を生成するための少なくとも1個の共通トランジスタを備える読み出し回路であって、前記読み出し回路の少なくとも一部が、前記第1、第2、第3、及び第4のフォトセンサの間の活性領域に配置される、読み出し回路を含んだアレイ
を含むことを特徴とする、イメージャ。 - 前記第1、第2、第3、又は第4のフォトセンサの各々は、フォトダイオードを含む、請求項20に記載のイメージャ。
- 前記読み出し回路は、前記第1、第2、第3、及び第4のフォトセンサの各々によって夫々発生する電荷の量を表す4個の読み出し信号を発生するように構成される、請求項20に記載のイメージャ。
- 前記読み出し回路は、サンプルホールド回路に結合され、当該サンプルホールド回路は:
列ライン上に出力される信号を蓄積するための第1の組のサンプルホールドキャパシタ;及び
前記列ライン上に出力される信号を蓄積するための第2の組のサンプルホールドキャパシタ
を備える、請求項20に記載のイメージャ。 - サンプルホールド回路は、入力信号の、前記第1又は第2の組のキャパシタのどちらかへの蓄積を制御するためのスイッチを更に備える、請求項23に記載のイメージャ。
- 複数の列及び複数の行に配列された複数のピクセルを備えるイメージャアレイにおける第1の複数のピクセルの各々から、信号を読み出すための第1の読み出しトランジスタを含む第1の読み出し回路;
前記イメージャアレイにおける第2の複数のピクセルの各々から信号を読み出すための第2の読み出しトランジスタを含む第2の読み出し回路;
前記第1及び第2の複数のピクセルの各々において少なくとも1個の転送ゲートに第1の転送ゲート信号を印加するための第1の転送ゲート信号ライン;及び
前記第1及び第2の複数のピクセルの各々において少なくとも1個の転送ゲートに第2の転送ゲート信号を印加するための第2の転送ゲート信号ライン
を備え、ここで前記第1の転送ゲート信号は、奇数番号列において転送ゲートの各々に印加され、また、前記第2の転送ゲート信号は、偶数番号列において転送ゲートの各々に印加される
ことを特徴とする、イメージャ回路。 - 前記第1の複数のピクセルは、第1の行における少なくとも1個のピクセル、及び、第2の、隣接する行における少なくとも1個のピクセルを含む、請求項25に記載の回路。
- 前記第1及び第2の複数のピクセルは、少なくとも2個の行隣接するピクセルを備える、請求項25に記載の回路。
- 前記第1及び第2の読み出しトランジスタの各々からピクセル信号を読み出すための列出力ラインを更に備える、請求項25に記載の回路。
- 前記列出力ラインからの前記ピクセル信号を受け入れるための少なくとも2個のキャパシタを更に備え、そのうちの第1のキャパシタは、前記第1の複数のピクセルからの信号を受け入れ、第2のキャパシタは、前記第2の複数のピクセルからの信号を受け入れる、請求項28に記載の回路。
- 前記少なくとも2個のキャパシタにおいてピクセル信号の蓄積を制御するためのスイッチを更に備える、請求項29に記載の回路。
- ピクセルアレイの動作方法であって:
ソースフォロワトランジスタを利用して、積分期間中に、第1、第2、第3、及び第4のフォトセンサによって発生する電荷の量を表すための第1、第2、第3、及び第4のピ
クセル信号を発生して出力するステップ;
行選択トランジスタを利用して、前記ソースフォロワトランジスタの出力をゲートで制御するステップ;及び
スイッチを作動して、前記第1、第2、第3、及び第4のピクセル信号の、第1の組のサンプルホールドキャパシタ又は第2の組のサンプルホールドキャパシタのいずれかへの蓄積を制御するステップ
を備える、ピクセルアレイの動作方法。 - 前記第1、第2、第3、及び第4のフォトセンサから発生した電荷を、第1又は第2の蓄積領域の一方へと転送するステップを更に備える、請求項31に記載の方法。
