JP2008536181A - 発光デバイス・ディスプレイ内の非一様性を補償するための方法およびシステム - Google Patents

Abstract

発光デバイス・ディスプレイ内の非一様性を補償するための方法およびシステムが提供されている。このシステムは、ピクセル回路の部分の測定に基づいてそのピクセル回路全体の劣化を評価するためのモジュールを含む。この評価を基礎として補正係数が生成されて、ディスプレイの非一様性が補正される。

Description

本発明は、ディスプレイ・テクノロジに関し、より詳細には、発光デバイス・ディスプレイ内の非一様性を補償するための方法およびシステムに関する。

アクティブ−マトリクス有機発光ダイオード（ＡＭＯＬＥＤ）ディスプレイは、この分野で周知である。たとえば、アモルファス・シリコンは、それが低コストであること、およびＴＦＴ−ＬＣＤ製造からの莫大な設置済みインフラストラクチャに起因してＡＭＯＬＥＤディスプレイのための有望な材料の１つである。

すべてのＡＭＯＬＥＤディスプレイは、使用されているバックプレイン・テクノロジによらず、主に処理または組み立ての不同の結果として、または経時的な動作上の使用によって生じた老化から輝度における差をピクセル対ピクセル・ベースで呈する。ディスプレイ内における輝度の非一様性は、ＯＬＥＤ材料自体の化学的性質およびパフォーマンスにおける本来的な差からも生じる。これらの非一様性は、ディスプレイ装置が大量販売用途のためのパフォーマンスの商業的に許容可能なレベルを達成するために、ＡＭＯＬＥＤディスプレイ・エレクトロニクスによって管理されなければならない。

図１は、従来的なＡＭＯＬＥＤディスプレイ１０の動作フローを図解している。図１を参照すると、ビデオ・ソース１２が各ピクセルのための輝度データを含み、その輝度データをディジタル・データ１４の形式でディジタル・データ・プロセッサ１６に送る。ディジタル・データ・プロセッサ１６は、解像度のスケーリングまたはディスプレイの色の変更等といったいくつかのデータ操作機能を実行することができる。ディジタル・データ・プロセッサ１６は、ディジタル・データ１８をデータ・ドライバＩＣ２０に送る。データ・ドライバＩＣ２０は、ディジタル・データ１８をアナログ電圧または電流２２に変換し、それがピクセル回路２４内の薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）２６に送られる。ＴＦＴ２６は、電圧または電流２２を別の電流２８に変換し、それが有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）３０を通って流れる。ＯＬＥＤ３０は、電流２８を可視光３６に変換する。ＯＬＥＤ３０はＯＬＥＤ電圧３２を有し、これはＯＬＥＤにわたる電圧降下である。ＯＬＥＤ３０はまた効率３４を有するが、これは放出される光の量とＯＬＥＤを通る電流の比である。

ディジタル・データ１４、アナログ電圧／電流２２、電流２８、および可視光３６は、すべてまったく同一の情報（すなわち、輝度データ）を有する。それらは、単に、ビデオ・ソース１２から到来する初期輝度データの異なるフォーマットに過ぎない。システムの望ましい動作は、ビデオ・ソース１２から与えられた輝度データの値が、結果として可視光３６の同一の値を常にもたらすことである。

しかしながらいくつかの劣化要因が存在し、それらは、可視光３６にエラーを生じさせ得る。連続的な使用に伴い、ＴＦＴ２６は、データ・ドライバＩＣ２０からの同一入力に対して、より低い電流２８を出力するようになる。連続的な使用に伴い、ＯＬＥＤ３０は、同一の入力電流に対して、より大きなＯＬＥＤ電圧３２を消費するようになる。ＴＦＴ２６が完全な電流源でないことから、これが入力電流２８を実際にわずかに下げることになる。また連続的な使用に伴い、ＯＬＥＤ３０が効率３４を失い、同一の入力電流に対してより少ない可視光を放出するようになる。

これらの劣化要因に起因して、ビデオ・ソース１２から同一の輝度データが送られている場合であってさえも経時的に可視光３６がより少なくなる。ディスプレイの使用に応じて、異なるピクセルが異なる量の劣化を有することもあり得る。

したがって、ビデオ・ソース１２内の輝度データによって指定されたとおりのいくつかのピクセルに要求される明度と、それらのピクセルの実際の明度の間には、増え続ける誤差が存在することになる。結果として所望のイメージがディスプレイ上に適正に示されなくなる。

これらの問題を補償するための１つの方法は、フィードバック・ループの使用である。図２は、フィードバック・ループを含む従来的なＡＭＯＬＥＤディスプレイ４０の動作フローを図解している。図２を参照すると、光検出器４２が採用されて可視光３６の直接測定が行われている。可視光３６は、この光検出器４２によって測定信号４４に変換される。測定された可視光信号４４を信号変換器４６がフィードバック信号４８に変換する。信号変換器４６は、アナログ・ディジタル・コンバータ、ディジタル・アナログ・コンバータ、マイクロコントローラ、トランジスタ、またはそのほかの回路またはデバイスとすることができる。フィードバック信号４８は、輝度データを、既存のコンポーネント（たとえば、１２、１６、２０、２６、３０）、コンポーネント間の信号ライン（たとえば、１４、１８、２２、２８、３６）、またはそれらの組み合わせ等の、その経路に沿ったいずれかのポイントにおいて修正するために使用される。

信号変換器４６からのフィードバック信号４８に基づく輝度データの修正を可能にするためには、既存のコンポーネントおよび／または追加の回路に対するいくつかの修正が必要とされることになろう。可視光３６がビデオ・ソース１２からの所望の輝度より低い場合には、輝度信号を増加してＴＦＴ２６またはＯＬＥＤ３０の劣化を補償することができる。これは、劣化に関係なく可視光３６を一定にすることになる。この補償スキームは、しばしば光学的フィードバック（ＯＦＢ）として知られる。しかしながら図２のシステムにおいては、光検出器４２がディスプレイ上に、通常は各ピクセル内に組み込まれ、かつそのピクセル回路に結合されなければならない。各ピクセル内に光検出器を組み込むときに避けられない歩留まりの問題を考慮しなければ、それ自体が劣化しない光検出器を有することが望ましいが、その種の光検出器は実装がコスト高であり、現在の設置済みのＴＦＴ−ＬＣＤ製造インフラストラクチャとの互換性がない。