- 前記第1及び第2の蓄積領域が、おのおのがキャパシタに電気的に接続される浮遊拡散領域を備える、請求項32に記載の方法。
- 前記第1及び第2の蓄積領域で蓄積された電荷をリセットしてリセット状態を創出するステップを更に備える、請求項32に記載の方法。
- 前記リセット状態を表す前記アレイから信号を読み出すステップを更に備える、請求項34に記載の方法。
- 蓄積を制御する前記ステップは、第1及び第2の組のサンプルホールドキャパシタのうちの一方へ出力信号を導くステップをさらに備える、請求項31に記載の方法。
- 複数の行及び複数の列に配列された複数のピクセルを備えるピクセルアレイを動作する方法であって:
第1の行における第1のフォトセンサ及び第2の行における第2のフォトセンサに印加された光に応じて電荷を発生させるステップ;
第1の共通転送信号を印加し、前記第1の行における第1の転送トランジスタゲート及び前記第2の行における第2の転送トランジスタゲートを起動し、前記第1の転送トランジスタゲートが、前記第1のフォトセンサによって発生した電荷を第1の蓄積ノードへ転送し、且つ前記第2の転送トランジスタゲートが、前記第2のフォトセンサによって発生した電荷を第2の蓄積ノードへ転送するステップ;
前記第1及び第2の蓄積ノードへ夫々転送される電荷の量を表す第1及び第2の信号を発生するステップ;及び
夫々の行選択信号の制御下において列ライン上へ前記第1及び第2の信号を出力するステップ
を備える、ピクセルアレイの動作方法。 - 前記第1の信号を第1の組のサンプルホールドキャパシタの内の一個のキャパシタへ、及び、前記第2の信号を第2の組のサンプルホールドキャパシタの内の一個のキャパシタへ選択的に切替えるステップを更に備える、請求項37に記載の方法。
- 前記第1及び第2のフォトセンサでの電荷をリセットして積分期間を開始する動作を更に備える、請求項37に記載の方法。
- 前記第1及び第2のフォトセンサをリセットする前記ステップは、夫々の第1及び第2のリセットゲートの起動及び前記共通転送信号の印加を備える、請求項39に記載の方法。
- 前記第1及び第2の信号を出力する前記ステップは、行の対のそれぞれに対して同時に
行われる、請求項37に記載の方法。 - 各フォトセンサへ印加される光は、ローリングシャッタによって制御される、請求項37に記載の方法。
- 前記ローリングシャッタは、所定数の行を読み出す時間に等しいように前記フォトセンサの各々の積分期間を制御する、請求項42に記載の方法。
- 前記所定数の行は、4行である、請求項43に記載の方法。
- 前記第1及び第2のフォトセンサは、列隣接するフォトセンサである、請求項37に記載の方法。
- 前記第1の行における第3のフォトセンサ及び前記第2の行における第4のフォトセンサに印加された光に応じて電荷を発生させるステップ;
第2の共通転送信号を印加して第3及び第4の転送トランジスタゲートを起動し、前記第3の転送トランジスタゲートが、前記第3のフォトセンサによって発生した電荷を前記第1の蓄積ノードへと転送し、且つ、前記第4の転送トランジスタゲートが、前記第4のフォトセンサによって発生した電荷を前記第2の蓄積ノードへと転送するステップ;
前記第1及び第2の蓄積ノードへ夫々転送される電荷の量を表す第3及び第4の信号を発生するステップ;及び
夫々の行選択信号の制御下において前記列ライン上へ前記第3及び第4の信号を出力するステップ
を更に備える、請求項45に記載の方法。 - 前記第3及び第4のフォトセンサは、列隣接するフォトセンサである、請求項46に記載の方法。
- 前記第1及び第3のフォトセンサは、行隣接するフォトセンサであり、また、前記第2及び第4のフォトセンサは、行隣接するフォトセンサである、請求項47に記載の方法。
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