したがって、光信号を測定することなく、ディスプレイ内の非一様性を補償することができる方法およびシステムを提供する必要性が存在する。

本発明は、既存のシステムの欠点の少なくとも１つを未然に防ぐか、または緩和する方法およびシステムを提供することを目的とする。

本発明の態様によれば、複数のピクセルおよび各ピクセル回路に対してピクセル・データを提供するためのソースを含む発光デバイス・ディスプレイ内の非一様性を補償するためのシステムが提供され、当該システムは、１または１を超える数のピクセル回路に印加されるピクセル・データを修正するためのモジュールを含み、当該モジュールが、第１のピクセル回路の劣化を、その第１のピクセル回路の部分から読み取った測定データに基づいて評価するための評価モジュールと、第１のピクセル回路の劣化の評価に基づいてその第１または第２のピクセル回路に印加されるピクセル・データを補正するための補償モジュールを含む。

本発明の別の態様によれば、複数のピクセルを有する発光デバイス・ディスプレイ内の非一様性を補償する方法が提供され、当該方法は、第１のピクセル回路の劣化を、その第１のピクセル回路の部分から読み取った測定データに基づいて評価するステップと、第１のピクセル回路の劣化の評価に基づいてその第１または第２のピクセル回路に印加されるピクセル・データを補正するステップと、を含む。

この本発明の要約は、必ずしも本発明のすべての特徴を記述していない。

本発明のこれらの、およびこのほかの特徴は、添付の図面を参照した以下の説明からより明らかなものとなるであろう。

本発明の実施態様は、ＴＦＴおよびＯＬＥＤを有するピクセル回路を含むＡＭＯＬＥＤディスプレイを用いて説明する。しかしながら、ピクセル回路内のトランジスタは、アモルファス・シリコン、ナノ／マイクロ結晶質シリコン、ポリシリコン、有機半導体テクノロジ（たとえば有機ＴＦＴ）、ＮＭＯＳテクノロジ、ＣＭＯＳテクノロジ（たとえばＭＯＳＦＥＴ）、またはそれらの組み合わせを使用して作ることができる。トランジスタは、ｐ型トランジスタまたはｎ型トランジスタとすることができる。ピクセル回路は、ＯＬＥＤ以外の発光デバイスを含むことがある。以下の説明において「ピクセル」および「ピクセル回路」は、相互交換可能に使用されることがある。

図３は、本発明の実施態様に従った補償スキームが適用される発光ディスプレイ・システム１００の動作を図解している。ビデオ・ソース１０２は、各ピクセルのための輝度データを含み、それらの輝度データをディジタル・データ１０４の形式でディジタル・データ・プロセッサ１０６に送る。ディジタル・データ・プロセッサ１０６は、解像度のスケーリングまたはディスプレイの色の変更等といったいくつかのデータ操作機能を実行することができる。ディジタル・データ・プロセッサ１０６は、ディジタル・データ１０８をデータ・ドライバＩＣ１１０に送る。データ・ドライバＩＣ１１０は、ディジタル・データ１０８をアナログ電圧または電流１１２に変換する。このアナログ電圧または電流１１２は、ピクセル回路１１４に印加される。ピクセル回路１１４は、ＴＦＴおよびＯＬＥＤを含む。ピクセル回路１１４は、アナログ電圧または電流１１２に基づいて可視光１２６を出力する。

図３においては、１つのピクセル回路が例として示されている。しかしながら発光ディスプレイ・システム１００は、複数のピクセル回路を含んでいる。ビデオ・ソース１０２は、図１および２のビデオ・ソース１２に類似とすることができる。データ・ドライバＩＣ１１０は、図１および２のデータ・ドライバＩＣ２０に類似とすることができる。

このディスプレイには、補償機能モジュール１３０が備えられている。補償機能モジュール１３０は、ピクセル回路１１４からの測定１３２（劣化データ、測定劣化データ、測定ＴＦＴ劣化データ、または測定ＴＦＴおよびＯＬＥＤ劣化データと呼ぶ）に関するアルゴリズム（ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズムと呼ぶ）を実装し、計算されたピクセル回路劣化データ１３６を出力するためのモジュール１３４を含む。ここで注意を要するが、以下の説明において「ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール」および「ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム」は、相互交換可能に使用されることがある。

劣化データ１３２は、ピクセル回路１１４の部品がどの程度劣化したかを表す電気的なデータである。ピクセル回路１１４から測定されたデータは、たとえばピクセル回路１１４の部品の１つまたは複数の特性を表す。

劣化データ１３２は、１つまたは複数の薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）、有機発光デバイス（ＯＬＥＤ）、またはそれらの組み合わせから測定される。ここで注意が必要であるが、ピクセル回路１１４のトランジスタがＴＦＴに限定されることはなく、ピクセル回路１４の発光デバイスがＯＬＥＤに限定されることもない。測定劣化データ１３２は、ディジタルまたはアナログ・データとすることができる。システム１００は、ピクセル回路の部品（たとえばＴＦＴ）からの測定に基づいてディスプレイ内の非一様性を補償する補償データを提供する。非一様性は、明度の非一様性、色の非一様性、またはそれらの組み合わせを含むことができる。その種の非一様性を生じる要因は、限定ではないが、ディスプレイ内における処理または組み立ての不同、ピクセル回路の老化等を含むことができる。

劣化データ１３２は、規則的なタイミングまたは動的に調整されたタイミングにおいて測定できる。計算されたピクセル回路劣化データ１３６は、ディスプレイ内の非一様性を補正する補償データとすることができる。計算されたピクセル回路劣化データ１３６は、その補償データを生成する任意のパラメータを含むことができる。補償データは、規則的なタイミング（たとえば、各フレーム、規則的な間隔等）または動的に調整されたタイミングにおいて使用することができる。測定データ、補償データ、またはそれらの組み合わせは、メモリ（たとえば図８の１４２）内にストアすることができる。

ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４またはＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４とディジタル・データ・プロセッサ１０６の組み合わせは、測定劣化データ１３２に基づいてピクセル回路全体の劣化を評価する。この評価を基礎としてピクセル回路１１４全体が、ディジタル・データ・プロセッサ１０６において特定のピクセル回路（１つまたは複数）に印加される輝度データ（ディジタル・データ１０４）を調整することによって補償される。

システム１００は、劣化したピクセル回路または劣化していないピクセル回路に印加される輝度データ１０４を修正するか、または調整することができる。たとえば、一定の可視光１２６の値が望まれている場合には、ディジタル・データ・プロセッサ１０６が、高度に劣化しているピクセルについて輝度データを増加し、それによってその劣化を補償する。

図３においては、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４がディジタル・データ・プロセッサ１０６と別々に提供されている。しかしながら、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４がディジタル・データ・プロセッサ１０６内に組み込まれることもある。

図４は、図３のシステム１００の例を図解している。図４のピクセル回路１１４は、ＴＦＴ１１６およびＯＬＥＤ１２０を含む。アナログ電圧または電流１１２は、ＴＦＴ１１６に提供される。ＴＦＴ１１６は、その電圧または電流１１２を別の電流１１８に変換し、それがＯＬＥＤ１２０を通って流れる。ＯＬＥＤ１２０は、電流１１８を可視光１２６に変換する。ＯＬＥＤ１２０は、ＯＬＥＤ電圧１２２を有し、これはＯＬＥＤにわたる電圧降下である。またＯＬＥＤ１２０は効率１２４を有するが、これは放出される光の量とＯＬＥＤ１２０を通る電流の比である。

図４のシステム１００は、ＴＦＴの劣化だけを測定する。ＴＦＴ１１６およびＯＬＥＤ１２０の劣化は使用依存であり、ＴＦＴ１１６およびＯＬＥＤ１２０は、ピクセル回路１１４内において必ずリンクされている。ＴＦＴ１１６が応力を受けるときには、ＯＬＥＤ１２０もまた応力を受ける。したがって、ＴＦＴ１１６の劣化と全体としてのピクセル回路１１４の劣化の間には予測可能な関係が存在する。ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４またはＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４とディジタル・データ・プロセッサ１０６の組み合わせは、ＴＦＴの劣化だけを基礎として全体のピクセル回路の劣化を評価する。本発明の実施態様は、ＴＦＴおよびＯＬＥＤ両方の劣化を独立に監視するシステムに適用することもできる。

ピクセル回路１１４は、測定可能なコンポーネントを有する。ピクセル回路１１４から得られる測定は、何らかの方法でピクセル回路の劣化と関連付けされる。

図５は、図４のピクセル回路１１４の例を図解している。図５のピクセル回路１１４は、４−Ｔピクセル回路である。このピクセル回路１１４Ａは、ＴＦＴ１５０および１５２を有するスイッチング回路、基準ＴＦＴ１５４、駆動ＴＦＴ１５６、キャパシタ１５８、およびＯＬＥＤ１６０を含む。

スイッチＴＦＴ１５０のゲートおよびフィードバックＴＦＴ１５２のゲートは、選択ラインＶｓｅｌに接続されている。スイッチＴＦＴ１５０の第１の端子およびフィードバックＴＦＴ１５２の第１の端子は、データ・ラインＩｄａｔａに接続されている。スイッチＴＦＴ１５０の第２の端子は基準ＴＦＴ１５４のゲートおよび駆動ＴＦＴ１５６のゲートに接続されている。フィードバックＴＦＴ１５２の第２の端子は、基準ＴＦＴ１５４の第１の端子に接続されている。キャパシタ１５８は、駆動ＴＦＴ１５６のゲートとグラウンドの間に接続されている。ＯＬＥＤ１６０は、電源Ｖｄｄと駆動ＴＦＴ１５６の間に接続されている。別のシステム（すなわち、ドレイン接続フォーマット）においては、ＯＬＥＤ１６０が駆動ＴＦＴ１５６とグラウンドの間に接続されることもある。

ピクセル回路１１４Ａのプログラミング時は、Ｖｓｅｌがハイになり、電圧または電流がデータ・ラインＩｄａｔａに印加される。データＩｄａｔａは、最初にＴＦＴ１５０を通って流れ、キャパシタ１５８を充電する。このキャパシタの電圧が上昇するに従ってＴＦＴ１５４がオンに変化し始め、ＩｄａｔａがＴＦＴ１５２および１５４を通ってグラウンドに流れ始める。キャパシタ電圧は、すべてのＩｄａｔａがＴＦＴ１５２および１５４を通って流れる時点において安定する。ＴＦＴ１５４を通って流れる電流は、駆動ＴＦＴ１５６内にミラーリングされる。

ピクセル回路１１４Ａ内においては、Ｖｓｅｌをハイに設定し、Ｉｄａｔａ上に電圧を乗せることによってＩｄａｔａノード内に流れ込む電流が測定できる。それに代えて、Ｖｓｅｌをハイに設定し、Ｉｄａｔａ上に電流を乗せることによってＩｄａｔａノードの電圧を測定できる。ＴＦＴの劣化に従って測定される電圧（または電流）が変化し、劣化の測定を記録することが可能になる。このピクセル回路においては、図４に示されているアナログ電圧／電流１１２が、Ｉｄａｔａノードに接続される。この電圧または電流の測定は、データ・ドライバＩＣ１１０とＴＦＴ１１６の間の接続に沿った任意の場所で行うことができる。

図４においては、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズムがＴＦＴ１１６からの測定１３２に適用される。しかしながら、ＴＦＴ１１６以外の多様な場所から読み取られる電流／電圧情報が有用となることもある。たとえば、ＯＬＥＤ電圧１２２を測定ＴＦＴ劣化データ１３２とともに含めてもよい。

図６は、図３のシステム１００の別の例を図解している。図６のシステム１００は、ＯＬＥＤ電圧１２２を測定する。したがって、測定データ１３２は、ＴＦＴ１１６およびＯＬＥＤ１２０の劣化に関連させられる（図６の「測定ＴＦＴおよびＯＬＥＤ電圧劣化データ１３２Ａ」）。図６の補償機能モジュール１３０は、ＴＦＴの劣化およびＯＬＥＤの劣化両方に関係する信号に対するＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム１３４を実装する。ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４またはＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４とディジタル・データ・プロセッサ１０６の組み合わせは、ＴＦＴの劣化およびＯＬＥＤの劣化に基づいてピクセル回路全体の劣化を評価する。ＴＦＴの劣化およびＯＬＥＤの劣化は、別々に、かつ独立に測定されてもよい。

図７は、図６のピクセル回路１１４の例を図解している。図７のピクセル回路１１４Ｂは、４−Ｔピクセル回路である。このピクセル回路１１４Ｂは、ＴＦＴ１７０および１７２を有するスイッチング回路、基準ＴＦＴ１７４、駆動ＴＦＴ１７６、キャパシタ１７８、およびＯＬＥＤ１８０を含む。

スイッチＴＦＴ１７０のゲートおよびスイッチＴＦＴ１７２のゲートは、選択ラインＶｓｅｌに接続されている。スイッチＴＦＴ１７２の第１の端子はデータ・ラインＩｄａｔａに接続されているが、スイッチＴＦＴ１７０の第１の端子は、基準ＴＦＴ１７４のゲートおよび駆動ＴＦＴ１７６のゲートに接続されたスイッチＴＦＴ１７２の第２の端子に接続されている。スイッチＴＦＴ１７０の第２の端子は、基準ＴＦＴ１７４の第１の端子に接続されている。キャパシタ１７８は、駆動ＴＦＴ１７６のゲートとグラウンドの間に接続されている。駆動ＴＦＴ１７６の第１の端子は、電源Ｖｄｄに接続されている。基準ＴＦＴ１７４の第２の端子および駆動ＴＦＴ１７６の第２の端子は、ＯＬＥＤ１８０に接続されている。

ピクセル回路１１４Ｂのプログラミング時は、Ｖｓｅｌがハイになり、電圧または電流がデータ・ラインＩｄａｔａに印加される。データＩｄａｔａは、最初にＴＦＴ１７２を通って流れ、キャパシタ１７８を充電する。このキャパシタの電圧が上昇するに従ってＴＦＴ１７４がオンに変化し始め、ＩｄａｔａがＴＦＴ１７０および１７４およびＯＬＥＤ１８０を通ってグラウンドに流れ始める。キャパシタ電圧は、すべてのＩｄａｔａがＴＦＴ１７２および１７４を通って流れる時点において安定する。ＴＦＴ１７４を通って流れる電流は、駆動ＴＦＴ１７６内にミラーリングされる。ピクセル回路１１４Ｂ内においては、Ｖｓｅｌをハイに設定し、Ｉｄａｔａ上に電圧を乗せることによってＩｄａｔａノード内に流れ込む電流が測定できる。それに代えて、Ｖｓｅｌをハイに設定し、Ｉｄａｔａ上に電流を乗せることによってＩｄａｔａノードの電圧を測定できる。ＴＦＴの劣化に従って測定される電圧（または電流）が変化し、劣化の測定を記録することが可能になる。図５のピクセル回路１１４Ａとは異なり、この場合にはこの電流がＯＬＥＤ１８０を通って流れることに注意を要する。したがって、Ｉｄａｔａノードにおいて行われる測定が、この場合は特に、経時的に劣化することになるＯＬＥＤ電圧に関係する。ピクセル回路１１４Ｂにおいては、図６に示されているアナログ電圧／電流１１２がＩｄａｔａノードに接続される。この電圧または電流の測定は、データ・ドライバＩＣ１１０とＴＦＴ１１６の間の接続に沿った任意の場所で行うことができる。

図３、４、および６を参照すると、ピクセル回路１１４は、ＴＦＴ１１６から出る電流を測定すること、および測定ＴＦＴ劣化データ１３２として使用することを可能にできる。ピクセル回路１１４は、ＯＬＥＤの効率の部分が測定されること、および測定ＴＦＴ劣化データ１３２として使用されることを可能にできる。ピクセル回路１１４は、また、ノードが充電されること、および測定を、このノードが放電に要する時間とすることを可能にできる。ピクセル回路１１４は、その任意の部分が電気的に測定されることを可能にできる。さらに、所定時間の間の放電／充電レベルを老化検出のために使用することも可能である。

図８を参照し、図４のシステムに適用される補償スキームのためのモジュールの例を説明する。図８の補償機能モジュール１３０は、アナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ１４０を含む。Ａ／Ｄコンバータ１４０は、測定ＴＦＴ劣化データ１３２をディジタル測定ＴＦＴ劣化データ１３２Ｂに変換する。ディジタル測定ＴＦＴ劣化データ１３２Ｂは、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４において、計算されたピクセル回路劣化データ１３６に変換される。計算されたピクセル回路劣化データ１３６は、ルックアップ・テーブル１４２内にストアされる。いくつものピクセル回路からの測定ＴＦＴ劣化データが時間を要することがあるため、計算されたピクセル回路劣化データ１３６が、使用のためにルックアップ・テーブル１４２内にストアされる。

図８においては、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム１３４が、ディジタル・アルゴリズムである。ディジタルＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム１３４は、たとえば、マイクロプロセッサ、ＦＰＧＡ、ＤＳＰ、またはそのほかのデバイス上に実装することができるが、それらの例に限定されることはない。ルックアップ・テーブル１４２は、ＳＲＡＭまたはＤＲＡＭ等のメモリを使用して実装することができる。このメモリは、マイクロプロセッサまたはＦＰＧＡといったほかのデバイス内のメモリとしてもよく、または独立したデバイスとしてもよい。

ルックアップ・テーブル１４２内にストアされた、計算されたピクセル回路劣化データ１３６は、常時、ディジタル・データ・プロセッサ１０６に利用可能である。したがって、ディジタル・データ・プロセッサ１０６がデータの使用を必要とする都度、各ピクセルのＴＦＴ劣化データ１３２が測定されなければならないということはない。劣化データ１３２は、頻繁でなく（たとえば、毎２０時間またはそれより少ない頻度で）測定されるとすることができる。劣化測定のための動的な時間割り付けの使用は別のケースであり、最初は抽出がより頻繁に、老化が飽和した後は抽出があまり頻繁でなくなる。

ディジタル・データ・プロセッサ１０６は、ビデオ・ソース１０２からピクセル回路１１４のための入力輝度データを取り込み、それを、そのピクセル回路または別のピクセル回路についての劣化データを基礎として修正するための補償モジュール１４４を含むことができる。図８において、モジュール１４４は、ルックアップ・テーブル１４２からの情報を使用して輝度データを修正する。

ここで注意を要するが、図８の構成は、図３および６のシステムに適用可能である。ルックアップ・テーブル１４２が補償機能モジュール１３０と別々に提供されているが、それを補償機能モジュール１３０内に提供できることに注意を要する。またルックアップ・テーブル１４２がディジタル・データ・プロセッサ１０６と別々に提供されているが、それをディジタル・データ・プロセッサ１０６内に提供できることにも注意を要する。

ルックアップ・テーブル１４２およびディジタル・データ・プロセッサ１０６のモジュール１４４の１つの例を図９に示す。図９を参照すると、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４の出力は整数値である。この整数が、ルックアップ・テーブル１４２Ａ（図８の１４２に対応する）内にストアされる。ルックアップ・テーブル１４２Ａ内のロケーションは、ＡＭＯＬＥＤディスプレイ上のピクセルのロケーションに関連させられる。その値は数であり、ディジタル輝度データ１０４に加算されて劣化が補償される。

たとえば、ピクセルの明度について、８ビット（２５６個の値）を使用してディジタル輝度データを表すことができる。２５６の値は、そのピクセルの最大輝度を表すことができる。１２８の値は、約５０％の輝度を表すことができる。ルックアップ・テーブル１４２Ａ内の値は、劣化を補償するために輝度データ１０４に加算される数とすることができる。したがって、ディジタル・データ・プロセッサ１０６内の補償モジュール（図７の１４４）を、ディジタル加算器１４４Ａによって実装することができる。ここで注意を要するが、ディジタル輝度データは、使用されるドライバＩＣに応じて（たとえば、６ビット、８ビット、１０ビット、１４ビット等）任意数のビットによって表すことができる。

図３、４、６、８、および９においては、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４が、測定ＴＦＴ劣化データ１３２または１３２Ａを入力として有し、計算されたピクセル回路劣化データ１３６を出力として有する。しかしながら、図１０に示されるとおり、同様に補償データを計算するためのシステムに対するこのほかの入力も存在する。図１０は、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４に対する入力の例を図解している。図１０において、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４は、追加入力１９０（たとえば、温度、ほかの電圧等）、経験的な定数１９２、またはそれらの組み合わせを基礎として測定されたデータ（図３、４、８、および９の１３２、図６の１３２Ａ、図８および９の１３２Ｂ）を処理する。

追加入力１９０は、電流プログラミング・ピクセルからの電圧の読み、および電圧プログラミング・ピクセルからの電流の読みなどの測定パラメータを含むことができる。これらのピクセルは、測定信号が獲得されるピクセル回路と異なってもよい。たとえば、測定が「テスト中のピクセル」から得られ、「基準ピクセル」からのほかの測定とともに使用される。以下において説明するとおり、ピクセルに対する輝度データを修正する方法を決定するために、ディスプレイ内のほかのピクセルからのデータを使用できる。追加入力１９０は、室内の周囲光の測定等の光の測定を含むことができる。パネル周辺の離散的デバイスまたは何らかの種類のテスト構造を、この周囲光の測定に使用できる。追加入力は、湿度測定、温度の読み、機械的応力の読み、そのほかの環境応力の読み、およびパネル上のテスト構造からのフィードバックを含むことができる。

また、効率の低下に起因するＯＬＥＤ内の明度の損失（ΔＬ）、ＯＬＥＤ電圧における経時的なシフト（ΔＶｏｌｅｄ）、Ｖｔのシフトの動的な効果、ＴＦＴパフォーマンスに関するパラメータ、たとえばＶｔ、ΔＶｔ、モビリティ（μ）、ピクセル間の非一様性、ピクセル回路内のＤＣバイアス電圧、電流ミラー・ベースのピクセル回路の利得変化、ピクセル回路パフォーマンスの短期および長期ベースのシフト、ＩＲ降下およびグラウンド・バウンスに起因するピクセル回路の動作電圧の変動といった経験的なパラメータ１９２を含むこともできる。

図８および９を参照すると、モジュール１３４内のＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズムおよびディジタル・データ・プロセッサ１０６内の補償アルゴリズム１４４が協働して測定ＴＦＴ劣化データ１３２を輝度補正ファクタに変換している。この輝度補正ファクタは、所定のピクセルのための輝度データがどのように修正されてピクセル内の劣化を補償するかについての情報を有する。

図９においては、この変換のほとんどがＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４において行われる。これが輝度補正値を完全に計算し、ディジタル・データ・プロセッサ１０６内のディジタル加算器１４４Ａは、単純にこの輝度補正値をディジタル輝度データ１０４に加算する。しかしながら、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール１３４が劣化値だけを計算し、ディジタル・データ・プロセッサ１０６がそのデータから輝度補正ファクタを計算するようにシステム１００を実装してもよい。ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム１３４は、劣化データを輝度補正ファクタに変換するファジィ・ロジック、ニューラル・ネットワーク、またはそのほかのアルゴリズム構造を採用することもできる。

輝度補正ファクタの値は、ピクセル回路内における劣化とは無関係に可視光を一定にとどめることを可能にできる。輝度補正ファクタの値は、劣化したピクセルの輝度がまったく変更せず、それに代えて劣化していないピクセルの輝度を下げることを可能にできる。この場合には、ディスプレイ全体が経時的に緩やかに輝度を失うが、一様性を高くできる。

輝度補正ファクタの計算は、一定明度アルゴリズム、減少明度アルゴリズム、またはそれらの組み合わせ等の非一様性の補償アルゴリズムに従って実装できる。一定明度アルゴリズムおよび減少明度アルゴリズムは、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール（図３の１３４）またはディジタル・データ・プロセッサ（図３の１０６）上において実装できる。一定明度アルゴリズムは、非劣化ピクセルと整合するように劣化ピクセルの明度を増加するために提供される。減少明度アルゴリズムは、劣化ピクセルと整合するように非劣化ピクセル２４４の明度を下げるために提供される。これらのアルゴリズムは、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール、ディジタル・データ・プロセッサ（図８の１４４等）、またはそれらの組み合わせによって実装できる。ここで注意を要するが、これらのアルゴリズムは、例示に過ぎず、非一様性の補償アルゴリズムは、これらのアルゴリズムに限定されない。

図１１Ａ〜１１Ｅを参照すると、非一様性の補償アルゴリズムの実験的な結果が詳細に記述されている。この実験の下においては、ＡＭＯＬＥＤディスプレイが複数のピクセル回路を含み、図３、４、６、８、および９に示されているとおりのシステムによって駆動される。ここで注意を要するが、図１１Ａ〜１１Ｅには、ＡＭＯＬＥＤディスプレイを駆動する回路が示されていない。

図１１Ａは、動作開始時（動作期間ｔ＝０時間）のＡＭＯＬＥＤディスプレイ２４０を略図的に図解している。ビデオ・ソース（図３、４、７、８、および９の１０２）は、当初、各ピクセルに対して最大輝度データを出力する。ディスプレイ２４０が新しいことから、劣化しているピクセルはない。結果は、すべてのピクセルが等しい輝度を出力し、したがってすべてのピクセルが一様な輝度を示す。

次に、図１１Ｂに示されるとおり、ビデオ・ソースが、ディスプレイの中央のいくつかのピクセルに対して最大輝度データを出力する。図１１Ｂは、特定の期間にわたって動作されたＡＭＯＬＥＤディスプレイ２４０を略図的に図解しており、それにおいてはディスプレイの中央のピクセルに対して最大輝度データが印加される。ビデオ・ソースは、ピクセル２４２に対して最大輝度データを出力するが、ピクセル２４２の外側周囲のピクセル２４４に対しては最小輝度データ（たとえば、ゼロ輝度データ）を出力する。これが長い時間期間にわたって、たとえば１０００時間にわたって維持される。結果は、最大輝度のピクセル２４２が劣化することになり、ゼロ輝度のピクセル２４４はまったく劣化しないことになる。

１０００時間目に、ビデオ・ソースが、すべてのピクセルに対して最大輝度データを出力する。この結果は、図１１Ｃ〜１１Ｅに示されているとおり、使用される補償アルゴリズムに応じて異なる。

図１１Ｃは、補償アルゴリズムがまったく適用されないＡＭＯＬＥＤディスプレイ２４０を略図的に図解している。図１１Ｃに示されているとおり、補償アルゴリズムがまったくなかった場合には、劣化ピクセル２４２が、非劣化ピクセル２４４より低い明度を有することになる。

図１１Ｄは、一定明度アルゴリズムが適用されているＡＭＯＬＥＤディスプレイ２４０を略図的に図解している。一定明度アルゴリズムは、劣化ピクセルの輝度データが非劣化ピクセルのそれと整合するように、劣化ピクセルに対する輝度データを増加するために実装される。たとえば、増加明度アルゴリズムは、応力を受けたピクセル２４２に対して増加する電流を提供し、応力を受けていないピクセル２４４に対しては一定の電流を提供する。劣化ピクセルおよび非劣化ピクセルは、いずれも同一の明度を有する。したがって、ディスプレイ２４０は一様である。異なる老化が補償され、明度が維持されるが、より多くの電流が必要になる。いくつかのピクセルに対する電流が増加されていることから、これは、経時的により多くの電流をディスプレイに消費させることになり、したがって、電力消費は電流消費に関係するため経時的により多くの電力を消費させることになる。

図１１Ｅは、減少明度アルゴリズムが適用されているＡＭＯＬＥＤディスプレイ２４０を略図的に図解している。減少明度アルゴリズムは、非劣化ピクセルの輝度データが劣化ピクセルのそれと整合するように、非劣化ピクセルに対する輝度データを減少する。たとえば、減少明度アルゴリズムは、応力を受けたピクセル２４２に対して一定のＯＬＥＤ電流を提供するが、応力を受けていないピクセル２４４に対しては減少する電流を提供する。劣化ピクセルおよび非劣化ピクセルは、いずれも同一の明度を有する。したがって、ディスプレイ２４０は一様である。異なる老化が補償され、必要なＶｓｕｐｐｌｙがより低くなるが、経時的に明度が減少する。このアルゴリズムは、いずれのピクセルに対する電流も増加しないことから、結果として電力消費の増加をもたらさない。

図３を参照すると、ビデオ・ソース１０２およびデータ・ドライバＩＣ１１０等のコンポーネントは、８ビット、または２５６の離散的な輝度値しか使用できない。したがって、ビデオ・ソース１０２が最大明度（２５５の輝度値）を出力する場合、ピクセルがすでにシステム内のコンポーネントによってサポートされている最大明度にあることから、追加の輝度を追加する方法が存在しない。同様にビデオ・ソース１０２が最小明度（０の輝度値）を出力する場合、輝度を減ずる方法が存在しない。ディジタル・データ・プロセッサ１０６は、いくつかのグレイスケールを予約するべくグレイスケール圧縮アルゴリズムを実装できる。図１２は、グレイスケール圧縮アルゴリズム・モジュール２５０を含むディジタル・データ・プロセッサ１０６の実装を図解している。グレイスケール圧縮アルゴリズム２５０は、２５６の輝度値によって表現されるビデオ信号を取り込み、より少ない輝度値を使用するべくそれを変換する。たとえば、グレイスケールのゼロによって表される最小明度に代えて、最小明度を、グレイスケールの５０によって表すことができる。グレイスケールの２００によって表される最大明度の代わりの場合も同様に表わすことができる。この方法においては、いくらかのグレイスケールが、将来の増加または減少のために予約される。ここで注意が必要であるが、このグレイスケール内のシフトは、グレイスケール内に実際に期待されるシフトを反映していない。

本発明の実施態様によれば、ピクセル回路全体の劣化の評価（予測）および輝度補正ファクタのスキームが、ディスプレイ内の一様性を保証する。本発明の実施態様によれば、いくつかのコンポーネントまたは回路全体の老化を補償し、それによってディスプレイの一様性を保証することが可能である。

本発明の実施態様によれば、ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズムが、たとえばパネル全体にわたる経時的な一定明度の一様性および色の一様性を含む改善されたディスプレイ・パラメータを与える。ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズムが追加のパラメータ、たとえば温度および周囲光をとることから、それらの追加のパラメータに起因するディスプレイ内の任意の変化が補償できる。

ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール（図３、４、６、８、および９の１３４）、補償モジュール（図８の１４４、図９の１４４Ａ、非一様性の補償アルゴリズム、一定明度アルゴリズム、減少明度アルゴリズム、およびグレイスケール圧縮アルゴリズムは、上記の機能を有する任意のハードウエア、ソフトウエア、またはハードウエアとソフトウエアの組み合わせによって実装できる。ソフトウエア・コード、インストラクション、および／またはステートメントは、その全体またはその一部をコンピュータ可読メモリ内にストアできる。さらにソフトウエア・コード、インストラクション、および／またはステートメントを表す、搬送波に埋め込むことができるコンピュータ・データ信号を、通信ネットワークを介して送信することもできる。ハードウエア、ソフトウエア、およびそれらの組み合わせをはじめ、その種のコンピュータ可読メモリ、およびコンピュータ・データ信号および／またはその搬送波もまた本発明の範囲内である。

以上、１つまたは複数の実施態様に関して説明してきた。しかしながら、特許請求の範囲内に定義されるとおりの本発明の範囲から逸脱することなしに多くの変形および修正が可能であることが当業者には明らかとなろう。

従来のＡＭＯＬＥＤシステムを図解した説明図である。 光検出器および光検出器からの信号を使用するフィードバック・スキームを含む従来のＡＭＯＬＥＤシステムを図解した説明図である。 本発明の実施態様に従った補償スキームが適用される発光ディスプレイ・システムを図解した説明図である。 図３の発光ディスプレイ・システムの例を図解した説明図である。 図４のピクセル回路の例を図解した説明図である。 図３の発光ディスプレイ・システムの別の例を図解した説明図である。 図６のピクセル回路の例を図解した説明図である。 図４のシステムに適用される補償スキームのためのモジュールの例を図解した説明図である。 図７の補償アルゴリズム・モジュールおよびルックアップ・テーブルの例を図解した説明図である。 ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュールに対する入力の例を図解した説明図である。 図３のシステムに適用される補償スキームの実験的な結果を図解した説明図である。 グレイスケール圧縮アルゴリズムの例を図解した説明図である。

符号の説明

１０ ＡＭＯＬＥＤディスプレイ、１２ ビデオ・ソース、１４ ディジタル・データ、１６ ディジタル・データ・プロセッサ、１８ ディジタル・データ、２０ データ・ドライバＩＣ、２２ アナログ電圧または電流，電圧または電流，アナログ電圧／電流、２４ ピクセル回路、２６ ＴＦＴ，薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）、２８ 電流、３０ ＯＬＥＤ，有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）、３２ ＯＬＥＤ電圧、３４ 効率、３６ 可視光、４０ ＡＭＯＬＥＤディスプレイ、４２ 光検出器、４４ 測定信号，可視光信号、４６ 信号変換器、４８ フィードバック信号、１００ システム，発光ディスプレイ・システム、１０２ ビデオ・ソース、１０４ ディジタル・データ，輝度データ，ディジタル輝度データ、１０６ ディジタル・データ・プロセッサ、１０８ ディジタル・データ、１１０ データ・ドライバＩＣ、１１２ アナログ電圧または電流，電圧または電流，アナログ電圧／電流、１１４ ピクセル回路、１１４Ａ ピクセル回路、１１４Ｂ ピクセル回路、１１６ ＴＦＴ、１１８ 電流、１２０ ＯＬＥＤ、１２２ ＯＬＥＤ電圧、１２６ 可視光、１３０ 補償機能モジュール、１３２ 測定，劣化データ，測定劣化データ，測定ＴＦＴ劣化データ，測定データ，ＴＦＴ劣化データ、１３２Ａ 測定ＴＦＴおよびＯＬＥＤ劣化データ、１３２Ｂ ディジタル測定ＴＦＴ劣化データ、１３４ モジュール，ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム・モジュール，効率，ＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム，ディジタルＴＦＴ対ピクセル回路変換アルゴリズム、１３６ 計算されたピクセル回路劣化データ、１４０ アナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ，Ａ／Ｄコンバータ、１４２ ルックアップ・テーブル、１４２Ａ ルックアップ・テーブル、１４４ モジュール，補償モジュール，補償アルゴリズム、１４４Ａ ディジタル加算器、１５０ ＴＦＴ，スイッチＴＦＴ、１５２ ＴＦＴ，フィードバックＴＦＴ、１５４ ＴＦＴ，基準ＴＦＴ、１５６ 駆動ＴＦＴ、１５８ キャパシタ、１６０ ＯＬＥＤ、１７０ ＴＦＴ，スイッチＴＦＴ、１７２ ＴＦＴ，スイッチＴＦＴ、１７４ ＴＦＴ，基準ＴＦＴ、１７６ 駆動ＴＦＴ、１７８ キャパシタ、１８０ ＯＬＥＤ、１９０ 追加入力、１９２ 経験的な定数，経験的なパラメータ、２４０ ディスプレイ，ＡＭＯＬＥＤディスプレイ、２４２ ピクセル，劣化ピクセル、２４４ ピクセル，非劣化ピクセル、２５０ グレイスケール圧縮アルゴリズム・モジュール，グレイスケール圧縮アルゴリズム。

Claims (27)

1. 複数のピクセルと、各ピクセル回路に対してピクセル・データを提供するためのソースとを含む発光デバイス・ディスプレイにおける非一様性を補償するためのシステムであって、
   １または１を超える数のピクセル回路に印加される、前記ピクセル・データを修正するためのモジュールを包含し、
   前記モジュールが、
   第１のピクセル回路の劣化を前記第１のピクセル回路の部分から読み取った測定データに基づいて評価するための評価モジュールと、
   前記第１のピクセル回路の劣化の前記評価に基づいて前記第１ピクセル回路または第２のピクセル回路に印加される前記ピクセル・データを補正するための補償モジュールと、
   を含むシステム。
2. 前記修正モジュールは、劣化したピクセル回路に印加される輝度データを、前記劣化したピクセル回路の明度が劣化していないピクセル回路の明度と整合するように増加するための一定明度アルゴリズムを実装する、請求項１に記載のシステム。
3. 前記修正モジュールは、劣化していないピクセル回路に印加される輝度データを、前記劣化していないピクセル回路の明度が劣化しているピクセル回路のそれと整合するように減少するための減少明度アルゴリズムを実装する、請求項１に記載のシステム。
4. 前記評価モジュールおよび前記補償モジュールのうちの少なくとも１つは、前記一定明度アルゴリズムに従って補正ファクタを生成する、請求項１に記載のシステム。
5. 前記評価モジュールおよび前記補償モジュールのうちの少なくとも１つは、減少明度アルゴリズムに従って補正ファクタを生成する、請求項１に記載のシステム。
6. 前記ピクセル回路は、１または１を超える数のトランジスタおよび発光デバイスを含み、前記評価モジュールは、前記１または１を超える数のトランジスタから測定された電気的データに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価する、請求項１〜５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
7. 前記ピクセル回路は、１または１を超える数のトランジスタおよび発光デバイスを含み、前記評価モジュールは、前記１または１を超える数のトランジスタから測定された第１の電気的データ、前記発光デバイスから測定された第２の電気的データ、またはそれらの組み合わせに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価し、前記第２の電気的データは、前記トランジスタからの前記測定と別々に測定される、請求項１〜５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
8. 前記ピクセル回路は、１または１を超える数のトランジスタおよび発光デバイスを含み、前記評価モジュールは、前記第１のピクセル回路から読み取られ、かつ前記１または１を超える数のトランジスタ、前記発光デバイス、またはそれらの組み合わせに関連付けされる電気的データに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価する、請求項１〜５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
9. 前記修正モジュールは、前記測定のタイミング、前記補正のタイミング、またはそれらの組み合わせを動的に割り付ける、請求項１に記載のシステム。
10. 前記修正モジュールは、補償データまたは前記測定をストアするためのメモリを含む、請求項９に記載のシステム。
11. 前記評価モジュールは、１つまたは複数の追加の測定入力、１つまたは複数の経験的パラメータ、またはそれらの組み合わせとともに、第１の回路の部分からの測定データを基礎として前記第１のピクセル回路の劣化を評価する、請求項１に記載のシステム。
12. 前記１つまたは複数の追加の測定入力は、１つまたは複数の電流プログラミング・ピクセルからの電圧の読み、１つまたは複数の電圧プログラミング・ピクセルからの電流の読み、周囲光の測定、湿度測定、温度測定、機械的応力測定、環境応力測定、および前記ディスプレイ上のテスト構造からのフィードバックのうちの少なくとも１つを含む、請求項１１に記載のシステム。
13. 前記１つまたは複数の経験的パラメータは、効率の低下に起因する前記ピクセル回路の発光デバイス内における明度損失（ΔＬ）、発光デバイス・ダイオード電圧における経時的なシフト（ΔＶｏｌｅｄ）、スレッショルド・シフトにおける動的な効果、スレッショルドを含むピクセル・トランジスタのパフォーマンスに関係するパラメータ、スレッショルドのシフト、モビリティ（μ）、ピクセル間の非一様性、ピクセル回路内のＤＣバイアス電圧、電流ミラー・ベースのピクセル回路の利得変化、ピクセル回路パフォーマンスの短期および長期ベースのシフト、ＩＲ降下およびグラウンド・バウンスに起因するピクセル回路の動作電圧の変動のうちの少なくとも１つを含む、請求項１１に記載のシステム。
14. 前記システムは、前記ディスプレイ内における処理または組み立ての非同一、１つまたは複数のピクセル回路の老化、またはそれらの組み合わせに起因する非一様性を補償する、請求項１に記載のシステム。
15. 前記補償モジュールは、グレイスケール値を予約するべく前記第１または第２のピクセル回路に印加される輝度データに関するグレイスケール圧縮アルゴリズムを実装するためのグレイスケール圧縮モジュールを含む、請求項１に記載のシステム。
16. 前記グレイスケール圧縮アルゴリズム・モジュールは、オリジナルの輝度データより低い輝度値を使用するように前記輝度データを変換する、請求項１５に記載のシステム。
17. 前記トランジスタは、薄膜トランジスタである、請求項６、７、または８に記載のシステム。
18. 前記発光デバイスは、有機発光デバイスである、請求項６、７、または８に記載のシステム。
19. 複数のピクセルを有する発光デバイス・ディスプレイ内の非一様性を補償する方法であって、
    第１のピクセル回路の劣化を前記第１のピクセル回路の部分から読み取った測定データに基づいて評価するステップと、
    前記第１のピクセル回路の劣化の前記評価に基づいて前記第１または第２のピクセル回路に印加されるピクセル・データを補正するステップと、
    を包含する方法。
20. 前記補正するステップは、
    劣化したピクセル回路に印加される輝度データを、前記劣化したピクセル回路の明度が劣化していないピクセル回路のそれと整合するように増加することを含む、請求項１９に記載の方法。
21. 前記補正するステップは、
    劣化していないピクセル回路に印加される輝度データを、前記劣化していないピクセル回路の明度が劣化していないピクセル回路のそれと整合するように減少することを含む、請求項１９に記載の方法。
22. 前記ピクセル回路は、１または１を超える数のトランジスタおよび発光デバイスを含み、
    前記方法は、前記１または１を超える数のトランジスタから測定電気的データを測定するステップを含み、
    前記評価モジュールは、前記１または１を超える数のトランジスタからの測定だけに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価する、請求項１９〜２１のうちのいずれか１項に記載の方法。
23. 前記ピクセル回路は、１または１を超える数のトランジスタおよび発光デバイスを含み、
    前記方法は、
    前記１または１を超える数のトランジスタから第１の電気的データを測定するステップ、
    前記発光デバイスから第２の電気的データを測定するステップを含み、前記第２の電気的データは、前記第１の電気的データの前記測定と別に測定され、
    前記評価モジュールは、前記第１の電気的データ、前記第２の電気的データ、またはそれらの組み合わせに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価する、請求項１９〜２１のうちのいずれか１項に記載の方法。
24. 前記ピクセル回路は、１または１を超える数のトランジスタおよび発光デバイスを含み、前記評価するステップは、前記第１のピクセル回路から読み取られ、かつ前記１または１を超える数のトランジスタ、前記発光デバイス、またはそれらの組み合わせに関連付けされる電気的データに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価する、請求項１９〜２１のうちのいずれか１項に記載の方法。
25. さらに、前記測定のタイミング、前記補正のタイミング、またはそれらの組み合わせを動的に割り付ける、請求項１９に記載の方法。
26. さらに、１つまたは複数のグレイスケール値を予約するべく前記第１または第２のピクセル回路に印加される輝度データのグレイスケール値を圧縮するステップを含む、請求項１９に記載の方法。
27. 前記圧縮するステップは、オリジナルの輝度データより低い輝度値を使用するように前記輝度データを変換するステップを含む、請求項２６に記載の方法。

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